DE19780113T1 - Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit und Impulserzeugungseinrichtung zum Messen einer Verzögerungszeit für den Einsatz bei der Implementierung dieses Verfahrens - Google Patents

Verfahren zum Messen einer Verzögerungszeit und Impulserzeugungseinrichtung zum Messen einer Verzögerungszeit für den Einsatz bei der Implementierung dieses Verfahrens

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DE19780113T1
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    • GPHYSICS
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    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/3193Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5787092A (en) * 1997-05-27 1998-07-28 Hewlett-Packard Co. Test chip circuit for on-chip timing characterization
DE10024476A1 (de) * 2000-05-18 2001-12-20 Infineon Technologies Ag Vorrichtung zum Testen einer elektrischen Schaltung
JP4846215B2 (ja) * 2004-08-27 2011-12-28 株式会社アドバンテスト パルス発生器、タイミング発生器、及びパルス幅調整方法
JP2006189336A (ja) * 2005-01-06 2006-07-20 Advantest Corp 半導体デバイス、試験装置、及び測定方法
KR100921815B1 (ko) * 2007-06-18 2009-10-16 주식회사 애트랩 지연시간 측정회로 및 지연시간 측정 방법
JP2009031297A (ja) * 2008-08-22 2009-02-12 Advantest Corp 半導体試験システム
JP2009063567A (ja) * 2008-08-22 2009-03-26 Advantest Corp 半導体試験システム

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0534418A (ja) * 1991-07-31 1993-02-09 Oki Electric Ind Co Ltd テスト回路
JP2965049B2 (ja) * 1991-07-31 1999-10-18 株式会社アドバンテスト タイミング発生装置
JPH05281288A (ja) * 1992-03-31 1993-10-29 Oki Electric Ind Co Ltd テスト回路

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