DE2050653C3 - Verfahren zum Betrieb einer Halogennachweisdiode und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zum Betrieb einer Halogennachweisdiode und Anordnung zur Durchführung des VerfahrensInfo
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Description
·· temperatur fast auf den Wert Null zurückgehen oder thode der Heizstrom-Konstanthaltung erreicht wird,
j auf ein Mehrfaches des ursprünglichen Wertes an- 55 jedoch eine über längere Zeit konstante Grundemis-
,1 steigen. Während der Zeit, während welcher kein sion bzw. Röhrenempfindlichkeit nicht sichergestellt
J oder ein zu geringer lonenstrom fließt, ist die Diode werden kann.
unempfindlich gegenüber Halogen, dagegen führt ein Das Verfahren zum Betrieb einer Halogennach-
längerer Betrieb bei zu hohem lonenstrom zu einer weisdiode ist nun erfindungsgemäß dadurch gekennstarken
Verkürzung der Lebensdauer der Nachweis- 60 zeichnet, daß die Regelung der Hetzleistung in Abdiode.
Es ist also eine häufige Kontrolle des Grund- hängigkeit vom lonenstrom durch die Diode derart
ionenstroms erforderlich, um sicher zu sein, daß die erfolgt, daß Ionenstromänderungen entgegengewirkt
Diode meßbereit ist, d. h. auf etwa eintreffendes, ha- wird.
logenhaltiges Gas ansprechen wird und gleichzeitig Es wird also die Heizleistung laufend so eingere-
nicht überlastet wird. Unter halogenhaltigen! Gas 65 gelt, daß der lonenstrom durch die Diode einen anwerden
hier Gase und Dämpfe, welche Halogen- nähernd konstanten Wert beibehält. Dabei wird die
atome enthalten, verstanden. Anodenheizleistung verringert, wenn der lonenstrom
Der beschriebene Nachteil ist um so ausgeprägter, z. B. infolge AuftrefTens von Halogen auf die Anode
3 ' 4
zunimmt, dagegen wird sie vergrößert, wenn der oder linear arbeitenden Meßverstärker 2 verstärkt
lonenstrom abnimmt. Durch diese Maßnahme wird und an einem Anzeigeinstrument 3 abgelpsen wird
die Änü-Timg des lonenstroms innerhalb einer kur- oder akustisch durch ein Gerät 4 angezeigt wird,
zen Einregelungszeit mehr oder weniger rückgängig Gleichzeitig speist das genannte Signal einen Regelgemacht. 5 verstärker 5, der seinerseits ein Stellglied 6 beein-Zum Nachweis halogenhaltigen Gases dient vor- flußt, derart, daß der von einer Stromversorgung 7
teilhafterweise die lonenstromspitze, die vorüberge- gelieferte Heizstrom für die Anode der Halogeonachhend bis zum Wirksamwerden der beschriebenen Re- weisdiode 1 selbsttätig verringert bzw. vergrößert
gelung auftritt, wenn Halogen auf die Anode der wird, wenn der lonenstrom durch die genannte
Diode auftrifft. io Diode einen einstellbaren Sollwert über- bzw. unter-
kennzeichnet sich erfindungsgemäß dadurch, daß die Beispielsweise wird auf einen Sollwert von 5 Mi-Regeleinrichtung vom lonenstrom durch die Diode kroampere eingestellt. Sobald infolge einer Schwanbeaufschlagt ist. kung oder infolge von Halogeneinvvirkung der Ionen-Wenn, wie häufig bei der Lecksuche, lediglich 15 strom durch die Diode sich ändert, gibt der Regelnachgewiesen werden soli, ob ein Leck bestimmter verstärker ein Signal an das Stellglied, welches der
Mindestgröße vorhanden ist, kann der Meßverstärker Änderung entgegenwirkt. Die Zeitkonstante des Re
mit einem Diskriminator ausgerüstet werden, so daß gelkreises wird zwcckmäßtgerweise so gewählt, daß
die Anzeigevorrichtung nur dann anspricht und dns die hei Einwirkung von Halogen während der Finre-I.eck
anzeigt, wenn die genannte lonenstromspit/e 20 gelungszeit auftretende lonr .Stromspitze bequem gebei
Einströmung von halogenhaltigen Gas in den messen oder registriert werder kann, wogegen die
Diodenraum einen vorgewählten Schwellenwert verhähnismäßigtangsamen Schwankungen des Grundüberschreitet.
Es kann auch die Regelgröße selbst. ionenstromcs keinen meßbaren Ausschlag ergeben,
also der lonenstrom, als Meßgröße verwendet wer- Die Erfahrung hat gezeigt, daß mit dem beschrieden. 25 K'nen neuen Verfahren die eingangs erwähnte Auf-Die Zeichnung zeigt schematisch ein Ausführungs- gäbe der Erfindung in vollem Umfange gelöst wird, beispiel einer Anordnung, mit der die Erfindung aus- Γ.-ν erfindungsgemäße Verfahren kann nicht nur zur geübt werden kann. Lecksuche verwendet werden, sondern immer einge- i bezeichnet eine Haiogennachweisdiode, deren Si- setzt werden, wenn halogenhaltige Gase oder gnal — der lonenstrom — durch einen logarithmisch 30 Dämpfe nachgewiesen werden sollen.
also der lonenstrom, als Meßgröße verwendet wer- Die Erfahrung hat gezeigt, daß mit dem beschrieden. 25 K'nen neuen Verfahren die eingangs erwähnte Auf-Die Zeichnung zeigt schematisch ein Ausführungs- gäbe der Erfindung in vollem Umfange gelöst wird, beispiel einer Anordnung, mit der die Erfindung aus- Γ.-ν erfindungsgemäße Verfahren kann nicht nur zur geübt werden kann. Lecksuche verwendet werden, sondern immer einge- i bezeichnet eine Haiogennachweisdiode, deren Si- setzt werden, wenn halogenhaltige Gase oder gnal — der lonenstrom — durch einen logarithmisch 30 Dämpfe nachgewiesen werden sollen.
