DE1957361C3 - Kapazitätsmeßeinrichtung - Google Patents
KapazitätsmeßeinrichtungInfo
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- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
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Description
und
wobei
'Le2 C2(C1 + C2) =
Le
C1
L1 + Le 3/4C1+ C2
Le =
und
C2 = C21 + C22, Q = C22, C2 = (10 bis 2O)C1
L1 =(10 bis 2O)L2.
Die Erfindung betrifft eine Kapazitätsmeßeinrichtung zur Messung der Kapazität von Materialien
mit hohen Dielektrizitätsverlusten, bestehend aus einem HF-Oszillator stabiler Frequenz, einem Phasendiskriminator
und einem mit diesen gekoppelten, abstimmbaren Resonanzmeßkreis, in den zwei gleiche
zu messende Proben geschaltet sind.
Derartige Kapazilätsmeßeinrichtungen sind aus den USA.-Patentschriften 2906950 und 3 179 881
sowie aus »The Review of Scientific Instruments«, (1961), S. 122 bis 130, bekannt. Bei diesen ist der
Meßkreis symmetrisch aufgebaut, und es wird zur Kompensation des Verlustwinkels einer Meßprobe,
der sonst das Meßergebnis beeinflussen würde, bei der Messung in jeden Meßkreiszweig eine Meßprobe
eingeschaltet. Durch den symmetrischen Aufbau wird auch eine Kompensation von lemperaturabhängigen
Größenänderungen der Bauelemente erreicht. Nachteilig ist bei diesen Einrichtungen jedoch, daß durch
den symmetrischen Aufbau für jede Meßprobe wenigstens ein abstimmbarer Resonanzkreis vorhanden
sein muß. Die Abstimmung dieser Kreise hat ein relativ kompliziertes Meßverfahren zur Folge. Hierbei
müssen mehrere Abstimmvorgänge, Maxima- und Minimaeinstellungen und gegenüber diesen verschobene
Einstellungen durchgeführt werden. Außerdem ist der schaltungstechnische Aufwand bei diesen
Einrichtungen relativ groß.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Einrichtung der eingangs genannten Gattung derart
zu verbessern, daß sich ein vereinfachtes Meßverfahren erreichen läßt. Gelöst wird diese Aufgabe durch einen
ersten Serienresonanzkreis, der mit dem Oszillator und dem Diskriminator gekoppelt ist und aus einer
Induktivität I0 + 1 und einer einstellbaren Kapazität
C1, besteht, einen zweiten Serienresonanzkreis, der an den ersten angekoppelt ist, den Meßkreis bildet
und aus den folgenden Elementen besteht: einer Parallelschaltung zweier Kapazitäten C21 und C22,
einer Kapazität Cj und einer Induktivität L1, und
einer Parallelschaltung aus einer Kapazität C2' und
einer Induktivität L2, wobei die Kapazitäten C22 und
C einsieJlbar sind und je eine Meßprobe zu einer
der Parallelschaltungen parallel geschaltet ist, und daß die folgenden Bedingungen erfüllt sind:
und
ω* Le2 C2(C1 + C2) = 1
Le
L1 + Le 3/4C1+C2'
wobei
Le =
35
40 C2 = C21 + C22, C2 = C22, C2 = (10 bis 20) C1
und
und
L1 =(10 bis 20) L2.
Da bei der erfindungsgemäßen Einrichtung der mit dem Oszillator und dem Diskriminator gekoppelte
abstimmbare Resonanzkreis und auch der Meßkreis nur aus einem einzigen Serienresonanzkreis besteht,
sind für das Meßverfahren nur drei Maßnahmen durchzuführen, nämlich die Abstimmung des ersten
Resonanzkreises, die Abstimmung des Meßkreises ohne die Proben und die Abstimmung des Meßkreises
nach Einschaltung der Proben, wobei die gesuchte Meßgröße an den geeichten Kapazitäten ablesbar ist.
