DE4302442A1 - Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der Sonnenstrahlung - Google Patents
Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der SonnenstrahlungInfo
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 11
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 22
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 241000238633 Odonata Species 0.000 description 1
- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B64G1/00—Cosmonautic vehicles
- B64G1/22—Parts of, or equipment specially adapted for fitting in or to, cosmonautic vehicles
- B64G1/24—Guiding or controlling apparatus, e.g. for attitude control
- B64G1/36—Guiding or controlling apparatus, e.g. for attitude control using sensors, e.g. sun-sensors, horizon sensors
- B64G1/363—Guiding or controlling apparatus, e.g. for attitude control using sensors, e.g. sun-sensors, horizon sensors using sun sensors
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S3/00—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received
- G01S3/78—Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received using electromagnetic waves other than radio waves
- G01S3/782—Systems for determining direction or deviation from predetermined direction
- G01S3/785—Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using adjustment of orientation of directivity characteristics of a detector or detector system to give a desired condition of signal derived from that detector or detector system
- G01S3/786—Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using adjustment of orientation of directivity characteristics of a detector or detector system to give a desired condition of signal derived from that detector or detector system the desired condition being maintained automatically
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Aviation & Aerospace Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft einen Sensor zur Erfassung der Bestrahlungs
stärke und des Einfallswinkels der Sonnenstrahlung, der mehrere
Fotoelemente enthält.
Aus der US-PS 47 60 772 ist ein derartiger Sensor bekannt, der
eine Klimaanlage in Abhängigkeit des Einfallswinkels und der Be
strahlungsstärke der Sonnenstrahlung steuert. Beim bekannten Sensor
sind drei oder vier Fotoelemente unter verschiedenen Neigungen
in die verschiedenen Richtungen auf einer prismaartigen Haltevor
richtung angeordnet, so daß infolge der unterschiedlichen Winkel
unterschiedliche Sensorsignale erhalten werden, die einen Rückschluß
auf den Einfallswinkel zulassen.
Der Nachteil der bekannten Sensoreinrichtung besteht darin, daß
infolge der Anordnung der Fotoelemente in unterschiedlichen Ebenen
eine Integration des gesamten Systems von Fotoelementen auf einem
Chip nicht möglich ist. Darüber hinaus ist die Erfassung des Ein
fallswinkels der Sonnenstrahlung mittels unterschiedlich geneigter
Fotoelemente relativ ungenau und läßt daher keine präziseren Aus
werteverfahren zu.
Der erfindungsgemäße Sensor mit den kennzeichnenden Merkmalen des
Hauptanspruchs hat demgegenüber den Vorteil, daß alle Fotoelemente
in einer einzigen Ebene angeordnet werden können, so daß
das gesamte System auf einem einzigen Chip integriert werden
kann. Hierdurch kann eine sehr große Anzahl von Fotoelemen
ten, wie Fotodioden, Fotozellen oder Fototransistoren,
kostengünstig in einer Rasteranordnung realisiert werden.
Die Erfassung der unterschiedlichen Bestrahlungsstärken
in verschiedenen Bereichen der Aufnahmefläche kann daher
sehr präzise erfolgen und läßt eine sehr präzise Auswertung
des Einfallswinkels und der Bestrahlungsstärke bei hoher
Auflösung zu.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen
sind vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des
im Hauptanspruch angegebenen Sensors möglich.
Die Meßöffnung wird zweckmäßigerweise durch die Öffnung
eines die Aufnahmefläche enthaltenden Rohrstücks gebildet,
wobei die Aufnahmefläche im wesentlichen senkrecht zur
Achse angeordnet ist. Dabei weist das Rohrstück insbesondere
einen kreisförmigen Querschnitt auf. Hierdurch werden de
finierte Verhältnisse geschaffen, und es wird verhindert,
daß unterschiedliche Mengen von Streulicht in Abhängigkeit
des jeweiligen Einfallswinkels auf die Aufnahmefläche ge
langen.
Eine vorteilhafte optische Anordnung wird dadurch gebildet,
daß die Innenfläche des Rohrstücks wenigstens oberhalb
der Aufnahmefläche verspiegelt ist. Diese Anordnung ermöglicht
die Erfassung der Einstrahlung fast aus dem gesamten Halb
raum. Eine alternative, vorteilhafte Ausgestaltung der
optischen Anordnung besteht darin, daß eine die Meßöffnung
verschließende Sammellinse vorgesehen ist. Diese ist zur
Fokussierung des einfallenden Lichts im wesentlichen auf
der Ebene der Aufnahmefläche ausgebildet. Dies ermöglicht
eine naturechte Projektion des Himmels auf die Aufnahme
fläche, wobei bei unterschiedlichen Einfallswinkeln unter
schiedliche, sehr kleine Bereiche der Aufnahmefläche und
damit nur sehr wenige Fotoelemente sehr intensiv bestrahlt
werden. Besonders günstig ist die Verwendung einer Kombi
nation von verspiegelter Innenfläche und Sammellinse, um
die Vorteile beider Möglichkeiten zu vereinen.
Eine extrem gute Auflösung der Sonnenbewegung in bezug
auf den Meßort wird durch die Ausbildung der Aufnahmefläche
als CCD (Charge Coupled Device)-Bildsensor oder als opto
elektronische Mehr-Chip-Fläche (Multichiparray) erreicht.
Die Aufnahmefläche mit den Fotoelementen ist zweckmäßiger
weise Bestandteil eines integrierten ASIC-Bausteins, der
einen Teil einer Auswerteelektronik für die Fotoelemente
bilden kann. Diese Auswerteelektronik kann zusätzlich noch
einen Mikroprozessor und/oder einen AD-Wandler und/oder
einen DA-Wandler und/oder wenigstens einen Speicher auf
weisen, wobei das gesamte System - Aufnahmefläche und Aus
werteelektronik - auf einem Chip integriert sein kann oder
zumindest auf einer Karte montiert ist. Hierdurch ist eine
direkte Meßwerterfassung und ein digitalisierter Datenaus
tausch und eine Dialogfreundlichkeit mit anderen Sensor
einheiten, wie eine elektronische Libelle, ein Luftdruck
messer, ein Höhenmesser u. dgl., möglich.
Die Auswerteelektronik enthält zweckmäßigerweise Mittel
zum Aufsummieren der erfaßten Bestrahlungsstärken der einzel
nen Fotoelemente oder zur Bewertung des am stärksten be
strahlten Fotoelements anhand seiner Kennlinie. Weiterhin
sind Rechenmittel zum Zuordnen der Lichtverteilung auf
den Fotoelementen zu einem Einfallswinkel vorgesehen, wobei
beispielsweise beim am stärksten bestrahlten Fotoelement
dessen Koordinaten in der Aufnahmematrix der Winkellage
der Sonne zugeordnet werden.
Eine vorteilhafte Möglichkeit des Einsatzes dieses Sensors
besteht darin, eine Positionsvorgabe-Vorrichtung für die
geographische Position der Auswerteelektronik zuzuordnen,
wobei Mittel zum Bestimmen der Zeit anhand gespeicherter
Erfahrungswerte aus der geographischen Position, dem Ein
fallswinkel und der Bestrahlungsstärke vorgesehen sind.
Andererseits kann auch ein Zeitgeber der Auswerteelektronik
zugeordnet werden, wobei dann Mittel zum Bestimmen der
geographischen Position anhand gespeicherter Erfahrungs
werte aus der Zeit, dem Einfallswinkel und der Bestrahlungs
stärke vorgesehen sind.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung
dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Die einzige Figur zeigt das Ausführungsbeispiel
des Sensors im Vertikalschnitt.
Der in der einzigen Figur als Ausführungsbeispiel darge
stellte Sensor besteht im wesentlichen aus einem rohrförmigen
Gehäuse 10 mit kreisförmigem Querschnitt, wobei auch andere
Querschnittsformen für Spezialanwendungen möglich sind.
An der oberen Rohröffnung des rohrförmigen Gehäuses 10
ist eine optische Sammellinse 11 angeordnet. Im mittleren
Bereich des Gehäuses 10 ist eine Vielzahl von Fotoelementen
12 auf einer Aufnahmeplatte 13 angeordnet, deren Ebene
senkrecht zur Rohrachse angeordnet ist. An dieser Aufnahme
platte 13 ist zusätzlich eine Auswerteelektronik 14 angeord
net. Das rohrförmige Gehäuse 10 weist oberhalb der Aufnahme
platte 13 eine Innenverspiegelung 15 auf.
Bei den Fotoelementen 12 kann es sich um Fotodioden, Foto
zellen, Fototransistoren od. dgl. handeln. Dabei kann die
Aufnahmeplatte 13 zusammen mit den Fotoelementen 12 als
CCD (Charge Coupled Device)-Bildsensor oder als optoelekto
nische Mehr-Chip-Fläche (Multichiparray) ausgebildet sein.