Claims (3)
1. Verfahren zum Betrieb einer Halogennach- soll. Dazu kommt, daß nicht nur der Grundionenweisdiode
mit einer beheizbaren, bei Auftreffen 5 strom an sich schwankt, sondern daß nach E.nw.rvon
hatogenhaltigem Gas Ionen emittierenden kung von halogCThaltigem Gas die Ancjfcdw NachAnode,
wobei die Heizleistung zur Beheizung der weisdiode für eme glimmte tot »vergifw- ist.
j Anode laufend eingeregelt wird, d a d u r c h g e - d. h. auf eine nachfolgende Halogenanuirkung nur
k e η η ζ e i c h η e ι, daß die Regelung der Heiz- vermindert oder überhaupt nicht mehr ans.-intht Um
leistung in Abhängigkeit vom lonenstrom durch w diese »Vergiftung« zu beseitigen mußte die Nachdie
Diode derart erfolgt, daß lonenstromände- weisdiode nach jeder stärkeren Halogeneinwirkung
rungen entgegengewirkt wird. mit halogenfreiem Gas durchspult werden, was um-
2. Verfahren nach Patentanspruch 1, dadurch ständlich und zeitraubend war.
gekennzeichnet, daß die lonenstromspitze, Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die be
welche bei Einwirkung halogenhaltigen Gases auf 15 schriebenen Nachteile zu mindern und ein Verfahren
die Anode der Nachweisdiode auftritt, geraessen zum Betrieb einer Halogennachweisdiode mit einer
wird. beheizbaren, bei Auftreffen von halogenhaltigen! Ga?
3. Anordnung zur Durchführung des Verfall- Fönen emittierenden Anode, wobei .üe !feizleistung
rens nach Patentanspruch 1, welche eine Halo- zur Beheizung der Anode laufend eingeregelt wird,
gennachweisdiode, einen Meßverstärker, ein An- 20 anzugeben, welches insbesondere eine häufige konzeigegerät
und ein Stromversorgungsgerät zur trolle des Grundionenstroms überflüssig macht und
elektrischen Beheizung der Anode der Nachweis- die sogenannte Vergiftung wesentlich verringert. Wie
diode aufweist, und wobei eine Regeleinrichtung sich gezeigt hat, kann nach der Erfindung auch die
zur automatischen Regelung der der Anode züge- GröKe der Halogeneinwirkung quantitativ genauer
führten Heizleistung vorgesehen ist, dadurch ge- 25 bestimmt werden als bisher. Darüber hinaus wurde
kennzeichnet, daß die Regeleinrichtung (5) vom gefunden, daß roit dem neuen Verfahren eine Ver-Ionenstrom
durch die Diode (1) beaufschlagt ist. längerung der Lebensdauer der Nachweisdiode
(Ionenquelle) erzielt wird.
Die Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur
30 Durchführung des Verfahrens, weiche eine Halogennachweisdiode, einen Meßverstärker, ein Anzeigegerät
und ein Stromversorgungsgerät zur elektrischen Beheizung der Anode der Nachweisdiode aufweist,
Die vorliegende Erfindung findet in erster Linie und wobei eine Regeleinrichtung zur automatischen
Anwendung zur Feststellung von Undichtigkeiten 35 Regelung der der Anode zugeführten Heizleistung
von Behälterwandungen, wobei auf der einen Seite vorgesehen ist. Bisher wurden, wie erwähnt, häufig
der zu prüfenden Behälterwand eine ein halogcnhal- Einrichtungen verwendet, mit denen die Halogentiges
Gas enthaltende Atmosphäre hergestellt wird nachweisdiode periodisch mil einem halogenfreien
und auf der anderen Seite das Hindurchtreten dieses Gas, z. B. mit frischer Luft, bespült werden konnte.
Gases durch eine etwaige Undichtigkeit der Wand 40 Der nach dem Bespülen gemessene neue Grundiomit
Hilfe einer Diode mit einer bei Anwesenheit nenstrom diente dann als Ausgangspunkt für die foleines
halogenhaltigen Gases Ionen emittierenden be- gende Feststellung einer halogenhaltigen Gaseinströheizten
Anode nachgewiesen wird. Derartige Dioden mung. Um einen möglichst gleichbleibenden Grund-
: und deren Verwendung sind bekannt und z. B. in der ioncnstrom zu erhalten, wurden auch s-Jion Einschweizerischen
Patentschrift 269 214 beschrieben 45 richtungen zur Konstanthaltung der /\;iodenheizlei-.
worden. stung vorgesehen. Auch Einrichtungen, bei denen die
Ein sehr störender Nachteil dieser sogenannten Temperatur der Anode mit Hilfe von Temperatur-Halogennachweisdioden
besteht darin, daß der fühlern laufend gemessen und die Heizleistung dann Grundionenstrom, d. h. der lonenstrom, der beim Be- entsprechend eingeregelt wurde, um eine möglichst
trieb durch die Diode fließt, wenn kein Halogen auf 5" konstante Anodentemperatur und damit einen kondie
beheizte Anode auftrifft, starken Schwankungen stanten Grundionenstrom zu erhalten, sind schon beunterliegt.
Aus nicht näher bekannten Gründen kann kanntgeworden. Es hat sich aber gezeigt, daß damit
; er z. B. trotz anscheinend gleichbleibender Anoden- wohl eine gewisse Verbesserung gegenüber der Me-
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E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |