DE19937318A1 - Gasanalysegerät und Kalibrierverfahren hierzu - Google Patents
Gasanalysegerät und Kalibrierverfahren hierzuInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft ein Gasanalysegerät mit einem Nachkalibrierverfahren.
Description
Die Erfindung betrifft ein Gasanalysegerät und ein Kalibrierverfahren nach dem
Oberbegriff des Anspruchs 1.
In Verbindung mit einem Gasanalysegerät zur Bestimmung und Anzeige von Gasen
mit einem Halbleiter-Gassensor, dessen Arbeitstemperatur zyklisch variiert und
dessen Widerstand oder Leitwert über der Zykluszeit in Form von Kalibrierprofilen
aufgezeichnet wird, ist ein Speicher vorgesehen, in dem im voraus bestimmten
Gasen entsprechende Kalibrierprofile sowie aus bei unterschiedlichen
Konzentrationen aufgenommenen Kalibrierprofilen abgeleitete Kalibrierkurven
abgespeichert sind. Das gleiche Verfahren kann auch für mehrere Sensorelemente
angewandt werden. Es ist ferner eine Auswerte- und Verknüpfungseinheit
vorgesehen, in der die vom Halbleiter-Gassensor (oder von den Halbleiter-
Gassensoren) aufgenommenen Meßwerte eines zu analysierenden Gases mit den
abgespeicherten Kalibrier-Profilen verknüpft werden. Darüber hinaus ist eine
Anzeige-Einrichtung und/oder eine Schnittstelle vorgesehen, die als Ergebnis der
Verknüpfung und des Vergleichs zwischen aktuellen Meßwerten und den Kalibrier-
Profilen die Identität und/oder die Konzentration des zu analysierenden Gases
anzeigt oder überträgt.
In der Patentschrift EP 0 829 718 A1 wurde beschrieben, daß beheizte Halbleiter-
Gassensoren (in der Literatur auch als Metalloxid-Gassensoren bezeichnet) in
Gasanalyse- und Gaswarngeräten als Detektorelemente eingesetzt werden. Es
wurde gezeigt, daß die Analysequalität dieser Geräte erheblich verbessert werden
kann, wenn die Arbeitstemperatur nicht, wie nach dem damaligen Stand der Technik
üblich, konstant gehalten wird, sondern zyklisch in der Zeit verändert wird und
während der Zyklen der Leitwert gemessen wird, um sogenannte Leitwert-Zeit-Profile
zu registrieren. Die so gewonnenen Leitwert-Zeit-Profile werden in einem
Kalibrierverfahren in Abhängigkeit von der Konzentration der jeweiligen
Gaskomponente aufgenommen und als Kalibrierdaten abgelegt. Hinterher können in
einem Meßzyklus nach dem gleichen Verfahren neue Leitwert-Zeit-Profile
aufgenommen werden und diese werden anschließend mit den bereits abgelegten
Kalibrierdaten verglichen, um daraus die Gaskomponenten und deren
Konzentrationen zu bestimmen.
Dieses in der oben genannte Patentschrift beschriebene Verfahren hat enorme
Vorteile gegenüber dem vorhergehenden Stand der Technik (Betrieb der
Sensorelemente bei konstanter Arbeitstemperatur), erfordert jedoch einen erheblich
höheren Kalibrieraufwand, da bei mindestens zwei Konzentrationen pro
Gaskomponente, jedoch höchstens bei 10 Konzentrationen pro Gaskomponente,
vorzugsweise bei fünf Konzentrationen pro Gaskomponente kalibriert werden muß,
um die Konzentrationsabhängigkeit der Leitwert-Zeit-Profile genügend genau zu
erfassen.
Es versteht sich von selbst, daß der Kalibrieraufwand nochmals um einen Faktor
zwei oder höher steigen kann, um den Temperatureinfluß des Meßmediums auf die
Leitwert-Zeit-Profile numerisch kompensieren zu können. Dieser Aspekt wird hier
nicht weiter beleuchtet, er muß jedoch vom Anwender in die Gesamtbetrachtung mit
einbezogen werden.
Betrachtet man den günstigsten Fall, daß die Mediumtemperatur nicht variiert, dann
fällt dieser höhere Kalibrieraufwand bereits für diesen Fall umso mehr ins Gewicht,
wenn er nicht nur in einer Erstkalibrierung zu leisten ist, sondern von Zeit zu Zeit
diese vollständige Kalibrierung wiederholt werden muß. Dies kann z. B. durch die
Veränderung der Profilform der Leitwert-Zeit-Profile über die Zeit infolge
Driftverhalten der Sensorelemente in gewissen Zeitabständen notwendig sein.
Dieses Driftverhalten ist abhängig vom Sensorelement und variiert von
Anwendungsfall zu Anwendungsfall und kann, bezieht man noch von Anwendung zu
Anwendung unterschiedliche Meßgenauigkeitsansprüche mit ein,
Nachkalibrierungsintervalle von wenigen Stunden bis mehreren Monaten oder
Jahren erfordern. Vor diesem Hintergrund geht der Nachkalibrieraufwand beim
Einsatz eines Gasanalysegerätes oft höher in die Gesamtwirtschaftlichkeitsrechnung
ein als der Erstkalibrieraufwand.
Jedes auf der Auswertung von im Rahmen einer zyklischen Temperaturvariation
aufgenommenen Leitwert-Zeit-Profilen basierende Meßverfahren muß, unabhängig
vom Auswerteverfahren, wegen der Konzentrationsabhängikeit der Profilform mit
relativ hohem Erstkalibrieraufwand betrieben werden. Sind die Nachkalibrierintervalle
infolge Profilformänderung durch Drifteffekte relativ kurz und der
Nachkalibrieraufwand gleich oder ähnlich hoch wie der Erstkalibrieraufwand, dann ist
das Verfahren möglicherweise kostenintensiv.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein weniger aufwendiges Nachkalibrierverfahren
vorzustellen. Diese Aufgabe wird durch ein Gasanalysegerät und das zugehörige
Kalibrierverfahren nach Anspruch 1 gelöst. Das nachfolgend anhand eines Beispiels
erläuterte Gasanalysegerät mit Nachkalibrierverfahren reduziert den
Kalibrieraufwand im Vergleich zum Erstkalibrieraufwand (beispielsweise fünf
Leitwert-Zeit-Profile pro Komponente) auf ungefähr ein Fünftel und stellt deshalb
einen besonderen Schritt zur Erhöhung der Effizienz und Wirtschaftlichkeit solcher
Meßverfahren dar.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Fig. 1-3 näher erläutert.
In Fig. 1 ist ein auch miniaturisierbares Gasanalyse- oder/und Gaswarngerät 1
gezeigt, das einen Halbleiter-Gassensor oder mehrere Halbleiter-Gassensoren 3
umfaßt, der bzw. die einerseits mit einer oder mehreren Temperatursteuerungen 5
und andererseits mit dem Eingang einer arithmetischen Verknüpfungseinheit 7
gekoppelt ist bzw. sind. In der Auswerte- und Verknüpfungseinheit 7 werden die
Meßwerte mit aus dem Speicher 9 ausgelesenen Kalibrierwerten arithmetisch logisch
verarbeitet und verglichen. Nach Beendigung der arithmetisch logischen
Verarbeitung in Verknüpfungseinheit 7 wird das Ergebnis auf Anzeigeeinrichtung 11
zur Anzeige gebracht und/oder über eine entsprechende Schnittstelle an eine andere
Einheit übertragen. Für den Fall, daß ein Grenzwert über- oder unterschritten wurde,
kann ein Ansteuersignal an einen Signalgenerator oder Aktor 13 abgegeben werden.
Der Aufbau der Bauelemente 3 bis 13 kann sowohl diskret sein als auch ganz oder
teilweise in integrierten Schaltkreisen zu Miniaturisierungszwecken realisiert sein.
Auch tragbare, batteriegepufferte Realisierungen mit besonders niedrigem
Energiebedarf können in diesem Zusammenhang vorteilhaft sein.
Die Effizienzsteigerung durch das Verfahren nach Anspruch 1 wird an den folgenden
Diagrammen der Fig. 2-3 demonstriert:
Die Diagramme zeigen für zwei Ausführungsbeispiele die Leitwert-Zeit-Profile für Ethanol (Fig. 2a) und Essigsäure (Fig. 2b), wobei das Verfahren für alle an einem Halbleiter Gassensor umsetzbaren Stoffe, wie beispielsweise Methan, Kohlenmonoxid, Benzol, usw. vorteilhaft sein kann, aufgenommen beispielsweise mit einem TGS 823 Sensorelement bei verschiedenen Gaskonzentrationen ca, cb, cc, cd, ce anhand durchgezogener Linien 1a, 1b, 1c, 1d, 1e, 101a, 101b, 101c, 101d, 101e.
Die Diagramme zeigen für zwei Ausführungsbeispiele die Leitwert-Zeit-Profile für Ethanol (Fig. 2a) und Essigsäure (Fig. 2b), wobei das Verfahren für alle an einem Halbleiter Gassensor umsetzbaren Stoffe, wie beispielsweise Methan, Kohlenmonoxid, Benzol, usw. vorteilhaft sein kann, aufgenommen beispielsweise mit einem TGS 823 Sensorelement bei verschiedenen Gaskonzentrationen ca, cb, cc, cd, ce anhand durchgezogener Linien 1a, 1b, 1c, 1d, 1e, 101a, 101b, 101c, 101d, 101e.
Die gestrichelten Linien 2a, 2b, 2c, 2d, 2e, 102a, 102b, 102c, 102d, 102e zeigen die
gleichen Messungen, aufgenommen mit dem identischen Sensorelement zwei
Wochen später. Es wird deutlich, daß infolge des Driftverhaltens des Sensorelements
erhebliche Unterschiede dar Leitwert-Zeit-Profile bei allen Konzentrationen auftreten
(in diesem Fall eine Erhöhung der Empfindlichkeit) und deswegen wären, hätte man
die ursprünglichen Leitwert-Zeit-Profile (1a, 1b, 1c, 1d, 1e, 101a, 101b, 101c, 101d, 101e)
als Kalibrierprofile verwendet, erhebliche Abweichungen vom richtigen Meßwert zu
diesem Zeitpunkt zu erwarten gewesen, würde man keine Korrektur dieser
Erstkalibrierprofile durchführen.
Die Korrektur der ursprünglichen Kalibrierprofile (1a, 1b, 1c, 1d, 1e; 101a, 101b, 101c,
101d, 101e) geschieht nun folgendermaßen: In einem Nachkalibrierverfahren wird
jeweils von einer einzigen Konzentration, vorzugsweise einer mittleren Konzentration
einer jeden zu analysierenden Gaskomponente ein repräsentatives Leitwert-Zeit-
Profil aufgenommen (im folgenden Nachkalibrierprofil genannt, Linien 2c bzw. 102c
in den Fig. 2a/b) und dieses durch Vergleich mit dem entsprechenden, früher
gemessenen Profil gleicher Gaskonzentration 1c bzw. 101c (Fig. 2a/b) zur Korrektur
aller Kalibrierprofile herangezogen.
Die Ergebnisse der numerischen Korrekturen sind in den Diagrammen der Fig.
3a) und 3b) dargestellt, welche zur Prüfung der Effizienz des Verfahrens auch die
neu gemessenen Leitwert-Zeit-Profile der übrigen 4 Konzentrationen enthalten.
Die gestrichelten Linien der Fig. 3a/b zeigen die zum ungefähren Zeitpunkt der
Aufnahme der Nachkalibrierprofile gemessenen Leitwert-Zeit-Profile (2a, 2b, 2c, 2d, 2e,
102a, 102b, 102c, 102d, 102e). Die durchgezogenen Linien 3a, 3b, 3c, 3d, 3e,
103a, 103b, 103c, 103d, 103e) in Fig. 3a/b konnten durch arithmetisch logische
Vergleiche generiert werden aus den Erstkalibrierdaten (1a, 1b, 1c, 1d, 1e,
102a, 102b, 102c, 102d, 102e in Fig. 2a/b, zwei Wochen früher aufgenommen) und
den beiden als Nachkalibrierprofile verwendeten Leitwert-Zeit-Profilen (Linien 2c bzw.
102c in Fig. 2a/b bzw. in den Fig. 3a/b) zum Beispiel durch Ermittlung von
"Driftfaktoren"
und nachfolgender Multiplikation der di mit den Meßpunkten Si aller zugehörigen
Erstkalibrierprofile. Selbstverständlich sind auch andere Korrekturalgorithmen
denkbar und deren Eignung wurden auch teilweise gezeigt, so daß dieses hier
vorgestellte Schema keinesfalls einschränkend sondern beispielgebend sein soll.
Die Übereinstimmung zwischen den neu gemessenen Leitwert-Zeit-Profilen
2a, 2b, 2c, 2d, 2e, 102a, 102b, 102c, 102d, 102e in Fig. 3a/b und den numerisch
generierten 3a, 3b, 3c, 3d, 3e, 103a, 103b, 103c, 103d, 103e in Fig. 3a/b ist bei allen
Konzentrationen überraschenderweise genügend gut, um alle oder zumindest einen
Großteil der Nachkalibrierungen auf dieses stark vereinfachte Verfahren zu
beschränken.
In der praktischen Anwendung bedeutet dies, daß der Anwender z. B. nur ein
einziges "Standard-Kalibriergas" bzw. eine einzige "Standard-Kalibrierflüssigkeit" mit
entsprechendem Gaspartialdruck für jede zu messende Komponente bereithalten
muß, um die nötigen Nachkalibrierungen von Zeit zu Zeit durchzuführen.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungsbeispiele sind in den Unteransprüchen der
vorliegenden Anmeldung aufgeführt.
Claims (6)
1. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät zur qualitativen und/oder quantitativen
Bestimmung einer Konzentration von zumindest einer Gaskomponente eines
Gasgemisches mittels zumindest einem nach einem zyklisch vorgegebenen
Heizprofil beheizten Detektorelement, dessen/deren Leitwert-Zeit-Profile als
Meßkurve bzw. Meßkurven aufgenommen wird bzw. werden und zur
Identifizierung und/oder Konzentrationsbestimmung von zumindest einer
Gaskomponente mit zuvor als Leitwert-Zeit-Profilen abgelegten
Kalibrierprofilen verglichen werden, gekennzeichnet dadurch, daß
- a) die in einem ersten Kalibrierverfahren abgelegten Leitwert-Zeit-Profile in Abhängigkeit von der Konzentration aufgenommen werden, derart, daß Leitwert-Zeit-Profile von jeder Gaskomponente bei N < 1 verschiedenen Konzentrationen aufgezeichnet werden.
- b) ein Nachkalibrierverfahren nach dem ersten Kalibrierverfahren bei höchstens N-1 Konzentrationen durchgeführt wird.
- c) der numerische Vergleich der Meß- mit den Kalibrierkurven als Ergebnis mindestens eine im Gasgemisch vorliegende Gaskomponente identifiziert und/oder dessen Konzentration einer Ausgabeeinheit zur Verfügung gestellt wird.
2. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Leitwert-Zeit-Profile des Nachkalibrierverfahrens zur
arithmetischen Korrektur der abgelegten Kalibrierprofile des ersten
Kalibrierverfahrens verwendet und die nachfolgenden Messungen mit diesen
korrigierten Kalibrierprofilen verglichen werden.
3. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die Leitwert-Zeit-Profile eines k-ten
Nachkalibrierverfahrens zur Korrektur der Kalibrierprofile des k-1-ten
Nachkalibrierverfahrens herangezogen werden und die nachfolgenden
Messungen mit diesen korrigierten Kalibrierprofilen verglichen werden.
4. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät nach Anspruch 3, dadurch
gekennzeichnet, daß bei Anwendung des ersten Nachkalibrierverfahrens (k = 1)
die Kalibrierprofile des ersten Kalibrierverfahrens zur arithmetischen Korrektur
der Kalibrierprofile verwendet werden.
5. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß im Nachkalibrierverfahren die Aufnahme eines Leitwert-
Zeit-Profils bei jeweils einer einzigen Konzentration pro zu analysierender
Gaskomponente für das zumindest eine Detektorelement verwendet wird.
6. Gasanalysegerät bzw. Gaswarngerät nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß im ersten Kalibrierverfahren zumindest ein zusätzliches
Leitwert-Zeit-Profil von einer Mischung aus mindestens zwei Gaskomponenten
aufgenommen wird.
Priority Applications (1)
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DE1999137318 DE19937318B4 (de) | 1999-08-10 | 1999-08-10 | Nachkalibrierverfahren und zugehöriges Gasanalysegerät zur qualitativen und/oder quantitativen Bestimmung einer Gaskonzentration |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1999137318 DE19937318B4 (de) | 1999-08-10 | 1999-08-10 | Nachkalibrierverfahren und zugehöriges Gasanalysegerät zur qualitativen und/oder quantitativen Bestimmung einer Gaskonzentration |
Publications (2)
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DE19937318B4 DE19937318B4 (de) | 2011-12-29 |
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ID=7917561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE1999137318 Expired - Fee Related DE19937318B4 (de) | 1999-08-10 | 1999-08-10 | Nachkalibrierverfahren und zugehöriges Gasanalysegerät zur qualitativen und/oder quantitativen Bestimmung einer Gaskonzentration |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19937318B4 (de) |
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WO2006056365A2 (de) * | 2004-11-27 | 2006-06-01 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Verfahren zur identifikation und analyse der mit einem analysegerät aus einer umgebung gewonnenen messwerte eines mehrkomponentigen stoffgemisches bei variablen umgebungsbedingungen (global) |
WO2009115214A1 (de) * | 2008-03-20 | 2009-09-24 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Verfahren zur nachkalibrierung von sensoren und zur kalibrierung weiterer sensoren |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE3115404A1 (de) * | 1981-04-16 | 1982-11-11 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren und vorrichtung zur ueberwachung und kalibrierung von grenzstromsonden |
DE19628033C1 (de) * | 1996-07-11 | 1997-11-13 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren und Vorrichtung zur Driftkompensation bei chemischen Sensoren |
DE19639072A1 (de) * | 1996-09-11 | 1998-03-12 | Heinz Prof Dr Kohler | Gasanalysegerät mit einem Halbleiter-Gassensor |
-
1999
- 1999-08-10 DE DE1999137318 patent/DE19937318B4/de not_active Expired - Fee Related
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DE102008015145A1 (de) | 2008-03-20 | 2009-10-01 | Forschungszentrum Karlsruhe Gmbh | Verfahren zur Nachkalibrierung von Sensoren und zur Kalibrierung weiterer Sensoren |
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Legal Events
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R020 | Patent grant now final |
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Owner name: GED GESELLSCHAFT FUER ELEKTRONIK UND DESIGN MB, DE Free format text: FORMER OWNER: KOHLER, HEINZ, PROF. DR., 77815 BUEHL, DE Effective date: 20140730 |
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