DE202008017889U1 - Vertikale Leuchtdiode - Google Patents
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Abstract
eine Strukturstützschicht (160),
eine p-Elektrode (140),
und eine lichtemittierende Struktur (110),
wobei die Strukturstützschicht (160) auf der p-Elektrode (140) gebildet ist, die p-Elektrode auf der lichtemittierenden Struktur (110) gebildet ist und wobei die lichtemittierende Struktur (110) durch einen Isolationsprozess in Einheits-LED-Elemente isoliert ist.
Description
- QUERVERWEIS AUF VERWANDTE ANMELDUNGEN
- Diese Anmeldung beansprucht den Nutzen der
koreanischen Patentanmeldung Nr. 10-2007-0120260 - ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
- 1. Gebiet der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung betrifft eine vertikale Leuchtdiode und ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen Leuchtdiode (LED), welche die Beschädigung einer Leuchtstruktur während eines LLO(Laser Lift-Off)-Prozesses zum Abtragen eines Saphirsubstrats verhindern kann.
- 2. Beschreibung des Standes der Technik
- Im Allgemeinen lässt man eine auf Nitrid basierende Halbleiter-LED auf einem Saphirsubstrat aufwachsen, aber das Saphirsubstrat ist ein starrer Nichtleiter und weist eine schlechte Wärmeleitfähigkeit auf. Darum sind der Senkung der Fertigungskosten durch Verkleinern einer auf Nitrid basierenden Halbleiter-LED oder dem Verbessern der optischen Leistung und der Chipeigenschaften Grenzen gesetzt. Insbesondere, weil das Anlegen eines hohen Stromes für das Erreichen einer Hochleistungs-LED wesentlich ist, ist es wichtig, das Wärmeableitungsproblem der LED zu lösen. Zur Lösung dieses Problems ist eine vertikale LED vorgeschlagen worden, wobei ein Saphirsubstrat mit Hilfe einer LLO-Technik abgetragen wird.
- Es wird nun ein herkömmliches Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED mit Bezug auf die
1A bis1F beschrieben. -
1A bis1F sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein herkömmliches Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED zeigen. - Zuerst wird, wie in
1A gezeigt, eine Leuchtstruktur110 auf einem transparenten Substrat110 wie zum Beispiel Saphir ausgebildet. Die Leuchtstruktur110 enthält eine Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ112 , eine aktive GaN/InGaN-Schicht114 mit einer Mehrfach-Quantenmuldenstruktur und einer Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 , die nacheinander laminiert sind. - Wie in
1B gezeigt, werden Photoresiststrukturen PR zum Definieren einer gewünschten Größe von Einheits-LED-Elementen auf der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 ausgebildet. - Anschließend wird, wie in
1C gezeigt, die Leuchtstruktur110 durch einen ISO(Isolations)-Prozess mittels Trockenätzen, wie zum Beispiel ICP (induktiv gekoppeltes Plasma) oder Laser, zu Einheits-LED-Elementen isoliert, wobei die Photoresiststrukturen als Ätzmaske dienen. Dann werden die Photoresiststrukturen entfernt. - Obgleich nicht gezeigt, kann, nachdem die Leuchtstruktur
110 zu Einheits-LED-Elementen isoliert wurde, ein Isolierfilm oder Reflexionsfilm an den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen110 ausgebildet werden. Der Isolierfilm oder Reflexionsfilm kann je nach den Eigenschaften der LED und der Prozessbedingungen weggelassen werden. - Als Nächstes wird, wie in
1D gezeigt, eine p-Elektrode140 auf jeder der isolierten Leuchtstrukturen110 ausgebildet. Dann wird, wie in1E gezeigt, eine Strukturstützschicht160 auf der p-Elektrode140 ausgebildet. - Anschließend wird, wie in
1F gezeigt, das Substrat110 durch den LLO-Prozess abgetragen. Bei dem LLO-Prozess wird, wenn eine Energie von etwa 700 mJ/cm2 bei der normalen Temperatur in einer Pfeilrichtung angelegt wird, die Energie an der Grenzfläche zwischen dem Substrat100 und der Leuchtstruktur110 absorbiert, so dass die gebondete Oberfläche der Leuchtstruktur110 thermisch zersetzt wird, woraufhin das Substrat100 und die Leuchtstruktur110 voneinander getrennt werden. - Dann wird, obgleich nicht gezeigt, eine n-Elektrode auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ
112 , die durch das Abtragen des Substrats freigelegt werden, ausgebildet, wodurch vertikale LEDs entstehen. - In dem herkömmlichen Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED kommt es während des LLO-Prozesses zum Abtragen des Substrats zu Rissen am Rand der Leuchtstruktur
100 , wie durch 'A' in2 angedeutet. Dann kann es in der LED zu Defekten kommen.2 ist eine Fotografie, die das Problem der vertikalen LED zeigt, die gemäß dem herkömmlichen Verfahren hergestellt wurde. - Des Weiteren kann auch ein Riss in dem Isolierfilm oder Reflexionsfilm entstehen, der auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen ausgebildet ist, oder die Adhäsion zwischen ihnen kann während des LLO-Prozesses verschlechtert werden.
- Wenn also eine vertikale LED gemäß dem herkömmlichen Verfahren hergestellt wird, so werden die Eigenschaften und die Zuverlässigkeit der vertikalen LED aufgrund der oben beschriebenen Probleme verschlechtert.
- KURZDARSTELLUNG DER ERFINDUNG
- Eine erfindungsgemäße vertikale LED-Struktur ist gegeben durch den Gegenstand gemäß Anspruch 1. Ein Vorteil der vorliegenden Erfindung ist, dass sie ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED bereitstellt, das die Beschädigung einer Leuchtstruktur während eines LLO-Prozesses zum Abtragen eines Saphirsubstrats vermeidet.
- Weitere Aspekte und Vorteile des hier besprochenen allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts werden zum Teil in der folgenden Beschreibung dargelegt und werden zum Teil aus der Beschreibung ersichtlich oder werden im Verlauf der Praktizierung des allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts offenbar.
- Gemäß einem Aspekt der Erfindung umfasst ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED folgende Schritte: Herstellen eines Saphirsubstrats; Ausbilden einer Leuchtstruktur, wobei eine Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ, eine aktive Schicht und eine Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ nacheinander auf das Saphirsubstrat laminiert werden; Ausbilden einer p-Elektrode auf der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ; Ausbilden einer Strukturstützschicht auf der p-Elektrode; Abtragen des Saphirsubstrats durch einen LLO(Laser Lift-Off)-Prozess; Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen durch einen ISO(Isolations)-Prozess; und Ausbilden einer n-Elektrode auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ der isolierten Leuchtstrukturen.
- Vorzugsweise umfasst das Verfahren des Weiteren den Schritt des Ausbildens eines Isolierfilms oder Reflexionsfilms auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen nach dem Isolieren der Leuchtstruktur.
- Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung umfasst ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED folgende Schritte: Herstellen eines Saphirsubstrats; Ausbilden einer Leuchtstruktur, wobei eine Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ, eine aktive Schicht und eine Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ nacheinander auf das Saphirsubstrat laminiert werden; Ausbilden von Pufferfilmen auf Abschnitten der Oberfläche der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ, die Elementisolationsregionen entsprechen; Ausbilden einer p-Elektrode auf der entstandenen Struktur, auf der die Pufferfilme ausgebildet sind; Ausbilden einer Strukturstützschicht auf der entstandenen Struktur, auf der die p-Elektrode ausgebildet ist; Abtragen des Saphirsubstrats durch einen LLO-Prozess; Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen durch einen ISO-Prozess; und Aus bilden einer n-Elektrode auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ der isolierten Leuchtstrukturen.
- Vorzugsweise wird die p-Elektrode auf der Oberfläche der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ unter Ausschluss der Abschnitte ausgebildet, auf denen die Pufferfilme ausgebildet sind.
- Vorzugsweise bestehen die Pufferfilme aus einem nichtleitenden Material. Als das nichtleitende Material können Photoresist, Polyimid, Epoxid und ein Dielektrikum verwendet werden.
- Gemäß einem weiteren Aspekt der Erfindung umfasst ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED folgende Schritte: Herstellen eines Saphirsubstrats; Ausbilden einer Leuchtstruktur, wobei eine Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ, eine aktive Schicht und eine Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ nacheinander auf das Saphirsubstrat laminiert werden; Durchführen eines ersten ISO-Prozesses zum Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen, dergestalt, dass Abschnitte der Leuchtstruktur, die Elementisolationsregionen entsprechen, mit einer vorgegebenen Dicke auf dem Saphirsubstrat zurückbleiben; Ausbilden einer p-Elektrode auf der Oberfläche der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ entsprechend jeder Einheits-LED-Elementregion; Ausbilden einer Strukturstützschicht auf der p-Elektrode; Abtragen des Saphirsubstrats durch einen LLO-Prozess; Durchführen eines zweiten ISO-Prozesses zum vollständigen Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen durch Abtragen der verbliebenen Abschnitte der Leuchtstruktur entsprechend den Elementisolationsregionen; und Ausbilden einer n-Elektrode auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ der isolierten Leuchtstrukturen.
- Vorzugsweise umfasst das Verfahren des Weiteren den Schritt des Ausbildens eines ersten Isolierfilms oder ersten Reflexionsfilms auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen nach dem Durchführen des ersten ISO-Prozesses.
- Vorzugsweise umfasst das Verfahren des Weiteren den Schritt des Ausbildens eines zweiten Isolierfilms oder zweiten Reflexionsfilms auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen nach dem Durchführen des zweiten ISO-Prozesses.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Diese und/oder weitere Aspekte und Vorteile des hier besprochenen allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts werden anhand der folgenden Beschreibung der Ausführungsformen in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen offenkundig und besser verstanden. In diesen Zeichnungen ist Folgendes dargestellt:
-
1A bis1F sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein herkömmliches Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED zeigen; -
2 ist eine Fotografie, die das Problem einer vertikalen LED zeigt, die gemäß dem herkömmlichen Verfahren hergestellt wurde; -
3A bis3F sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung zeigen; -
4 ist ein Prozessschaubild zum Erläutern einer Modifizierung des Verfahrens zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der ersten Ausführungsform der Erfindung; -
5 ist ein Prozessschaubild zum Erläutern eines Verfahrens zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung; und -
6A bis6E sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung zeigen. - DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
- Es wird nun ausführlich auf die Ausführungsformen des hier besprochenen allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts eingegangen, wovon Beispiele in den begleitenden Zeichnungen veranschaulicht sind, wobei gleiche Bezugszahlen stets gleiche Elemente bezeichnen. Die Ausführungsformen werden im Folgenden beschrieben, um das hier besprochene allgemeine erfindungsgemäße Konzept unter Bezug auf die Figuren zu erläutern.
- Im Weiteren wird ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der vorliegenden Erfindung ausführlich mit Bezug auf die begleitenden Zeichnungen beschrieben.
- Erste Ausführungsform
- Anhand der
3A bis3F wird ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung beschrieben. -
3A bis3F sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung zeigen. - Zuerst wird, wie in
3A gezeigt, eine Leuchtstruktur110 , die aus einer auf Nitrid basierenden Halbleiterschicht besteht, auf einem transparenten Substrat100 wie zum Beispiel Saphir ausgebildet. Die Leuchtstruktur110 enthält eine Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ112 , eine aktive GaN/InGaN-Schicht114 mit einer Mehrfach-Quantenmuldenstruktur und eine Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 , die nacheinander laminiert sind. - Die Nitrid-Halbleiterschicht vom n-Typ
112 , die Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 und die aktive Schicht114 können aus einem Nitrid-Halbleitermaterial bestehen, dessen Zusammensetzungsformel AlxInyGa(1-x-y)N lautet (wobei gilt: 0 < x ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1 und 0 ≤ x + y ≤ 1), und können durch einen bekannten Nitridabscheidungsprozess ausgebildet werden, wie zum Beispiel MOCVD (metallorganische chemische Aufdampfung). - Die aktive Schicht
114 kann aus einer einzelnen Quantenmuldenschicht oder mit einer Doppelheterostruktur gebildet sein. - Anschließend wird, wie in
3B gezeigt, eine p-Elektrode140 auf dem Nitrid-Halbleiter vom p-Typ115 der Leuchtstruktur110 ausgebildet. Vorzugsweise wird die p-Elektrode140 so ausgebildet, dass sie als eine Elektrode und ein Reflexionsfilm dient. - Dann wird, wie in
3C gezeigt, eine (nicht gezeigte) Bondschicht zum Bonden einer Strukturstützschicht durch ein eutektisches Bondungsverfahren auf der p-Elektrode140 ausgebildet. Dann wird die Bondschicht einer hohen Temperatur und hohem Druck ausgesetzt, um einen Bondungsprozess zum Bonden der Strukturstützschicht160 an die p-Elektrode140 auszuführen. Da die Strukturstützschicht160 als eine Stützschicht und eine Elektrode einer fertigen LED dienen soll, wird die Strukturstützschicht160 aus einem Siliziumsubstrat mit ausgezeichneter Wärmeleitfähigkeit und ausgezeichnetem Wirkleitwert gebildet. - Die Bondschicht kann aus Gold (Au) oder einer Au-haltigen Legierung (zum Beispiel AuSn) bestehen.
- Als Nächstes wird, wie in
3D gezeigt, das Substrat100 durch einen LLO-Prozess abgetragen. Bei dem LLO-Prozess wird, wenn eine Energie von etwa 700 mJ/cm2 bei der normalen Temperatur in einer Pfeilrichtung angelegt wird, die Energie an der Grenzfläche zwischen dem Substrat100 und der Leuchtstruktur110 absorbiert, so dass die gebondete Oberfläche der Leuchtstruktur110 thermisch zersetzt wird, woraufhin das Substrat100 und die Leuchtstruktur110 voneinander getrennt werden. - Dann wird eine (nicht gezeigte) Photoresiststruktur zum Definieren einer gewünschten Größe von Einheits-LED- Elementen auf dem Nitrid-Halbleiter vom n-Typ
112 ausgebildet. - Die Leuchtstruktur
110 wird, wie in3E gezeigt, durch einen Trockenätzprozess mittels ICP (induktiv gekoppeltem Plasma) oder einen Isolations(ISO)-Prozess mittels Laser kontinuierlich zu Einheits-LED-Elementen isoliert, wobei die Photoresiststruktur als Ätzmaske dient. Dann wird die Photoresiststruktur entfernt. - Als Nächstes wird, wie in
3F gezeigt, eine n-Elektrode170 auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ112 der isolierten Leuchtstrukturen110 ausgebildet, wodurch die vertikale LED entsteht. - In dieser Ausführungsform wird der ISO-Prozess zum Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen nach dem LLO-Prozess ausgeführt, um das Saphirsubstrat zu trennen. Darum ist es möglich, eine Beschädigung der Leuchtstruktur wie zum Beispiel durch Risse zu verhindern, zu denen es durch die Einwirkung des Lasers während des LLO-Prozesses des Standes der Technik kam.
- Wie in
4 gezeigt, kann nach der Isolierung der Leuchtstruktur110 zu Einheits-LED-Elementen, das heißt, nach der Durchführung des Prozesses von3E , ein Isolierfilm200 auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen110 ausgebildet werden. Der Isolierfilm200 kann je nach den Eigenschaften der LED und den Prozessbedingungen weggelassen werden. In diesem Fall kann je nach den Eigenschaften der LED ein Reflexionsfilm anstelle des Isolierfilms200 ausgebildet werden.4 ist ein Prozessschaubild zum Erläutern der Modifizierung des Ver fahrens zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der ersten Ausführungsform der Erfindung. - Zweite Ausführungsform
- Anhand von
5 wird ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung beschrieben. Auf eine Beschreibung des gleichen Aufbaus wie bei der ersten Ausführungsform wird verzichtet. -
5 ist ein Prozessschaubild zum Erläutern eines Verfahrens zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. - Das Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der zweiten Ausführungsform wird in fast der gleichen Weise wie die erste Ausführungsform ausgeführt. Wie jedoch in
5 gezeigt, enthält das Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der zweiten Ausführungsform des Weiteren den Schritt des Ausbildens von Pufferfilmen300 auf Abschnitten der Oberfläche der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 , die Elementisolationsregionen entsprechen, bevor die p-Elektrode140 auf der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 ausgebildet wird. - In dieser Ausführungsform wird der ISO-Prozess zum Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen wie bei der ersten Ausführungsform nach dem LLO-Prozess zum Trennen des Substrats ausgeführt. Darum ist es möglich, den gleichen Effekt wie bei der ersten Ausführungsform zu erhalten.
- Vorzugsweise wird der Pufferfilm
300 aus einem nichtleitenden Material gebildet. Genauer gesagt, kann der Pufferfilm300 aus Photoresist, Polyimid, Epoxid oder einem Dielektrikum bestehen. - Da das Verfahren gemäß der zweiten Ausführungsform des Weiteren den Prozess des Ausbildens der Pufferfilme
300 enthält, kann die p-Elektrode zuverlässiger vor der Einwirkung des Lasers während des ISO-Prozesses geschützt werden als in der ersten Ausführungsform. - Dritte Ausführungsform
- Anhand der
6A bis6E wird ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung beschrieben. Auf eine Beschreibung des gleichen Aufbaus wie bei der ersten Ausführungsform wird verzichtet. -
6A bis6E sind Prozessschaubilder, die nacheinander ein Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß einer dritten Ausführungsform der Erfindung zeigen. - Das Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der dritten Ausführungsform wird in fast der gleichen Weise wie bei der ersten Ausführungsform ausgeführt. Jedoch unterscheidet sich das Verfahren gemäß der dritten Ausführungsform von der ersten Ausführungsform insofern, als der Prozess des Isolierens der Leuchtstruktur
110 in Einheits-LED-Elemente in zwei Schritte unterteilt ist und der LLO-Prozess zum Abtragen des Substrats110 von der Leuchtstruktur110 zwischen zwei Schritten ausgeführt wird. - Genauer gesagt, wird das Verfahren zur Herstellung einer vertikalen LED gemäß der dritten Ausführungsform der Erfindung folgendermaßen ausgeführt. Zuerst wird die Leuchtstruktur
110 auf dem Substrat100 ausgebildet, wie in3A der ersten Ausführungsform gezeigt. - Dann werden, wie in
6A gezeigt, Photoresiststrukturen PR zum Definieren einer gewünschten Größe von Einheits-LED-Elementen auf der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 der Leuchtstruktur110 ausgebildet. - Anschließend wird, wie in
6B gezeigt, ein erster ISO-Prozess zum Isolieren der Leuchtstruktur110 zu Einheits-LED-Elementen mittels Laser oder eines Trockenätzprozesses mittels ICP ausgeführt, wobei die Photoresiststrukturen als Ätzmaske dienen, dergestalt, dass Abschnitte der Leuchtstruktur110 , die Elementisolationsregionen entsprechen, mit einer vorgegebenen Dicke zurückbleiben. - Als Nächstes werden die Photoresiststrukturen PR entfernt.
- Dann wird, wie in
6C gezeigt, die p-Elektrode140 auf der Oberfläche der Nitrid-Halbleiterschicht vom p-Typ115 jedes Einheits-LED-Elements ausgebildet, und die Strukturstützschicht160 wird auf der p-Elektrode140 ausgebildet. - Als Nächstes wird, wie in
6D gezeigt, das Substrat100 durch den LLO-Prozess abgetragen. - Anschließend werden, wie in
6E gezeigt, die verbliebenen Abschnitten der Leuchtstruktur110 , die Elementisolationsregionen entsprechen, durch einen zweiten ISO-Prozess entfernt, dergestalt, dass die Leuchtstruktur110 zu Einheits-LED-Elementen isoliert wird. - Dann wird, wie in
3F der ersten Ausführungsform gezeigt, eine n-Elektrode170 auf jeder der Nitrid-Halbleiterschichten vom n-Typ112 der isolierten Leuchtstrukturen110 ausgebildet. - In dieser Ausführungsform wird der zweite ISO-Prozess, bei dem die Leuchtstruktur vollständig zu den Einheits-LED-Elementen isoliert wird, wie in der ersten Ausführungsform nach dem LLO-Prozess zum Abtragen des Substrats ausgeführt. Darum ist es möglich, den gleichen Effekt wie bei der ersten Ausführungsform zu erhalten.
- Obgleich nicht gezeigt, kann das Verfahren gemäß der dritten Ausführungsform der Erfindung des Weiteren folgende Schritte enthalten: Ausbilden eines ersten Isolierfilms oder eines ersten Reflexionsfilms auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen nach dem ersten ISO-Prozess, und Ausbilden eines zweiten Isolierfilms oder eines zweiten Reflexionsfilms auf den Seitenflächen der isolierten Leuchtstrukturen nach dem zweiten ISO-Prozess, je nach den Eigenschaften der LED und den Prozessbedingungen.
- Gemäß der vorliegenden Erfindung wird der LLO-Prozess zum Trennen des Saphirsubstrats von dem Leuchtsubstrat vor dem ISO-Prozess zum Isolieren der Leuchtstruktur zu Einheits-LED-Elementen ausgeführt. Darum ist es möglich, eine Beschädigung der Leuchtstruktur zu verhindern, wie zum Beispiel Risse, die durch die Einwirkung des Lasers während des LLO-Prozesses verursacht werden.
- Dementsprechend kann das Verfahren gemäß der Erfindung nicht nur die Eigenschaften und Zuverlässigkeit der vertikalen LED verbessern, sondern auch die Produktionsausbeute der vertikalen LED steigern.
- Obgleich einige Ausführungsformen des hier besprochenen allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts gezeigt und beschrieben wurden, leuchtet dem Fachmann ein, dass an diesen Ausführungsformen Veränderungen vorgenommen werden können, ohne von den Prinzipien und dem Geist des allgemeinen erfindungsgemäßen Konzepts, dessen Geltungsbereich in den angehängten Ansprüchen und ihren Äquivalenten definiert ist, abzuweichen.
- ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
- Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
- Zitierte Patentliteratur
-
- - KR 10-2007-0120260 [0001]
Claims (22)
- Eine vertikale LED-Struktur, die umfasst: eine Strukturstützschicht (
160 ), eine p-Elektrode (140 ), und eine lichtemittierende Struktur (110 ), wobei die Strukturstützschicht (160 ) auf der p-Elektrode (140 ) gebildet ist, die p-Elektrode auf der lichtemittierenden Struktur (110 ) gebildet ist und wobei die lichtemittierende Struktur (110 ) durch einen Isolationsprozess in Einheits-LED-Elemente isoliert ist. - Die vertikale LED-Struktur nach Schutzanspruch 1, wobei die p-Elektrode (
140 ) eine kontinuierliche Schicht ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei die p-Elektrode nicht durch den Isolationsprozess isoliert ist.
- Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei Kanten der isolierten lichtemittierenden Struktur bruchkantenfrei sind, insbesondere von Rissen frei sind, die aus einem LLO-Prozess resultieren.
- Eine vertikale LED-Struktur, die umfasst: eine Strukturstützschicht (
160 ), eine p-Elektrode (140 ), und eine in Einheits-LED-Elemente isolierte lichtemittierende Struktur (110 ), wobei Kanten der isolierten lichtemittierenden Struktur bruchkantenfrei sind, insbesondere von Rissen frei sind, die aus einem LLO-Prozess resultieren. - Die vertikale LED-Struktur nach Schutzanspruch 5, wobei die Strukturstützschicht (
160 ) auf der p-Elektrode (140 ) gebildet ist, wobei die p-Elektrode auf der lichtemittierenden Struktur (110 ) gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, die weiter umfasst: eine n-Elektrode (
170 ), die auf jedem der isolierten Teile der isolierten lichtemittierenden Struktur gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei die lichtemittierende Struktur (
110 ) umfasst: eine Nitridhalbleiterschicht (112 ) vom n-Typ; eine aktive Schicht (114 ); und eine Nitridhalbleiterschicht (115 ) vom p-Typ, wobei die p-Elektrode (140 ) auf der Nitridhalbleiterschicht (115 ) vom p-Typ gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach Anspruch 8, die weiter umfasst: eine n-Elektrode (
170 ), die auf der Nitridhalbleiterschicht (112 ) vom n-Typ auf jedem isolierten Teil der isolierten lichtemittierenden Struktur gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der Schutzansprüche 8–9, wobei die Nitridhalbleiterschicht (
112 ) vom n-Typ, die aktive Schicht (114 ) und die Nitridhalbleiterschicht (115 ) vom p-Typ aus einem Nitridhalbleitermaterial gebildet sind, das eine Zusammensetzungsformel von AlxInyGa(1-x-y) aufweist, wobei 0 ≤ x ≤ 1, 0 ≤ y ≤ 1, and 0 ≤ x + y ≤ 1. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der Schutzansprüche 8–10, wobei die aktive Schicht (
114 ) eine GaN/InGaN aktive Schicht mit einer Multi-Quantenpotentialtopfstruktur ist, optional gebildet aus einer Quantenpotentialtopfschicht mit einer Doppelheterostruktur. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der Schutzansprüche 8–11, die weiter umfasst: Pufferfilme (
300 ), die auf Teilen der Oberfläche der Nitridhalbleiterschicht (115 ) vom p-Typ gebildet sind, welche Elementisolationsbereichen entsprechen. - Die vertikale LED-Struktur nach Anspruch 12, wobei die p-Elektrode (
140 ) auf der resultierenden Struktur gebildet ist, die die Pufferfilme (300 ) darauf gebildet aufweist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der Schutzansprüche 11–13, wobei die p-Elektrode (
140 ) auf der Oberfläche der Nitridhalbleiterschicht (115 ) vom p-Typ gebildet ist unter Ausschluss der Teile, auf denen der Pufferfilm (300 ) gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der Schutzansprüche 12–14, wobei die Pufferfilme (
300 ) aus einem nichtleitenden Material bestehen, welches optional ausgewählt ist aus der Gruppe bestehend aus: Photoresist, Polyimid, Epoxid und Dielektrikum. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, die weiter umfasst: einen isolierenden Film (
200 ) oder einen reflektierenden Film (200 ), gebildet auf den Seitenoberflächen der isolierten lichtemittierenden Struktur. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, die weiter umfasst: eine Bondschicht zum Binden der Strukturstützschicht (
160 ) an die p-Elektrode (140 ). - Die vertikale LED-Struktur nach Schutzanspruch 17, wobei die Bondschicht aus Gold oder einer goldhaltigen Legierung, z. B. AuSn, gebildet ist.
- Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei die Strukturstützschicht (
160 ) aus einem Siliciumsubstrat gebildet ist. - Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei die Kanten der isolierten lichtemittierenden Struktur unbeschädigt sind.
- Die vertikale LED-Struktur nach einem der vorhergehenden Schutzansprüche, wobei die Kanten der isolierten lichtemittierenden Struktur bruchfrei sind.
- Eine vertikale LED, wobei die vertikale LED aus einer vertikalen LED-Struktur gemäß einem der vorhergehenden Schutzansprüche erhalten ist.
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