DE19732217C2 - Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
- Publication number
- DE19732217C2 DE19732217C2 DE19732217A DE19732217A DE19732217C2 DE 19732217 C2 DE19732217 C2 DE 19732217C2 DE 19732217 A DE19732217 A DE 19732217A DE 19732217 A DE19732217 A DE 19732217A DE 19732217 C2 DE19732217 C2 DE 19732217C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- plasma
- layer
- layer structure
- zone
- introducing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 title claims description 43
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 15
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 15
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 152
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 39
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 32
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 30
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 24
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 23
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 21
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 20
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 18
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 18
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 18
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 18
- 230000003678 scratch resistant effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 16
- 239000000178 monomer Substances 0.000 claims description 10
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 8
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 claims description 5
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229920001109 fluorescent polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000001491 aromatic compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 150000001639 boron compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 claims description 2
- 150000003961 organosilicon compounds Chemical class 0.000 claims 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisiloxane Chemical compound C[Si](C)(C)O[Si](C)(C)C UQEAIHBTYFGYIE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 10
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical compound C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- -1 polyethylene tetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 6
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000006096 absorbing agent Substances 0.000 description 4
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 3
- 229940073561 hexamethyldisiloxane Drugs 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N Ethene Chemical compound C=C VGGSQFUCUMXWEO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005977 Ethylene Substances 0.000 description 2
- 239000002033 PVDF binder Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- BFMKFCLXZSUVPI-UHFFFAOYSA-N ethyl but-3-enoate Chemical class CCOC(=O)CC=C BFMKFCLXZSUVPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 2
- FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N hexamethyldisilazane Chemical compound C[Si](C)(C)N[Si](C)(C)C FFUAGWLWBBFQJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 2
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- 229920002981 polyvinylidene fluoride Polymers 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 description 1
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000000975 dye Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- HDERJYVLTPVNRI-UHFFFAOYSA-N ethene;ethenyl acetate Chemical group C=C.CC(=O)OC=C HDERJYVLTPVNRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N ethenyl(trimethyl)silane Chemical compound C[Si](C)(C)C=C GCSJLQSCSDMKTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001038 ethylene copolymer Polymers 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 239000003112 inhibitor Substances 0.000 description 1
- 229910052809 inorganic oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000592 inorganic polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000000869 ion-assisted deposition Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 238000010943 off-gassing Methods 0.000 description 1
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000003495 polar organic solvent Substances 0.000 description 1
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 239000004848 polyfunctional curative Substances 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 229920002620 polyvinyl fluoride Polymers 0.000 description 1
- 238000006862 quantum yield reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000005728 strengthening Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1876—Particular processes or apparatus for batch treatment of the devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/048—Encapsulation of modules
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
- H01L31/048—Encapsulation of modules
- H01L31/049—Protective back sheets
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Mehrfunktions-
Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiter
bauelemente, die eine auf einem Trägersubstrat aufgebrachte,
photovoltaisch aktive Schichtstruktur aufweisen, sowie auf
Verfahren zur Herstellung der Struktur. Speziell lassen
sich damit z. B. Dünnschichtsolarzellen verkapseln, die sowohl
in Substrat-Bauweise als auch in der sogenannten Superstrat-
Bauweise gefertigt sein können. Bei der Substrat-Bauweise
wird die Absorberschicht, d. h. die für die photoelektrische
Konversion verantwortliche Schicht, mit einer leitfähigen,
transparenten Schicht (TCO) bedeckt und von vorne durch letz
tere hindurch beleuchtet. Bei der Superstrat-Bauweise wird
die Absorberschicht auf ein zwangsweise transparentes
Substrat aufgebracht und von hinten durch das Substrat hin
durch beleuchtet.
Photovoltaische Halbleiterbauelemente, wie z. B. Dünn
schichtsolarzellen, werden bekanntermaßen durch eine Verkap
selungsschichtstruktur gegen schädliche Einflüsse der Atmo
sphäre auf deren empfindliche, photovoltaisch aktive Schicht
struktur geschützt. Zu diesem Zweck ist beispielsweise die
Bildung einer Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur be
kannt, bei der auf die Oberfläche des photovoltaischen Halb
leiterbauelementes zunächst eine polymere Zwischenschicht,
z. B. in Form einer Ethyl-Vinyl-Acetat(EVA)-Folie, aufgebracht
und auf diese eine deckende Glasplatte oder eine Folie aufla
miniert wird. Problematisch ist hierbei, daß wegen der
schlechten Diffusionssperrwirkung von Polymerschichten über
die Polymerschicht schädliche Bestandteile der Atmosphäre an
den Randbereichen in die Solarzelle eindiffundieren und dort
möglicherweise zu Schädigungen führen können. Zudem sind we
gen des Langzeitverhaltens vieler Folien bezüglich chemischer
und UV-Stabilität sowie Ausgasen von intrinsischen Bestand
teilen, wie Härter, Lösungsmittel etc., nur sehr hochwertige
Folien verwendbar. Die Glasplatte verdoppelt annähernd das
Gewicht des photovoltaischen Bauelements, was im Hinblick auf
Transport, z. B. auch für Weltraumanwendungen, und Aufstände
rung von Nachteil ist. Die Verwendung von Glasplatten sowohl
als Grundplatte, d. h. als Substrat, wie auch als Deckplatte
macht eine Formgebung von großflächigen photovoltaischen Ele
menten, z. B. in einer bestimmten architektonischen Gestaltung
oder zur. Verkleidung von Flugkörpern, Fahrzeugen und Schiffen
etc., aufwendig. Die Polymerfolie und die Glasdeckplatte
stellen einen erheblichen Kostenfaktor dar, und der zugehöri
ge Verkapselungsprozeß ist kostenintensiv, weil er nur unter
großem Aufwand als Teil einer Produktionslinie in eine Seri
enfertigung integriert werden kann. Der zusätzliche Energie
bedarf für die Herstellung der Glasplattenverkapselung ver
längert die Energierückgewinnungszeit der photovoltaischen
Elemente erheblich.
In der Veröffentlichung S. Guha et al., Advances in Amorphous
Silicon Alloy Multijunction Cells and Modules, AIP Conference
Proceedings 353, 13th NREL Photovoltaics Program Review, La
kewood, CO, Mai 1995, ist die Verkapselung von Solarmodulen
mit einer Schutzschicht beschrieben, die aus einer durch ein
Mikrowellenplasma abgeschiedenen SiOx-Legierung besteht. Eine
solche Schutzschicht ist relativ hart und spröde und besitzt
einen sehr niedrigen Ausdehnungskoeffizienten, weshalb sie merkliche
Kräfte auf die darunterliegenden Schichten ausübt und zu Ablösungen füh
ren kann, z. B. besonders auch bei Kupfer-Indium-Diselenid(CIS)-
Solarzellen.
Da die Transmission der TCO-Schicht bei der Substrat-Bauweise bzw. des
Substrats bei der Superstrat-Bauweise je nach verwendeten Materialien im
UV-Bereich bis in den sichtbaren Spektralbereich des Sonnenlichts einge
schränkt sein kann, wurde bereits die Verwendung fluoreszierender
Schichten zur Steigerung der Solarzelleneffizienz in Form von Kollektoren
bzw. Konzentratoren beschrieben, siehe z. B. die Veröffentlichung R.
Reisfeld, Solar Energy Materials and Solar Cells, Bd. 33 (1994). In letzterer
wird die Verwendung fluoreszierender Substanzen beschrieben, die in
einer transparenten Polymermatrix gelöst sind. Diese Matrix ist jedoch rela
tiv dick und selbst im energiereichen Spektralbereich absorbierend. Zudem
bilden die gelösten Fluoreszenzfarbstoffe in der Polymermatrix Streuzent
ren, die zu erhöhter diffuser Reflexion führen. Die erreichbare Farbstoff
dichte zur Fluoreszenz ist gering, und die Polymermatrix ist unter UV-
Bestrahlung einer starken Alterung unterworfen.
Verfahren zur Plasmabeschichtung, speziell auch zur Plasmapolymerisati
on, sind auch anderweitig bekannt, z. B. zur Herstellung einer Oberflächen
schutzschicht für Silbergegenstände, wie in der EP 0 570 944 A1
beschrieben. Das dortige Verfahren beinhaltet die Aufbringung
einer Gradientenschicht auf eine Silberoberfläche durch einen Beschich
tungsvorgang in einer Plasmapolymerisationsanlage unter kontinuierlicher
Gaszufuhr und Gasaustausch eines jeweils verwendeten Monomers. Spe
ziell wird eine erste Schichtzone als eine Kopplungsschicht, die kovalente
Bindungen enthält, durch Einleiten eines Gases wie Ethylen oder Vinyltri
methylsilan, eine zweite Schichtzone in Form einer permeationsverhin
dernden Oberflächenschicht mittels kontinuierlichem Ersetzen dieses Ga
ses durch ein weiteres Gas, wie Ethylen, und eine dritte Schichtzone in
Form einer Oberflächenversiegelungsschicht mittels kontinuierlichem Er
setzen des vorhergehenden Gases durch ein weiteres Gas, wie Hexa
methyldisiloxan in Verbindung mit Sauerstoff, aufgebracht, um insgesamt
eine auf Silber haftende, chemisch resistente, kratzfeste und transparente
Schutzschichtstruktur zu bilden.
Aus der EP 0 631 328 A1 ist eine Mehrschicht-
Verkapselungsstruktur für Solarzellen bekannt, bei der die Solarzelle vor
der- und rückseitig von einer Füllschicht aus einem transparenten Harz,
wie einem Vinylacetat-Ethylen-Copolymer, Butyralharz, Silikonharz, Epoxi
harz oder einem fluorierten Polyimidharz, mit einer Mindestdicke von der
Dicke der Solarzelle zuzüglich 75 µm bis 1400 µm umgeben ist, wobei typi
sche Dicken der Füllschicht bei mehreren 100 µm bis über 1000 µm liegen.
Zwischen Solarzelle und vorderseitiger Füllschicht kann eine Dampfsperr
schicht mit typischen Dicken in der Größenordnung von 100 µm in Form
eines Verbundmaterials aus einem Acrylharz und einem anorganischen
Polymer, einem anorganischen Oxidreihen-Anstrichmaterial oder einem
Siliziumdioxidmaterial vorgesehen sein. Über der vorderseitigen Füllschicht
ist eine Oberflächenschutzschicht aus einem fluorhaltigen Harz vorgesehen,
z. B. aus Polyethylentetrafluorethylen, Polyethylentrifluorid oder Polyvinyl
fluorid. Auf die rückseitige Füllschicht ist eine Rückseitenschutzschicht aus
Nylon oder Polyethylenterephtalat aufgebracht. Die Herstellung des Ver
kapselungs-Schichtaufbaus erfolgt durch eine Laminattechnik. Dabei kann
vor dem Aufbringen der Oberflächenschutzschicht die Oberfläche der Füll
schicht beispielsweise durch eine Coronaentladung vorbehandelt werden,
um ein ausreichendes Haftvermögen zu erzielen.
Diverse Plasmabeschichtungstechniken, auch zum Aufbringen von
Schutzschichten auf Halbleiterbauelemente, sind in S. Pongratz und A.
Zöller, Plasma ion-assisted deposition: A promising technique for optical
coatings, J. Vac. Sci. Technol. A. Bd. 10 (4), 1992, Seite 1897 und in S. Winder
baum et al., Application of plasma enhanced chemical vapor deposition
silicon nitride as a double layer antireflection coating and passivation layer
for polysilicon solar cells, J. Vac. Sci. Technol A. Bd. 15 (3), 1997, Seite 1020
und den Offenlegungsschriften EP 0 185 787 A1, EP 0 348 640 A2 und DE 41 36 987 A1
beschrieben.
In der Offenlegungsschrift JP 62-179164 (A) wird das Aufbringen einer re
flexmindernden Oberflächenschicht in Form eines Gradientenfilms auf ein
fotoelektrisches Halbleiterbauelement durch eine CVD-Depositionstechnik
beschrieben, wobei der Gradientenfilm aus einem SiOx-Film besteht, bei
dem der Wert x zwischen 0 und 2 geändert werden kann. Dabei wirkt der
Gradientenfilm auch als Verkapselungsschicht.
In der Offenlegungsschrift 37 00 620 A1 wird die Verwendung einer Passi
vierschicht aus einem Siliziumoxinitrid-Material beschrieben, die sowohl
eine Feuchtigkeits- wie auch eine Ionen-Sperrwirkung hat.
Der Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung einer ver
besserten Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur sowie eines Her
stellungsverfahrens hierfür zugrunde, mit denen sich photovoltaische Halb
leiterbauelemente mit vergleichweise geringem Aufwand und für eine Se
rienproduktion geeignet so verkapseln lassen, daß ihre photovoltaisch aktive
Schichtstruktur hermetisch abgedichtet ist, ohne daß die Verkapse
lungsschichtstruktur große mechanische Spannungen auf sie ausübt und
dennoch bei Bedarf die Schaffung einer kratzfesten Oberfläche und/oder
einer fluoreszierenden Schichtzone erlaubt.
Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung einer Mehrfunk
tions-Verkapselungsschichtstruktur mit den Merkmalen des Anspruches 1
sowie von Verfahren zu ihrer Herstellung mit den Merkmalen der An
sprüche 3, 4 oder 5.
Bei der Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur nach Anspruch 1 schützt die
Diffusionssperrschicht die darunterliegende
photovoltaisch aktive Schichtstruktur vor einem Eindiffundieren schädigen
der Substanzen aus der Atmosphäre, wie Sauerstoff, Wasser- und andere
Dämpfe, CO2, SO2 etc., sowie vor einem Eindringen organischer Lö
sungsmittel, wie sie in Reinigungsmitteln und Klebern enthalten sind, die
bei der Reinigung und Montage der Bauelemente Verwendung finden.
Hierzu trägt auch die ebenfalls mittels Plasmabeschichtung abgeschiedene
elastische Polymer-Schutzschichtzone bei, die außerdem wegen ihrer E
lastizität keine oder jedenfalls keine störenden mechanischen Spannungen
auf die Unterlage ausübt bzw. überträgt. Dies beugt der Gefahr von Ablö
sungserscheinungen in der photovoltaisch aktiven Schichtstruktur vor.
Gleichzeitig ist die elastische Schutzschichtzone so gebildet, daß sich auf
ihr eine kratzfeste Oberflächenschicht zuverlässig haftend aufbringen läßt,
so daß die elastische Schutzschicht als Anpassungsschicht zwischen der
relativ harten Diffusionssperrschicht und der ebenfalls relativ harten, kratz
festen Oberflächenschicht fungiert.
Je nach Anwendungsfall besitzt die Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur durch entsprechende Wahl der Schichtmaterialien und
Plasmabeschichtungsparameter weitere Funktionen, wie hohe Transpa
renz oder fluoreszierende Eigenschaften, optische Vergütungswirkung
durch Anpassung des Brechungsindex bzw. der Dicke der verwendeten
Schichtstruktur, einstellbare Oberflächenpolarität je nach Wahl Richtung
hydrophil oder hydrophob und Erzielung einer gewünschten Farbgebung.
Die Plasmaabscheidung läßt sich leicht in typische Verfahren zur Serien
herstellung von Dünnschichtsolarzellen und ähnlichen photovoltaischen
Halbleiterbauelementen integrieren, wobei z. B. die Abscheidung in einem
Mikrowellenplasma ohne Schwierigkeiten auf nahezu beliebige Flächen
hochskalierbar ist. Die großflächige Beschichtung kann sowohl statisch als
auch dynamisch, d. h. mit bewegtem Substrat oder bewegter Plasmaquelle,
erfolgen.
Die Plasmabeschichtung ist ein sehr spaltgängiges Verfahren. Es umhüllt
die photovoltaischen Bauelemente samt allen deren Strukturierungen, Kon
takten und Rändern in idealer Weise. Möglich ist zudem eine lokale Ver
stärkung der Abscheidung durch lokalisierte Plasmaanwendung, z. B. am
Rand oder an den Kontaktbereichen. Kapillarwirkung und Einschlüsse, wie
sie von Lackierungen bekannt sind, treten nicht auf. Es lasen sich sehr
einfach optisch homogene Beschichtungen erzielen. Die Kombinations-
und Variationsmöglichkeiten der Verkapselungsschichtstruktur sind im
Prinzip mit ein und derselben Beschichtungseinrichtung realisierbar und
lassen sich durch Variation der Gaszufuhr und der Plasmaparameter ein
stellen, wobei die Schichtstruktur als Gradientenschicht mit sich graduell
verändernden Schichteigenschaften oder als Folge von übereinanderlie
genden Einzelschichten, bei der sich die Schichteigenschaften mehr oder
weniger abrupt ändern, aufgebaut sein kann.
Bei der Verkapselungsschichtstruktur nach Anspruch 1 ist des weiteren
wenigstens eine von deren Schichtzonen durch eine fluoreszierende Poly
mer-Schichtzone gebildet, durch deren Fluoreszenzeigenschaften sich die
Quantenausbeute für das photovoltaische Halbleiterbauelement steigern
läßt. Zur Herstellung einer derartigen Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur eignet sich insbesondere das Verfahren nach Anspruch 5.
Bei einer nach Anspruch 2 weitergebildeten Verkapselungsschichtstruktur
besteht die elastische Schutzschichtzone aus einer Polymerschichtzone,
auf die eine plasmabehandelte Polymerfolie und/oder eine kratzfeste Ober
flächenschicht aufgebracht ist. Zur Herstellung einer solchen Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur
mit Polymerfolie eignet sich insbesonde
re das Verfahren nach Anspruch 3.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung ist die kratzfeste Oberflächenschicht
Bestandteil dieser Struktur, indem sie als kratzfeste Oberflächenschichtzo
ne durch einen entsprechenden Plasmabeschichtungsvorgang aufgebracht
ist. Zur Herstellung einer solchen Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur eignet sich insbesondere das Verfahren gemäß Anspruch
4.
Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen
dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Hierbei zeigen:
Fig. 1 eine schematische, idealisierte Querschnittansicht einer
Dünnschichtsolarzelle mit Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur,
Fig. 2 eine schematische Seitenansicht einer Anlage zur Herstel
lung der Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur von
Fig. 1 und
Fig. 3 eine schematische Seitenansicht einer Anlage zur Herstel
lung einer gegenüber derjenigen von Fig. 1 modifizierten
Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur.