Die beiden ersten Gleichungen der erfindungsgemäßen Lösung müssen erfüllt sein, um den Einfluß
des Verlustwiderstandes einer Meßprobe auf das Meßergebnis zu beseitigen. Die beiden letzten Gleichungen
sollen verhindern, daß die Güte des Meßkreises durch den Verlustwiderstand der Meßproben
nachteilig beeinflußt wird.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der F i g. 1 bis 3 beispielsweise erläutert. Es zeigt
F i g. 1 a ein Schaltbild der Kapazitätsmeßeinrichtung gemäß der Erfindung,
F i g. 1 a ein Schaltbild der Kapazitätsmeßeinrichtung gemäß der Erfindung,
Fig. 1 b ein Ersatzschaltbild des Meßkreises,
F i g. 2a ein Spannungs-Vektordiagramm der Spannungen
in dem Phasendiskriminator, wenn die Meß-6S
proben nicht in den Meßkreis geschaltet sind,
F i g. 2 b ein Spannungs-Vektordiagramm in dem Phasendiskriminator, wenn die Meßproben in den
Meßkreis geschaltet sind, und
F i g. 3 a bzw. 3 b Schaltbilder der Kapazhäts- bzw.
Induktivitätsanteile des Meßkreises.
Fig. la zeigt einen Hochfrequenzoszillator OSC
stabiler Frequenz mit einem Oszillatorschwingkreis L0, C0. Ein Kreis, bestehend aus den Elementen I0, /, s
C1-, Lp, ist elektromagnetisch mit L0 über die kleine
Spule I0 gekoppelt und bildet einen Abstimmkreis
auf der Oszillator- bzw. Primärseite. Ein Phasendiskriminatorkreis
mit einem Anzeigeinstrument J9 ist über entsprechende elektromagnetische Kopplungen
mit einer Spule im Oszillatorschwingkreis und mit der Spule 1 in dem Primärkreis gekoppelt. Dadurch
werden zwei Spannungen mit einem Phasenunterschied von 90° induziert. Wenn der Meß- bzw. Sekundärkreis
geöffnet oder auf die Frequenz des Oszillators abgestimmt ist, erhält man im Phasendiskriminatorkrtk
\!as Vektordiagramm der F i g. 2a, so daß der Strom la des Phasendiskriminatorkreises
gleich Null ist.
Ist dagegen der Sekundärkreis auf die Oszillatorfrequenz / abgestimmt, wird, wenn der Koeffizient
der Gegeninduktion zwisci _u Lp und /2 mit M0 und
ein äquivalenter Reihenwiderstand des Sekundärkreises mit Te bezeichnet werden, wie dies in F i g. 1 b
im Primärkreis gezeigt ist, sein Widerstandswert um den Betrag O)1M0Ir,. erhöht, wogegen sein Reaktanzwert
nicht verändert wird. Wenn der Sekundärkreis abgestimmt ist, wird nur der Widerstandswert
geändert, wobei der Reaktanzwert auf der Primärseite unverändert bleibt. Wenn jedoch die induzierte
Spannung ex geändert wird, wird der Phasenunterschied
von 90° zwischen den beiden induzierten Spannungen ex und P0 wie vorher aufrechterhalten,
so daß der Ausgangsstrom I9 auch Null ist.
Es sei nun angenommen, daß der Kapazitätswert des Sekundärkreises um einen kleinen Betrag ± IC
geändert wird, wenn er abgestimmt wird. Dann ist die Änderung λ L von L im Primärkreis
Wert von Cx aus der Abnahme von C2 und C2' unabhängig
von dem Wert für Ax erhalten werden. Die
Anordnung ist so, daß die Kapazität in C, und C2 (C2 = C22 + C21) und die Induktivität in L1 und L2
in dem Sekundärkreis geteilt wird, um zu verhindern, daß die Güte Q des Sekundärkreises auf Grunci des
geringen Widerstandswertes Rx abnimmt. Die Messung von Cx durch eine Nullabgleichmethode auf der
Grundlage eines Substitutionsverfohrens, wobei Meßproben
gleichzeitig mit L2 und C2 verbunden werden,
beruht auf den folgenden Voraussetzungen, welche die Grundlage der Anwendung der Meßvorrichtung
bilden.
Es sei in F i g. 3 a 1 Cp eine Kapazitätszunahme,
gesehen von den Enden T1 und T2 gezeigt. Die Kapazitätszunahme
wird von Rx und Cx verursacht, die
parallel mit C2 geschaltet sind. JCP ergibt sich dann
durch:
, + C2 I+0/(C2+ Cx)(C1+ C2+ CX)R2 X
(2)
C1 0,2C1(C2 + Cx)R2
C1 0,2C1(C2 + Cx)R2
(D
40
Die Änderung AL bewirkt, daß sich die Phase von ex um den Winkel Θ ändert, wie dies in F i g. 2
gezeigt ist, so daß ein Unterschied zwischen den Eingangsspannungen zu K1 und V2 in oem Phasendiskriminatorkreis
besteht und dadurch ein Ausgangssignal erzeugt wird.
Bei einem Meßvorgang wird zuerst der Primärkreis auf die Frequenz / abgestimmt, so daß der Strom lg
zu Null wird. Dann wird der S^kundärkreis durch
einen Schalter S geschlossen und / durch Einstellung von Cs auf / abgestimmt, so daß der Strom /9 wieder
zu Null wird. Wenn die beiden Schalter S1 und S2
gleichzeitig geschlossen werden, um zwei Proben Rx
und Cx mit hohem Verlustfaktor parallel zu C2
(C2 » C1) bzw. L2 (L2 <: L1) zu schalten, wird im
Phasendiskriminatorkreis ein Strom I9 erzeugt. Wenn
die entsprechenden Kondensatoren C2 und C2 gleichzeitig
um Cx verkleinert werden, kann der Strom I9
wieder auf Null gebracht werden. Damit kann der ^ x C1+ C2 I+ o,2(C2 + Cx)(C1 +C2 + Cx) R;
In der Gleichung (2) bezeichnet das erste Glied die scheinbare Kapazitätszunahme auf Grund der Zufügung
des Widerstandes Rx, das zweite Glied eine solche auf Grund der Zufügung der Kapazität Cx.
und, wenn Cx = O ist, verschwindet das zweite Glied,
wodurch die scheinbare Kapazitätszunahme lediglich auf Rx zurückzuführen ist. Wenn die Zunahme der
scheinbaren Kapazität des ersten Gliedes auf Grund von Rx vollständig aufgehoben werden soll, kann
der Wert von Cx durch Variation von C2 unabhängig
von dem Wert von Rx gemessen werden. Eine Meßprobe, welche parallel zu L2 geschaltet ist, dient diesem
Zweck.
Ohne die Meßprobe ist in Fig. 3b eine äquivalente
Induktivität Le eines Teiles des Kreises gegeben
durch
L" = "T^rL2X2 7'
Gleichzeitig ist die entsprechende Induktivität Ue für
den Fall, daß die mit Rx und Cx bezeichnete Probe
eingeschaltet wird, gegeben durch
L' =
L2R x[I-QrL2(C2
R2 [1-0,2L2(C2-+ Cx)]2+ ω2 L2/
Wenn man mit J Lc eine geringe Änderung der
Induktivität auf Grund der damit verbundenen Meßprobe bezeichnet, ist daher ,1L1, gegeben durch:
lLsc — L·e ^€.
Wenn die Ausdrücke Tür L'c und Le, die bereits
oben erhalten worden sind, in die obige Gleichung eingesetzt werden, ist IL1. gegeben durch:
,IL,=-L2
!L2R2{l-o-2L2(C'2
(1 -ω2 L2 Q)[R2O- ω2 L2(C2 + Cx))2 + ο,2 Lj] + 2 ' (1 - ο»2 L2Ci) [*2{ 1 - «>2 U (Q + Cx)I2 +ro2 Lf]
Wenn Cx mittels des Substitutionsverfahrens gemessen
werden soll, wird der einstellbare Kondensator C22
um den Wert der erhöhten Kapazität reduziert, und Cx ist gleich dem Wert, um den C22 vermindert wird,
wobei die gesamte Kapazität des Sekundärkreises auf dem gleichen Wert wie ohne Cx gehalten wird.
Wird für die Meßprobe, die parallel zu L2 geschaltet
wird, C2' um Cx vermindert, dann ist das Ergebnis
gleich dem, 'venn man Cx zu Null werden läßt. So
verschwindet auf der rechten Seite der Gleichung (3) »° das zweite Glied, und es verbleibt lediglich die Induktivitätsabnahme
auf Grund des zugefügten Widerstandes Rx. Wenn diese Induktivitätsabnahme mit
Ler bezeichnet wird, ist sie durch folgende Gleichungen
gegeben: '5
Durch Einsetzen der Gleichungen (4) und (5) für ALcr und ACpr in die Gleichung (6) erhält man:
C1+ C2 ι + W2C2[C1 + c2)R2 x ■
Die obige Gleichung kann in die folgende Gleichung umgewandelt werden:
Le 1
L1
AL„-
ω2 L\
ω2Lf]
(4)
L,
Rl '
IC- = C1
C1
c,+ C2 ι
c2)R2 x ■
C1
20
C ( 1 + -2-
AIs eine Bedingung, um die Gültigkeit der Gleichung (7) aufrechtzuerhalten, sollten folgende Be-Ziehungen
bestehen:
C1
in ähnlicher Weise verschwindet auf der rechten Seite der Gleichung (2) das zweite Glied, wenn man
für die Meßprobe, die parallel zu C2 geschaltet wird, C2 um Cx vermindert, und lediglich die Zunahme
ACpr der scheinbaren Kapazität auf Grund des zugefügten
Widerstandes Rx, welche dem ersten Glied entspricht, verbleibt. Da die Gesamtkapazität des
Sekundärkreises nicht geändert wird, nachdem die Substitution vorgenommen wurde, ist die Kapazitätszunahme Δ Cpn die sich aus der Gleichung (2) ableitet,
durch die folgende Gleichung gegeben:
30
»4 LlC2(C1 +C2)= I.
Die Gleichung (9) kann durch eine Näherung folgendermaßen vereinfacht werden:
35
= 1 vorausgesetzt
C1.
Andererseits ist die Abstimmbedingung des Sekundärkreises gegeben durch
(5) ,^(L1+LJ (Q+ Q=I. (10)
Aus den Gleichungen (8), (9') und (10) ergibt sich
Wenn sich nun die Wirkungen von ALn in der
Gleichung (4) und ACpr in der Gleichung (5) vollständig
gegeneinander aufheben, kann der Einfluß des Widerstandes Rx bei der Kapazitätsmessung eliminiert
werden.
Um der obengenannten Bedingung zu genügen, sollte folgende Beziehung eingehalten werden:
C1.
50
Dann ergibt sich aus den Gleichungen (8) und (11)
55
wobei
ALcr = AC pr
L1 + Le C, + Cc
C1C2
(6)
r
C1+C2
Wenn der Sekundärkreis der Kapazitätsmeßeinrichtung so aufgebaut wird, daß die Kreiskonstanten
den Bedingungen der Gleichungen (9) und (12) genügen, kann die Kapazität Cx einer Meßprobe durch
eine Nullabgleichmethode auf der Basis eines Substitutionsverfahrens unabhängig von dem Wert des
Widerstandes Rx genau gemessen werden.
Experimentelle Ergebnisse haben gezeigt, daß mit der Einrichtung gemäß der Erfindung die Kapazität Cx
unabhängig von dem Wert des Widerstandes Rx bis zu 50 Ohm bei einer Frequenz von 7 MHz gemessen
werden kann.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Kapazitätsmeßeinrichtung zur Messung der Kapazität von Materialien mit hohen Dielektrizitäts-Verlusten, bestehend aus einem HF-Oszillator stabiler Frequenz, einem Phasendiskriminator und einem mit diesen gekoppelten, abstimmbaren Resonanzmeßkreis, in den zwei gleiche, zu messende Proben geschaltet sind, gekenn- '° zeichnet durch einen ersten Serienf esonanzkreis, der mit dem Oszillator und dem Diskriminator gekoppelt ist und aus einer Induktivität I0+I und einer einstellbaren Kapazität C„ besteht, einen zweiten Serienresonanzkreis, der an den ersten '5 angekoppelt ist, den Meßkreis bildet und aus den folgenden Elementen besteht: einer Parallelschaltung zweier Kapazitäten C21 und C22, einer Kapazität C1 und einer Induktivität L1, und einer Parallelschaltung aus einer Kapazität C2' und einer Induktivität L2, wobei die Kapazitäten C22 und C1 einstellbar sind und je eine Meßprobe zu einer der Parallelschaltungen parallel geschaltet ist, und daß die folgenden Bedingungen erfüllt sind:25
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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---|---|
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ID=13828222
Family Applications (1)
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US4820971A (en) * | 1986-05-29 | 1989-04-11 | Ko Wen Hsiung | Precision impedance variation measurement circuit |
US4806848A (en) * | 1987-03-11 | 1989-02-21 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Compressor blade clearance measurement system |
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---|---|---|---|---|
US2906950A (en) * | 1956-03-19 | 1959-09-29 | Kokusai Electric Co Ltd | Multiple-tuning type, differentialarrangement device for measuring reactances |
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-
1969
- 1969-11-05 GB GB54323/69A patent/GB1287458A/en not_active Expired
- 1969-11-13 SU SU1374743A patent/SU408486A3/ru active
- 1969-11-14 DE DE1957361A patent/DE1957361C3/de not_active Expired
- 1969-11-14 US US876797A patent/US3621385A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3621385A (en) | 1971-11-16 |
SU408486A3 (de) | 1973-12-10 |
GB1287458A (en) | 1972-08-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
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