DE19945855A1 - Mikrospule - Google Patents
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- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 23
- 239000010432 diamond Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 26
- 239000000463 material Substances 0.000 title claims description 24
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 title claims description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 title 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 26
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 claims abstract description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 5
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims description 5
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 claims description 5
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 abstract description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 43
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 6
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 6
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 5
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 2
- QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N [Co].[Ni] Chemical compound [Co].[Ni] QXZUUHYBWMWJHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N iron nickel Chemical compound [Fe].[Ni] UGKDIUIOSMUOAW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 SiN Chemical class 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000005253 cladding Methods 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010292 electrical insulation Methods 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000009396 hybridization Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
- 210000002268 wool Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L28/00—Passive two-terminal components without a potential-jump or surface barrier for integrated circuits; Details thereof; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L28/10—Inductors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F17/00—Fixed inductances of the signal type
- H01F17/0006—Printed inductances
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/52—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
- H01L23/522—Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including external interconnections consisting of a multilayer structure of conductive and insulating layers inseparably formed on the semiconductor body
- H01L23/5227—Inductive arrangements or effects of, or between, wiring layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
- H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body
- H01L27/08—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being a semiconductor body including only semiconductor components of a single kind
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Abstract
Eine mit Hilfe der Additivtechnik auf der Oberfläche eines Substrats (1) aufgebaute Spule ist dadurch gekennzeichnet, daß die Leiter (6) der Spule mit einem Isoliermaterial (11) (Achtung: in Anspruch 1 nachtragen) in Kontakt sind, das wenigstens zum Teil aus Diamant oder diamantähnlichem Kohlenstoffmaterial besteht.
Description
Die Erfindung betrifft eine Mikrospule, die mit
Hilfe der Additivtechnik auf einer Substratoberflä
che aufgebaut ist. Eine derartige Spule ist in
"First Integrated Inductive Proximity Sensor with
On-chip CMOS Readout Circuit and Electrodeposi
ted 1 mm Flat Coil, Ph.A. Passeraub et. al.,
Proceedings of Eurosensors XII, 1998 beschrieben.
Mikrospulen wie diese sind nur für kleine Ströme
geeignet und erreichen nur niedrige Induktivitäten.
Sie sind daher zwar für sensorische Zwecke geeig
net, nicht aber zum Beispiel für Schaltanwendungen,
die hohe Ströme und Induktivitäten erfordern. Woll
te man Mikrospulen der bekannten Bauart für hohe
Ströme und Induktivitäten einsetzen, so hätte dies
einen extrem großen Verbrauch an Substratoberfläche
zur Folge, denn die Induktivität der bekannten Spu
le läßt sich nur durch Hinzufügen zusätzlicher
Wicklungen am äußeren Umfang vermehren, so daß be
reits aus diesem Grund der Flächenverbrauch propor
tional mit der Induktivität wächst. Gleichzeitig
müßte für eine größere Stromtragfähigkeit der Lei
terbahnquerschnitt vergrößert werden, was abermals
zu einem größeren Flächenverbrauch führen würde.
Zwar ließe sich grundsätzlich der Flächenverbrauch
dadurch reduzieren, daß, wie in DE 196 40 676 A1
beschrieben, eine Mikrospule mit mehreren überein
anderliegenden Ebenen von Leitern gebildet wird,
doch ergibt sich bei einem solchen Spulenaufbau das
Problem, daß die beim Stromfluß durch die Leiter
abfallende Wärme nicht mehr so effektiv dissipiert
werden kann wie bei einem einschichtigen Aufbau.
Die Strombelastbarkeit einer solchen Spule ist da
her bei gleichem Leiterquerschnitt geringer als die
einer Spule, deren Leiter in einer einzigen Ebene
angeordnet sind.
Durch die vorliegende Erfindung wird eine Struktur
für eine in Additivtechnik aufgebaute Mikrospule
geschaffen, die es erlaubt, Spulen mit hoher Induk
tivität und geringem Widerstand zu konstruieren,
die für Hochstromanwendungen geeignet sind.
Dieser Vorteil wird wesentlich dadurch erreicht,
daß die Leiter der Spule mit einem elektrisch iso
lierenden Körper in Kontakt stehen, der wenigstens
einen Anteil an Diamant oder diamantähnlichem Koh
lenstoffmaterial aufweist. Diamant hat eine extrem
hohe Wärmeleitfähigkeit von ca. 20 W/cmK und eine
hohe Durchbruchsfeldstärke von ca. 107 V/cm und ist
damit gleichermaßen als elektrisches Isolations-
und Wärmeleitungsmaterial geeignet. Sogenanntes
diamantähnliches Kohlenstoffmaterial (DLC, Diamond
like carbon) hat mit echtem Diamant die sp3- bezie
hungsweise sp2-Hybridisierung der Kohlenstoffatome
seiner Kristallstruktur gemeinsam und daher ähnlich
vorteilhafte Wärmeleitungs- und Isolierungseigen
schaften.
Um zu verhindern, daß die mit einer solchen Mikro
spule erzeugbaren, relativ starken Magnetfelder auf
benachbarte Schaltungen rückwirken, und auch, um
die Induktivität der Spule als solche zu verbes
sern, ist die Spule vorteilhafterweise von einer
Ummantelung aus einem magnetisch abschirmenden Ma
terial umgeben. Ein solches Material kann zum Bei
spiel eine Nickel-Eisen- oder Nickel-Kobalt-
Legierung sein.
Einer ersten Variante der Erfindung zufolge besteht
der Isolierkörper wenigstens stellenweise aus einem
Diamantkristalle enthaltendem Gemisch, das als wei
tere Bestandteile zum Beispiel Oxid-Nitrid oder Po-
lymermaterialien aufweisen kann.
Die erfindungsgemäße Spule ist besonders einfach
herstellbar, wenn es sich bei dem Gemisch um ein
photolithographisch strukturierbares Polymermateri
al handelt. Dieses Material kann großflächig auf
die Substratoberfläche aufgebracht werden, und in
im Laufe der Strukturierung in dem Material erzeug
ten Gräben können die Leiter der Spule, zum Bei
spiel durch galvanische Techniken, zum Aufwachsen
gebracht werden.
Eine zweite bevorzugte Variante der Erfindung sieht
vor, daß der Isolierkörper wenigstens eine Schicht
aus Diamant- oder diamantähnlichem Kohlenstoffmate
rial umfaßt, die sich im wesentlichen über den ge
samten Querschnitt der Spule erstreckt. Einzelne
Öffnungen in der Schicht, die ihre Wärmeleitfähig
keit nicht wesentlich beeinträchtigen, können vor
handen sein, insbesondere als Durchbrüche für Lei
terbahnen.
Für eine wirksame Kühlung der Leiter ist die wenig
stens eine Schicht aus Diamant oder diamantähnli
chem Kohlenstoffmaterial zweckmäßigerweise in di
rektem Kontakt mit den zu kühlenden Leitern ange
ordnet.
Diese zweite Variante ist besonders vorteilhaft bei
einem kompakten Aufbau der Spule, bei dem die Lei
ter in mehreren Ebenen angeordnet sind. In diesem
Fall ist jeder Ebene wenigstens eine Schicht aus
Diamant oder diamantähnlichem Kohlenstoffmaterial
zugeordnet.
Vorzugsweise ist ferner das Substrat, das die Spule
trägt, ein Halbleitersubstrat, und die Spule ist an
eine unter ihr in dem Substrat angeordnete inte
grierte Schaltung angeschlossen.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben
sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausfüh
rungsbeispielen mit Bezug auf die Figuren.
Fig. 1 zeigt in einer perspektivischen An
sicht und im Schnitt eine Mikrospu
le auf einem Halbleitersubstrat ge
mäß einer ersten Ausgestaltung der
Erfindung;
Fig. 2 zeigt im Schnitt eine Mikrospule
gemäß einer zweiten Ausgestaltung
der Erfindung; und
Fig. 3 zeigt verschiedene Stufen der Her
stellung der Mikrospule aus Fig.
2.
In Fig. 1 ist Bezugszeichen 1 ein Halbleiter
substrat, das an seiner dem Betrachter zugewandten
Flanke 2 im Schnitt dargestellt ist. An der
Schnittflanke 2 erkennt man eine im Substrat ausge
bildete integrierte Schaltung 3, eine Passivie
rungsschicht 4 sowie eine Deckschicht 5 mit einer
spiralförmig darin eingelassenen Leiterbahn 6. Die
Deckschicht 5 und die Passivierungsschicht 4 bilden
gemeinsam einen Isolierkörper, in den die Leiter
bahn eingebettet ist.
Die Passivierungsschicht 4 ist hier eine Diamant
schicht oder diamantähnliche Schicht, die zum Bei
spiel in einem an sich bekannten Plasmaverfahren
auf dem Substrat 1 abgeschieden worden ist. Derar
tige Abscheideverfahren werden bekanntermaßen zur
Erzeugung von verschleißmindernden Beschichtungen
auf Werkzeugoberflächen eingesetzt.
Ein Durchbruch 7 in der Passivierungsschicht 4 ist
durch Maskieren und Bearbeiten der Schicht mit ei
nem H2-Plasma erzeugt.
Durch den Durchbruch steht ein Endabschnitt 8 der
Leiterbahn 6 in leitendem Kontakt mit der Oberflä
che der integrierten Schaltung 3.
Die Leiterbahn 6 befindet sich in direktem Kontakt
mit der Oberfläche der Diamantschicht 4 und kann
daher über diese hochwirksam Wärme abgeben.
Die Deckschicht 5 kann aus einem Polymermaterial
oder aus einem hitzebeständigen anorganischen Oxid-
oder Nitridmaterial, gegebenenfalls mit einem An
teil an Diamantkristallen oder DLC-Material beste
hen.
Fig. 2 zeigt ein weiterentwickeltes Beispiel einer
erfindungsgemäßen Mikrospulen im Schnitt parallel
zu ihrer Achse beziehungsweise senkrecht zur Ober
fläche des Substrats.
Das Substrat 1 ist wiederum ein Halbleitersubstrat
mit einer an seiner Oberfläche angeordneten inte
grierten Schaltung 3. Das Substrat und die Schal
tung sind mit einer Passivierungsschicht 4 überzo
gen, die hier in herkömmlicher Weise eine oxidische
oder nitridische Zusammensetzung haben kann. Ober
halb der integrierten Schaltung 3 ist auf dem
Substrat eine Mikrospule angeordnet, die - mit Aus
nahme der zu ihrer elektrischen Versorgung erfor
derlichen Durchbrüche 7 - ringsum von einer Umhül
lung 9 mit hoher magnetischer Permeabilität, zum
Beispiel aus einer Nickel-Eisen- oder Nickel-
Kobalt-Legierung, umgeben ist.
Im Innern der Umhüllung 9 sind Leiter 6 der Mikro
spule in zwei spiralförmigen Lagen um einen Spulen
kern 10 angeordnet, der aus dem gleichen Material
wie die Umhüllung 9 besteht.
Die Leiter 6 sind innerhalb der Umhüllung 9 in ei
nen elektrisch isolierenden, wärmeleitenden Körper
11 eingebettet, der als einen wesentlichen Bestand
teil zumindest einen Anteil an Diamantkristall oder
diamantähnlichem Kohlenstoffmaterial enthält. Der
Aufbau dieses isolierenden Körpers 11 kann unter
schiedlich sein, in Abhängigkeit von den Verfah
rensschritten, die zum Aufbau der Mikrospule auf
dem Substrat eingesetzt worden sind. Der Aufbau des
isolierenden Körpers 11 ergibt sich aus dem nach
folgend beschriebenen Verfahren zur Herstellung der
Spule.
Die Verfahren gehen jeweils aus von einem Halblei
tersubstrat mit darin komplett ausgebildeter inte
grierter Schaltung und einer auf der Oberfläche des
Substrats abgeschiedenen Passivierungsschicht, die
Durchbrüche 7 für die Durchführung einer Stromver
sorgung der Spule aufweist (siehe Fig. 3a).
Auf dem Substrat wird eine erste Legierungsschicht
abgeschieden, zum Beispiel durch Sputtern, struktu
riert und geätzt, um den Boden 20 der Umhüllung 9
zu bilden (siehe Fig. 3b).
Eine Diamant- oder DLC-Schicht 21 wird auf dem Bo
den 20 abgeschieden (Fig. 3c). Die Dicke der
Schicht 21 kann aufgrund der hohen Durchschlagsfe
stigkeit äußerst gering gehalten werden.
Im nächsten Schritt (Fig. 3D) wird eine photo
strukturierbare Polymerschicht 22 aufgebracht, und
in dieser Polymerschicht wird in ihrem Bereich
oberhalb der Schicht 21 ein Muster von Gräben 23
erzeugt, deren Verlauf einer Lage der Leiter der zu
erzeugenden Spule entspricht.
Um bei einer gegebenen Grundfläche der Spule mög
lichst starke Ströme führen zu können, ist es wün
schenswert, einen geringen Widerstand der Leiter
und infolgedessen einen großen Leiterquerschnitt zu
haben. Dazu ist es notwendig, die Gräben 23 mit ei
nem hohen Aspektverhältnis zu erzeugen, das heißt
die Gräben 23 sollen schmal und tief sein. Zu die
sem Zweck ist ein Photoresist-Polymermaterial aus
Epoxidbasis besonders geeignet.
Ein besonderes Verfahren, das zur Erzeugung von
tiefen Gräben mit steilen Wänden in einer Vielzahl
von Polymermaterialien geeignet ist, ist in der
nicht vorveröffentlichten Patentanmeldung mit dem
Aktenzeichen 199 10 984.2 beschrieben. Diesem Ver
fahren zufolge werden die Gräben 23 erzeugt, indem
zunächst auf der Polymerschicht 22 eine Hartstoff
schicht in an sich bekannter Weise durch Plasmaab
scheidung, Aufsputtern oder Aufdampfen abgeschieden
und strukturiert wird, so daß das Muster der Gräben
zunächst in der strukturierten Hartstoffschicht
entsteht. Als Hartstoffschicht eignet sich bei
spielsweise ein aus einem Plasma abgeschiedenes
Oxid oder Nitrid wie SiN, TiN oder SiO2 sowie Me
tallschichten wie etwa Al.
Die Erzeugung der Gräben 23 der Polymerschicht 22
erfolgt in einer Plasmaätzanlage, zum Beispiel ei
ner ECR- oder ICP-Ätzanlage unter Verwendung eines
sauerstoffhaltigen Ätzgases, vorzugsweise reinem
Sauerstoff, mit einem Zusatz an leichtem, ionisier
barem Gas, zum Beispiel He4 oder, besonders bevor
zugt, He3, oder Wasserstoff. Ionen des Ätzgases
werden in Richtung der zu ätzenden, auf eine Tempe
ratur von -30°C bis -120°C, vorzugsweise -65°C ge
kühlten Substratoberfläche beschleunigt und tragen
Material am Boden der Gräben der Polymerschicht 22
ab. Im Ätzgas sich ungerichtet bewegende Elektro
nen, die an den Seitenflanken der entstehenden Grä
ben 23 haften bleiben und dort statische Ladungen
aufbauen können, werden mit Hilfe der Ionen des
leichten Gases neutralisiert. Auf diese Weise wird
vermieden, daß in die Gräben eindringende Ätzgasio
nen zu den Flanken der Gräben hin abgelenkt werden
und diese angreifen. So lassen sich Gräben mit ho
hem Aspektverhältnis auf einfache Weise erzeugen.
Das Ergebnis des Ätzvorgangs ist in Fig. 3d darge
stellt.
In einem folgenden Verfahrensschritt werden die
Gräben 23 sowie der Durchbruch 7 mit Metall aufge
füllt, um die Leiter 6 der Spule zu bilden (Fig.
3e). Zu diesem Zweck können galvanische Verfahren
eingesetzt werden.
Die weitere Fertigung kann in verschiedenen Varian
ten ablaufen. Einer ersten Variante zufolge werden
nach der Erzeugung der Leiter 6 die Reste der Poly
merschicht 22 beseitigt, so wie dies für Polymer
schichten aus Photolackmaterial an sich bekannt ist
(Fig. 3f). In einem weiteren Verfahrensschritt
werden die Leiter 6 mit einer Schicht aus Isolier
material 24 abgedeckt, mit Ausnahme eines (nicht
gezeigten) Durchbruchs für die Kontaktierung einer
darüber noch zu erzeugenden, weiteren Lage der Spu
le. Das isolierende Material 24 besteht zum Bei
spiel im wesentlichen aus Oxid- oder Nitridmateria
lien wie etwa Al2O3, SiO2, Si3N4, etc., die eine hohe
Temperaturbeständigkeit aufweisen. Zur Verbesserung
der Wärmeabfuhr von den Leitern 6 der Spule nach
außen kann das isolierende Material 24 mit einem
Anteil an kristallinem Diamant oder diamantähnli
chem Material beaufschlagt sein; soweit wirtschaft
lich, kann das Isoliermaterial 24 sogar überwiegend
oder praktisch vollständig aus solchem Material be
stehen.
Die Schicht 24 kann in Form einer Folie aufgebracht
werden, die an die Oberfläche des Substrats 1 ange
preßt wird, so daß ihr isolierendes Material in die
Zwischenräume zwischen den Leitern 6 eindringt; ein
Auftrag des Materials 24 durch Aufstreichen einer
Paste kommt ebenfalls in Frage.
Wenn das Material der Polymerschicht 22 selber im
Rahmen der an die herzustellende Spule gestellten
Anforderungen hinreichend temperaturbeständig ist
und/oder gutes Wärmeleitvermögen aufweist, kann auf
eine Beseitigung dieses Materials auch verzichtet
werden, und gemäß einer zweiten Variante des Her
stellungsverfahrens wird im Anschluß an die Erzeu
gung der Leiter 6 gemäß Fig. 3e auf die gemeinsame
Oberfläche der Leiter 6 und der Polymerschicht 22
eine weitere Schicht 25 aus Diamant oder diamant
ähnlichem Kohlenstoffmaterial abgeschieden (siehe
Fig. 3h), die - abgesehen von einem nicht darge
stellten Durchbruch - die Leiter 6 gegen die Leiter
einer darüber auszubildenden weiteren Spulenlage
elektrisch isoliert.
Um eine gute Wärmeleitfähigkeit der Polymerschicht
22 zu erreichen, kann auch diese bereits mit Dia
mant beaufschlagt sein.
Um weitere Lagen der Spule zu erzeugen, werden die
mit Bezug auf die Fig. 3d bis g beziehungsweise
3d, e, h beschriebenen Schritte entsprechenden der
Anzahl der zu erzeugenden Lagen wiederholt.
Die Außenseiten der Umhüllung 9 und der Spulenkern
10 werden in einem in einem letzten Verfahrens
schritt galvanisch abgeschieden, um die in Fig. 2
dargestellte Spulenstruktur zu vollenden.
Claims (9)
1. Spule, die mit Hilfe der Additivtechnik auf ei
ner Substratoberfläche (1) aufgebaut ist, dadurch
gekennzeichnet, daß die Leiter (6) der Spule mit
einem Isolierkörper (4, 5; 11; 21, 22, 24; 25) in Kontakt
sind, der wenigstens einen Anteil an Diamant oder
diamantähnlichem Kohlenstoffmaterial aufweist.
2. Spule nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Spule von einer Ummantelung (9) aus einem
magnetisch abschirmenden Material umgeben ist.
3. Spule nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Isolierkörper (5; 22, 24) wenig
stens stellenweise aus einem Diamantkristalle ent
haltenden Gemisch besteht.
4. Spule nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gemisch ferner ein Oxid-, Nitrid- oder Po
lymermaterial umfaßt.
5. Spule nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Gemisch ein photolithographisch struktu
rierbares Polymermaterial umfaßt.
6. Spule nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Isolierkörper wenigstens eine
Schicht (21, 25) aus Diamant oder diamantähnlichem
Kohlenstoffmaterial umfaßt, die sich im wesentli
chen über den gesamten Querschnitt der Spule er
streckt.
7. Spule nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß die wenigstens eine Schicht (21, 25) aus Diamant
oder diamantähnlichem Kohlenstoffmaterial in direk
tem Kontakt mit den Leitern (6) angeordnet ist.
8. Spule nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Leiter (6) in mehreren Ebenen an
geordnet sind, und daß jeder Ebene wenigstens eine
Schicht (21, 25) aus Diamant oder diamantähnlichem
Kohlenstoffmaterial zugeordnet ist.
9. Spule nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß das Substrat (1) ein
Halbleitersubstrat ist, und daß die Spule an eine
unter ihr in dem Substrat (1) angeordnete inte
grierte Schaltung (3) angeschlossen ist.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19945855A DE19945855A1 (de) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | Mikrospule |
CH01714/00A CH695032A5 (de) | 1999-09-24 | 2000-09-01 | Mikrospule. |
JP2000287613A JP2001148310A (ja) | 1999-09-24 | 2000-09-21 | マイクロコイル |
US09/668,258 US6724290B1 (en) | 1999-09-24 | 2000-09-22 | Microcoil |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19945855A DE19945855A1 (de) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | Mikrospule |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19945855A1 true DE19945855A1 (de) | 2001-03-29 |
Family
ID=7923203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19945855A Withdrawn DE19945855A1 (de) | 1999-09-24 | 1999-09-24 | Mikrospule |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6724290B1 (de) |
JP (1) | JP2001148310A (de) |
CH (1) | CH695032A5 (de) |
DE (1) | DE19945855A1 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE19640676A1 (de) | 1996-04-04 | 1997-10-09 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Herstellung von Mikrospulen und -transformatoren |
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-
1999
- 1999-09-24 DE DE19945855A patent/DE19945855A1/de not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-09-01 CH CH01714/00A patent/CH695032A5/de not_active IP Right Cessation
- 2000-09-21 JP JP2000287613A patent/JP2001148310A/ja active Pending
- 2000-09-22 US US09/668,258 patent/US6724290B1/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH695032A5 (de) | 2005-11-15 |
JP2001148310A (ja) | 2001-05-29 |
US6724290B1 (en) | 2004-04-20 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8141 | Disposal/no request for examination |