Fig. 1 zeigt in einem ausschnittweisen, idealisierten Querschnitt eine
Dünnschichtsolarzelle mit erfindungsgemäßer Mehrfunktions-Verkap
selungsschichtstruktur. Das Bauelement beinhaltet ein Glassubstrat 1, auf
das eine photovoltaisch aktive Schichtstruktur 2 aufgebracht ist, die her
kömmlich in Substrat- oder Superstrat-Bauweise aufgebaut ist und in erste
rem Fall wenigstens eine Rückkontaktschicht, eine darüberliegende
Absorberschicht und eine diese bedeckende, transpa
rente leitfähige Schicht (TCO) beinhaltet. Auf diese photo
voltaisch aktive Schichtstruktur 2 ist die Mehrfunktions-
Verkapselungsschichtstruktur aufgebracht, die im gezeigten
Beispiel eine Diffusionssperrschichtzone 3, eine darüberlie
gende elastische Schutzschichtzone 4 und eine diese bedecken
de, kratzfeste Oberflächenschichtzone 5 umfaßt. Die drei
Schichtzonen 3, 4, 5 können je nach Depositionstechnik als
Teile einer Gradientenschicht mit sich graduell ändernden
Schichteigenschaften oder als Einzelschichten realisiert
sein. Die gesamte Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur
wird mittels Plasmabeschichtung, z. B. im Durchlaufverfahren
in einem Mikrowellenplasma,
hergestellt, wobei wenigstens die elasti
sche Schutzschichtzone 4 durch Plasmapolymerisation als ela
stische Polymerschicht gebildet ist, wozu beispielsweise
Hexamethyldisiloxan (HMDS) als Monomergas in das Plasma ein
gebracht wird. Alternativ können andere, siliziumhaltige or
ganische und/oder flüchtige aromatische Verbindungen, wie
Styrol, Toluol und Benzol, verwendet werden.
So läßt sich die Verkapselungsschichtstruktur von Fig. 1 bei
spielsweise dadurch realisieren, daß zur Bildung der Diffusi
onssperrschichtzone 3 zunächst HMDS mit reichlich Sauerstoff
in das Plasma eingebracht und dort vollständig oxidiert und
als amorphes SiOx auf dem Substrat 1 mit der photovoltaisch
aktiven Schichtstruktur 2 abgeschieden wird. Diese SiOx-
Schicht bildet eine sehr gute Diffusionssperre. Unter zuneh
mender Reduktion des Sauerstofflusses und niedriger Plas
maleistung entsteht dann ein Übergang zu immer stärkerem Po
lymercharakter, wodurch die elastische Schutzschichtzone 4
aufgebracht wird, die wenig mechanische Spannungen auf die
darunterliegende Schichtstruktur ausübt und daher die Diffu
sionssperrschichtzone 3 und vor allem die photovoltaisch ak
tive Schichtstruktur vor entsprechenden mechanischen Bela
stungen bewahrt. Diese könnten ansonsten in ungünstigen Fäl
len zum Ablösen oder zu sonstigen Schädigungen von Schichten
innerhalb der photovoltaisch aktiven Schichtstruktur 2 und
damit zu deren Funktionsausfall führen. Zur Bildung der
kratzfesten Oberflächenschichtzone 5 werden dann wiederum
ähnliche Abscheidebedingungen wie für die Diffusionssperr
schichtzone 3 gewählt, so daß die Oberflächenschichtzone 5
wieder vorwiegend anorganischen SiOx-Charakter besitzt. Al
ternativ kann ebenfalls in einem Mikrowellenplasma eine dia
mantähnliche Kohlenstoffschicht als die Oberflächenschichtzo
ne 5 aufgebracht werden. Eine solche Schicht besitzt eine
sehr hohe Härte und Kratzfestigkeit. Der dazu erforderliche
Kohlenstoff kann in Form eines einfachen Kohlenwasserstoffs,
wie Methan, Ethan oder Benzol, zugeführt werden.
Fig. 2 zeigt schematisch eine Hochvakuumanlage 6, mit der die
Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur von Fig. 1 herge
stellt werden kann und die eingangsseitig eine Magazinschleu
se 7 für zu verkapselnde Solarmodule aufweist. Die Solarmodu
le 8 beinhalten z. B. ein photovoltaisches Element mit einer
Absorberschicht aus CuInSe2 (CIS), deren Oberfläche aus elek
trisch leitfähigem, transparentem ZnO als äußerer Schicht der
photovoltaisch aktiven Schichtstruktur bedeckt ist. In einem
anschließenden Fertigungsschritt werden Kontaktbändchen oder
Drähte angebracht. In diesem unverkapselten Zustand werden
die Solarmodule 8 in die Schleuse 7 eingebracht. Von der Ma
gazinschleuse 7 werden die Solarmodule 8 in eine erste Vaku
umkammer 9 eingeführt. In dieser befindet sich eine Anordnung
zur Erzeugung eines von Mikrowellen angeregten Plasmas 15.
Bei Bedarf kann zunächst ein Reinigungs
schritt mittels eines Sauerstoffplasmas vorgesehen sein, mit
dem die ZnO-Oberfläche gereinigt und kontrolliert nachoxi
diert wird, was die Transmission verbessert und eine reakti
onsbereite Oberfläche erzeugt. Über ein Gaszufuhrsystem 10
wird dann in das Plasma 15 ein Gasgemisch aus einem inerten
Trägergas, einem Dampf von Hexamethyldisiloxan (HMDS) oder
einer ähnlichen, siliziumhaltigen organischen Verbindung, z. B
Hexamethyldisilazan, sowie einem Reaktionspartner, z. B. Sauerstoff,
eingedüst. In dieser ersten Plasmabeschichtungskam
mer 9 wird der Beschichtungsprozeß so geführt, daß sich die
dichte und harte, im wesentlichen aus einer Siliziumoxid-
Verbindung bestehende, glasartige, polare Diffusionssperr
schichtzone 3 abscheidet, und zwar in der Regel mit einer
amorphen Struktur und in einer Dicke von typischerweise zwi
schen 0,1 µm und 1 µm. Der HMDS-Monomerfluß beträgt hierfür ty
pischerweise 30 sccm/min bis 50 sccm/min. Der Sauerstofffluß
beträgt zunächst ca. 80 sccm/min und wird langsam reduziert.
Das mit der Diffusionssperrschicht 3 versehene Bauelement 8
wird dann durch einen schlitzförmigen, möglichst engen Durch
gang 11 in eine zweite Vakuumkammer 12 transportiert, in der
sich wiederum ein gleichartiges Plasmabeschichtungssystem 16
wie in der ersten Kammer 9 befindet. In einem zum Prozeß in
der ersten Kammer 9 ähnlichen Verfahren wird in dieser zwei
ten Kammer 12 die elastische, polymerähnliche Schutzschicht 4
abgeschieden. Dies wird dadurch bewirkt, daß als Reaktionsgas
wiederum HMDS eingeleitet wird, dem jedoch kontinuierlich we
niger Sauerstoff beigemengt wird, verbunden mit der Wahl ei
ner niedrigen Plasmaenergie. Mit abnehmendem Sauerstoffanteil
geht die Diffusionssperrschichtzone 3 kontinuierlich in eine
dichte Plasmapolymerschicht aus reinem HMDS über, welche die
elastische Polymer-Schutzschichtzone 3 bildet. Die Abschei
dung der elastischen HMDS-Schicht wird für ca. 3 min vorgenom
men, wodurch diese eine Schichtdicke von ca. 0,7 µm erreicht.
Nach diesem Plasmapolymerisationsprozeß zur Abscheidung der
elastischen Polymer-Schutzschicht 4 wird das Bauelement 8
durch einen weiteren Schlitz 13 in eine dritte Plasmabe
schichtungskammer 14 transportiert, in der wiederum ein
gleichartiges Plasmabeschichtungssystem 17 vorgesehen ist wie
in den beiden anderen Kammern 9, 12. In der Kammer 14 wird
die Verkapselungsschichtstruktur durch Aufbringen der kratz
festen Oberflächenschicht vervollständigt, wozu HMDS-Monomer
mit einem gegenüber dem vorangegangenen Beschichtungsprozeß
für die elastische Polymerschicht 4 reduzierten Fluß von ca.
4 sccm/min und Sauerstoff mit einem wieder erhöhten Fluß von
ca. 80 sccm/min in das Plasma eingedüst wird. Der hohe Sauer
stoffüberschuß führt zu einer quarzähnlich harten Oberflä
chenschichtzone 5, die dicht gegen Lösungsmittel und kratzbe
ständig ist. Dieser Beschichtungsprozeß erfolgt für ungefähr
5 min. Die Gesamtschichtdicke der fertiggestellten Mehrfunkti
ons-Verkapselungsschichtstruktur beträgt damit typischerweise
zwischen etwa 1 µm und 2 µm. Die solchermaßen aufgebrachte Ver
kapselungsschichtstruktur zeigt eine sehr hohe Transparenz,
eine hohe Kratzfestigkeit sowie Dichtigkeit gegen Säuren und
Wasserdampf. Das auf diese Weise fertig verkapselte Solarmo
dul 8 wird über eine differentiell gepumpte Schlitzschleuse
18 aus der Anlage 6 herausgeführt. Abschließend werden die
Module 8 mit einer geeigneten Schneidevorrichtung 19 ge
trennt.
Alternativ zu der kratzfesten Oberflächenschichtzone 5 gemäß
Fig. 1 kann vorgesehen sein, auf die elastische Polymer-
Schutzschicht 4 eine Folie aufzulaminieren, die derart durch
eine Plasmabehandlung vorbereitet wird, daß sie direkt auf
die im Plasma abgeschiedene elastische Schutzschicht 4 ohne
weitere Klebstoffschicht und ohne besondere Druck- oder Tem
peraturanwendung aufgebracht werden kann. Fig. 3 zeigt eine
hierfür geeignete Plasmabeschichtungsanlage 6a, die bis auf
die dritte Beschichtungskammer derjenigen von Fig. 2 ent
spricht, wobei der Übersichtlichkeit halber funktionell glei
che Komponenten mit denselben Bezugszeichen bezeichnet sind.
Die Beschichtung der Solarmodule 8 erfolgt somit in der Anla
ge von Fig. 3 hinsichtlich des Aufbringens der Diffusions
sperrschicht 3 und der elastischen Polymer-Schutzschicht 4
identisch wie oben zu Fig. 2 beschrieben.
Danach werden die Module 8 über den Schlitz 13 in eine als
Laminationskammer 20 gestaltete dritte Vakuumkammer transpor
tiert. In einer oberhalb dieser Kammer 20 angeordneten, groß
volumigen weiteren Vakuumkammer 21 befindet sich eine Rolle
22 mit einer transparenten Abdeckfolie 23, die z. B. aus Polycarbonat
(PC), Polyvinylidenfluorid (PVDF) oder einem anderen
hochwertigen, witterungsstabilen Polymer besteht. Mittels ei
ner in der großvolumigen Vakuumkammer 21 stattfindenden Be
handlung durch ein Plasma 24 wird die Oberfläche der Folie 23
einseitig aufgerauht und reaktiv gemacht. Durch einen Schlitz
25 gelangt die plasmabehandelte Folie 23 in die Laminations
kammer 20, wo sie mittels einer Walze 26 auf die vorbeilau
fenden Solarmodule 8 auflaminiert wird. Da sowohl die eine
Seite der Folie 23 als auch die von der elastischen Polymer-
Schutzschicht 4 bereitgestellte Oberfläche der Module 8 sehr
reaktionsbereit ist, ergibt sich bereits durch leichtes Auf
drücken der Folie 23 eine Kontaktverschweißung derselben mit
der elastischen Polymer-Schutzschicht 4. Diese wird noch ver
stärkt, wenn der Verbund nach dem Passieren der differentiell
gepumpten Schlitzschleuse 18 an Atmosphäre gelangt. Die Modu
le werden dann mit der Schneidevorrichtung 19 getrennt. Bei
Bedarf kann auf die auf laminierte Folie noch eine kratzfeste
Oberflächenschicht aufgebracht werden.
Wie sich aus der obigen Beschreibung der Anlagen gemäß den
Fig. 2 und 3 ergibt, lassen sich mit diesen die Solarmodule
in einem für die Serienfertigung gut geeigneten Durchlaufver
fahren mit der Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur
versehen, welche die verschiedenartigen Funktionen hinsicht
lich Schutz der photovoltaisch aktiven Schichtstruktur 2, op
tischer Vergütung etc. erfüllt. Die Abscheidung in Mikrowel
lenentladungen ist problemlos auf große Flächen hochskalier
bar. Die Plasmabeschichtung stellt ein sehr spaltgängiges
Verfahren dar, mit dem sich speziell auch photovoltaische
Halbleiterbauelemente mit ihren geometrisch kompizierten
Oberflächen, z. B. aufgrund von Kontakten, Anschlußdrähten,
Kanten und Rändern, zuverlässig und gleichmäßig verkapseln
lassen. Die mittels Plasmadeposition aufgebrachte Mehrfunkti
ons-Verkapselungsschichtstruktur bedeutet gegenüber einer
herkömmlichen Glasplattenverkapselung Einsparungen hinsicht
lich Gewicht, Energieaufwand und Kosten. Die zuverlässige
Diffusionssperre mittels der Diffusionssperrschichtzone gewährleistet
eine hohe Lebensdauer und eine gleichbleibende
Qualität der photovoltaischen Bauelemente.
Es versteht sich, daß die genannten Funktionen der Verkapse
lungsschichtstruktur entweder in Form einer Gradientenschicht
oder in Form einer Folge von auf die jeweilige Funktion abge
stellten Einzelschichten realisierbar ist. Als Plasmabe
schichtungsanlage kommen neben den gezeigten auch andere An
lagen in Betracht, wie z. B. eine in der US 4 939 424
beschriebene Anlage mit Elektron-Zyklotron
anordnung. Neben Sauerstoff kann gegebenenfalls auch ein an
deres reaktives Gas, wie z. B. Wasserstoff, beim Plasmabe
schichtungsprozeß verwendet werden. Als zur Polymerisation
geeignete Monomere sind neben Siloxanen auch fluorhaltige
Kohlenwasserstoffe, z. B. CF3H, und flüchtige Borverbindungen,
z. B. B2H6, verwendbar. Durch entsprechende Wahl der Monomer
materialien, der Art und Anwendung der Reaktivgase und der
Plasmabedingungen, wie Druck, Leistung, Gaszufuhr und Magnet
feld des Plasmas, können die Eigenschaften der abgeschiedenen
Schichten in weiten Grenzen variiert werden. Neben den be
reits genannten funktionellen Schichten der Verkapselungs
schichtstruktur kann letztere weitere Schichten enthalten,
z. B. eine Anpassungsschicht an die Oberfläche der photovol
taisch aktiven Schichtstruktur mit optimierter Haftung, die
vor der Diffusionssperrschicht mit hydrophobem Charakter zur
Erfüllung der Dampfsperrfunktion aufgebracht wird. Die polare
Natur der anschließenden elastischen Schicht vermag unpolare
organische Lösungsmittel abzuhalten. Durch weitere Zwischen
schichten kann bei Bedarf die Anpassung der verschiedenen
Funktionsschichten untereinander optimiert werden, z. B. mit
tels Zwischenschichten, wie sie in der EP 0 739 655 A1
beschrieben sind.
Die Mehr
funktions-Verkapselungsschichtstruktur enthält eine Fluoreszenz
schicht, mit der sich ein sonst ungenutzter Spektralbereich
des einfallenden Lichts photovoltaisch nutzen
läßt. Eine derartige fluoreszierende Schicht kann beispiels
weise dadurch mittels Plasmabeschichtung aufgebracht werden,
daß als Monomer das Reaktionsgas Styrol mit einem Fluß von
1 sccm/min bis 5 sccm/min in das Plasma eingeleitet wird. Bei
einer Abscheidedauer von ca. 5 min scheidet sich die fluores
zierende Schicht in einer Dicke von ca. 1 µm ab. Danach kann
der Styrol-Fluß gestoppt und, wenn die fluoreszierende, ela
stische Polymerschicht von einer quarzähnlichen, harten
Schicht bedeckt werden soll, HMDS-Monomer mit 4 sccm/min zu
sammen mit einem Sauerstofffluß von 80 sccm/min in das Plasma
geleitet werden. Bei einer Beschichtungsdauer von ca. 5 min
scheidet sich eine kratzfeste Schicht von ca. 0,2 µm ab. Mit
der fluoreszierenden Schichtzone läßt sich der Wirkungsgrad
der Solarzelle erhöhen, indem ansonsten nicht nutzbare Licht
anteile aufgrund des Fluoreszenzeffektes in nutzbare Lichtan
teile transferiert werden.
Claims (5)
1. Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halb
leiterbauelemente, die eine auf einem Trägersubstrat (1) aufgebrach
te, photovoltaisch aktive Schichtstruktur (2) aufweisen,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - sie eine Schicht mit sich graduell ändernden Schichteigenschaften, die mittels Plasmabeschichtung aufgebracht ist und wenigstens ei ne Diffusionssperrschichtzone (3) und eine elastische, aus einem plasmapolymerisierbaren Monomer aufgebaute Polymer-Schutz schichtzone (4) aufweist, oder eine Folge übereinanderliegender Einzelschichten beinhaltet, die mittels Plasmabeschichtung aufge bracht ist und wenigstens eine Diffusionssperrschichtzone (3) und eine elastische, aus einem plasmapolymerisierbaren Monomer aufgebaute Polymer-Schutzschichtzone (4) aufweist, und
- - wenigstens eine der Schichtzonen der Gradientenschicht oder der Einzelschichtfolge durch eine fluoreszierende Polymer-Schichtzone gebildet ist.
2. Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur nach Anspruch 1, weiter
dadurch gekennzeichnet, daß auf die elastische Polymer-
Schutzschichtzone eine plasmabehandelte Polymerfolie (23) und/oder
eine kratzfeste Oberflächenschicht (5) aufgebracht ist.
3. Verfahren zur Herstellung einer Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente, die eine auf
einem Trägersubstrat aufgebrachte, photovoltaische aktive Schicht
struktur aufweisen, mit folgenden Schritten:
- - Aufbringen einer Diffusionssperrschichtzone (3) auf die photovol taisch aktive Schichtstruktur (2) mittels Plasmabeschichtung,
- - Aufbringen einer elastischen Polymer-Schutzschichtzone (4) mit tels Plasmabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das eine siliziumorganische oder flüchtige aromatische Verbindung oder eine fluorhaltige Kohlenwasserstoff-Verbindung und eine höchstens geringe Menge eines Reaktivgases enthält, in das Plasma und
- - einseitiges Plasmabehandeln einer Polymerfolie (23) und anschlie ßendes Auflegen derselben auf die elastische Polymer- Schutzschichtzone und Zusammenlaminieren mit dieser.
4. Verfahren zur Herstellung einer Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente, die eine auf
einem Trägersubstrat aufgebrachte, photovoltaisch aktive Schicht
struktur aufweisen, mit folgenden Schritten:
- - Aufbringen einer Diffusionssperrschichtzone (3) auf die photovol taisch aktive Schichtstruktur (2) mittels Plasmabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das eine siliziumorganische Ver bindung und eine gewisse Mindestmenge Sauerstoff enthält, in das Plasma,
- - Aufbringen einer elastischen Polymer-Schutzschichtzone (4) mit tels Plasmabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das die gleiche siliziumorganische Verbindung, jedoch eine höchs tens geringe Menge Sauerstoff enthält, in das Plasma und
- - Aufbringen einer kratzfesten Oberflächenschichtzone (5) mittels Plasmabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das die gleiche siliziumorganische Verbindung und eine gewisse Mindest menge Sauerstoff enthält, in das Plasma.
5. Verfahren zur Herstellung einer Mehrfunktions-Verkapselungs
schichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente, die eine auf
einem Trägersubstrat (1) aufgebrachte, photovoltaisch aktive Schicht
struktur (2) aufweisen, mit folgenden Schritten:
- - Aufbringen einer Diffusionssperrschichtzone (3) auf die photovol taisch aktive Schichtstruktur (2) mittels Plasmabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das wenigstens Sauerstoff enthält, in das Plasma,
- - Aufbringen einer elastischen, fluoreszierenden Polymer- Schutzschichtzone (4) mittels Plasmabeschichtung durch Einbrin gen eines Gasgemischs, das Styrol oder ein anderes fluoreszenz schichtbildendes Monomer enthält, in das Plasma und
- - Aufbringen einer kratzfesten Oberflächenschicht (5) mittels Plas mabeschichtung durch Einbringen eines Gasgemischs, das eine si liziumorganische Verbindung mit einer gewissen Mindestmenge Sauerstoff oder eine flüchtige Borverbindung enthält, in das Plas ma.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732217A DE19732217C2 (de) | 1997-07-26 | 1997-07-26 | Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732217A DE19732217C2 (de) | 1997-07-26 | 1997-07-26 | Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19732217A1 DE19732217A1 (de) | 1999-02-11 |
DE19732217C2 true DE19732217C2 (de) | 2002-12-12 |
Family
ID=7836989
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732217A Expired - Lifetime DE19732217C2 (de) | 1997-07-26 | 1997-07-26 | Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19732217C2 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007005845A1 (de) * | 2007-02-01 | 2008-08-07 | Kuraray Europe Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Solarmodulen im Walzenverbundverfahren |
WO2023165913A1 (de) | 2022-03-03 | 2023-09-07 | IonKraft GmbH | Beschichtungstechnik für kunststoffbehälter |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19924108B4 (de) * | 1999-05-26 | 2007-05-03 | Robert Bosch Gmbh | Plasmapolymerbeschichtung und Verfahren zu deren Herstellung |
DE10114469A1 (de) * | 2001-03-24 | 2002-10-02 | Voest Alpine Stahl | Kratzfestausrüstung für beschichtete Substrate |
WO2002094906A1 (en) * | 2001-05-23 | 2002-11-28 | Nkt Research & Innovation A/S | Method of plasma polymerisation of substituted benzenes, polymeric material obtainable by the method, and use thereof |
DE10164273A1 (de) * | 2001-12-27 | 2003-07-10 | Solarwatt Solar Systeme Gmbh | Photovoltaisches Solarmodul in Plattenform |
DE10259472B4 (de) * | 2002-12-19 | 2006-04-20 | Solarion Gmbh | Flexible Dünnschichtsolarzelle mit flexibler Schutzschicht |
DE102006016280A1 (de) * | 2006-04-01 | 2007-10-04 | Pvflex Solar Gmbh | Glasloser Solarstrom-Modul mit flexiblen Dünnschicht-Zellen und Verfahren zu seiner Herstellung |
DE102009021272A1 (de) * | 2009-05-14 | 2010-11-18 | Schott Solar Ag | Verfahren zur Herstellung eines photovoltaischen Moduls |
CN108196327B (zh) * | 2017-12-04 | 2020-07-21 | 宁波激智科技股份有限公司 | 一种抗划伤光学扩散膜及其制备方法 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0185787A1 (de) * | 1984-12-21 | 1986-07-02 | Deutsche ITT Industries GmbH | Plastikumhülltes Halbleiterbauelement |
DE3700620A1 (de) * | 1986-01-16 | 1987-07-23 | Rca Corp | Halbleiterkoerper und verfahren zum herstellen desselben |
JPS62179164A (ja) * | 1986-02-03 | 1987-08-06 | Hitachi Ltd | 光電変換装置 |
EP0348640A2 (de) * | 1988-05-10 | 1990-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleiteranordnung mit einer Schutzschicht |
DE4136987A1 (de) * | 1991-11-11 | 1993-05-13 | Leybold Ag | Verfahren zur oberflaechenpassivierung von sensoren |
EP0570944A1 (de) * | 1992-05-22 | 1993-11-24 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. | Verfahren zur Oberflächenbeschichtung von Silbergegenständen und nach diesem Verfahren hergestellte Schutzschicht |
EP0631328A1 (de) * | 1993-06-24 | 1994-12-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Solarmodul mit warm-verschweisstem Teil zur Verbesserung der Feuchtigkeitsbeständigkeit |
EP0739655A1 (de) * | 1995-04-28 | 1996-10-30 | INPRO Innovationsgesellschaft für fortgeschrittene Produktionssysteme in der Fahrzeugindustrie mbH | Verfahren zu plasmagestützten Herstellung multifunktionaler Schichten auf Kunststoffteilen |
-
1997
- 1997-07-26 DE DE19732217A patent/DE19732217C2/de not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0185787A1 (de) * | 1984-12-21 | 1986-07-02 | Deutsche ITT Industries GmbH | Plastikumhülltes Halbleiterbauelement |
DE3700620A1 (de) * | 1986-01-16 | 1987-07-23 | Rca Corp | Halbleiterkoerper und verfahren zum herstellen desselben |
JPS62179164A (ja) * | 1986-02-03 | 1987-08-06 | Hitachi Ltd | 光電変換装置 |
EP0348640A2 (de) * | 1988-05-10 | 1990-01-03 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Halbleiteranordnung mit einer Schutzschicht |
DE4136987A1 (de) * | 1991-11-11 | 1993-05-13 | Leybold Ag | Verfahren zur oberflaechenpassivierung von sensoren |
EP0570944A1 (de) * | 1992-05-22 | 1993-11-24 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Förderung Der Angewandten Forschung E.V. | Verfahren zur Oberflächenbeschichtung von Silbergegenständen und nach diesem Verfahren hergestellte Schutzschicht |
EP0631328A1 (de) * | 1993-06-24 | 1994-12-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Solarmodul mit warm-verschweisstem Teil zur Verbesserung der Feuchtigkeitsbeständigkeit |
EP0739655A1 (de) * | 1995-04-28 | 1996-10-30 | INPRO Innovationsgesellschaft für fortgeschrittene Produktionssysteme in der Fahrzeugindustrie mbH | Verfahren zu plasmagestützten Herstellung multifunktionaler Schichten auf Kunststoffteilen |
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
S. Guha et.al.: "Advances in Amorphous Silicon Alloy Multijunction Cells and Modules" AIP Conference Proc., 353, 13 th NREL Photovoltaics Programm Review, Lakewood, CO, Mai 1995 * |
Solar Energy Materials and Solar Cells, Bd. 33, 1994 * |
US-Z.: J. Vac. Sci Technol. A., Bd. 15 (3), Mai/Juni 1997, S. 1020-1025 * |
US-Z.: J. Vac. Sci. Technol. A., Bd. 10 (4), 1992, S. 1897-1904 * |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102007005845A1 (de) * | 2007-02-01 | 2008-08-07 | Kuraray Europe Gmbh | Verfahren zur Herstellung von Solarmodulen im Walzenverbundverfahren |
US8097117B2 (en) | 2007-02-01 | 2012-01-17 | Kuraray Europe Gmbh | Method of producing solar modules by the roller laminate process |
WO2023165913A1 (de) | 2022-03-03 | 2023-09-07 | IonKraft GmbH | Beschichtungstechnik für kunststoffbehälter |
DE102022105041A1 (de) | 2022-03-03 | 2023-09-07 | IonKraft GmbH | Beschichtungstechnik für Kunststoffbehälter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19732217A1 (de) | 1999-02-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6501014B1 (en) | Coated article and solar battery module | |
US6335479B1 (en) | Protective sheet for solar battery module, method of fabricating the same and solar battery module | |
EP1018166B1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines fotovoltaischen Moduls | |
DE69636253T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Silizium Solarzelle und so hergestellte Solarzelle | |
WO2007026465A1 (ja) | 太陽電池モジュールおよび太陽電池モジュールの製造方法 | |
DE19732217C2 (de) | Mehrfunktions-Verkapselungsschichtstruktur für photovoltaische Halbleiterbauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
WO2010108894A1 (de) | Dünnschichtverkapselung für ein optoelektronisches bauelement, verfahren zu dessen herstellung und optoelektronisches bauelement | |
JP2002083988A (ja) | 太陽電池モジュ−ル用裏面保護シ−トおよびそれを使用した太陽電池モジュ−ル | |
EP1054456A2 (de) | Schutzschicht für einen Solarzellenmodul, Herstellungsverfahren derselben und Solarzellenmodul | |
DE102008062131A1 (de) | Klebeband, insbesondere zur Verklebung optoelektronischer Bauteile | |
DE69634059T2 (de) | Integriertes Dünnschicht-Sonnenzellenmodul und Herstellungsverfahren | |
JPH06318728A (ja) | 太陽電池モジュール | |
KR20140138145A (ko) | 실리콘 함유막 및 실리콘 함유막 형성 방법 | |
DE102016115921A1 (de) | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements | |
KR101417220B1 (ko) | 태양광 발전장치 및 이의 제조방법 | |
EP1993142A1 (de) | Reflektiv beschichtetes Halbleiterbauelement, Verfahren zu dessen Herstellung sowie dessen Verwendung | |
EP4088329A1 (de) | Verkapselungssystem für ein optoelektronisches bauelement mit mindestens einer ersten verkapselung und einer zweiten verkapselung, optoelektronisches bauelement mit einem solchen verkapselungssystem | |
EP3942615B1 (de) | Transparente mehrschichtanordnung und herstellungsverfahren | |
EP2294627A2 (de) | Rückseitenlaminat-struktur für ein fotovoltaik-modul | |
DE102010006681A1 (de) | Photovoltaikzelle, Photovoltaikmodul, Verfahren zum Herstellen einer Photovoltaikzelle und eines Photovoltaikmoduls | |
DE102011101021A1 (de) | Fotovoltaikmodul und Verfahren zu dessen Herstellung | |
WO2010130437A2 (de) | Verfahren zur herstellung eines photovoltaischen moduls | |
DE102018132342A1 (de) | Stabilisierung laserstrukturierter organischer Photovoltaik | |
DE102011081655A1 (de) | Dünnschicht-Solarzelle | |
DE202019103911U1 (de) | Solarzelle mit dielektrischem Schichtsystem und Beschichtungsanlage zur Herstellung der Solarzelle |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |