DE19741832A1 - Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle und Solarzelle - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle und SolarzelleInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 23
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 14
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 claims description 10
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 10
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 claims 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 claims 1
- 238000010329 laser etching Methods 0.000 claims 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 claims 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims 1
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 claims 1
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 52
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 24
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 24
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 14
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 14
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 12
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 6
- 238000001465 metallisation Methods 0.000 description 6
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 4
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 3
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 238000009776 industrial production Methods 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 2
- 230000005082 stem growth Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonium chloride Substances [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 229910001417 caesium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000009987 spinning Methods 0.000 description 1
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0236—Special surface textures
- H01L31/02363—Special surface textures of the semiconductor body itself, e.g. textured active layers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/06—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
- H01L31/062—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the metal-insulator-semiconductor type
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle umfassend ein
Halbleitersubstrat, in welchem durch einfallende Strahlungsenergie Ladungsträger erzeugt
werden, sowie elektrisch leitende Kontakte zum Ableiten von Ladungsträgern, wobei zur
Herstellung der Solarzelle
- - auf zumindest einer Halbleitersubstratfläche zumindest eine Kante ausgebildet wird, an die sich ein flankenartiger Bereich anschließt und
- - elektrisch leitfähiges Material mittelbar oder unmittelbar zumindest teilweise auf zumindest einen Teil der flankenartigen Bereiche aufgebracht wird.
Auch bezieht sich die Erfindung auf eine Solarzelle umfassend ein Halbleitersubstrat, in
welchem durch einfallende Strahlungsenergie Ladungsträger erzeugbar sind, die durch ein
elektrisches Feld trennbar und so dann über elektrisch leitende Kontakte ableitbar sind, wobei
- - auf zumindest einer Halbleitersubstratfläche zumindest eine Kante ausgebildet ist, an die sich ein flankenartiger Bereich anschließt und
- - elektrisch leitfähiges Material mittelbar oder unmittelbar auf zumindest einen Teil der flankenartigen Bereiche aufgebracht ist.
Zur industriellen Herstellung der Metallkontakte konventioneller kristalliner
Siliziumsolarzellen ist das Verfahren der Metallisierung mittels Siebdruck am weitesten
verbreitet. Hierbei wird eine metallhaltige Paste durch ein schablonenartig ausgebildetes Sieb
gepreßt und so auf die Solarzellenoberflächen an den gewünschten Stellen aufgebracht.
Anschließend werden die Pasten bei erhöhter Temperatur (ca. 700°C-800°C) gesintert, um
die in den Pasten vorhanden Lösungsmittel auszutreiben sowie einen möglichst elektrisch gut
leitfähigen und mechanisch stabilen Kontakt zur Siliziumoberfläche herzustellen. Der
hauptsächliche Vorteil dieses Verfahrens liegt in dessen Einfachheit und den sich daraus
ergebenden niedrigen Produktionskosten. Jedoch weist dieses Verfahren auch zahlreiche
Nachteile auf. Siebgedruckte Kontaktlinien weisen fertigungsbedingt typischerweise eine
Breite von mehr als 100 µm auf. Daraus resultiert eine relativ großflächige Abschattung der
lichtempfindlichen Solarzellenoberfläche, die bei ca. 12% liegt. Ferner erfordert der hohe
Anteil abgeschatteter Oberfläche einen Fingerabstand von mindestens 3 mm. Dies erfordert
wiederum eine starke Emitterdiffusion, um die Widerstandsverluste in der diffundierten
Schicht in einem verträglichen Rahmen zu halten. Ein weiteres problematisches Gebiet der
Solarzellen mit Siebdruckkontakten ist der hohe Kontaktwiderstand des Metall-Halbleiter-
Kontaktes. So ist es nötig, zur Erzielung genügend kleiner Übergangswiderstände vom
Halbleiter in das Metallgitter eine hohe Oberflächenkonzentration von Dotieratomen zu
gewährleisten. Diese Anforderungen der starken Emitterdiffusion und der hohen
Oberflächenkonzentration führen jedoch zu einer schlechten Empfindlichkeit im Bereich der
kurzwelligen Strahlung des Sonnenlichts. Dies kann dadurch erklärt werden, daß die
kurzwellige Strahlung sehr nahe unter der Solarzellenoberfläche absorbiert wird und dort
Elektronen-Loch-Paare erzeugt, die aufgrund der hohen Dotierung mit Fremdatomen in
diesem Bereich sehr schnell rekombinieren, ohne zum lichterzeugten Strom der Solarzelle
beizutragen.
Ein Ansatz, die oben genannten Probleme der Siebdruck-Solarzellen zu verringern, stellt die
sogenannte "Buried Contact"-Solarzelle (BCSC) dar (US-PAT 4726850). Bei diesem Zelltyp
werden auf der Oberfläche schmale und tiefe Gräben (Breite : Tiefe 1 : 2-1 : 7) erzeugt, die den
Ort und die Form der Metallisierung vorgeben. Diese wird nach Erzeugung der Gräben mit
Hilfe des Verfahrens der stromlosen Galvanik aufgebracht. Dabei füllt das abgeschiedene
Metall die Gräben vollständig oder nahezu vollständig aus. Durch die Erzeugung sehr
schmaler Gräben (20-50 µm) konnten die Abschattungsverluste gegenüber Siebdruckzellen
zwar reduziert werden, doch weist auch dieses Verfahren der Solarzellenherstellung
zahlreiche Nachteile auf. Um das scheinbar einfache Verfahren der stromlosen Galvanik zur
Metallisierung dieser Solarzellen anwenden zu können, sind eine Reihe zusätzlicher und
energieaufwendiger Prozeßschritte notwendig. Neben dem erforderlichen
Hochtemperaturschritt zur Emitterdiffusion (bei ca. 850°C) werden zur Herstellung der
konventionellen BCSC noch mindestens zwei weitere zeit- und energieaufwendige
Hochtemperaturschritte (jeweils mehrere Stunden bei ca. 1000°C ) benötigt (C. B. Honsberg
et al., Conf. Rec. 24th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, Hawaii, 1994, S. 1473-1476).
Der erste dieser beiden zusätzlichen Hochtemperaturschritte dient der Herstellung einer
Diffusionsbarriere, bestehend aus einem dicken thermischen Oxid für die anschließende
Tiefdiffusion in den Gräben. Der zweite ist die Tiefdiffusion in den Gräben selbst. Sie dient
im wesentlichen der Verringerung korrosionsbedingter Kurzschlüsse im Bereich der
galvanisch abgeschiedenen Metallfinger, die üblicherweise aus Nickel, Kupfer und Silber
bestehen. Auch ist dieser Metallisierungsschritt verbunden mit großen Mengen an
Galvanikbädern und -abfällen, die als ökologisch bedenklich gelten. Ferner führt diese Art der
Metallisierung, bei der die Form und Ausdehnung der Kontakte ausschließlich durch die der
Gräben bestimmt werden, zu einer relativ großen Metall-Halbleiter Kontaktfläche, was eine
Reduktion der Leerlaufspannung und damit des Wirkungsgrades zur Folge hat.
Es ist allgemein bekannt, daß vakuumaufgedampfte Kontakte die besten
Kontakteigenschaften aufweisen im Vergleich zu den vorgenannten siebgedruckten bzw.
galvanisch abgeschiedenen Kontakten. Als vielversprechende Möglichkeit zur Herstellung
von Metallkontakten auf Solarzellen ist das Verfahren der Vakuumaufdampfung unter einem
kleinen Winkel zur Solarzellenoberfläche bekannt (Borden et al. Proc. 16th IEEE Photovoltaic
Specialists Conference, San Diego, 1982, S. 574 ff, und Hezel Proc. 13th European
Photovoltaik Solar Energy Conference, Nice, 1995, S. 115-118). Hierbei wird die
Solarzellenoberfläche mit eng aneinanderliegenden parallel verlaufenden Gräben versehen,
die üblicherweise halbkreis- oder V-förmig ausgebildet sind. Die so geschaffenen sehr
schmalen Erhöhungen dienen somit als Schattenwurfkanten bei der nachfolgenden
Aufdampfung des metallischen Kontaktmaterials unter einem flachen Winkel zur
Substratoberfläche. Durch dieses Verfahren des Schrägaufdampfens werden die üblichen
Nachteile des konventionellen senkrecht Aufdampfens durch eine Schattenmaske vermieden,
da durch die Ausgestaltung der selbstabschattenden Erhöhungen zum einen auf die
Verwendung einer Schattenmaske zur Definition des Kontaktgitters verzichtet werden kann
und zum anderen der Anlagendurchsatz gegenüber einer senkrecht erfolgenden Aufdampfung
erheblich erhöht werden kann, da die Solarzellen in einem sehr flachen Winkel zur
Aufdampfrichtung sehr dicht angeordnet werden (Hezel Proc. 13th European Photovoltaik
Solar Energy Conference, Nice, 1995, S. 115). Auch wird hierbei das Aufdampfmaterial viel
besser ausgenutzt als bei der senkrechten Aufdampfung, bei der sich der größte Teil des
Metalls auf den Masken niederschlägt und von diesen erst wieder arbeitsintensiv abgeätzt
werden muß. Das hier vorgestellte Verfahren erlaubt eine Variation der Fingerbreite im
wesentlichen durch eine Variation des Aufdampfwinkels, da die Grabenbreite meist durch das
verwendete Werkzeug (z. B. diamantbesetztes Sägeblatt, Draht mit Läppmittel) vorgegeben
ist. Auch ist der Abstand der einzelnen Kontaktfinger bei diesen Strukturen unmittelbar durch
die Werkzeugbreite vorgegeben. Zellen dieses Typs erreichen gegenwärtig Wirkungsgrade
von 18.6% (Verbeek et al., Proc. 25th IEEE Photovoltaik Specialists Conference, Washington
D.C., 1996, S. 521). Durch die vom Druck in der Aufdampfkammer, der Ausdehnung der
Aufdampfquelle und der Streuung des Materials an den Schattenwurfkanten abhängige
Divergenz des Aufdampfstrahls ist ein scharfer Schattenwurf der Erhöhungen lediglich bis zu
einem Abstand von ca. 500 µm erzielbar. Der maximale Fingerabstand dieses Zelltyps ist
damit auf weniger als 500 µm beschränkt. Auch tritt bei V-förmigen Gräben eine relativ hohe
Verschattung durch die Metallfinger auf, da diese auf Ebenen verlaufen, die üblicherweise
einen Winkel von ca. 35° zur Substratnormalen aufwiesen. Ferner ist bei den oben genannten
Strukturen der erforderliche Siliziumabtrag recht hoch, da die Rinnen dicht beieinander
verlaufen. Dies führt zu einer erhöhten Abnutzung der zur Strukturierung verwendeten
Werkzeuge sowie zu erhöhten Bearbeitungskosten.
Der Erfindung liegt u. a. das Problem zugrunde, mittels einfacher Technologie und gegebenen
falls unter Anwendung großflächiger und insbesondere sehr einfacher und kostengünstiger
Bearbeitungsmethoden sehr effiziente Solarzellen herzustellen. Dabei soll eine
Anwendbarkeit für alle Arten von Halbleitern, Element- und Verbindungshalbleitern, sowohl
in einkristalliner Form beliebiger Oberflächenorientierung, in polykristalliner Form jeglicher
Korngröße und Orientierung als auch im amorphen Zustand, in selbsttragender (dicker)
Ausführung als auch mit Dünnfilmhalbleitern auf Fremdsubstrat möglich sein.
Das Problem wird dabei verfahrensmäßig im wesentlichen dadurch gelöst,
- - daß das elektrisch leitende Material maskierungsfrei und selektiv von allen nicht flankenartigen Bereichen durch Abätzen abgetragen wird derart, daß ausschließlich auf den parallel zur Substratnormalen verlaufenden flankenartigen Bereichen elektrisch leitende Kontakte erhalten bleiben.
Dabei wird vorzugsweise das die elektrisch leitenden Kontakte bildende Material ohne
Verwendung einer gesonderten Maske auf die flankenartigen Bereiche mit dem Verfahren des
Vakuumaufdampfens unter einem flachen Winkel zur Substratebene aufgebracht.
Ferner wird das eingangs gestellte Problem auch durch eine Solarzelle gelöst, die sich dadurch
auszeichnet, daß die elektrisch leitenden Kontakte ausschließlich auf den flankenartigen
Bereichen, die zumindest abschnittsweise parallel oder nahezu parallel zur Substratnormale
angeordnet sind, verlaufen.
Jeweilige Ausgestaltungen ergeben sich sowohl aus den Unteransprüchen als auch aus der
gesamten Erläuterung der Erfindung.
Durch die erfindungsgemäße Lehre können ohne aufwendige Maskentechniken und
vorwiegend durch Selbstjustierung zusammenhängende Kontaktfingersysteme mit sehr
kleiner Verschattung der lichtempfindlichen Solarzellenoberfläche und dennoch großem
Leiterbahnquerschnitt erzeugt werden. Dies ist möglich, da die elektrisch leitenden Kontakte
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren ausschließlich auf parallel zur Substratnormalen
angeordneten flankenartigen Bereichen verlaufen.
Ein weiteres wesentliches Merkmal des Erfindungsgedankens ist es, die zum
Schrägaufdampfen erforderliche Oberflächenstruktur so auszubilden, daß zum einen die
Abschattung durch die Metallfinger bei genügend großem Leiterbahnquerschnitt so gering
wie möglich ausfällt, zum anderen der zur Strukturerzeugung notwendige Materialabtrag
minimiert wird. Dies führt u. a. zu den in den Zeichnungen und Ausführungsbeispielen
beschriebenen vorzugsweisen Strukturen.
Ein Grundgedanke der vorliegenden Erfindung besteht darin, das besondere Stengelwachstum
schrägaufgedampfter Metallschichten erfindungsgemäß vorteilhaft auszunutzen. Dabei wird
durch das zunehmende Stengelwachstum bei flacherem Aufdampfwinkel die abgeschiedene
Schicht immer poröser. Aus der zunehmenden Porösität der Schichten resultiert, wie in Fig. 5
gezeigt, eine drastische Zunahme der Ätzrate unter ansonsten gleichen äußeren Bedingungen.
Die Ausnutzung dieses Effektes ermöglicht es, die oben genannten erfindungsgemäß
ausgebildeten Oberflächenstrukturen besonders vorteilhaft zu nutzen, da die auf die nicht
flankenartigen Bereiche abgeschiedene Metallschicht sehr leicht abzuätzen ist. Daher muß die
Dicke des eigentlichen Metallkontaktes nicht größer ausgelegt werden, um den durch das
anschließende Abätzen entstehenden Dickenverlust auszugleichen.
Durch Anwendung der erfindungsgemäßen Lehre ist es ferner - abweichend von dem
eingangs diskutierten Stand der Technik - möglich, die Fingerbreiten nicht ausschließlich
durch den Aufdampfwinkel α oder die Werkzeugbreite a festzulegen, sondern vollkommen
unabhängig von diesen Größen durch die Sägetiefe bzw. Flankenbreite b, vorausgesetzt, daß
der Tangens des Aufdampfwinkels α stets größer ist als das Verhältnis von Flankenbreite b zu
Abstand Schattenkante/Flanke a (siehe Fig. 4a-c). Diese Tatsache ermöglicht bei der
Herstellung die genaue Einstellung des Aufdampfwinkels erheblich unkritischer handzuhaben.
Es stellt sich stets die gleiche Kontaktbreite k ein gegeben durch die Flankenbreite b.
Ein sehr wichtiges Merkmal des Erfindungsgedankens ist es, möglichst allgemein anwendbare
Oberflächenstrukturen zu schaffen, die es - abweichend von dem eingangs diskutierten Stand
der Technik - ermöglichen auch beliebig große Fingerabstände zu realisieren, was für gewisse
Solarzellentypen von entscheidendem Vorteil ist, da durch eine verringerte Fingeranzahl zum
einen die Abschattung verringert und damit der Kurzschlußstrom der Zelle erhöht wird. Zum
anderen aber auch die Metall-Halbleiterkontaktfläche verringert werden kann, was wiederum
den positiven Effekt einer Zunahme der Leerlaufspannung aufgrund verringerter
Rekombination an den Metallkontakten zur Folge hat.
Auch ist es gegenüber der BCSC von Vorteil, daß die Anforderungen an die Werkzeugbreite
und Verschleiß weitaus geringer sind, da nicht wie bei der BCSC möglichst schmale und tiefe
Gräben (mit vorzugsweisen Verhältnis, Breite : Tiefe 1 : 2-1 : 7) erforderlich sind, sondern
relativ breite und flache (mit vorzugsweisem Verhältnis Breite: Tiefe 1 : 1-10 : 1). Durch die
Ausgestaltung flacher Gräben ist es im Gegensatz zum Stand der Technik auch möglich, sehr
dünne Substrate mit einer erfindungsgemäß vorteilhaften Oberflächenstruktur zu versehen.
Auch wird erfindungsgemäß die Abschattung durch die Metallkontakte nicht durch die
technisch realisierbare Grabenbreite nach unten beschränkt, sondern ist durch die
Aufdampfdicke frei wählbar. Dies ist besonders vorteilhaft für Solarzellen mit geringem
Fingerabstand wie z. B. dem Typ der MIS-Solarzelle.
Erfindungsgemäß ist auch vorgesehen - abweichend vom eingangs diskutierten Stand der
Technik - die Solarzellenoberfläche mit einer zweiten viel kleineren Struktur z. B. Rinnen,
Gräben oder Pyramiden zu versehen, um so den Lichteinfang der Solarzellen noch zu
verbessern. Somit können beide Parameter (Lichteinfang, Kontaktabstand) unabhängig
voneinander optimal ausgelegt werden. Bei den bisher bekannten zum Schrägaufdampfen
verwendeten Oberflächenstrukturen diente die zur Kontaktherstellung verwendete Struktur
auch immer der Verbesserung des Lichteinfangs. Da die für den optimalen Lichteinfang
erforderlichen Strukturen in ihren Ausmaßen prinzipiell um mehr als eine Größenordnung
unter denen der Kontaktabstände liegen, wirken sich die beides in einem kombinierenden
Strukturen sehr nachteilig auf den Wirkungsgrad aus. Dieser Nachteil kann durch die
erfindungsgemäße Ausbildung der Oberflächenstruktur zur Herstellung der elektrisch
leitenden Kontakte eliminiert werden, da sich auf diesen Strukturen besonders einfach und vor
allem auch weitestgehend unabhängig von der erfindungsgemäßen Ausbildung dieser
Strukturen beliebige den Lichteinfang verbessernde Unterstrukturen anordnen lassen.
Ein weiterer Erfindungsgedanke besteht darin, vorzugsweise im tiefer liegenden Gebiet
zwischen zwei elektrisch leitfähigen Kontakten zusätzlich eine oder mehrere Vertiefungen
auszubilden, die auf Grund ihrer Tiefe und des dort weit in das Halbleitervolumen reichenden
pn-Übergangs die Sammlung von Minoritätsladungsträgern im Volumen des Halbleiters
verbessern. Die Vertiefungen können prinzipiell beliebig geometrisch beschaffen sein. Durch
geeignete Formgebung (sieh Fig. 3b) kann jedoch auch der Lichteinfang erhöht werden.
Vorzugsweise werden diese Vertiefungen durch geeignete Ausgestaltung des Werkzeugs
gleichzeitig mit den Kontaktvertiefungen hergestellt.
Weitere Einzelheiten, Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich nicht nur aus den
Ansprüchen, den diesen zu entnehmenden Merkmalen - für sich und/oder in Kombination -,
sondern auch der nachfolgenden Beschreibung eines den Zeichnungen zu entnehmenden
bevorzugten Ausführungsbeispiels.
Es zeigen:
Fig. 1 Kontaktanordnung auf einer strukturierten Solarzellenoberfläche,
Fig. 1a Detail aus Fig. 1 mit drei Ausgestaltungsmöglichkeiten der flankenartigen
Bereiche,
Fig. 1b Detail aus Fig. 1 mit teilweise passivierter Flanke,
Fig. 1c Detail aus Fig. 1 mit Metall-Isolator-Halbleiterkontakt,
Fig. 2 Erfindungsgemäße Ausgestaltungsmöglichkeiten der Oberflächenstruktur
der Solarzellen,
Fig. 3a Oberflächenstruktur mit aufgeprägter zweiter Struktur zur besseren
Lichteinkopplung in die Solarzelle,
Fig. 3b Oberflächenstruktur mit zweiter Struktur zur besseren Sammlung der
Minoritätsladungsträger in der Solarzelle,
Fig. 4 Das Verfahren des Schrägaufdampfens unter verschiedenen Winkeln a) tan
α < b/a, b) tan α = b/a und c) tan α < b/a auf strukturierte Oberflächen und die
daraus erfindungsgemäß resultierenden elektrisch leitfähigen Kontakte,
Fig. 5 Ätzrate von Aluminium in Abhängigkeit vom Aufdampfwinkel α.
Die erfindungsgemäßen Lehren sind grundsätzlich bei jeder Solarzelle realisierbar, werden
jedoch nur für Zellen mit einem dotierten pn-Übergang beschrieben. Dabei werden - soweit
möglich - für gleiche Elemente gleiche Bezugszeichen verwendet.
Fig. 1 zeigt in schematischer Darstellung einen Ausschnitt einer Solarzelle (1) mit zumindest
einer Halbleiteroberfläche (2) auf der Kanten (3) ausgebildet sind, an die sich flankenartige
Bereiche (4) anschließen und elektrisch leitfähige Kontakte (5) mittelbar oder unmittelbar auf
zumindest einen Teil der flankenartigen Bereiche aufgebracht sind.
Die Kanten und flankenartigen Bereiche lassen sich einfach mit Hilfe bewegter mechanischer
Strukturierungselemente (z. B. diamantbesetzte Werkzeuge, Drähte mit Läppmittel) oder durch
Verwendung von Laserschreibern ausbilden. Die Metallisierung kann durch das Verfahren des
Vakuumaufdampfens unter einem kleinen Winkel zur Substratoberfläche erfolgen.
Die Herstellung der Solarzelle der in Fig. 1 gezeigten Solarzelle ist sehr einfach. Ein Beispiel
für eine Prozeßfolge zur erfindungsgemäßen Herstellung einer pn-Solarzelle wird im
Folgenden detailliert beschrieben. Dabei besteht der Prozeß prinzipiell aus den folgenden acht
Prozeßschritten:
- 1. Ausbildung der flankenartigen Bereiche auf der Solarzellenoberfläche
- 2. Reinigung
- 3. Ausbildung des pn-Übergangs durch Diffusion von Fremdatomen
- 4. Aufbringen des Rückkontaktes und Sintern
- 5. Aufbringen des Vorderseitenkontaktes durch Schrägaufdampfen
- 6. Abätzen der überschüssigen Metalls von allen nicht flankenartigen Bereichen
- 7. Aufbringen eines Busbars
- 8. Aufbringen einer Antireflexschicht.
Verfahrensmäßig wird dabei wie folgt vorgegangen: Nach der Ausbildung der parallel
verlaufenden Kanten (3) und ihrer flankenartigen Bereiche (4) z. B. mittels einer
diamantbesetzten Schleifscheibe wird von der Solarzellenoberfläche durch Abätzen eine
dünne durch das Sägen geschädigte Oberflächenschicht abgetragen, da diese Schicht mit ihren
Versetzungen und Verunreinigungen eine erhöhte Oberflächenrekombination und damit einen
geringeren Wirkungsgrad zur Folge hätte. Danach erfolgt üblicherweise eine naßchemische
Reinigung, um alle organischen und metallischen Verunreinigungen von der
Solarzellenoberfläche zu entfernen. In einem nächsten Schritt wird die Solarzellenrückseite
mit einer Diffusionsbarriere aus z. B. PECVD Siliziumnitrid versehen, um nur auf der
Vorderseite durch Diffusion von geeigneten Fremdatomen (z. B. Phosphor bei p-dotiertem
Substrat) einen pn-Übergang zu erzeugen. Nach der Diffusion wird die Diffusionsbarriere von
der Rückseite durch Abätzen in Flußsäure entfernt. Anschließend wird der metallische
Rückkontakt durch Aufdampfen oder Siebdruck aufgebracht und gesintert. Danach erfolgt die
Ausbildung der Vorderseitenkontakte. Dies geschieht z. B. durch physikalisches Aufdampfen
einer Metallschicht im Vakuum unter einem flachen Winkel zur Substratoberfläche sowie
anschließendes naßchemisches maskierungsfreies und selektives Abätzen des überschüssigen
Metalls von allen nicht flankenartigen Bereichen (6) in einer für das jeweilige Metall
geeigneten und allgemein bekannten Ätzlösung (z. B. Ammoniaklösung, Salzsäure oder
Aluminiumätze). Abschließend werden die einzelnen Leiterbahnen durch das Aufbringen
einer elektrisch leitenden Querverbindung (Busbar) miteinander verbunden und die Solarzelle
mit einer Antireflexbeschichtung z. B. aus PECVD Siliziumnitrid versehen.
Zur Oberflächenstrukturierung ist es möglich, alternativ zu diamantbesetzten Werkzeugen
auch einen bewegten Draht unter Zugabe eines Läppmittels oder Laserstrahl zu verwenden.
Dabei können die sich an die flankenartigen Bereiche anschließenden Gebiete je nach
verwendetem Werkzeug z. B. kastenförmig, rinnenförmig oder dreiecksförmig ausgebildet
sein (siehe Fig. 2). Erfindungsgemäß wichtig ist lediglich, daß ein parallel oder nahezu
parallel zur Substratnormale verlaufender flankenartiger Bereich (4) ausreichender Breite
ausgebildet wird. Üblicherweise liegt diese Breite je nach Fingerabstand zwischen 5 und 50 µm.
Vorteilhaft sind hierbei Strukturen, die einen möglichst geringen Siliziumabtrag zur
Ausbildung der flankenartigen Bereiche erfordern, da Strukturierungskosten in erster
Näherung proportional sind zum zu entfernenden Siliziumvolumen. Soll neben der zur
Kontaktherstellung notwendigen Struktur eine weitere den Lichteinfang der Solarzelle
verbessernde wesentlich feinere Struktur (8) (z. B. Pyramiden oder Rillen, siehe auch Fig. 3a)
aufgebracht werden, so kann dies sowohl auf mechanische als auch auf chemische Weise nach
der Herstellung der Grobstruktur zur Kontaktaufbringung geschehen.
Die in Fig. 3b gezeigte, u. a. der Verbesserung der Sammlung der Minoritätsladungsträger im
Volumen des Halbleiters dienende Struktur (9) hat sägezahnförmige Gestalt, wobei die linke
Flanke zusätzlich das auftreffende Licht in das Halbleitersubstrat (2) reflektiert. Die
Verlegung des sammelnden pn-Übergangs in den Halbleiter kann sich von ca. 10 µm bis ca.
150 µm erstrecken. Diese Doppelfunktion der Struktur im Hinblick auf die optische und
elektrische Situation ist besonders für chemisch nicht texturierbare Halbleitermaterialien
geringer Diffusionslänge von Vorteil, wie z. B. multikristallines oder bandgezogenes Material.
Auch andere Formen der Vertiefungen zur Erhöhung der Sammlungswahrscheinlichkeit von
Minoritätsladungsträger (rechteckförmig, halbkreisförmig, v-förmig, u. a.) sind denkbar.
Die Erzeugung des pn-Übergangs auf der Solarzellenvorderseite kann statt durch Diffusion
aus der Gasphase auch durch Aufschleudern einer dotierstoffhaltigen Flüssigkeit (spin-on
dopant) erfolgen. Auch kann das Aufbringen einer rückseitige Diffusionsbarriere entfallen,
wenn in einem nachfolgenden Prozeßschritt die eingebrachten Fremdatome auf der Rückseite
durch eine entsprechende zweite Sorte von Fremdatomen kompensiert werden z. B. durch
Erzeugung eines Aluminium Back-Surface-Fields. Die Erzeugung des pn-Übergangs (11)
kann aber auch durch das Aufbringen fester Ladungen (Cs-Ionen und Siliziumnitrid) und
einer daraus resultierenden Inversion der Halbleiteroberfläche erfolgen.
Erfindungsgemäß sollen zwei Möglichkeiten, die Breite k der elektrisch leitenden Kontakte
(5) beim Aufbringen der Vorderseitenkontakte durch physikalisches Vakuumaufdampfen
unter einem flachen Winkel zur Substratoberfläche auf die flankenartigen Bereiche (4)
festzulegen, hervorgehoben werden (siehe Fig. 4). Bei der ersten Möglichkeit wird die
Kontaktbreite k durch den Aufdampfwinkel α und den Abstand a der Schattenwurfkante von
dem zu bedampfenden flankenartigen Bereich bestimmt. Es gelten: tan α < b/a und k = a.tan
α, wobei b die Breite des flankenartigen Bereiches angibt. Bei der zweiten Möglichkeit
hingegen wird die Kontaktbreite k ausschließlich durch die Breite b des flankenartigen
Bereichs bestimmt. Hierbei gelten: tan α ≧ b/a und k = b. Diese Anwendung des
erfindungsgemäßen Verfahrens erweist sich als sehr vorteilhaft, wenn im industriellen
Produktionsmaßstab auf die genaue Einstellung des Aufdampfwinkels α verzichtet werden
soll. Die Einstellung der Breite b der flankenartigen Bereiche ist wesentlich einfacher. Hinzu
kommt, daß die Kontaktbreite k somit frei von den einschränkenden Bedingungen (geringer
Abstand a und geringe Divergenz des Aufdampfstrahls) für einen scharfen Schattenwurf
durch die Kanten der Oberflächenstruktur ist.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltungsmöglichkeit der Erfindung beinhaltet die
Halbleiteroberfläche (2) vor Aufbringung der Kontakte erst mit einer Passivierschicht (7) zu
versehen, diese dann in schmalen Kontaktbereichen zu öffnen und dann mit breiteren
Metallkontakten (5) zu versehen, die sowohl auf der geöffneten Halbleiteroberfläche als auch
zumindest teilweise auf der Passivierschicht verlaufen (siehe Fig. 1b). Hierdurch kann die mit
einer hohen Ladungsträgerrekombination verbundene Metall-Halbleiter-Kontaktfläche
drastisch vermindert werden. Dies hat eine vorteilhafte Erhöhung der Leerlaufspannung und
somit des Wirkungsgrades zur Folge. Anders als in EP 0548863 beschrieben verläuft der
elektrisch leitende Metallkontakt erfindungsgemäß nicht auf plateauartigen Bereichen sondern
ausschließlich auf den flankenartigen Bereichen (4), die parallel oder nahezu parallel zur
Substratnormale verlaufen. Hieraus ergibt sich eine deutlich verminderte Abschattung durch
die opaken Metallfinger und somit ein Wirkungsgradvorteil.
Auch kann - gemäß Anspruch 12 - das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung der
Rückseitenkontakte von Solarzellen angewandt werden. Hierbei wird verfahrensmäßig
genauso vorgegangen wie bei der Herstellung der Vorderseitenkontakte. Vorzugsweise
verlaufen die rückseitigen Metallkontakte senkrecht zu den vorderseitigen um mögliche
Serienwiderstandsverluste zu minimieren. Der die Erfindung prägende Vorschlag, die
Leiterbahnen selbstjustierend auf parallel oder nahezu parallel zur Substratnormalen
verlaufenden flankenartigen Bereichen aufzubringen, ist auch für den Solarzellenrückkontakt
aus mehreren Gründen vorteilhaft. Zum einen ermöglicht dieses Verfahren die einfache
Herstellung beidseitig lichtempfindlicher Solarzellen, sogenannter Bifacial-Zellen, da nicht
wie bei herkömmlichen Solarzellen die gesamte Rückseite mit Metall bedeckt wird. Zum
anderen kommen für die Rückseite auch alle für die Vorderseite beschriebenen Vorteile voll
zur Geltung.
Claims (17)
1. Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle (1) umfassend ein Halbleitermaterial, in
welchem durch einfallende Strahlungsenergie Ladungsträger erzeugt werden, sowie
elektrisch leitende Kontakte (5) zum Ableiten von Ladungsträgern, wobei zur Herstellung
der Solarzelle
- - auf zumindest einer Halbleiteroberfläche (2) zumindest eine Kante (3) ausgebildet wird, an die sich ein flankenartiger Bereich (4) anschließt und
- - elektrisch leitfähiges Material (5) mittelbar oder unmittelbar zumindest teilweise auf
zumindest einen Teil der flankenartigen Bereiche aufgebracht wird,
dadurch gekennzeichnet, - - daß das elektrisch leitende Material maskierungsfrei und selektiv von allen nicht flankenartigen Bereichen (6) abgetragen wird derart, daß die elektrisch leitenden Kontakte ausschließlich auf den flankenartigen Bereichen, die zumindest abschnittsweise parallel oder nahezu parallel zur Substratnormale verlaufen, erhalten bleiben.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das elektrisch leitfähige Material (5) durch physikalisches Aufdampfen (PVD) im
Vakuum unter einem Winkel α zur Substratoberfläche mit 90° < α < 0°, vorzugsweise
30° < α < 1° aufgebracht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß es sich bei dem elektrisch leitfähigen Material (5) um Aluminium, Magnesium, Silber,
Titan, oder Palladium handelt.
4. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das elektrisch leitfähige Material zur Ausbildung eines Metall-Isolator-Halbleiter
(MIS)-Kontaktes auf eine auf der Halbleiteroberfläche (2) befindliche
Tunnelisolatorschicht (10) aufgebracht wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kanten und flankenartigen Bereiche auf zumindest einer Halbleiteroberfläche (2)
durch relativ zum zu strukturierenden Material bewegte mechanische
Strukturierungselemente, die Verwendung von Laserstrahlen, oder durch Ätztechniken
ausgebildet werden.
6. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Emitter (11) der Solarzelle durch Diffusion von geeigneten Fremdatomen, durch
Inversion der Halbleiteroberfläche (2) oder durch Aufwachsen einer geeigneten Schicht
ausgebildet wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das elektrisch leitende Material (5) maskierungsfrei und selektiv von allen nicht
flankenartigen Bereichen (6) durch Ätzen wie naßchemisches Ätzen, Plasmaätzen,
Laserätzen und/oder Ionenätzen abgetragen wird.
8. Solarzelle (1) umfassend ein Halbleitermaterial, in welchem durch einfallende
Strahlungsenergie Ladungsträger erzeugbar sind, die durch ein elektrisches Feld trennbar
und so dann über elektrisch leitende Kontakte (5) ableitbar sind, wobei
- - auf zumindest einer Halbleiteroberfläche (2) zumindest eine Kante (3) ausgebildet ist, an die sich ein flankenartiger Bereich (4), anschließt und
- - elektrisch leitfähiges Material mittelbar oder unmittelbar zumindest teilweise auf
zumindest einen Teil der flankenartigen Bereiche aufgebracht ist,
dadurch gekennzeichnet, - - daß sich an den flankenartigen Bereich (4) ein oder mehrere nicht flankenartige Bereiche anschließen (6) und
- - daß die elektrisch leitenden Kontakte (5) ausschließlich auf den flankenartigen Bereichen (4), die zumindest abschnittsweise parallel oder nahezu parallel zur Substratnormale angeordnet sind, verlaufen.
9. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Kanten (3) durch kastenförmige, rillenförmige oder dreiecksförmige Vertiefungen
ausgebildet werden.
10. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß zumindest die mit Kanten (3) versehene Halbleiteroberfläche (2) zusätzlich mit im
Vergleich zur Flankenbreite b kleinen Strukturen (8) (Pyramiden, Gräben oder Rillen)
versehen ist.
11. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen den elektrisch leitenden Kontakten (5) eine oder mehrere weitere
Vertiefungen (9) in die Halbleiteroberfläche (2) eingebracht werden, deren Tiefe T mit der
Flankenbreite b vergleichbar oder größer ist.
12. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Solarzelle vorder- und/oder rückseitig zumindest je eine Kante (3) mit
flankenartigem Bereich (4) aufweist.
13. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Abstand A zwischen den parallel oder nahezu parallel verlaufenden mit elektrisch
leitfähigen Kontakten versehenen flankenartigen Bereichen 30 µm < A < 5000 µm,
vorzugsweise 100 µm < A < 2000 µm beträgt.
14. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Breite b der flankenartigen Bereiche 5 µm < b < 200 µm, beträgt.
15. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die elektrisch leitenden Kontakte (5) auf den flankenartigen Bereichen (4) zumindest
teilweise auf einer Passivierschicht (7) verlaufen.
16. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Halbleitermaterial einkristallin, polykristallin oder amorph und ein Element- oder
Verbindungshalbleiter ist.
17. Solarzelle nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß zumindest eine Kante (3) und der sich anschließende flankenartige Bereich (4) an der
Halbleiteroberfläche (2) dadurch ausgebildet werden, daß das Halbleitermaterial auf einem
zumindest eine Kante (3) und einen sich anschließenden flankenartigen Bereich (4)
aufweisenden Substrat abgeschieden wird.
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Country | Link |
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