DE1980984U - Einrichtung zur temperaturmessung. - Google Patents
Einrichtung zur temperaturmessung.Info
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- DE1980984U DE1980984U DE1963S0045048 DES0045048U DE1980984U DE 1980984 U DE1980984 U DE 1980984U DE 1963S0045048 DE1963S0045048 DE 1963S0045048 DE S0045048 U DES0045048 U DE S0045048U DE 1980984 U DE1980984 U DE 1980984U
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- resistor
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- Thermally Actuated Switches (AREA)
Description
EAÖI2 382-9.1.68
:^^ - Erlangen, aen 16, 5. 1963
Aktiengesellschaft · Werner-von-uiemens-^tr.
PLa 63/1288
Einrichtung zur Temperaturmessung
Neuerung
Die X?12SiiH§ betrifft eine Einrichtung zur Temperaturmessung
Die X?12SiiH§ betrifft eine Einrichtung zur Temperaturmessung
und/oder -registrierung mit einem Bimetall als Meßwerk.
Um bei Meßeinricntungen einen hohen Verstärkung- grad in einer
einzigen ötufe au erzielen, wird bei bekannten Einrichtungen mittels der elektrischen Eingang:?energie in einem Meßwerk %
eine mechanische Bewegung ausgelöst sur Betätigung von Rege-gliedern,
die ihrerseits zur Steuerung des Ausgangsstromes dienen, do kann "beispielsweise mittels des Meßwerkes eine
Blenae betätigt werden, die in einer auf dem Bolometerprinsip beruhenden Anordnung Kühlluftströme steuert. Bei anderen
Anordnungen werden durch das Meßwerk im ^u:? gangs kr ei ■ liegende
Widerstände geregelt.
- 1 - Kin/.-; oho ■
PLA 63/1288
Diese "bekannten Einrichtungen weisen verschiedene Nachteile
auf. Die-durch das Meßwerk betätigten Regelglieder besitzen
ein verhältnismäßig großes Trägheitsmoment, beispielsweise die Bolometerblende, oder es treten bei ihrer■Betätigung
Reibungskräfte auf, beispielsweise bei Regelwiderständen, zu deren Überwindung eine verhältnismäßig große Eingangs-
- energie erforderlich ist. Diese. Nachteile bedingen eine
große Trägheit des Verstärkers-, sie begrenzen aen Verstärkungsfaktor
und machen eine Mindestenergie notwendig, unterhalb der eine Verstärkung nicht mehr möglich ibt. Diese Na'chteile
können bei einer Einrichtung zur Verstärkung kleiner elektrischer Größen dadurch weitgehend vermieden werden, daß durch
das Meßwerk ein Magnet verstellt wird, dessen Feld den Aug-
, gangsstrom einer auf magnetische Felder ansprechenden Anordnung
steuert. Als auf magnetische Felder ansprechende Anordnung kann beispielsweise eine Kerndrossel8pule vorgesehen
sein,'deren induktiver Widerstand durch Änderung der Permeabilität des bpulenkernes mittels des steuernden
Magneten geändert wird. Ferner kann eine Magnetfeldröhre vorgesehen sein, bei welcher der Widerstand der Elektronenstrecke
durch das Feld des steuernden Magneten geändert wird. Derartige Einrichtungen erfordern jedoch einen verhältnismäßig
großen Aufwand und sind mit einer größeren Anzahl von Fehlerquellen behaftet.
Neuerung
Gemäß der -vorliegenden KSXXKISlg können die vorerwähnten
•'Nachteile dadurch weitgehend vermieden werden, daß ein Magnet
und ein in deesen Luftspalt relativ zum Magneten beweglich
-■ 2 - Kin/ocho
PM 63/1288
angeordneter magnetisch steuerbarer Halbleiterwiderstand vorgesehen sind. Der Magnet i--1 am beweglichen Ende des
Bimetalls angeordnet und der Halbleiterwiderstand fest montiert oder umgekehrt. Alu Magnet kann beispielsweise
ein Permanentmagnet vorgesehen sein, dessen Pole 'zweckmäßig
als Polschuhe ausgebildet sind, die den Luftspalt begrenzen. Mit zunehmender Temperatur bewegt sich aasfreie
jinde des Bimetalls und damit der Halbleiterwiderstand
relativ zum Magneten, so daß sieh der den Halbleiterwiderstand durchsetzende Teil des Magnetfeldes ändert.
Dementsprechend ändert siuh der Widerstand des Halbleiterkörpers
und ein ihn durchfließender Meßstrom. Die dtromänderung ist ein Maß für die Temperatur. Dac Gerät hat
eine große Lebensdauer, da Heibungskrafte und mechanische
Kraftwirkungen zwischen dem Magneten und dem Halbleiterwiderstand
fehlen. Wegen der kleinen Abmessungen der Halbleiterplatte ist es möglich, große fiderstandsänderungen
bei geringen Bewegungen des Bimetalls zu erreichen. Daraus ergibt sich eine große Empfindlichkeit des Gerätes.
Neuerung Zur weiteren Erläuterung der Άΐύ3ί$$ΰ%Μ. soll auf die Zeichnung
Bezug genommen werden. In
Fig. 1 ist ein Au.führungsbeispiel einer Ternperaturmeßeinrichtung
nach der Erfindung schematisch veranschaulicht.
Pig. 2 stellt eine Seitenansicht der Pig. 1 dar.
Nach Pig. 1 ist ein plattenförmiger magnetisch gesteuerter
- 3 - Kin/ocho
PLA 63/1288
Halbleiterwiderstand 1, der mit zwei elektrischen Leitungsanschluss
en 2 versehen ist, auf einer Grundplatte 3 senkrecht angeordnet. Auf der Grundplatte 3 ist ferner ein
Ende eines U-förmig gebogenen Bimetallstreifens 4 mittels
einer Unterlage 5 aus einem geeigneten Material, beispiels-.
weise Kunststoff, befestigt. An dem anderen, frei beweglichen Ende des Bimetalls 4 iot ein Magnet 6 befestigt,
dessen Magnetfeld zur steuerung der, Widerstandes 1 vorgesehen
ist. Zur Einstellung der Nullstellung der Anordnung ist eine Justierschraube 7 vorgesehen.
Aus der Seitenansicht der Meßanordnung nach Pig. 2 ist die Form des Magneten 6 und die Anordnung des Halbleiterwiderstandes
1 im Luftspalt zu erkennen, der von den Polschuhen des Magneten 6 gebildet wird.
Der Bimetallstreifen 4 soll beispielsweise so aufgebaut sein, daß sich das bewegliche L'.treifenende, an welchem der
Magnet 6 befestigt Ir-;τ, mit zunehmender Temperatur nach
oben bewegt. Mit zunehmender Temperatur wird somit der vom Feld dec Magneten 6 durchsetzte Teil des Halbleiter-Widerstandes
1 vermindert und damit dessen Widerstandr;-wert
entsprechend kleiner. Der litrom eines an die Klemmen
angeschlossenen Meßstroinkreises wird entsprechend erhöht.
Die Stromerhöhung ißt somit ein direktes Maß für die Temperaturänderung.
.
Es kann auch ein Bimetallstreifen gewählt werden, dessen Ende
-4- Kin/ocho
PLA 63/1288
sich mit zunehmender Temperatur nach unten bewegt. Der
Halbleiterwiderstand 1 wird dann so angeordnet, daß er eich mit zunehmender Temperatur in den Luftspalt hineinbewegt.
Dementsprechend wird der Widerstandswert des Halbleiterwiderstandes 1 mit zunehmender Temperatur -erhöht und ■
damit ein vorgegebener Meßstrom vermindert.
Im Ausführungsbei.-.-piel ist der Magnet 6 am Ende des Bimetalls
4 befestigt. £s kann jedoch auch der Magnet 6 auf f
der Grundplatte 3 angeordnet und der Halbleiterwiderstand 1 am Bimetall 4 befestigt und mit zwei flexiblen elektrischen
Anschlußleitungen versahen sein.
Die Temperaturänderung wird ständig erfaßt, und zwar beim Anlegen einer Spannung durch eine ütromänderung oder bei
einem vorgegebenen strom durch die Spannungsänderung.
Anstelle der mechanischen Einstellung der Nullstellung der
Anordnung mittels der Justierschraube 7 kann beispielsweise auch ein magnet!, eher Nebenschluß gewählt werden, der zugleich
zur Einstellung des Arbeitspunktes herangezogen werden kann. Als magnetischer Nebenschluß kann beispielsweise ein
in geeigneter Weise befestigtes Eisenjoch 8 vorgesehen sein. Mit dem vorzugsweise einstellbaren Abstand des Eisenjoches 8
von den Polschuhen des Magneten 6 kann der Teil des Magnetfeldes, der sich ifber das Eisen joch schließt, verändert
werden. Der Arbeitspunkt kann beispielsweise in den annähernd geradlienigen Teil der quadratischen Kennlinie gelegt werden
. - 5 - · Kin/^cho
. PLA 63/1288 \
und damit ein weitgehend lineares Arbeitsverhalten der Anordnung
erreicht werden.
Die gleiche Wirkung kann durch einen elektrischen Heben-Schluß
erreicht werden. Zu diesem Zweck kann parallel zum Halbleiterwiderstand ein vorzugsweise veränderbarer
Widerstand angeordnet sein..
Die gesamte Einrichtung kann zweckmäßig derart angeordnet werden, daß sich bei der Bewegung des Bimetalls 4 der
Schwerpunkt der Einrichtung nicht ändert. Damit wird der Einfluß der Schwerkraft des au;; Bimetall 4 und Magneten
gebildeten Körpers beseitigt.
2 Figuren
Schutz
4 23§3ES6M an sprüche
4 23§3ES6M an sprüche
- 6 - Kin/-cho
Claims (3)
1. Einrichtung zur Temperaturmessung und/oder -regis-fcrierung
mit einem Bimetall als Meßwerk, dadurch gekennzeichnet, daß ein Magnet (6) und mindestens ein in dessen Luftspalt
relativ zum Magneten (6) beweglich angeordneter magnetisch
steuerbarer Halbleiterwiderstand (1) vorgesehen sind, und daß der Magnet (6) am beweglichen Ende des Bimetalls (4)
angeordnet und der Halbleiterwiderstand (16) fest montiert ißt oder umgekehrt.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Magnet (6) ein Permanentmagnet vorgesehen ist, dessen
als Polt chuhe au gebildeten Pole den Luftspalt bilden.
3. Einrichtung nach Anspruch"1, dadurch gekennzeichnet, daß
Mittel vorgesehen sind zur Einstellung des in der Ruhelage des Bimetalls (4) den Widerstand (1) durchsetzenden Magnetfeldes.
' ■
4ο Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Magnet mit dem Bimetall (4) verbunden und. der von den Polschuhen des Magneten in der Ruhelage des Bimetalls (4)
überdeckte Teil des Halbleiterwiderstandes (1) durch eine
Vorrichtung (7) · einstellbar ist.. ■ "
- 7 - ' Kin/., cho
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1963S0045048 DE1980984U (de) | 1963-05-17 | 1963-05-17 | Einrichtung zur temperaturmessung. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1963S0045048 DE1980984U (de) | 1963-05-17 | 1963-05-17 | Einrichtung zur temperaturmessung. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1980984U true DE1980984U (de) | 1968-03-14 |
Family
ID=33379126
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1963S0045048 Expired DE1980984U (de) | 1963-05-17 | 1963-05-17 | Einrichtung zur temperaturmessung. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1980984U (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2745184A1 (de) * | 1977-10-07 | 1979-04-19 | Rafi Gmbh & Co | Einrichtung zur messung der temperaturaenderung eines mediums |
DE3133047A1 (de) * | 1980-08-29 | 1982-04-08 | Aisin Seiki K.K., Kariya, Aichi | Temperaturfuehler |
-
1963
- 1963-05-17 DE DE1963S0045048 patent/DE1980984U/de not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2745184A1 (de) * | 1977-10-07 | 1979-04-19 | Rafi Gmbh & Co | Einrichtung zur messung der temperaturaenderung eines mediums |
DE3133047A1 (de) * | 1980-08-29 | 1982-04-08 | Aisin Seiki K.K., Kariya, Aichi | Temperaturfuehler |
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