Die Auswerteelektronik 14 besteht beispielsweise aus einem
Mikroprozessor 16, einem A/D-Wandler 17 zur Umwandlung
der analogen Signale der Fotoelemente 12 in digitale Si
gnale für den Mikroprozessor 16, wobei dem Mikroprozessor
16 in üblicher Weise als Speicher ein ROM 18 und ein RAM
19 zugeordnet sind. Weiterhin ist ein I/O-Kreis 20 zur
Verbindung der Auswerteelektronik 14 mit externen Einheiten
vorgesehen. Die Elemente 16-20 der Auswerteelektronik 14
können zusammen mit den Fotoelementen 12 auf einem einzigen
Chip integriert sein. Selbstverständlich kann die Auswerte
elektronik 14 auch als separater Chip oder in Form separater
Bauelemente an der Unterseite der Aufnahmeplatte 13 angeord
net sein, wie dies in der Figur dargestellt ist. Eine weitere
Möglichkeit besteht darin, die Fotoelemente 12 in einem
ASIC-Baustein zu integrieren, um eine Entlastung des Aus
werterechners zu erreichen.
Der beschriebene Sensor wird in horizontaler Lage, also
in horizontaler Lage der Aufnahmeplatte 13, an einem festen
oder beweglichen Ort montiert, beispielsweise auf einem
Fahrzeug für Landfahrt, Seefahrt oder Luft- und Raumfahrt.
Das beispielsweise schräg einfallende Sonnenlicht wird
auf eines der Fotoelemente 12 mittels der Sammellinse 11
fokussiert, wobei es sich je nach Art der Fokussierung
auch um mehrere Fotoelemente 12 handeln kann. Ein im ROM
18 enthaltenes Programm nimmt mit Hilfe des Mikroprozessors
16 die Auswertung vor und bewertet intelligent das Abbild
des Himmels auf der Aufnahmeplatte 13. Der Mikroprozessor
16 sucht nach demjenigen Fotoelement 12, das am stärksten
bestrahlt ist, und rechnet in bezug auf dessen Koordinaten
auf der Aufnahmeplatte 13 die Winkellage der Sonne und
nach seiner Kennlinie die tatsächliche Bestrahlungsstärke
aus. Zur Erfassung der Bestrahlungsstärke kann auch eine
Summenbildung in der Weise durchgeführt werden, daß die
von allen Fotoelementen 12 einzeln aufgenommenen Bestrahlungs
stärken addiert werden. Neben der Bestrahlungsstärke kann
über den Einfallswinkel der Sonnenstrahlung auch die Fahrt
richtung des Fahrzeugs ermittelt werden, da sich diese
im Gegensatz zur Sonne sehr rasch verändern kann. Bei einer
Drehung des Fahrzeugs wandert das Abbild des Himmels auf
ein anderes Fotoelement 12 bzw. auf einen anderen Bereich
von Fotoelementen.
Bei sehr flachem Einstrahlungswinkel α wird das Licht über
die Innenverspiegelung 15 auf die Fotoelemente 12 reflek
tiert. Die Lichtverteilung auf den Fotoelementen 12 wird
dann mit Erfahrungswerten verglichen, um zu einem reprodu
zierbaren Meßwinkel zu gelangen.
In einer einfacheren Ausführungsform kann auch entweder
nur die Sammellinse 11 oder nur die Innenverspiegelung
15 vorgesehen sein. Wenn nur die Innenverspiegelung 15
vorgesehen ist, so ergeben sich helle und dunkle Bereiche
auf den Fotoelementen 12, die durch Vergleich mit gespeicher
ten Lichtverteilungen einen Rückschluß auf den Einfalls
winkel α zulassen.
Soll der beschriebene Sensor als Teil eines Navigations
systems verwendet werden, so kann in der Auswerteelektronik
14 noch eine Uhr mitintegriert sein. Mit Hilfe gespeicherter
Erfahrungswerte kann dann die geographische Lage des Meß
orts bestimmt werden. Hierfür ist es allerdings erforder
lich, daß entweder eine exakt horizontale Sensorlage einge
halten wird oder daß eine Abweichung von der horizontalen
Lage gemessen und entsprechend berücksichtigt wird.
Umgekehrt kann der Sensor auch zur Zeitbestimmung verwendet
werden, indem in nicht dargestellter Weise die geographischen
Positionsdaten eingegeben werden. Aus diesen in Verbindung
mit dem Einfallswinkel und der Bestrahlungsstärke läßt
sich dann die Uhrzeit ermitteln.
Der beschriebene Sensor ist selbstverständlich auch in
der Lage, über die Bestrahlungsstärke den Tag-Nacht-Zyklus
zu unterscheiden.
Über digitalisierten Datenaustausch mit externen Rechner
einheiten können noch weitere Auswertungen vorgenommen
werden, insbesondere in Verbindung mit anderen Meßvorrich
tungen zur Erfassung der horizontalen Lage (elektronische
Libelle), des Luftdrucks, der Höhe u. dgl.
Claims (16)
1. Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des
Einfallswinkels der Sonnenstrahlung, der mehrere Fotoelemen
te enthält, dadurch gekennzeichnet, daß die untereinander
identisch ausgerichteten Fotoelemente (12) rasterartig
in einer Ebene an einer Aufnahmefläche (13) angeordnet
sind und daß oberhalb der Aufnahmefläche (13) eine die
durch eine Meßöffnung einfallende Sonnenstrahlung in Ab
hängigkeit des Einfallswinkels (α) auf unterschiedliche
Bereiche der Aufnahmefläche (13) richtende optische Anordnung
(11, 15) vorgesehen ist.
2. Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Meßöffnung durch die Öffnung eines die Aufnahmefläche
(13) enthaltenden Rohrstücks (10) gebildet wird, wobei
die Aufnahmefläche (13) im wesentlichen senkrecht zur Rohr
achse angeordnet ist.
3. Sensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
das Rohrstück (10) einen kreisförmigen Querschnitt aufweist.
4. Sensor nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Innenfläche des Rohrstücks (10) wenigstens oberhalb
der Aufnahmefläche (13) verspiegelt ist.
5. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß eine im Bereich der Meßöffnung angeord
nete Sammellinse (11) vorgesehen ist.
6. Sensor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
die Sammellinse (11) zur Fokussierung des einfallenden
Sonnenlichts im wesentlichen auf der Ebene der Aufnahme
fläche (13) ausgebildet ist.
7. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Aufnahmefläche (13) als CCD (Charge
Coupled Device)-Bildsensor ausgebildet ist.
8. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Aufnahmefläche (13) als optoelektronische
Mehr-Chip-Fläche (Multichiparray) ausgebildet ist.
9. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß die Aufnahmefläche (13) mit den Foto
elementen (12) Bestandteil eines integrierten ASIC-Bausteins
ist.
10. Sensor nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Auswerteelektronik (14) für die
Fotoelemente (12) vorgesehen ist.
11. Sensor nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
die Aufnahmefläche (13) mit den Fotoelementen (12) Bestand
teil eines Chip ist, der zusätzlich die Auswerteelektronik
(14) für die Fotoelemente (12) enthält.
12. Sensor nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
die Auswerteelektronik (14) einen Mikroprozessor (16) und/oder
einen AD-Wandler (17) und/oder einen DA-Wandler und/oder
wenigstens einen Speicher (18, 19) aufweist.
13. Sensor nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswerteelektronik (14) Mittel
zum Aufsummieren der erfaßten Bestrahlungsstärken in den
einzelnen Fotoelementen (12) oder zur Bewertung des am
stärksten bestrahlten Fotoelements (12) anhand seiner Kenn
linie aufweist.
14. Sensor nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Auswerteelektronik (14) Rechen
mittel zum Zuordnen der Lichtverteilung auf den Fotoelemen
ten zu einem Einfallswinkel (α) aufweist.
15. Sensor nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Positionsvorgabe-Vorrichtung für die geographische
Position der Auswerteelektronik (14) zugeordnet ist, und
daß Mittel zum Bestimmen der Zeit anhand gespeicherter
Erfahrungswerte aus der geographischen Position, dem Ein
fallswinkel (α) und der Bestrahlungsstärke vorgesehen sind.
16. Sensor nach Anspruch 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Zeitgeber der Auswerteelektronik (14) zugeordnet
ist, und daß Mittel zum Bestimmen der geographischen Position
anhand gespeicherter Erfahrungswerte aus der Zeit, dem
Einfallswinkel und der Bestrahlungsstärke vorgesehen sind.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4302442A DE4302442A1 (de) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der Sonnenstrahlung |
PCT/DE1994/000058 WO1994017427A1 (de) | 1993-01-29 | 1994-01-25 | Sensor zur erfassung der bestrahlungsstärke und des einfallswinkels der sonnenstrahlung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE4302442A DE4302442A1 (de) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der Sonnenstrahlung |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4302442A1 true DE4302442A1 (de) | 1994-08-04 |
Family
ID=6479167
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4302442A Withdrawn DE4302442A1 (de) | 1993-01-29 | 1993-01-29 | Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der Sonnenstrahlung |
Country Status (2)
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Publication number | Publication date |
---|---|
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8120 | Willingness to grant licenses paragraph 23 | ||
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