DE19804339C2 - Spinventil-Magnetowiderstandskopf und Herstellungsverfahren dafür - Google Patents
Spinventil-Magnetowiderstandskopf und Herstellungsverfahren dafürInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstel
len eines Spinventil-Magnetowiderstandskopfes und einen sol
chen Kopf und einen zusammengesetzten Magnetkopf, der durch
das Verfahren hergestellt wird.
1996 überschritt die Datenaufzeichnungsdichte auf einer
hartmagnetischen Platte (HDD) 1 Gbit/Zoll2 (Gbits/inch). Der
Erfolg für eine Aufzeichnung mit solch hoher Dichte wurde
durch die Entwicklung eines Magnetowiderstands-(MR)-Kopfes
erreicht, der eine höhere Leseausgabeleistung als damals üb
liche Dünnfilmköpfe ermöglichte. Die Datenaufzeichnungsdichte
einer HDD wurde mit einer überraschenden Geschwindigkeit von
60% pro Jahr noch erhöht. Um diese Wachstumsrate zu unter
stützen, ist eine weitere Entwicklung eines Magnetkopfes mit
einer besseren Empfindlichkeit unvermeidlich.
Unter solchen Umständen wurden Riesenmagnetowiderstands
filme (auf die im folgenden als GMR-Film verwiesen wird) als
ein vielversprechender Kandidat für den Magnetkopf zur Kennt
nis genommen, weil sie ein großes Lesesignal liefern können.
Von den verschiedenen Riesenmagnetowiderstandsfilmen ist ein
Spinventil-Magnetowiderstandsfilm der vielversprechenste,
weil er in der Struktur einfach und daher relativ leicht her
zustellen ist und er im Vergleich zu gewöhnlichen MR-Ele
menten unter einem schwachen, extern angelegten Magnetfeld
immer noch eine große Änderung des elektrischen Widerstands
zeigen kann.
Ein MR-Kopf verwendet einen MR-Film als ein Lesekopfele
ment, dessen elektrischer Widerstand sich unter dem Einfluß
eines extern angelegten Magnetfeldes ändern kann. Auf der HDD
aufgezeichnete Information kann detektiert werden, indem die
Änderung in einer elektrischen Spannung detektiert wird, die
durch die Änderung des elektrischen Widerstands des MR-Kopfes
aufgrund des externen Magnetfeldes von einer HDD hervorgerufen wird, das
die Information anzeigt. Ein GMR-Kopf nutzt anstelle eines MR-Films einen
GMR-Film.
Aus der JP 09-167318 A ist ein Spinvalve-Magnetkopf bekannt, bei dem
zur Einstellung der Magnetisierungsrichtungen der verschiedenen aktiven
Schichten zwei Wärmebehandlungen unter einem Magnetfeld durchgeführt wer
den. In dieser Druckschrift wird jedoch auf die Höhe der Temperaturen und
deren Abfolge nicht näher eingegangen.
Ein typischer Magnetowiderstandskopf nutzt einen Spinventil-
Magnetowiderstandsfilm (auf den im folgenden als ein Spinventil-GMR-Kopf
verwiesen wird) wie z. B. in dem US-Patent Nr. 5 206 590, der offengeleg
ten japanischen Patentschrift Nr. 6-60336 und dem französischen Patent
Nr. 95-5699 offenbart ist.
Fig. 1 veranschaulicht einen solchen Spinventil-GMR-Kopf nach dem
Stand der Technik, wie er oben erwähnt ist, in perspektivischer Ansicht
einen Hauptabschnitt des Kopfes darstellend. Fig. 2 zeigt einen vertika
len Querschnitt des in Fig. 1 gezeigten Spinventil-GMR-Kopfes.
Der Spinventil-GMR-Kopf weist einen GMR-Film auf, der in
der in Fig. 1 dargestellten Reihenfolge gebildet wird durch
die Ablagerung:
einer Unterschicht 11 aus Tantal (Ta);
einer dualen freien magnetischen Schicht 12, die aus ei ner ersten freien magnetischen Schicht 12a aus einer Nickel- Eisen-Legierung (NiFe) und einer zweiten freien magnetischen Schicht 12b aus einer Kobalt-Eisen-Bor-Legierung (CoFeB) be steht;
einer nichtmagnetischen metallischen Schicht 13 aus Kup fer (Cu),
einer fixierten magnetischen Schicht 14 aus einer Kobalt- Eisen-Bor-Legierung (CoFeB)
einer antiferromagnetischen Schicht 15, die aus geordne ten Metallen, wie z. B. Palladium-Platin-Mangan (PdPtMn), her gestellt ist, und
einer Deckschicht 16, die aus Tantal (Ta) hergestellt ist.
einer Unterschicht 11 aus Tantal (Ta);
einer dualen freien magnetischen Schicht 12, die aus ei ner ersten freien magnetischen Schicht 12a aus einer Nickel- Eisen-Legierung (NiFe) und einer zweiten freien magnetischen Schicht 12b aus einer Kobalt-Eisen-Bor-Legierung (CoFeB) be steht;
einer nichtmagnetischen metallischen Schicht 13 aus Kup fer (Cu),
einer fixierten magnetischen Schicht 14 aus einer Kobalt- Eisen-Bor-Legierung (CoFeB)
einer antiferromagnetischen Schicht 15, die aus geordne ten Metallen, wie z. B. Palladium-Platin-Mangan (PdPtMn), her gestellt ist, und
einer Deckschicht 16, die aus Tantal (Ta) hergestellt ist.
Nachdem diese Schichten 11 bis 16 gebildet sind, wird der
GMR-Film einem Prozeß zum Mustern des Films in eine im allge
meinen planare Konfiguration unterzogen und wird mit einem
Paar Goldelektroden (Au) 17a und 17b auf den gegenüberliegen
den Ecken der obersten Deckschicht 16 versehen, was zu einem
Spinventil-GMR-Kopf führt. In einem solchen Spinventil-GMR-
Kopf dient ein Gebiet zwischen den beiden Elektroden 17a und
17b als ein Signaldetektionsgebiet (oder Abfühlgebiet) S. In
der Beschreibung der vorliegenden Anmeldung ist, um die Rich
tung eines an den GMR-Kopf angelegten, extern angelegten Ma
gnetfeldes zu spezifizieren, ein Koordinatensystem derart de
finiert, daß eine Z-Achse entlang der Dicke des GMR-Films,
eine Y-Achse entlang der durch die beiden Elektroden durchge
henden Linie und eine X-Achse in der zur Y-Z-Ebene senkrech
ten Richtung gelegt ist, wie in Fig. 1 dargestellt ist.
Während des Betriebs des Spinventil-GMR-Kopfes wird ein
Abfühlstrom Is durch das Abfühlgebiet S von der Elektrode 17a
zur Elektrode 17b durchgelassen. Falls der Spinventil-GMR-
Kopf nahe einem (nicht dargestellten) magnetischen Aufzeich
nungsmedium, wie z. B. einer Magnetplatte, bezüglich des ma
gnetischen Mediums in Bewegung ist, wird mit diesem Strom der
elektrische Widerstand des Spinventil-GMR-Kopfes als Antwort
auf die X-Komponente des Magnetfeldes Hsig geändert, das ein
Signal vom Magnetkopf anzeigt, was eine variierende Spannung
über den Spinventil-GMR-Kopf zur Folge hat, die das Produkt
des variierenden Widerstands und des Abfühlstroms ist. Somit
wird das Signalmagnetfeld in Form der Spannungsänderung de
tektiert. Um die magnetische Antwort des Spinventil-GMR-Films
(d. h. des Magnetowiderstands des Spinventil-GMR-Films) mit
dem Signalmagnetfeld Hsig linear zu machen, wird die Magneti
sierung Mp der fixierten magnetischen Schicht 14 durch eine
Austauschkopplung mit der antiferromagnetischen Schicht 15 im
allgemeinen in der Richtung der X-Achse festgelegt oder fi
xiert. Bei Abwesenheit des Signalmagnetfeldes Hsig ist eine
Magnetisierung Mf der freien magnetischen Schicht 12 entlang
der Y-Achse gerichtet, die zur Magnetisierung in der fixier
ten magnetischen Schicht 14 senkrecht ist. Die Richtung der
Magnetisierung in der freien magnetischen Schicht 12 mit ei
nem Null-Signalmagnetfeld, die nun in der Richtung der Y-
Achse orientiert ist, wird Richtung einer leichten Magneti
sierung genannt. Die Magnetisierung Mf der freien Magnetisie
rungsschicht 12 ist angepaßt, um sich als Antwort auf ein ex
tern angelegtes Feld, wie z. B. ein Signalmagnetfeld Hsig vom
magnetischen Aufzeichnungsmedium, zu drehen, so daß die re
sultierende Magnetowiderstandsänderung des GMR-Films mit dem
Signalmagnetfeld Hsig linear ist.
In dem Fall jedoch, bei dem für die antiferromagnetische
Schicht 15 ein geordnetes antiferromagnetisches Material ver
wendet wird, wie es für herkömmliche Spinventil-GMR-Köpfe der
Fall ist, ist es notwendig, den GMR-Film mit Wärme zu behan
deln, nachdem der GMR-Film gebildet ist, um dadurch die Ma
gnetisierung Mp der fixierten Magnetisierungsschicht 14 in
der Richtung der X-Achse zu fixieren, weil geordnete Metalle
nur bei einer relativ hohen Temperatur einen Phasenübergang
durchlaufen können, der ihre Gitterstrukturen von einer ku
bisch-flächenzentrierten (FCC) Gitterstruktur zur bevorzugten
tetragonal-flächenzentrierten (FCT) Struktur für die Fixie
rung der Magnetisierung Mp ändert. Eine derartige Wärmebe
handlung wird unter einem Magnetfeld von etwa (2500 . 103/4π)
A/m [2500 Oersted] ausgeführt, nachdem zumindest die Schich
ten 11 bis 16 (von der Unterschicht 11 bis zur Deckschicht 16)
des GMR-Films gebildet sind.
Im nächsten Schritt wird der GMR-Film unter dem Einfluß
eines in Y-Richtung gerichteten geeigneten Magnetfeldes wär
mebehandelt, um eine Anisotropie der Magnetisierung Mf der
freien magnetischen Schicht 12 zu erhöhen.
Unglücklicherweise beeinflußt die Wärmebehandlung zum Er
höhen der Anisotropie der Magnetisierung Mf in der freien ma
gnetischen Schicht 12 die in der fixierten magnetischen
Schicht 14 schon eingerichtete Magnetisierung Mp in X-Rich
tung, wodurch die Magnetisierung Mp, wie in Fig. 3 darge
stellt ist, unvorteilhafterweise von der X-Achse weg zur Y-
Achse hin fehlorientiert wird. Für einen idealen GMR-Film ist
die Magnetisierung in der fixierten magnetischen Schicht 14
in der Richtung der X-Achse fixiert, während die Magnetisie
rung in der freien magnetischen Schicht 12 entlang der Y-
Achse gerichtet ist, so daß die beiden Magnetisierungen bei
Abwesenheit irgendeines externen Signalmagnetfeldes Hsig zu
einander senkrecht sind. Die Ausgabe des Spinventil-GMR-
Kopfes wäre dann eine lineare Funktion des Eingangssignals
(oder des externen Signalmagnetfeldes Hsig). Falls jedoch die
Magnetisierung in der fixierten magnetischen Schicht 14 von
Beginn an von der X-Achse weg zur Y-Achse hin fehlorientiert
ist, kann der Spinventil-GMR-Kopf keine lineare Antwort auf
das extern angelegte Magnetfeld Hsig liefern und ergibt eine
verzerrte Wellenform der Ausgangsspannung.
Wie oben diskutiert wurde, weisen die fixierte magneti
sche Schicht 14 und die freie magnetische Schicht 12 idealer
weise bei Abwesenheit irgendeines extern angelegten Magnet
feldes Hsig zueinander senkrechte Magnetisierungen im Spin
ventil-GMR-Kopf auf. In Wirklichkeit muß der Winkel zwischen
den beiden Magnetisierungen der fixierten magnetischen
Schicht 14 und der freien magnetischen Schicht 12 für jeden
verwendbaren Spinventil-GMR-Kopf mindestens 70 Grad betragen,
wie durch Untersuchungen vieler herkömmlicher Spinventil-GMR-
Köpfe verifiziert wurde.
Im Hinblick auf diese Probleme, auf die man bei Magnet
köpfen nach dem Stand der Technik trifft, ist die Erfindung
darauf gerichtet, einen Spinventil-GMR-Kopf zu schaffen, der
imstande ist, als Antwort auf ein externes Signalmagnetfeld
Hsig eine im wesentlichen unverzerrte Ausgabewellenform zu
erzeugen.
Die Erfindung ist ferner darauf gerichtet, ein Verfahren
zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes mit einer linearen
Antwort auf ein gegebenes externes Signalmagnetfeld Hsig zu
schaffen.
Zu diesem Zweck wird gemäß einem Gesichtspunkt der vor
liegenden Erfindung ein Verfahren zum Herstellen eines Spin
ventil-GMR-Kopfes geschaffen, das die Schritte aufweist ei
nes:
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische
Schicht, eine nichtmagnetische metallische Schicht, eine fi
xierte magnetische Schicht und eine Magnetdomänen-Steuer
schicht enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld (worauf als erste Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld (worauf als zweite Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird) und bei einer höheren Temperatur als der maximalen Temperatur, die in den Prozessen verwendet wurde, die der zweiten Wärmebehandlung vorausgehen, um die Magneti sierung in der fixierten magnetischen Schicht zu fixieren.
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld (worauf als erste Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld (worauf als zweite Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird) und bei einer höheren Temperatur als der maximalen Temperatur, die in den Prozessen verwendet wurde, die der zweiten Wärmebehandlung vorausgehen, um die Magneti sierung in der fixierten magnetischen Schicht zu fixieren.
Das Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
der Erfindung kann nach der zweiten Wärmebehandlung im Feld
keine zusätzliche Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld ein
schließen.
Die Temperatur der zweiten Wärmebehandlung im Feld kann
auf der Basis der maximalen Temperatur bestimmt werden, wie
später ausführlich beschrieben wird.
Die Temperatur der zweiten Wärmebehandlung im Feld ist so
ausgewählt, daß der Winkel zwischen den Magnetisierungsrich
tungen der freien magnetischen Schicht und der fixierten ma
gnetischen Schicht eine vorgeschriebene Bedingung erfüllt,
die durch den Spinventil-GMR-Kopf verlangt wird, wie später
ausführlicher beschrieben wird.
In einem anderem Gesichtspunkt der Erfindung wird ein
Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes geschaf
fen, das die Schritte aufweist eines:
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht, eine nichtmagnetische metallische Schicht, eine fi xierte magnetische Schicht und eine Magnetdomänen-Steuer schicht enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld (worauf als erste Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um die Magnetisierung in der fixierten ma gnetischen Schicht zu fixieren;
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld (worauf als eine zweite Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer dritten Wärmebehandlung bei Abwesenheit eines extern angelegten Magnetfeldes (worauf als feldfreie Wärmebehandlung verwiesen wird).
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht, eine nichtmagnetische metallische Schicht, eine fi xierte magnetische Schicht und eine Magnetdomänen-Steuer schicht enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld (worauf als erste Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um die Magnetisierung in der fixierten ma gnetischen Schicht zu fixieren;
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld (worauf als eine zweite Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird), um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer dritten Wärmebehandlung bei Abwesenheit eines extern angelegten Magnetfeldes (worauf als feldfreie Wärmebehandlung verwiesen wird).
Das Verfahren der Erfindung kann auf eine solche Weise
ausgeführt werden, daß die Temperatur und/oder die Dauer der
dritten Wärmebehandlung so ausgewählt wird, daß die Magneti
sierungsrichtungen in der freien magnetischen Schicht und der
fixierten magnetischen Schicht einen Winkel bilden, der einen
für den Spinventil-GMR-Kopf erforderlichen vorbestimmten Wert
übersteigt.
Wie vorher diskutiert wurde, entsteht eine Fehlausrich
tung oder Fehlorientierung der Magnetisierung in der fixier
ten magnetischen Schicht 14 aus der beabsichtigten Richtung
entlang der X-Achse weg hin zur Y-Achse aus der Wärmebehand
lung, die während der Herstellung angewandt wird, oder wäh
rend der Wärmebehandlungen im Feld des Spinventil-GMR-Films,
welche Fehlausrichtung wiederum eine Nichtlinearität des Ma
gnetowiderstands des Spinventil-GMR-Kopfes als Antwort auf
ein Signalmagnetfeld Hsig hervorruft. Das Verfahren zum Her
stellen eines Spinventil-GMR-Kopfes gemäß der Erfindung kann
ein solches Problem nach dem Stand der Technik vorteilhafter
weise mildern, indem die Magnetisierungsrichtung innerhalb
eines vorgeschriebenen Bereichs bezüglich der Magnetisierung
in der freien magnetischen Schicht festgelegt oder fixiert
wird.
Ein Spinventil-GMR-Kopf der Erfindung wird durch das Ver
fähren wie oben beschrieben hergestellt.
Ein zusammengesetzter Spinventil-GMR-Kopf der Erfindung
enthält als einen Lese-Aufnehmer einen gemäß dem oben erwähn
ten Verfahren hergestellten Spinventil-GMR-Kopf zusammen mit
einem induktiven Schreibkopf.
Fig. 1 ist eine perspektivische Ansicht eines Hauptab
schnitts eines Spinventil-GMR-Kopfes nach dem Stand der Tech
nik.
Fig. 2 ist eine Querschnittsdarstellung des in Fig. 1 ge
zeigten Spinventil-GMR-Kopfes.
Fig. 3 veranschaulicht eine Figur, die beim Erläutern der
Orientierung der Magnetisierung in der fixierten magnetischen
Schicht des in Fig. 1 gezeigten Spinventil-GMR-Köpfes nütz
lich ist.
Fig. 4 ist eine perspektivische Ansicht eines Hauptab
schnitts des Spinventil-GMR-Kopfes gemäß der Erfindung.
Fig. 5 ist eine Querschnittsansicht des in Fig. 4 gezeig
ten Spinventil-GMR-Kopfes.
Fig. 6 zeigt einen Hauptabschnitt eines zusammengesetzten
Magnetkopfes mit einem Spinventil-GMR-Kopf und einem indukti
ven Magnetkopf.
Fig. 7 zeigt einen Spinventil-GMR-Kopf, von einem Auf
zeichnungsmedium aus betrachtet.
Fig. 8 ist ein Flußdiagramm, das Schritte zum Herstellen
eines in Fig. 6 gezeigten zusammengesetzten Magnetkopfes dar
stellt.
Fig. 9 ist eine graphische Darstellung von Temperaturen,
die in den jeweiligen Prozessen zum Herstellen eines in Fig.
6 dargestellten zusammengesetzten Magnetkopfes verwendet wer
den.
Fig. 10 ist eine graphische Darstellung der Temperaturen
für die Wärmebehandlungen im Feld beim Einrichten einer fi
xierten Magnetisierung in der fixierten magnetischen Schicht
des ersten Beispiels der Erfindung.
Fig. 11 ist eine graphische Darstellung, die veranschau
licht, wie die Orientierung der Magnetisierung in der fixier
ten magnetischen Schicht durch eine feldfreie Wärmebehandlung
im zweiten Beispiel der Erfindung wiederhergestellt wird.
Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung werden nun
beispielhaft mit Verweis auf die beiliegenden Zeichnungen
ausführlich beschrieben.
Obwohl die vorliegende Erfindung hauptsächlich mit einem
Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes befaßt
ist, beginnen wir mit einem Beschreiben des durch das Verfah
ren der Erfindung hergestellten Spinventil-GMR-Kopfes, um
dessen Beschreibung für den Leser verständlicher zu machen,
und danach wird das Verfahren mittels eines ersten und eines
zweiten Beispiels der Erfindung beschrieben.
Auf Fig. 4 verweisend, ist in perspektivischer Darstel
lung ein Hauptabschnitt eines durch ein Verfahren gemäß der
Erfindung hergestellten Spinventil-GMR-Kopfes dargestellt.
Der Spinventil-GMR-Kopf weist auf:
eine Unterschicht 1;
eine erste freie magnetische Schicht 2a, die auf der Un terschicht 1 gebildet ist;
eine zweite freie magnetische Schicht 2b, die auf der er sten freien magnetischen Schicht 2a gebildet ist;
eine nichtmagnetische metallische Schicht 3, die auf der zweiten freien magnetischen Schicht 2b gebildet ist;
eine fixierte magnetische Schicht 4, die auf der nichtma gnetischen metallischen Schicht 3 gebildet ist;
eine Magnetdomänen-Steuerschicht 5, aus einem geordneten Metall und auf der fixierten magnetischen Schicht 4 gebildet;
eine Deckschicht 6, die auf der Magnetdomänen-Steuer schicht 5 gebildet ist; und
ein Paar Elektrodenanschlüsse 7a und 7b, die auf und nahe den gegenüberliegenden Enden der Deckschicht 6 gebildet sind.
eine Unterschicht 1;
eine erste freie magnetische Schicht 2a, die auf der Un terschicht 1 gebildet ist;
eine zweite freie magnetische Schicht 2b, die auf der er sten freien magnetischen Schicht 2a gebildet ist;
eine nichtmagnetische metallische Schicht 3, die auf der zweiten freien magnetischen Schicht 2b gebildet ist;
eine fixierte magnetische Schicht 4, die auf der nichtma gnetischen metallischen Schicht 3 gebildet ist;
eine Magnetdomänen-Steuerschicht 5, aus einem geordneten Metall und auf der fixierten magnetischen Schicht 4 gebildet;
eine Deckschicht 6, die auf der Magnetdomänen-Steuer schicht 5 gebildet ist; und
ein Paar Elektrodenanschlüsse 7a und 7b, die auf und nahe den gegenüberliegenden Enden der Deckschicht 6 gebildet sind.
Die Magnetdomänen-Steuerschicht 5 kann entweder eine an
tiferromagnetische Schicht oder eine hartmagnetische Schicht
sein. Im hier im folgenden dargestellten Beispiel ist die Ma
gnetdomänen-Steuerschicht 5 antiferromagnetisch.
Einzelheiten des Spinventil-GMR-Kopfes sind wie folgt.
Die Unterschicht 1 kann eine Schicht aus z. B. Tantal (Ta)
mit einer Dicke von etwa 50 . 10-1 nm [50 Angström] sein.
Die freie magnetische Schicht 2a kann eine FeNi-Schicht
von etwa 35 . 10-1 nm, die freie magnetische Schicht 2b eine
CoFeB-Schicht von etwa 40 . 10-1 nm sein, wobei die beiden
Schichten zusammen eine freie magnetische Schicht 2 bilden.
Es sollte besonders erwähnt werden, daß die freie magne
tische Schicht 2 aus den folgenden beiden Gründen eine Dop
pelschichtstruktur aus NiFe und CoFeB hat. Ein Grund ist zu
verhindern, daß der Spinventil-GMR-Kopf infolge einer Wärme
behandlung oberhalb 200°C während eines Prozesses zum Her
stellen des Spinventil-GMR-Kopfes seinen Widerstand drastisch
verliert. Eine solche Wärmebehandlung verursacht eine Zerstö
rung der NiFe-Schicht, die durch Mischen der Ni-Atome in der
NiFe-Schicht und Cu-Atome in der benachbarten nichtmagne
tischen Kupferschicht hervorgerufen wird. Die Zerstörung kann
stattfinden, falls wie bei einem frühen Spinventil-GMR-Kopf
die NiFe-Schicht mit der nichtmagnetischen Kupferschicht in
direktem Kontakt steht. Um zu verhindern, daß eine solche
Zerstörung stattfindet, wird somit statt einer Cu-Schicht ei
ne zweite freie magnetische Schicht 2b aus CoFeB in der
Grenzfläche zwischen der NiFe-Schicht und der Cu-Schicht ein
gefügt. Diese CoFeB-Schicht wird nicht mit der dritten nicht
magnetischen metallischen Schicht aus Cu gemischt werden. Es
sollte besonders erwähnt werden, daß die Koerzitivkraft eines
magnetischen Materials bezüglich der Kristallachsen des Mate
rials im allgemeinen anisotrop ist, so daß, falls eine
Schicht, wie z. B. die NiFe-Schicht 2a, mit einer relativ
kleinen Koerzitivkraft in der Art und Weise wie oben be
schrieben vorgesehen ist, die CoFeB-Schicht 2b ihre Magneti
sierung in der (1,1,1)-Ebene orientiert aufweisen kann und
eine reduzierte Koerzitivkraft aufweisen wird. Durch Verwen
den der NiFe-Schicht 2a auf der CoFeB-Schicht 2b mit einer
relativ großen Koerzitivkraft wird außerdem die Mobilität der
Magnetdomänen in der freien magnetischen Schicht 2 erhöht.
Die nichtmagnetische metallische Schicht 3 kann z. B. eine
32 . 10-1 nm dicke Cu-Schicht sein.
Wie die freie magnetische Schicht 2b kann die fixierte
magnetische Schicht 4 eine CoFeB-Schicht sein, die etwa
30 . 10-1 nm dick ist.
Die antiferromagnetische Schicht 5 ist vorzugsweise aus einem Mate
rial mit einem hohen Austauschkopplungs-Magnetfeld sowie einer hohen
Blockiertemperatur und guten Antikorrosionseigenschaft hergestellt. Ein
magnetisches Material kann magnetisiert werden, indem es einem anderen
magnetisierten Material nahe gebracht wird. Eine solche magnetische Wech
selwirkung wird im allgemeinen als Austauschkopplung und das resultieren
de Magnetfeld als Austauschkopplungsfeld bezeichnet.
Eine magnetische Schicht, wie z. B. die fixierte magneti
sche Schicht 4, die in Kontakt mit der antiferromagnetischen
Schicht 5 angeordnet ist, weist eine Magnetisierung auf, die
in der Richtung der antiferromagnetischen Schicht 5 fixiert
ist. Die magnetische Schicht 4 wird somit fixierte oder genau
definierte (engl. pinned) magnetische Schicht bezeichnet. An
dererseits hat die freie magnetische Schicht 2 eine schwache
Koerzitivkraft und ist durch die nichtmagnetische metallische
Schicht 3 von der antiferromagnetischen Schicht 5 getrennt,
so daß ihre Magnetisierung nicht genau definiert ist. Die
Schicht 2 wird daher freie magnetische Schicht genannt. Kurz
gesagt, weist die genau definierte Schicht 4 eine große Koer
zitivkraft auf und hält eine fixierte Magnetisierungsrichtung
aufrecht, wenn sie einmal in dieser Richtung magnetisiert
ist, während die freie magnetische Schicht 2 eine relativ
kleine Koerzitivkraft hat und eine variable Magnetisierungs
richtung aufweisen kann.
Die antiferromagnetische Schicht 5 kann z. B. aus einem
geordneten Metall mit einer Dicke von mindestens 150 . 10-1 nm,
typischerweise etwa 250 . 10-1 nm, wie einer Palladium-Platin-
Mangan-(PdPtMn)-Legierung, einer Palladium-Mangan-(PdMn)-
Legierung, einer Chrom-Mangan-(CrMn)-Legierung gebildet sein.
Frühe Spinventil-GMR-Köpfe verwendeten FeMn-Legierungen, die
jedoch ungünstigerweise korrodierend sind. Um solche Nachtei
le zu umgehen, können Mangan-Legierungen verwendet werden,
die wie oben erwähnt ein Edelmetall enthalten, wie z. B. Pla
tin. Die geordneten Metalle weisen eine relativ hohe Phasen
übergangstemperatur auf. Im hierin dargestellten Beispiel ist
die antiferromagnetische Schicht 5 typischerweise aus einer
PdPtMn-Legierung mit einer Blockiertemperatur (definiert als
die Temperatur, bei der ein Austauschmagnetfeld Null wird)
von etwa 320°C hergestellt.
Die Deckschicht 6 kann eine Tantal-(Ta)-Schicht mit einer
Dicke von etwa 70 . 10-1 nm sein.
Das Paar Elektroden 7a und 7b ist aus irgendeinem leitfä
higen Material, wie z. B. Gold, mit einer Dicke von etwa
1000 . 10-1 nm hergestellt.
Eine Grundstruktur des Spinventil-GMR-Kopfes ist in Fig.
4 dargestellt. Der Spinventil-GMR-Kopf weist ein Merkmal auf,
daß er eine Vierschichtstruktur hat, die einen dualen Satz
der magnetischen Schichten 2 und 4, die die dualen magneti
schen Schichten 2 und 4 trennende dünne nichtmagnetische
Schicht 3 und die auf der oberen (magnetische Schicht 4) der
dualen magnetischen Schichten gebildete antiferromagnetische
Schicht 5 einschließt. Es war bekannt, daß ein GMR-Effekt in
Übergitter-GMR-Schichten, körnigen GMR-Schichten und Spinven
til-Schichten auf verschiedene Arten in Abhängigkeit von der
besonderen Mehrschichtstruktur einer verwendeten GMR-Schicht
entstehen kann. Der Mechanismus des GMR-Effekts hängt von der
Struktur der GMR-Schicht ab. Die Spinventil-GMR-Schicht des
hierin gezeigten Beispiels hat ein Merkmal, daß sie struktu
rell einfach und zur Massenfertigung geeignet ist und daß sie
eine hohe Widerstandsänderung für ein schwaches Magnetfeld
zeigen kann.
Der Betrieb des in Fig. 4 gezeigten Spinventil-GMR-Kopfes
wird nun kurz beschrieben. Wie oben beschrieben wurde, weist
die Spinventil-GMR-Schicht im Grunde die Vierschichtstruktur
auf. Die fixierte magnetische Schicht 4 in Kontakt mit der
antiferromagnetischen Schicht 5 hat eine fixierte Magnetisie
rung Mp in Richtung entlang der X-Achse, die nicht geändert
wird, falls daran ein extern angelegtes schwaches Magnetfeld
angelegt wird. Andererseits hat die freie magnetische Schicht
2 eine Magnetisierung Mf, die bei Abwesenheit eines extern
angelegten Magnetfeldes in der Richtung der Y-Achse orien
tiert ist, aber durch ein extern angelegtes schwaches Magnet
feld, wie z. B. ein daran angelegtes Signalmagnetfeld, leicht
in eine verschiedene Richtung neu orientiert werden kann.
Nimmt man nun an, daß an den Kopf ein extern angelegtes
schwaches Magnetfeld Hsig angelegt wird, wird die Magnetisie
rung in der freien magnetischen Schicht 2 zur Richtung des
Feldes Hsig gedreht, was eine Änderung im Widerstand (worauf
als Magnetowiderstand verwiesen wird) der GMR-Schicht um eine
Größe zur Folge hat, die durch den relativen Winkel θ zwi
schen der fixierten magnetischen Schicht 4 und der freien ma
gnetischen Schicht 2 bestimmt ist. Konkret ist die Änderung
proportional cosθ. Wenn der Winkel 180 Grad beträgt, ist so
mit die Änderung im Widerstand maximal. Der Widerstand ist
auf die Streuung der Elektronen zurückzuführen, die von der
freien magnetischen Schicht 2 über die Grenzflächen zwischen
der freien magnetischen Schicht 2 und der nichtmagnetischen
metallischen Schicht 3 und zwischen der nichtmagnetischen me
tallischen Schicht 3 und der fixierten magnetischen Schicht 4
zur antiferromagnetischen fixierten Schicht 5 oder umgekehrt
fließen. Wenn die Orientierungen der Magnetisierungen in be
nachbarten Schichten identisch sind, wird eine solche Streu
ung von Elektronen nicht sehr reduziert, und demgemäß wird
dann der Widerstand minimal. Der Wert des Magnetowiderstands
eines GMR-Films hängt von den den Film bildenden GMR-Filmen
sowie den Dicken der GMR-Schichten ab und variiert normaler
weise im Bereich von ein paar Prozent bis etwa 15%.
Fig. 6 zeigt eine allgemeine perspektivische Darstellung
eines zusammengesetzten Magnetkopfes 30, der auf einem Fest
plattenlaufwerk montiert und mit einem Spinventil-GMR-Kopf 10
ausgestattet ist. Der Magnetkopf 30 ist über einem magne
tischen Aufzeichnungsmedium 27, wie z. B. einer Festplatte,
positioniert. Der Spinventil-GMR-Kopf 10, wie mit Verweis auf
Fig. 4 beschrieben, wird im zusammengesetzten Magnetkopf 30
als ein Lesekopf 31 verwendet. Der zusammengesetzte Magnet
kopf 30 besteht hauptsächlich aus dem Lesekopf 31 und einem
Schreibkopf 32. Der zusammengesetzte Kopf 30 wird "Misch-Typ"
(engl. merge type) genannt, weil er eine obere Abschirmung 22
des Lesekopfes 31 aufweist, die auch als ein unterer Magnet
(oder unterer Kern) des Schreibkopfes 32 dient. Dieser zusam
mengesetzte Magnetkopf 30 hat auch eine sogenannte "Hucke
packstruktur", was besagt, daß der Schreibkopf 32 auf der
Rückseite des Lesekopfes 31 montiert ist.
Wie in Fig. 6 dargestellt ist, weist der Lesekopf 31 zu
sammen mit dem Spinventil-GMR-Film und den Elektroden 7a und
7b eine Lese-Untere-Abschirmung 21 oder untere Abschirmung 21
des Lesekopfes (engl. read lower shield) und eine Lese-Obere-
Abschirmung 22 oder obere Abschirmung 22 des Lesekopfes
(engl. read upper shield) auf, die jeweils auf den gegenüber
liegenden Seiten der Elektroden 7a und 7b angeordnet sind.
Der Schreibkopf 32 weist eine Schreibspule 25, eine orga
nische Isolationsschicht 24, einen unteren Schreibmagneten 22
oder unteren Magneten 22 des Schreibkopfes und einen oberen
Schreibmagneten 26 oder oberen Magneten 26 des Schreibkopfes
auf, die auf den gegenüberliegenden Seiten der organischen
Isolationsschicht 24 gelegen sind. Die obere Abschirmung 22
des Lesekopfes und der untere Magnet 22 des Schreibkopfes
sind das gleiche Element, das als das eine oder andere dieser
Elemente für eine Lese/Schreiboperation dient. Der untere Ma
gnet 22 des Schreibkopfes und der obere Magnet 26 des
Schreibkopfes sind voneinander beabstandet. Die organische
Isolationsschicht 24 und eine Lückenisolationsschicht 23 sind
jeweils zwischen dem unteren und oberen Magneten 22 und 23
des Schreibkopfes fest angeordnet. Die Schreibspule 25 ist in
die organische Isolationsschicht 24 eingebettet.
Der zusammengesetzte Magnetkopf 30 ist somit einteilig
aus dem Lesekopf 31 und dem Schreibkopf 32 gebildet.
Fig. 7 zeigt eine Endansicht des Lesekopfes 31 vom Auf
zeichnungsmedium 27 aus betrachtet. In der Figur sieht man,
daß eine Lückenisolationsschicht 20 zwischen der unteren Ab
schirmung 21 des Lesekopfes und der oberen Abschirmung 22 des
Lesekopfes angeordnet ist und daß die GMR-Schicht in einem in
der Lückenisolationsschicht 20 gebildeten Fenster plaziert
ist.
Nun auf Fig. 8 verweisend, werden Schritte zum Herstellen
des in Fig. 6 dargestellten zusammengesetzten Magnetkopfes
kurz beschrieben.
Zuerst wird in Schritt S40 die untere Abschirmungsschicht
21 des Lesekopfes hergestellt. Die untere Abschirmung 21 des
Lesekopfes wird z. B. aus FeN hergestellt.
Im nächsten Schritt S41 wird die untere Lückenisolations
schicht des Lesekopfes gebildet. Die untere Lückenisolations
schicht des Lesekopfes wird z. B. aus Aluminium-Oxid hergestellt.
In Schritt S42 wird der Spinventil-GMR-Film, wie in Ver
bindung mit Fig. 4 beschrieben, gebildet, der dann gemustert
wird, um die Elektroden 7a und 7b zu bilden. Dies wird z. B.
getan, indem zuerst in der erwähnten Reihenfolge die Unter
schicht 1, die erste freie magnetische Schicht 2a, die zweite
freie magnetische Schicht 2b, die nichtmagnetische metalli
sche Schicht 3, die fixierte magnetische Schicht 4, die anti
ferromagnetische Schicht 5, die Deckschicht 6 unter Verwen
dung beispielsweise eines Sputter-Verfahrens abgelagert wer
den. Zweitens wird der Mehrschicht-GMR-Film unter Verwendung
eines Standard-Lithographieverfahrens gemustert, um ein
planares rechtwinkeliges Objekt zu bilden, das dann weiter
mit dem Paar der Elektroden 7a und 7b versehen wird, die auf
und an den gegenüberliegenden Enden der Oberseite der Deck
schicht 6 gebildet werden.
Im folgenden Schritt S43 wird die obere Lückenschicht
des Lesekopfes gebildet.
In Schritt S44 wird die obere Abschirmung 22 des Lesekop
fes geschaffen. Die obere Abschirmung 22 des Lesekopfes kann
aus NiFe hergestellt werden.
In Schritt S45 wird eine Lückenschicht des Schreibkopfes
gebildet.
In Schritt S46 wird die Schreibspule 25 hergestellt.
In Schritt S47 wird der obere Schreib-Magnetpol 26 gebil
det.
In Schritt S48 wird eine Schutzschicht gebildet.
Die in Fig. 8 gezeigten Herstellungsschritte beinhalten
eine Anzahl von Heizprozessen, wie in Fig. 9 dargestellt ist.
Unter diesen Heizprozessen beeinflußt ein Wärmehärteprozeß
zum Härten der organischen Isolationsschicht 24, die ein Ge
biet um die Schreibspule 25 nach der Bildung des GMR-Films
füllt, die Orientierung der fixierten Magnetisierung in der
fixierten magnetischen Schicht 4. Dieser Wärmehärteprozeß
wird im allgemeinen bei Temperaturen im Bereich von 230°C-
250°C während drei Stunden ausgeführt.
Der Wärmehärteprozeß verursacht ein Problem, daß im Ge
gensatz zur Erwartung die Wärme die Magnetisierung Mp in der
fixierten magnetischen Schicht 4 unerwünschterweise aus der
beabsichtigten Richtung entlang der X-Achse weg hin zur Y-
Achse fehlorientiert. Dieses Problem kann jedoch gemäß dem
Prinzip der Erfindung umgangen werden, wie in den folgenden
Beispielen beschrieben wird.
In einem ersten Verfahren zum Herstellen eines Spinven
til-GMR-Kopfes gemäß der Erfindung wird eine zweistufige Wär
mebehandlung nach der Bildung des Spinventil-GMR-Films ausge
führt, vorzugsweise nach dem oben erwähnten Wärmehärteprozeß
der organischen Isolationsschicht 24. In der ersten Stufe
wird die Wärmebehandlung ausgeführt, indem der Spinventil-
GMR-Film bei z. B. 230°C unter dem Einfluß eines Magnetfeldes
(worauf als Wärmebehandlung im Feld verwiesen wird) von etwa
(2500 . 103/4π) A/m erwärmt wird, das entlang der Y-Achse ge
richtet ist, eine geeignete magnetische Quelle verwendend, um
dadurch eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen
Schicht 2 in der Richtung der Y-Achse zu erhöhen. In der zwei ten Stufe
wird der Spinventil-GMR-Film unter dem Einfluß eines entlang
der X-Achse gerichteten Magnetfeldes von z. B. etwa
(2500 . 103/4π) A/m einer zweiten Wärmebehandlung im Feld un
terzogen, um dadurch die Magnetisierung Mp entlang der X-
Achse in der fixierten magnetischen Schicht 4 neu zu orien
tieren und zu fixieren, worin der Spinventil-GMR-Film bis zu
einer Temperatur erwärmt wird, die die maximale vorhergehende
Temperatur übersteigt, welche als die maximale Temperatur de
finiert ist, die mit den Prozessen verbunden ist, die der
zweiten Wärmebehandlung im Feld vorausgehen.
Fig. 10 zeigt die in der zweiten Wärmebehandlung wieder
hergestellte Magnetisierung Mp in Form der Richtung θp der
Magnetisierung Mp bezüglich der Y-Achse (d. h. der Richtung
der freien magnetischen Schicht 2 bei Abwesenheit eines ex
tern angelegten Magnetfeldes). Der Magnetisierungswinkel θp
ist als eine Funktion der Temperatur T der zweiten Wärmebe
handlung für den Fall aufgetragen, bei dem die Temperatur der
ersten Wärmebehandlung (welche die maximale vorhergehende
Temperatur ist) 230°C beträgt. Der Winkel beträgt bei Abwe
senheit jeglichen extern angelegten Magnetfeldes idealerweise
90 Grad. Der minimale zulässige Magnetisierungswinkel (oder
Entwurfsspezifikation eines Magnetisierungswinkels) ist 70
Grad.
Fig. 10 zeigt, daß, wenn die maximale vorhergehende Tem
peratur von 230°C gegeben ist, der Magnetisierungswinkel θp
der fixierten magnetischen Schicht durch die zweite Wärmebe
handlung bei 230°C zu etwa 62 Grad und durch die zweite Wär
mebehandlung bei 250°C zu etwa 77 Grad und durch die zweite
Wärmebehandlung bei 280°C zu etwa 80 Grad wiederhergestellt
wird. Falls die maximale vorhergehende Temperatur 230°C be
trägt, ist daher bestimmt, daß die Temperatur der zweiten
Wärmebehandlung zum Wiederherstellen des minimalen zulässigen
Magnetisierungswinkels (d. h. θp ≧ 70°) 242°C beträgt. Es wird
richtig erkannt, daß die zweite Wärmebehandlung bei einer
noch höheren Heiztemperatur, z. B. 250°C, einen besseren Ma
gnetisierungswinkel θp mit sich bringen wird und daß die Tem
peratur von 280°C zu diesem Zweck noch besser ist.
Es sollte besonders erwähnt werden, daß, je höher die ma
ximale vorhergehende Temperatur ist, desto höher die Tempera
tur ist, um den minimalen zulässigen Magnetisierungswinkel
von 70° wiederherzustellen, so daß die Temperatur der zweiten
Wärmebehandlung durch die maximale vorhergehende Temperatur
bestimmt ist.
Nach der zweiten magnetischen Wärmebehandlung im Feld für
die fixierte magnetische Schicht 4 ist es vorzuziehen, keine
Wärmebehandlung im Feld anzuwenden. Sollte irgendeine Wärme
behandlung für die organische Isolationsschicht 24 benötigt
werden, sollte nach der zweiten Wärmebehandlung im Feld die
Wärmebehandlung bei Abwesenheit eines Magnetfeldes vorgenom
men werden. Die Magnetisierung in der fixierten magnetischen
Schicht 4 wird dann bei einem größeren Winkel als dem oben
erwähnten minimalen Entwurfsmagnetisierungswinkel gehalten
werden, und der Spinventil-GMR-Kopf wird eine lineare Antwort
auf das Signalmagnetfeld Hsig beibehalten.
Im zweiten Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-
Kopfes gemäß der Erfindung wird eine Wärmebehandlung in drei
Stufen ausgeführt, nachdem der Spinventil-GMR-Film gebildet
ist, wie unten beschrieben ist. In der ersten Stufe wird dem
Spinventil-GMR-Film eine Wärmebehandlung im Feld gegeben oder
zuteil, um die Magnetisierung in der fixierten magnetischen
Schicht 4 in der Richtung der X-Achse zu fixieren. Diese Wär
mebehandlung im Feld beinhaltet ein Erwärmen des Spinventil-
GMR-Films bei z. B. 280°C in einem unter Verwendung einer ge
eigneten Quelle eines Magnetfeldes in der Richtung der X-
Achse orientierten Magnetfeld von (2500 . 103/4π) A/m. In der
zweiten Stufe wird dem Spinventil-GMR-Film eine andere Wärme
behandlung im Feld zuteil, um die magnetische Anisotropie der
freien magnetischen Schicht 2 in der Richtung der Y-Achse zu
erhöhen. In dieser Wärmebehandlung wird der Spinventil-GMR-
Film in einem in der Richtung der Y-Achse orientierenden Ma
gnetfeld von etwa (2500 . 103/4π) A/m auf z. B. 230°C erhitzt.
In der dritten Stufe wird eine weitere Wärmebehandlung
auf den Spinventil-GMR-Film ohne irgendein Magnetfeld ange
wandt.
Fig. 11 veranschaulicht den Magnetisierungswinkel θp in
der fixierten magnetischen Schicht 4 nach den entsprechenden
Wärmebehandlungen. Man sieht in der Figur, daß nach der Fi
xierung der Magnetisierungsrichtung in der fixierten magneti
schen Schicht 4 durch die erste Wärmebehandlung der Magneti
sierungswinkel θp in der fixierten magnetischen Schicht be
züglich der Y-Achse idealerweise 90° beträgt. Nach der Wärme
behandlung zum Erhöhen der magnetischen Anisotropie der frei
en magnetischen Schicht in der zweiten Wärmebehandlung ist
der Magnetisierungswinkel θp der fixierten magnetischen
Schicht 4 aufgrund der Wärme in der Wärmebehandlung auf etwa
52° reduziert. Bei dieser Stufe kann der GMR-Kopf die Anfor
derung nach dem minimalen magnetischen Winkel von 70° nicht
erfüllen und wird daher dabei versagen, notwendige Ausgangs
charakteristiken zu liefern. Nach der dritten Wärmebehandlung
ist jedoch der Magnetisierungswinkel θp zu etwa 76° wieder
hergestellt.
Durch die Experimente wurde von den Erfindern beobachtet,
daß die Wiederherstellung des Magnetisierungswinkels durch
die dritte Wärmebehandlung bei einer höheren Temperatur
und/oder durch eine verlängerte Heizzeit gefördert wird. Der
Magnetisierungswinkel kann folglich gut oberhalb 76 Grad wie
derhergestellt werden, falls erwünscht.
In den oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen
wurden die ersten und die zweiten Beispiele zum Herstellen
eines Spinventil-GMR-Kopfes gemäß der Erfindung beschrieben.
Es sollte sich jedoch verstehen, daß die Reihenfolge der Wär
mebehandlungen nicht beschränkend ist. Tatsächlich kann, wenn
die Wärmebehandlung zum Erhöhen der Anisotropie der freien
magnetischen Schicht zuerst auf den in den vorhergehenden
Prozessen gebildeten GMR-Film angewandt wird, eine Wärmebe
handlung im Feld für die Fixierung der fixierten magnetischen
Schicht bei einer Temperatur oberhalb der maximalen vorherge
henden Temperatur angewendet werden, wie im ersten Beispiel
der Erfindung diskutiert wurde. In diesem Fall ist es vorzu
ziehen, keine weitere Wärmebehandlung im Feld anzuwenden. Ein
alternativer Weg ist, die Wärmebehandlung für die Fixierung
der fixierten magnetischen Schicht zuerst anzuwenden, gefolgt
von der Wärmebehandlung für die Erhöhung der Anisotropie der
freien magnetischen Schicht und der feldfreien Wärmebehand
lung für die Wiederherstellung des Magnetisierungswinkels in
der fixierten magnetischen Schicht, wie im zweiten Beispiel
der Erfindung diskutiert wurde.
Die oben beschriebene Erfindung kann vorteilhafterweise
einen Spinventil-GMR-Kopf liefern, der eine lineare Antwort
auf ein gegebenes externes Signalmagnetfeld Hsig aufweist,
wodurch eine im wesentlichen unverzerrte Ausgabewellenform
erzeugt wird. Die Erfindung kann ferner ein Verfahren zum
Herstellen eines solchen Spinventil-GMR-Kopfes liefern.
Weil die vorliegende Erfindung viele Variationen, Modifi
kationen und Änderungen im Detail zuläßt, soll der oben dis
kutierte und in den beiliegenden Zeichnungen dargestellte
Sachverhalt in einem nicht beschränkenden Sinn als veran
schaulichend interpretiert werden. Andere mögliche Modifika
tionen der beschriebenen Ausführungsform sind dem Fachmann
ohne weiteres klar. Zum Beispiel sind verschiedene Kombina
tionen von Materialien und Dicken für die Teilschichten des
Spinventil-GMR-Films möglich. Variationen in solchen Her
stellparametern für den Spinventil-GMR-Film, wie Temperatu
ren, Dauern der Prozesse, sind auch innerhalb des Umfangs der
Erfindung möglich.
Claims (14)
1. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) mit den Schritten eines:
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht (2), eine nichtmagnetische metallische Schicht (3), eine fixierte magnetische Schicht (4) und eine Magnetdomänen- Steuerschicht (5) enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld, um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht (2) zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld und bei einer höheren Temperatur als der maximalen Temperatur, die in den Prozessen verwendet wurde, die der zweiten Wärmebehandlung vorausgehen, um die Magneti sierung (Mp) in der fixierten magnetischen Schicht (4) zu fi xieren.
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht (2), eine nichtmagnetische metallische Schicht (3), eine fixierte magnetische Schicht (4) und eine Magnetdomänen- Steuerschicht (5) enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld, um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht (2) zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld und bei einer höheren Temperatur als der maximalen Temperatur, die in den Prozessen verwendet wurde, die der zweiten Wärmebehandlung vorausgehen, um die Magneti sierung (Mp) in der fixierten magnetischen Schicht (4) zu fi xieren.
2. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 1, worin der Film nach der zweiten Wärme
behandlung keiner weiteren Wärmebehandlung unter einem Ma
gnetfeld unterzogen wird.
3. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 1, worin die Temperatur der zweiten Wärme
behandlung auf der Grundlage der maximalen Temperatur be
stimmt ist.
4. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 1, worin die Temperatur der zweiten Wärme
behandlung so ausgewählt ist, daß der Winkel zwischen den Ma
gnetisierungsrichtungen (Mf, Mp) in der freien magnetischen
Schicht (2) und in der fixierten magnetischen Schicht (4) ei
ne vorgeschriebene Bedingung erfüllt, die durch den Spinven
til-GMR-Kopf (10) verlangt wird.
5. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 1, worin die Temperatur der ersten Wärme
behandlung etwa 230°C beträgt und die Temperatur der zweiten
Wärmebehandlung etwa 250°C beträgt.
6. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) mit den Schritten eines:
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht (2), eine nichtmagnetische metallische Schicht (3), eine fixierte magnetische Schicht (4) und eine Magnetdomänen- Steuerschicht (5) enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld, um die Magnetisierung (Mp) in der fixierten magnetischen Schicht (4) zu fixieren;
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld, um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht (2) zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer dritten Wärmebehandlung bei Abwesenheit eines extern angelegten Magnetfeldes.
Bildens eines Films, der zumindest eine freie magnetische Schicht (2), eine nichtmagnetische metallische Schicht (3), eine fixierte magnetische Schicht (4) und eine Magnetdomänen- Steuerschicht (5) enthält;
Unterziehens des Films einer ersten Wärmebehandlung unter einem Magnetfeld, um die Magnetisierung (Mp) in der fixierten magnetischen Schicht (4) zu fixieren;
Unterziehens des Films einer zweiten Wärmebehandlung un ter einem Magnetfeld, um eine magnetische Anisotropie der freien magnetischen Schicht (2) zu erhöhen; und
Unterziehens des Films einer dritten Wärmebehandlung bei Abwesenheit eines extern angelegten Magnetfeldes.
7. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 6, worin die Temperatur der feldfreien
Wärmebehandlung so ausgewählt ist, daß der Winkel zwischen
den Magnetisierungsrichtungen (Mf, Mp) in der freien magneti
schen Schicht (2) und in der fixierten magnetischen Schicht
(4) eine vorgeschriebene Bedingung erfüllt, die durch den
Spinventil-GMR-Kopf (10) verlangt wird.
8. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 6, worin die Dauer der dritten Wärmebe
handlung so ausgewählt ist, daß der Winkel zwischen den Ma
gnetisierungsrichtungen (Mf, Mp) in der freien magnetischen
Schicht (2) und in der fixierten magnetischen Schicht (4) ei
ne vorgeschriebene Bedingung erfüllt, die durch den Spinven
til-GMR-Kopf (10) verlangt wird.
9. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 6, worin die Temperatur und die Dauer der
dritten Wärmebehandlung so ausgewählt sind, daß der Winkel
zwischen den Magnetisierungsrichtungen in der freien magneti
schen Schicht (2) und in der fixierten magnetischen Schicht
(4) eine vorgeschriebene Bedingung erfüllt, die durch den
Spinventil-GMR-Kopf (10) verlangt wird.
10. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 bis 6, worin:
die freie magnetische Schicht (2) eine Nickel-Eisen- (NiFe)-Schicht (2a) und eine Kobalt-Eisen-Bor-(CoFeB)-Schicht (2b) enthält;
die nichtmagnetische Schicht (3) eine Kupfer enthaltende Schicht enthält;
die fixierte magnetische Schicht (4) zwei Kobalt-Eisen- Bor-(CoFeB)-Schichten enthält; und
die Magnetdomänen-Steuerschicht (5) eine geordnete anti ferromagnetische Schicht enthält.
die freie magnetische Schicht (2) eine Nickel-Eisen- (NiFe)-Schicht (2a) und eine Kobalt-Eisen-Bor-(CoFeB)-Schicht (2b) enthält;
die nichtmagnetische Schicht (3) eine Kupfer enthaltende Schicht enthält;
die fixierte magnetische Schicht (4) zwei Kobalt-Eisen- Bor-(CoFeB)-Schichten enthält; und
die Magnetdomänen-Steuerschicht (5) eine geordnete anti ferromagnetische Schicht enthält.
11. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 10, worin die Magnetdomänen-Steuerschicht
(5) eine Manganlegierung enthält.
12. Verfahren zum Herstellen eines Spinventil-GMR-Kopfes
(10) nach Anspruch 11, worin die Magnetdomänen-Steuerschicht
(5) eine Legierung ist, die aus einer aus einer Palladium-
Platin-Mangan-Legierung, Platin-Mangan-Legierung, Palladium-
Mangan-Legierung, Nickel-Mangan-Legierung und Chrom-Mangan-
Legierung bestehenden Gruppe ausgewählt ist.
13. Spinventil-GMR-Kopf (10), hergestellt durch ein Ver
fahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1 bis 12.
14. Zusammengesetzter Magnetkopf mit:
einem Spinventil-GMR-Kopf (10) nach Anspruch 13; und
einem Schreib-Induktionsmagnetkopf.
einem Spinventil-GMR-Kopf (10) nach Anspruch 13; und
einem Schreib-Induktionsmagnetkopf.
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Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1186228A (ja) * | 1997-09-11 | 1999-03-30 | Fujitsu Ltd | スピンバルブ磁気ヘッドおよびその製造方法、磁化制御方法 |
JP3456409B2 (ja) * | 1998-03-23 | 2003-10-14 | Tdk株式会社 | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
JP2000285413A (ja) | 1999-03-26 | 2000-10-13 | Fujitsu Ltd | スピンバルブ磁気抵抗効果型素子とその製造法、及びこの素子を用いた磁気ヘッド |
JP3331397B2 (ja) * | 1999-07-23 | 2002-10-07 | ティーディーケイ株式会社 | トンネル磁気抵抗効果素子 |
JP2001076323A (ja) | 1999-09-06 | 2001-03-23 | Tdk Corp | スピンバルブ磁気抵抗効果素子の製造方法及び該素子を備えた薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
US6129957A (en) * | 1999-10-12 | 2000-10-10 | Headway Technologies, Inc. | Method of forming a second antiferromagnetic exchange-coupling layer for magnetoresistive (MR) and giant MR (GMR) applications |
US6322640B1 (en) * | 2000-01-24 | 2001-11-27 | Headway Technologies, Inc. | Multiple thermal annealing method for forming antiferromagnetic exchange biased magnetoresistive (MR) sensor element |
US6728055B1 (en) | 2000-03-21 | 2004-04-27 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for performing spin valve combined pinned layer reset and hard bias initialization at the HGA level |
US6381106B1 (en) * | 2000-04-12 | 2002-04-30 | International Business Machines Corporation | Top spin valve sensor that has a free layer structure with a cobalt iron boron (cofeb) layer |
JP2002008210A (ja) | 2000-06-19 | 2002-01-11 | Fujitsu Ltd | 磁気ヘッド製造方法 |
JP2003152239A (ja) * | 2001-11-12 | 2003-05-23 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果素子、及び、それを有する読み取りヘッド並びにドライブ |
JP4469570B2 (ja) * | 2003-07-24 | 2010-05-26 | 株式会社東芝 | 磁気抵抗効果素子、磁気ヘッドおよび磁気記録再生装置 |
US7431961B2 (en) * | 2004-12-10 | 2008-10-07 | Headway Technologies, Inc. | Composite free layer for CIP GMR device |
US8077436B2 (en) | 2008-03-20 | 2011-12-13 | Tdk Corporation | CPP-type magnetoresistance effect element having three magnetic layers |
US8194363B2 (en) | 2009-02-26 | 2012-06-05 | Tdk Corporation | Thin film magnetic head provided with dual synthetic free layers |
TWI449067B (zh) * | 2011-06-01 | 2014-08-11 | Voltafield Technology Corp | 自旋閥磁阻感測器 |
CN102943153B (zh) * | 2012-11-30 | 2013-11-13 | 中国船舶重工集团公司第七一○研究所 | 一种自旋阀磁阻元件的热磁处理装置及方法 |
WO2016209226A1 (en) * | 2015-06-24 | 2016-12-29 | Intel Corporation | Metallic spin super lattice for logic and memory devices |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5206590A (en) * | 1990-12-11 | 1993-04-27 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor based on the spin valve effect |
JP3022023B2 (ja) * | 1992-04-13 | 2000-03-15 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録再生装置 |
JPH06150259A (ja) * | 1992-11-06 | 1994-05-31 | Hitachi Ltd | 磁気ヘッド |
US5385637A (en) * | 1992-12-07 | 1995-01-31 | Read-Rite Corporation | Stabilizing domains in inductive thin film heads |
JPH08138216A (ja) * | 1994-09-16 | 1996-05-31 | Toshiba Corp | 磁気ヘッド |
JP3936405B2 (ja) * | 1994-11-18 | 2007-06-27 | 株式会社日立製作所 | 磁気抵抗効果型ヘッド及び磁気ディスク装置 |
JPH08221719A (ja) * | 1995-02-16 | 1996-08-30 | Tdk Corp | スピンバルブ磁気抵抗ヘッド及びその製造方法 |
JPH0922510A (ja) * | 1995-07-05 | 1997-01-21 | Fujitsu Ltd | 磁気抵抗効果素子及びその製造方法及び磁気記録装置及びその製造方法 |
US5648885A (en) * | 1995-08-31 | 1997-07-15 | Hitachi, Ltd. | Giant magnetoresistive effect sensor, particularly having a multilayered magnetic thin film layer |
EP0768641A1 (de) * | 1995-10-09 | 1997-04-16 | TDK Corporation | Herstellungsverfahren für ein Magnetkopfgerät mit magnetoresistivem Kopf mit Spinventil-Effekt |
-
1997
- 1997-09-19 JP JP9254741A patent/JPH1196516A/ja active Pending
-
1998
- 1998-01-14 US US09/006,977 patent/US6123780A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-01-17 KR KR1019980001294A patent/KR100287464B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1998-02-05 DE DE19804339A patent/DE19804339C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-02-13 CN CN98104446A patent/CN1095154C/zh not_active Expired - Fee Related
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 09-167318 A, In: Pat. Abstr. of Japan * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1196516A (ja) | 1999-04-09 |
KR19990028703A (ko) | 1999-04-15 |
DE19804339A1 (de) | 1999-03-25 |
US6123780A (en) | 2000-09-26 |
CN1212418A (zh) | 1999-03-31 |
KR100287464B1 (ko) | 2001-05-02 |
CN1095154C (zh) | 2002-11-27 |
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