DE19782244T1 - IC-Testverfahren und unter Anwendung dieses IC-Testverfahrens arbeitendes IC-Testgerät - Google Patents

IC-Testverfahren und unter Anwendung dieses IC-Testverfahrens arbeitendes IC-Testgerät

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DE19782244T1
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    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
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    • G—PHYSICS
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