DE19847977A1 - In-situ Wellenlängenkorrekturvorrichtung - Google Patents
In-situ WellenlängenkorrekturvorrichtungInfo
- Publication number
- DE19847977A1 DE19847977A1 DE19847977A DE19847977A DE19847977A1 DE 19847977 A1 DE19847977 A1 DE 19847977A1 DE 19847977 A DE19847977 A DE 19847977A DE 19847977 A DE19847977 A DE 19847977A DE 19847977 A1 DE19847977 A1 DE 19847977A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- optical
- wavelength
- output
- spectrometer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 59
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 14
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 29
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 19
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 9
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 3
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 3
- 238000003079 width control Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 230000003203 everyday effect Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/06—Scanning arrangements arrangements for order-selection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J3/1804—Plane gratings
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/2866—Markers; Calibrating of scan
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Mechanical Light Control Or Optical Switches (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Wellenkorrekturvorrichtung, insbesondere eine
kompakte Wellenlängenkorrekturvorrichtung, die automatisch die Wellenlän
genabweichung detektiert und ausgleicht.
Es ist allgemein bekannt, daß ein optisches Spektrometer oder Spektral
meßgerät eine Vorrichtung zur Bestimmung von Wellenlängen- oder Fre
quenzkomponenten ist, die in einem Lichtstrahl einer Lichtquelle enthalten
sind.
Ein Spektralmeßgerät umfaßt einen Eingangsspalt zum Zuführen von zu
zerlegendem Licht, ein Beugungsgitterelement für die spektrale Dispersion
des Eingangslichts und einen Ausgangsspalt zur Ausgabe von lediglich ei
nem Teil der von dem Beugungsgitter getrennten Wellen.
Um ein Lichtspektrum, das beispielsweise für Kommunikationszwecke dient,
zu bestimmen, bestimmt der Operator zunächst den abzutastenden
("scanned") Frequenzbereich, wobei die aus dem Ausgangsspalt heraustre
tenden Wellenkomponenten, während das Beugungsgitter bezüglich des
Eingangslichts gedreht wird, in Abhängigkeit von der Zeit gemessen werden.
Die Winkelfrequenz des Beugungsgitters und die optische Frequenz stehen
direkt in einem Eins-zu-Eins-Verhältnis, so daß die Ausgabedaten in Bezie
hung zu dem Spektrum des Eingangslichts stehen.
Kürzlich ist aufgrund von Fortschritten in den optischen Kommunikations
technologien das Bedürfnis nach hoher Genauigkeit der Spektrometerlei
stungsgüte entstanden und, da die Spektralmeßgenauigkeit gesteigert wur
de, ist es notwendig geworden, mögliche Meßfehler, die durch Änderungen
der Umgebungsbedingungen der Meßvorrichtung auftreten (beispielsweise
Temperaturschwankungen innerhalb des Spektrometers), zu berücksichti
gen.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Wellen
längenkorrekturvorrichtung zu schaffen, die eine in-situ automatisch auszu
gleichende Abweichung zwischen einer Testwellenlänge und einer Refe
renzwellenlänge ermöglicht, indem ein in-situ-Spektrometer, das innerhalb
der Vorrichtung eingerichtet ist, verwendet wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe umfaßt die Wellenlängenkorrekturvorrichtung
zum Korrigieren einer Abweichung einer Testwellenlänge von einer Refe
renzwellenlänge: eine Referenzlichtquelle zum Aussenden von Referenzlicht
einer spezifischen Wellenlänge; einen Lichteingangsanschluß zum Einspei
sen von Testlicht, dessen Wellenlänge erforderlichenfalls zu messen und
auszugleichen ist; einen optischen Schalter zum Empfangen des Testlichts
und des Referenzlichts und zur Ausgabe entweder des Testlichts oder des
Referenzlichts von einem Ausgangsanschluß; einen Steuerungsbereich zum
Steuern der Betätigung der Referenzlichtquelle und des optischen Schalters;
und ein optisches Spektralmeßgerät zum Durchführen von automatischen
Messungen optischer Ausgangsspektren von dem optischen Schalter und
zum automatischen Aktivieren des Steuerungsbereichs zu von einem Opera
tor spezifizierten planmäßigen Zeiten.
Gemäß der Vorrichtung können die Korrekturschritte automatisch zu jeder
gewünschten Zeit stattfinden, wodurch der Korrekturvorgang signifikant er
leichtert und praktikabler wird.
Außerdem braucht der Einrichtungsraum nicht besonders groß zu sein, da
die Referenzlichtquelle von der Art ist, die eine kompakte Anordnung erlaubt,
so daß die Vorrichtung an viele praktische Situationen äußerst anpaßbar ist.
Da der Korrekturvorgang automatisch zu jeder gewünschten Zeit durchführ
bar ist, kann außerdem der Vorgang durchgeführt werden, auch wenn die
Vorrichtung gerade zur Durchführung von Spektralmessungen in Betrieb ist.
Das optische Spektralmeßgerät kann aufweisen: ein optisches Element zum
Transformieren von Eingangslicht eines Eingangsbereichs in paralleles Licht;
ein Beugungsgitter zur Aufnahme des parallelen Lichts und zum Erzeugen
räumlich getrennter Wellen; ein optisches Kondensorelement zum Bündeln
der räumlich getrennten Wellen auf einen Ausgangsspalt; einen Photodetek
tor zum Umwandeln von aus dem Ausgangsspalt austretendem Licht in elek
trische Signale; einen Wandlerbereich zum Wandeln analoger Ausgangs
signale von dem Photodetektor in digitale Signale; sowie einen Verarbei
tungsbereich zum Verändern eines Ausrichtungswinkels des Beugungsgitters
und zum Durchführen der Rechnerverarbeitung der digitalen Signale, um op
tische Spektren des Testlichts zu erzeugen.
Das optische Spektralmeßgerät kann ein Zeitgeber-Mittel mit Kalenderfunk
tionen aufweisen und den Steuerungsbereich gemäß den Ausgangssignalen
von dem Zeitgeber-Mittel zu planmäßigen Zeiten betätigen.
Das optische Spektralmeßgerät kann ein Zeitgeber-Mittel mit Kalenderfunk
tionen aufweisen und den Steuerungsbereich betätigen, wenn Ausgangs
signale von dem Zeitgeber-Mittel anzeigen, daß ein spezifisches Zeitintervall
seit Einschalten der Vorrichtung verstrichen ist.
Die Referenzlichtquelle kann umfassen: eine lichtemittierende Diode zum
Aussenden von Licht spezifischer Wellenlängen; ein optisches Element zum
Transformieren von aus der lichtemittierenden Diode austretendem Licht in
paralleles Licht; eine Gasabsorptionszelle zum Absorbieren von Licht einer
spezifischen Wellenlänge von durch das optische Element transmittiertem
Licht; ein Kondensorelement zum Bündeln des durch die Gasabsorptionszel
le transmittierten Lichts zur Eingabe in den optischen Schalter.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm der Anordnung einer Ausführungsform der
Wellenlängenkorrekturvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung,
Fig. 2 ein schematisches Diagramm eines optischen Spektralmeßgeräts 58,
Fig. 3 eine schematische Darstellung einer Referenzlichtquelle 62 sowie
Fig. 4 ein schematisches Diagramm der Anordnung eines herkömmlichen
optischen Spektralmeßgeräts, das die Grundlage der erfindungsge
mäßen optischen Spektralmeßvorrichtung bildet.
Bevor die Einzelheiten der vorliegenden Erfindung dargelegt werden, wird
zunächst eine optische Spektralerzeugungsvorrichtung erläutert, die die Ba
sis der vorliegenden Erfindung bildet.
Fig. 4 zeigt ein Blockdiagramm der prinzipiellen optischen Spektrometervor
richtung, auf der die vorliegende Erfindung beruht. Die Vorrichtung umfaßt
eine Lichtquelle 10, die Testlicht von zu zerlegenden Teilwellen verschiede
ner Wellenlängen einstrahlt, einen Eingangsspalt 12, der die Strahlbreite des
Ausgangslichts von der Lichtquelle 10 begrenzt, und einen Konkavspiegel
14, der das von dem Eingangsspalt 12 eingegebene Licht in paralleles Licht
transformiert.
Ein Beugungsgitter 16 weist eine Vielzahl von auf der Oberfläche angebrach
ten Furchen auf und trennt das parallele Licht in räumlich getrennte Wellen
verschiedener Wellenlängen. Das Beugungsgitter 16 ist auf einem Drehteller
17 angeordnet, der in den durch die bidirektionalen Pfeile D1 angezeigten
Richtungen hin- und herschwingbar ist, und schwingt übereinstimmend mit
dem Drehteller 17. Von den verschiedenen räumlich getrennten Wellen, die
von dem Beugungsgitter 16 erzeugt werden, werden nur die auf einen Kon
kavspiegel 18 eingestrahlten Wellen auf einen Ausgangsspalt 20 fokussiert,
der das Wellenlängenband des auf den Spaltort fokussierten Lichts begrenzt.
Der Eingangsspalt 12, der Konkavspiegel 14, das Beugungsgitter 16, der
Konkavspiegel 18 und der Ausgangsspalt 20 bilden ein verbreitetes Spek
trometer, das als Czerny-Turner-Typ bekannt ist.
Ein Photodetektor 22, wie beispielsweise eine Photodiode, wird verwendet,
um die optische Leistung des Ausgangslichts von dem Ausgangsspalt 20 in
elektrische Signale, die in einem Verstärker 24 verstärkt werden, umzuwan
deln. Die verstärkten Signale werden in einem Analog-Digital-Wandler
(nachstehend als A/D-Wandler bezeichnet) 26 in digitale Signale umgewan
delt.
In Fig. 4 betätigt ein Motor 28 den Drehteller 17, an dem das Beugungsgitter
16 befestigt ist, wobei durch Drehbewegung des Motors 28 in Richtung eines
bidirektionalen Pfeils D2 der Drehteller 17 und das Beugungsgitter 16 in den
durch den Pfeil D1 angezeigten Richtungen hin- und herschwingen. Ein Mo
tortreiber-Schaltkreis 30 wird verwendet, um die Drehbewegung der An
triebswelle 29 des Motors 28 gemäß den Ausgangssteuersignalen von einer
CPU 34 zu steuern. Einzelheiten der CPU 34 werden später erläutert.
Ein Spaltbreiten-Steuerungsgerät 32, das später beschrieben wird, ändert
die Breite des Ausgangsspalts 20 gemäß den Ausgangssteuersignalen von
der CPU 34.
Ein Anzeigegerät 36, wie beispielsweise eine Kathodenstrahlröhre ("cathode
ray tube", CRT) und eine Flüssigkristallanzeige, zeigt die resultierenden
Spektren an. Die CPU 34 ist über einen Bus B mit dem A/D-Wandler 26, dem
Motortreiberschaltkreis 30, dem Spaltbreitensteuerungsgerät 32 und dem
Anzeigegerät 36 verbunden, gibt Steuersignale zum Steuern der Betätigung
des Motortreiberschaltkreises 30 und des Spaltbreitensteuerungsgeräts 32
aus, verarbeitet digitale Ausgangssignale von dem A/D-Wandler 26 und zeigt
eine spektrale Verteilung beispielsweise auf dem Anzeigegerät 36 an.
Die Funktionsweise des Spektrometers wird nunmehr beschrieben. Aus
gangstestlicht von der Lichtquelle 10 wird auf den Eingangsspalt 12 einge
strahlt. Nach Durchführen durch den Eingangsspalt 12 wird das Licht in dem
Konkavspiegel 14 in paralleles Licht transformiert und dem Beugungsgitter
16 zugeführt. Das Beugungsgitter 16 wird mittels des Motors 28 um die Mit
telachse, die parallel zu einer Vielzahl von auf der Oberfläche geformten Fur
chen verläuft, gedreht und ist unter einem geeigneten Winkel bezüglich des
parallelen Lichts ausgerichtet. Der Ausrichtungswinkel wird durch Einwirken
des Motortreiberschaltkreises 30 gesteuert, der den Motor 28 gemäß den
Ausgangssteuersignalen von der CPU 34 steuert.
Das Beugungsgitter 16 trennt räumlich paralleles Licht in Wellen verschiede
ner Wellenlängen. Von den verschiedenen räumlich getrennten Wellen, die
von dem Beugungsgitter 16 erzeugt werden, werden lediglich jene Wellen,
die entsprechend dem Ausrichtungswinkel des Beugungsgitters 16 in Bezug
auf das parallele Licht erzeugt werden, auf den Konkavspiegel 18 geführt.
Der Konkavspiegel 18 bildet nur jene Wellen, die von dem Beugungsgitter 16
kommen, auf den Ausgangsspalt 20 ab. Es werden nur jene Wellen inner
halb des Bereichs des Ausgangsspalts 20 durchgelassen. Das Spaltbreiten
steuerungsgerät 32 wählt eine Breite des Ausgangsspalts 20 auf Befehl der
CPU 34 aus.
Der Photodetektor 22 empfängt das durch den Ausgangsspalt 20 durchge
lassene Licht und wandelt die Lichtleistung in elektrische Signale im Verhält
nis zur Lichtleistung um. Der Verstärker 24 verstärkt die analogen Signale
von dem Photodetektor 22 auf einen Spannungspegel, der mit der Funktion
des A/D-Wandlers 26 kompatibel ist. Der A/D-Wandler 26 wandelt die analo
gen Ausgangssignale von dem Verstärker 24 in digitale Signale um. Die digi
talen Ausgangssignale von dem A/D-Wandler 26 werden in die CPU 34 ein
gespeist und Rechenoperationen unterworfen. Die Ergebnisse der Berech
nung (zum Beispiel die Spektralverteilung) werden über den Bus B ausgege
ben, um auf dem Anzeigegerät 36 zur Anzeige gebracht zu werden. Das An
zeigegerät 36 zeigt die Ergebnisse gemäß den durch die CPU 34 durchge
führten Rechnungen an.
Desweiteren werden die Meßschritte erläutert. Zunächst gibt die CPU 34 ein
Steuersignal an das Spaltbreitensteuerungsgerät 32 aus, um eine Breite für
den Ausgangsspalt 20 auszuwählen. Dann gibt die CPU 34 an den Motor
treiberschaltkreis 30 den Befehl, den Ausrichtungswinkel des Beugungsgit
ters 16 zu verändern, um die durch den Ausgangsspalt 20 durchzulassenden
Wellenlängen auszuwählen, und empfängt Werte der optischen Leistung der
durchgelassenen Wellen in Form digitaler Ausgangssignale von dem
A/D-Wandler 26. Die CPU 34 gibt zum Abtasten von der Anfangswellenlänge bis
zur Endwellenlänge ("scan") Steuersignale an den Motortreiberschaltkreis 30
aus, wobei wiederholte Meßergebnisse eine charakteristische Kennkurve der
Wellenlängen und der entsprechenden optischen Leistungen ergeben, die
als ein optisches Spektrum eines vorgegebenen Wellenbereichs auf dem
Anzeigegerät 36 angezeigt werden.
Die in Fig. 4 dargestellte CPU 34 hat die Korrelation zwischen den Drehwin
keln des Motors 28 (Zahl der an den Motor 28 ausgegebenen Pulse) und den
durch den Ausgangsspalt 20 durchgelassenen Wellenlängen abgespeichert,
so daß eine von dem Operator angegebene Zielwellenlänge gemäß den
Speicherdaten einstellbar ist.
In der in Fig. 4 dargestellten spektrographischen Vorrichtung kann jedoch
aufgrund von geringfügigen Drifts beim Einstellen des Ausrichtungswinkels
des Beugungsgitters 16 und der Konkavspiegel 14, 18 (verursacht durch ge
ringfügige Änderungen der Umgebungstemperatur in der Vorrichtung und der
Betätigungsdauer des Treibergeräts für das Beugungsgitter 16) die ur
sprüngliche Korrelation zwischen den Wellenlängen für einen vorgegebenen
Ausrichtungswinkel des Motors 28 ungültig werden. Das bedeutet, daß, ob
wohl die CPU 34 eine Zielwellenlänge gemäß dem von dem Operator durch
Steuern des Winkels des Beugungsgitters 16 angegebenen Wert eingestellt
hat, die durch das Spektrometer durchgelassene tatsächliche Wellenlänge
davon verschieden sein kann.
Die dadurch erzeugte Abweichung der Ausgangswellenlänge ist durch erneu
tes Ausrichten des Beugungsgitters 16 ausgleichbar. In der Vergangenheit
wurde diese Korrekturaufgabe durchgeführt, indem eine monochromatische
Lichtquelle, wie beispielsweise ein Gaslaser, mit einer vorgegebenen Aus
gangswellenlänge verwendet wurde, so daß Referenzlicht von einer externen
Quelle in den Eingangsspalt 12 oder über eine optische Faser der in Fig. 4
dargestellten Vorrichtung, falls diese mit einem optischen Stecker versehen
ist, eingestrahlt werden kann. Das Ausgabespektrum von dem Ausgangs
spalt 20 wird dann bestimmt, wobei der Ausrichtungswinkel des Beugungsgit
ters 16 eingestellt wird, um die Wellenlängenabweichung auf Null zu reduzie
ren.
Es gibt Beispiele derartiger Korrekturarbeit, die während des Einstrahlens
von Laserlicht des Gaslasers in das Spektrometer durchgeführt wurde, wenn
der Operator an die CPU 34 die Anweisung gibt, das Spektrum zu erzeugen
und den Motortreiberschaltkreis 30 automatisch einzustellen, um den Winkel
des Motors 28 gemäß einem vorher geladenen Korrekturprogramm einzustel
len.
Diese Methode ist jedoch aufwendig, da für den Operator die Notwendigkeit
besteht, die Referenzlichtquelle an die Vorrichtung physikalisch anzuschlie
ßen, bevor die CPU 34 das Korrekturprogramm ausführen kann.
Bei der herkömmlichen Methode ist es ferner für den Operator erforderlich,
zu entscheiden, ob ein Korrekturvorgang notwendig ist, indem ständig die
seit der vorherigen Korrektur verstrichene Zeit abgefragt wird und in Erinne
rung gerufen wird, wie sich die Umgebungsbedingungen seit der vorherigen
Situation geändert haben.
Ferner sind Gaslaser im allgemeinen sehr sperrig (die Gesamtlänge kann bis
zu 1 m im Fall eines bei 1523 nm emittierenden He-Ne-Lasers betragen),
wobei es häufig schwierig ist, eine derartige Baugruppe dahin zu bringen, wo
ein Spektrometer installiert ist. Aus diesen Gründen ist es nicht möglich, eine
in-situ-Korrektur ("on-site") an einem installierten und in Betrieb befindlichen
Spektrometer durchzuführen.
Es gab zunehmende Bedürfnisse in solchen Gebieten, wie in der Wellenlän
genmultiplexsignal-Technologie ("wave division multiplexed signal technolo
gy"), den genauen Wert der Arbeitswellenlängen zu bestimmen, wobei eine
Spektralmeßvorrichtung in derartigen Applikationen erforderlich ist, um Drifts
in irgendwelchen Komponenten der Vorrichtung zu minimieren. Ferner gab
es zunehmende Bedürfnisse nach in-situ ("on-site") von Datenübertragungs
vorgängen einzusetzenden Spektrometern, so daß die Arbeitswellenlänge in
situ ("on-site") der Kommunikationsbaugruppe überprüft und ausgeglichen
werden kann.
Die erfindungsgemäße Wellenlängenkorrekturvorrichtung wurde im Hinblick
auf die vorstehend geschilderten Probleme entwickelt, so daß ein in-situ-
Spektralmeßgerät automatisch einen geringfügig von der Zielwellenlänge
wegführenden Drift in der Spektrometerleistungsgüte ausgleichen kann, in
dem das Arbeitslicht als Testlicht in die Vorrichtung eingeführt wird.
Eine Ausführungsform der erfindungsgemäßen Wellenkorrekturvorrichtung
wird nachstehend im einzelnen unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 3 erläu
tert werden.
Fig. 1 zeigt ein Blockdiagramm einer Ausführungsform der erfindungsgemä
ßen Wellenlängenkorrekturvorrichtung. In Fig. 1 wird ein Lichteinstrahlan
schluß 50 verwendet, um Arbeitslicht, dessen Wellenlänge auf Genauigkeit
zu überprüfen ist, zuzuführen. Eine Testlichtfaser 52 ist an den Lichtein
strahlanschluß 50 angeschlossen. Ein optischer Schalter 54 hat zwei Ein
gangsanschlüsse und einen Ausgangsanschluß und verbindet einen der
Eingangsanschlüsse mit dem Ausgangsanschluß auf Befehl eines Steue
rungsbereichs 60, der später beschrieben wird, und gibt Eingangslicht von
einem der beiden Eingangsanschlüsse aus.
Der Ausgangsanschluß des optischen Schalters 54 ist mit einem Ende einer
Faser 56 verbunden, wobei das andere Ende der Faser 56 mit einem Ein
gangsanschluß des optischen Spektralmeßgeräts 58 verbunden ist. Der Ein
gangsanschluß des optischen Spektralmeßgeräts 58 korrespondiert mit dem
Eingangsspalt 12 von Fig. 4. Fig. 2 zeigt ein Blockdiagramm des optischen
Spektralmeßgeräts 58, wobei jene Teile der Vorrichtung, die dieselben die
jene in Fig. 4 sind, mit denselben Bezugszeichen versehen sind, wobei deren
Erläuterungen weggelassen werden.
Wie in Fig. 2 dargestellt, weist das vorliegende optische Spektralmeßgerät
58 im wesentlichen diesselbe Konstruktion wie das in Fig. 4 dargestellte Ge
rät auf. Jedoch unterscheidet sich das vorliegende Gerät 58 von dem her
kömmlichen in Fig. 4 dargestellten Gerät in den folgenden Gesichtspunkten:
(i) ein Zeitgeber ("timer") 40 ist mit einer Datum/ Zeit-Abtastfunktion verse
hen, (ii) ein Bus B ist zum Senden von Steuersignalen von der CDU 34' zu
einem (später zu erläuternden) Steuerungsbereich 60 ausgebildet und (iii) die
CPU 34 wird durch die CPU 34' ersetzt, die Ausführungsprogramme zum
Justieren der Einstellung des Geräts 58 aufweist, um die genau an den Ziel
wert transmittierte Wellenlänge zu ändern.
Die CPU 34' führt ein Programm gemäß der chronologischen Datenausgabe
von dem Zeitgeber ("Timer") 40 aus, um das Gerät 58 gemäß der transmit
tierten Wellenlänge bei Aufsummieren eines bestimmten Umfangs des Gerä
tebetriebs oder in von dem Operator bestimmten Zeitintervallen (beispiels
weise in Intervallen von einer Stunde oder einem Tag) zu überprüfen und zu
korrigieren.
Unter nochmaliger Bezugnahme auf Fig. 1, die sich auf das vorliegende Ge
rät 58 bezieht, führt der Steuerungsbereich 60 das Schalten der Eingangs
anschlüsse des optischen Schalters 54 gemäß den Ausgangssteuersignalen
von dem Gerät 58 durch. Dabei gibt der Steuerungsbereich 60 Steuersignale
aus, um den Betrieb einer Referenzlichtquelle 62 gemäß den Steuersignalen
zu steuern. Ein Konstruktionsbeispiel der Referenzlichtquelle 62 ist in Fig. 3
dargestellt. Die Mittenwellenlänge des Ausgangslichts von der Referenzlicht
quelle 62 ist schon vorab in der CPU 34' des Geräts 58 gespeichert.
Fig. 3 zeigt eine Konstruktion der Referenzlichtquelle 62, die eine lichtemittie
rende Diode (LED) 100 und eine Linse 102 aufweist, um das Ausgangslicht
von der LED 100 in paralleles Licht zu transformieren.
Eine Gas-Absorptionszelle 104 absorbiert eine spezifische Wellenlänge und
kann beispielsweise mit Azetylen-Gas gefüllt sein. Die Funktionsgüte der Ab
sorptionszelle 104 ist ziemlich stabil und wird nicht durch Temperaturände
rungen oder andere Umgebungsbedingungen beeinflußt. Mit anderen Wor
ten, auch wenn sich die Umgebungstemperatur ändert, bleibt die Mittenwel
lenlänge der absorbierten Welle konstant. Die Länge der Absorptionszelle
104 beträgt etwa 20 mm. Das Ausgangslicht von der Absorptionszelle 104
wird mit einer Linse 106 gebündelt. Der Brennpunkt der Linse 106 ist so ein
gestellt, daß er an dem einen Ende der Referenzlichtfaser 108 liegt. Die Re
ferenzlichtfaser 108 ist an den anderen Eingangsanschluß des optischen
Schalters 54 angeschlossen.
Der Korrekturvorgang der Ausführungsform der Wellenlängenkorrekturvor
richtung wird nachstehend erläutert. Die nachfolgende Erläuterung bezieht
sich auf einen Fall, bei dem eine Korrektur innerhalb einer bestimmten Zeit
periode nach Einschalten des Stroms für das Spektralmeßgerät 58 durchge
führt wurde.
Zunächst startet, wenn das Gerät 58 eingeschaltet wurde und nachdem ein
spezifisches Intervall gemäß dem Zeitgeber ("timer") 40 verstrichen ist, die in
dem Gerät 58 vorgesehene CPU 34' die Ausführung eines Korrekturpro
gramms. Nach Starten des Korrekturprogramms gibt die CPU 34' zunächst
ein Steuersignal an den Steuerungsbereich 60, der die Ausgabe eines Start
signals an die Referenzlichtquelle 62 veranlaßt, wobei bei Aufnahme des
Startsignals die in der Referenzlichtquelle 62 vorgesehene LED 100 mit der
Lichtemission beginnt.
Das Ausgangslicht von der LED 100 wird mittels der Linse 102 in paralleles
Licht transformiert, wobei die Gas-Absorptionszelle 104 Licht einer spezifi
schen Wellenlänge absorbiert. Das durch die Absorptionszelle 104 durchge
lassene Licht wird mit der Linse 106 gebündelt und in ein Ende der Refe
renzlichtfaser 108 eingeführt. Das in die Referenzlichtfaser 108 eingeführte
Licht pflanzt sich in der Faser 108 fort und gelangt in den optischen Schalter
54.
In der Zwischenzeit gibt der Steuerungsbereich 60 ein Steuersignal an den
optischen Schalter 54, um den mit der Referenzlichtfaser 108 verbundenen
Eingangsanschluß mit dem Ausgangsanschluß des Geräts 58 optisch zu
verbinden.
Wenn die obigen Schrittfolgen abgeschlossen sind, wird das Ausgangslicht
von der Referenzlichtquelle 62 in das optische Spektralmeßgerät 58 einge
führt. Zu dieser Zeit gibt die CPU 34' an den Motortreiberschaltkreis 30 die
Anweisung, den Motor 28 zu drehen, um das Ausgangslicht von dem Aus
gangsspalt 20 innerhalb eines gegebenen Wellenlängenbereichs zu ändern.
Die Aktion der CPU 34', die Wellenlängen des Ausgangslichts von dem Aus
gangsspalt 20 zu ändern, stellt eine Korrelation zwischen den Wellenlängen
und den optischen Leistungen her, die von dem Photodetektor 22 detektiert
werden. Gemäß den dadurch erzielten Ergebnissen wird eine Absorptions
wellenlänge des von dem Ausgangsspalt 20 ausgehenden Lichts abgeleitet.
Wenn die absorbierte Wellenlänge bestimmt ist, vergleicht die CPU 34' die
bereits abgespeicherte Absorptionswellenlänge für die Referenzwellenlänge
62 mit der gemessenen Absorptionswellenlänge. Falls eine Abweichung in
den beiden Werten besteht, betätigt die CPU 34' den Motortreiberschaltkreis
30, um die momentane Absorptionswellenlänge an die gespeicherte Absorp
tionswellenlänge der Referenzlichtquelle anzupassen.
Um die Einstellung durchzuführen, ändert die CPU 34' einfach den Ausrich
tungswinkel des Beugungsgitters 16 durch Betätigung des Motors 28. Anders
ausgedrückt, ändert die CPU 34' nicht den vorbestimmten Wert der Absorp
tionswellenlänge, sondern ändert nur den Ausrichtungswinkel des Beugungs
gitters 16.
Die oben beschriebenen Schrittfolgen führen die Anpassung der von dem
Ausgangsspalt 29 ausgehenden momentanen Absorptionswellenlänge mit
der von der Referenzlichtquelle 62 ausgehenden Absorptionswellenlänge
aus.
Ferner werden, wenn die Korrekturvorgänge wie oben beschrieben vorge
nommen wurden, da der Ausrichtungswinkel des Beugungsgitters 16 ohne
Verändern des Speicherinhalts in der CPU 34' verändert wurde, die gespei
cherten Daten zwischen dem Winkel des Beugungsgitters 16 und den Wel
lenlängen in der CPU 34' erneuert, gemäß der in dem Anpassungsschritt
vorgenommenen Änderung, so daß die Daten bei einer nachfolgenden Kor
rektur zur Verfügung stehen.
Wenn die obigen Schrittfolgen abgeschlossen sind, gibt die CPU 34' ein
Steuersignal an den Steuerungsbereich 60, um den Lichtweg von dem Aus
gangsspalt 20 zu dem mit der Testlichtfaser verbundenen Eingangsanschluß
zurückzuschalten, so daß der laufende Wert der Arbeitswellenlänge des
Testlichts genau bestimmt werden kann. Die CPU 34' gibt desweiteren ein
Endsignal an die Referenzlichtquelle 62 aus, um deren Betrieb zu beenden.
Wie vorstehend erläutert wurde, führt die vorliegende Wellenlängenkorrek
turvorrichtung automatisch eine Normierung des Spektralmeßgeräts bei einer
vorgegebenen nach Einschalten der Vorrichtung verstrichenen Zeit durch,
weshalb der Justagevorgang durch Beseitigen der für das Verbinden der
Referenzlichtquelle mit dem Spektralmeßgerät und für das Einstellen des
Winkels des Beugungsgitters erforderlichen Mühe erleichtert wird.
Ferner kann, da die Referenzlichtquelle 62 eine LED 104 und eine Gasab
sorptionszelle 104 umfaßt, das Referenzlichtsystem kompakter im Vergleich
mit einem auf einem Gaslaser basierenden System gebaut werden.
Außerdem kann der Korrekturschritt automatisch für jedes gewünschte Inter
vall durchgeführt werden, wobei das Spektralmeßgerät bei jeder gewünsch
ten Gelegenheit einsetzbar ist, auch wenn es gerade in dem Fachgebiet ein
gesetzt ist.
Obwohl die obige Ausführungsform anhand eines Beispiels einer vorgege
benen nach Einschalten der Vorrichtung abgelaufenen Zeit veranschaulicht
wurde, ist es ferner offensichtlich, daß die Vorrichtung zu jedweden von dem
Operator gewünschten Intervallen betätigt werden kann (beispielsweise jede
Stunde oder jeden Tag).
Auch kann das Intervall für Korrekturschritte in einem Zeitrahmen liegen, der
kürzer als die Betriebszeit oder als erwartete Änderungen der Umge
bungstemperatur ist, so daß eine hohe Meßgenauigkeit immer gewährleistet
werden kann.
Auch können anstatt der Konkavspiegel 14 und 18 Linsen verwendet wer
den. Ferner kann der Ausgangsspalt 12 in der Meßvorrichtung weggelassen
werden.
Claims (5)
1. Wellenlängenkorrekturvorrichtung zum Korrigieren einer Abweichung
einer Testwellenlänge von einer Referenzwellenlänge umfassend: ei
ne Referenzlichtquelle (62) zum Aussenden von Referenzlicht einer
spezifischen Wellenlänge; einen Lichteingangsanschluß (50) zum
Einspeisen von Testlicht, dessen Wellenlänge erforderlichenfalls zu
messen und auszugleichen ist; einen optischen Schalter (54) zum
Empfangen des Testlichts und des Referenzlichts und zur Ausgabe
entweder des Testlichts oder des Referenzlichts von einem Aus
gangsanschluß; einen Steuerungsbereich (60) zum Steuern der Be
tätigung der Referenzlichtquelle (62) und des optischen Schalters
(54); und ein optisches Spektralmeßgerät (58); dadurch gekenn
zeichnet, daß das optische Spektralmeßgerät (58) automatische Mes
sungen optischer Ausgangsspektren von dem optischen Schalter (54)
durchführt und den Steuerungsbereich (60) zu von einem Operator
spezifizierten planmäßigen Zeiten automatisch aktiviert.
2. Wellenlängenkorrekturvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das optische Spektralmeßgerät (58) umfaßt:
ein optisches Element (14) zum Transformieren von Eingangslicht ei
nes Eingangsbereichs in paralleles Licht; ein Beugungsgitter (16) zur
Aufnahme des parallelen Lichts und zum Erzeugen räumlich getrenn
ter Wellen; ein optisches Kondensorelement (18) zum Bündeln der
räumlich getrennten Wellen auf einen Ausgangsspalt; einen Photode
tektor (22) zum Umwandeln von aus dem Ausgangsspalt austreten
dem Licht-in elektrische Signale; einen Wandlerbereich (26) zum
Wandeln analoger Ausgangssignale von dem Photodetektor in digita
le Signale; sowie einen Verarbeitungsbereich (34') zum Verändern ei
nes Ausrichtungswinkels des Beugungsgitters (16) und zum Durch
führen der Rechnerverarbeitung der digitalen Signale, um optische
Spektren des Testlichts zu erzeugen.
3. Wellenlängenkorrekturvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß das optische Spektralmeßgerät (58) ein Zeitgeber-Mittel
(40) mit Kalenderfunktionen aufweist und den Steuerungsbereich (60)
gemäß den Ausgangssignalen von dem Zeitgeber-Mittel zu planmäßi
gen Zeiten betätigt.
4. Wellenlängenkorrekturvorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß das optische Spektralmeßgerät (58) ein Zeitgeber-Mittel
(40) mit Kalenderfunktionen aufweist und den Steuerungsbereich (60)
betätigt, wenn Ausgangssignale von dem Zeitgeber-Mittel (40) anzei
gen, daß ein spezifisches Zeitintervall seit Einschalten der Vorrichtung
verstrichen ist.
5. Wellenlängenkorrekturvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Referenzlichtquelle (62) umfaßt: eine lichtemittie
rende Diode (100) zum Aussenden von Licht spezifischer Wellenlän
gen; ein optisches Element (102) zum Transformieren von aus der
lichtemittierenden Diode austretendem Licht in paralleles Licht; eine
Gasabsorptionszelle (104) zum Absorbieren von Licht einer spezifi
schen Wellenlänge von durch das optische Element transmittiertem
Licht; ein Kondensorelement (106) zum Bündeln des durch die
Gasabsorptionszelle (104) transmittierten Lichts zur Eingabe in den
optischen Schalter (54).
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9288857A JPH11125562A (ja) | 1997-10-21 | 1997-10-21 | 波長校正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19847977A1 true DE19847977A1 (de) | 1999-06-10 |
Family
ID=17735657
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19847977A Withdrawn DE19847977A1 (de) | 1997-10-21 | 1998-10-17 | In-situ Wellenlängenkorrekturvorrichtung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6452674B1 (de) |
JP (1) | JPH11125562A (de) |
DE (1) | DE19847977A1 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1120637A2 (de) * | 2000-01-26 | 2001-08-01 | Ando Electric Co., Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Gittermonochromators |
EP1130445A2 (de) * | 2000-02-21 | 2001-09-05 | Tektronix, Inc. | Optisches System mit gleichzeitiger Detektierung eines Kalibrierungssignals und eines Testsignals in einem optischen Spektrumanalysator |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6683686B2 (en) * | 2000-10-10 | 2004-01-27 | Photonica Pty Ltd | Temporally resolved wavelength measurement method and apparatus |
US6687001B2 (en) * | 2001-03-16 | 2004-02-03 | Fujitsu Limited | Optical spectrum analyzer and optical spectrum detecting method |
JP2002323309A (ja) * | 2001-04-25 | 2002-11-08 | Anritsu Corp | 回折部の回転角検出装置 |
JP4239715B2 (ja) * | 2003-07-02 | 2009-03-18 | 株式会社島津製作所 | ダブルモノクロ形分光装置 |
US7209230B2 (en) | 2004-06-18 | 2007-04-24 | Luckoff Display Corporation | Hand-held spectra-reflectometer |
US7233394B2 (en) | 2005-06-20 | 2007-06-19 | Luckoff Display Corporation | Compact spectrometer |
JP5023507B2 (ja) * | 2006-02-17 | 2012-09-12 | 横河電機株式会社 | 波長校正方法及び波長校正装置 |
JP4898484B2 (ja) * | 2007-02-20 | 2012-03-14 | サンテック株式会社 | 光可変フィルタ |
US7817274B2 (en) | 2007-10-05 | 2010-10-19 | Jingyun Zhang | Compact spectrometer |
WO2009070459A1 (en) | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Jingyun Zhang | Miniature spectrometers working with cellular phones and other portable electronic devices |
JP5556449B2 (ja) * | 2010-07-02 | 2014-07-23 | 株式会社島津製作所 | 分光器 |
KR101192263B1 (ko) | 2010-12-03 | 2012-10-17 | (주) 넥스트칩 | 조도 검출 장치, 및 이의 오차 검출 및 오차 보정 방법 |
JP5901916B2 (ja) * | 2011-09-15 | 2016-04-13 | 横河電機株式会社 | 光スペクトラム測定装置 |
CN104864959B (zh) * | 2015-04-16 | 2016-10-26 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种光栅转动分光光谱仪光谱波长标定方法 |
CN106644070A (zh) * | 2015-11-02 | 2017-05-10 | 北京振兴计量测试研究所 | 真空紫外成像光谱仪校准装置 |
CN105425844B (zh) * | 2015-11-04 | 2018-04-06 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种高精度光谱分析仪光栅定位装置及方法 |
CN105737979B (zh) * | 2016-03-30 | 2018-06-15 | 广西科技大学 | 采用光开关消除阵列光谱仪暗噪声漂移的方法 |
CN105841812A (zh) * | 2016-03-30 | 2016-08-10 | 广西科技大学 | 采用光开关结合汞灯校正阵列光谱仪波长漂移的方法 |
CN109862337B (zh) * | 2019-04-09 | 2022-02-22 | 歌尔股份有限公司 | 投影光学系统色彩校正方法、装置及计算机可读存储介质 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4681444A (en) * | 1984-09-14 | 1987-07-21 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic wavelength calibration apparatus |
JPS62127641A (ja) | 1985-11-29 | 1987-06-09 | Ando Electric Co Ltd | 光部品測定用光源選択装置 |
US4779216A (en) | 1986-03-07 | 1988-10-18 | The Perkin-Elmer Corporation | System for calibrating a monochromator |
US5303165A (en) | 1992-02-12 | 1994-04-12 | The Perkin-Elmer Corporation | Standardizing and calibrating a spectrometric instrument |
US5392303A (en) | 1993-03-30 | 1995-02-21 | Nec Corporation | Frequency stabilization method of semiconductor laser, frequency-stabilized light source and laser module |
JPH07260570A (ja) | 1994-03-22 | 1995-10-13 | Hitachi Ltd | 分光器の波長校正方法及び装置 |
JP3254932B2 (ja) | 1994-09-30 | 2002-02-12 | 安藤電気株式会社 | 光スペクトル測定装置 |
JP3250426B2 (ja) | 1995-09-27 | 2002-01-28 | 安藤電気株式会社 | 光スペクトラム測定装置 |
-
1997
- 1997-10-21 JP JP9288857A patent/JPH11125562A/ja active Pending
-
1998
- 1998-10-17 DE DE19847977A patent/DE19847977A1/de not_active Withdrawn
- 1998-10-20 US US09/175,290 patent/US6452674B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1120637A2 (de) * | 2000-01-26 | 2001-08-01 | Ando Electric Co., Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Gittermonochromators |
EP1120637A3 (de) * | 2000-01-26 | 2003-09-24 | Ando Electric Co., Ltd. | Vorrichtung und Verfahren zum Kalibrieren eines Gittermonochromators |
EP1130445A2 (de) * | 2000-02-21 | 2001-09-05 | Tektronix, Inc. | Optisches System mit gleichzeitiger Detektierung eines Kalibrierungssignals und eines Testsignals in einem optischen Spektrumanalysator |
EP1130445A3 (de) * | 2000-02-21 | 2002-09-04 | Tektronix, Inc. | Optisches System mit gleichzeitiger Detektierung eines Kalibrierungssignals und eines Testsignals in einem optischen Spektrumanalysator |
US6573990B1 (en) | 2000-02-21 | 2003-06-03 | Tektronix, Inc. | Optical system providing concurrent detection of a calibration signal and a test signal in an optical spectrum analyzer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6452674B1 (en) | 2002-09-17 |
JPH11125562A (ja) | 1999-05-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19847977A1 (de) | In-situ Wellenlängenkorrekturvorrichtung | |
DE69432438T2 (de) | Vorrichtung und verfahren zur kalibrierung eines laserwellenlängenkontrollmechanismus | |
DE69532268T2 (de) | Spektrometer mit wählbarem Strahlengang des von einer induktiv angeregten Plasmaquelle ausgehenden Lichts | |
DE69730188T2 (de) | Vorrichtung zur Messung optischer Spektren | |
US6441900B1 (en) | Method and apparatus for calibrating an optical spectrum analyzer in wavelength | |
EP0195039B1 (de) | Messanordnung zur analyse elektromagnetischer strahlung | |
EP1336084B1 (de) | Verfahren zur auswertung von echelle-spektren | |
DE3832636A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur stabilisierung der wellenlaenge eines laserstrahls | |
DE4139032A1 (de) | Wellenlaengenstabilisator fuer schmalbandlaser | |
EP1472512B1 (de) | Verfahren zur wellenlängenkalibration bei einem echellespektrometer | |
DE2940325A1 (de) | Strahlungsmengenmesser | |
CN102538966A (zh) | 超光谱成像仪短波红外实验室光谱定标校正方法 | |
EP0179016B1 (de) | Zweistrahl-Echtzeitpolarimeter | |
DE69820523T2 (de) | Apparat zur Messung eines optischen Transmissionsmerkmals und zugehörgies Kalibrierverfahren | |
EP0174496A2 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Strahlungswellenlänge und der wellenlängenkorrigierten Strahlungsleistung monochromatischer Lichtquellen, sowie Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE3403372C1 (de) | Mehrkanal-Prozeß-Spektrometer | |
DE69530766T2 (de) | Einrichtung zum detektieren des rotationswinkels eines beugungsgitters | |
WO2001086257A2 (de) | Ellipsometer | |
DE2952901C1 (de) | Spektralphotometer | |
DE2338716A1 (de) | Spektroradiometer | |
US5923420A (en) | Optical spectrum calculating method | |
DE19740210B4 (de) | Atomabsorptionsspektrometer | |
EP1106979B1 (de) | Anordnung zur gleichzeitigen Analyse mehrerer optischer Leitungen | |
WO2000021224A2 (de) | Anordnung und verfahren zur überwachung der performance von dwdm mehrwellenlängensystemen | |
US4373813A (en) | Control of system energy in a single beam spectrophotometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: YOKOGAWA ELECTRIC CORP., MUSASHINO, TOKIO/TOKYO, J |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |