DE19747248A1 - Reflexionslichtschranke - Google Patents
ReflexionslichtschrankeInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betrieb einer Reflexionslichtschranke
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Reflexionslichtschranke
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 13.
Eine derartige Reflexionslichtschranke ist aus der DE 42 21 726 C1 bekannt.
Die Reflexionslichtschranke weist einen Sender und einen Empfänger auf,
welche in einem Gehäuse untergebracht sind. Das Gehäuse und der Reflektor der
Reflexionslichtschranke sind an gegenüberliegenden Enden des zu über
wachenden Bereichs so angeordnet, daß bei freiem Strahlengang die vom Sender
emittierten Sendelichtstrahlen auf den Reflektor treffen und von dort zum Emp
fänger zurückreflektiert werden. Die am Ausgang des Empfängers anstehenden
Empfangssignale werden mit dem Schwellwert verglichen. Da vom Reflektor ein
großer Anteil des Sendelichts auf den Empfänger zurückreflektiert wird, liegt der
Pegel des Empfangssignals oberhalb des Schwellwerts. Befindet sich ein diffus
reflektierendes Objekt im Strahlengang, so gelang eine geringere Lichtmenge
zum Empfänger, so daß der Pegel des Empfangssignals unterhalb des Schwell
werts liegt. Auf diese Weise können mit der Reflexionslichtschranke im Über
wachungsbereich befindliche diffus reflektierende Objekte sicher erkannt werden.
Durch den Einsatz von polarisierenden Mitteln, welche dem Sender nachgeord
net und dem Empfänger vorgeordnet werden, können auch glänzende Objekte
mit der Reflexionslichtschranke erfaßt werden.
Der Erfindung liegt demzufolge die Aufgabe zugrunde eine Reflexionslicht
schranke der eingangs genannten Art möglichst einfach parametrierbar zu ge
stalten, damit verschiedenartige Objekte, insbesondere auch aus Klarglas be
stehende, sicher detektierbar sind.
Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen.
Die Erfindung wird im nachstehenden anhand von Zeichnungen erläutert. Es
zeigen:
Fig. 1: Ein Blockschaltbild der erfindungsgemäßen der Reflexionslicht
schranke,
Fig. 2: zeitlicher Verlauf des Empfangssignalpegels und den daraus abge
leiteten Schwellwerten,
Fig. 3: eine schematische Darstellung der Fokussierung des Sendestrahls
durch ein transparentes Objekt.
Fig. 1 zeigt eine Reflexionslichtschranke 1 zum Nachweis von Objekten 7 in
einem Überwachungsbereich, an dessen einem Ende ein gepulste Sendelicht
strahlen 3 aussendender geregelter Sender 2 und ein Empfangsimpulse 6 emp
fangender Empfänger 8 und an dessen anderem Ende ein Reflektor 5 angeordnet
ist, dargestellt. Das am Ausgang des Empfängers 8 anstehende Empfangssignal
wird mit Hilfe eines AD-Umsetzters 9 digitalisiert und in einer Rechnereinheit
10 weiterverarbeitet. Die Rechnereinheit 10 steuert den Sender 2 über eine mehr
stufige Treiberschaltung 4 sowie einen Warn- 13 und einen Schaltausgang 11 an.
Ein Abgleichvorgang kann mittels eines Steuereingangs 12, der ebenfalls an die
Rechnereinheit 10 angeschlossen ist, ausgelöst werden.
Hierbei wird das digitalisierte Empfangssignal mit einem Schwellwert S1, dem
Schaltpegel verglichen. Dieser Schwellwert S1 ist in zwei Schwellwerte, einen
unteren Schwellwert S1U und einem oberhalb des Schwellwerts S1U liegenden
zweiten Schwellwert S1O aufgespalten. Der Bereich zwischen den beiden
Schwellwerten S1U und S1O bildet die Schalthysterese.
Bei freiem Strahlengang liegt das Empfangssignal oberhalb des oberen Schwell
werts S1O. Die Differenz des Pegels des Empfangssignals bei freiem Strahlen
gang (S0) und des Schwellwerts S1O wird als Funktionsreserve bezeichnet. Be
findet sich ein Objekt 7 im Überwachungsbereich, welches den Strahlengang der
Reflexionslichtschranke 1 unterbricht, so daß nur noch eine im Vergleich zum
freien Strahlengang geringere Lichtmenge auf den Empfänger 8 auftrifft, so liegt
das Empfangssignal unterhalb des ersten unteren Schwellwerts S1U.
Dabei sind die Schwellwerte S1U und S1O so gewählt, daß bereits eine geringe
objektbedingte Abschwächung der auf den Empfänger 8 auftreffenden Licht
menge dazu führt, daß das Empfangssignal unter den Schwellwert S1U absinkt
und damit zu einer Objektmeldung am Schaltausgang 11 führt. Dadurch ist ge
währleistet, daß auch transparente Medien, insbesondere Klarglasprodukte, wie
zum Beispiel Flaschen, erkannt werden können.
Die Festlegung der Schwellwerte erfolgt während eines Abgleichvorgangs bei
welchem sich kein Objekt 7 im Überwachungsbereich befindet. Der Abgleichvor
gang durch einen externen Eingriff mittels des Steuereingangs 12 ausgelöst.
Hierbei wird von der Rechnereinheit 10 der Pegel des vom AD-Umsetzer 9
digitalisierten Empfangssignal bewertet. Liegt dieser Pegel in einem zulässigen
Bereich, der durch den Regelbereich des Verstärkers und das Systemrauschen
bestimmt wird, so wird dieser Referenzpegel 50 zur Berechnung der Schwell
werte S1U und S1O herangezogen. Der untere Schwellwert S1U wird aus dem
Referenzpegel S0 berechnet und ist bei einer Anwendung, bei der transparente
Medien erkannt werden sollen typisch 90% dieses Referenzpegels S0. Der obere
Schwellwert S1O ergibt sich aus dem errechneten unteren Schwellwert S1U im
einfachsten Fall durch Addition einer zeitlich konstanten Schalthysterese. Als für
die Praxis besser geeignet erwies sich aber eine zeitlich veränderliche
(dynamische) Schalthysterese. Diese wird ebenfalls aus dem Referenzpegel S0
zum Zeitpunkt des Abgleiches abgeleitet und ist kleiner als die Differenz von
Referenzpegel S0 und dem unteren Schwellwert S1U. Wird die Schalthysterese
relativ groß gewählt, verringert sich die Funktionsreserve zwangsläufig. Deshalb
ist es sinnvoll bei einem hohen Referenzpegel S0, d. h. hier bei einer großen
Funktionsreserve, eine größere Schalthysterese zu wählen, als bei einem ver
gleichbar geringeren Referenzpegel S0. Auf diese Weise werden durch Signal
rauschen verursachte Fehlschaltungen weitgehend vermieden. Bei der
dynamischen Schalthysterese ist darauf zu achten, daß dieser Wert nicht unter
ein Minimum fällt, das sich aus dem Rauschen des Gesamtsystems ableitet und
typisch bei ca. 50 mV liegt.
Für Klarglasanwendungen wird die Schalthysterese zweckmäßigerweise
möglichst gering gehalten, um eine möglichst große Funktionsreserve zu er
halten. Die dynamische Schalthysterese kann auch bei anderen Anwendungen,
wie der Erkennung von Buntglas und nicht transparenten Medien, eingesetzt
werden. Die Verwendung einer dynamischen Schalthysterese ist dann vorteilhaft,
wenn der Referenzpegel S0 und damit die Schaltschwellen S1O, S1U selbst zeit
lich veränderlich sind. Dann kann die Schalthysterese auf einfache Weise durch
Multiplikation eines konstanten Werts mit dem Referenzpegel S0 und des ent
sprechendem unteren Schwellwerts S1U dadurch abgeleitet werden.
Bei den zyklischen oder sporadischen Abgleichvorgängen, die bei den jeweiligen
Anwendungen und/oder der auftretenden Verschmutzung entsprechend zwischen
einigen ms bis zu mehreren Stunden liegen, wird eine Änderung des Referenz
pegels S0 zum letzten Abgleichvorgang registriert und kann für den neuen Ab
gleichvorgang verwendet werden.
Bei jedem Abgleichvorgang werden die Schwellwerte S1U und S1O neu be
rechnet und der Referenzpegel S0 als Vergleichswert für den folgenden Abgleich
vorgang abgespeichert. Bei einer Erhöhung des Referenzpegels S0 im Vergleich
zum letzten Abgleichvorgang, wird die Senderleistung zweckmäßigerweise in
definierten Schritten verringert. Die Senderleistung wird dabei bis auf eine
definierte Minimalleistung reduziert, die eine korrekte Funktion des Senders 2
garantiert.
Bei einer Verringerung des Referenzpegels S0 im Vergleich zum letzten Ab
gleichvorgang auf einen kritischen Empfangssignalpegel, der nicht mehr im zu
lässigen Bereich liegt, wird die Senderleistung, falls diese noch unterhalb des
Maximalwerts liegt, um einen vorgegebenen Wert vergrößert und mit dieser
neuen Senderleistung automatisch ein erneuter Abgleichvorgang gestartet und
das Ergebnis nach den gleichen Kriterien bewertet. Dies wird so lange wieder
holt bis der Empfangssignalpegel wieder im zulässigen Bereich liegt oder der
Sender 2 nicht weiter aufgesteuert werden kann. Nach erfolgtem Abgleich wird
der durch den außerhalb des zulässigen Bereichs liegenden Empfangssignalpegel
gesetzte Warnausgang 13 zurückgesetzt, es sei denn, der empfangene Referenz
pegel S0 erreicht bei maximaler Senderleistung nicht einen definierten
Minimumpegel. Das nach dem Abgleich anstehende Warnsignal informiert den
Anwender, daß der Reflektor 5 oder das Austrittsfenster der Reflexionslicht
schranke 1 verschmutzt sind, wodurch der Pegel des Empfangssignals 14 redu
ziert ist ohne daß zu diesem Zeitpunkt die Leistungsfähigkeit der Reflexions
lichtschranke 1 schon beeinträchtigt wäre.
Nach dem Reinigen des Austrittsfensters der Reflexionslichtschranke 1 oder des
Reflektors 5 und anschließendem Abgleich bei freier Strecke ist die Reflexions
lichtschranke 1 wieder uneingeschränkt betriebsbereit.
Ein weiterer, eine Warnschwelle bildender Schwellwert S2 (Fig. 2) zur
Generierung eines Warnsignales, wie er aus der DE 42 28 112 bekannt ist, infor
miert den Anwender, wenn der Pegel des Empfangssignals bei freiem Strahlen
gang an der Grenze der Funktionsreserve liegt. Hier arbeitet die Reflexionslicht
schranke 1 noch fehlerfrei, es wird lediglich durch einen Warnausgang 13
signalisiert, daß ein Abgleich durchgeführt werden sollte, um die sichere
Funktion weiter zu gewährleisten.
Bei jedem Abgleichvorgang wird die Warnschwelle S2 in Abhängigkeit vom Re
ferenzpegel S0 und der unteren Schaltschwelle S1U, bzw. des zu detektierenden
Mediums generiert. Die Warnschwelle S2 liegt dabei zwischen dem oberen
Schwellwert S1O und dem Referenzpegel S0 und ist so zu dimensionieren, daß
eine möglichst große Funktionsreserve vorhanden ist, das Warnsignal aber recht
zeitig gesetzt wird, um Beeinträchtigungen der Funktionsfähigkeit der Re
flexionslichtschranke 1 anzuzeigen. Der Bereich zwischen dem Referenzpegel
S0 und der Warnschwelle S2 wird als Bereich mit ausreichender Funktions
reserve und der Bereich zwischen S2 und S1 als Bereich ohne ausreichende
Funktionsreserve bezeichnet (Fig. 2). Die Differenz zwischen Warnschwelle S2
und Schaltschwelle muß bei Klarglasanwendungen möglichst klein gewählt
werden. Bei weniger transparenten Medien oder nicht transparenten Medien, die
systembedingt schon eine größere Funktionsreserve aufweisen, kann diese
Differenz größer sein. Wenn bei einer bestimmten Anzahl von aufeinander
folgenden Abdunklungen durch ein Objekt 7 keine ausreichende Funktions
reserve mehr vorhanden ist, wird der Warnausgang 13 gesetzt. Vorteilhafter
weise wird der Warnausgang 13 gesetzt, wenn bei drei aufeinander folgenden
Übergängen von Objekt 7 erkannt zu Objekt 7 nicht erkannt die Warnschwelle
S2 nicht mehr überschritten wurde. Zur Verbesserung des Ansprechverhaltens
des Warnausgangs 13 wird analog zur Schaltschwelle S1 die Warnschwelle S2
in eine untere Warnschwelle S2U und eine obere Warnschwelle S2O mit ent
sprechender Hysterese aufgespalten. Für diese Hysterese gelten sinngemäß die
gleichen Kriterien, wie für die oben erwähnte Schalthysterese. Fig. 2 zeigt
einen typischen Verlauf des Pegel des Empfangssignals 14 bei zunehmender
Verschmutzung. Zum Zeitpunkt t0 wird die Reflexionslichtschranke 1 abge
glichen und die Schwellwerte S1U, S1O werden berechnet. Bis zum Zeitpunkt
t1 ist die Reflexionslichtschranke 1 in Betrieb mit ausreichender Funktions
reserve. Zwischen t1 und t2 ist die Reflexionslichtschranke 1 im Bereich ohne
ausreichende Funktionsreserve und der Warnausgang 13 wird gesetzt. Wird
zwischen t1 und t2 kein Abgleich vorgenommen ist die Funktion der Reflexions
lichtschranke 1 ab dem Zeitpunkt t2, wenn der Empfangssignalpegel die Schalt
schwelle S1 unterschreitet, gestört.
Bei der Erkennung von Klarglasflaschen, kann es bei bestimmten Flaschen und
Anordnungen zu einer Fokussierung der Sendelichtstrahlen 3 kommen, was zu
Fehlschaltungen führen kann. Dieser Fall ist in Fig. 3 dargestellt. Dort ist die
Reflexionslichtschranke 1 nicht optimal ausgerichtet, so daß bei freiem Strahlen
gang nur ein Teil der Sendelichtstrahlen 3 auf den Reflektor 5 trifft und von dort
zum Empfänger 8 gelangt. Diese Sendelichtstrahlen 3' gelangen daher nicht nur
auf den Empfänger 8. Die Sendelichtstrahlen 3' können durch ein transparentes
Objekt 7 mit fokussierenden Eigenschaften zum Reflektor 5 hin gebrochen
werden (3''). Dadurch wird ein Empfangssignalpegel erzeugt, der oberhalb des
Referenzpegels S0 bei freiem Strahlengang liegt. Zur Vermeidung von Fehl
schaltungen wird ein weiterer Schwellwert S3 erzeugt, der über dem Referenz
pegel S0 liegt. Der Schwellwert S3 ist so gewählt, daß, falls im Strahlengang ein
transparentes Objekt 7 so angeordnet ist, daß dieses die Sendelichtstrahlen 3 auf
den Empfänger 8 fokussiert, der Empfangssignalpegel oberhalb des Schwellwerts
S3 liegt (Fig. 2). Wenn die Reflexionslichtschranke 1 abgeglichen ist, kann ein
Empfangssignalpegel, der oberhalb S0 liegt nur durch eine Fokussierung der
Sendelichtstrahls 3 hervorgerufen sein, d. h. es befindet sich ein Objekt 7 mit
fokussierenden Eigenschaften im Strahlengang. Dieses Objekt 7 würde mit der
Schaltschwelle S1 alleine nicht erkannt werden. Durch den Schwellwert S3, der
ebenfalls in zwei Schwellwerte S3U und S3O mit entsprechender Hysterese auf
gespalten ist, kann ein Objekt 7 mit fokussierenden Eigenschaften im Strahlen
gang erkannt werden. Auf eine derartige Objekterkennung kann entsprechend
reagiert werden, z. B. durch Generierung einer Objekt- oder Warnmeldung oder
durch Verwerfen der Messung.
Die oben beschriebene Auswertung für Klarglasanwendungen kann auch ohne
weiteres auf Anwendungen mit größeren Transmissionsverlusten, z. B. Buntglas
oder nicht transparente Medien angewendet werden. Hierbei muß die Reflexions
lichtschranke 1 nur in der Schaltschwelle S1 und der Warnschwelle S2 für die
entsprechenden Transmissionsverluste geändert werden. Diese Änderung der
Parametrierungen kann über zusätzliche Eingänge an der Rechnereinheit 10
realisiert werden. Hierfür könnte im einfachsten Fall ein mechanischer Schalter
oder ein Potentiometer an der Reflexionslichtschranke 1 genutzt werden. Alter
nativ kann die Änderung der Parametrierung über eine Sensorbus-Schnittstelle
erfolgen.
Ist nur ein Steuereingang 12 vorgesehen, so können über Protokolle mit unter
schiedlichen Impulsfolgen die verschiedenen Parametrierungen aktiviert werden.
Der Steuereingang 12 kann auch als analoger Eingang für die bei SPS üblichen
0. . .10 V ausgelegt werden. Dabei kann ab einer Spannung USCHWELL ein Ab
gleich ausgelöst werden, wobei der angelegte analoge Spannungswert kontinuier
lich oder in Stufen für die Quantifizierung der Schaltschwelle genutzt werden
kann.
Eine besonders vorteilhafte Ausführung der Erfindung ist gegeben, wenn der
Empfangssignalpegel dem Anwender optisch angezeigt wird, wobei die Anzeige
ein relatives Maß für den Empfangssignalpegel ist. Dies hat besonders bei der
Inbetriebnahme und dem Ausrichten der Reflexionslichtschranke 1 und des Re
flektors 5 Vorteile, vor allem im Bezug auf fokussierende transparente Medien.
Der Empfangssignalpegel ist hierbei ein direktes Maß dafür, wie gut die Re
flexionslichtschranke 1 ausgerichtet ist, wobei das Bedienpersonal über die
Blinkfrequenz oder die Leuchtintensität einer LED geführt werden kann.
Die aktuellen Schwellwerte und die Senderansteuerung der Reflexionslicht
schranke 1 werden bei jedem Abgleich in einem nicht flüchtigen Speicher ge
speichert, damit beim Abschalten der Betriebsspannung die aktuellen Werte nicht
verloren gehen. Nach Wiederanlegen der Betriebsspannung können diese ausge
lesen werden und die Reflexionslichtschranke 1 ist sofort betriebsbereit, ohne
daß erneut abgeglichen werden muß.
Claims (16)
1. Verfahren zum Betrieb einer Reflexionslichtschranke mit einem Sende
lichtstrahlen emittierenden Sender und einem Empfänger an einem Ende
eines Überwachungsbereichs und einem Reflektor am anderen Ende des
Überwachungsbereichs, welcher die Sendelichtstrahlen bei freiem Strahlen
gang auf den Empfänger zurückreflektiert, wobei das am Ausgang des
Empfängers anstehende Empfangssignal mit einem eine Schaltschwelle
bildenden Schwellwert S1 verglichen wird, wobei das Empfangssignal bei
freiem Strahlengang oberhalb des Schwellwerts S1 liegt und das Emp
fangssignal unterhalb von S1 liegt, falls sich ein Objekt im Überwachungs
bereich befindet, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwellwert S1
während eines Abgleichvorgangs in Abhängigkeit eines Referenzpegels S0,
wobei der Referenzpegel S0 durch den Pegel des Empfangssignals gegeben
ist, welcher sich bei auf ein Referenzobjekt gerichteten Sendelichtstrahlen
(3) ergibt, festgelegt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Abgleichvor
gang bei freiem Strahlengang erfolgt, und daß das Referenzobjekt vom Re
flektor (5) gebildet ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Ab
gleichvorgang innerhalb vorgegebener Zeitintervalle fortlaufend wiederholt
wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenz
pegel S0 bei jedem Abgleichvorgang neu bestimmt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-4, dadurch gekennzeichnet, daß
der Schwellwert S1 in zwei Schwellwerte S1O und S1U aufgespalten ist,
wobei die Differenz der Schwellwerte S1O und S1U die Schalthysterese
bildet.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Schwellwert
S1U durch Multiplikation eines Faktors A mit dem Referenzpegel S0 be
rechnet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Faktor A =
0,5-0,9 beträgt.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5-7, dadurch gekennzeichnet, daß
der Schwellwert S1O durch Addition einer konstanten Schalthysterese und
dem Schwellwert S1U berechnet wird.
9. Verfahren nach einem der Ansprüche 5-7, dadurch gekennzeichnet, daß
der Schwellwert S1O durch Multiplikation eines konstanten Faktors mit
dem Referenzpegel S0 berechnet wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-9, dadurch gekennzeichnet, daß
aus dem Referenzpegel S0 eine Warnschwelle S2 berechnet wird, welche
oberhalb des Schwellwerts S1 liegt.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-10, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Warnsignalabgabe erfolgt, falls bei einer definierten Anzahl von
objektbedingten Schaltvorgängen der Pegel des Empfangssignals die Warn
schwelle S2 nicht überschreitet.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 1-11, dadurch gekennzeichnet, daß
ein Schwellwert S3 generiert wird, welcher oberhalb des Schwellwerts S0
liegt, wobei der Pegel des Empfangssignals oberhalb des Schwellwerts S0
liegt, wenn durch im Überwachungsbereich befindliche transparente Ob
jekte (7) eine bezüglich bei freiem Strahlengang erhöhte Lichtmenge auf
den Empfänger (8) trifft.
13. Reflexionslichtschranke zum Nachweis von Objekten in einem Über
wachungsbereich mit in einem Gehäuse integrierten einen Sendelicht
strahlen emittierenden Sender und einem Empfänger sowie einem dem Ge
häuse in Abstand gegenüberstehenden Reflektor, dadurch gekennzeichnet,
daß der Sender (2) und der Empfänger (8) an eine Rechnereinheit (10) in
welcher zu vorgegebenen Zeiten ein Abgleichvorgang gemäß dem Ver
fahren der Ansprüche 1-12 durchgeführt wird, und daß an die Rechner
einheit (10) extern betätigbare Anschlußmittel zur Aktivierung des Ab
gleichvorgangs angeschlossen sind.
14. Reflexionslichtschranke nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß
das Anschlußmittel von einem Potentiometer oder einem mechanischen
Schalter gebildet ist.
15. Reflexionslichtschranke nach Anspruch 13 dadurch gekennzeichnet, daß
das Anschlußmittel von einer Sensorbus-Schnittstelle gebildet ist.
16. Reflexionslichtschranke nach einem der Ansprüche 13-15, dadurch ge
kennzeichnet, daß deren Betriebsart über das Anschlußmittel umschaltbar
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1997147248 DE19747248A1 (de) | 1997-10-25 | 1997-10-25 | Reflexionslichtschranke |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1997147248 DE19747248A1 (de) | 1997-10-25 | 1997-10-25 | Reflexionslichtschranke |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19747248A1 true DE19747248A1 (de) | 1999-05-12 |
Family
ID=7846649
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997147248 Ceased DE19747248A1 (de) | 1997-10-25 | 1997-10-25 | Reflexionslichtschranke |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE19747248A1 (de) |
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