DE19958643C1 - Vorrichtung und Verfahren zur Beschichtung von Gegenständen bei hoher Temperatur sowie Verwendung - Google Patents
Vorrichtung und Verfahren zur Beschichtung von Gegenständen bei hoher Temperatur sowie VerwendungInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Beschichtung eines Gegenstandes (3) bei hoher Temperatur mittels Kathodenzerstäubung mit einer Vakuumkammer (1) und einer Sputterquelle (5), wobei die Sputterquelle eine Zerstäubungskathode (6) aufweist. DOLLAR A Innerhalb der Vakuumkammer ist eine Innenkammer (2) aus einem hitzebeständigen Material angeordnet, die die Zerstäubungskathode (6) und den zu beschichtenden Gegenstand (3) in geringem Abstand vollständig umschließt und die mindestens eine Öffnung (10, 11) zum Einlaß eines Gases und mindestens eine Öffnung (14) zum Auslaß eines Gases aufweist.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung
und ein Verfahren zur Beschichtung eines Gegenstandes
bei hoher Temperatur. Derartige Verfahren werden zur
Beschichtung von Gegenständen insbesondere von
Gasturbinenschaufeln beispielsweise mit Wärmedämm
schichten, Korrosionsschutzschichten und/oder
Hochtemperatursupraleiterschichten angewandt.
Zur Beschichtung von Gegenständen mit dünnen Schich
ten werden heutzutage plasmagestützte Vakuum-
Beschichtungsverfahren verwendet. Hierzu gehört bei
spielsweise auch das Kathodenzerstäuben, das zur
Gruppe der PVD-Verfahren zählt und aufgrund seiner
Vorzüge, insbesondere im Vergleich zu dem technisch
älteren thermischen Aufdampfen, mittlerweile eine
sehr breite Anwendung gefunden hat.
Nach dem Stand der Technik werden in den meisten Fäl
len die Beschichtungen eines Substrates bei Raumtem
peratur oder nur gering erhöhter Temperatur durchge
führt. Es gibt jedoch Anwendungsbereiche, bei denen
zur Ausbildung der gewünschten Schichtstruktur die
Temperatur des zu beschichtenden Gegenstandes (Sub
strat) während der Beschichtung sehr hoch sein muß,
beispielsweise 700°C bis 1100°C. Dies ist bei
spielsweise der Fall bei der Herstellung von Hochtem
peratursupraleiterschichten oder Korrosionsschutz-
und Wärmedämmschichten für Gasturbinenbauteile, ins
besondere Turbinenschaufeln.
Zur Beschichtung von Substraten bei hoher Temperatur
sind verschiedene Vorrichtungen bekannt. Aus Müller
et al., Praktische Oberflächentechnik, Vieweg & Sohn
Verlagsgesellschaft, Braunschweig, 1995, Seite 419,
ist beispielsweise eine Magnetronsputterquelle be
kannt, und aus WO 98/13531 ist eine Gasflußsputter
quelle bekannt, bei denen die hohe Temperatur des
Substrates mittels eines elektrischen Widerstandhei
zers erzeugt wird. Dieser Heizer ist vorzugsweise auf
der der Sputterquelle abgewandten Seite des Substra
tes angebracht, um die von ihm erzeugte Wärme mittels
Wärmeleitung bzw. Wärmestrahlung auf das Substrat
rückwärtig zu übertragen.
Bei beiden, in diesen Druckschriften dargestellten
Sputterquellen handelt es sich um Hochratesputter
quellen, die bisher auch bei hoher Substrattemperatur
grundsätzlich mit möglichst niedriger Targettempera
tur betrieben werden. Dies ist beispielsweise in
Kienel G. et al., Vakuumbeschichtung, VDI Verlag Düs
seldorf 1995, Band 2 Seite 160 bis 181, beschrieben.
Daher wird bei diesen herkömmlichen Hochratesputter
quellen das Target gekühlt. Der Stand der Technik
geht daher gewöhnlich selbstverständlich von einer
Wasserkühlung des Targets aus.
Die in den oben genannten Dokumenten beschriebenen
Vorrichtungen besitzen einige gravierende Nachteile.
Denn aufgrund der sehr schnell mit der Substrattempe
ratur wachsenden Wärmeabstrahlung, die proportional
zur vierten Potenz der absoluten Temperatur ist,
kommt es zu beträchtlichen Energieverlusten durch Ab
strahlung des Substrates zu den Wänden der Vakuumkam
mer und zu der Sputterquelle. Aus diesem Grund muß
der Heizer für eine sehr große Leistung ausgelegt
werden und verbraucht dementsprechend viel Energie.
Andererseits muß an der Kammerwand und dem Sputter
target eine intensive Kühlung, wie oben beschrieben,
vorgesehen werden, was zu einem hohen Kühlwasserver
brauch führt.
Eine effiziente Kühlung des Sputtertargets (Zerstäu
bungskathode), das sowohl durch die Gasentladung als
auch durch das heiße Substrat erwärmt wird, setzt
weiterhin eine sehr aufwendige Konfektionierung (Bon
den) voraus und erfordert einen beträchtlichen Zeit
aufwand für den Targetwechsel, wenn das Target ver
braucht ist.
Als weiterer Nachteil ist zu erwähnen, daß sich in
nerhalb des Substrates aufgrund seiner begrenzten
Wärmeleitfähigkeit eine ungleichmäßige Temperaturver
teilung einstellt, so daß keine gleichmäßigen
Schichteigenschaften garantiert werden können.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine
Vorrichtung und ein Verfahren zur Beschichtung eines
Gegenstandes bei hoher Temperatur zur Verfügung zu
stellen, bei denen das Substrat einfach, wirksam und
gleichmäßig erwärmt werden kann.
Diese Aufgabe wird durch die Vorrichtung nach An
spruch 1, das Verfahren nach Anspruch 16 sowie durch
Verwendungen dieser Vorrichtung und dieses Verfahrens
nach den Ansprüchen 28 bis 31 gelöst. Vorteilhafte
Weiterbildungen der erfindungsgemäßen Vorrichtung,
des erfindungsgemäßen Verfahrens sowie der erfin
dungsgemäßen Verwendungen werden in den abhängigen
Ansprüchen gegeben.
Erfindungsgemäß befindet sich im Inneren der Vakuum
kammer eine Beschichtungskammer (Innenkammer), deren
Wände aus einem hitzebeständigen Material mit gerin
ger Wärmeleitfähigkeit besteht, wie beispielsweise
Graphit oder Keramik, die damit eine sehr hohe Wärme
dämmwirkung aufweisen. Das Substrat (der zu beschich
tende Gegenstand) und die Sputterquelle (Zerstäu
bungskathode) befinden sich vollständig innerhalb
dieser Beschichtungskammer. Weiterhin weist die Be
schichtungskammer Öffnungen zum Gaseinlaß und zur
Gasabsaugung auf, um das plasmaerzeugende Edelgas
(beispielsweise Argon) oder weitere Gase, beispiels
weise bei reaktivem Sputtern, einzuspeisen und abzu
saugen.
Eine derartige erfindungsgemäße Vorrichtung benötigt
keinen aufwendigen Hochtemperaturheizer, um das Sub
strat aufzuheizen. Denn die Betriebsbedingung der
Sputterquelle können nun so gewählt werden, daß das
Target eine stationäre Temperatur erreicht, die ober
halb, beispielsweise 50 K oberhalb, der gewünschten
Substrattemperatur liegt. Damit strahlt das Target
(Zerstäubungskathode) entweder direkt oder indirekt
Wärmestrahlung auf das Substrat und heizt damit das
Substrat auf. Damit liegt eine zu den herkömmlichen
Hochratesputterverfahren umgekehrte Wärmeverteilung
und Wärmefluß vor. Denn bei letzteren ist das Sub
strat wärmer als das gekühlte Target und heizt letz
teres - unerwünscht - auf, während bei der vorliegen
der Erfindung das Target als Heizer für das Substrat
verwendet wird.
Vorteilhaft hieran ist, daß folglich kein aufwendiger
Hochtemperaturheizer für das Substrat benötigt wird.
Weiterhin ist der Energieverbrauch der Gesamtanlage
bedeutend geringer, da die Wärmeverluste zur Wand der
Vakuumkammer und zur Sputterquelle sich stark verrin
gern bzw. vollständig entfallen und außerdem die er
forderliche Heizenergie vollständig aus der Abwärme
der Beschichtungsquelle gewonnen wird.
Da die Beschichtungsquelle nunmehr nicht gekühlt wer
den muß, ist auch der Kühlmittelbedarf des Targets
bedeutend geringer. Insbesondere ist für die Sputter
quelle keine direkte Kühlung mehr nötig. Dies verein
facht die Gesamtkonstruktion beträchtlich, da zum ei
nen ein gleichmäßig guter Wärmeübergang zwischen Tar
get und Kühlsystem technisch aufwendig ist und außer
dem das auf Kathodenpotential befindliche Kühlsystem
vollständig entfällt. Damit entfallen auch die elek
trisch isolierten Wasserdurchführungen Vakuum/Luft
sowie der Wasserwiderstand zum Potentialangleich.
Da die Zerstäubungskathode nicht eigenständig gekühlt
werden muß, ist die Konfektionierung der Zerstäu
bungskathode auch ohne Bondplatten bzw. Bonden mög
lich. Damit kann auch ein Targetwechsel sehr schnell,
sicher und einfach erfolgen.
Im Falle einer Gasflußsputterquelle sind außerdem an
den Targetaußenseiten keine weiteren Abschirmungen
erforderlich.
Vorteilhaft bei dem erfindungsgemäßen Verfahren und
der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist weiterhin, daß
das Substrat sehr gleichmäßig und von der zu be
schichtenden Seite her erwärmt wird und folglich auch
gleichmäßige Schichteigenschaften erzielt werden kön
nen.
Vorteilhafterweise werden die Betriebsbedingungen der
Sputterquelle so gewählt, daß das Target eine statio
näre Temperatur erreicht, die mindestens 50 K ober
halb der gewünschten Substrattemperatur liegt. Die
Sputterquelle kann dabei so gestaltet sein, daß ein
ausreichend großer Anteil der Targetoberfläche seine
Wärmestrahlung überwiegend direkt, z. B. im Falle ei
ner Magnetronsputterquelle, an das Substrat gibt oder
indirekt (z. B. im Falle einer Gasflußsputterquelle)
über Reflexion oder Absorption an den Innenwänden der
Beschichtungskammer.
Die Sputterquelle ist vorteilhafterweise konstruktiv
so ausgelegt, daß bei dieser hohen Temperatur keine
negativen Veränderungen auftreten, die den stabilen
Betrieb der Quelle beeinträchtigen würden. Dies be
deutet insbesondere die Verwendung von ausreichend
wärmebeständigen Materialien und die Berücksichtigung
ihrer Wärmedehnung. Im Falle einer Magnetronsputter
quelle ist für eine ausreichende Kühlung der Magnete
zu sorgen.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren und der erfin
dungsgemäßen Vorrichtung wird die Targettemperatur
eingestellt entsprechend einem Gleichgewicht zwischen
einem bestimmten elektrischen Leistungseintrag in die
Gasentladung am Target einerseits und einer bestimm
ten Wärmeabfuhr aus der Beschichtungskammer anderer
seits, beispielsweise durch einen definierten Wärme
widerstand der Beschichtungskammerwände oder der Tar
gethalterung oder eines optional in der Nähe des Tar
gets angeordneten Wärmeauffangschirmes, über dessen
Dimensionierung, Positionierung, Orientierung in der
Beschichtungskammer und relativ zum Target bzw. Sub
strat, und über dessen Kühlleistung (Schirmtempera
tur) eine Regelung der Wärmeabfuhr und damit der
Substrattemperatur möglich ist. Die Wärme kann dann
außerhalb der Beschichtungskammer an eine Kühlflüs
sigkeit (z. B. Wasser) oder ein Kühlgas (z. B. Luft)
über einen Wärmetauschprozeß weitergegeben werden.
Für den Fall, daß die Substrattemperatur bereits zu
Beginn der Beschichtung die hohe Endtemperatur auf
weisen muß, wird vorteilhafterweise die Sputterquelle
anfangs unter Bedingungen betrieben, bei denen sie
nur als Heizquelle wirkt, jedoch nicht als Beschich
tungsquelle. Dies kann beispielsweise dadurch gesche
hen, daß der Arbeitsdruck in der Vakuumkammer soweit
erhöht wird, daß die mittlere freie Weglänge der zer
stäubten Partikel deutlich unter dem Abstand zwischen
dem Target und dem Substrat liegt. Alternativ kann
auch zwischen das Target und das Substrat in der An
fangsphase eine Schwenkblende eingeschwenkt werden,
so daß die direkte gradlinige Verbindung zwischen
Zerstäubungskathode und Substrat unterbrochen ist. Im
Falle einer Gasflußsputterquelle kann auch der Gas
fluß durch die Sputterquelle reduziert oder abge
schaltet werden.
Ein besonders stabiler Betrieb und gleichmäßige Be
schichtungen können realisiert werden, wenn die Tem
peratur des zu beschichtenden Gegenstandes mittels
eines Wärmesensors, beispielsweise eines Thermoele
mentes bestimmt wird, der in der Nähe des Substrates
in der Innenkammer angeordnet ist. In diesem Falle
kann die Substrattemperatur über den Leistungseintrag
in der Sputterquelle genau gesteuert werden.
An das Substrat kann weiterhin eine Vorspannung ange
legt werden, um die Schichteigenschaften der abge
schiedenen Beschichtung auf dem Substrat genau zu
steuern.
Die Substrattemperatur bei dem vorliegenden Verfahren
liegt im Bereich zwischen 200 und 1500°C. Die erfin
dungsgemäße Vorrichtung und das erfindungsgemäße Ver
fahren eignen sich insbesondere für die folgenden
Sputterverfahren bzw. Sputterquellen: Gasflußsput
tern, Hohlkathodensputtern, Magnetronsputtern, Dio
densputtern oder Triodensputtern.
Damit können Substrate mit Wärmedämmschichten, Korro
sionsschichten und/oder Hochtemperaturleiterschich
ten, beispielsweise aus Hochschmelzmetallen und/oder
Verbindungen, z. B. Oxiden, Nitriden, Carbiden oder
Boriden versehen werden, beispielsweise Zirkoniumoxid,
Ceroxid, MCrAlY-Legierungen, wobei M für ein Metall
steht, oder auch YBaCuO.
Das erfindungsgemäße Verfahren und die erfindungsge
mäße Vorrichtung sind insbesondere geeignet zum Be
schichten von Gasturbinenschaufeln mit Wärmedämm
schichten oder Korrosionsschutzschichten.
Im folgenden werden einige Beispiele für erfindungs
gemäße Vorrichtungen und Verfahren gegeben.
Es zeigt:
Fig. 1 eine Gasflußsputtervorrichtung;
Fig. 2 eine Gasflußsputtervorrichtung und
Fig. 3 eine Magnetronsputtervorrichtung.
Fig. 1 zeigt eine Gasflußsputtervorrichtung mit ei
ner Vakuumkammer 1, an der eine Vakuumpumpe 15 zum
Evakuieren der Vakuumkammer 1 angeordnet ist. Inner
halb der Vakuumkammer 1 befindet sich eine Beschich
tungskammer 2. Diese Beschichtungskammer besitzt eine
Absaugöffnung 14, um auch das Innere der Beschich
tungskammer zu evakuieren. Vorzugsweise wird die Va
kuumkammer von außen gekühlt, es ist jedoch auch eine
Kühlung der Beschichtungskammer - ebenfalls von außen
- möglich.
Innerhalb der Beschichtungskammer 2 ist eine Gastur
binenschaufel 3 als Substrat an einem Substrathalter
4 angeordnet. Gegenüber dem Substrat 3 befindet sich
eine Gasflußsputterquelle 5 mit einem Target 6 (Zer
stäubungskathode), einer Targethalterung 7, einem
elektrischen Targetanschluß 8 sowie einer Targetdun
kelraumabschirmung 9. In die Gasflußsputterquelle 5
führt eine Einspeiseleitung 10 für Argon. Weiterhin
führt in die Beschichtungskammer 2 eine Einspeiselei
tung 11 für Sauerstoff. Zwischen dem Target 6 und dem
Substrat 3 ist weiterhin eine schwenkbare Schwenk
blende 12 angeordnet, die zu Beginn des Beschich
tungsprozesses, solange das Substrat noch nicht auf
gewärmt ist, in den direkten Weg zwischen Target 6
und Substrat 3 eingeschwenkt werden kann und zur Be
schichtung aus diesem Weg entfernt werden kann. In
der Nähe der Gasturbinenschaufel 3 befindet sich ein
Thermoelement 13, über das die Temperatur der Gastur
binenschaufel 3 bestimmt werden kann.
Die in Fig. 1 gezeigte Vorrichtung kann nun zur Be
schichtung der Gasturbinenschaufel 3 beispielsweise
mit einer Zirkonoxidschicht mittels reaktivem Gas
flußsputtern eingesetzt werden, wobei die Kathode
nach außen abgeschirmt ist.
Fig. 2 zeigt ein weiteres Beispiel einer Vorrichtung
zur Beschichtung einer Gasturbinenschaufel, wobei in
diesem Falle eine metallische Korrosionsschutzschicht
mittels Gasflußsputtern abgeschieden werden kann.
Dieselben Elemente wie in Fig. 1 sind in Fig. 2 mit
denselben Bezugszeichen versehen und werden daher
nicht weiter beschrieben werden.
In diesem Falle ist die Sputterkathode außen nicht
abgeschirmt. In der Beschichtungskammer 2 ist zusätz
lich ein Wärmeauffangschirm 17 angeordnet, über den
die Temperatur in der Beschichtungskammer 2 und damit
auch die Temperatur des Substrates 3 geregelt wird.
Dieser Wärmeauffangschirm kann zur genauen Regelung
der Temperatur des Substrates über eine Wasserkühlung
gekühlt werden.
Fig. 3 zeigt eine weitere erfindungsgemäße Vorrich
tung zur Beschichtung von Substraten mit einer
YBaCuO-Schicht mittels Magnetronsputtern. Auch in
diesem Falle sind dieselben Elemente wie in Fig. 1
mit denselben Bezugszeichen versehen und werden nicht
weiter erläutert. Bei der Sputterquelle in Fig. 3
handelt es sich jedoch im Unterschied zu den Fig.
1 und 2 nicht um eine Gasflußsputterquelle sondern um
eine Magnetronsputterquelle. Dementsprechend ist die
Sputterquelle aus einem Target 6, das an einer Tar
gethalterung 7 befestigt ist, sowie einem elektri
schen Targetanschluß 8 aufgebaut, wobei die Sputter
quelle weiterhin einen Magnet 16 aufweist. Die Ein
speisung von Argon oder Sauerstoff erfolgt über Spei
seleitungen, die mit den Bezugszeichen 10 bzw. 11 be
zeichnet sind.
Bei sämtlichen drei Ausführungsbeispielen der Fig.
1 bis 3 wird die Temperatur des Substrates 3 mittels
eines Thermoelementes 13 bestimmt und anschließend
die Temperatur des Targets 6 über den elektrischen
Leistungseintrag in die Gasentladung am Target 6 so
gesteuert, daß das Substrat 3 auf eine definierte
Temperatur gebracht bzw. auf einer definierten ge
wünschten Temperatur gehalten wird.
Im folgenden werden einige Ausführungsbeispiele des
erfindungsgemäßen Verfahrens gegeben.
In einem ersten Beispiel wird eine Vorrichtung wie in
den Fig. 1 oder 2 gezeigt, zum Beschichten von
Gasturbinenschaufeln bei 1100°C mit yttriumstabili
siertem Zirkonoxid verwendet. Hierzu wird zuerst eine
zu beschichtende Gasturbinenschaufel auf 400°C vor
geheizt und anschließend in die geöffnete Vakuumkam
mer und die geöffnete Beschichtungskammer eingesetzt.
Nach Schließen der Beschichtungskammer und der Vaku
umkammer werden diese evakuiert und anschließend die
Gasflußsputterquelle ausschließlich als Heizer be
trieben. Dies wird erreicht, indem kein Arbeitsgas
durch die Gasflußsputterquelle geleitet wird. Es bil
det sich nun zwar ein Plasma aus, es erfolgt jedoch
kein Materialtransport von abgestäubtem Kathodenmate
rial mehr zum Substrat, da die Quelle nicht von einem
Gasstrom durchströmt wird. Etwaig abgestäubtes Mate
rial scheidet sich folglich wieder auf der Katho
denoberfläche ab, ohne das Substrat zu erreichen.
Dennoch wird zum Aufheizen des Targets Argon außer
halb der Gasflußsputterquelle in die Innenkammer ein
geleitet, so daß sich ein Plasma zum Aufheizen des
Targets ausbildet. Zur Einsparung von Argon kann beim
Aufheizen dabei der Gasfluß stark reduziert werden,
sofern gleichzeitig das Saugvermögen der Vakuumpumpe
entsprechend vermindert wird (z. B. durch ein Drossel
ventil), damit sich trotzdem ein ausreichend hoher
Druck zur Erzeugung eines Plasmas einstellt. Zusätz
lich kann optimal eine Abschirmung (Schirm) in die
direkte Linie zwischen Target und Substrat einge
schwenkt werden.
Nach Erreichen der Beschichtungstemperatur der Ga
sturbinenschaufel wird der Betrieb der Sputterquelle
auf einen Betrieb als Beschichtungsquelle umgestellt.
Hierzu wird nunmehr Argon nicht mehr außerhalb der
Gasflußsputterquelle in die Innenkammer eingeleitet
sondern der Argongasfluß unmittelbar durch die Sput
terquelle hindurch geleitet und gegebenenfalls der
Schwenkschirm aus der direkten Linie zwischen Target
und Substrat entfernt. Weiterhin wird Sauerstoff se
parat in die Beschichtungskammer in der Nähe der
Sputterquelle und des Substrates eingespeist, um ein
reaktives Gasflußsputtern auszulösen.
Während der Beschichtung wird ständig die Temperatur
der Gasturbinenschaufel über ein Thermoelement gemes
sen und die Temperatur der Gasturbinenschaufel über
die Sputterquellenleistung auf ca. 1100°C eingere
gelt.
Nach Erreichen der erforderlichen Schichtdicke wird
die Sputterquelle abgeschaltet und eine hohe Abkühl
geschwindigkeit eingestellt, indem ein Gasdruck von 1
bar in Verbindung mit einem hohem Gasdurchsatz in der
Beschichtungskammer eingestellt wird.
Nach Abkühlen der Gasturbinenschaufel, die nunmehr
eine Schicht aus yttriumstabilisiertem Zirkonoxid
aufweist, wird diese aus der Vakuumkammer und der Be
schichtungskammer entnommen und die Kammern werden
anschließend wieder geschlossen.
In einem weiteren Verfahrensbeispiel, das mit einer
Magnetronsputterquelle gemäß Fig. 3 durchgeführt
werden kann, wird ein zu beschichtendes Bauteil als
Substrat, das Raumtemperatur aufweist, in die geöff
nete Vakuumkammer und die geöffnete Beschichtungskam
mer eingesetzt und anschließend werden beide Kammern
geschlossen. Daraufhin werden die beiden Kammern eva
kuiert und die Magnetronsputterquelle ausschließlich
als Heizer betrieben. Hierzu wird Arbeitsgas unter
hohem Druck, beispielsweise 0,1 mbar, in die Vakuum
kammer eingeleitet, so daß die abgesputterten Parti
kel aufgrund ihrer geringen freien Weglänge das zu
beschichtende Substrat nicht erreichen.
Nach Erreichen der Beschichtungstemperatur für das
Bauteil wird die Sputterquelle als Beschichtungsquel
le betrieben. Dazu wird der Druck in der Vakuumkammer
und der Beschichtungskammer abgesenkt. Auch hier wird
wiederum die Temperatur des Bauteils über ein Thermo
element permanent gemessen und die Temperatur des
Bauteils über die Sputterquellenleistung auf ca.
900°C eingeregelt. Mit diesem Verfahren lassen sich
CoCrAlY-Schichten auf Gasturbinenschaufeln als Bau
teil mittels Magnetronsputtern aufbringen.
Nach Erreichen der erforderlichen Schichtdicke der
CoCrAlY-Schichten wird die Sputterquelle abgeschaltet
und die Abkühlgeschwindigkeit durch Einstellen eines
Gasdruckes von 0,5 bar für ein moderates Abkühlen
eingeregelt.
Nach Abkühlen der Gasturbinenschaufel wird diese nach
Öffnen der Vakuumkammer und Beschichtungskammer aus
den beiden Kammern entnommen und anschließend werden
beide Kammern geschlossen.
In einem weiteren Verfahrensbeispiel werden planare
Saphirsubstrate bei 700°C mittels teilreaktivem
Hohlkathodensputtern mit einer Beschichtung aus
YBaCuO versehen.
Zuerst wird das Saphirsubstrat, das Raumtemperatur
aufweist, in die geöffnete Vakuumkammer und die ge
öffnete Beschichtungskammer eingesetzt, die beiden
Kammern werden geschlossen und evakuiert. Danach wird
die Hohlkathoden-Sputterquelle ausschließlich als
Heizer betrieben. Hierzu wird eine Schwenkblende zwi
schen die Hohlkathoden-Sputterquelle und das planare
Saphirsubstrat eingefügt, so daß die abgestäubten
Partikel der Sputterquelle sich nicht unmittelbar auf
dem Substrat niederschlagen. Das Substrat wird jedoch
indirekt über die Wände der Beschichtungskammer den
noch aufgeheizt.
Nach Erreichen der gewünschten Beschichtungstempera
tur von 700°C wird die Schwenkblende zwischen der
Sputterquelle und dem Substrat entfernt, so daß nun
mehr die Sputterquelle als Beschichtungsquelle be
trieben wird. Wiederum wird die Temperatur des Sub
strates über ein Thermoelement gemessen und über die
Sputterquellenleistung eingeregelt.
Nach Erreichen der erforderlichen Schichtdicke der
YBaCuO-Schicht wird die Sputterquelle abgeschaltet.
Der Sauerstoff-Partialdruck wird jedoch aufrechter
halten und es wird eine geringe Abkühlgeschwindigkeit
eingestellt, indem der Gasdruck bei 1 mbar gehalten
wird.
Nachdem das Substrat abgekühlt ist, wird es aus der
geöffneten Vakuumkammer und der geöffneten Beschich
tungskammer entnommen und beide Kammern werden wie
derum geschlossen.
Claims (32)
1. Vorrichtung zur Beschichtung eines Gegenstandes
(3) bei hoher Temperatur mittels Kathodenzer
stäubung mit
einer Vakuumkammer (1) und einer Sputterquelle (5), wobei
die Sputterquelle eine Zerstäubungskathode (6) aufweist,
innerhalb der Vakuumkammer eine Innenkammer (2) aus einem hitzebeständigen Material angeordnet ist, die die Zerstäubungskathode (6) und den zu beschichtenden Gegenstand (3) vollständig um schließt und die mindestens eine Öffnung (10, 11) zum Einlaß eines Gases und mindestens eine Öff nung (14) zum Auslaß eines Gases aufweist,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Material der Innenkammer (2) eine gerin ge Wärmeleitfähigkeit aufweist.
einer Vakuumkammer (1) und einer Sputterquelle (5), wobei
die Sputterquelle eine Zerstäubungskathode (6) aufweist,
innerhalb der Vakuumkammer eine Innenkammer (2) aus einem hitzebeständigen Material angeordnet ist, die die Zerstäubungskathode (6) und den zu beschichtenden Gegenstand (3) vollständig um schließt und die mindestens eine Öffnung (10, 11) zum Einlaß eines Gases und mindestens eine Öff nung (14) zum Auslaß eines Gases aufweist,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Material der Innenkammer (2) eine gerin ge Wärmeleitfähigkeit aufweist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das Materi
al der Innenkammer (2) Graphit und/oder einen
keramischen Werkstoff enthält.
3. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Materi
al der Innenkammer (2) ein hohes Reflexionsver
mögen für Wärmestrahlung aufweist.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Zer
stäubungskathode (6) und der Gegenstand (3) der
art angeordnet sind, daß die Oberfläche der Zer
stäubungskathode (6) ihre Wärmeabstrahlung di
rekt auf den Gegenstand (3) strahlt.
5. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zerstäubungska
thode (6), der Gegenstand (3) und die Wände der
Innenkammer (2) derart angeordnet sind, daß die
Oberfläche der Zerstäubungskathode (6) ihre Wär
meabstrahlung indirekt über die Wände der Innen
kammer (2) auf den Gegenstand (3) strahlt.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Sput
terquelle (5) aus hitzebeständigen Materialien
besteht.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei oder an
dem Gegenstand (3) ein Temperatursensor (13) an
geordnet ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß eine Steuervorrich
tung vorgesehen ist, die den elektrischen Lei
stungseintrag in die Gasentladung an der Zer
stäubungskathode (6) in Abhängigkeit von dem
Meßsignal des Temperatursensors (13) steuert.
9. Vorrichtung nach einem der
Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine
Steuervorrichtung vorgesehen ist, durch die den
elektrischen Leistungseintrag in die Gasentla
dung an der Zerstäubungskathode (6) in Abhängig
keit von dem Meßsignal des Temperatursensors
(13) derart steuerbar ist, daß die Temperatur
des Gegenstandes (3) konstant gehalten wird.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen
Zerstäubungskathode (6) und Gegenstand (3) eine
bewegbare Blende (12) angeordnet ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß die Blende (12) eine
Schwenkblende ist.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß in der In
nenkammer (2) ein Wärmeauffangschirm (17) ange
ordnet ist.
13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Sput
terquelle (5) eine Magnetronsputterquelle ist.
14. Vorrichtung nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet, daß der Magnet (16) der
Magnetronsputterquelle (5) kühlbar ist.
15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12,
dadurch gekennzeichnet, daß die Sputterquelle
(5) eine Gasflußsputterquelle, eine Hohlkatho
densputterquelle, eine Diodensputterquelle
und/oder eine Triodensputterquelle ist.
16. Verfahren zum Beschichten eines Gegenstandes (3)
bei einer gewünschten, erhöhten Temperatur des
Gegenstandes (3) durch Zerstäubung einer Zer
stäubungskathode (6) in einer Vakuumkammer (1),
wobei die Zerstäubungskathode (6) und der Gegen
stand (3) in einer die Zerstäubungskathode (6)
und den Gegenstand (3) vollständig umschließen
den, in der Vakuumkammer (1) angeordneten Innen
kammer (2) aus hitzebeständigem Material mit ge
ringer Wärmeleitfähigkeit derart angeordnet
wird, daß die von der Zerstäubungskathode (6)
emittierte Wärmestrahlung zu einem großen Teil
direkt oder indirekt über die Wände der Innen
kammer (2) auf den Gegenstand (3) aufgestrahlt
wird und die Zerstäubungskathode (6) derart be
trieben wird, daß sie eine Temperatur oberhalb
der gewünschten, erhöhten Temperatur des Gegen
standes (3) erreicht.
17. Verfahren nach dem vorhergehenden Anspruch, da
durch gekennzeichnet, daß die Zerstäubungskatho
de (6) derart betrieben wird, daß sie eine Tem
peratur mindestens 50°C über der gewünschten
Temperatur aufweist.
18. Verfahren nach einem der
Ansprüche 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, daß als ge
wünschte Temperatur eine Temperatur zwischen
200°C und 1500°C erreicht wird.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 18,
dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur des
Gegenstandes (3) erfaßt und bestimmt wird.
20. Verfahren nach Anspruch 19, da
durch gekennzeichnet, daß der elektrische Lei
stungseintrag in die Gasentladung an der Zer
stäubungskathode (6) in Abhängigkeit von der be
stimmten Temperatur geregelt wird.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 20,
dadurch gekennzeichnet, daß die Zerstäubungska
thode (6) zuerst unter Bedingungen betrieben
wird, bei denen sie nur als Heizquelle nicht je
doch als Beschichtungsquelle wirkt und nach Auf
heizen des Gegenstandes (3) die Zerstäubungska
thode (6) zum Beschichten betrieben wird.
22. Verfahren nach Anspruch 21, da
durch gekennzeichnet, daß zum Betreiben der Zer
stäubungskathode (6) nur als Heizquelle und
nicht als Beschichtungsquelle der Arbeitsgas
druck in der Vakuumkammer (1) derart eingestellt
wird, daß die mittlere freie Weglänge der Gasmo
leküle oder Atome deutlich geringer ist als der
Abstand zwischen der Zerstäubungskathode (6) und
dem Gegenstand (3).
23. Verfahren nach einem der
Ansprüche 21 oder 22, dadurch gekennzeichnet, daß zum Be
treiben der Zerstäubungskathode (6) nur als Hei
zquelle und nicht als Beschichtungsquelle eine
Schwenkblende (12) zwischen Zerstäubungskathode
(6) und Gegenstand (3) eingebracht wird.
24. Verfahren nach einem der An
sprüche 21 bis 23, dadurch gekennzeichnet, daß zum Betrei
ben der Zerstäubungskathode (6) nur als Hei
zquelle und nicht als Beschichtungsquelle der
Gasfluß durch die Vakuumkammer. (1) reduziert
oder abgeschaltet wird.
25. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 24,
dadurch gekennzeichnet, daß der Gegenstand (3)
zuerst außerhalb der Vakuumkammer (1) vorgewärmt
und anschließend zur Beschichtung in die Vakuum
kammer (1) eingebracht wird.
26. Verfahren nach einem der Ansprüche 16 bis 25,
dadurch gekennzeichnet, daß während der Be
schichtung der Gegenstand (3) unter eine Vor
spannung gesetzt wird.
27. Verfahren nach Anspruch 26, da
durch gekennzeichnet, daß die Vorspannung in Ab
hängigkeit von den gewünschten Eigenschaften der
Beschichtung gesteuert wird.
28. Verwendung einer Vorrichtung und/oder eines Ver
fahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche
zum Beschichten von Gegenständen (3) mit Wärme
dämmschichten, Korrosionsschutzschichten
und/oder Hochtemperatursupraleiterschichten.
29. Verwendung einer Vorrichtung und/oder eines Ver
fahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 27 zum
Beschichten von Gegenständen (3) mit hochschmel
zenden Metallen und/oder Verbindungen.
30. Verwendung einer Vorrichtung und/oder eines Ver
fahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 27 zum
Beschichten von Gegenständen (3) mit Oxiden, Ni
triden, Carbiden, Boriden.
31. Verwendung einer Vorrichtung und/oder eines Ver
fahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 27 zum
Beschichten von Gegenständen (3) mit Zirkoniu
moxid, Ceroxid, YBaCuO und/oder MCrAlY-Legierun
gen, wobei M ein Metall ist.
32. Verwendung nach einem der Ansprüche 28 bis 31
zum Beschichten von Gasturbinenschaufeln.
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