DE19716912A1 - Verfahren zur Fixierung eines Chipmoduls in einer Chipkarte - Google Patents
Verfahren zur Fixierung eines Chipmoduls in einer ChipkarteInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Fixierung eines
Chipmoduls in einem Kartenbasiskörper einer Chipkarte, bei dem das
Chipmodul in eine Kavität des Kartenbasiskörpers eingesetzt, mittels eines
Klebematerials eine Klebeverbindung zwischen mindestens einer Oberflä
che des Chipmoduls und dem Kartenbasiskörper hergestellt wird, und in
einem Laminiervorgang eine die Kavität und das darin aufgenommene
Chipmodul abdeckende Decklage auf den Kartenbasiskörper aufgebracht
wird, wobei das Klebematerial in viskoser oder flüssiger Form in dosierter
Menge in die Kavität eingebracht, der Laminiervorgang zur Herstellung
der Chipkarte unter gleichzeitiger Verdrängung des Klebematerials im
Kartenbasiskörper erfolgt, und das Klebematerial hinsichtlich seiner
Aushärteeigenschaften derart dem Laminierungsvorgang angepaßt ist, daß
das Klebematerial bei Beendigung des Laminiervorgangs ausgehärtet ist.
In der Chipkartenproduktion werden häufig sogenannte "weiße Karten"
hergestellt, die zwar als voll funktionsfähige Chipkarten ausgebildet sind,
jedoch noch nicht die vom Kartenvertreiber gewünschte äußere Gestaltung
der Kartenoberfläche aufweisen. Hierzu werden die Karten mit einer in der
Regel im Druckverfahren gestalteten Außenfolie versehen.
Grundsätzlich besteht zwar auch die Möglichkeit, eine Gestaltung der
Kartenoberfläche durch eine unmittelbare Gestaltung der Oberfläche der
weißen Karte, beispielsweise durch Bedrucken der weißen Karte, vorzu
nehmen. In der Praxis hat sich jedoch gezeigt, daß aufgrund der bei
weißen Karten häufig nicht ausreichenden Ebenheit der Kartenoberfläche
die Erzeugung eines gleichmäßigen Druckbildes nicht möglich ist. Im
wesentlichen lassen sich zwei Umstände anführen, die dazu führen, daß
die gewünschte Ebenheit der für eine äußere Gestaltung vorgesehenen
Kartenoberflächen nicht erreicht wird.
Zum einen liegt dies an der häufig unzureichenden Haftung zwischen der
Oberseite des in eine Kavität des Kartenkörpers eingesetzten Chipmoduls
und der das Chipmodul abdeckenden, äußeren Decklage der Karte. Hier
durch kann es zu Gasblasenbildungen zwischen der Decklage und der
Oberseite des Chipmoduls kommen, woraus entsprechende Erhöhungen in
der Kartenoberfläche resultieren. Zum anderen kann es auch daran liegen,
daß sich das Chipmodul aufgrund der unterschiedlichen Nachgiebigkeiten
des Decklagenmaterials und des Chipmoduls mit seiner Oberseite in der
Oberfläche der Decklage abzeichnet. Beide vorstehend erwähnten Phäno
mene führen letztendlich zu Verwerfungen in der Kartenoberfläche, die
beispielsweise bei einer Gestaltung der Kartenoberfläche im Druckverfah
ren zu entsprechenden Verzerrungen im Druckbild führen.
Darüber hinaus kann festgestellt werden, daß es aufgrund unzureichender
Haftung zwischen der Oberseite des Chipmoduls und der Decklage der
Chipkarte infolge von Biegebeanspruchungen, bedingt durch den Gebrauch
der Chipkarte, zu Relativbewegungen zwischen dem Chipmodul und dem
Kartenkörper kommen kann, die zu Beschädigungen des Chipmoduls
führen können.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
vorzuschlagen, das die Herstellung einer Chipkarte mit einer eben ausge
bildeten Kartenoberfläche ermöglicht.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen des An
spruchs 1 gelöst.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird das Klebematerial zum einen
in dosierter Menge in die Kavität eingebracht, zum anderen ist das Klebe
material hinsichtlich seiner Aushärteeigenschaften so eingestellt, daß das
Klebematerial bei Beendigung des Laminiervorgangs ausgehärtet ist.
Darüber hinaus wird der während des Laminiervorgangs auf den Karten
körper durch das Laminierwerkzeug ausgeübte Druck zur möglichst
gleichmäßigen Verteilung des Klebematerials in den zwischen dem Chip
modul und den Wandungen der Kavität verbleibenden Zwischenräumen
genutzt. Durch die am Ende des Laminiervorgangs erreichte Aushärtung
des Klebematerials wird die am Ende des Laminiervorgangs erreichte
Verteilung und Ausbildung des Klebervolumens quasi eingefroren. Damit
wird verhindert, daß nach Beendigung des Laminiervorgangs noch Volu
menveränderungen der Klebermasse erfolgen, die zu den eingangs be
schriebenen Unebenheiten in der Kartenoberfläche führen können. Darüber
hinaus befindet sich das Chipmodul am Ende des Laminiervorgangs in
einem quasi eingebetteten Zustand, der verhindert, daß sich das Chipmo
dul in der Kartenoberfläche abzeichnet.
Das vorgenannte Aushärteverhalten des Klebers kann beispielsweise
dadurch erreicht werden, daß bei Verwendung eines thermisch härtenden
Klebers die Aushärtetemperatur und die Aushärtezeit des Klebermaterials
an die Höhe und Dauer der Temperaturbeaufschlagung des Kartenkörpers
beim Laminiervorgang angepaßt wird.
Gemäß einer vorteilhaften Variante des erfindungsgemäßen Verfahrens
wird das Chipmodul nach dem Einsetzen in die Kavität auf seiner Ober
seite mit einem dosierten Klebematerialauftrag versehen. Hierdurch ist es
möglich, in dem nachfolgenden Laminiervorgang durch Umverteilung und
Aushärtung des Klebers die vorstehend beschriebenen positiven Effekte zu
erzielen, ohne daß die Applikation des Chipmoduls in die Kavität des
Kartenkörpers durch Kleber beeinflußt werden könnte.
Bei Bedarf ist es jedoch auch möglich, den Kleber unmittelbar in die
Kavität zu dosieren und anschließend das Chipmodul in die in der Kavität
aufgenommenen Klebermasse einzusetzen. Bei den vorstehend erwähnten
Chipmodulen kann es sich um solche handeln, die eine unmittelbar auf dem
Modulträger ausgebildete Antennenspule aufweisen, oder solche, die bei
der Applikation in die Kavität des Kartenkörpers mit einer bereits im
Kartenkörper angeordneten Antennenspule kontaktiert werden.
Alternativ zu einer Applikation des Klebematerials in die Kavität oder auf
das Chipmodul oder auch sowohl in die Kavität als auch auf das Chipmo
dul besteht die Möglichkeit, eine dosierte Klebermenge dadurch in die
Kavität des Kartenbasiskörpers einzubringen, daß der Klebematerialauf
trag über ein auf einer Trägerfolie angeordnetes Klebervolumen erfolgt.
Hierbei wird die Trägerfolie derart auf den Kartenbasiskörper aufge
bracht, daß das Klebervolumen in eine Überdeckungslage mit der Ober
seite des Chipmoduls gebracht wird und anschließend unter Zwischenlage
der Trägerfolie die Decklage auf dem Kartenbasiskörper laminiert wird.
Alternativ zu der vorstehend genannten Applikation des Klebematerials
mittels einer separat hierfür vorgesehenen Trägerfolie besteht auch die
Möglichkeit, den dosierten Klebematerialauftrag über ein Klebevolumen
vorzusehen, das auf einer dem Kartenbasiskörper gegenüberliegenden
Rückseite der Decklage angeordnet ist und beim Laminiervorgang in eine
Überdeckungslage mit der Oberseite des Chipmoduls gebracht wird.
Bei Anordnung des Kartenbasiskörpers in einem bahnförmig ausgebildeten
Kartenkörperverbund aus einer Vielzahl miteinander verbundener Karten
basiskörper und Anordnung der Decklage in einem bahnförmig ausgebil
deten Decklagenverbund aus einer Vielzahl miteinander verbundener
Decklagen werden der Kartenkörperverbund und/oder der Decklagenver
bund vorteilhaft an einer Klebematerialauftragseinrichtung vorbeibewegt,
so daß die Einbringung der dosierten Klebermengen in die Kavität auch
bei einer kontinuierlichen Endlosfertigung der Chipkarten mit entspre
chend kontinuierlicher Einbringung des Klebematerials in die Kavitäten
der Kartenbasiskörper möglich ist. Bei einer derart kontinuierlichen
Herstellung von Chipkarten in einem endlosen Chipkartenverbund können
die Chipkarten nachfolgend dem Laminiervorgang durch geeignete Stanz-
oder Schneidtechniken vereinzelt werden.
Bei Verwendung einer Trägerfolie zur Applikation des Klebers in die
Kavität des Kartenbasiskörpers kann auch diese bahnförmig ausgebildet
und an einer Klebematerialauftragseinrichtung vorbeibewegt werden.
Eine weitere Möglichkeit zur Einbringung einer dosierten Klebermenge in
die Kavität besteht darin, das Chipmodul vor dem Einsetzen in die Kavität
auf seiner Ober- und/oder Unterseite mit einem dosierten Klebematerial
auftrag zu versehen. Besonders vorteilhaft läßt sich der Klebematerial
auftrag auf das Chipmodul aufbringen, wenn das Chipmodul in einem
bahnförmig ausgebildeten Modulverbund aus einer Vielzahl miteinander
verbundener Chipmodule angeordnet ist, und der Modulverbund an einer
Klebematerialauftragseinrichtung vorbeibewegt wird.
Hierbei kann der Klebematerialauftrag vor dem Herauslösen der einzelnen
Chipmodule, also vor deren Vereinzelung aus dem Modulverbund, punkt
förmig auf das einzelne Chipmodul oder flächig auf den Modulverbund
aufgebracht werden. Besonders der flächige Klebematerialauftrag ermög
licht eine genaue und einfache Art der Dosierung, da das Klebematerial in
Form einer gleichmäßig starken Schicht aufgebracht werden kann. Die
Menge des derart auf die Chipmodule aufgebrachten Klebematerialauftrags
bestimmt sich in diesem Fall durch die Schichtdicke des Klebematerial
auftrags und die vom Klebematerialauftrag abgedeckte Oberfläche des
Chipmoduls.
Als weitere Vereinfachung bei der Chipkartenherstellung erweist es sich,
wenn nicht nur die Umverteilung des Klebematerials im Kartenkörper bzw.
die Einbettung des Chipmoduls in der Kavität des Kartenkörpers während
eines Laminiervorgangs erfolgt, sondern darüber hinaus auch die Kavität
zur Aufnahme des Chipmoduls während eines Laminiervorgangs ausgebil
det wird.
Bezogen auf das vorstehend erläuterte Verfahren zur Einbettung des
Chipmoduls im Kartenkörper bzw. Umverteilung des Klebematerials im
Kartenkörper wird die Kavität zur Aufnahme des Chipmoduls im Karten
körper in einem dem vorstehenden Laminiervorgang vorausgehenden
ersten Laminiervorgang bei gleichzeitigem Eindringen eines Formstücks in
den Kartenkörper ausgebildet.
Auch unabhängig von dem eingangs erläuterten Verfahren zur Einbettung
des Chipmoduls in der Kavität des Kartenkörpers bzw. Umverteilung des
Klebematerials im Kartenkörper weist das Verfahren zur Ausbildung der
Kavität im Kartenkörper bei gleichzeitigem Eindrücken eines Formstücks
in den Kartenkörper während eines Laminiervorgangs zwei wesentliche
Vorteile auf.
Zum einen wird die Formhaltigkeit einer vor dem Laminiervorgang er
zeugten Fensteröffnung auch während des Laminiervorgangs aufrechter
halten. Dies erweist sich insbesondere bei einer mit der Kartenoberfläche
bündigen Anordnung des Chipmoduls als vorteilhaft, wie es beispielsweise
bei kombinierten Chipkarten der Fall ist, die einen kontaktbehaften,
direkten und über eine Antennenspule einen kontaktlosen, indirekten
Zugriff aus das Chipmodul ermöglichen.
Zum andern besteht die Möglichkeit, auf eine dem Laminiervorgang
vorausgehende Einbringung einer Fensteröffnung zu verzichten und die
Kavität durch das Eindringen des Formstücks in den Kartenkörper zu
erzeugen. Demgegenüber macht das bekannte Stanzverfahren zur Erzeu
gung von Kavitäten in Kartenkörpern eine extra hierfür vorgesehene
Stanzeinrichtung notwendig. Darüber hinaus können sich bei der Erzeu
gung von Kavitäten mittels einer Folienlage, in die Fensteröffnungen
eingestanzt sind, die dann in genau definierter Position auf einer geschlos
senen Folienlage angeordnet werden müssen, bei einer kontinuierlichen
Kartenherstellung Synchronisationsprobleme zwischen der mit den Fen
steröffnungen versehenen Folienlage und der weiteren Folienlage ergeben;
insbesondere dann, wenn die Fensteröffnungen in exakter Weise über
Anschlußenden von auf der weiteren Folienlage angeordneten Antennen
spulen positioniert werden müssen.
Zu einer mit einem Laminiervorgang überlagerten Erzeugung der Kavitä
ten ist es ausreichend, ein Laminierwerkzeug mit einem entsprechend der
gewünschten Kavität ausgebildeten Vorsprung zu verwenden. Auch
besteht die Möglichkeit, zur Ausbildung der Kavität an geeigneter Stelle
des Kartenkörpers ein Formstück aufzubringen, das mittels eines Lami
nierwerkzeugs beim Laminiervorgang in den Kartenkörper eingedrückt
und nach dem Laminiervorgang wieder aus dem Kartenkörper entfernt
wird. Dabei kann die Entfernung des Formstücks auf unterschiedliche Art
und Weise erfolgen. Eine Möglichkeit besteht darin, das Formstück nach
Ausbildung der Kavität mit einer geeigneten Einrichtung zu entnehmen.
Eine weitere Möglichkeit besteht darin, für das Formstück ein Material,
beispielsweise ein Klebermaterial zu wählen, das bei geringfügig über der
Laminierungstemperatur liegender Temperatur aufschmilzt und eine
Einbettung des Chipmoduls in die zuvor durch das Formstück selbst
geschaffene Kavität ermöglicht.
Bei einer bereits im Kartenkörper angeordneten Antennenspule, die zum
Anschluß an das Chipmodul bestimmt ist, kann zur Erleichterung einer
nachfolgenden Kontaktierung des Chipmoduls mit der Antennenspule das
Formstück bei der Erzeugung der Kavität bis zur Anlage an Kontaktenden
der Spule in den Kartenkörper eingedrückt werden.
Mögliche Varianten des erfindungsgemäßen Verfahrens werden nachfol
gend unter Bezugnahme auf die Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 die Dosierung von Klebematerial in eine Kavität eines Kartenbasis
körpers einer Chipkarte;
Fig. 2 eine durch einen Laminiervorgang aus dem in Fig. 1 dargestellten
Kartenbasiskörper und einer Decklage gebildete Chipkarte;
Fig. 3 eine Strömungshilfseinrichtung zur Verwendung in der in Fig. 2
dargestellten Chipkarte;
Fig. 4 die in Fig. 3 dargestellte Strömungshilfseinrichtung vor Durchfüh
rung des Laminiervorgangs zwischen zwei Lagen des Kartenbasiskörpers;
Fig. 5 eine weitere Möglichkeit zur Dosierung von Klebematerial in die
Kavität einer Chipkarte mittels einer Trägerfolie;
Fig. 6 den in Fig. 5 dargestellten Kartenbasiskörper nach Dosierung des
Klebematerials mit aufliegender Trägerfolie;
Fig. 7 den in Fig. 6 dargestellten Kartenbasiskörper mit zusätzlich auf die
Trägerfolie aufgebrachter Decklage, unmittelbar vor dem Laminiervor
gang;
Fig. 8 eine weitere Möglichkeit zur Dosierung von Klebematerial in die
Kavität einer Chipkarte mittels Dosierung des Klebematerials auf einen
Modulverbund;
Fig. 9 ein aus dem in Fig. 8 dargestellten Modulverbund herausgelöstes
Chipmodul nach Einsetzen in die Kavität eines Lagenaufbaus für eine
Chipkarte;
Fig. 10 die Ergänzung des in Fig. 9 dargestellten Lagenaufbaus mit einer
Funktionslage;
Fig. 11 einen Lagenaufbau zur Herstellung von Chipkarten in einem
Laminierwerkzeug;
Fig. 12 den in Fig. 11 dargestellten Lagenaufbau nach dem Laminiervor
gang;
Fig. 13 eine mit einer Antennenspule versehene Funktionslage zur Ver
wendung in dem in Fig. 12 dargestellten Lagenaufbau in Draufsicht;
Fig. 14 eine Schnittdarstellung der in Fig. 13 dargestellten Funktionslage
längs dem Schnittlinienverlauf XIV-XIV in Fig. 13.
Fig. 1 zeigt einen Chipkartenbasiskörper 20, der zum Aufbau einer in
ihrer Gesamtstruktur in Fig. 2 dargestellten Chipkarte 21 dient. Der in
Fig. 1 dargestellte Chipkartenbasiskörper 20 ist dreilagig aufgebaut und
weist basierend auf einer unteren Decklage 22 eine Trägerlage 23 mit
einer Fensteröffnung 24 sowie eine Funktionslage 25 mit einer Fensteröff
nung 26 auf. Die Funktionslage 25 ist auf ihrer Unterseite mit einer Spule
27 versehen, die zur Kontaktierung mit Modulkontakten 28 auf einem
Modulträger 29 eines Chipmoduls 30 dient.
Durch den geschichteten, in Fig. 1 dargestellte Aufbau des Chipkartenba
siskörpers 20 bilden die Fensteröffnungen 24, 26 zusammen eine Kavität
31 aus, die das Chipmodul 30 aufnimmt. Dabei wird der Modulträger 29
von dem durch die Fensteröffnung 24 der Kavität 31 gebildeten Raum
aufgenommen. Wohingegen ein hervorragend auf dem Modulträger 29
angeordneter Mold 32, der den hier nicht näher dargestellten Chip des
Chipmoduls 30 einkapselt, in den durch die Fensteröffnung 26 der Funkti
onslage 25 gebildeten Teil der Kavität 31 hineinragt. In dem so aufge
bauten Chipkartenbasiskörper 20 ist das Chipmodul 30 in der Kavität 31
derart aufgenommen, daß der Modulträger 29 des Chipmoduls 30 die
Funktionslage 25 hintergreift.
Zum Verfüllen der nach Einsetzen des Chipmoduls 30 verbleibenden freien
Bereiche der Kavität 31 sowie zur Herstellung eines Klebekontakts
zwischen dem Chipmodul 30 und das Chipmodul 30 umgebenden Berei
chen des Chipkartenbasiskörpers 20 wird in dem in Fig. 1 dargestellten
Ausführungsbeispiel vor Herstellung eines Laminatverbundes zwischen
den einzelnen Lagen 22, 23, 25 des Chipkartenbasiskörpers 20 mittels
einer hier schematisch dargestellten Dosiereinrichtung 33 ein Klebemate
rial 34 in die Kavität 31 eingefüllt. Wie in Fig. 1 dargestellt, befindet sich
nach der Applikation durch die Dosiereinrichtung 33 das hier flüssig bis
viskos ausgebildete Klebematerial 34 im wesentlichen auf dem Mold 32
und in den angrenzenden Bereichen des durch die Fensteröffnung 26
gebildeten Teils der Kavität 31.
Fig. 2 zeigt den zur Herstellung einer Chipkarte 21 durch eine obere
Decklage 35 ergänzten Chipkartenbasiskörper 20 in einem Laminierwerk
zeug 36. Das Laminierwerkzeug 36 weist im vorliegenden Ausführungs
beispiel ein unteres und ein oberes Laminierblech 37, 38 auf, die zur
Herstellung eines Laminatverbundes zwischen den einzelnen Lagen 22, 23,
25 des Chipkartenbasiskörpers 20 und der oberen Decklage 35 bei dazwi
schen liegender Anordnung der vorgenannten Lagen gegeneinander gefah
ren werden und den Chipkartenbasiskörper 20 sowie die obere Decklage
35 über eine vorgegebene Zeitspanne mit Druck und Temperatur beauf
schlagen. Dabei wird die Zusammensetzung des Klebers bzw. die Tempe
raturbeaufschlagung beim Laminiervorgang so eingestellt, daß am Ende
des Laminiervorgangs, also vor dem Auseinanderfahren der Laminierble
che, das Klebematerial erhärtet ist und eine Formhaltigkeit der Chipkarte
mit ebenen Kartenoberflächen gewährleistet ist. Bei Verwendung eines
duroplastischen Klebematerials, also beispielsweise eines Epoxymaterials,
kann dies durch Einstellung eines entsprechenden zeitabhängigen Tempe
raturprofils beim Laminiervorgang erfolgen. Bei Verwendung eines
thermoplastischen Klebematerials ist die Zeitabhängigkeit des Tempera
turprofils von untergeordneter Bedeutung, solange für die zum Erhärten
des Klebematerials notwendige Abkühlung des Laminatverbunds im
Laminierwerkzeug gesorgt wird.
Wie in Fig. 2 dargestellt, erfolgt durch den Laminiervorgang eine Umver
teilung des Klebematerials 34 in der Kavität 41, derart, daß das Klebema
terial 34 nicht mehr im wesentlichen nur in dem durch die Fensteröffnung
26 der Funktionslage 25 gebildeten oberen Teil der Kavität 31, sondern
auch in dem durch die Fensteröffnung 24 in der Trägerlage 23 gebildeten
unteren Teil der Kavität 31 angeordnet ist. Dabei können, wie in den Fig.
1 und 2 mit gestricheltem Linienverlauf dargestellt, bei unzureichendem
Fließverhalten des Klebematerials 34, beispielsweise infolge zu hoher
Viskosität des Klebematerials, Strömungshilfseinrichtungen 39, 40 in den
Strömungsübergängen zwischen der Funktionslage 25 und der Trägerlage
23 bzw. der Trägerlage 23 und der unteren Decklage 22 eingesetzt wer
den, um eine möglichst gleichmäßige Verteilung des Klebematerials 34 in
der Kavität 31 unter weitestgehender Einbettung des Chipmoduls 30 im
Klebematerial 34 zu erreichen.
Fig. 3 zeigt die für eine Anordnung zwischen der Funktionslage 25 und
der Trägerlage 23 vorgesehene Strömungshilfseinrichtung 39 in einer
Draufsicht, wobei, wie durch den gestrichelten Linienverlauf angedeutet,
in einem mittleren Bereich der Strömungshilfseinrichtung 39 eine Fenster
öffnung 41 zum Durchlaß für den Mold 32 des Chipmoduls 30 vorgesehen
ist. Die Strömungshilfseinrichtung 39 weist auf ihrer Ober- und Unterseite
eine Rahmenstruktur 42, 43 mit Rahmenstreben 44 auf, die über zwi
schenliegend angeordnete Strömungsleitstücke 45 miteinander verbunden
sind.
Wie in Fig. 4 dargestellt, die in einer Schnittansicht der Strömungshilfs
einrichtung 39 zwischen den Strömungsleitstücken 45 ausgebildete Strö
mungsquerschnitte 46 zeigt, dienen die Rahmenstrukturen 42, 43 als
Auflager für die Funktionslage 25 und Abstützung auf der Trägerlage 23
vor Herstellung des Laminatverbunds entsprechend der Darstellung in Fig.
1. Bei Herstellung des Laminatverbunds dringen die Rahmenstrukturen 42,
43 bei gleichzeitiger Verdichtung des Lagenmaterials in die Funktions
decklage 25 und die Trägerlage 23 ein, so daß zusammen mit den Strö
mungsleitstücken 45 die Aufrechterhaltung der Strömungsquerschnitte 46
im Bereich der Strömungshilfseinrichtung 39 auch nach Herstellung des
Laminatverbunds, wie in Fig. 2 dargestellt, gesichert wird. Hierdurch wird
sichergestellt, daß die Herstellung des Laminatverbunds die Umverteilung
des Klebematerials 34 in der Kavität 31 nicht behindert. Darüber hinaus
trägt die Strömungshilfseinrichtung zu einer Versteifung der Chipkarte
bei, so daß schädliche mechanische Biegebeanspruchungen, insbesondere
der Kontaktbereiche zwischen dem Chipmodul und der Antennenspule,
reduziert werden.
Fig. 5 zeigt die Applikation von Klebematerial 34 in die das Chipmodul 30
aufnehmende Kavität 31 des Chipkartenbasiskörpers 20 mittels einer
Trägerfolie 48, die auf ihrer Unterseite mit einem dosierten Klebervolu
men 49 versehen ist. Bei dem in Fig. 5 dargestellten Ausführungsbeispiel
ist das Klebervolumen 49 nach Art eines Flüssigkeitsmeniskus ausgebildet.
Abweichend davon ist es aber auch möglich, mittels geeignet ausgebilde
ter Dosiereinrichtungen zur Dosierung des Klebervolumens 49 auf die
Trägerfolie 48 ein Klebervolumen in anderer Form, beispielsweise als
Ringwulst ausgebildet, auf die Trägerfolie 48 aufzubringen.
Wie aus der Abfolge der Fig. 5 und 6 hervorgeht, erfolgt die Applikation
des Klebervolumens 49 in die Kavität 41 durch ein zumindest im Bereich
der Kavität 41 durchgeführtes Absenken der Trägerfolie 48 bis zu deren
Anlage an die Funktionslage 25 des Chipkartenbasiskörpers 20. Hierdurch
wird, wie aus Fig. 6 zu ersehen ist, zumindest der durch die Fensteröff
nung 26 der Funktionslage 25 definierte obere Teil der Kavität 31 mit dem
Klebematerial 34 gefüllt.
Anschließend wird, wie in Fig. 7 dargestellt, der Chipkartenbasiskörper
20 durch die obere Decklage 35 ergänzt, wobei in dem in Fig. 7 darge
stellten Ausführungsbeispiel die Trägerfolie 48 nicht nur als Vehikel zur
Applikation des Klebervolumens 49 in die Kavität 31 dient, sondern als
Zwischenlage in einen Lagenaufbau 50 zur Ausbildung einer Chipkarte
integriert wird.
Die weitere Umverteilung des Klebematerials 34 in dem um das Chipmo
dul 30 herum verbleibenden Freiraum der Kavität 31 erfolgt anschließend
analog dem unter Bezugnahme auf Fig. 2 erläuterten Ausführungsbeispiel
durch den nachfolgenden Laminiervorgang, bei dem die Laminierbleche
37, 38 des Laminierwerkzeuges 36 gegen den Lagenaufbau 50 verfahren
werden.
Sowohl bei dem anhand der Fig. 1 bis 4 erläuterten Verfahren zur Fixie
rung des Chipmoduls 30 in der Chipkarte 21 mittels eines die Kavität 31
ausfüllenden Klebematerials 34 als auch bei der in den Fig. 5 bis 7 darge
stellten Verfahrensvariante kann die Herstellung von Chipkarten durch
den dargestellten Laminiervorgang in einem endlosen Chipkartenverbund
erfolgen, wobei die einzelnen Lagen des Lagenaufbaus aus Materialbahnen
bestehen und erst nach Abschluß des Laminiervorgangs die Ausbildung
einzelner Chipkarten 21 aus dem Chipkartenverbund durch Vereinzelung,
beispielsweise mittels eines Stanzvorgangs, erfolgt.
Besonders bei dieser Herstellungsweise erweist es sich als vorteilhaft,
auch die Trägerfolie 48 bahnförmig auszubilden, so daß die Dosierung des
definierten Klebervolumens 49 auf die Trägerfolie 48 an einem beliebigen
Ort der zur Durchführung des Verfahrens verwendeten Vorrichtung
erfolgen kann und das Klebervolumen 49 mittels der Trägerfolie 48 zum
Chipkartenbasiskörper 20 hin transportiert wird.
In den Fig. 8 bis 10 ist eine Verfahrensvariante dargestellt, bei der die
Applikation des Klebematerials 34 in die Kavität 31 des Chipkartenbasis
körpers 20 über das Chipmodul 30 selbst erfolgt. Hierzu sind in dem hier
dargestellten Ausführungsbeispiel eine Vielzahl von Chipmodulen 30 in
einem bahnförmig ausgebildeten Chipmodulverbund 52 angeordnet und es
erfolgt eine beidseitige Applikation des Klebematerials 34 auf den Modul
bund 52 mittels Dosiereinrichtungen 53, 54.
Bei dem in Fig. 3 dargestellten Ausführungsbeispiel wird der Modulver
bund 52 zwischen den stationär angeordneten Dosiereinrichtungen 53 und
54 hindurchbewegt, so daß sich auf dem Modulverbund 52 beidseitig eine
Klebematerialschicht 55, 56 mit im wesentlichen konstanter Dicke ausbil
det. Die Applikation des Klebematerials 34 erfolgt bei der in den Fig. 8
bis 10 dargestellten Verfahrensvariante zusammen mit dem aus dem
Modulverbund 52 vereinzelten Chipmodul 30 und gleichzeitig mit dem
Aufbau des Chipkartenbasiskörpers 20 und Ausbildung der Kavität 31.
Fig. 9 zeigt, daß das vereinzelte Chipmodul 30 zusammen mit dem Klebe
material 34 in die auf der unteren Decklage 22 angeordnete Fensteröff
nung 24 der Trägerlage 23 eingesetzt wird. Anschließend wird, wie Fig.
10 deutlich macht, die Funktionslage 25 so auf die Trägerlage 23 aufge
bracht, daß der Mold 32 des Chipmoduls 30 zusammen mit dem hierauf
aufgebrachten Anteil des Klebematerials 34 die Fensteröffnung 26 der
Funktionslage 25 durchdringt. Hierdurch wird gleichzeitig die Kavität 31
ausgebildet. Bei einer von der in den Fig. 8 bis 10 dargestellten Form
abweichenden Form des Chipmoduls 30, die keine hinterschnittene Ausbil
dung der Kavität notwendig oder sinnvoll macht, ist es natürlich auch
möglich, zuerst die Kavität auszubilden und anschließend das Chipmodul
zusammen mit dem darauf aufgebrachten Klebematerial 34 zu applizieren.
Entsprechend der Darstellung in Fig. 2 der ersten Verfahrensvariante kann
auch, wie aus Fig. 10 der dritten Verfahrensvariante hervorgeht, eine
Kontaktierung der Spule 27 der Funktionslage 25 mit den Modulkontakten
28 des Modulträgers 29 während des Laminiervorgangs unter gleichzeiti
ger Verdrängung des Klebematerials im Spalt zwischen den Modulkon
takten 28 und den entsprechenden Kontakten der Spule 27 erfolgen.
Der Laminiervorgang erfolgt in einem dem in Fig. 10 dargestellten Ver
fahrensschritt nachfolgenden Verfahrens schritt nach Ergänzung des
Chipkartenbasiskörpers 20 durch die obere Decklage 35 mit dem Lami
nierwerkzeug 36 analog der Darstellung in Fig. 2.
In den Fig. 11 und 12 ist ein Verfahren dargestellt, das es ermöglicht, in
einem dem in Fig. 2 dargestellten Laminiervorgang zur Herstellung einer
Chipkarte vorausgehenden Zwischenlaminiervorgang eine Kavität 57 in
einem Chipkartenbasiskörper 58 auszubilden, oder, wie durch die gestri
chelte Darstellung von Fensteröffnungen 51 in einer Lage 59 angedeutet
wird, eine bereits zuvor in die Lage 59, bspw. durch Stanzen, einge
brachte Fensteröffnung 51 während des Laminiervorgangs offenzuhalten.
Der in Fig. 12 dargestellte Chipkartenbasiskörper 58 ist Bestandteil eines
bahnförmig ausgebildeten Basiskörperverbunds 62, der die Lage 59 und
einer Funktionslage 60 mit einer jeweils einem Chipkartenbasiskörper 58
zugeordneten Spule 61 aufweist. Die Kavität 57 ist in der Lage 59 ausge
bildet und reicht bis zur Spule 61 der Funktionslage 60. In Fig. 12 sind
Trennlinien 63, 64 eingezeichnet, die den Bereich eines Chipkartenbasis
körpers 58 in dem eine Mehrzahl von Chipkartenbasiskörpern 58 aufwei
senden Basiskörperverbund 62 definieren.
Wie Fig. 11 zeigt, wird der Basiskörperverbund 62 gleichzeitig mit
Ausbildung der Kavität 57 in einem Laminiervorgang hergestellt. Hierzu
sind an einem oberen Laminierblech 65 eines Laminierwerkzeuges 66
Vorsprünge 67 vorgesehen, die für die Ausbildung der Kavitäten 57 beim
Laminiervorgang sorgen. Im Falle bereits in der Lage 59 vorgesehener
Fensteröffnungen 51 tauchen die Vorsprünge 67 in die Fensteröffnungen
51 ein und sorgen dafür, daß bei Ausbildung der Kavitäten 57 durch die
Verbindung der Lage 59 mit der Funktionslage 60 die Fensteröffnungen 51
formhaltig aufrechterhalten werden.
Neben der Kombination des in den Fig. 11 und 12 dargestellten Laminier
vorgangs zur Erzeugung von Kavitäten mit einer nachfolgenden Applikati
on eines Chipmoduls und dessen Einbettung in einem Klebematerial, wie
in den Fig. 1 bis 10 dargestellt, kann das in den Fig. 11 und 12 darge
stellte Verfahren zur Erzeugung von Kavitäten auch unabhängig von einer
derartigen Applikation bei der Herstellung von Chipkarten Anwendung
finden, die einen kontaktbehafteten Zugriff auf das Chipmodul ermögli
chen. Die in den Fig. 11 und 12 dargestellte Variante ermöglicht bei
spielsweise die Herstellung sogenannter kombinierter Karten, welche im
vorliegenden Fall aus zwei Lagen, nämlich der Funktionslage 61 und der
die Kavität 57 aufweisenden Lage 59 gebildet sind, wobei ein in die
Kavität 57 einzusetzendes Chipmodul einerseits außen liegende Kontakte
für einen kontaktbehafteten Zugriff aufweist und andererseits mit der
Antennenspule 61 kontaktiert ist zur Ermöglichung eines kontaktlosen
Zugriffs.
Um eine Beeinträchtigung des elektrischen Kontakts zwischen dem Chip
modul und Spulenenden 68, 69 der auf der Funktionslage 60 ausgebildeten
Spule 61 durch beim Laminiervorgang verdrängtes Lagenmaterial zu
verhindern, sind, wie aus den Fig. 13 und 14 zu ersehen ist, beidseitig der
Spulenenden 68, 69 Vertiefungen 70 in der Funktionslage 60 vorgesehen,
die verdrängtes Lagenmaterial aufnehmen können.
Claims (13)
1. Verfahren zur Fixierung eines Chipmoduls in einem Kartenbasiskör
per einer Chipkarte, bei dem das Chipmodul in eine Kavität des
Kartenbasiskörpers eingesetzt, mittels eines Klebematerials eine
Klebeverbindung zwischen mindestens einer Oberfläche des Chip
moduls und dem Kartenbasiskörper hergestellt wird, und in einem
Laminiervorgang eine die Kavität und das darin aufgenommene
Chipmodul abdeckende Decklage auf den Kartenbasiskörper aufge
bracht wird,
wobei das Klebematerial (31) in flüssiger oder viskoser Form in do
sierter Menge in die Kavität (31) eingebracht wird, der Laminier
vorgang zur Herstellung der Chipkarte (21) unter gleichzeitiger
Verdrängung des Klebematerials im Kartenbasiskörper (20) erfolgt,
und das Klebematerial (34) hinsichtlich seiner Aushärteeigenschaf
ten dem Laminiervorgang so angepaßt ist, daß das Klebematerial bei
Beendigung des Laminiervorgangs ausgehärtet ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet
daß das Chipmodul (30) nach dem Einsetzen in die Kavität (31) auf
seiner Oberseite mit einem dosierten Klebematerialauftrag versehen
wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet
daß der dosierte Klebematerialauftrag über ein auf einer Trägerfolie
(48) angeordnetes Klebervolumen (49) erfolgt, wobei die Trägerfo
lie derart auf den Kartenbasiskörper (20) aufgebracht wird, daß das
Klebervolumen in eine Überdeckungslage mit der Oberseite des
Chipmoduls (30) gebracht wird und anschließend unter Zwischenlage
der Trägerfolie die Decklage (35) auf den Kartenbasiskörper la
miniert wird.
4. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß der dosierte Klebematerialauftrag über ein Klebervolumen (49)
erfolgt, das auf einer dem Kartenbasiskörper gegenüberliegenden
Rückseite der Decklage (35) angeordnet ist und beim Laminiervor
gang in eine Überdeckungslage mit der Oberseite des Chipmoduls
(30) gebracht wird.
5. Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet
daß der Kartenbasiskörper (20) in einem bahnförmig ausgebildeten
Kartenkörperverbund aus einer Vielzahl miteinander verbundener
Kartenbasiskörper und die Decklage (35) in einem bahnförmig aus
gebildeten Decklagenverbund aus einer Vielzahl miteinander ver
bundener Decklagen angeordnet ist, und der Kartenkörperverbund
und/oder der Decklagenverbund an einer Klebematerialauftragsein
richtung vorbeibewegt werden.
6. Verfahren nach Anspruch 3,
dadurch gekennzeichnet
daß die Trägerfolie (48) bahnförmig ausgebildet ist und an einer
Klebematerialauftragseinrichtung vorbeibewegt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß das Chipmodul (30) vor dem Einsetzen
in die Kavität (31) auf seiner Oberfläche und/oder Unterseite mit
einem dosierten Klebematerialauftrag versehen wird.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Chipmodul (30) in einem bahnförmig ausgebildeten Modul
verbund (52) aus einer Vielzahl miteinander verbundener Chipmo
dule angeordnet ist, und der Modulverbund an einer Klebematerial
auftragseinrichtung (53, 54) vorbeibewegt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet
daß der Klebematerialauftrag vor dem Herauslösen des einzelnen
Chipmoduls (30) punktförmig auf das einzelne Chipmodul oder flä
chenförmig auf den Modulverbund (52) aufgebracht wird.
10. Verfahren nach einem oder mehreren der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet
daß die Kavität (57) zur Aufnahme des Chipmoduls (30) in einem
ersten Laminiervorgang vor Durchführung des Laminiervorgangs
zur Herstellung der Chipkarte (21) bei gleichzeitigem Eindringen
eines Formstücks (67) in einen Lagenaufbau zur Ausbildung der
Chipkarte ausgebildet wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet
daß bei Ausbildung der Kavität (57) das als Vorsprung an einem
Laminierwerkzeug ausgebildete Formstück (67) in eine obere Lage
(59) des Lagenaufbaus eindringt.
12. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet
daß bei Ausbildung der Kavität das Formstück in eine obere Lage
des Lagenaufbaus eindringt und nach dem Laminiervorgang wieder
aus dem Lagenaufbau entfernt wird.
13. Verfahren nach Anspruch 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet
daß bei Anordnung einer mit einem Chipmodul zu verbindenden
Spule (61) im Lagenaufbau das Formstück bis zur Anlage an Kon
taktenden der Spule in den Lagenaufbau eindringt.
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