DE19635669C1 - Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels Gasflußsputtern - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels GasflußsputternInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Beschichtung von Substraten mittels
Gasflußsputtern mit einer Hohlkathoden-Glimmentladung in einem Inertgas
strom sowie eine Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels Gasfluß
sputtern mit einer als Target dienenden Hohlkathode (Haupthohlkathode) und
einer Einströmvorrichtung für den Inertgasstrom.
Derartige Hohlkathoden-Sputterquellen sind beispielsweise aus der
DE 42 10 125 C2 bekannt. Das damit angewendete Beschichtungsverfahren
wird im Fein- bis Grobvakuumbereich betrieben. Der für die Glimmentladung
erforderliche Inertgasstrom durchströmt eine Hohlkathode, wobei dort abge
stäubtes Kathodenmaterial auf einem über der Kathodenöffnung angeordneten
Substrat abgeschieden wird. Dieses Verfahren, allgemein als Gasflußsputtern
benannt, erzeugt eine gleichmäßige Beschichtung auf dem zu beschichtenden
Substrat ohne übermäßige Erwärmung desselben.
Die aus der DE 42 10 125 C2 bekannte Vorrichtung zum Gasflußsputter ist mit
einer Hohlkathode, einer Einströmungsvorrichtung für den Inertgasstrom, einer
Anode, einer geeigneten Stromversorgung sowie einem gegenüber der Öffnung
der Hohlkathode angeordneten Substrat ausgestattet. In der genannten Schrift
hat die Hohlkathode einen zweiseitig oder einseitig offenen Querschnitt in Form
eines Pyramiden- oder Kegelstumpfes oder ist als lineare Hohlkathode in einer
weiteren V-Form ausgebildet. Die Einströmungsvorrichtung ist mit einer speziel
len Gasdüse ausgestattet, so daß der Gasstrom annähernd parallel zur inneren
Targetoberfläche der Hohlkathode verläuft. Damit soll eine deutlich größere
Oberfläche des zu beschichtenden Substrats bei Erhaltung der Beschichtungs
rate beschichtet werden.
Ferner ist aus der DE 42 35 953 A1 eine derartige Sputterquelle mit einer linea
ren Hohlkathode bekannt, bei der die Hohlkathode aus planaren, parallel ange
ordneten, gleich oder annähernd gleich großen Elektroden besteht. Die Stirnsei
ten zwischen den beiden Elektroden sind parallel zum Inertgasstrom mit elek
trisch isolierten Stirnwänden abgeschlossen. Auch mit dieser Vorrichtung soll
eine Sputterquelle für großflächige Beschichtungen angegeben werden.
In der DD 2 94 511 A5 wird noch vorgeschlagen, aus der inertgasdurchströmten
Hohlkathodenentladung zunächst Inertgasionen geringer Energie auf das zu
beschichtende Substrat zu lenken und so dessen Oberflächenreinigung ohne
bzw. mit nur geringen Strukturschäden zu bewirken. Anschließend wird durch
Veränderung der Betriebsparameter von den die Hohlkathode darstellenden
Targets Material abgestäubt und auf dem Substrat abgelagert.
Nachteilig bei den bekannten Hohlkathoden-Sputterquellen ist, daß für große
Schichtdicken keine genügend hohe Beschichtungsrate erreicht werden kann.
Die Ursache liegt vor allem in der Begrenzung des möglichen elektrischen Lei
stungseintrags. Durch eine Vergrößerung der Targettiefe kann zwar der Lei
stungseintrag erhöht werden, dabei nimmt jedoch die Effektivität des Material
transports aus der Sputterquelle aufgrund der vorzeitigen seitlichen Ausdiffusion
eines mit der Tiefe zunehmenden Teils des abgestäubten Materials aus dem
Gasstrom heraus stark ab. Die Effektivität des Materialtransportes läßt sich nur
durch eine Vergrößerung des Volumenstroms der Inertgasströmung steigern.
Für derartige Anordnungen ist jedoch eine hohe Saugleistung der Pumpen er
forderlich und es erfolgt ein entsprechend hoher Inertgasverbrauch.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, ein gattungsgemäßes Beschichtungsver
fahren bzw. eine gattungsgemäße Beschichtungsquelle anzugeben, die eine
Beschichtung auf großflächigen Substraten mit erhöhter Beschichtungsrate er
möglicht.
Gelöst wird diese Aufgabe verfahrensgemäß dadurch, daß zusätzliche La
dungsträger von außen in den Entladungsbereich eingebracht oder innerhalb
der Hohlkathode erzeugt werden.
Durch die zusätzlich vorhandenen Ladungsträger erhöht sich bei gleicher Entla
dungsspannung der Entladungsstrom und mit ihm die Leistung. Folglich wird
mehr Material von den Kathoden (Targets) abgetragen, ohne daß sich dessen
Transportweg zum Substrat verlängert und damit die Verluste zunehmen.
Vorzugsweise werden die zusätzlichen Ladungsträger mit einer weiteren Hohl
kathoden-Glimmentladung zugeführt.
Wenn eine gegenüber der Hohlkathoden-Glimmentladung höhere Plasmadichte
in der weiteren Glimmentladung erzeugt wird, entsteht eine Zunahme an La
dungsträgem für die Hauptentladung. Eine höhere Plasmadichte kann durch
einen geringeren Kathodenabstand erreicht werden.
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren kann die beim Gasflußsputtern umge
setzte Leistung stark erhöht werden und damit erfolgt in fast gleichem Maße ein
gesteigerter Materialabtrag von den Kathoden. Folglich wird eine entsprechend
höhere Schichtwachstumsrate erreicht.
Vorrichtungsgemäß wird die eingangs genannte Aufgabe dadurch gelöst, daß
bei einer gattungsgemäßen Vorrichtung wenigstens eine zusätzliche Ladungs
trägerquelle in Richtung des Inertgasstromes vor oder innerhalb der Haupthohl
kathode vorgesehen ist.
Die zusätzliche Ladungsträgerquelle erhöht bei gleicher Entladungsspannung
den Entladungsstrom. Erfindungsgemäß wird damit eine deutlich höhere Be
schichtungsrate erreicht, die mit der eingekoppelten Leistung zunimmt. Da die
Leistung durch die prozeßbedingte Maximalspannung begrenzt ist, wird erfin
dungsgemäß ein geringerer elektrischer Widerstand der Entladung erreicht, so
daß die Maximalleistung um mindestens das doppelte höher liegt. Die auf die
elektrische Leistung bezogene abgeschiedene Materialmenge ist im Vergleich
zu bekannten Anordnungen größer, d. h. die Energieausnutzung ist verbessert
worden.
Im Vergleich zu bekannten tiefen Hohlkathoden ist bei gleicher Abscheiderate
ein geringerer Inertgasverbrauch und eine reduzierte Pumpenleistung festzu
stellen. Dies rührt von dem weitgehend vollständigen Materialtransport des ab
gestäubten Kathodenmaterials von der Quelle zum Substrat her.
Besonders vorteilhaft ist eine Anordnung der Ladungsträgerquellen zwischen
Haupthohlkathode und Einströmvorrichtung, so daß der aus der Einströmvor
richtung austretende Inertgasstrom die durch die Ladungsträgerquelle zuge
führten Ladungsträger in die Haupthohlkathode mitreißt.
Die zusätzliche Ladungsträgerquelle kann beispielsweise eine Thermoemis
sionskathode sein. Bevorzugt wird jedoch zur Einbringung der zusätzlichen La
dungsträger eine weitere Glimmentladung in einer Zusatzhohlkathode vorgese
hen. Diese weitere Glimmentladung brennt auf der dem Substrat abgewandten
Seite der Sputterquelle.
Bevorzugt ist dabei, daß die Zusatzhohlkathoden einen zweiseitig oder einseitig
offenen Querschnitt haben, wobei eine Öffnung in den Entladungsraum der
Haupthohlkathode gerichtet ist. Damit wird eine optimale Zuführung der zusätz
lichen Ladungsträger in den Brennraum der Haupthohlkathode gewährleistet.
Dadurch, daß den Hohlkathodeneffekt bewirkende jeweils einander gegenüber
liegende Elektrodenoberflächen der Zusatzhohlkathoden zueinander parallel
oder zueinander in V- oder U-Form geneigt angeordnet sind, wird eine möglichst
gleichmäßige Verteilung der zusätzlichen Ladungsträger im Brennraum der
Haupthohlkathode erreicht.
Bevorzugte geometrische Ausgestaltungen ergeben sich insbesondere aus den
Unteransprüchen 10 bis 12.
Der Transport der zusätzlichen Ladungsträger kann beispielsweise erfolgen
durch Diffusion durch den Konzentrationsgradienten, im Gasstrom oder auch
beeinflußt werden durch die Form der Hohlkathoden. Verschiedene Bauformen
können diese Mechanismen unterschiedlich unterstützen.
Dadurch, daß der Elektrodenabstand in der Zusatzhohlkathode um den Faktor 2
bis 10 kleiner ist als der Elektrodenabstand in der Haupthohlkathode wird eine
Erhöhung der Plasmadichte in der weiteren Glimmentladung der Zusatzhohl
kathode erreicht. Die in der Gesamtanordnung umgesetzte Leistung kann damit
verdoppelt oder weiter gesteigert werden. Der Elektrodenabstand in der
Haupthohlkathode sollte 5 mm bis 10 cm betragen, um einerseits eine breite
Beschichtungszone zu erzielen und andererseits den Hohlkathodeneffekt noch
ausnutzen zu können. Der Elektrodenabstand in der Zusatzhohlkathode sollte
demgemäß etwa zwischen 2 mm bis 5 cm betragen.
Die zwischen Anode und den Hohlkathoden angeschlossene Spannungsquelle
sollte Gleichspannung, gepulste Gleichspannung oder nieder- bis hochfre
quente Wechselspannung im Bereich von 1 Hz bis 10 GHz mit Spannungen von
200 bis 1500 V liefern.
Bevorzugt liegen dabei die Elektroden der Haupthohlkathode wie auch der Zu
satzhohlkathode auf gleichem elektrischen Potential.
Um Verunreinigungen in der Beschichtung zu vermeiden, sollten die Elektroden
der Zusatzhohlkathode aus dem gleichen Material wie die Elektroden der
Haupthohlkathode bestehen.
Um unerwünschte Randeffekte am Kathodenübergang zu vermeiden, sollten die
Elektroden der Haupthohlkathode und der Zusatzhohlkathode stetig ineinander
übergehen.
Besonders bevorzugt ist es, wenn dem die abgestäubten Teilchen enthaltenden
Inertgasstrom zusätzlich Reaktivgas zugeführt wird, etwa über Düsen. Reaktive
Beschichtung hat eine große Bedeutung (beispielsweise eine Beschichtung mit
Oxiden oder Nitriden). Gerade mit den erfindungsgemäßen Vorrichtungen und
Verfahren ist eine Beschichtung sowohl reaktiv wie auch mit reinen Metall
schichten möglich.
Besonders bevorzugt ist es, wenn die Einspeisung des Reaktivgases außerhalb
der Hohlkathode in Strömungsrichtung hinter der Hohlkathode erfolgt. Durch
diese Gaseinspeisung außerhalb des ursprünglich zugeführten Inertgasstromes
wird dafür gesorgt, daß das Reaktivgas nicht ins Gehäuse gelangt und somit
keine Targetvergiftung etwa durch Oxidation eintritt.
Natürlich ist es für spezielle Schichtsysteme gleichwohl möglich, auch eine Re
aktivgaseinspeisung innerhalb der Hohlkathode vorzunehmen.
Nachfolgend werden verschiedene Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand
der Zeichnungen detailliert beschrieben.
Darin zeigt:
Fig. 1 eine erfindungsgemäße Vorrichtung nach einem ersten Ausfüh
rungsbeispiel in schematisierter Schnittdarstellung und
Fig. 2 bis 6 verschiedene Ausführungsbeispiele der Anordnung der Haupt- und
Zusatzhohlkathoden in schematisierten Schnittdarstellungen.
In Fig. 1 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung in schematisier
ter Schnittdarstellung gezeigt. In einem Gehäuse 1, vorzugsweise aus Metall,
sind eine Haupthohlkathode 2 und eine Zusatzhohlkathode 3 aneinander an
schließend angeordnet. Zwischen einer nicht dargestellten Anode und den bei
den Kathoden ist eine Entladungsspannung mit Hilfe einer nicht dargestellten
geeigneten Stromversorgung angelegt. Für den Materialtransport der von den
Kathoden abgetragenen Teilchen ist als Einströmvorrichtung ein Düsenstock 4
vorgesehen.
Der Düsenstock 4 ist direkt benachbart zur Zusatzhohlkathode 3, die im darge
stellten Ausführungsbeispiel aus zwei ebenen, parallel zueinander angeordne
ten Elektroden 31 und 32 besteht, angeordnet. Die zweiseitig offene Zusatz
hohlkathode 3 geht an ihrer dem Düsenstock 4 abgewandten Öffnung über in
die Haupthohlkathode 2, die ebenfalls aus zwei ebenen, parallel angeordneten
Elektroden 21 und 22 besteht.
Die Elektroden 21, 22 der Haupthohlkathode 2 weisen einen um den Faktor 2
bis 10 größeren Elektrodenabstand auf als die beiden Elektroden 31, 32 der
Zusatzhohlkathode 3. Zwischen den Elektroden 21, 22 der Haupthohlkathode 2
ist ein das sich bildende Plasma enthaltener Hohlraum 23 ausgebildet. Ebenso
ist in der Zusatzhohlkathode 3 zwischen den Elektroden 31, 32 ein Hohlraum 33
ausgebildet.
Die Elektroden 21, 22, 31, 32 der Hohlkathoden 2, 3 sind an symmetrisch zur
Inertgasströmung angeordneten Targetkühlplatten 5 befestigt. Die Targetkühl
platten 5 stehen wiederum mit einer Basiskühlplatte 6 in thermisch leitender
Verbindung. An die Basiskühlplatte 6 ist ein Kühlmittelkreislauf 9 angeschlos
sen.
Das die voranstehend beschriebenen Bauteile umfassende Gehäuse 1 ist zu
den angrenzenden Bauteilen beabstandet und damit isoliert angeordnet. Am
vom Düsenstock 4 abgewandten Ende der Haupthohlkathode 2 ist im Ge
häuse 1 eine Öffnung 11 für den die abgestäubten Teilchen enthaltenden Inert
gasstrom 10 vorgesehen. Gegenüber dieser Öffnung 11 ist ein zu beschichten
des Substrat 7 angeordnet.
Für die Zuführung von Reaktivgas sind außerhalb des Gehäuses 1 Düsen 8
vorgesehen. Damit lassen sich zusätzlich reaktive Beschichtungen durchführen,
ohne daß eine Vergiftung der Hohlkathoden 2, 3 erfolgt.
In Fig. 2 ist eine Elektrodenanordnung ähnlich zu der in Fig. 1 angegeben, bei
der jedoch die Haupt- und Zusatz-Hohlkathode 2, 3 zylindrisch ausgebildet ist.
Sowohl in dieser als auch den folgenden Figuren kann anstelle dieser
rotationssymmetrischen Ausbildung auch eine senkrecht zur Zeichnungsebene
gedachte longitudinale Erstreckung der Querschnitte vorgesehen werden.
In Fig. 3 ist eine wiederum zylindrisch ausgebildete Haupthohlkathode 2 mit
Elektrode 21 und einer V-förmigen Zusatzhohlkathode in Gestalt eines Kegel
stumpfes dargestellt.
Fig. 4 zeigt eine Anordnungsalternative, bei der die Zusatzhohlkathode 3 ledig
lich einseitig offenen Querschnitt hat. Die Öffnung der Zusatzhohlkathode 3
zeigt dabei in den Hohlraum 23 der Haupthohlkathode 2.
In Fig. 5 ist wiederum eine zylindrische Haupthohlkathode 2 jedoch mit einer
davor angeordneten kreisringnutförmigen Zusatzhohlkathode 3 dargestellt.
Fig. 6 zeigt eine zwischen den Elektroden 21, 22 einer Haupthohlkathode 2
angeordneten stabförmigen Elektrode 31 der Zusatzhohlkathode 3. Bei einer
rotationssymmetrischen Anordnung würde danach die stabförmige Elektrode 31
umgeben von den halbschaligen Elektroden 21, 22. Bei longitudinal erstreckter
Ausbildung könnten auch mehrere stabförmige Elektroden zwischen den dann
plattenförmigen Elektroden 21, 22 angeordnet werden.
Nachfolgend wird das erfindungsgemäße Beschichtungsverfahren, teils unter
Bezugnahme auf die Zeichnungen, detailliert beschrieben. Für die gewünschte
Hohlkathoden-Glimmentladung zwischen der Anode und der zugeordneten
Haupthohlkathode 2 wird mit der Einströmvorrichtung 4 ein Inertgas in den Hohl
raum 23 der Haupthohlkathode eingeblasen. Erfindungsgemäß werden zwi
schen der Einströmstelle des Inertgases und der Haupthohlkathode 2 mittels der
Zusatzhohlkathode 3 zusätzliche Ladungsträger eingebracht. Damit entsteht im
Hohlraum 31 der Zusatzhohlkathode ein gegenüber dem Plasma in der
Haupthohlkathode Plasma höherer Dichte. Folglich erhöht sich der Entla
dungsstrom und somit die Leistung. Im Ergebnis wird mehr Material von den
Kathoden abgetragen.
Mit der Inertgasströmung gelangen die von den Kathoden abgestäubten Teil
chen durch die Gehäuseöffnung 11 auf das hinter der Öffnung angeordnete
Substrat 7. Die Teilchen werden auf dem Substrat abgeschieden und bilden
eine Beschichtung. Zur Unterstützung dieses Vorganges kann über zusätzliche
Düsen 8 außerhalb des Kathodengehäuses ein Reaktivgas zugeführt werden.
Entsprechend der größeren Teilchendichte in dem Plasma wird eine hohe Be
schichtungsrate erreicht.
Die Kühlung der durch die Glimmentladung erwärmten Hohlkathoden wird über
Targetkühlplatten 5 erreicht. Die Targetkühlplatten werden über die Basiskühl
platte 6 mittels Kühlmittelkreislauf 9 gekühlt. Wenigstens die Elektroden der
Haupthohlkathode sind dabei so auf der Targetkühlplatte montiert, daß die
Elektroden durch Lösen leicht zugänglicher Schrauben oder Klammern entfernt
werden können, ohne daß dabei das Kühlsystem geöffnet werden muß. Die
Elektroden sind dabei direkt oder unter Verwendung von gut wärmleitenden
Montageplatten auf der Kühlplatte montiert. Damit kann ein Elektroden (Target)-
Wechsel bzw. Reinigungsarbeiten sehr einfach und kostengünstig durchgeführt
werden. Die Montage der Targets ist dann durch einfaches Herausziehen in
Gasflußrichtung nach dem Lösen der Verbindungsschrauben oder -klammern
möglich. Das Kühlsystem braucht dabei nicht geöffnet zu werden. Sowohl der
Kühlkörper, wie auch seine elektrischen und Kühlmittelanschlüsse sind weder
der Plasmaeinwirkung noch parasitären Beschichtungen ausgesetzt. Der Kühl
körper braucht daher bei Wartungsarbeiten nicht demontiert zu werden, so daß
Dichtigkeitsprobleme im Kühlsystem nicht auftreten.
Bezugszeichenliste
1 Gehäuse
2 Hohlkathode (Haupthohlkathode)
3 Zusatzhohlkathode, Ladungsträgerquelle
4 Einströmvorrichtung
5 Targetkühlplatte
6 Basiskühlplatte
7 Substrat
8 Düse
9 Kühlmittelkreislauf
10 Inertgasstrom
11 Öffnung
21 Elektrode
22 Elektrode
23 Hohlraum
31 Elektrode
32 Elektrode
33 Hohlraum
2 Hohlkathode (Haupthohlkathode)
3 Zusatzhohlkathode, Ladungsträgerquelle
4 Einströmvorrichtung
5 Targetkühlplatte
6 Basiskühlplatte
7 Substrat
8 Düse
9 Kühlmittelkreislauf
10 Inertgasstrom
11 Öffnung
21 Elektrode
22 Elektrode
23 Hohlraum
31 Elektrode
32 Elektrode
33 Hohlraum
Claims (21)
1. Verfahren zur Beschichtung von Substraten mittels Gasflußsputtern mit
einer Hohlkathoden-Glimmentladung in einem Inertgasstrom,
dadurch gekennzeichnet,
daß zusätzliche Ladungsträger von außen in den Entladungsbereich ein
gebracht oder innerhalb der Hohlkathode erzeugt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zusätzlichen Ladungsträger mit einer weiteren Hohlkathoden-
Glimmentladung erzeugt und der Hauptkohlkathode zugeführt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine gegenüber der Hohlkathoden-Glimmentladung höhere Plasma
dichte in der weiteren Glimmentladung erzeugt wird.
4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß an die Haupthohlkathode (2) und die Zusatzhohlkathode (3) Gleich
spannung, gepulste Gleichspannung oder nieder- bis hochfrequente
Wechselspannung im Bereich von 1 Hz bis 10 GHz mit Spannungen von
200 bis 1500 V gelegt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden der Haupthohlkathode (2) und der Zusatzhohlkathode
(3) auf gleiches elektrisches Potential gelegt werden.
6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem die abgestäubten Teilchen enthaltenden Inertgasstrom (10)
zusätzlich Reaktivgas zugeführt wird.
7. Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten (7) mittels Gasflußsputtern
mit einer als Target dienenden Hohlkathode (Haupthohlkathode) (2) und
einer Einströmvorrichtung (4) für den Inertgasstrom,
dadurch gekennzeichnet,
daß wenigstens eine zusätzliche Ladungsträgerquelle (3) in Richtung des
Inertgasstromes vor oder innerhalb der Haupthohlkathode (2) vorgesehen
ist.
8. Vorrichtung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ladungsträgerquellen (3) zwischen Haupthohlkathode (2) und
Einströmvorrichtung (4) angeordnet sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zusätzliche Ladungsträgerquelle (3) eine Thermoemissions
kathode ist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 7 oder 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß die zusätzliche Ladungsträgerquelle (3) eine Zusatzhohlkathode ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Zusatzhohlkathoden (3) einen zweiseitig oder einseitig offenen
Querschnitt haben, wobei eine Öffnung in den Entladungsraum der
Haupthohlkathode (2) gerichtet ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 10 oder 11,
dadurch gekennzeichnet,
daß den Hohlkathodeneffekt bewirkende jeweils einander gegenüberlie
gende Elektrodenoberflächen (31, 32) der Zusatzhohlkathoden (3) zuein
ander parallel oder zueinander in V- oder U-Form geneigt angeordnet
sind.
13. Vorrichtung nach Anspruch 10, 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden (31, 32) der Zusatzhohlkathoden als ebene oder ge
krümmte Platten, Zylinder, Scheiben oder Stäbe ausgebildet sind.
14. Vorrichtung nach Anspruch 10, 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden (21, 22) der Haupthohlkathode (2) und die Elektro
den (31, 32) der Zusatzhohlkathoden (3) eben ausgebildet sind, wobei die
Zusatzhohlkathoden (3) im wesentlichen parallel zur Ausdehnung der
Haupthohlkathode (2) ausgerichtet sind.
15. Vorrichtung nach Anspruch 10, 11 oder 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden (21, 22) der Haupthohlkathode (2) zylinderförmig aus
gebildet sind, wobei die Elektroden (31, 32) der Zusatzhohlkathoden (3)
entweder zylinderförmig, stabförmig, kreisringnutförmig oder spiralnut
förmig ausgebildet sind.
16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 15,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Elektrodenabstand in der Zusatzhohlkathode (3) um den Faktor 2
bis 10 kleiner ist als der Elektrodenabstand in der Haupthohlkathode (2).
17. Vorrichtung nach Anspruch 16,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Elektrodenabstand in der Haupthohlkathode (2) 5 mm bis 10 cm
beträgt.
18. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 17,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden der Haupthohlkathode (2) und der Zusatzhohl
kathode (3) aus gleichem Material bestehen.
19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 18,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden der Haupthohlkathode (2) und der Zusatzhohl
kathode (3) stetig ineinander übergehen.
20. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 10 bis 19,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Elektroden (21, 22) der Haupthohlkathode (2) und/oder die Elek
troden (31, 32) der Zusatzhohlkathode (3) auf gemeinsamen Targetkühl
platten (5) lösbar befestigt sind.
21. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 20,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Einspeisung von Reaktivgas außerhalb der Hohlkathode (2) in
Strömungsrichtung hinter der Hohlkathode (2) mittels Düsen (8) erfolgt.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19635669A DE19635669C1 (de) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels Gasflußsputtern |
JP10512229A JP2001500569A (ja) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | ガス流スパッタリングにより基板を被覆する方法及び装置 |
DE59708904T DE59708904D1 (de) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels gasflusssputtern |
EP97942905A EP0938595B1 (de) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels gasflusssputtern |
PCT/EP1997/004777 WO1998010114A1 (de) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels gasflusssputtern |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19635669A DE19635669C1 (de) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels Gasflußsputtern |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19635669C1 true DE19635669C1 (de) | 1997-07-24 |
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ID=7804466
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19635669A Expired - Fee Related DE19635669C1 (de) | 1996-09-03 | 1996-09-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Beschichtung von Substraten mittels Gasflußsputtern |
DE59708904T Expired - Lifetime DE59708904D1 (de) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels gasflusssputtern |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE59708904T Expired - Lifetime DE59708904D1 (de) | 1996-09-03 | 1997-09-02 | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von substraten mittels gasflusssputtern |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0938595B1 (de) |
JP (1) | JP2001500569A (de) |
DE (2) | DE19635669C1 (de) |
WO (1) | WO1998010114A1 (de) |
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WO2023160741A1 (de) | 2022-02-22 | 2023-08-31 | Rainer Cremer | Verfahren und vorrichtung zur beschichtung von pulver- oder granulatförmigen teilchen |
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JP2001500569A (ja) | 2001-01-16 |
EP0938595B1 (de) | 2002-12-04 |
EP0938595A1 (de) | 1999-09-01 |
DE59708904D1 (de) | 2003-01-16 |
WO1998010114A1 (de) | 1998-03-12 |
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D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |