DE19801427C1 - Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von Ionen - Google Patents
Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von IonenInfo
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Abstract
Ionen können mittels einer Bogenentladung zwischen einer Kathode (8) und einem Materialvorrat (5) als Anode erzeugt werden, wobei ein wesentlicher Teil des Plasmas (7) der Bogenentladung für die Verdampfung des Materials verbraucht wird und somit für die Ionisation der verdampften Atome nicht mehr zur Verfügung steht. Mit Hilfe eines neuen Verfahrens bzw. einer neuen Anordnung soll die Ionisationsrate bei dem verdampften Material erhöht und gleichzeitig eine Separation der nichtionisierten Atome und der Ionen (6) erreicht werden. DOLLAR A Das Plasma (7) wird durch ein Magnetfeld auf ein zu beschichtendes Substrat (3) bzw. auf ein Ionenextraktionsgitter (13) gerichtet. Durch ein positives elektrisches Potential am im Plasma (7) befindlichen Materialvorrat (5) werden Plasmaelektroden auf den Materialvorrat (5) hin beschleunigt und bewirken somit die Verdampfung. Da nur maximal 5% der Plasmaelektronen hierfür benötigt werden, kann das Plasma (7) eine gegenüber dem Stand der Technik erhöhte Ionisationsrate beim verdampften Material bewirken. Durch das Magnetfeld wird gleichzeitig eine Separation von Ionen und nichtionisierten Atomen erreicht.
Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Erzeugung von Ionen umfassend eine Plasmaquellen
kathode umfassende Mittel zur Erzeugung eines Plasmas, Mittel zur Erzeugung eines Magnetfel
des zur Bündelung des Plasmas, ein Zielelement, einen für die Aufnahme eines Materialvorrats
geeigneten Vorratsbehälter und Mittel zur Erzeugung eines positiven elektrischen Potentials an
einer freien Oberfläche des Materialvorrats.
Anordnungen der eingangs genannten Art finden Verwendung insbesondere bei der Beschichtung
von Substraten, bei Ionenimplantationen und in Ionenstrahlquellen (siehe zur Beschichtung: De
position of hard coatings by a hollow-cathode arc evaporation device; A. Lunk; Materials
Science and Engineering, A140 (1991), S. 666 und Vacuum coating with a hollow cathode
source; Duane G. Williams; J. Vac. Sci. Technol., Vol. 11, No. 1, 974, S. 374). Für die Be
schichtung von Substraten ist die Verwendung von Ionen vorteilhaft, da hierbei die kontrollierte
Einstellung von Beschichtungsstruktur und Beschichtungseigenschaft erleichtert ist. Bei bekann
ten Anordnungen wird zur Erzeugung der Ionen in einer Vakuumkammer mittels einer Hohlka
thode eine Bogenentladung bewirkt. Als Anode für den das Plasma enthaltenden Bogen dient un
mittelbar der Materialvorrat, aus dem die Ionen erzeugt werden. Um das Plasma gezielt in den
Materialvorrat einzuleiten, kann ein Magnetfeld eingesetzt werden (s. A. Lunk; a. a. O.). Somit
werden sämtliche den Strom im Plasma führenden Elektronen mit hoher Energie in den Material
vorrat geleitet, wo das Material verdampft und zum Teil durch das Plasma ionisiert wird. Die Io
nen können dann zum Zielelement, d. h. im Falle einer Beschichtungsanlage zum Substratkörper,
hin beschleunigt werden, indem am Zielelement ein negatives elektrisches Potential angelegt wird.
Da das Plasma direkt über den Materialvorrat in einen Verdampfungstiegel eingeleitet wird, wird
ein großer Teil der Plasmaenergie für die Verdampfungswärme verbraucht und steht daher nicht
mehr für eine Ionisation der verdampften Atome zur Verfügung. Hieraus folgt insbesondere als
Nachteil, daß der Anteil der Ionen am verdampften Material relativ gering ist. Zudem findet auch
keine wirkungsvolle Trennung von nichtionisierten verdampften Atomen und Ionen statt, so daß
ein dementsprechend hoher Anteil an nichtionisierten Atomen das Zielelement erreichen kann.
Aus der DE 41 02 554 A1 ist eine Schaltungsanordnung zum Zünden und Betreiben einer Hohl
kathodenentladung bekannt. Diese Druckschrift offenbart ebenfalls eine Verdampfereinrichtung,
bei der das Plasma der Bogenentladung zum Verdampfen eines zur Beschichtung eines Substrats
dienenden Materials dient. Der Einsatz eines Magnetfeldes zur Bündelung des Plasmas wird hier
nicht offenbart.
Es ist nun Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Anordnung der eingangs genannten Art be
reitzustellen, bei der eine gegenüber dem Stand der Technik erhöhte Ionisationsrate sowie eine
wirkungsvolle Trennung von Ionen und nichtionisierten Atomen erreicht wird.
Bei einer Anordnung der eingangs genannten Art wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß die Mittel
zur Erzeugung des Plasmas, die Mittel zur Erzeugung des Magnetfeldes, das Zielelement und der
Vorratsbehälter derart angeordnet sind, daß sich im Einsatz das Plasmabündel von der Plas
maquellenkathode bis hin zum Zielelement erstreckt und die freie Oberfläche des Materialvorrats
innerhalb des Plasmabündels zwischen Plasmaquellenkathode und Zielelement so gelegen ist, daß
das Zielelement nicht in einer bevorzugten Bewegungsrichtung der verdampften, nichtionisierten
Materialatome angeordnet ist.
Durch das das Plasma bündelnde Magnetfeld werden die aus dem verdampften Material erzeugten
Ionen eingeschlossen und zum Zielelement geführt. Die nichtionisierten Atome des verdampften
Materials werden durch das Magnetfeld nicht beeinflußt und verteilen sich in Abhängigkeit von
der Verteilung der Bewegungsrichtungen beim Verdampfen statistisch in der Vakuumkammer.
Hierdurch ist eine wirksame Trennung von Ionen und nichtionisierten Atomen gewährleistet. Ist
das Plasma hinreichend dicht, kann zudem erreicht werden, daß nur ein geringer Anteil der Elek
tronen des Plasmas zur Verdampfung des Materials eingesetzt wird. Damit steht ein dementspre
chend großer Teil des Plasmas für die Ionisation der verdampften Atome zur Verfügung. Auf
diese Weise wird eine gegenüber dem Stand der Technik erhöhte Ionisationsrate bewirkt.
Das in der Regel aus Argon oder Helium erzeugte Plasma weist typischerweise einen Entladungs
strom zwischen 20 A und 100 A bei einer Plasmaspannung zwischen 40 V und 100 V auf und
wird in einer Vakuumkammer bei einem Druck von etwa 0,1 Pa bis 1 Pa eingesetzt. Das positive
elektrische Potential am Materialvorrat beträgt typischerweise +10 V bis +100 V gegenüber bei
spielsweise dem Gehäuse der Vakuumkammer. Die Stärke des Magnetfelds beträgt typischer
weise 5 mT bis 15 mT.
Die erfindungsgemäße Anordnung kann auch so ausgebildet sein, daß im Falle der Verwendung
der Ionen für Beschichtungen und Ionenimplantationen das Zielelement ein Substratkörper ist.
Weiterhin kann die erfindungsgemäße Anordnung so ausgebildet sein, daß am Substratkörper ein
negatives elektrisches Potential angelegt ist. Dieses Potential beträgt typischerweise bis zu -100 V
gegenüber beispielsweise dem Gehäuse der Vakuumkammer.
Schließlich kann die erfindungsgemäße Anordnung vorteilhaft so ausgebildet sein, daß im Falle
der Verwendung der Ionen für gerichtete Ionenstrahlen das Zielelement ein Ionenextraktionsgitter
ist. Das Ionenextraktionsgitter weist typischerweise ein negatives elektrisches Potential von
-500 V bis -10 kV gegenüber beispielsweise dem Gehäuse der Vakuumkammer auf.
Vorteilhafte Ausbildungsformen der erfindungsgemäßen Anordnung werden im folgenden anhand
von Figuren dargestellt.
Es zeigt schematisch
Fig. 1: den Aufbau einer Beschichtungsanlage und
Fig. 2: den Aufbau einer Ionenquelle für einen gerichteten Ionenstrahl.
Fig. 1 zeigt eine Vakuumkammer 1, die über eine Pumpenanschlußöffnung 2 an eine hier nicht
dargestellte Vakuumpumpe angeschlossen ist. Innerhalb der Vakuumkammer 1 befindet sich ein
Substrat 3 für die Beschichtung mit einem Metall, beispielsweise Aluminium. In einem Tiegel 4
befindet sich ein Metallvorrat 5 als Quelle für das Beschichtungsmaterial. Die Beschichtung soll
im wesentlichen mit Metallionen 6 (symbolisiert durch das Zeichen "i+") erfolgen. Zur Erzeugung
der Metallionen 6 wird das Metall im Materialvorrat 5 mit Hilfe beschleunigter Elektronen eines
Plasmas 7 verdampft. Das Plasma 7 wird durch eine nur symbolisch angedeutete
Hochstromplasmaquelle 8, beispielsweise eine Hohlkathode, erzeugt. Zur Beschleunigung der
Plasmaelektronen auf den Materialvorrat 5 hin ist am Materialvorrat 5 ein elektrisch positives
Potential über eine Spannungsquelle 9 angelegt.
Das Plasma 7 wird durch das Magnetfeld einer Spulenanordnung 10 gebündelt. Der Verlauf des
auf das Substrat hin gerichteten Bündels ist durch die gestrichelten Linien 11 angedeutet. Das
Plasma 7 ist im Bündel mit etwa 1012 Ionen pro cm3 hochdicht. Für die Verdampfung des
Materialvorrats 5 werden etwa nur 1% bis 5% der Plasmaelektronen benötigt, so daß der Abzug
der für die Verdampfung notwendigen Plasmaelektronen den Bestand des Plasmas 7 nur
unwesentlich beeinflußt. In dem hochdichten Plasma 7 werden die aus dem Materialvorrat 5
verdampften Metallatome zu etwa 90% ionisiert. Die Metallionen 6 sind dann Teil des durch das
angelegte Magnetfeld gebündelten Plasmas 7, so daß sie dieses nicht durch ein seitliches
Ausweichen verlassen können. Der nichtionisierte Anteil der verdampften Metallatome hingegen
wird durch das Magnetfeld rächt beeinflußt, so daß sie sich unmittelbar nach dem Verdampfen in
der Vakuumkammer 1 verteilen. Auf diese Weise wird durch das angelegte Magnetfeld neben der
Bündelung des Plasmas 7 gleichzeitig eine wirksame Separation von Metallionen 6 und
nichtionisierten verdampften Metallatomen erreicht. Die Wirkung dieser Separation wird für die
Beschichtung des Substrats 3 noch dadurch erhöht, daß das Substrat 3 nicht in einer der
bevorzugten Bewegungsrichtungen der verdampften, nichtionisierten Metallatome, die durch die
Linien 12 angedeutet sind, angeordnet ist.
Fig. 2 zeigt schematisch den Aufbau einer Ionenquelle für einen hier nicht dargestellten
gerichteten Ionenstrahl. Die Komponenten der Fig. 2, die in Fig. 1 mit gleicher Funktion ebenfalls
enthalten sind, sind mit den entsprechenden Bezugszeichen versehen. Zur Vermeidung von
Wiederholungen wird diesbezüglich auf die Beschreibung zur Fig. 1 verwiesen. Anstelle des
Substrats 3 in Fig. 1 ist in Fig. 2 ein Ionenextraktionsgitter 13 angeordnet. Dieses
Ionenextraktionsgitter 13 wird allein von den positiv geladenen Metallionen 6 passiert, die über
eine hier nicht dargestellte Strahlführungsoptik zu einem gerichteten Ionenstrahl formiert
werden können.
1
Vakuumkammer
2
Pumpenanschlußöffnung
3
Substrat
4
Tiegel
5
Metallvorrat
6
Metallion
7
Plasma
8
Hochstromplasmaquelle
9
Spannungsquelle
10
Spulenanordnung
11
Bündelgrenze
12
Linien
13
Ionenextraktionsgitter
Claims (4)
1. Anordnung zur Erzeugung von Ionen, umfassend
- a) eine Plasmaquellenkathode (8) umfassend Mittel zur Erzeugung eines Plasmas (7),
- b) Mittel (10) zur Erzeugung eines Magnetfeldes zur Bündelung des Plasmas (7),
- c) ein Zielelement (3, 13),
- d) einen für die Aufnahme eines Materialvorrats (5) geeigneten Vorratsbehälter (4) und
- e) Mittel (9) zur Erzeugung eines positiven elektrischen Potentials an einer freien Oberfläche des Materialvorrats (5),
- a) die Mittel zur Erzeugung des Plasmas, die Mittel (10) zur Erzeugung des Magnetfeldes, das
Zielelement (3, 13) und der Vorratsbehälter (4) derart angeordnet sind, daß
- 1. sich im Einsatz das Plasmabündel von der Plasmaquellenkathode (8) bis hin zum Zielelement (3, 13) erstreckt und
- 2. die freie Oberfläche des Materialvorrats (5) innerhalb des Plasmabündels zwischen Plasmaquellenkathode (8) und Zielelement (3, 13) so gelegen ist, daß das Zielelement (3, 13) nicht in einer bevorzugten Bewegungsrichtung der verdampften, nichtionisierten Materialatome angeordnet ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im Falle der Verwendung der
Ionen für Beschichtungen und Ionenimplantationen das Zielelement (3, 13) ein Substratkörper ist.
3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß am Substratkörper ein
negatives elektrisches Potential angelegt ist.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß im Falle der Verwendung der
Ionen für gerichtete Ionenstrahlen das Zielelement (3, 13) ein Ionenextraktionsgitter ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998101427 DE19801427C1 (de) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von Ionen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998101427 DE19801427C1 (de) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von Ionen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19801427C1 true DE19801427C1 (de) | 1999-10-07 |
Family
ID=7854784
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998101427 Expired - Fee Related DE19801427C1 (de) | 1998-01-16 | 1998-01-16 | Verfahren und Anordnung zur Erzeugung von Ionen |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19801427C1 (de) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4102554A1 (de) * | 1991-01-29 | 1992-09-03 | Dresden Vakuumtech Gmbh | Schaltungsanordnung zum zuenden und betreiben einer hohlkatodenbogenentladung |
-
1998
- 1998-01-16 DE DE1998101427 patent/DE19801427C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4102554A1 (de) * | 1991-01-29 | 1992-09-03 | Dresden Vakuumtech Gmbh | Schaltungsanordnung zum zuenden und betreiben einer hohlkatodenbogenentladung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
LUNK, A., Deposition of hard by a hollow- cathode arc evaportation device, Materials Sciene and Engineering A 140 (1991) 666-669 * |
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8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |