DE19906224A1 - Abzugsvorrichtung - Google Patents

Abzugsvorrichtung

Info

Publication number
DE19906224A1
DE19906224A1 DE19906224A DE19906224A DE19906224A1 DE 19906224 A1 DE19906224 A1 DE 19906224A1 DE 19906224 A DE19906224 A DE 19906224A DE 19906224 A DE19906224 A DE 19906224A DE 19906224 A1 DE19906224 A1 DE 19906224A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
exhaust pipe
main exhaust
tube
treatment
pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19906224A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19906224B4 (de
Inventor
Germar Schneider
Pierre-Louis Saez
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19906224A priority Critical patent/DE19906224B4/de
Priority to US09/504,274 priority patent/US6443171B1/en
Publication of DE19906224A1 publication Critical patent/DE19906224A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19906224B4 publication Critical patent/DE19906224B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67051Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B15/00Preventing escape of dirt or fumes from the area where they are produced; Collecting or removing dirt or fumes from that area
    • B08B15/002Preventing escape of dirt or fumes from the area where they are produced; Collecting or removing dirt or fumes from that area using a central suction system, e.g. for collecting exhaust gases in workshops
    • B08B15/005Preventing escape of dirt or fumes from the area where they are produced; Collecting or removing dirt or fumes from that area using a central suction system, e.g. for collecting exhaust gases in workshops comprising a stationary main duct with one or more branch units, the branch units being freely movable along a sealed longitudinal slit in the main duct
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S134/00Cleaning and liquid contact with solids
    • Y10S134/902Semiconductor wafer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

