DE1961973A1 - Schaltungsanordnung zum Messen und Klassifizieren von kurzen Zeiten - Google Patents

Schaltungsanordnung zum Messen und Klassifizieren von kurzen Zeiten

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DE1961973A1
DE1961973A1 DE19691961973 DE1961973A DE1961973A1 DE 1961973 A1 DE1961973 A1 DE 1961973A1 DE 19691961973 DE19691961973 DE 19691961973 DE 1961973 A DE1961973 A DE 1961973A DE 1961973 A1 DE1961973 A1 DE 1961973A1
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DE19691961973
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Georg Dipl-Phys Boscher
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F10/00Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means
    • G04F10/04Apparatus for measuring unknown time intervals by electric means by counting pulses or half-cycles of an ac

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

  • Schaltungsanordnung zum Messen und Klassifizieren von kurzen Zeiten Die @@@@@@@@@ @@@@@@@ sich auf eine Schaltungsanordnung zum Messen und Klassifizieren von kurzen Zeiten, bei der während der zu messenden Zeit Taktimpulse gezählt werden.
  • Das Problem, Zeiten z.B. Impulsdauern zu messen, tritt in der Technik häufig auf. Zum Beispiel müssen kurzzeitige Unterbrechungen des Informationsflusses in Datenverarbeitungs anlagen gemessen werden, um Rücksi)iisse auf die Wirkung von Störungen in Datenübertragungssystemen und Datenverarbeitungsanlagen ziehen zu können. Besonderes Gewicht wird dabei auf solche Unterbrechungen gelegt, deren Dauer in der Größenordnung der Puisfolgefrequenzen der Datenverarbeitungsanlagen liegt. Ist z.B. die Pulsfolgefrequenz etwa 10 MHz, dann müssen Unterbrechungen von der Dauer von etwa 100 nsec gemessen werden.
  • Die verschiedenen Dauern der Unterbrechungen müssen klassifiziert werden. Es genügt nicht, daß ein Mittelwert der Dauern der Unterbrechungen angegeben wird.
  • Es ist bekannt, Zeiten dadurch zu messen, daß ständig von einem Taktgenerator erzeugte Taktimpulse einer bestimmten Frequenz während der Zeit gezählt werden. Da es unwahrscheinlich ist, daß der Beginn einer zu messenden Zeit mit einem Taktimpuls zusammenfällt, muß für ein genaues Meßergebnis die Periodendauer der Taktimpulse sehr viel kleiner als die zu messende Zeit gewählt werden. Bei sehr kleiner zu messender Zeit lassen sich derartige hohe Taktimpulsfrequen zen mit einfachen Mitteln weder erzeugen noch zählen.
  • Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht deshalb darin, eine Schaltungsanordnung anzugeben, mit der bei Verwendung von handelsüblichen integrierten Bausteinen sehr kurze Zeiten gemessen und klassifiziert werden können.
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch einen Start-Stop-Generator, der bei Beginn der zu messenden Zeit gestartet, an deren Ende gestoppt wird und der eine der Zeit proportionale Anzahl von Impulsen erzeugt, durch einen Zähler, der mit dem Ausgang des Start-Stop-Generators verbunden ist, durch einen mit dem Zähler verbundenen Zwischenspeicher, durch eine Steuerschaltung, deren einer Ausgang an den Recksetzeingang des Zählers, deren anderer Ausgang an den Übernahmeeingang des Zwischenspeichers angeschlossen ist und durch eine Dekodierschaltung, die das in dem Zwischenspeicher gespeicherte Ergebnis klassifiziert.
  • Es kann während der Zeit, die gemessen werden soll, ein Impuls entsprechender Dauer erzeugt werden, der dann von der Schaltungsanordnung weiter verarbeitet wird. Dieser Impuls soll im folgenden als Ereignis-Impuls bezeichnet werden.
  • Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
  • Die Erfindung soll anhand eines Ausführungebeispieles weiter erläutert werden. Es zeigen: Fig. 1 ein Gesamtscbaltbild der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung, Fig. 2 einen Impulsplan des Start-Stop-Generators, Fig. 3 einen Impulsplan der erfindungegeniäßen Schaltungsanordnung.
  • Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung besteht aus einem Start-Stop-Generator R, einem Zähler Z, einer Steuerschaltung ST, einem Zwischenspeicher ZS und einer Dekodierschaltung DC.
  • Der Start-Stop-Generator R ist als Ringzähler ausgebildet.
  • Er besteht aus einer ungeraden Anzahl - im Ausführungsbeispiel drei - von hintereinandergeschalteten NAND-Stufen NI, N2, N3. Der Ausgang der letzten NAND-Stufe N3 ist mit einem Eingang der ersten NAND-Stufe Ni verbunden. An den anderen Eingang der ersten NAND-Stufe N1 am Punkt A wird der Ereignis-Impuls angelegt.
  • Die Funktionsweise des Start-Stop-Generators R soll nun in Verbindung mit dem Impulsplan der Fig. 2 beschrieben werden. In dem Impulsplan sind die Impulse über der Zeit t aufgetragen. Solange am Eingang A des Start-Stop-Generators R eine binäre t'O" (entspricht dem Potential Null in Fig. 2) anliegt, verbleiben die Ausgänge B1, B2, 33 der NAND-Stufen N12 N2, N3 in ihren durch diese "0" erzwungenen stabilen Lagen. Der Ausgang B1 hat dann positives Potential, der Ausgang B2 Nullpotential und der Ausgang B3 wiederum positives Potential. Erscheint am Eingang A ein Ereignis-Impuls, d.h. wechselt das Potential am Eingang von einer binären "0" auf eine binäre "1" ( binäre "1 n entspricht positives Potential), so beginnt der Ringzähler R Impulse zu erzeugen, deren Pulsdauer von der Laufzeit des Systemes, also von der Anzahl der NAND-Stufen abhängt und deren Anzahl der Dauer des Ereignis-Impulses proportional ist (s. Fig. 2).
  • In Fig. 2 ist mit T die Gatterlaufzeit der NAND-Stufen des Start-Stop-Generators R eingezeichnet. Die Anfangsflanke des Ereignis-Impulses zwingt also dem Ringzähler R ihre Phase auf, sie startet den Start-Stop-Generator, während die Endflanke ihn stoppt.
  • Bei Verwendung eines derartigen Start-Stop-Generators ist es also nicht notwendig, zur Messung einer kleinen eit Impulse zu erzeugen, deren Periodendauer wesentlich kleiner als die zu messende Zeit ist.
  • Die Impulse des Start-,stop-Generators R werden über ein Verzögerungsglied V1 dem Zähler Z zugeführt. Der Aufbau dieses Zählers Z kann auf bekannte Weise erfolgen. Er kann z.B. aus bistabilen Kippschaltungen bestehen. In diesem Zähler Z wird nun die Anzahl der von dem Ringzähler R erzeugten Impulse je Ereignis-Impuls gezählt.
  • Die Dauer des Ereignis-Impulses und damit die zu messende Zeit ergibt sich dadurch, daß die Anzahl der gezählten Impulse mit der Summe der Einzellaufzeiten der NAND-Gatter des Start-Stop-Generators R multipliziert wird.
  • Bei der Analyse eines Impulszuges vom Start-Stop-Generator R muß dafür gesorgt werden, daß der Zähler Z das Ende Jedes Breignis-Impulses erkennen kann; denn erst, wenn das Zählergebnis an den Ausgängen des Zählers Z erscheint, darf dieser zurückgesetzt werden. Damit aber das Zählergebnis nicht verlorengeht, wird es vor dem Zurücksetzen des Zählers Z durch einen Umspeicherbefehl in den Zwischenspeicher ZS gebracht.
  • Zur Steuerung dieser Abläufe ist die Steuerschaltung ST vorgesehen. Sie besteht aus NAND-Stufen N4, N5, N6, N7 und N8 und Verzögerungsgliedern V2, V3.
  • Die Funktion der Steuerschaltung ST soll anhand des Impuleplanes der Fig. 3 erläutert werden. Im Impulsplan der Fig. 3 sind Impulszüge in Abhängigkeit der Zeit t aufgezeichnet. Der NAND-Stufe N4 wird der Ereignis-Impuls vom Eingang A her zugeführt (5. Zeile 1, Fig. 3). Der Potentialverlauf am Ausgang C der NAND-Stufe N6 und am Ausgang D der NAND-Stufe N7 ist in der dritten und vierten Zeile der Fig. 3 eingezeichnet. Bei der Wirkungsweise dieser NAND-Schaltungen N4 bis N8 müssen deren Gatterlaufzeiten berücksichtigt werden. Erscheint am EIngang A ein Ereignis-Impuls, dann geht das Potential am Ausgang D der NAND-Stufe N7 nach Ablauf deren Gatterlaufzeit auf Null zurück und steigt nach Ablauf der Gatterlaufzeiten der NAND-Stufen N4 bis N7 wieder auf den positiven Wert. Verschwindet der Ereignis-Impuls am Eingang A, dann wird das Potential am Ausgang a des NAND-Gatters N6 nach Ablauf von zwei Gatterlaufseiten (derjenigen von N4 und N6) Null und nach Ablauf einer weiteren Gatterlaufzeit wieder positiv. Das heißt, bei Beginn des Ereignis-Impulses erscheint am Ausgang D der NAND-Stufe N7 ein Signal, bei Verschwinden des Ereignis-Impulses am Eingang A erscheint am Ausgang e der NAND-Stufe N6 ein Signal. Die Ausgänge 13 und D sind mit der NAND-Stufe N8 verbunden. Liegt kein Ereignis-Impuls an, dann sind die Potentialeam Ausgang C und D positiv, damit liegt der Ausgang E der NAND-Stufe N8 auf Nuilpotential. Nur wenn an einem der Ausgänge C, D das Potential zu Null wird, erscheint am Ausgang E der NAND-Stufe N8 ein Signal. Der Ausgang E der NAND-Stufe N8 ist mit dem Rücksetzeingang des Zählers Z verbunden.
  • Dadurch wird gewährleistet, daß das Zählergebnis am Zähler Z erst dann gelöscht wird, wenn es vollständig ist, d.h. wenn der Ereignis-Impuls am Eingang A bereits verschwunden ist und der Start- Stop-Generator R keine Impulse mehr abgibt.
  • Zwischen dem Ausgang C der NAND-Stufe N6 und der NAND-Stufe N8 sind zwei Verzögerungsschaltungen V2, V3 angeordnet. Zwischen diesen Verzbgerungesohaltungen V2, V3 iet ein Verbindungspunkt für eine Leitung vorgesehen, die mit dem Ubernahmeeingang F des Zwischenspeichers ZS verbunden ist. Immer wenn an diesen Ubernahmeeingang des Zwischenspeichers ZS ein Signal angelegt wird, wird das Zählergebnis des Zählers Z in den Zwischenspeicher ZS übernommen.
  • Da zwischen dem Verbindungspunkt und der NAND-Stufe N8 die Verzögerungsschaltung V3 angeordnet ist, ist gewährleistet, daß das Zählergebnis des Zählers Z auf jeden Fall bereits in den Zwischenspeicher ZS übernommen worden ist, bevor der Zähler Z durch ein Signal am Rücksetzeingang in seinen Ausgangszustand zurückgesetzt werden kann.
  • Da die Laufzeiten der Gatter streuen können, sind an kritischen Punkten variable Versögerungsschaltungen (z.B. V1) in die Schaltungsanordnung eingefügt.
  • Der Zwischenspeicher ZS kann aus bistabilen Kippschaltungen als Speicherstufen aufgebaut sein. Jede Speicherstufe hat zwei Ausgänge, der eine Ausgang ist immer negiert zum anderen. Diese Ausgänge führen zu der Decodierungsschaltung DC. Die Decodierungsschaltung DC besteht aus NAND-Stufen. Jede NAND-Stufe hat eben so viele Eingänge wie der Zwischenspeicher ZS Speicherstufen besitzt. Die Eingänge der NAND-Stufen der Decodierungsschaltung DC sind so mit den unnegierten und negierten Ausgängen Q, Q der Speicherstufen des Zwischenspeichers ZS verbunden, daß für jedes im Zwischenspeicher stehende Zählergebnis nur einer der Ausgänge GO bis G9 der NAND-Stufen ein Signal abgibt.
  • Ist das im Zwischenspeicher ZS stehende Zählergebnis null, dann erscheint am Ausgang GO ein Signal, steht im Zwischenspeicher das Zählergebnis eins, dann erscheint- am Ausgang Gi ein Signal usw. Das heißt, hat der Ereignis-Impuls am Eingang A eine bestimmte Dauer, dann gibt einer der Ausgänge GO bis G9 ein die Dauer des Ereignis-Impulses kennzeichnendes Signal ab. Durch die Decodierungsschaltung DC werden also die zu messenden Zeiten klassifiziert. Werden z. B. die Ausgänge GO bis G9 je einem Zähler zugeführt, dann kann festgestellt werden, wie oft nach einer bestimmten Zeit Ereignis-Impulse verschiedener Dauer vorgelegen haben. Die Decodierungsschaltung DC ist für neun Klassen ausgelegt. Sie läßt sich jedoch mit nur geringem Schaltungsaufwand und prinzipiell auf beliebig viele Klassen erweitern. Jeder angefügte Dekadenzähler verzehnfacht die Anzahl der Klassen.
  • Die Vorteile der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung bestehen darin, daß mit ihr eine Zeitauflösung erreicht werden kann, die lediglich von der Ansprechzeit der verwendeten Bauteile abhängt, daß die Auswertekapazität auf einfache Weise erweitert werden kann, die Klassenbreiten durch Schaltungsprogrammierungen beliebig gewählt werden können und ein einfacher Aufbau mit gebräuchlichen integrierten Schaltkreisen möglich ist.
  • 3 Patentansprüche 3 Figuren

Claims (3)

  1. P a t e n t a n s p r ü c h e Schaltungsanordnung zum Messen und Klassifizieren von kurzen Zeiten, bei der während der zu messenden Zeit Taktimpulse gezählt werden , g e k e n n z e i c h -n e t durch einen Start-Stop-Generator (R), der bei Beginn der zu messenden Zeit gestartet, an deren Ende gestoppt und der eine der Zeit proportionale Anzahl von Impulsen erzeugt, durch einen Zähler (Z), der mit dem Ausgang des Start-Stop-Genera tors (R) verbunden ist, durch einen mit dem Zähler (Z) verbundenen Zwischenspeicher (ZS), durch eine Steuerschaltung (S), deren einer Ausgang an den Rücksetzeingang des Zählers (Z) und deren anderer Ausgang an den Übernahmeeingang des Zwischenspeichers (ZS) angeschlossen ist und durch eine Decodierungsschaltung (DC), die das in dem Zwiachenspeicher (ZS) eingespeicherte Ergebnis klassifiziert.
  2. 2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, bei der die zu messende Zeit durch einen Ereignis-Impuls entsprechender Dauer dargestellt wird, g e k e n nz e i c h n e t durch einen Start-Stop-Generator aus einem aus einer ungeraden Anzahl hintereinandergeschalteter NAND- Stufen (Ni, N2, N3) bestehenden Ringzähler, bei dem der Ausgang der letzten NAND-Stufe (N3) mit dem Eingang der ersten NAND-Stufe (N1) verbunden ist und der Ereignis-Impuls einem anderen Eingang der ersten NAND-Stufe (N1) zugeführt wird.
  3. 3. Schaltungsanordnung nach Anspruch t oder 2, g ek e n n z e i c h n e t durch eine Steuerschaltung (ST), aus einer Hintereinanderschaltung von drei NAND-Stufen (N4, N5, N6), wobei der Ausgang der ersten NAND-Stufe (N4) mit einem zweiten Eingang der dritten NAND-Stufe (N6) verbunden ist, aus einer vierten NAND-Stufe (N7), deren erster Eingang mit dem Eingang der ersten NAND-Stufe (N4) und deren zweiter Eingang mit dem Ausgang der ersten NAND-Stufe (N4) verbunden ist, aus einer fünften NAND-Stufe (N8), deren erster Eingang huber Verzögerungsschaltungen (V2, V3) an den Ausgang der dritten NAND-Stufe (N6) und deren zweiter Eingang an den Ausgang der vierten NAND-Stufe (N7) angeschlossen und deren Ausgang mit dem Rücksetzeingang des Zählers (Z) verbunden ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3439812A1 (de) * 1984-10-31 1986-04-30 Takeda Riken Kogyo K.K., Tokio/Tokyo Zeitintervall-messeinrichtung

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE3439812A1 (de) * 1984-10-31 1986-04-30 Takeda Riken Kogyo K.K., Tokio/Tokyo Zeitintervall-messeinrichtung

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