DE19913955A1 - Optischer Sensor mit geregelter Richtwirkung - Google Patents
Optischer Sensor mit geregelter RichtwirkungInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 75
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 54
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims abstract description 13
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 claims description 28
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 22
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 9
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 9
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000005499 meniscus Effects 0.000 claims description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims 1
- 238000009966 trimming Methods 0.000 description 22
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 9
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 4
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/44—Electric circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0437—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using masks, aperture plates, spatial light modulators, spatial filters, e.g. reflective filters
-
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
- G01J1/1626—Arrangements with two photodetectors, the signals of which are compared
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4228—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors arrangements with two or more detectors, e.g. for sensitivity compensation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0204—Compact construction
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/0271—Housings; Attachments or accessories for photometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4266—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for measuring solar light
Abstract
Ein optischer Sensor umfaßt eine Vielzahl von Photodetektoren zum Empfangen von Licht und Erzeugen von Detektionssignalen, einen Lichtmengenregelabschnitt, der oberhalb der Photodetektoren angeordnet ist, zum Regeln bzw. Steuern der Menge des Lichts zu den Photodetektoren entsprechend einem Einfallswinkel des Lichts und einen Wichtungsabschnitt zum entsprechenden Gewichten der Empfindlichkeiten der Photodetektoren und Ausgeben eines gewichteten Detektionssignals von den Photodetektoren. Die Empfindlichkeiten werden gewichtet, um eine Gesamtausgangscharakteristik der gewichteten Detektionssignale zu erzielen, deren Größe entsprechend dem Einfallswinkel variiert. Das Gewichten erfolgt durch eine Signalverarbeitungsschaltung zum Regeln der Verstärkungsfaktoren der Detektionssignale von den Photodioden oder durch einen lichtdurchlässigen Film auf den Photodetektoren zum Steuern der Durchlässigkeitsabschnitte oberhalb der entsprechenden Photodetektoren durch Steuern der Dicken des durchlässigen Films oberhalb der entsprechenden Photodetektoren, oder durch undurchlässige Filme auf den Photodetektoren zum Steuern der Mengen des Lichts zu den entsprechenden Photodetektoren durch das Verhältnis zwischen dem Vorhandensein und Nichtvorhandensein der undurchlässigen Filme pro Flächeneinheit auf Abschniten oberhalb der entsprechenden Photodetektoren.
Description
Diese Erfindung betrifft einen optischen Sensor zum Detektieren von Licht und
Erzeugen eines Detektionssignals.
Ein optischer Sensor mit einer Linse zum Empfangen von Licht und ein
Photodetektor zum Erzeugen eines Lichtintensitätssignals in Abhängigkeit des
empfangenen Lichts ist bekannt. Das US-Patent Nr. 5 432 599 offenbart ein
Temperaturregelsystem mit einer Lichtintensitätsdetektionsvorrichtung zum Herstellen
einer Temperaturkompensation gemäß der Änderung des Winkels des einfallenden
Sonnenlichts. Das US-Patent Nr. 5 022 725 offenbart einen optischen Sensor mit einem
Lichtdetektor, einer zwischen dem Lichtdetektor und einer Lichtquelle, deren
Lichtstrahlen durch den Lichtdetektor detektiert werden, befindlichen Sammellinse und
einer Lichtabschirmeinheit, die auf einem Teil der Sammellinse vorgesehen ist. Das US-Pa
tent Nr. 4 933 550 offenbart ein Photodetektorsystem zum Produzieren elektrischer
Signale in Abhängigkeit der Orientierung einer Lichtquelle, z. B. der Sonne. Im Hinblick
darauf wird ein Diffusor zum Eliminieren von positionsabhängigen Empfindlichkeiten
der Photokathode verwendet. Darüber hinaus offenbart das US-Patent Nr. 5 693 934
eine Leuchtdichtedetektionsschaltung, in der mehrere photoinduzierte Ströme auf einem
gemeinsamen Stromleiter verstärkt und kombiniert werden, wobei die Stromverstärker
durch Regelsignale an- oder abgeschaltet werden und die
Leuchtdichtedetektionsschaltung daher den Strom nur des benötigten
Photodetektionselements verstärkt.
Das Ziel der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung eines besseren
optischen Sensors.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein optischer Sensor bereitgestellt mit:
einer optischen Detektionseinheit einschließlich mehrerer Photodetektoren zum Empfangen von Licht und Erzeugen von Detektionssignalen; einer Lichtmengenregel- bzw. Steuereinheit, die oberhalb der optischen Detektionseinheit angebracht ist, zum Regeln bzw. Steuern von Mengen des Lichts zu den Photodetektoren gemäß einem Einfallswinkel des Lichts; und einem Wichtungsabschnitt zum entsprechenden Gewichten von Empfindlichkeiten der Photodetektoren und Ausgeben eines gewichteten Detektionssignals aus den Detektionssignalen, wobei eine Eigenschaft des gewichteten Detektionssignals entsprechend dem Einfallswinkel variiert, um eine gewünschte Richtwirkung, die den Einfallswinkel (Höhenwinkel) berücksichtigt, zu erzielen.
einer optischen Detektionseinheit einschließlich mehrerer Photodetektoren zum Empfangen von Licht und Erzeugen von Detektionssignalen; einer Lichtmengenregel- bzw. Steuereinheit, die oberhalb der optischen Detektionseinheit angebracht ist, zum Regeln bzw. Steuern von Mengen des Lichts zu den Photodetektoren gemäß einem Einfallswinkel des Lichts; und einem Wichtungsabschnitt zum entsprechenden Gewichten von Empfindlichkeiten der Photodetektoren und Ausgeben eines gewichteten Detektionssignals aus den Detektionssignalen, wobei eine Eigenschaft des gewichteten Detektionssignals entsprechend dem Einfallswinkel variiert, um eine gewünschte Richtwirkung, die den Einfallswinkel (Höhenwinkel) berücksichtigt, zu erzielen.
Bei diesem optischen Sensor kann der Wichtungsabschnitt eine
Signalverarbeitungsschaltung zum Regeln bzw. Steuern von Verstärkungen der
Detektionssignale umfassen, um eine gewünschte Richtwirkung, die einen
Einfallswinkel (Höhenwinkel) berücksichtigt, zu erzielen.
Bei diesem optischen Sensor können undurchsichtige Filme auf der optischen
Detektionseinheit zum Regeln der Lichtmengen zu entsprechenden Photodetektoren
durch Regeln von Verhältnissen zwischen Anwesenheit und Abwesenheit von
undurchsichtigen Filmen pro Flächeneinheit über den entsprechenden Photodetektoren
vorgesehen werden.
Bei diesem optischen Sensor kann ein lichtdurchlässiger Film zum Regeln der
Lichtdurchlässigkeit durch Regeln von Dicken der Abschnitte das lichtdurchlässigen
Films oberhalb der entsprechenden Photodetektoren vorgesehen sein.
Bei diesem optischen Sensor kann die Lichtmengenregeleinheit eine
Meniskuslinse umfassen.
Bei diesem optischen Sensor können die Photodetektoren unterschiedliche
Ausgangscharakteristiken hinsichtlich der Antwort auf die gleiche Lichtmenge besitzen.
Bei diesem optischen Sensor sind die Photodetektoren koaxial angeordnet.
In diesem Fall kann eine Ausgabeschaltung zum Ausgeben eines der
Detektionssignale von einem der Photodetektoren, der in der Nähe des Zentrums der
Photodetektoren angeordnet ist, als ein erstes Sonnenlichtmengendetektionssignal, das
eine erste Menge des Lichts mit einer ersten Richtwirkung anzeigt, weiterhin
bereitgestellt werden, wobei der Wichtungsabschnitt eine Signalverarbeitungsschaltung
zum Regeln bzw. Steuern von Verstärkungen der Detektionssignale und Ausgeben eines
zweiten Sonnenlichtmengensignals, das eine zweite Menge des Lichts mit einer zweiten
Richtwirkung anzeigt, umfaßt.
In diesem Fall kann einer der Photodetektoren, der in der Nähe des Zentrums der
Photodetektoren angeordnet ist, von den anderen Detektoren in einer vorbestimmten
Entfernung beabstandet sein, und der Wichtungsabschnitt umfaßt eine
Signalverarbeitungsschaltung, die zwischen einem der Photodetektoren und den anderen
Photodetektoren angeordnet ist.
In diesem Fall regelt die Lichtmengenregeleinheit die Mengen des Lichts zu den
Photodetektoren, so daß die Detektionssignale von den anderen Photodetektoren einen
ersten Satz von Größen bzw. Amplituden zeigen, wenn der Einfallswinkel im
wesentlichen Null ist, und einen zweiten Satz an Größen zeigen, wenn der
Einfallswinkel von Null getrennt bzw. verschieden ist, die entsprechend geringer als die
ersten Sätze von Größen sind.
In diesem Fall besitzt die Lichtmengenregeleinheit eine Färbung bzw. einen
Schirm zum Abschatten eines Teiles des Lichts zu den anderen Photodetektoren, wenn
der Einfallswinkel im wesentlichen Null ist.
Die Aufgabe und Merkmale der vorliegenden Erfindung ergeben sich ohne
weiteres aus der folgenden detaillierten Beschreibung in Verbindung mit den
begleitenden Zeichnungen, in denen zeigen:
Fig. 1 eine Draufsicht eines Sonnenlichtsensors einer ersten Ausführungsform;
Fig. 2 eine Querschnittsseitenansicht des Sonnenlichtsensors der ersten
Ausführungsform, betrachtet entlang der Linie A-A in Fig. 1;
Fig. 3 eine Teildraufsicht der ersten Ausführungsform, die einen Sensorchip des
Sonnenlichtsensors zeigt;
Fig. 4 eine perspektivische Querschnittsansicht der ersten Ausführungsform, die
eine innere Struktur des Sensorchips zeigt;
Fig. 5 eine Draufsicht der ersten Ausführungsform, die die in Fig. 2 gezeigte
Schlitz- bzw. Blendenplatte zeigt;
Fig. 6 ein schematisches Schaltungsdiagramm der ersten Ausführungsform, die
die in Fig. 3 gezeigte Verarbeitungsschaltung zeigt;
Fig. 7 eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur Darstellung
der Betriebsweise der in Fig. 2 gezeigten optischen Linse;
Fig. 8 eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine Lichtauftrefffläche
auf dem Lichtempfangsbereich des Sensorchips zeigt, wenn der Höhenwinkel 0° ist;
Fig. 9 eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur Darstellung
der Betriebsweise der in Fig. 2 gezeigten optischen Linse;
Fig. 10 eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine Lichtauftrefffläche
auf dem Lichtempfangsbereich des Sensorchips zeigt, wenn der Höhenwinkel 40°
beträgt;
Fig. 11 eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur Darstellung
der Betriebsweise der in Fig. 2 dargestellten optischen Linse;
Fig. 12 eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine Lichtauftrefffläche
auf dem Lichtempfangsbereich des Sensorchips zeigt, wenn der Höhenwinkel 90°
beträgt;
Fig. 13 eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die
Charakteristiken der durch den Sensorchip empfangenen Lichtmengen unter
Berücksichtigung des Höhenwinkels des einfallenden Lichts zeigt;
Fig. 14 eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine
gewünschte Richtwirkung zeigt;
Fig. 15 eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die
Meßergebnisse der Ausgangsspannungen zeigt;
Fig. 16 bis 18 Draufsichten von Sensorchips von Modifikationen;
Fig. 19 eine graphische Darstellung der Modifikation, die die Richtwirkungen (I)
und (II) zeigt;
Fig. 20 bis 22 Draufsichten von Modifikationen;
Fig. 23 ein schematisches Schaltungsdiagramm einer zweiten Ausführungsform;
Fig. 24A eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform;
Fig. 24B eine Querschnittsseitenansicht des in Fig. 24A gezeigten Sensorchips,
betrachtet entlang der Linie B-B in Fig. 24A;
Fig. 25A eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform;
Fig. 25B eine Querschnittsseitenansicht des in Fig. 25A gezeigten Sensorchips,
betrachtet entlang der Linie C-C in Fig. 25A;
Fig. 26A eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform;
Fig. 26B eine Querschnittsseitenansicht des in Fig. 26A gezeigten Sensorchips,
betrachtet entlang der Linie D-D in Fig. 26A;
Fig. 27 eine Seitenansicht der ersten Ausführungsform, die einen
Sonnenlichtsensor zeigt; und
Fig. 28 ein schematisches Schaltungsdiagramm einer Modifikation.
Die gleichen oder entsprechenden Elemente oder Teile sind in den Zeichnungen
durchwegs mit gleichen Bezugsziffern bezeichnet.
Fig. 27 ist eine Seitenansicht einer ersten Ausführungsform, die einen
Sonnenlichtsensor als optischen Sensor zeigt. Der Sonnenlichtsensor 1 ist auf eine
Trennwand 10 montiert.
Fig. 1 ist eine Draufsicht des Sonnenlichtsensors 1 der ersten Ausführungsform.
Fig. 2 ist eine Querschnittsseitenansicht des Sonnenlichtsensors 1 der ersten
Ausführungsform. Fig. 2 zeigt den Sonnenlichtsensor 1 mit einer optischen Linse 4 und
einer Schlitz- bzw. Blendenplatte (Abschirmplatte) 5, die in Fig. 1 abgenommen sind.
Gemäß Fig. 2 umfaßt der Sonnenlichtsensor 1 ein Sensorgehäuse 2, das auch als
Steckverbinder dient, einen Sensorchip 3, die optische Linse 4, die Blendenplatte 5 und
Anschlüsse 6, wobei mehr als zwei Anschlüsse 6 vorgesehen sein können, die in Fig. 2
teilweise verborgen sind. Das Sensorgehäuse 2 umfaßt einen Mantel bzw. Rahmen 7
und einen Halter 8, die aus einem Kunststoffmaterial bestehen. Der Mantel 7 besitzt
einen Zylinderabschnitt und wird in aufrechter Form verwendet. Der Halter 8 wird in
den oberen Innenabschnitt des Mantels 7 eingepaßt. Der Mantel 7 wird bei
verschiedenen Fahrzeugtypen gemeinsam benutzt und die Gestalt des Halters 8 wird
entsprechend den Spezifikationen des Fahrzeugs geändert.