Es wird eine Abzugsvorrichtung (20) für eine Behandlungseinrichtung (11) von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern, insbesondere für eine Sprüheinrichtung zum Reinigen von elektrischen Bauelementen, beschrieben. Damit auf zuverlässige Weise Partikel mit einer Größe von größer/gleich 0,16 mum Durchmesser aus der Behandlungseinrichtung (11) entfernt werden können, die andernfalls zu einer Kontamination der elektrischen Bauelemente führen würden, weist die Abzugsvorrichtung (20) ein Hauptabzugsrohr (50), das ein Außenrohr (51) und ein Innenrohr (52) aufweist, wobei das Innenrohr (52) eine Anzahl von Düsen (53) aufweist, und ein Seitenrohr (30) auf, das die Behandlungseinrichtung (11) mit dem Hauptabzugsrohr (50) verbindet, und das ein Außenrohr (31) und ein Innenrohr (32) aufweist, wobei das Innenrohr (32) eine Anzahl von Düsen (37) aufweist. Die Innenrohre (32, 52) sind mit einer Quelle einer Reinigungsflüssigkeit verbunden, so daß die Innenrohre (32, 52) zum Zwecke der Spülung zumindest zeitweilig von der Reinigungsflüssigkeit durchströmt werden. Das Seitenrohr (30) und das Hauptabzugsrohr (50) sind in einem bestimmten Winkel miteinander verbunden. Weiterhin ist das Seitenrohr (30) aus mehreren Teilbereichen gebildet, die in einem bestimmten Winkel zueinander ausgerichtet sind. Ferner ist ein weiteres Abzugsrohr (21) vorgesehen, das das Hauptabzugsrohr (50) mit einem Reinraum (12) verbindet.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abzugsvorrichtung für eine Behandlungseinrichtung von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern und insbesondere eine Abzugsvorrichtung für eine Sprüheinrichtung zum Reinigen von elektrischen Bau­ elementen, wobei in der Behandlungseinrichtung befindliche Partikel abgesaugt werden. Weiterhin betrifft die Erfindung ein System zum Behandeln von elektrischen Bauelementen. Schließlich betrifft die Erfindung auch ein Verfahren zum Ab­ saugen und/oder Abspülen von Partikeln aus einer Behandlungs­ einrichtung eines solchen Systems.
In der Halbleiterindustrie werden häufig chemische Sprühein­ richtungen (Spraytools) eingesetzt, um die sehr kleinen Chip­ strukturen, die heutzutage Strukturbreiten von bis zu 0.20 µm aufweisen, von organischen und anorganischen Verunreinigungen zu reinigen. Die Wafer werden beispielsweise während des Be­ handlungsprozesses verunreinigt, etwa durch Plasmaätzprozesse zur Erzeugung der Mikrostrukturen oder dergleichen, wo schwer zu entfernende organische Polymere entstehen. Weiterhin müs­ sen beispielsweise nach Photolithographieschritten die Sili­ ziumwafer von Lackresten gereinigt werden, was durch die ge­ nannten Sprüheinrichtungen erfolgen kann.
Die Sprüheinrichtungen bestehen generell aus einem Halter (Carrier) für die Wafer, der sich wiederum in einem geschlos­ senen Gehäuse befindet. Die zur Reinigung benötigten Prozeß­ chemikalien beziehungsweise Chemikaliengemische werden aus Sprühdüsen von oben oder seitlich auf die Waferoberfläche aufgesprüht.
Neben der Reinigung der Waferoberflächen von organischen und anorganischen Verunreinigungen spielt auch die Entfernung von Partikeln, beispielsweise Staubpartikeln aus dem Reinraum, eine wichtige Rolle. Dabei können Partikel mit einem Durch­ messer von größer als 0.16 µm bei Chip-Strukturbreiten von un­ ter 0.4 µm, die beispielsweise bei dem 16 MB DRAM-Chip auftre­ ten, zum Ausfall der Bausteine führen. Zur Gewährleistung, daß keine Partikelkontamination von der Behandlungseinrich­ tung selbst ausgeht, ist deshalb eine Überwachung auf alle Partikel größer als 0.16 µm Durchmesser sowie deren Entfernung aus der Behandlungseinrichtung erforderlich.
Bei den bisher üblichen Abzugsvorrichtungen für derartige Sprüheinrichtungen beziehungsweise Behandlungseinrichtungen allgemein, die aus Polypropylen hergestellt sind, ist eine solche Überwachung nicht möglich, da eine willkürliche auf­ tretende Kontamination von Partikeln immer wieder zu hohen Defektdichten auf den Wafern und damit nicht zuletzt auch zu Ausschußraten bei den Wafern führt und es damit zum Still­ stand der Produktion auf dieser Sprüheinrichtung kommt.
Ausgehend vom genannten Stand der Technik liegt der vorlie­ genden Erfindung die Aufgabe zugrunde, die oben genannten Nachteile zu vermeiden. Insbesondere soll eine Möglichkeit geschaffen werden, mit der die Reinigung von elektrischen Bauelementen in den entsprechenden Behandlungseinrichtungen auch dann noch zufriedenstellend und umfassend möglich ist, wenn eine Reinigung von Partikeln ab 0.16 µm Durchmesser er­ forderlich ist.
Die Aufgabe wird gemäß dem ersten Aspekt der Erfindung durch eine Abzugsvorrichtung für eine Behandlungseinrichtung von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern, insbesondere für eine Sprüheinrichtung zum Reinigen von elektrischen Bau­ elementen, gelöst, wobei die Abzugsvorrichtung zum Absaugen von in der Behandlungseinrichtung befindlichen Partikeln dient, die erfindungsgemäß ein Hauptabzugsrohr, das ein Au­ ßenrohr und ein Innenrohr aufweist, wobei das Innenrohr eine Anzahl von Düsen aufweist, und ein Seitenrohr aufweist, das die Behandlungseinrichtung mit dem Hauptabzugsrohr verbindet und das ein Außenrohr und ein Innenrohr aufweist, wobei das Innenrohr eine Anzahl von Düsen aufweist. Die Innenrohre sind mit einer Quelle einer Reinigungsflüssigkeit verbunden, so daß die Innenrohre zumindest zeitweilig von einer Reinigungs­ flüssigkeit durchströmt werden.
Durch die erfindungsgemäße Abzugsvorrichtung wird gewährlei­ stet, daß eine Überwachung und Absaugung von Partikeln größer oder gleich 0.16 µm Durchmesser möglich wird, so daß eine Par­ tikelkontamination der Behandlungseinrichtung sowie der elek­ trischen Bauelemente mit den oben beschriebenen Nachteilen vermieden wird.
Über die Düsen der Innenrohre wird die Reinigungsflüssigkeit in das Hauptabzugsrohr und das Seitenrohr eingespritzt, so daß diese Rohre mit der Reinigungsflüssigkeit gespült werden können. Damit wird eine Kontamination der elektrischen Bau­ elemente mit Partikeln, die aus der Abzugsvorrichtung stam­ men, verhindert. Die Innenrohre sind auf geeignete Weise, et­ wa durch entsprechende Leitungen, mit der Quelle der Reini­ gungsflüssigkeit, die in einem geeigneten Behälter gespei­ chert ist, verbunden.
Die Spülung, beziehungsweise Reinigung erfolgt vorteilhaft nach Beendigung eines Behandlungsprozesses in der Behand­ lungseinrichtung, wie dies weiter unten noch ausführlicher beschrieben wird.
Die Anwendung der erfindungsgemäßen Abzugsvorrichtung ist nicht auf bestimmte Behandlungseinrichtungen beschränkt. Vielmehr kann sie überall dort eingesetzt werden, wo elektri­ sche Bauelemente mit Materialien besprüht werden und wo diese Sprühmaterialien anschließend abgesaugt werden müssen. Ein vorteilhaftes Beispiel ist die Anwendung der Abzugsvorrich­ tung in einer Sprüheinrichtung zum Reinigen von Wafern.
Bevorzugte Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Abzugsvor­ richtung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Erfindungsgemäß kann das Seitenrohr ein Außenrohr mit einem Durchmesser von 90 mm und/oder ein Innenrohr mit einem Durch­ messer von 20 mm aufweisen. Natürlich ist die Erfindung nicht auf die genannten Durchmesser beschränkt.
In weiterer Ausgestaltung kann das Seitenrohr aus zwei oder mehr Teilbereichen gebildet sein. Die Teilbereiche sind vor­ teilhaft winkelig zueinander ausgerichtet. Durch diese winke­ lige Ausgestaltung des Seitenrohrs wird die Gefahr eines Ein­ tretens von Partikeln aus dem Seitenrohr in die Behandlungs­ einrichtung weiter verringert. Das winkelig ausgebildete Sei­ tenrohr kann einteilig oder mehrteilig ausgebildet sein. Im letzteren Fall werden zunächst die einzelnen Teilbereiche ge­ fertigt und anschließend zu dem Seitenrohr zusammengefügt. Bevorzugt sind die Teilbereiche in einem Winkel zwischen 135° und 155°, vorzugsweise zwischen 140° und 145°, insbesondere in einem Winkel von 142°30' zueinander ausgerichtet.
Erfindungsgemäß kann wenigstens einer der randseitigen Teil­ bereiche des Seitenrohrs mit einem Verlängerungselement ver­ bunden sein. Durch die Verwendung eines oder mehrerer solcher Verlängerungselemente können die baulichen Gegebenheiten, das heißt auch unterschiedlichste Abstände zwischen der Behand­ lungseinrichtung und dem Hauptabzugsrohr, berücksichtigt wer­ den. Bei Verwendung eines Verlängerungselements wird das In­ nenrohr vorteilhaft ebenfalls verlängert, so daß auch das Verlängerungselement mit Reinigungsflüssigkeit gespült werden kann.
In weiterer Ausgestaltung weist das Hauptabzugsrohr ein In­ nenrohr mit einem Durchmesser von 25 mm auf. Auch hier kann der Durchmesser je nach Bedarf variiert werden.
Der Druck der Gasphase innerhalb des Hauptabzugsrohrs ist vorteilhaft in einem Bereich von 2.03 cm (0.8 Inch) bis 4.3 cm (1.7 Inch)/Wassersäule, vorzugsweise auf 3.81 cm (1.5 Inch)/Wassersäule, eingestellt.
Bevorzugt ist das Hauptabzugsrohr und das Seitenrohr in einem Winkel von 25° bis 40°, vorzugsweise von 30°, miteinander verbunden. Diese winkelige Anordnung ist für die erfindungs­ gemäße Abzugsvorrichtung von Bedeutung, da hierdurch der Rei­ nigungseffekt sowie die Vermeidung einer Partikelkontaminati­ on weiter verbessert wird.
In weiterer Ausgestaltung ist das Hauptabzugsrohr mit einem weiteren Abzugsrohr verbunden, wobei dieses Abzugsrohr mit einem Reinraum verbunden oder verbindbar ist. Über dieses zu­ sätzliche Abzugsrohr wird die Luft für den Absaugvorgang in der Abzugsvorrichtung angesaugt. Durch Ansaugung von Luft aus dem Reinraum, wodurch die Luft eine Qualität der Reinraum­ klasse 1 oder besser aufweist, ist gewährleistet, daß keine Partikel über dieses Abzugsrohr in die Abzugsvorrichtung zu­ rück diffundieren können. Weiterhin dient die Ansaugung der Reinraumluft über das Abzugsrohr dem Zweck, einen Druckaus­ gleich der Reinigungsflüssigkeit innerhalb des Hauptabzugs­ rohrs vorzunehmen.
Erfindungsgemäß kann das Hauptabzugsrohr mit einem Gaswäscher verbunden sein. Der Gaswäscher, der beispielsweise mit 5 Li­ ter/Minute Reinigungsflüssigkeit unter ständigem Durchfluß gehalten wird, verhindert, daß saure beziehungsweise basische Gase in die Umwelt freigesetzt werden. Weiterhin bewahrt er die Behandlungseinrichtung vor einem Rückstrom von Partikeln aus dem Ventilationssystem der Abzugsvorrichtung.
In weiterer Ausgestaltung können die Düsen innerhalb der In­ nenrohre in einem Abstand von 5 bis 20 cm voneinander ange­ ordnet sein. Der geeignete Abstand der Düsen ergibt sich nach dem Durchmesser des Seitenrohrs und des Hauptabzugsrohrs so­ wie der benötigten Menge an Reinigungsflüssigkeit, um die Rohre umfassend spülen zu können.
Vorteilhaft können in den Innenrohren jeweils 10 bis 15, vor­ zugsweise 11 Düsen, angeordnet sein. Je nach Bedarf, etwa wenn ein Verlängerungselement verwendet wird oder derglei­ chen, kann auch eine andere Düsenanzahl sinnvoll sein.
Erfindungsgemäß können die Düsen 1 bis 10 Düsenöffnungen auf­ weisen, die vorzugsweise über den Umfang der Innenrohre aus­ gebildet sind. Die Düsenöffnungen können beispielsweise einen Durchmesser von 0.3 mm bis 1.0 mm aufweisen. Bevorzugte Durch­ messer der Düsenöffnungen liegen bei 0.5 mm und 0.7 mm. Der ge­ wählte Durchmesser der Düsenöffnungen hängt unter anderem von der Anzahl der Düsenöffnungen pro Düse ab. In bevorzugter Ausgestaltung können beispielsweise 1, 3 oder 10 Düsenöffnun­ gen pro Düse vorgesehen sein. Die Anzahl der Düsenöffnungen richtet sich insbesondere nach der Geometrie der zu spülenden Rohre sowie nach den Bereichen der Rohre, die mit der Reini­ gungsflüssigkeit erreicht werden sollen. Bei Verwendung von 10 Düsenöffnungen, die an einer einzigen Position des Innen­ rohrs über dessen gesamten Umfang an dieser Stelle verteilt sind, läßt sich beispielsweise das Seitenrohr oder Hauptab­ zugsrohr in seinem gesamten Querschnitt gleichmäßig spülen.
In weiterer Ausgestaltung kann das Seitenrohr und/oder das Abzugsrohr aus PVDF-Kunststoff (Polyvinylidenfluorid)oder ei­ nem anderen chemisch inerten Kunststoff gebildet sein. Durch dieses besondere Material wird eine mögliche Partikelkontami­ nation weiter reduziert.
Das Hauptabzugsrohr kann vorteilhaft aus PCV-Kunststoff (Po­ lyvinylchlorid) oder einem anderen Kunststoff gebildet sein. Insbesondere kann das Hauptabzugsrohr auch aus PVDF- Kunststoff gebildet sein.
Erfindungsgemäß kann die Reinigungsflüssigkeit DI-Wasser (delonisiertes beziehungsweise demineralisiertes Wasser) sein. Vorteilhaft ist auch die Verwendung von mit Netzmittel­ zusammensetzungen versehenes DI-Wasser. Je nach Anwendungsfall können auch andere Reinigungsflüssigkeiten mit bestimmten chemischen Zusammensetzungen verwendet werden.
Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein System zum Behandeln von elektrischen Bauelementen, vor­ zugsweise Wafern, bereitgestellt, mit wenigstens einer Be­ handlungseinrichtung zum Behandeln der elektrischen Bauele­ mente, insbesondere einer Sprüheinrichtung zum Reinigen der elektrischen Bauelemente, und mit einer wie vorstehend be­ schriebenen erfindungsgemäßen Abzugsvorrichtung.
Durch ein solches System können die elektrischen Bauelemente auf einfache Weise so gründlich gereinigt werden, daß eine Kontaminierung mit Partikeln von größer oder gleich 0.16 µm Durchmesser nahezu verhindert werden kann, insbesondere auf maximal zehn zusätzliche Partikel auf 200 mm-Wafern. Somit können die Ausschußraten der elektrischen Bauelemente sowie eventuelle Stillstandszeiten des Systems erheblich reduziert werden.
Das erfindungsgemäße System kann grundsätzlich zur Behandlung für jede Form von elektrischen Bauelementen verwendet werden. Bevorzugt wird das System jedoch bei der Behandlung von Mi­ kroelektronikbausteinen, Wafern oder dergleichen eingesetzt.
Pro System können eine oder mehrere Behandlungseinrichtungen vorgesehen sein, die entweder mit derselben oder unterschied­ lichen Abzugsvorrichtungen verbunden sein können.
Da ein wesentliches Merkmal des Systems in der besonders aus­ gestalteten Abzugsvorrichtung liegt, wird im Hinblick auf die Vorteile, Wirkungen, Effekte und die Funktionsweise des er­ findungsgemäßen Systems auf die vorstehenden Ausführungen zur Abzugsvorrichtung vollinhaltlich Bezug genommen und hiermit verwiesen.
Bevorzugte Ausführungsformen des Systems ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Erfindungsgemäß kann die Behandlungseinrichtung innerhalb ei­ nes Reinraums angeordnet sein, während die Abzugsvorrichtung außerhalb des Reinraums angeordnet sein kann. Dadurch kann der Reinraum möglichst klein gehalten werden. Außerdem sind eventuelle Arbeiten an der Abzugsvorrichtung möglich, ohne daß die Atmosphäre des Reinraums kontaminiert wird. Natürlich kann die Abzugsvorrichtung unter geeigneten Reinraum- Schutzmaßnahmen auch innerhalb des Reinraums angeordnet sein.
In weiterer Ausgestaltung ist das Hauptabzugsrohr der Abzugs­ vorrichtung über das Abzugsrohr mit dem Reinraum verbunden, wodurch sich die oben beschriebenen vorteilhaften Effekte er­ geben.
Erfindungsgemäß kann das Hauptabzugsrohr mit einem Kamin ver­ bunden sein. Über den Kamin werden die aus der Behandlungs­ einrichtung abgesaugten Partikel nach außen abgegeben. Um zu verhindern, daß schädliche Gase in die Umwelt freigesetzt werden, ist das Hauptabzugsrohr vorzugsweise über den Gas­ wäscher mit dem Kamin verbunden.
Vorteilhaft ist jede der Behandlungseinrichtungen über einen zusätzlichen separaten Abzug direkt mit dem Kamin verbunden. Dadurch kann ein Rückstrom von Partikeln in die Behandlungs­ kammer der Behandlungseinrichtung noch vollständiger vermie­ den werden.
In weiterer Ausgestaltung kann zur Unterstützung des Absaug­ vorgangs ein Motor vorgesehen sein. Über den Motor, der bei­ spielsweise eine Einstellung von 8 m/s aufweisen kann, wird der Strom der Abluft vom Seitenrohr und dem Hauptabzugsrohr hin zum Kamin geregelt.
Erfindungsgemäß kann das System zum Reinigen von Wafern, ins­ besondere zum Reinigen der Wafer von Partikeln von größer oder gleich 0.16 µm, verwendet werden.
Die erfindungsgemäße Abzugsvorrichtung sowie das erfindungs­ gemäße System sind besonders geeignet bei heißen chemischen Prozessen, wie beispielsweise der Entfernung von Photore­ sistrückständen unter Verwendung von konzentrierten Schwefel­ säuregemischen, wo Temperaturen von über 100°C in einer Sprühkammer erreicht werden und zum Angriff der Kunststoff­ teile führen. Weiterhin eignet sich die Abzugsvorrichtung hervorragend bei Prozessen, bei denen in der Gasphase durch eine chemische Reaktion, beispielsweise Salzbildung, die Er­ zeugung von Partikeln stattfindet, was durch Rückstrom eine Kontamination der elektrischen Bauelemente, beispielsweise Wafer, zur Folge hätte. Besonders geeignet ist die Abzugsvor­ richtung und das System auch für Prozesse, bei denen unter Verwendung von Ammoniak und Salzsäure (SC1/SC2-Prozesse) Halbleiterstrukturen von organischen und anorganischen Verun­ reinigungen gereinigt werden.
Gemäß einem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zum Absaugen und/oder Abspülen von Partikeln aus einer Behandlungseinrichtung eines wie vorstehend be­ schriebenen Systems zum Behandeln von elektrischen Bauelemen­ ten, vorzugsweise Wafern, unter Verwendung einer wie vorste­ hend beschriebenen Abzugsvorrichtung, bereitgestellt, das er­ findungsgemäß durch folgende Schritte gekennzeichnet ist: a) Absaugen der Partikel aus der Behandlungseinrichtung während des Behandlungsprozesses über das Seitenrohr in das Hauptab­ zugsrohr und Ableiten der abgesaugten Partikel zum Kamin, vorzugsweise über den Gaswäscher, wobei zur Unterstützung des Abzugsvorgangs Luft aus dem Reinraum über das Abzugsrohr in das Hauptabzugsrohr angesaugt wird; b) nach Beendigung des Behandlungsprozesses Einleiten von Reinigungsflüssigkeit in die Innenrohre des Seitenrohrs und des Hauptabzugsrohrs und Einspritzen der Reinigungsflüssigkeit über die jeweiligen Dü­ sen in das Seitenrohr und das Hauptabzugsrohr, um diese zu spülen; und c) Ableiten der Reinigungsflüssigkeit aus dem Seitenrohr und dem Hauptabzugsrohr nach Beendigung des Spül­ vorgangs.
Durch das erfindungsgemäße Verfahren kann eine Reinigung der elektrischen Bauelemente und der Behandlungseinrichtung vor­ genommen werden, ohne daß es zu der wie oben beschriebenen schädlichen Kontamination der elektrischen Bauelemente kommen kann. Zu den Vorteilen, Wirkungen, Effekten und der Funkti­ onsweise des Verfahrens wird wiederum auf die vorstehenden Ausführungen zur Abzugsvorrichtung und zum System vollinhalt­ lich Bezug genommen und hiermit verwiesen.
Am Ende eines Behandlungszyklusses wird die gesamte Abzugs­ vorrichtung mit Reinigungsflüssigkeit geflutet. Durch diese Tatsache, sowie die besondere Ausgestaltung der Abzugsvor­ richtung und des Systems wird erreicht, daß die Kontamination mit Partikeln von größer oder gleich 0.16 µm minimiert werden kann.
Die zur Reinigung verwendete Reinigungsflüssigkeit kann di­ rekt in einen Abflußkanal abgeleitet werden, der sich unter­ halb der Behandlungseinrichtung befindet.
Bevorzugte Ausführungsformen des Verfahrens ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Vorteilhaft kann die Spülung des Seitenrohrs und des Hauptab­ zugsrohrs über einen Zeitraum von 0.5 bis 10 Minuten, vor­ zugsweise 2 Minuten, durchgeführt werden. Bei extremen Pro­ zessen ist eventuell auch eine Dauerspülung denkbar.
Erfindungsgemäß kann die Spülung der Abzugsvorrichtung über die Öffnung des Deckels in der Behandlungseinrichtung ausge­ löst werden. Damit wird sichergestellt, daß die Spülung und Reinigung automatisch und unmittelbar nach Beendigung des Be­ handlungsprozesses in der Behandlungseinrichtung begonnen wird.
Um Kontaminationen der Produkte durch elektrostatische Aufla­ dungen der im System verwendeten Kunststoffe zu vermeiden, können die elektrostatischen Ladungen 1 bis 5 Minuten (im Idealfall 2 Minuten) am Ende einer jeden Reinigungsfahrt durch den Einsatz von elektrostatischen Deionisatoren kompen­ siert werden. Es können je nach Sprüheinrichtung beziehungs­ weise Behandlungseinrichtung 5 bis 20 Deionisatoren vorgese­ hen sein, die in einem Abstand von 0.5 bis cm, vorzugsweise 10 cm, in einer Höhe von 0.5 bis 5 m, vorzugsweise 1.5 m, über der Kammer der Behandlungseinrichtung angeordnet sind. Die Deionisation erfolgt automatisch nach dem Öffnen des Deckels von der Behandlungseinrichtung. Anschließend läuft ein Count­ down ab, der dem Operator beziehungsweise einem automatischen Entladesystem nach erfolgter Deionisationszeit grünes Licht zum Entladen der Behandlungseinrichtung gibt.
Vorteilhaft wird der Druck der Gasphase im Hauptabzugsrohr auf 2.03 cm (0.8 Inch) bis 4.4 cm (1.7 Inch)/Wassersäule, vor­ zugsweise auf 3.81 cm (1.5 Inch)/Wassersäule eingestellt.
Erfindungsgemäß kann der Gaswäscher mit 5 Liter/Minute Reini­ gungsflüssigkeit unter ständigem Durchfluß gehalten werden.
Die Erfindung wird nun anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die beiliegende Zeichnung näher beschrieben. Es zeigt:
Fig. 1 in schematischer Ansicht ein System zum Behandeln von elektrischen Bauelementen gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 in schematischer Seitenansicht ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Seitenrohrs; und
Fig. 3 in schematischer Draufsicht ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Hauptabzugsrohrs.
In Fig. 1 ist ein System 10 zur Behandlung von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern dargestellt. Das System 10 weist eine Behandlungseinrichtung 11 auf, die im vorliegenden Fall als Sprüheinrichtung zum chemischen Reinigen der Wafer ausgebildet ist. Das System 10 kann eine oder mehrere solcher Sprüheinrichtungen 11 aufweisen. Die Sprüheinrichtung 11 ist innerhalb eines Reinraums 12 angeordnet. Außerhalb des Rein­ raums 12 ist eine Abzugsvorrichtung 20 vorgesehen, um Parti­ kel von größer oder gleich 0.16 pm aus der Sprüheinrichtung 11 abzusaugen. Dadurch kann eine wie oben beschriebene nachtei­ lige Kontaminierung der Wafer verhindert werden.
Die Abzugsvorrichtung 20 weist ein Hauptabzugsrohr 50 auf, daß über ein Seitenrohr 30 mit der Sprüheinrichtung 11 ver­ bunden ist. Über das Seitenrohr 30 werden die Partikel aus der Sprüheinrichtung 11 abgesaugt und in das Hauptabzugsrohr 50 geleitet. Zur Unterstützung des Absaugvorgangs ist weiter­ hin ein Abzugsrohr 21 vorgesehen, das auf der einen Seite mit dem Hauptabzugsrohr 50 und auf der anderen Seite mit dem Reinraum 12 verbunden ist. Durch die angesaugte Reinraumluft wird gewährleistet, daß keine schädlichen Partikel in die Ab­ saugvorrichtung 20 zurück diffundieren können.
Das Hauptabzugsrohr 50 ist weiterhin über ein Rohr 23 mit ei­ nem Gaswäscher 22 verbunden, der mit 5 Liter/Minute deminera­ lisiertes Wasser unter ständigem Durchfluß gehalten wird. Durch den Gaswäscher wird verhindert, daß abgesaugte saure oder basische Gase in die Umwelt freigesetzt werden können.
Der Gaswäscher 22 ist über ein weiteres Rohr 25 mit einem im oberen Stockwerk 13 des Systems 10 befindlichen Motor 16 ver­ bunden. Der Motor 16, der auf 8 m/s eingestellt ist, regelt den Abzug der abgesaugten Gase hin zum Kamin 15, der auf dem Dach 14 des Systems 10 angeordnet ist. Das demineralisierte Wasser wird aus dem Gaswäscher 22 über ein Abflußrohr 24 aus dem System 10 abgeleitet.
Das Seitenrohr 30 und das Abzugsrohr 21 sind aus PVDF- Kunststoff gebildet, während das Hauptabzugsrohr 50 aus PVC- Kunststoff hergestellt ist.
Das Seitenrohr 30 ist in Fig. 2 näher dargestellt. Wie aus dieser Figur zu ersehen ist, besteht das Seitenrohr 30 aus einem Außenrohr 31 mit einem Durchmesser von 90 mm und einem Innenrohr 32 mit einem Durchmesser von 20 mm.
Das Seitenrohr 30 setzt sich aus drei Teilbereichen 33, 34, 35 zusammen, die in einem Winkel α von 142°30' zueinander ausgerichtet sind.
Um das Seitenrohr 30 auf einfache Weise mit der Sprüheinrich­ tung 11 verbinden zu können, ist am Teilbereich 35 ein Ver­ längerungselement 36 vorgesehen. Über den Teilbereich 33 ist das Seitenrohr mit dem Hauptabzugsrohr 50 verbunden. Diese Verbindung erfolgt über eine Manschette 38 sowie zwei Halte­ bügel 39, wodurch ein sicherer und dichter Sitz gewährleistet wird. Weiterhin ist ein transparentes Verbindungsrohr 40 vor­ gesehen.
Das Innenrohr 32 des Seitenrohrs 30 weist insgesamt 11 Düsen 37 auf. Die Düsen 37 sind im Teilbereich 33 im Abstand von 20 cm und in den Teilbereichen 34 und 35 im Abstand von je­ weils 5 cm voneinander angeordnet. Die Düsen 37 können jeweils eine, drei oder zehn Düsenöffnungen aufweisen, die einen Durchmesser von 0.5 mm aufweisen. Die einzelnen Düsenöffnungen von jeder Düse 37 sind über den Umfang des Innenrohrs 32 ver­ teilt in diesem ausgebildet.
In Fig. 3 ist das Hauptabzugsrohr 50 in größerem Detail darge­ stellt. Das Hauptabzugsrohr weist ein Außenrohr 51 sowie ein Innenrohr 52 mit einem Durchmesser von 25 mm auf. Im Innenrohr 52 sind insgesamt 11 Düsen 53 angeordnet, die jeweils einen Abstand von 5 cm voneinander haben und eine wie oben beschrie­ bene Anzahl von Düsenöffnungen aufweisen können.
Das Hauptabzugsrohr 50 ist über einen Anschluß 54 mit dem Ab­ zugsrohr 21 und über einen Anschluß 55 mit einem Motor zur Unterstützung des Absaugvorgangs verbunden.
Das Hauptabzugsrohr 50 und das Seitenrohr 30 sind in einem Winkel von 30° miteinander verbunden.
Die Innenrohre 32 und 52 sind mit einer Quelle einer Reini­ gungsflüssigkeit, hier demineralisiertes Wasser, verbunden. Wie in Fig. 3 dargestellt ist, sind die Innenrohre 32 und 52 auch untereinander verbunden, so daß nur eine Zuleitung zur Quelle der Reinigungsflüssigkeit erforderlich ist. Der Druck der Gasphase im Hauptabzugsrohr 50 ist auf 3.81 cm/Wassersäule eingestellt. Der Druck kann über ein Manometer kontrolliert werden, das über einen Anschluß 56 mit dem Hauptabzugsrohr 50 verbunden ist.
Nachfolgend wird nun die Funktionsweise des Systems 10 be­ schrieben.
Während des Behandlungsprozesses der Wafer in der Sprühein­ richtung 11 werden alle entstehenden Partikel über das Sei­ tenrohr 30 in das Hauptabzugsrohr 50 abgesaugt und von diesem über das Rohr 23 in den Gaswäscher 22 geleitet. Durch die Reinigung im Gaswäscher 22 sowie das Ansaugen von Reinraum­ luft über das Abzugsrohr 21 wird ein Diffundieren von Parti­ keln zurück in die Sprüheinrichtung 11 verhindert. Das im Gaswäscher 22 gereinigte Abgas wird über den Motor 16 zum Ka­ min 15 abgezogen und über diesen in die Umgebung freigesetzt. Zum besseren Absaugen der Partikel aus der Sprüheinrichtung 11 kann diese zusätzlich über einen weiteren separaten Abzug mit dem Kamin 15 verbunden sein.
Nach Beendigung des Behandlungsprozesses wird der Deckel (nicht dargestellt) der Sprüheinrichtung 11 geöffnet, wo­ durch automatisch ein Spülvorgang der Abzugsvorrichtung 20 in Gang gesetzt wird. Gleichzeitig werden die elektrostatischen Aufladungen durch die oben beschriebenen Deionisatoren (Ioni­ sationsbarrieren) über dem geöffneten Deckel kompensiert. Zum Spülen der Abzugsvorrichtung wird demineralisiertes Wasser als Reinigungsflüssigkeit in die Innenrohre 32, 52 eingelei­ tet und über die Düsen 37, 53 in das Seitenrohr 30 und das Hauptabzugsrohr 50 eingespritzt. Dadurch werden das Seiten­ rohr 30 und das Hauptabzugsrohr 50 gespült, so daß keine Par­ tikel mehr zurück in die Sprüheinrichtung 11 gelangen können. Dieser Spülvorgang wird für die Dauer von zwei Minuten durch­ geführt. Das abfließende demineralisierte Wasser wird direkt in einen Abwasserkanal geleitet, der unterhalb der Sprühein­ richtung 11 ausgebildet ist. Nach Beendigung des Spülvorgangs wird der Deckel der Sprüheinrichtung 11 geschlossen. An­ schließend kann der Behandlungsprozeß der Wafer in der Sprü­ heinrichtung erneut gestartet werden.
Bezugszeichenliste
10
System
11
Behandlungseinrichtung
12
Reinraum
13
oberes Stockwerk
14
Dach
15
Kamin
16
Motor
17
Rohr
20
Abzugsvorrichtung
21
Abzugsrohr
22
Gaswäscher
23
Rohr
24
Abflußrohr
25
Rohr
30
Seitenrohr
31
Außenrohr
32
Innenrohr
33
Teilbereich
34
Teilbereich
35
Teilbereich
36
Verlängerung
37
Düse
38
Manschette
39
Bügel
40
Rohr
50
Hauptabzugsrohr
51
Außenrohr
52
Innenrohr
53
Düse
54
Anschluß für Abzugsrohr
55
Anschluß für Motor
56
Anschluß für Manometer

Claims (29)

1. Abzugsvorrichtung für eine Behandlungseinrichtung (11) von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern, insbesondere für eine Sprüheinrichtung zum Reinigen von elektrischen Bau­ elementen, zum Absaugen und/oder Abspülen von in der Behand­ lungseinrichtung (11) befindlichen Partikeln, mit einem Hauptabzugsrohr (50), das ein Außenrohr (51) und ein Innen­ rohr (52) aufweist, wobei das Innenrohr (52) eine Anzahl von Düsen (53) aufweist, mit einem Seitenrohr 30), das die Be­ handlungseinrichtung (11) mit dem Hauptabzugsrohr (50) ver­ bindet, und das ein Außenrohr (31) und ein Innenrohr (32) aufweist, wobei das Innenrohr (32) eine Anzahl von Düsen (37) aufweist, wobei die Innenrohre (832, 52) mit einer Quelle ei­ ner Reinigungsflüssigkeit verbunden sind, so daß die Innen­ rohre (32, 52) zumindest zeitweilig von einer Reinigungsflüs­ sigkeit durchströmt werden.
2. Abzugsvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Seitenrohr (30) ein Außenrohr (31) mit einem Durch­ messer von 90 mm und/oder ein Innenrohr (32) mit einem Durch­ messer von 20 mm aufweist.
3. Abzugsvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Seitenrohr (30) aus zwei oder mehr Teilbereichen (33, 34, 35) gebildet ist und daß die Teilbereiche (33, 34, 35) winkelig zueinander ausgerichtet sind.
4. Abzugsvorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Teilbereiche (33, 34, 35) in einem Winkel (α) zwi­ schen 135° und 155°, vorzugsweise zwischen 140° und 145°, insbesondere in einem Winkel von 142°30' zueinander ausge­ richtet sind.
5. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens einer der randseitigen Teilbereiche (33, 35) des Seitenrohrs (30) mit einem Verlängerungselement (36) ver­ bunden ist.
6. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) ein Innenrohr (52) mit einem Durchmesser von 25 mm aufweist.
7. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) und das Seitenrohr (30) in einem Winkel von 25° bis 40°, vorzugsweise von 30°, miteinander verbunden sind.
8. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) mit einem weiteren Abzugsrohr (21) verbunden ist, wobei das Abzugsrohr (21) mit einem Rein­ raum verbunden oder verbindbar ist.
9. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) mit einem Gaswäscher (22) ver­ bunden ist.
10. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Düsen (37, 53) der Innenrohre (32, 52) in einem Ab­ stand von 5 bis 20 cm voneinander angeordnet sind.
11. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß in den Innenrohren (32, 52) jeweils 10 bis 15, vorzugs­ weise 11, Düsen (37, 53) vorgesehen sind.
12. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Düsen (37, 53) 1 bis 10 Düsenöffnungen aufweisen und daß die Düsenöffnungen vorzugsweise über den Umfang der In­ nenrohre (32, 52) verteilt ausgebildet sind.
13. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß das Seitenrohr (30) und/oder das Abzugsrohr (21) aus PVDF-Kunststoff oder einem anderen chemisch inerten Kunst­ stoff gebildet ist.
14. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) aus PVC-Kunststoff oder einem anderen Kunststoff gebildet ist.
15. Abzugsvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Reinigungsflüssigkeit DI-Wasser, vorzugsweise mit Netzmittel vermischtes DI-Wasser, ist.
16. System zum Behandeln von elektrischen Bauelementen, vor­ zugsweise Wafern, mit wenigstens einer Behandlungseinrichtung (11) zum Behandeln der elektrischen Bauelemente, insbesondere wenigstens einer Sprüheinrichtung zum Reinigen der elektri­ schen Bauelemente, und mit einer Abzugsvorrichtung (20) nach einem der Ansprüche 1 bis 15.
17. System nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Behandlungseinrichtung (11) innerhalb eines Reinraums (12) vorgesehen ist und daß die Abzugsvorrichtung (20) außer­ halb des Reinraums (12) vorgesehen ist.
18. System nach Anspruch 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) der Abzugsvorrichtung (20) über das Abzugsrohr (21) mit dem Reinraum (12) verbunden ist.
19. System nach einem der Ansprüche 16 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß das Hauptabzugsrohr (50) mit einem Kamin (15), vorzugs­ weise über den Gaswäscher (22), verbunden ist.
20. System nach einem der Ansprüche 16 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß jeder der Behandlungseinrichtungen (11) über einen zu­ sätzlichen separaten Abzug direkt mit dem Kamin (15) verbun­ den ist.
21. System nach einem der Ansprüche 16 bis 20, dadurch gekennzeichnet, daß zur Unterstützung des Absaugvorgangs ein Motor (16) vor­ gesehen ist.
22. System nach einem der Ansprüche 16 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß zur Kompensation von elektrostatischen Aufladungen 5 bis 20 Deionisatoren vorgesehen sind, die in einem Abstand von 1 bis 20 cm, vorzugsweise 10 cm, in einer Höhe von 0.5 bis 5 m, vorzugsweise 1.5 m, über der Behandlungskammer der Behand­ lungseinrichtung (11) angeordnet sind.
23. System nach einem der Ansprüche 16 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß das System (10) zum Reinigen von Wafern, insbesondere zum Reinigen der Wafer von Partikeln von größer oder gleich 0.16 µm Durchmesser verwendet wird.
24. Verfahren zum Absaugen und/oder Abspülen von Partikeln aus einer Behandlungseinrichtung eines Systems zum Behandeln von elektrischen Bauelementen, vorzugsweise Wafern, nach ei­ nem der Ansprüche 16 bis 23, unter Verwendung einer Abzugs­ vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 15, gekennzeichnet durch folgende Schritte:
  • a) Absaugen der Partikel aus der Behandlungseinrichtung wäh­ rend des Behandlungsprozesses über das Seitenrohr und das Hauptabzugsrohr und Ableiten der abgesaugten Partikel zum Ka­ min. vorzugsweise über den Gaswäscher, wobei zur Unterstüt­ zung des Absaugvorgangs Luft aus dem Reinraum über das Ab­ zugsrohr in das Hauptabzugsrohr angesaugt wird;
  • b) nach Beendigung des Behandlungsprozesses Einleiten von Reinigungsflüssigkeit in die Innenrohre des Seitenrohrs und des Hauptabzugsrohrs und Einspritzen der Reinigungsflüssig­ keit über die jeweiligen Düsen in das Seitenrohr und das Hauptabzugsrohr, um diese zu spülen; und
  • c) Ableiten der Reinigungsflüssigkeit aus dem Seitenrohr und dem Hauptabzugsrohr nach Beendigung des Spülvorgangs.
25. Verfahren nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß die Spülung des Seitenrohrs und des Hauptabzugsrohrs über einen Zeitraum von 0.5 bis 10 Minuten, vorzugsweise 2 Minu­ ten, durchgeführt wird.
26. Verfahren nach Anspruch 24 oder 25, dadurch gekennzeichnet, daß die Spülung der Abzugsvorrichtung über die Öffnung eines Deckels in der Behandlungseinrichtung ausgelöst wird.
27. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 26, dadurch gekennzeichnet, daß elektrostatische Aufladungen über die Deionisatoren kom­ pensiert werden und daß der Deionisationsprozeß insbesondere durch das Öffnen des Deckels in der Behandlungseinrichtung ausgelöst wird.
28. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 27, dadurch gekennzeichnet, daß der Druck der Gasphase im Hauptabzugsrohr auf 2.03 bis 4.3 cm/Wassersäule, vorzugsweise auf 3.81 cm/Wassersäule, ein­ gestellt wird.
29. Verfahren nach einem der Ansprüche 24 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß der Gaswäscher mit 5 Liter/Minute Reinigungsflüssigkeit unter ständigem Durchfluß gehalten wird.
DE19906224A 1999-02-15 1999-02-15 Abzugsvorrichtung Expired - Fee Related DE19906224B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19906224A DE19906224B4 (de) 1999-02-15 1999-02-15 Abzugsvorrichtung
US09/504,274 US6443171B1 (en) 1999-02-15 2000-02-15 Exhaust apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19906224A DE19906224B4 (de) 1999-02-15 1999-02-15 Abzugsvorrichtung

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19906224A1 true DE19906224A1 (de) 2000-08-24
DE19906224B4 DE19906224B4 (de) 2006-05-24

Family

ID=7897523

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19906224A Expired - Fee Related DE19906224B4 (de) 1999-02-15 1999-02-15 Abzugsvorrichtung

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6443171B1 (de)
DE (1) DE19906224B4 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016020242A1 (de) * 2014-08-05 2016-02-11 Robert Bosch Gmbh Verfahren und vorrichtung zum bearbeiten eines halbleitermaterials

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7410088B2 (en) * 2003-09-05 2008-08-12 Matsushita Electric Industrial, Co., Ltd. Solder preform for low heat stress laser solder attachment
US7263260B2 (en) * 2005-03-14 2007-08-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Low cost, high precision multi-point optical component attachment

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08107097A (ja) * 1994-10-04 1996-04-23 Ryoden Semiconductor Syst Eng Kk 排気システム

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4634312A (en) * 1983-05-11 1987-01-06 Erich Sterzel Self cleaning drain gutter or pipe
US4899770A (en) * 1987-04-30 1990-02-13 Wilson R E Apparatus for preventing deterioration of concrete pipe
JP3262623B2 (ja) * 1993-02-17 2002-03-04 東京エレクトロン株式会社 減圧処理方法及び装置
US5747775A (en) * 1993-10-14 1998-05-05 Fujimak Corporation High speed oven
JP3125207B2 (ja) * 1995-07-07 2001-01-15 東京エレクトロン株式会社 真空処理装置
US5972078A (en) * 1997-07-31 1999-10-26 Fsi International, Inc. Exhaust rinse manifold for use with a coating apparatus

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08107097A (ja) * 1994-10-04 1996-04-23 Ryoden Semiconductor Syst Eng Kk 排気システム

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP 01111338 A. In: Patent Abstracts of Japan *
JP 06291103 A. In: Patent Abstracts of Japan *
JP 11029871 A. In: Patent Abstracts of Japan *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016020242A1 (de) * 2014-08-05 2016-02-11 Robert Bosch Gmbh Verfahren und vorrichtung zum bearbeiten eines halbleitermaterials

Also Published As

Publication number Publication date
US6443171B1 (en) 2002-09-03
DE19906224B4 (de) 2006-05-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4332857C2 (de) Halbleiterreinigungsvorrichtung
DE502006011143C5 (de) Reinigungsanlage
DE10019472B4 (de) Reinigungsvorrichtung
DE60319294T2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Substratbehandlung
DE3523532A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum bearbeiten von substratflaechen in einem chemischen bearbeitungssystem zur herstellung elektronischer vorrichtungen
EP3168329B1 (de) Beizverfahren und beizanlage
EP0044567A1 (de) Verfahren zur einseitigen Ätzung von Halbleiterscheiben
DE10038219A1 (de) Reinigungseinrichtung, Reinigungssystem, Behandlungseinrichtung und Behandlungsverfahren
DE3716257A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum auffangen verschmutzter substanzen
DE10020523B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bearbeitung eines Gegenstandes
EP3261783B1 (de) Anlage und verfahren für das behandeln eines werkstücks
EP4241302A1 (de) Vorrichtung zum reinigen von topfförmigen hohlkörpern, insbesondere von transportbehältern für halbleiterwafer oder für euv-lithografie-masken
DE19906224A1 (de) Abzugsvorrichtung
DE19544074A1 (de) Automatisch arbeitende Reinigungsanlage für Werkstücke
DE10118167B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Reinigung von Halbleiterwafern
DE19925655A1 (de) Reinigungseinrichtung
WO2017029033A1 (de) Anlage und verfahren für das behandeln eines werkstücks mit einem prozessfluid
EP0027980B1 (de) Verfahren und Einrichtung zur Spülung, Reinigung, Desinfektion und Innenbeschichtung einer Rohrleitung, insbesondere einer Wasserleitung in einem Neubau
WO2009077199A2 (de) VERFAHREN UND ANLAGE ZUM BEARBEITEN BZW. REINIGEN VON Si-BLÖCKEN
WO2018069342A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum reinigen eines werkstücks
DE102012009118B4 (de) Vorrichtung zum Mischen von Flüssigkeiten
EP0992294A2 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Umspülung von Stabelementen
EP0361129A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Reinigen von Flaschen
DE4112914C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Regenerieren schadstoffbelasteter Teile
DE102015108704B4 (de) Spüllanze

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: INFINEON TECHNOLOGIES AG, 81669 MUENCHEN, DE

8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee