DE202009012114U1 - Optoelektronischer Scanner - Google Patents
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Abstract
Optoelektronischer Scanner (10), der einen Lichtsender (12) zum Aussenden eines Lichtstrahls (16), eine erste Ablenkeinheit (18, 20) zur periodischen Ablenkung des Lichtstrahls (16) in einer ersten Ablenkrichtung, um abwechselnd in einer ersten Teilperiode einen vorderen Überwachungsbereich (26) und in einer zweiten Teilperiode einen rückwärtigen Bereich des Scanners (10) zu überstreichen, einen Lichtempfänger (38) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus dem in dem Überwachungsbereich remittierten oder reflektierten Lichtstrahl (32) sowie eine Auswertungseinheit (40) aufweist, welche für die Erkennung von Objekten (30) in dem Überwachungsbereich anhand des Empfangssignals ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass in dem rückwärtigen Bereich eine Umlenkeinheit (42) vorgesehen ist, um den Lichtstrahl auf eine zweite Ablenkeinheit (44) umzulenken, welche zur periodischen Ablenkung des Lichtstrahls (16, 32) in einer zweiten Ablenkrichtung quer zu der ersten Ablenkrichtung ausgebildet ist.
Description
- Die Erfindung betrifft einen optoelektronischen Scanner nach dem Oberbegriff von Anspruch 1.
- Scanner werden für vielfältige Überwachungs- und Vermessungsaufgaben verwendet. Dazu tastet ein Scanstrahl einen Bereich ab und wertet das remittierte oder reflektierte Licht aus. Um auch Informationen über Objektabstände, Konturen oder Profile zu gewinnen, wird meist nicht nur die Anwesenheit von Objekten, sondern zugleich auch deren Entfernung bestimmt. Derartige entfernungsmessende Laserscanner arbeiten nach einem Lichtlaufzeitprinzip, bei dem die Laufzeit vom Scanner in die Szenerie und zurück gemessen wird und anhand der Lichtgeschwindigkeit Entfernungsdaten berechnet werden.
- Es sind zwei Verfahren bekannt, um den Lichtweg zu bestimmen. Pulsbasierte Verfahren prägen dem Scanstrahl ein signifikantes Muster auf, beispielsweise einen schmalen Puls von nur wenigen Nanosekunden Dauer und bestimmen den Empfangszeitpunkt anhand dieses Musters. Bei phasenbasierten Verfahren moduliert der Lichtsender den Scanstrahl sinusförmig und es wird die Phase zwischen einer Referenz und dem empfangenen Scanstrahl ermittelt.
- Bekannte Laserscanner weisen einen Drehspiegel oder ein Polygonrad auf, um periodisch eine Überwachungsebene oder ein Segment einer Überwachungsebene abzutasten. Viele Anwendungen erfordern aber die Abtastung eines dreidimensionalen Raumbereichs und nicht lediglich einer Fläche. Ein herkömmlicher Ausweg ist, den Laserscanner als Ganzes um eine Achse quer zu der internen Scanbewegung zu drehen und so eine weitere Abtastdimension hinzuzufügen. Diese Bewegung ist aber relativ schwerfällig und belastet den Scanner mechanisch.
- Statt der Bewegung des ganzen Geräts kann ein Schwingspiegel verwendet werden, der quer zu der internen Drehrichtung des Scanners schwingt, so dass die eigentliche Scanbewegung des Drehspiegels und die Schwingung gemeinsam für eine dreidimensionale Abtastung sorgen. So wird zumindest für unbewegliche Objekte eine flächige Erfassung möglich. Schwingspiegel haben aber den Nachteil, dass sie baubedingt nur kleine Öffnungswinkel zulassen. Entsprechend eingeschränkt ist das Sichtfeld eines solchen Scanners und wenn man einen größeren Winkel benötigt, muss demnach ein zweiter Scanner eingesetzt werden.
- Es ist daher Aufgabe der Erfindung, einen Scanner derart weiterzubilden, dass bei einer Abtastung von Raumbereichen ein größerer Winkelbereich erfassbar ist.
- Diese Aufgabe wird durch einen optoelektronischen Scanner nach Anspruch 1 gelöst. Die Lösung geht von einem Scanner aus, dessen Scanstrahl sich in einem Teil jeder Abtastperiode für die eigentliche Detektion ungenutzt in einem Rücklauf befindet. Der während des Rücklaufs weitgehend ungenutzte, ins Gehäuseinnere gerichtete Scanstrahl wird erfindungsgemäß in den Überwachungsbereich abgelenkt, um für die Erfassung genutzt zu werden. Dabei sorgt eine zweite Ablenkeinheit für eine flächige Abtastung. Es entsteht ein Kombinationsgerät, welches in der ersten Teilperiode wie ein herkömmlicher Scanner eine Überwachungsebene abtastet und zusätzlich in der zweiten Teilperiode einen dreidimensionalen Raumbereich überwacht, der sich zumeist in einem Teilsektor mit der Überwachungsebene überlappt.
- Die Erfindung hat damit Vorteile gegenüber einem herkömmlichen Scanner mit nur einer Überwachungsebene, denn sie gewinnt zusätzlich dreidimensionale Informationen. Auch gegenüber einem herkömmlichen dreidimensionalen Scanner entsteht ein erheblicher Informationsgewinn. Denn die Überwachungsebene deckt im Gegensatz zu dem durch den Schwingspiegel derartiger dreidimensionaler Scanner begrenzten Sichtbereich einen großen Winkelbereich von bis zu 270° ab. Gegenüber zwei separaten Systemen ist der Aufwand bei Herstellung, Montage und Betrieb deutlich reduziert und es ist ein sehr kompakter Aufbau möglich. Der Informationsgewinn gegenüber den einzelnen herkömmlichen Systemen reicht für viele Anwendungen aus, indem erfindungsgemäß sowohl ein meist kleinerer dreidimensionaler Bereich als auch eine Ebene in einem großen Öffnungswinkel abgetastet wird.
- Die erste Ablenkeinheit ist bevorzugt dafür ausgebildet, sowohl in der ersten Teilperiode als auch in der zweiten Teilperiode den reflektierten oder remittierten Lichtstrahl zu dem Lichtempfänger umzulenken. Der aus dem Überwachungsbereich zurückkehrende Lichtstrahl nutzt also sowohl in der ersten Teilperiode als auch in der zweiten Teilperiode denselben Empfangspfad und dieselbe Auswertungselektronik. So wird die erfindungsgemäße Kombination mit äußerst geringem Aufwand erreicht.
- Der Scanner ist bevorzugt als entfernungsmessender Laserscanner ausgebildet, wobei die Auswertungseinheit dafür ausgebildet ist, Entfernungen anhand einer phasen- oder pulsbasiert bestimmten Lichtlaufzeit zu ermitteln. Laserlicht lässt sich besonders gut als gebündelter Scanstrahl nutzen. Die mit einem Lichtlaufzeitprinzip ermittelten Entfernungsdaten ermöglichen, Profile und Konturen aufzuzeichnen oder beispielsweise in der Sicherheitstechnik in den durch den Scanwinkel und die gemessene Entfernung gegebenen Polarkoordinaten praktisch beliebig geformte Schutzfelder zu definieren. Dabei ist mit pulsbasierten Verfahren jede Signalform umfasst, die einen markanten Signalverlauf hat, beispielsweise einen Peak, eine Flanke oder einen Wendepunkt, und daran zeitlich genau festgelegt werden kann.
- Die periodische Ablenkung erfolgt bevorzugt in der zweiten Ablenkrichtung mit einer geringeren Frequenz als in der ersten Ablenkrichtung. Der Frequenzunterschied sollte noch bevorzugter sogar erheblich sein, beispielsweise indem die Frequenz der Abtastung in der ersten Ablenkrichtung ein Vielfaches beträgt. Die zweite Ablenkeinheit bewegt sich demnach vergleichsweise träge und scannt jeweils eine Linie während des raschen Durchlaufs der ersten Ablenkeinheit, wobei sich dann die Linien über eine Halbperiode der zweiten Ablenkeinheit zu einem flächigen Abtastmuster zusammensetzen. Prinzipiell ist auch denkbar, das Verhältnis der Frequenzen umzukehren und mit der zweiten Ablenkeinheit während nur eines einfachen Durchgangs des Scanstrahls aufgrund der Ablenkung in der ersten Ablenkrichtung eine senkrechte Scanlinie zu erzeugen. Bei dem üblichen schnellen Durchlauf des Scanstrahls an der ersten Ablenkeinheit ist eine derart schnelle Bewegung der zweiten Ablenkeinheit aber meist nicht erreichbar.
- Die erste Ablenkeinheit ist bevorzugt als Drehspiegel ausgebildet. Ein Polygonrad ist für die Erfindung weniger geeignet als ein Einspiegelsystem, da es keine ausgeprägte zweite Teilperiode mit einem Rücklauf zulässt und auch den Öffnungswinkel in seiner Überwachungsebene deutlich begrenzt. Ein Drehspiegel dagegen hat zumindest dem Prinzip nach einen Öffnungswinkel von 360°, wobei dieser Öffnungswinkel in die erste und zweite Teilperiode aufgeteilt ist und nur in der ersten Teilperiode direkt als Öffnungswinkel der Überwachungsebene genutzt wird.
- Die erste Ablenkeinheit weist bevorzugt einen inneren Ablenkbereich für den gesendeten Lichtstrahl und einen äußeren Ablenkbereich für den empfangenen Lichtstrahl auf. Scanner werden meist nach dem Autokollimationsprinzip gebaut, wobei der äußere Lichtweg für den Sende- und Empfangspfad identisch ist. Intern erfolgt dann eine Auftrennung, so dass der Empfangspfad den Lichtempfänger erreicht. Anstelle einer Ablenkeinheit mit verschiedenen Teilbereichen ist prinzipiell auch ein halbdurchlässiger Teilerspiegel denkbar, der aber Energieverluste und Streulicht mit sich bringt.
- Die zweite Ablenkeinheit ist bevorzugt als Schwingspiegel ausgebildet. Damit lässt sich der Scanstrahl auf einfache Weise zu einer flächigen Abtastung ablenken.
- Die erste Teilperiode beträgt bevorzugt zumindest die Hälfte der Periode der ersten Ablenkeinheit, so dass in dem vorderen Überwachungsbereich während der ersten Teilperiode eine Überwachungsebene in einem Sichtbereich von zumindest 180° überwachbar ist. So können große Öffnungswinkel für die Überwachungsebene erreicht werden, die auch bis zu 270° betragen. Begrenzt wird der Öffnungswinkel einerseits durch Gehäusebauformen und andererseits verbleibt mit zunehmendem Öffnungswinkel des vorderen Überwachungsbereichs eine entsprechend verkürzte zweite Teilperiode und damit ein verkleinerter dreidimensionaler überwachter Raumbereich.
- Die zweite Ablenkeinheit ist bevorzugt zur periodischen Ablenkung in einem Winkelbereich von 20° bis 80°, insbesondere von etwa 60° ausgebildet. Bei Verwendung eines Schwingspiegels ist dies der optische Schwingbereich. Je größer der Winkelbereich, desto größer ist die Ausdehnung des überwachten dreidimensionalen Raumbereichs in der zweiten Ablenkrichtung, wobei dies aber bei gleich schneller Elektronik auf Kosten der Auflösung geht.
- Die Umlenkeinheit und die zweite Ablenkeinheit sind bevorzugt derart ausgebildet, dass zumindest in einer Unterperiode von 20° bis 160°, insbesondere von 50° bis 100° oder von etwa 60° der zweiten Teilperiode der Lichtstrahl über das Umlenkelement und die zweite Ablenkeinheit in den Überwachungsbereich lenkbar ist. Die Länge der zweiten Teilperiode ist durch die erste Teilperiode und damit durch den gewünschten Öffnungswinkel der Überwachungsebene begrenzt. Innerhalb der zweiten Teilperiode kann dann durch Ausbildung der Umlenkeinheit und der zweiten Ablenkeinheit ein gewünschter Teilbereich als Unterperiode der dreidimensionalen Abtastung erreicht werden.
- In dem rückwärtigen Bereich ist bevorzugt ein Referenzziel zum Testen der Funktionsfähigkeit des Scanners derart angeordnet, dass es während der zweiten Teilperiode außerhalb der Unterperiode von dem Lichtstrahl getroffen wird. Ein Anteil der zweiten Teilperiode wird so nicht für die Messung, sondern für einen Funktionstest genutzt. Dieser Test wird außerhalb der Unterperiode ausgeführt und stört so nicht die dreidimensionale Abtastung. Das Referenzziel wird deshalb bevorzugt in einem der Übergänge zwischen der ersten und zweiten Teilperiode angeordnet.
- Die Erfindung wird nachstehend auch hinsichtlich weiterer Merkmale und Vorteile beispielhaft anhand von Ausführungsformen und unter Bezug auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert. Die Abbildungen der Zeichnung zeigen in:
-
1 eine schematische Schnittdarstellung einer Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Scanners während einer ersten Teilperiode des Scanvorgangs, in dem ein Lichtstrahl eine vordere Überwachungsebene abtastet; -
2 eine Schnittdarstellung gemäß1 während einer zweiten Teilperiode des Scanvorgangs, in dem der Lichtstrahl über eine rückwärtige Umlenkung einen dreidimensionalen überwachten Raumbereich abtastet; -
3 eine schematische Schnittdarstellung eines erfindungsgemäßen Scanners zur Erläuterung der vorderen Überwachungsebene und des dreidimensionalen überwachten Raumbereichs; und -
4 eine Draufsicht auf den Scanner, die vordere Überwachungsebene und den dreidimensionalen überwachten Raumbereich gemäß3 . -
1 zeigt eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Scanners10 in einer schematischen Schnittdarstellung. Eine Halbleiterlichtquelle12 , beispielsweise ein Laser im infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Bereich, sendet ein Lichtbündel aus. Eine Sendeoptik14 formt aus dem Sendelicht einen Scanstrahl oder Sendelichtstrahl16 , der auf einen inneren Teilbereich18 eines Drehspiegels20 fällt. Der Drehspiegel20 rotiert um eine Achse22 und lenkt so den Sendelichtstrahl16 periodisch über einen Drehwinkelbereich von 360° ab. Bei einer Drehstellung wie in1 während einer ersten Teilperiode der Drehung wird der Sendelichtstrahl16 durch eine erste Frontscheibe24 des Scanners10 in einen zu überwachenden oder zu vermessenden Raumbereich26 abgelenkt.2 zeigt eine Drehstellung während einer zweiten Teilperiode der Drehung, in welcher der Drehspiegel20 den Sendelichtstrahl16 nach hinten in das Innere des Scanners10 ablenkt. - Der Sendelichtstrahl
16 überstreicht während der in1 dargestellten ersten Teilperiode eine Überwachungsebene28 . Beim Auftreffen auf ein Objekt30 wird der Sendelichtstrahl16 reflektiert oder remittiert und kehrt als Empfangslichtstrahl32 zu dem Scanner10 zurück. Dort trifft der Empfangslichtstrahl32 erneut auf den Drehspiegel20 und wird zum größten Teil von einem äußeren Teilbereich34 des Drehspiegels20 über eine Empfangsoptik36 auf einen Lichtempfänger38 geworfen, der beispielsweise als Photodiode, als Linie oder als Matrix lichtempfindlicher Elemente wie in einem CCD- oder CMOS-Chip ausgebildet ist. Ein kleinerer Anteil des Empfangslichtstrahls trifft auf den inneren Teilbereich18 des Drehspiegels und geht so für die Detektion verloren. Es sind auch andere Anordnungen als ein Drehspiegel22 mit zwei Teilbereichen18 ,34 bekannt, bei denen die Auftrennung des Sende- und Empfangskanals beispielsweise mit Trennstegen, mit mehreren Umlenkspiegeln oder teiltransparenten Spiegeln erreicht wird. - Eine Auswertungseinheit
40 empfängt das in dem Lichtempfänger in ein elektrisches Signal gewandelte Empfangssignal und bestimmt aus der Drehstellung des Drehspiegels22 sowie aus der Lichtlaufzeit des Lichtstrahls die Anwesenheit, die Kontur und/oder die Koordinaten des Objektes30 . Die Auswertungseinheit40 steuert außerdem den Lichtsender12 . Auf diese Weise wird in der ersten Teilperiode die Überwachungsebene28 ausgemessen beziehungsweise überwacht. -
2 zeigt den Scanner10 in einer zweiten Teilperiode. Gleiche Bezugszeichen bezeichnen jeweils gleiche oder entsprechende Merkmale. Der Drehspiegel20 hat sich in der hier dargestellten zweiten Teilperiode um 180° gedreht, wobei dieser Winkel nur ein beispielhafter Punkt innerhalb der zweiten Teilperiode ist. Der Sendelichtstrahl16 wird deshalb nach hinten in das Innere des Scanners10 abgelenkt, wo er zunächst von einem Umlenkspiegel42 nach oben abgelenkt auf einen Schwingspiegel44 trifft. Der Schwingspiegel44 schwingt periodisch zwischen den gestrichelt dargestellten äußeren Schwingpositionen, wobei der Strahlenverlauf in2 für eine mittlere, mit durchgezogenen Linien gezeigte Stellung des Schwingspiegels44 dargestellt ist. Der Sendelichtstrahl16 wird wie zu1 in der ersten Teilperiode beschrieben nach Durchtritt durch eine zweite Frontscheibe46 von dem Objekt30 remittiert oder reflektiert und, nach dem Empfangsweg erneut über den Schwingspiegel44 und den Umlenkspiegel42 , auch ganz analog auf den Empfänger38 geworfen und in der Auswertungseinheit40 ausgewertet. - Durch die Schwingbewegung des Schwingspiegels
44 , die ebenfalls von der Auswertungseinheit40 gesteuert wird, kann während der zweiten Teilperiode ein dreidimensionaler Raumbereich48 abgetastet werden. Überlagert mit der Bewegung des Drehspiegels20 führt der Schwingspiegel44 eine vergleichsweise langsame Schwingbewegung aus und scannt so mit jedem Durchgang des Drehspiegels20 eine andere Linie in der durch den Drehspiegel20 vorgegebenen Richtung ab. Über die Winkelpositionen des Drehspiegels20 in mehreren zweiten Teilperioden entsteht so eine flächige Abtastung, welcher die Auswertungseinheit durch die Winkelstellung des Drehspiegels20 , des Schwingspiegels44 und die aus der Lichtlaufzeit gemessene Entfernung dreidimensionale Polarkoordinaten zuordnen kann. - Die Bauform des Gehäuses
50 des Scanners10 mit seinen beiden Frontscheiben24 und46 ist nur beispielhaft zu verstehen. Diese Bauform kann den Sichtwinkel in beiden Scanrichtungen begrenzen und ist daher passend zu wählen, einschließlich anderer oder Verzicht auf Schrägstellung der Frontscheiben24 ,46 oder einer gemeinsamen Frontscheibe. Die Frontscheiben24 ,46 können außerdem um das Gehäuse50 herum gezogen sein, um größere Öffnungswinkel zu ermöglichen. -
3 illustriert die Kombination aus Überwachungsebene28 und dreidimensionalem überwachtem Raumbereich48 in einer Schnittdarstellung, während4 eine zugehörige Draufsicht zeigt. Der dreidimensionale überwachte Raumbereich48 überlappt die Überwachungsebene28 zumindest in einem Teilsektor. Durch eine andere Grundstellung des Schwingspiegels44 kann die Überlappung bei Bedarf auch verhindert werden. - Die Überwachungsebene
28 umfasst einen großen Winkelbereich von bis zu 180° und mehr. Der dreidimensionale überwachte Raumbereich46 ist durch zwei Winkel definiert. Ein Winkel entspricht demjenigen Anteil an der zweiten Teilperiode, in dem der Sendelichtstrahl auf den Umlenkspiegel42 und den Schwingspiegel44 trifft. Dadurch ist ein Öffnungswinkel in der Ebene der Überwachungsebene28 von bis zu 60° und mehr erreichbar. Durch entsprechende Bauform und Anordnung von Umlenkspiegel42 und Schwingspiegel44 , beispielsweise eine den Drehspiegel20 umgebende Kontur, lässt sich dieser Winkel nahezu bis zum vollen Komplement der ersten Teilperiode vergrößern. Der zweite Winkel wird durch den Schwingbereich des Schwingspiegels44 vorgegeben, dessen optischer Schwingbereich ebenfalls bis zu 60° und mehr betragen kann. - Es ergibt sich so ein kombinierter Überwachungsbereich aus einer Überwachungsebene
28 mit einem Öffnungswinkel von beispielsweise 180° und einem überwachten dreidimensionalen Raumbereich48 von beispielsweise 60° × 60°. In vielen Applikationen, wie Rückraumabsicherung oder Antikollision, wird der Rücklauf des Scanners10 nicht genutzt, oder er wird lediglich durch einen Scannerfunktionstest mit einem Referenzziel verwendet, welcher aber die zweite Teilperiode bei weitem nicht ausfüllt. Erfindungsgemäß wird der somit herkömmlich weitgehend ungenutzte Rücklauf vorteilhaft verwendet, um einen üblichen Ebenenscanner mit einem dreidimensionalen Schwingspiegelscanner zu kombinieren.
Claims (11)
- Optoelektronischer Scanner (
10 ), der einen Lichtsender (12 ) zum Aussenden eines Lichtstrahls (16 ), eine erste Ablenkeinheit (18 ,20 ) zur periodischen Ablenkung des Lichtstrahls (16 ) in einer ersten Ablenkrichtung, um abwechselnd in einer ersten Teilperiode einen vorderen Überwachungsbereich (26 ) und in einer zweiten Teilperiode einen rückwärtigen Bereich des Scanners (10 ) zu überstreichen, einen Lichtempfänger (38 ) zum Erzeugen eines Empfangssignals aus dem in dem Überwachungsbereich remittierten oder reflektierten Lichtstrahl (32 ) sowie eine Auswertungseinheit (40 ) aufweist, welche für die Erkennung von Objekten (30 ) in dem Überwachungsbereich anhand des Empfangssignals ausgebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass in dem rückwärtigen Bereich eine Umlenkeinheit (42 ) vorgesehen ist, um den Lichtstrahl auf eine zweite Ablenkeinheit (44 ) umzulenken, welche zur periodischen Ablenkung des Lichtstrahls (16 ,32 ) in einer zweiten Ablenkrichtung quer zu der ersten Ablenkrichtung ausgebildet ist. - Scanner (
10 ) nach Anspruch 1, wobei die erste Ablenkeinheit (20 ) dafür ausgebildet ist, sowohl in der ersten Teilperiode als auch in der zweiten Teilperiode den reflektierten oder remittierten Lichtstrahl (32 ) zu dem Lichtempfänger (38 ) umzulenken. - Scanner (
10 ) nach Anspruch 1 oder 2, der als entfernungsmessender Laserscanner ausgebildet ist, wobei die Auswertungseinheit (40 ) dafür ausgebildet ist, Entfernungen anhand einer phasen- oder pulsbasiert bestimmten Lichtlaufzeit zu ermitteln. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die periodische Ablenkung in der zweiten Ablenkrichtung (44 ) mit einer geringeren Frequenz erfolgt als in der ersten Ablenkrichtung (20 ). - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die erste Ablenkeinheit (20 ) als Drehspiegel ausgebildet ist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die erste Ablenkeinheit (20 ) einen inneren Ablenkbereich (18 ) für den gesendeten Lichtstrahl (16 ) und einen äußeren Ablenkbereich (34 ) für den empfangenen Lichtstrahl (32 ) aufweist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die zweite Ablenkeinheit (44 ) als Schwingspiegel ausgebildet ist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die erste Teilperiode zumindest die Hälfte der Periode der ersten Ablenkeinheit (20 ) beträgt, so dass in dem vorderen Überwachungsbereich (26 ) während der ersten Teilperiode eine Überwachungsebene (28 ) in einem Sichtbereich von zumindest 180° überwachbar ist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die zweite Ablenkeinheit (44 ) zur periodischen Ablenkung in einem Winkelbereich von 20° bis 80°, insbesondere von etwa 60° ausgebildet ist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Umlenkeinheit (42 ) und die zweite Ablenkeinheit (44 ) derart ausgebildet sind, dass zumindest in einer Unterperiode von 20° bis 160°, insbesondere von 50° bis 100° oder von etwa 60° der zweiten Teilperiode der Lichtstrahl (16 ) über das Umlenkelement (42 ) und die zweite Ablenkeinheit (44 ) in den Überwachungsbereich (48 ) lenkbar ist. - Scanner (
10 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei in dem rückwärtigen Bereich ein Referenzziel zum Testen der Funktionsfähigkeit des Scanners (10 ) derart angeordnet ist, dass es während der zweiten Teilperiode außerhalb der Unterperiode von dem Lichtstrahl (16 ) getroffen wird.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202009012114U DE202009012114U1 (de) | 2009-09-05 | 2009-09-05 | Optoelektronischer Scanner |
EP10171909A EP2296002B1 (de) | 2009-09-05 | 2010-08-04 | Optoelektronischer Scanner zur Abstandsbestimmung in Azimut- und Elevationsrichtung |
AT10171909T ATE522825T1 (de) | 2009-09-05 | 2010-08-04 | Optoelektronischer scanner zur abstandsbestimmung in azimut- und elevationsrichtung |
JP2010195670A JP2011059111A (ja) | 2009-09-05 | 2010-09-01 | 光電スキャナ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202009012114U DE202009012114U1 (de) | 2009-09-05 | 2009-09-05 | Optoelektronischer Scanner |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE202009012114U1 true DE202009012114U1 (de) | 2011-02-03 |
Family
ID=43063565
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE202009012114U Expired - Lifetime DE202009012114U1 (de) | 2009-09-05 | 2009-09-05 | Optoelektronischer Scanner |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP2296002B1 (de) |
JP (1) | JP2011059111A (de) |
AT (1) | ATE522825T1 (de) |
DE (1) | DE202009012114U1 (de) |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2296002A1 (de) | 2011-03-16 |
EP2296002B1 (de) | 2011-08-31 |
JP2011059111A (ja) | 2011-03-24 |
ATE522825T1 (de) | 2011-09-15 |
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