Gemäß Fig. 2 ist ein Sperrhaken 9 auf einer Außenumfangsfläche des Mantels 7
vorgesehen. Der Mantel 7 wird durch ein Loch 10a in die Trennwand 10 in der Richtung
X eingeführt, so daß der Sonnenlichtsensor 1 auf der Trennwand 10 durch Kräfte, die
durch den Sperrhaken 9 erzeugt sind, in Richtung der Kante des Lochs 10a montiert
wird. In der Mitte der oben liegenden Oberfläche des Halters 8 wird ein Sensorchip 3
fixiert. Der Halter 8 besitzt Anschlüsse 6 als Masseanschluß, Stromversorgungsanschluß
und Ausgangsanschlüsse zum Ausgeben des Sensorsignals. Die Anschlüsse 6 sind in
dem Halter 8 durch Einsetzgießen befestigt. Die Enden der Anschlüsse 6 sind an der
oberen Oberfläche des Halters 8 freigelegt, und die anderen Enden sind an der unteren
Oberfläche des Halters 8 freigelegt.
Wie in Fig. 1 gezeigt ist, werden vier Photodioden (Photodetektoren) D1, D2, D3
und D4 in dem Sensorchip 3 ausgebildet, die entsprechend den auf sie einfallenden
Lichtmengen Detektionssignale erzeugen.
Fig. 3 ist eine Teildraufsicht der ersten Ausführungsform, die den Sensorchip 3
zeigt. Der Sensorchip 3 umfaßt die Photodioden D1 bis D4 in einem
Lichtempfangsbereich 11 und eine Signalverarbeitungsschaltung 70a zur Verarbeitung
der Detektionssignale von den Photodioden D1 bis D4. Der Lichtempfangsbereich 11 ist
unterteilt in einen Kreislichtempfangsbereich 12 im Zentrum des
Lichtempfangsbereichs 11, einen Ringlichtempfangsbereich 13 um den
Kreislichtempfangsbereich 12, einen Ringlichtempfangsbereich 14 um den
Ringlichtempfangsbereich 13 und einen Ringlichtempfangsbereich 15 um den
Ringlichtempfangsbereich 14.
Fig. 4 ist eine perspektivische Querschnittsansicht der ersten Ausführungsform,
die eine innere Struktur des Sensorchips 3 zeigt. In einer obersten Oberflächenschicht
aus n-Siliziumsubstrat 16 ist ein kreisförmiger p-Bereich 17 ausgebildet; um ihn herum
sind Ring-p-Bereiche 18, 19 und 20 ausgebildet. An der unteren Oberfläche des n-Sili
ziumsubstrats 16 ist eine Kathodenelektrode 21 ausgebildet, und Anodenelektroden
22, 23, 24 und 25 sind auf den p-Bereichen 17, 18, 19 und 20 vorgesehen. Daher ist die
Photodiode D1 an dem p-Bereich 17, die Photodiode D2 an dem p-Bereich 18, die
Photodiode D3 an dem p-Bereich 19 und die Photodiode D4 an dem p-Bereich 20
ausgebildet, so daß, wenn Licht auf die entsprechenden Bereiche 12 bis 15 fällt, die
Detektionssignale (Photoströme) entsprechend den Lichtmengen erzeugt werden. In Fig. 3
ist die Signalverarbeitungsschaltung 70a außerhalb des Lichtempfangsbereichs 11 auf
dem Sensorchip 3 ausgebildet.
In Fig. 2 wird die Blendenplatte 5 oberhalb des Sensorchips 3 durch eine oberste
Oberfläche des Halters 8 derart getragen, daß sie den Sensorchip 3 teilweise gegenüber
dem einfallenden Licht abdeckt.
Fig. 5 ist eine Draufsicht der ersten Ausführungsform, die die Blendenplatte zeigt.
Die Blendenplatte 5 besteht aus einem undurchsichtigen Material und besitzt eine
Blende bzw. einen Schlitz (Durchgangsloch) 26 in ihrer Mitte. Die Blende 26 mit
Kreisform erlaubt den Durchgang einfallenden Lichts und ist gerade oberhalb des
Sensorchips 3 positioniert.
In Fig. 2 besteht die optische Linse 4 aus einem gefärbten Glas oder einem
Kunststoff (durchscheinendes Material) und besitzt eine Schalenform. Die Oberfläche
4a der optischen Linse 4 ist so bearbeitet, daß sie eine Mattglasoberfläche besitzt. Die
optische Linse 4 ist um die Außenfläche des Halters 8 gepaßt und von dem Gehäuse 2
oberhalb des Sensorchips 3 getragen. Darüber hinaus ist an einer Innenfläche (untere
Fläche) der optischen Linse 4 ein Hohlabschnitt 27 ausgebildet, um eine
Meniskuslinsenfunktion zu gewährleisten. Daneben können zur Gewährleistung der
Meniskuslinsenfunktion andere Linsen, wie etwa eine Fresnel-Linse, verwendet werden.
Die optische Linse 4 und die Blendenplatte 5 schaffen eine
Lichtmengenregelfunktion (erste Empfindlichkeitsregelfunktion), die die Lichtmenge zu
dem Sensorchip 3 entsprechend einem Einfallswinkel (Höhenwinkel) des Lichts regelt
bzw. steuert.
Fig. 6 ist ein schematisches Schaltungsdiagramm der ersten Ausführungsform, das
die Verarbeitungsschaltung 70a zum Verarbeiten der Detektionssignale zeigt.
Eine Kathode der Photodiode D1 ist mit einem nichtinvertierenden
Eingangsanschluß eines Operationsverstärkers OP1 verbunden. Die Photodiode D1
erzeugt einen Photostrom ID1 entsprechend einer darauffallenden Lichtmenge. Der
Operationsverstärker OP1 besitzt einen Lasertrimmwiderstand R1 zum Rückkoppeln
seines Ausgangssignals an den nichtinvertierenden Eingangsanschluß. Daher variiert
eine Ausgangsspannung E1 des Operationsverstärkers OP1 mit dem Photostrom ID1
(Detektionssignal), der durch die Photodiode fließt, und somit bilden der
Operationsverstärker OP1 und der Lasertrimmwiderstand R1 eine Strom-Spannungs-
Wandlerschaltung (I-V-Wandlerschaltung). Bei dieser I-V-Wandlerschaltung wird
durch Einstellen des Widerstandswerts des Lasertrimmwiderstands R1 die Verstärkung
des Detektionssignals von der Photodiode D1 geregelt.
In ähnlicher Weise ist eine Kathode der Photodiode D2 mit einem
nichtinvertierenden Eingangsanschluß eines Operationsverstärkers OP2 verbunden. Die
Photodiode D2 erzeugt einen Photostrom ID2 entsprechend einer darauffallenden
Lichtmenge. Der Operationsverstärker OP2 besitzt einen Lasertrimmwiderstand R2 zum
Rückkoppeln seines Ausgangssignals an den nichtinvertierenden Eingangsanschluß.
Daher variiert eine Ausgangsspannung E2 des Operationsverstärkers OP2 mit dem
Photostrom ID2 (Detektionssignal), der durch die Photodiode fließt, und somit bildet der
Operationsverstärker OP2 und der Lasertrimmwiderstand R2 eine Strom-Spannungs-
Wandlerschaltung (I-V-Wandlerschaltung). Bei dieser I-V-Wandlerschaltung wird
durch Einstellen des Widerstandswerts des Lasertrimmwiderstands R2 die Verstärkung
des Detektionssignals von der Photodiode D2 geregelt.
Des weiteren ist eine Kathode der Photodiode D3 mit einem nichtinvertierenden
Eingangsanschluß eines Operationsverstärkers OP3 verbunden. Die Photodiode D3
erzeugt einen Photostrom ID3 entsprechend einer darauffallenden Lichtmenge. Der
Operationsverstärker OP3 besitzt einen Lasertrimmwiderstand R3 zum Zurückkoppeln
seines Ausgangssignals an den nichtinvertierenden Eingangsanschluß. Daher variiert
eine Ausgangsspannung E3 des Operationsverstärker OP3 mit dem Photostrom ID3
(Detektionssignal), der durch die Photodiode fließt, und somit bildet der
Operationsverstärker OP3 und der Lasertrimmwiderstand R3 eine Strom-Spannungs-
Wandlerschaltung (I-V-Wandlerschaltung). Bei dieser I-V-Wandlerschaltung wird
durch Einstellen des Widerstandswerts des Lasertrimmwiderstands R3 die Verstärkung
des Detektionssignals von der Photodiode D3 geregelt.
Des weiteren ist eine Kathode der Photodiode D4 mit einem nichtinvertierenden
Eingangsanschluß eines Operationsverstärkers OP4 verbunden. Die Photodiode D4
erzeugt einen Photostrom ID4 entsprechend einer darauffallenden Lichtmenge. Der
Operationsverstärker OP4 besitzt einen Lasertrimmwiderstand R4 zum Zurückkoppeln
seines Ausgangssignals an den nichtinvertierenden Eingangsanschluß. Daher variiert
eine Ausgangsspannung E4 des Operationsverstärker OP4 mit dem Photostrom ID4
(Detektionssignal), der durch die Photodiode fließt, und somit bildet der
Operationsverstärker OP4 und der Lasertrimmwiderstand R4 eine Strom-Spannungs-
Wandlerschaltung (I-V-Wandlerschaltung). Bei dieser I-V-Wandlerschaltung wird
durch Einstellen des Widerstandswerts des Lasertrimmwiderstands R4 die Verstärkung
des Detektionssignals von der Photodiode D4 geregelt.
Die Widerstandswerte der Widerstände R1 bis R4 werden durch Laserbearbeitung
getrimmt, um die Verstärkungen der Detektionssignale einzustellen, damit die
Empfindlichkeiten der Photodioden D1 bis D4 gewichtet werden.
Die Ausgangsanschlüsse der Operationsverstärker OP1 bis OP4 sind mit einem
nichtinvertierenden Eingang des Operationsverstärkers über Widerstände R11 bis R14
entsprechend verbunden. Der Operationsverstärker OP10 summiert die Ausgangssignale
(Spannungen) E1 bis E4 der entsprechenden Operationsverstärker OP1 bis OP4. Der
Operationsverstärker OP10 besitzt einen Rückkopplungswiderstand R20. Daher wird
der Summenwert (E1 + E2 + E3 + E4) mit einem vorbestimmten Verstärkungsfaktor
verstärkt und als Sensorsignal (Ausgangsspannung VOUT) an den Ausgangsanschluß des
Operationsverstärker OP10 ausgegeben.
Die Verstärkungsfaktoren der Verstärker OP1 bis OP4, d. h. die
Wichtungskoeffizienten, sind k1 = 1, k2 = 0, k3 = 3, k4 = 5. Darüber hinaus kann der
Verstärkungsfaktor des Operationsverstärkers OP10 durch Ändern des
Widerstandswerts des Widerstands R20 mittels Lasertrimmen eingestellt werden.
Nachfolgend wird eine Betriebsweise des Sonnenlichtsensors 1 beschrieben.
Gemäß Fig. 2 strahlt auf die Oberfläche 4a der optischen Linse einfallendes Licht
durch die optische Linse 4. Ein Teil des Lichtstrahls von der Linse 4 wird durch die
Blende 5 gestoppt und der andere Teil des Strahls geht durch die Blende 26 und trifft
auf die Photodioden D1 bis D4 des Sensorchips 3. In Abhängigkeit von dem anderen
Teil des Lichtstrahls geben die Photodioden D1 bis D4 die Detektionssignale E1 bis E4
aus. D.h. das Licht tritt in die optische Linse 4 ein und geht durch sie hindurch, wobei
der Lichtpfad durch die Gestalt und den Brechungsindex der Linse 4 geändert wird und
das Licht als Lichtstrahl zu dem Sensorchip 3 emittiert wird. Der Lichtstrahl geht durch
die Blende 26 der Blendenplatte 5 und erreicht den Sensorchip 3. Bei diesem Aufbau
kann man durch Schaffen eines Hohlabschnitts 27 in der unteren Fläche der Linse 4
Licht in horizontaler Richtung (Höhenwinkel = 0°) in den Sensorchip 3 einfallen lassen.
Fig. 7 ist eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur Darstellung
der Funktion der optischen Linse 4.
Das mit einem Höhenwinkel von 0° einfallende Licht tritt in die Linse 4, die Linse
4 beugt den Lichtpfad und der emittierte Lichtstrahl trifft durch die Blende 26 auf den
Sensorchip 3.
Fig. 8 ist eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine
Lichtauftrefffläche auf dem Lichtempfangsbereich 11 des Sensorchips 3 zeigt, wenn der
Höhenwinkel 0° beträgt. Wie in Fig. 8 gezeigt ist, trifft das Licht auf einen
Randabschnitt des Lichtempfangsbereichs 11 des Sensorchips 3.
Fig. 9 ist eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur Darstellung
der Funktion der optischen Linse 4.
Das mit einem Höhenwinkel von 40° einfallende Licht tritt in die Linse 4, die
Linse 4 streut das Licht und der emittierte Lichtstrahl trifft durch die Blende 26 auf den
Sensorchip 3.
Fig. 10 ist eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine
Lichtauftrefffläche auf dem Lichtempfangsbereich 11 des Sensorchips 3 zeigt, wenn der
Höhenwinkel 40° beträgt. Wie in Fig. 10 gezeigt ist, trifft das Licht etwa auf die halbe
Fläche des Lichtempfangsbereichs 11 des Sensorchips 3 (linke Hälfte in Fig. 10).
Fig. 11 ist eine Teilquerschnittsansicht der ersten Ausführungsform zur
Darstellung der Funktion der optischen Linse 4.
Das mit einem Höhenwinkel von 90° (Einfallswinkel = 0°) einfallende Licht tritt
in die Linse, die Linse 4 streut das Licht und der emittierte Lichtstrahl trifft durch die
Blende 26 auf den Sensorchip 3, wobei ein Teil des Lichts durch die Blendenplatte 5
gestoppt wird, welcher die Photodiode 4 erreichen würde, wenn die Blendenplatte 5
nicht vorhanden wäre.
Fig. 12 ist eine Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine
Lichtauftrefffläche auf den Lichtempfangsbereich 11 des Sensorchips 3 zeigt, wenn der
Höhenwinkel 90° beträgt. Wie in Fig. 12 gezeigt ist, trifft der Lichtstrahl auf einen
Mittelabschnitt des Lichtempfangsbereichs 11 des Sensorchips 3. Wie sich aus den Fig. 7,
9 und 11 deutlich ergibt, liegt, wenn der Höhenwinkel gering ist, die
Lichtauftrefffläche auf der gegenüberliegenden Seite der Einfallsseite auf dem
Lichtempfangsbereich 11.
Wie bereits erwähnt trifft der Lichtstrahl, dessen Menge durch die
Lichtmengenregelfunktion mit der optischen Linse 4 und der Blendenplatte 5 geregelt
wird, auf den Lichtempfangsbereich 11, wobei sich die Lichtauftrefffläche entsprechend
dem Höhenwinkel des einfallenden Lichts ändert.
Fig. 13 ist eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die die
Charakteristiken der von dem Sensorchip 3 empfangenen Lichtmengen unter
Berücksichtigung des Höhenwinkels des einfallenden Lichts (Richtwirkung) für die
Fälle, daß die optische Linse vorhanden ist und nicht vorhanden ist, zeigt.
In Fig. 13 stellt eine Kurve L1 die Charakteristik der Menge empfangenen Lichts
dar, wenn die optische Linse 4 nicht vorhanden ist, und eine Kurve L2 stellt die
Charakteristik der Menge empfangenen Lichts dar, wenn die optische Linse 4
vorhanden ist. Die Kurve L1 zeigt, daß die Menge empfangenen Lichts hoch ist, wenn
der Höhenwinkel hoch ist, und fast Null ist, wenn der Höhenwinkel gering ist.
Andererseits zeigt die Kurve L2, daß die Menge empfangenen Lichts herabgesetzt ist,
wenn der Höhenwinkel hoch ist, und in einem gewissen Maße erhöht ist, wenn der
Höhenwinkel gering ist. Daher wird die erste Lichtmengenregelfunktion durch die
optische Linse 4 und die Blendenplatte 5 gewährleistet. Die optische Linse 4 erhöht die
Menge empfangenen Lichts, wenn der Höhenwinkel gering ist, wie in Fig. 7 gezeigt ist,
wobei die Blendenplatte 5 nicht den von der optischen Linse 4 emittierten Lichtstrahl
abschirmt. Andererseits hält die Blendenplatte 5 die Menge empfangenen Lichts gering,
wenn der Höhenwinkel hoch ist, wie in Fig. 11 gezeigt ist, wobei die Blendenplatte 5
einen Randabschnitt des von der optischen Linse 4 emittierten Lichtstrahls abschirmt.
Diese Lichtmengen-(Richtwirkung)-Regelfunktion kann durch Justieren der
Gestalt des Hohlabschnitts 27 der optischen Linse 4 und der Gestalt oder eines
Abschnitts der Blendenplatte 5 kontrolliert werden, um eine gewünschte Richtwirkung
zu gewährleisten. Bei dieser Ausführungsform wird jedoch die Richtwirkung durch
Einstellen der Widerstandswerte der Lasertrimmwiderstände R1 bis R4 geregelt, um die
gewünschte Richtwirkung zu erzielen.
Es wird nun die Prozedur zum Erzielen einer gewünschten Richtwirkung
beschrieben.
Fig. 14 ist eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die eine
gewünschte Richtwirkung (resultierende Richtwirkung) zeigt.
Zunächst werden die optische Linse 4 mit einer vorbestimmten
Linsencharakteristik, die Blendenplatte 5 und der Sensorchip 3 vor dem Trimmen
zusammengebaut. Daraufhin werden die Photoströme der Photodioden D1 bis D4
gemessen, wobei der Höhenwinkel des Einfallslichts verändert wird. Dann werden die
Lasertrimmwiderstände R1 bis R4 getrimmt, um für den Sensorausgang VOUT mit der
gewünschten Richtwirkung zu sorgen, wie in Fig. 14 gezeigt ist.
Fig. 15 ist eine graphische Darstellung der ersten Ausführungsform, die ein
Meßergebnis der Ausgangsspannungen E1 bis E4 zeigt. L10 stellt die Änderung des
Photostroms der Photodiode D1 mit dem Kreislichtempfangsbereich 12, L20 die
Änderung des Photostroms der Photodiode D2 mit dem Ringlichtempfangsbereich 13,
L30 die Änderung des Photostroms der Photodiode D3 mit dem
Ringlichtempfangsbereich 14 und L40 die Änderung des Photostroms der Photodiode
D4 mit dem Ringlichtempfangsbereich 15 dar. In Fig. 15 sind die Photoströme der
Photodioden D1 und D2 bei großen Höhenwinkeln relativ hoch und bei kleinen
Höhenwinkeln niedrig, wie durch L10 und L20 gezeigt ist. Andererseits sind die
Photoströme der Photodioden D3 und D4 bei niedrigen Höhenwinkeln relativ hoch und
bei mittleren sowie großen Höhenwinkeln verglichen mit den Photodioden D1 und D2
niedrig, wie durch L30 und L40 gezeigt ist.
Diese Charakteristiken werden durch die Gestalt und den Brechungsindex der
optischen Linse 4 und der Blende 26 der Blendenplatte 5 erzielt, wie oben erwähnt ist.
D.h. bei großen Höhenwinkeln werden die Photodioden D3 und D4 durch die Blende 26
von dem emittierten Lichtstrahl abgeschirmt und bei kleinen Höhenwinkeln werden die
Lichtmengen zu den Photodioden D1 und D2 niedrig gehalten.
Die gewünschte Richtwirkung in dem in Fig. 14 gezeigten Ausgangssignal VOUT
erhält man durch Verstärken der in Fig. 15 gezeigten Photoströme mit
Verstärkungsfaktoren, die durch die Verarbeitungsschaltung 70a getrimmt werden. Aus
den Charakteristiken der Photoströme der Photodioden D1 bis D4 werden die
Verstärkungsfaktoren als k1 = 1, k2 = 0, k3 = 3 und k4 = 5 bestimmt. Sodann werden
die Lasertrimmwiderstände R1 bis R4 dem Lasertrimmprozeß unterworfen.
Daraufhin summiert der Operationsverstärker OP10 die Ausgangsspannungen E1
bis E4, um das in Fig. 14 gezeigte Sensorausgangssignal VOUT zu liefern. In Fig. 14 zeigt
die Sensorausgangsspannung VOUT einen Spitzenwert, wenn die Höhenwinkel zwischen
40° und 50° liegen, und einen niedrigen Spannungswert, wenn der Höhenwinkel gering
ist. Diese Charakteristik gewährleistet in gleicher Weise eine andere Lichtmengen-
(Richtwirkung)-Regelfunktion und entspricht einer Aufheizcharakteristik zum Regeln
einer Klimaanlage (Fahrzeugklimaanlage) und sie wird entsprechend der Form des
Fahrzeugs (insbesondere der Form der Frontwindschutzscheibe) bestimmt.
Wie oben erwähnt ist, wird bei dieser Ausführungsform die
Lichtmengenregelfunktion durch die Gestalt der optischen Linse 4 und der Blende 26
und die andere Lichtmengenregelfunktion durch eine Vielzahl von Photodioden D1 bis
D4 und die Verarbeitungsschaltung 70a gewährleistet, die die Verstärkungsfaktoren der
Detektionssignale von den Photodioden D1 bis D4 regelt, um die
Sensorausgangsspannung VOUT zu liefern, die eine Summe der verstärkten
Detektionssignale, deren Verstärkungsfaktoren getrimmt sind, darstellt.
Wie erwähnt werden bei der ersten Ausführungsform vier Photodioden D1 bis D4
in dem Lichtempfangsbereich 11 angeordnet und die Empfindlichkeiten der
Photodioden D1 bis D4 unterschiedlich gewichtet. Daher kann, nachdem die optische
Linse 4, die Blendenplatte 5 und der Sensorchip 3 vorbereitet bzw. hergestellt worden
sind, die gewünschte Richtwirkung in dem Sensorausgangssignal VOUT durch Gewichten
der Detektionssignale von den Photodioden D1 bis D4 mittels Trimmen der
Lasertrimmwiderstände R1 bis R4 zur Verfügung gestellt werden. Diese Verarbeitung
ist einfacher als das nochmalige Herstellen bzw. Vorbereiten der optischen Linse 4.
Darüber hinaus wird die Richtwirkung entsprechend der gewünschten Richtwirkung
geregelt, die gemäß der Gestalt des unterschiedlichen Fahrzeugtyps bestimmt wird.
Sodann ist dieser optische Sensor mit allen Fahrzeugen kompatibel, indem die
Trimmwerte der Lasertrimmwiderstände R1 bis R4 für jeden Fahrzeugtyp bestimmt
werden.
Darüber hinaus werden die entsprechenden Photodioden koaxial ausgebildet, so
daß eine Tendenz besteht, daß die Richtwirkungen der entsprechenden Photodioden D1
bis D4 bezüglich des Höhenwinkels nicht einer Orientierung des einfallenden Lichts
unterworfen sind. D.h. der in dem Fahrzeug montierte optische Sensor detektiert das
Sonnenlicht, dessen Orientierungswinkel variiert. Die koaxial angeordneten
Photodioden D1 bis D4 genügen der Charakteristik eines konstanten
Orientierungswinkels. Daher kann die konstante Richtwirkung betreffend den
Höhenwinkel unabhängig von der Orientierung der Sonne erhalten werden.
Diese Ausführungsform ist beschrieben, um die gewünschte Richtwirkung
entsprechend der Aufheizcharakteristik der Klimaanlage zu erhatten. Diese Erfindung
ist jedoch auch auf andere optische Sensoren zum Messen einer Lichtmenge, deren
Richtwirkung geregelt wird, anwendbar.
Nachfolgend werden Modifikationen beschrieben.
Die Fig. 16 bis 18 sind Draufsichten auf Sensorchips von Modifikationen.
Bezüglich des Aufbaus des Sensorchips 3 ist der Lichtempfangsbereich 11 in vier
Abschnitte geteilt. Eine größere Anzahl an Abschnitten schafft jedoch einen
Freiheitsgrad beim Gestalten des Sensorchips. Beispielsweise ergeben, wie in Fig. 16
gezeigt ist, in einer Matrix angeordnete Photodioden 28 einen solchen Sensorchip 163.
Darüber hinaus umfaßt, wie in Fig. 17 gezeigt ist, der Sensorchip 173 Photodioden 29,
die so angeordnet sind, daß eine Zentrumskreisstruktur und Ringstrukturen
gleichwinklig geteilt sind.
Ferner sorgt, wie in Fig. 18 gezeigt ist, der Sensorchip 183 für eine Vielzahl von
Richtwirkungen. Der Sensorchip 183 umfaßt einen Kreislichtempfangsbereich 30 in der
Mitte der Oberfläche des Sensorchips 183, Bogenlichtempfangsbereiche 31 bis 34 und
Außenbogenlichtempfangsbereiche 35 bis 38, wobei die Bogenlichtempfangsbereiche
31 bis 34 von dem Kreislichtempfangsbereich 30 durch eine Distanz d1 beabstandet
sind.
Das Detektionssignal von dem Kreislichtempfangsbereich 30 wird verwendet, um
eine Richtwirkung (I) zu liefern, und die Detektionssignale von dem
Kreislichtempfangsbereich 30 und den Bogenlichtempfangsbereichen 31 bis 38 werden
verwendet, um eine Richtwirkung (II) zu liefern.
Fig. 19 ist eine graphische Darstellung der Modifikation, die die Richtwirkungen
(I) und (II) zeigt.
Bei der Richtwirkung (I) ist die Empfindlichkeit bei einem geringen Höhenwinkel
gering und bei einem großen Höhenwinkel hoch. Andererseits zeigt die Richtwirkung
(II) eine Spitzenempfindlichkeit um den Höhenwinkel von 35° und geringe
Empfindlichkeiten bei kleinen Winkeln.
Eine Vielzahl von Richtwirkungen sorgt für unterschiedliche Regelungen.
Beispielsweise wird die Richtwirkung (I) zum Steuern bzw. Regeln des An- und
Abschaltens von Scheinwerfern (nicht gezeigt) und die Richtwirkung (II) zum Regeln
der Klimaanlage (nicht gezeigt) wie bereits erwähnt verwendet. D.h. ein Sensorchip 183
gibt zwei unterschiedliche Sensorsignale mit unterschiedlichen Richtwirkungen aus, so
daß die räumliche Effizienz bzw. Einsparung bei der Bereitstellung des optischen
Sensors auf einer Trennwand 10 hoch ist.
Um ein Sensorsignal mit der Richtwirkung (I) zu erhalten, wird ein Transistor, der
von dem Transistor Q2 unterschiedlich ist, hinsichtlich des Transistors Q1 in einem
Miller-Stromkreis einschließlich D1 gemäß der später erläuterten Fig. 23 verwendet,
wobei das Miller-Stromverhältnis in dem verwendeten Transistor eingestellt wird.
Fig. 28 ist ein schematisches Schaltungsdiagramm einer Modifikation. Eine
Verarbeitungsschaltung 70b ist ähnlich der in Fig. 6 gezeigten Verarbeitungsschaltung
70a. Der Unterschied ist, daß acht I-V-Wandlerschaltungen mit jeweils einer Photodiode
und einem Operationsverstärker mit Rückkopplungswiderstand vorgesehen sind und ein
Ausgangssignal E31 des Operationsverstärkers OP31 unabhängig als das Sensorsignal
VOUTI mit der Richtwirkung (I) ausgegeben wird. Andererseits summiert der
Operationsverstärker OP40 die Ausgangssignale E31 bis E38 der Operationsverstärker
OP31 bis OP38 und gibt das Sensorsignal VOUTII mit der Richtwirkung (II) aus.
In Fig. 18 ist die Verarbeitungsschaltung 70b zwischen dem
Kreislichtempfangsbereich 30 und dem Bogenlichtempfangsbereich 34 vorgesehen, da
durch den Abstand d1 eine Fläche bzw. ein Raum 39 zwischen dem
Kreislichtempfangsbereich 30 und den Bogenlichtempfangsbereichen 31 bis 34
vorhanden ist. Der Raum 39 trägt nicht zur Erzielung der Richtwirkung II bei, was
indirekt bei der ersten Ausführungsform angedeutet wurde. D.h. bei der ersten
Ausführungsform ist der Verstärkungsfaktor k2 des Operationsverstärkers OP2 0.
Dieser tote Raum wird dann verwendet, um die Verarbeitungsschaltung 70b
anzuordnen, damit die Raumeffizienz in dem Schaltungsbildungsbereich 71 auf dem
Sensorchip 183 erhöht wird, was zur Miniaturisierung des optischen Sensors beiträgt.
Die Fig. 20 bis 22 sind Draufsichten von Modifikationen.
Die Gestalt des Schlitzes in der Schlitz- bzw. Blendenplatte kann modifiziert
werden. Nach Fig. 20 ist ein quadratischer Schlitz (Durchgangsloch) 40 in der
Blendenplatte 205 ausgebildet. Nach Fig. 21 ist ein L-förmiger Schlitz
(Durchgangsloch) 41 in der Blendenplatte 215 ausgebildet. Nach Fig. 22 ist ein
Balkenschlitz (Durchgangsloch) 42 in der Blendenplatte 225 ausgebildet.
Darüber hinaus werden bei dem Aufbau des optischen Sensors der in Fig. 2
gezeigten ersten Ausführungsform sowohl die Blendenplatte 5 als auch die optische
Linse 4 verwendet, um die Lichtmengenregelfunktion zu erzielen. Es liefert aber jeder
der Blendenplatte 5 und der optischen Linse eine solche Lichtmengenregelfunktion. Mit
anderen Worten, entweder auf die Blendenplatte 5 oder die optische Linse 4 kann
verzichtet werden. Hinsichtlich des Freiheitsgrads beim Gestalten des optischen Sensors
ist es besser, daß sowohl die Blendenplatte 5 als auch die optische Linse 4 vorgesehen
werden.
Fig. 23 ist ein schematisches Schaltungsdiagramm einer zweiten
Ausführungsform.
Der optische Sensor der zweiten Ausführungsform ist im wesentlichen der gleiche
wie der der ersten Ausführungsform. Der Unterschied besteht darin, daß eine
Verarbeitungsschaltung 70c mit Miller-Stromkreisen anstelle der
Verarbeitungsschaltung 70a verwendet wird.
Bei der Verarbeitungsschaltung 70c werden die Verstärkungsfaktoren der
Detektionssignale geregelt, indem Miller-Stromverhältnisse in Miller-Stromkreisen
geregelt werden.
In Fig. 23 ist die Photodiode D1 mit einem Miller-Stromkreis 231, der die
Transistoren Q1 und Q2 enthält, verbunden, um den Photostrom ID1 mit dem geregelten
Verstärkungsfaktor zu verstärken. In ähnlicher Weise ist die Photodiode D2 mit einem
Miller-Stromkreis 232, der die Transistoren Q3 und Q4 umfaßt, verbunden, um den
Photostrom ID2 mit dem geregelten Verstärkungsfaktor zu verstärken. Darüber hinaus ist
die Photodiode D3 mit einem Miller-Stromkreis 233, der die Transistoren Q5 und Q6
umfaßt, verbunden, um den Photostrom ID3 mit dem geregelten Verstärkungsfaktor zu
verstärken. Ferner ist die Photodiode D4 mit einem Miller-Stromkreis 234, der die
Transistoren Q7 und Q8 umfaßt, verbunden, um den Photostrom ID4 mit dem geregelten
Verstärkungsfaktor zu verstärken. Darüber hinaus sind die Emitter der Transistoren Q1,
Q3 und Q4 an Masse angeschlossen, und die Kollektoren der Transistoren Q2, Q4, Q6
und Q8 sind an den Kollektor eines Transistors Q9 eines Miller-Stromkreises 235, der
ferner den Transistor Q10 umfaßt, angeschlossen.
Bei den Transistoren Q2, Q4, Q6 und Q8 können die Flächen bzw. Bereiche der
Emitter getrimmt werden, so daß durch Einstellen der Bereiche der Emitter der
Transistoren Q2, Q4, Q6 und Q8 die Miller-Stromverhältnisse der Miller-Stromkreise
231 bis 234 geregelt werden können. Tatsächlich werden bei dem Ausbildungsprozeß
des Sensorchips 3 dieser Ausführungsform die Bereiche der Emitter der Transistoren
Q2, Q4, Q6 und Q8 differenziert. Diese Einstellung bringt die Verstärkungsfaktoren k1,
k2, k3 und k4 der Detektionssignale von den Photodioden D1 bis D4, wobei die
Verstärkungsfaktoren als ähnlich zu der ersten Ausführungsform festgelegt werden,
damit die gewünschte, in Fig. 14 gezeigte Richtwirkung erzielt wird. Das Sensorsignal
IOUT kann durch Trimmen eines Widerstands (nicht gezeigt) mit einem Laserlicht
eingestellt werden.
Wie erwähnt werden bei der zweiten Ausführungsform die Verstärkungsfaktoren
der Detektionssignale von den Photodioden D1 bis D4 durch Trimmen der Bereiche der
Emitter der Transistoren Q2, Q4, Q6 und Q8 während des Gestaltungsprozesses des
Sensorchips eingestellt, um zur Erzielung der gewünschten Richtwirkung für Wichtung
zu sorgen.
Fig. 24A ist eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform und
Fig. 24B ist eine Querschnittsseitenansicht des Sensorchips von Fig. 24A, betrachtet
entlang der Linie B-B. Bei der dritten Ausführungsform werden die Empfindlichkeiten
der Photodioden D1 bis D4 durch unabhängiges Regeln der Mengen einfallenden Lichts
auf die entsprechenden Photodioden D1 bis D4 geregelt.
In Fig. 24A ist ähnlich wie bei der ersten Ausführungsform in der obersten bzw.
oben liegenden Oberflächenschicht aus n-Siliziumsubstrat 16 ein kreisförmiger p-Be
reich 17 ausgebildet, und Ring-p-Bereiche 18, 19 und 20 sind um diesen ausgebildet.
Auf der Grundfläche des n-Siliziumsubstrats 16 ist eine Kathodenelektrode 21
ausgebildet, und Anodenelektroden 22, 23, 24 und 25 sind auf den p-Bereichen 17, 18,
19 und 20 vorgesehen. Daher ist die Photodiode D1 an dem p-Bereich 17, die
Photodiode D2 an dem p-Bereich 18, die Photodiode D3 an dem p-Bereich 19 und die
Photodiode D4 an dem p-Bereich 20 ausgebildet, so daß, wenn Licht auf die
entsprechenden Bereiche 12 bis 15 auftrifft, die Detektionssignale (Photoströme)
entsprechend den Lichtmengen erzeugt werden.
Darüber hinaus werden Aluminiumfilme 51, 52, 53 und 54 auf den Photodioden
D1, D2, D3 bzw. D4 ausgebildet, so daß das Verhältnis der Größen der Photoströme ID1,
ID2, ID3 und ID4 zu 1 : 0 : 3 : 5 wird, wenn Licht darauf gleichmäßig einfällt. Der
Aluminiumfilm 50 wird durch Abscheiden von Aluminium gebildet, und unnötige
Abschnitte werden durch Ätzen entfernt.
Wie erwähnt werden die Empfindlichkeiten der Photodioden D1 bis D4 durch
Bilden der Aluminiumfilme 51 bis 54, die undurchlässig sind, gewichtet, um das
Verhältnis der Größen der Photoströme ID1, ID2, ID3 und ID4 einzustellen. Das Verhältnis
wird durch das Vorhandensein und Nichtvorhandensein des Aluminiumfilms 50 auf den
Lichtempfangsflächen der Photodioden D1 bis D4 geregelt.
Fig. 25A ist eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform und
Fig. 25B ist eine Querschnittsseitenansicht des Sensorchips gemäß Fig. 25A betrachtet
entlang einer Linie C-C.
Auf der oben liegenden Oberfläche des Sensorchips 253 wird ein
lichtdurchlässiger Siliziumdioxidfilm 60 ausgebildet. Die Dicken t1 bis t4 der
entsprechenden Photodioden D1 bis D4 sind unterschiedlich, um die Durchlässigkeiten
zu regeln, wobei t2 < t1 < t3 < t4 ist. Insbesondere werden die Dicken t1, t2, t3 und t4
so bestimmt, daß sie das Verhältnis der Photoströme ID1, ID2, ID3 und ID4 von 1 : 0 : 3 : 5
besitzen, wenn Licht auf sie gleichmäßig fällt. Der Siliziumdioxidfilm 60 kann teilweise
mit der in Fig. 24A gezeigten Strukturierung ausgebildet werden.
Fig. 26A ist eine Draufsicht eines Sensorchips einer dritten Ausführungsform und
Fig. 26B ist eine Querschnittsansicht des Sensorchips nach Fig. 26A betrachtet entlang
der Linie D-D.
In einer oben liegenden Oberflächenschicht eines n-Siliziumsubstrats 16 wird ein
kreisförmiger p-Bereich 17' gebildet, und Ring-p-Bereiche 18', 19' und 20' werden um
ihn gebildet, wobei die Verunreinigungsmengen differenziert werden, um das Verhältnis
der Photoströme ID1, ID2, ID3 und ID4 zu 1 : 0 : 3 : 5 zu machen, wenn Licht darauf
gleichmäßig einfällt, um die Empfindlichkeiten der Photodioden D1 bis D4 zu
gewichten.
Bei den oben genannten Ausführungsformen werden Photodioden D1 bis D4 als
Photodetektoren verwendet. Es können aber auch andere Photodetektoren, wie etwa
Phototransistoren, in ähnlicher Weise verwendet werden.
Claims (12)
1. Optischer Sensor umfassend:
eine optische Detektionseinrichtung mit einer Vielzahl von Photodetektoren zum Empfangen von Licht und Erzeugen von Detektionssignalen,
eine Lichtmengensteuer- bzw. -regeleinrichtung, die über der optischen Detektionseinrichtung angeordnet ist, zum Steuern bzw. Regeln der Mengen des Lichts zu den Photodetektoren entsprechend einem Einfallswinkel des Lichts und
eine Wichtungseinrichtung zum entsprechenden Wichten der Empfindlichkeiten der Photodetektoren und Ausgeben eines gewichteten Detektionssignals aus den Detektionssignalen, wobei eine Charakteristik des gewichteten Detektionssignals entsprechend dem Einfallswinkel variiert.
eine optische Detektionseinrichtung mit einer Vielzahl von Photodetektoren zum Empfangen von Licht und Erzeugen von Detektionssignalen,
eine Lichtmengensteuer- bzw. -regeleinrichtung, die über der optischen Detektionseinrichtung angeordnet ist, zum Steuern bzw. Regeln der Mengen des Lichts zu den Photodetektoren entsprechend einem Einfallswinkel des Lichts und
eine Wichtungseinrichtung zum entsprechenden Wichten der Empfindlichkeiten der Photodetektoren und Ausgeben eines gewichteten Detektionssignals aus den Detektionssignalen, wobei eine Charakteristik des gewichteten Detektionssignals entsprechend dem Einfallswinkel variiert.
2. Optischer Sensor nach Anspruch 1, wobei die Wichtungseinrichtung eine
Signalverarbeitungsschaltung zum Regeln der Verstärkungsfaktoren der
Detektionssignale umfaßt.
3. Optischer Sensor nach Anspruch 1, wobei die Wichtungseinrichtung auf der
optischen Detektionseinrichtung ein Filmmittel zum Steuern bzw. Regeln der
Lichtdurchlässigkeiten der Abschnitte des Filmmittels oberhalb der
entsprechenden Photodetektoren umfaßt.
4. Optischer Sensor nach Anspruch 3, wobei das Filmmittel ein undurchlässiges
Filmmittel auf der optischen Detektionseinrichtung zum Steuern bzw. Regeln der
Lichtmengen zu den entsprechenden Photodetektoren durch Regeln der
Verhältnisse zwischen dem Vorhandensein und Nichtvorhandensein des
undurchlässigen Filmmittels pro Einheitsfläche auf Abschnitten des Filmmittels
oberhalb der entsprechenden Photodetektoren umfaßt.
5. Optischer Sensor nach Anspruch 3, wobei das Filmmittel einen lichtdurchlässigen
Film umfaßt, der die Lichtdurchlässigkeit durch Steuern der Dicken der
Abschnitte des lichtdurchlässigen Films oberhalb der entsprechenden
Photodetektoren steuert.
6. Optischer Sensor nach Anspruch 1, wobei die Lichtmengenregeleinrichtung eine
Meniskuslinse umfaßt.
7. Optischer Sensor nach Anspruch 1, wobei die Photodetektoren entsprechend
unterschiedliche Ausgangscharakteristiken in Abhängigkeit von der gleichen
Menge des Lichts besitzen.
8. Optischer Sensor nach Anspruch 1, wobei die Photodetektoren koaxial angeordnet
sind.
9. Optischer Sensor nach Anspruch 8 mit ferner einer Ausgabeschaltung zum
Ausgeben eines der Detektionssignale von einem der Photodetektoren, der nahe
des Zentrums der Photodetektoren angeordnet ist, als erstes
Sonnenlichtmengendetektionssignal, das eine erste Menge des Lichts angibt, mit
einer ersten Richtwirkung, wobei die Wichtungseinrichtung eine
Signalverarbeitungsschaltung zum Regeln der Verstärkungsfaktoren der
Detektionssignale und Ausgeben eines zweiten Sonnenlichtmengensignals, das
eine zweite Menge des Lichts angibt, mit einer zweiten Richtwirkung umfaßt.
10. Optischer Sensor nach Anspruch 8, wobei einer der Photodetektoren, der nahe des
Zentrums der Photodetektoren angeordnet ist, von den anderen Photodetektoren in
einem vorbestimmten Abstand entfernt ist, und die Wichtungseinrichtung eine
Signalverarbeitungsschaltung, die zwischen dem einen der Photodetektoren und
den anderen Photodetektoren angeordnet ist, umfaßt.
11. Optischer Sensor nach Anspruch 8, wobei die Lichtmengenregeleinrichtung die
Mengen des Lichts zu den Photodetektoren derart regelt, daß die
Detektionssignale von den anderen Photodetektoren einen ersten Satz an Größen
zeigen, wenn der Einfallswinkel im wesentlichen Null ist, und einen zweiten Satz
an Größen zeigen, wenn der Einfallswinkel von Null verschieden ist, welcher
entsprechend geringer als der erste Satz an Größen ist.
12. Optischer Sensor nach Anspruch 8, wobei die Lichtmengenregeleinrichtung eine
Abdunklungseinrichtung zum Abdunkeln eines Teils des Lichts zu den anderen
Photodetektoren, wenn der Einfallswinkel im wesentlichen Null ist, besitzt.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8175398 | 1998-03-27 | ||
JP10-81753 | 1998-03-27 | ||
JP11-55251 | 1999-03-03 | ||
JP05525199A JP3882378B2 (ja) | 1998-03-27 | 1999-03-03 | 光センサ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19913955A1 true DE19913955A1 (de) | 1999-11-04 |
DE19913955B4 DE19913955B4 (de) | 2008-01-17 |
Family
ID=26396135
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999113955 Expired - Lifetime DE19913955B4 (de) | 1998-03-27 | 1999-03-26 | Optischer Sensor mit geregelter Richtwirkung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3882378B2 (de) |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
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