DE19545691A1 - Verfahren und Einrichtung zur spektralen Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und Bilder - Google Patents
Verfahren und Einrichtung zur spektralen Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und BilderInfo
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- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 title claims abstract description 23
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 43
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 12
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 4
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 claims description 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 108091008695 photoreceptors Proteins 0.000 description 2
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000010871 livestock manure Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Einrichtung zur spektra
len Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und Objektbilder mit Hilfe eines
modifizierten Michelson-Interferometers als Fourierspektrometer. Diese Erfin
dung ist vor allem dort einsetzbar, wo es gilt, flächenhafte, farbige Objekte und
Objektbilder umfassend, d. h. mit spektraler und lokaler Auflösung, zu charak
terisieren, zu identifizieren, zu untersuchen und spektral auszuwerten. Anwen
dungsgebiete sind, beispielsweise die boden-, luft- und weltraumgestützte
Fernerkundung, die Prüfung von Dokumenten, Kunstgegenständen und Geld
scheinen oder in der Medizin z. B. die Erkennung von Hautveränderungen und
der gleichen. Allgemein handelt es sich um solche Objekte, deren physikalischer
und biologischer Zustand durch die farbige Beschaffenheit ihrer Oberfläche
manifestiert ist. Solche Oberflächen können als farbige, nicht kohärente Licht
quellen angesehen werden.
Übliche Fourier-Spektrometer haben nur eine spektrale und keine lokale Auflö
sung. Bei ihnen wird die zu untersuchende Lichtquelle oder ein zu untersu
chendes, leuchtendes Objekt auf die Eintrittsblende in der Fokalebene einer kol
limierenden Optik abgebildet. Ein Lichtbündel, das von dem in der
Eintrittsblende angeordneten Objekt oder Objektbild ausgeht, wird an einer
nachgeordneten Teilerfläche in zwei, getrennte Wege durch laufende Strahlen
bündel aufgespalten, die nach Reflexion an je einem Interferometerspiegel und
ihrer Zusammenführung in einer zur Eintrittsblende optisch konjugierten Ebene
interferieren. Durch zeitliche Variation der optischen Wegdifferenz zwischen
den beiden Strahlenbündeln erhält man ein zeitlich moduliertes
Intensitätssignal, das sogenannte Interferogramm, welches durch einen in der
Austrittsblende angebrachten Fotodetektor gemessen wird. Aus der Fourier
transformierten des Interferogrammes erhält man das Spektrum des in der Ein
trittsblende liegenden Objektes oder des Objektbildes. Ein Fourierspektrometer,
das nach dieser Art für den ultravioletten und sichtbaren Spektralbereich
gebaut wurde, wird in der Zeitschrift "Journal of Physics E: Scientific Instru
ments", Vol. 20 (1987), Seite 54 ff, beschrieben.
Um die Vorteile der Fourier-Spektroskopie auch für bildgebende Spektrometer
auszunutzen, wurden Fourier-Spektrometer mit spektraler und lokaler Auflö
sung entwickelt ("Imaging Fourier Transform Spektrometer", IFTS). Im Vergleich
zu dispersiven Anordnungen mit Gittern oder Prismen zeichnen sie sich vor
allem durch einen höheren Lichtleitwert (Étendue), durch ihre große spektrale
Bandbreite und durch die unabhängig wählbare räumliche und spektrale Auflö
sung aus. Notwendig für diese Anordnungen ist eine zweidimensionale
Fotoempfängermatrix (z. B. CCD-Sensoren).
In der Zeitschrift "Advanced Space Research", Vol. 11 (1991), Seite 387 ff, wird
eine Anordnung beschrieben, bei der der einzelne Detektor in der Austritts
blende durch eine zweidimensionale Fotoempfängermatrix ersetzt wurde.
Dadurch wird jedem Detektorelement (Pixel) in der Austrittsblende ein Objekt
detail in der Eintrittsblende zugeordnet. Durch Verschieben eines der beiden
Interferometerspiegel wird der optische Weg aller Objektbündel in einem Inter
ferometerarm verändert. Da jedes Fotoempfängerelement in der Matrix als
unabhängiger Detektor arbeitet, erhält man für jedes Objektdetail in der Ein
trittsblende ein Interferogramm, und somit nach Fouriertransformation die
spektrale Intensitätsverteilung für jedes Objektelement. Die räumliche Auflö
sung ist proportional zur Anzahl der Elemente in der Detektormatrix, die spek
trale Auflösung wird bestimmt von der optischen Weglängendifferenz zwischen
den Interferometerarmen. Nachteilig an diesen Anordnungen ist die Notwen
digkeit eines präzisen Antriebsmechanismus für den beweglichen Interferome
terspiegel. Dadurch wird die Anordnung empfindlich gegenüber Dejustierungen
und allen Arten mechanischer und akustischer Störungen. Vorteilhaft ist, daß
das theoretische spektrale Auflösungsvermögen sehr groß sein kann, wenn
man die optische Wegdifferenz im Interferometer nur groß genug macht.
Eine Alternative zu den Anordnungen mit zeitlich modulierten Interferogram
men bilden die räumlich modulierten bildgebenden Fourier-Spektrometer
("Spatially Modulated Imaging Fourier Transform Spektrometer", SMIFTS). Aus
den "Proceedings of the European Southern Observatory Conference on Pro
gress in Telescope and lnstrumentation Technologies", ESO, Garching (1992),
Seite 721 ff, ist der Typ eines SMIFT'S bekannt mit einer dem Michelson-Inter
ferometer ähnlichen Anordnung eines Zweistrahlinterferometers. Hierbei sind
die Interferometerspiegel, anders als bei einem konventionellen Interferometer,
in einer festen Position zueinander angeordnet. Die notwendige optische Weg
differenz zwischen den beiden Teilbündeln wird hier nicht durch Längsverschie
bung eines Interferometerspiegels gewährleistet, sondern man erzeugt statt des
sen eine räumliche Wegdifferenz quer zum Strahlenbündel. Dies erreicht man,
indem die virtuellen Ebenen der Interferometerspiegel einen kleinen Winkel ein
schließen, durch den Interferenzen gleicher Dicke (Fizeau-Streifen) entstehen,
die auf der Spiegeloberfläche lokalisiert sind. Ein nachgeschaltetes Abbildungs
system bildet die Fizeau-Streifen ab. In dieser Bildebene wird ein räumliches
Interferogramm erzeugt, welches durch ein Detektorarray aufgelöst und einer
Auswerteeinrichtung zugeführt wird.
Um eine lokale Auflösung zu erzielen, wird für das Abbildungssystem eine
zusätzliche Zylinderoptik benötigt. Sie bewirkt, daß in einer Dimension (z. B. die
Spalte des Sensors) auf dem Detektorarray die lokale Information und in der
dazu senkrechten Dimension (z. B. die Zeile des Sensors) die spektrale Informa
tion, für jedes Objektdetail unabhängig, als räumliches Interferogramm vorliegt.
Durch diese Anordnung wird eine eindimensionale örtliche Auflösung erreicht.
Um flächenhafte Objekte zu untersuchen, muß das Objekt oder ein Objektbild
über die Eintrittsblende verschoben werden. Die maximale spektrale Auflösung
wird begrenzt durch die Anzahl der Pixel in einer Zeile. Vorteilhaft bei diesen
Anordnungen ist vor allem das stationäre Prinzip, d. h. der Wegfall des aufwen
digen Antriebssystems für einen beweglichen Spiegel, die kompakte Konstruk
tion und die Möglichkeit der Echtzeit-Spektroskopie, da für jedes Objektdetail
in einer Dimension alle spektralen Elemente gleichzeitig aufgenommen werden.
Nachteilig ist die notwendige Zylinderoptik. Sie erhöht die Kosten und senkt die
Bildqualität.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein auf dem Prinzip der zeitlich
modulierten Interferogramme beruhendes Verfahren und eine auf einem
stationären Interferometerprinzip beruhende Einrichtung zur spektralen Aus
wertung zweidimensionaler, farbiger, leuchtender oder beleuchteter Objekte
oder Objektbilder unter Verwendung eines Interferometers nach Michelson zu
schaffen, mit welcher es ermöglicht wird, solche Objekte oder Objektbilder mit
örtlicher, spektraler und zeitlicher Auflösung zu erfassen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe mit einem Verfahren zur spektralen Aus
wertung flächenhafter, farbiger Objekte und Bilder mit den im kennzeichnen
den Teil des ersten Anspruch es dargelegten Mitteln gelöst. In den weiteren
Ansprüchen sind nähere Ausführungen zum Verfahren und eine Einrichtung zur
Durchführung des Verfahrens und weitere Ausgestaltungen der Einrichtung
beschrieben.
Gemäß dem Verfahren wird das zweidimensionale Objekt oder ein Objektbild
durch die erste Abbildungsoptik auf die leicht verkippten Interferenzspiegel des
Interferometers abgebildet. Eine Nachabbildung dieser Spiegel auf die Fläche
der Fotoempfängeranordnung, z. B. einer CCD-Matrix, zeigt dann zwei überla
gerte Bilder des zweidimensionalen Objektes oder Objektbildes, welche infolge
der leichten Verkippung der Interferenzspiegel zueinander von Interferenzstrei
fen gleicher Dicke (Fizeau-Streifen) durchzogen sind. Wird das Objekt oder das
Objektbild senkrecht zur Richtung der Streifen bewegt, so durchläuft jede
lokale Einzelheit des Objektes oder Objektbildes nacheinander alle Interferenz
streifen und damit alle Interferenzordnungen. Werden nun während der
Objektbewegung die Pixel der Fotoempfängeranordnung ständig ausgelesen,
erhält man für jedes örtliche Detail des zu untersuchenden Objektes oder
Objektbildes einen Datensatz als Interferogramm. Eine Fouriertransformation
dieser Datensätze liefert für jedes Objektdetail dann das individuelle Spektrum.
Der relative Abstand der beiden Interferometerspiegel zur Strahlteilerschicht
muß dabei so gewählt werden, daß der Ort der Weißlichtinterferenz (der
"Weißlichtstreifen") auf den Interferometerspiegeln liegt.
Das beschriebene Verfahren erfordert, daß die Interferenzordnung eine eindeu
tige Funktion des Ortes auf den Interferometerspiegeln ist und nicht von der
Neigung der Lichtstrahlen abhängt, die durch denselben Bildort gehen. Das läßt
sich nur dadurch erreichen, daß die Ebene, in der die Ringe gleicher Neigung
lokalisiert sind, Pupillenebene bei der Abbildung des Objektes oder Objektbildes
und der Streifen gleicher Dicke ist.
Die Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens ist mit den im vierten
Anspruch dargelegten Mitteln realisiert. Das zweidimensionale Farbmuster wird
als Objekt direkt oder als selbstleuchtendes Objekt oder mit weißem Licht im
Durch- oder Auflicht beleuchtetes Objektbild durch die erste Abbildungsoptik
nach Aufspaltung durch die Teilerfläche des Strahlteilers auf die beiden Inter
ferometerspiegel, die unter einem geringfügig von 90° abweichenden Winkel
zueinander angeordnet sind, abgebildet. Diese Interferometerspiegel sind als
diejenigen eines Interferometers nach Michelson anzusehen. Dadurch, daß
diese Spiegel nicht genau senkrecht aufeinander stehen, entstehen durch Inter
ferenz Streifen gleicher Dicke (Fizeau-Streifen), die auf den Oberflächen der
Interferometerspiegel lokalisiert sind. Da aber auch hier das Bild des durch die
erste Abbildungsoptik abgebildeten Objekts oder Objektbildes liegt, erhält man
als Nachabbildung der Interferometerspiegeloberflächen auf die Fläche der
Fotoempfängeranordnung (z. B. CCD-Matrix) ein von Interferenzstreifen
durchsetztes Bild des Objektes, welches untersucht werden soll. Nun wird das Objekt oder Objektbild relativ zum Interferometer senkrecht zur
Streifenrichtung bewegt. Während dieser Bewegung werden die Pixel der
Fotoempfängermatrix ständig ausgelesen und dabei für jede örtliche Einzelheit
ein Datensatz z. B. im Speicher eines Rechners oder in einer Auswerteeinheit zur
späteren Analyse angelegt.
Vorteilhaft ist es, wenn die Eintrittspupille der Objektbündel, d. h. hier die als
Aperturblende dienende Eintrittsblende des Interferometers, in der
objektseitigen Brennebene des abbildenden Objektives liegt. Dadurch erhält
man eine bildseitig telezentrische Abbildung des Objektes oder des Objektbildes
auf die Interferometerspiegel. Durch diese Anordnung werden in den optischen
Wegdifferenzen Terme vermieden, die in nichtlinearer Weise vom Ort auf dem
Interferometerspiegel abhängen. Außerdem werden die Abbildungsfehler, die
beim Durchgang der konvergenten Strahlenbündel durch die plane
Strahlteileroberfläche entstehen, minimiert.
Eine weitere Optimierung der Einrichtung ergibt sich durch Verwendung eines
zusätzlichen Objektives in der Ebene der Eintrittspupille. Die Objektebene sollte
dann in der objektseitigen Brennebene dieses Objektives liegen. Die Bildebene
ist dann mit der bildseitigen Brennebene der Abbildungsoptik identisch. Diese
Anordnung minimiert die Baulänge der Einrichtung und den notwendigen
Durchmesser des abbildenden Objektives.
Die Erfindung kann in äußerst stabiler Justierung ausgeführt werden, wenn
man im Interferometer einen Strahlteilerwürfel mit verspiegelten Rückflächen
erwendet, wobei diese Flächen jeweils der Strahleintritts- und der
Strahlaustrittsfläche gegenüberliegen und einen Winkel einschließen, der
geringfügig von 90° abweicht. Diese Abweichung vom rechten Winkel liegt vor
teilhaft in der Größenordnung weniger Bogenminuten. Bei einer Ausführung
mit zwei einzelnen Interferometerspiegeln besteht die Möglichkeit, den Winkel,
den diese Spiegel einschließen, zu verändern. Damit kann der Abstand der
Fizeau-Streifen in der Ebene der Fotoempfängeranordnung variiert und somit
den jeweiligen Meßaufgaben angepaßt werden. Allerdings ist eine solche Mon
tage aufwendiger und ihre Justierung weniger stabil.
Damit jede lokale Einzelheit des zu untersuchenden Objektes oder Objektbildes
alle Interferenzordnungen, d. h. alle Fizeau-Streifen, durchläuft, wird das Objekt
oder Objektbild relativ zum Interferometer, oder umgekehrt, bewegt. Die
Bewegung erfolgt dabei so, daß sich Objektdetails oder Details vom Objektbild
senkrecht zu den Interferenzstreifen gleicher Dicke bewegen. Dabei kann die
Bewegung schrittweise ausgeführt werden, so daß nach jedem Schritt, wenn
der nächste Auslesezyklus der Detektormatrix erfolgt, das Bild eines Objektde
tails um mindestens einen Pixel auf der Detektormatrix verschoben ist. Die
Bewegung kann auch kontinuierlich erfolgen.
Alternativ zu einer direkten Verschiebung zwischen Objekt und Interferometer
ist es auch möglich, eine drehbare reflektierende Optik in der Eintrittspupille
vorzusehen. Die Rotationsachse dieser Optik muß parallel zu der Achse sein, um
die die Interferometerspiegel gegeneinander geneigt sind. Durch
kontinuierliches oder schrittweises Drehen dieses Spiegels bewegen sich die
Bilder der Objektdetails nun ebenfalls senkrecht zu den Interferenzstreifen
gleicher Dicke, ohne die relative Lage von Objekt und Instrument verändern zu
müssen. Vorteilhaft ist die Verwendung eines ebenen Spiegels zu diesem
Zweck. Es kann aber auch ein Spiegel mit abbildenden Eigenschaften
verwendet werden.
Die Erfindung gestattet in vorteilhafter Weise flächenhafte, farbige Objekte
oder Objektbilder sowohl spektral als auch örtlich und zeitlich auszuwerten. Im
Unterschied zu bekannten vergleichbaren Anordnungen werden weder eine
präzise mechanische Verschiebeeinheit für einen der Interferometerspiegel noch
spezielle Zylinderoptiken benötigt. Dadurch ergibt sich insbesondere bei der
Einrichtung mit Strahlteilerwürfel eine kompakte, stabile und starre Einheit mit
geringem Raumbedarf aus kostengünstigen Komponenten.
Der nutzbare spektrale Bereich wird begrenzt durch die Transmissions- und
Reflexionscharakteristiken der verwendeten optischen Komponenten und der
Verfügbarkeit von Sensoren mit lokaler Auflösung.
Für die zeitliche Auflösung gilt, daß die Lichtemission des Objektes oder
Objektbildes innerhalb der Zeit, die benötigt wird,um das Objekt über das
Gesichtsfeld der ersten Abbildungsoptik zu verschieben, konstant sein muß; das
gilt sowohl für die spektrale Verteilung als auch für die Helligkeit. Ist das Objekt
in den beiden genannten Eigenschaften zeitlich veränderlich, muß die
Geschwindigkeit der Verschiebung so groß gewählt werden, daß die Verweil
zeit des Objektes oder Objektbildes im Gesichtsfeld klein ist gegenüber der Zeit,
in der das Objekt bereits eine merkliche Veränderung erfährt.
Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert
werden. In der zugehörigen Zeichnung zeigen
Fig. 1 eine Einrichtung mit Strahlteilerwürfel,
Fig. 2 eine Einrichtung mit getrennt angeordneten Interferometerspiegeln und
Fig. 3 eine Einrichtung für endliche Objektweiten mit Strahlteilerwürfel und
zusätzlichen Objektiven in der Eintritts- und Austrittspupille und
Fig. 4 eine Einrichtung mit drehbarer reflektierender Optik in der Eintrittspupille.
Das Verfahren ist durch die folgenden Verfahrensschritte gekennzeichnet:
- 1. Das farbige Objekt 12 oder ein Objektbild wird durch die erste Abbildungs optik 3 (Fig. 1) über den Strahlenteiler 4 des Interferometers in die zueinander geneigten Ebenen der Interferometerspiegel 5 und 6 abgebildet.
- 2. Diese Ebenen der Interferometerspiegel 5 und 6 werden dann, durch eine Teilerfläche 7 des Strahlenteilers 4 vereinigt und zur Interferenz gebracht, durch eine zweite Abbildungsoptik 8 auf eine Fotoempfängeranordnung 9, z. B. eine CCD-Matrix einer CCD-Kamera abgebildet, wodurch dort ein von Interferenz streifen durchsetztes zweidimensionales Muster des Objektes 12 oder Objekt bildes erzeugt wird.
- 3. Das Objekt 12 oder Objektbild wird senkrecht zur Richtung der Interferenz streifen relativ zum Interferometer verschoben. Während der Verschiebung wird das Muster des Objektes 12 oder Objektbildes durch die Fotoempfängeranord nung 9 ausgelesen und die gewonnenen elektrischen Signale zur weiteren Ver arbeitung an eine Auswerteeinheit 11 oder an einen Rechner geleitet.
Am Beispiel einer Einrichtung zur luft- oder weltraumgestützten Fernerkun
dung, deren optisches Schema in Fig. 1 dargestellt ist, wird die Einrichtung zur
Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens erläutert. Diese Einrichtung
umfaßt ein Interferometer nach Michelson mit dem Strahlenteiler 4 mit der
Teilerfläche 7 zur Aufsplittung des Strahlenganges in zwei Teilstrahlengänge.
Dieser Strahlenteiler 4 ist als ein Block ausgebildet und besitzt eine
strahlteilende Fläche 7 und zwei als Interferometerspiegel 5 und 6 dienende
reflektierende Flächen, von denen die eine der Strahleintrittsfläche des Strahltei
lers 4 und die andere dessen Strahlaustrittsfläche gegenüberliegt. Die beiden
Interferometerspiegel sind unter einem Winkel zueinander angeordnet, welcher
geringfügig von 90°, etwa in der Größenordnung weniger Bogenminuten,
abweicht. Dem Strahlenteiler 4 eingangsseitig vorgeordnet ist eine erste Abbil
dungsoptik 3 und diesem ausgangsseitig nachgeordnet eine zweite Abbil
dungsoptik 8 im Strahlengang vorgesehen. Dieser zweiten Abbildungsoptik 8
ist die Fotoempfängeranordnung 9, z. B. eine CCD-Matrix einer CCD-Kamera
10, im Strahlengang nachgeordnet.
Die Eintrittsblende 2 bildet für die vom Objekt 12 ausgehenden Strahlenbündel
die Eintrittspupille. Diese ist in der objektseitigen Brennebene der ersten Abbil
dungsoptik 3 angeordnet, so daß ein bildseitig telezentrischer Strahlengang auf
der Eintrittsseite erreicht wird. Da in dieser speziellen Anwendung der Objekt
abstand sehr groß ist, sind die einfallenden Lichtbündel quasiparallel, und es
kann auf die Verwendung eines zusätzlichen Objektives in der Eintrittspupille
verzichtet werden. Vorteilhaft sollte bei endlichen Objektweiten ein zusätzliches
Objektiv 1 in der Eintrittspupille 2 vorgesehen werden. Die Brennweite dieses
Objektives 1 wird vorteilhaft so gewählt, daß das Objekt oder das Objektbild in
seiner objektseitigen Brennebene liegt. Bei dieser Anordnung wird das Bild des
Objektes in die bildseitige Brennebene der ersten Abbildungsoptik 3 auf die
Ebene der Interferometerspiegel 5 und 6 über die Teilerfläche 7 des
Strahlenteilers 4 abgebildet. Diese in der Ebene der Interferometerspiegel 5 und
6 liegenden Bilder des Objektes werden durch die dem Strahlenteiler 4
nachgeordnete zweite Abbildungsoptik 8 auf die Fotoempfängeranordnung 9
abgebildet, wo ein durch Fizeau-Streifen 13 (Interferenzen gleicher Dicke)
durchsetztes farbiges Muster des Objektes 12 entsteht. Die zweite
Abbildungsoptik 8 wird analog zur eingangsseitigen Abbildungsoptik 3 so
relativ zum Strahlenteiler 4 plaziert, daß auf der Ausgangsseite der Einrichtung
eine objektseitige telezentrische Abbildung realisiert wird. Um nacheinander alle
Details des zu untersuchenden Objektes 12 oder Objektbildes für die
Auswertung zu erfassen, wird in diesem Beispiel das Interferometer relativ zum
Objekt 12 bewegt in der Weise, daß sich Objektdetails oder Details des
Objektbildes senkrecht zu den Fizeau-Streifen 13 verschieben. In Fig. 1 ist durch
den Pfeil 14 die Flugrichtung angezeigt, und durch die gestrichelten Pfeile 15 ist
die Bewegung von Objektdetails im Bezug zu den Fizeau-Streifen 13
bezeichnet.
Das lokale Auflösungsvermögen im Objekt 12 oder Objektbild wird durch den
Maßstab seiner Abbildung auf die Interferometerspiegel 5 und 6 und von dort
auf die Fotoempfängeranordnung 9 und durch der Pixelgröße bestimmt. Das
theoretische spektrale Auflösungsvermögen ist gleich der Pixelanzahl in einer
Zeile der Fotoempfängeranordnung 9 oder des Detektorarrays, wenn man die
Stelle der Weißlichtinterferenz auf die Würfelkante 16 am Ende der Teilerfläche 7
legt. An dieser Würfelkante 16 stehen die beiden Interferometerspiegel 5 und
6 nicht genau senkrecht zueinander. Die Differenz des Winkels zu 90° und die
Zahl der Pixel in einer Detektorzeile legt die nutzbare spektrale Bandbreite nach
Maßgabe des Nyquist-Theorems fest.
Bei der in Fig. 2 dargestellten Einrichtung zur spektralen Auswertung flächen
hafter, farbiger Objekte oder Objektbilder ist anstelle des in Fig. 1 benutzten
Teilerwürfels eine aus zwei getrennt angeordneten Spiegeln 17 und 18 beste
hende Interferometerspiegelanordnung vorgesehen. Die Spiegel 17 und 18 sind
unter einem geringfügig von 90° abweichenden Winkel zueinander angeord
net. Zur Strahlteilung ist ein strahlenteilender Spiegel 19 mit
Kompensationsplatte (nicht dargestellt) vorgesehen. Eine solche
Kompensationsplatte ist notwendig, um die durch die Dicke des Spiegels
bedingte Änderung der optischen Wege auszugleichen. Die Wirkungsweise
einer derart ausgeführten erfindungsgemäßen Einrichtung ist analog zu der in
Zusammenhang mit Fig. 1 beschriebenen Einrichtung. Im Gegensatz zur
Einrichtung mit einem Teilerwürfel, wie sie in Fig. 1 dargestellt ist, kann bei der
Einrichtung nach Fig. 2 der Winkel, unter dem die beiden Spiegel 17 und 18
zueinander angeordnet sind, leicht verändert werden. Hierzu ist dann
mindestens einer der beiden Spiegel 17 oder 18 in an sich bekannter Weise
justierbar angeordnet. Auch bei dieser Einrichtung entsteht auf der
Fotoempfängeranordnung ein von Fizeau-Streifen 13 durchsetztes, farbiges
Muster des Objektes 12 oder Objektbildes, welches untersucht werden soll.
In Fig. 3 ist vereinfacht der Strahlengang einer Einrichtung für endliche Objekt
weiten mit einem Strahlenteiler 4 und zusätzlichen Objektiven in der Eintritts-
und Austrittspupille dargestellt. Es ist in der objektseitigen Brennebene der
ersten Abbildungsoptik 3, in der die Eintrittspupille für die Fizeau-Streifen und
für das Objekt 12 oder Objektbild liegt, das Objektiv 1 angeordnet. Durch die
erste Abbildungsoptik 3 wird das Objekt 12 oder Objektbild in die Ebenen der
Interferometerspiegel 5 und 6, die in der bildseitigen Brennebene der
Abbildungsoptik 3 liegen, abgebildet.
Empfängerseitig ist die zweite Abbildungsoptik 8, in deren objektseitiger
Brennebene die Interferometerspiegel 5 und 6 liegen, zwischen dem Strahlen
teiler 4 und der Fotoempfängeranordnung 9 gelegen. In der bildseitigen Brenn
ebene der Abbildungsoptik 8, in welcher auch die Austrittspupille für das
Objekt 12 oder Objektbild und für die Fizeau-Streifen 13 liegt, ist ein weiteres
Objektiv 20 vorgesehen, das die Ebenen der Interferometerspiegel 5 und 6 und
damit auch die Fizeau-Streifen 13 auf die Fotoempfängeranordnung 9 abbildet.
Mit f₁ bis f₄ sind in Fig. 3 die entsprechenden Brennweiten des Objektivs 1 und
der Abbildungsoptiken 3 und 8 bezeichnet.
Fig. 4 zeigt den Strahlengang einer Einrichtung mit einer um eine
Rotationsachse 22 drehbaren, reflektierenden Optik 21 in der Eintrittspupille
der ersten abbildenden Optik 3. Die Rotationsachse 22 verläuft parallel zur
Würfelkante 16 des Strahlenteilers 4, welche die Achse darstellt, um die die
beiden Interferometerspiegel 5; 6 gegeneinander geneigt sind. Durch
schrittweises oder kontinuierliches Drehen dieser Optik 21 bewegen sich die
Bilder der Objektdetails nun senkrecht zu den Interferenzstreifen gleicher Dicke,
ohne die relative Lage von Objekt 12 und Interferometer verändern zu müssen.
Vorteilhaft ist die Verwendung eines ebenen Spiegels als reflektierende Optik
21 zu diesem Zweck. Grundsätzlich kann auch ein Spiegel mit abbildenden
Eigenschaften eingesetzt werden. Wie der Strahlengang dieser Einrichtung
gemäß Fig. 4 zeigt, liegt die Bildebene (Ebene der Interferenzspiegel 5 und 6)
nicht mehr in der hinteren Brennebene der ersten Abbildungsoptik 3, sondern
sie ist weiter entfernt. Bildseitig ist aber der Strahlengang weiterhin
telezentrisch.
Claims (14)
1. Verfahren zur spektralen Auswertung zweidimensionaler, farbiger Objekte
oder Objektbilder mittels eines, einen Strahlenteiler und zwei Interferometer
spiegel aufweisenden Interferometers nach Michelson, dadurch gekennzeich
net,
- - daß die als Aperturblende dienende Eintrittsblende (2) die Eintrittspupille für die vom Objekt (12) oder Objektbild ausgehenden Strahlenbündel bildet,
- - daß das Objekt (12) oder Objektbild durch eine erste Abbildungsoptik (3) über den Strahlteiler (4) in die Ebenen der Interferometerspiegel (5 und 6) abgebildet wird,
- - daß diese Ebenen der Interferometerspiegel (5, 6), durch die strahlteilende Fläche (7) des Strahlteilers (4) vereinigt und zur Interferenz gebracht, durch eine zweite Abbildungsoptik (8) auf eine Fotoempfängeranordnung (9) abgebildet werden und dort ein von Interferenzstreifen gleicher Dicke (Fizeau-Streifen 13) durchsetztes, zweidimensionales Muster des Objektes (12) oder des Objektbil des erzeugt wird,
- - und daß auf die Interferometerspiegel (5; 6) abgebildete Bild des Objektes (12) oder des Objektbildes senkrecht zur Richtung der Interferenzstreifen (Fizeau-Streifen 13) verschoben wird und das Muster des Objektes oder des Objektbildes durch die Fotoempfängeranordnung (9) ausgelesen und die elektrischen Signale einer Auswerteeinheit (11) zugeführt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das auf die Interferometerspiegel (5; 6) abgebildete Bild des Objektes (12)
oder des Objektbildes senkrecht zur Richtung der Interferenzstreifen (Fizeau-
Streifen 13) verschoben wird und während der Verschiebung das Muster des
Objektes oder des Objektbildes durch die Fotoempfängeranordnung (9)
ausgelesen und die elektrischen Signale einer Auswerteeinheit (11) zugeführt
werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß das auf die Interferometerspiegel (5; 6) abgebildete Bild des Objektes (12)
oder des Objektbildes senkrecht zur Richtung des Interferenzstreifen
schriftweise verschoben wird und nach jedem Schritt das Muster des Objektes
oder des Objektbildes durch die Fotoempfängeranordnung (9) ausgelesen und
die elektrischen Signale einer Auswerteeinheit (11) zugeführt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verschiebung des auf die Interferometerspiegel (5; 6) abgebildeten
Bildes des Objektes (12) oder Objektbildes dadurch erreicht wird, daß das
Objekt (12) oder Objektbild senkrecht zur Richtung der Interferenzstreifen
(Fizeau-Streifen 13) relativ zum Interferometer verschoben wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Verschiebung des auf die Interferometerspiegel (5; 6) abgebildeten
Objektes (12) oder des Objektbildes durch eine in der Eintrittspupille
vorgesehene, drehbare, reflektierende Optik (21) realisiert wird, wobei die
Rotationsachse (22) dieser Optik parallel zu der Achse liegt, um die die beiden
Interferometerspiegel (5; 6) gegeneinander geneigt sind.
6. Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens zur spektralen Auswertung
zweidimensionaler, farbiger Objekte oder Objektbilder,
- - mit einem Interferometer nach Michelson, welches einen Strahlteiler (4) mit strahlteilender Fläche (7) sowie zwei Interferometerspiegel (5 und 6) umfaßt, die relativ zueinander unter einem geringfügig von 90° abweichenden Winkel angeordnet sind,
- - mit einer als Aperturblende dienenden Eintrittsblende (2), welche die Eintrittspupille für die vom Objekt (12) oder Objektbild ausgehenden Strahlenbündel bildet.
- - mit einer dem Interferometer in Lichtrichtung vorgeordneten ersten Abbil dungsoptik (3) zur Abbildung des Objektes (12) oder Objektbildes in die Ebenen der beiden Interferometerspiegel (5, 6)
- - und mit einer zweiten, dem Interferometer nachgeordneten Abbildungsoptik (8) zur Abbildung der Ebenen der beiden Interferometerspiegel (5, 6) auf eine nachgeordnete Fotoempfängeranordnung (9), die elektrisch mit einer Auswer teeinheit (11) und/oder einem Speicher und/oder einem Rechner verbunden ist.
7. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
- daß das Interferometer einen Strahlteilerwürfel (4) umfaßt, dessen der Strahleintritts- und Strahlaustrittsfläche gegenüberliegende Flächen reflektie rend ausgebildet sind und die Interferometerspiegel (5, 6) bilden
- und das diese reflektierenden Flächen unter einem Winkel zueinander ange ordnet sind, der geringfügig von 90° abweicht.
- daß das Interferometer einen Strahlteilerwürfel (4) umfaßt, dessen der Strahleintritts- und Strahlaustrittsfläche gegenüberliegende Flächen reflektie rend ausgebildet sind und die Interferometerspiegel (5, 6) bilden
- und das diese reflektierenden Flächen unter einem Winkel zueinander ange ordnet sind, der geringfügig von 90° abweicht.
8. Einrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
daß der Winkel, unter dem die Interferometerspiegel (17; 18) zueinander ange
ordnet sind, veränderbar ist.
9. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
daß die die Eintrittspupille für die vom Objekt ausgehenden Strahlenbündel
bildende Eintrittsblende (2) in der objektseitigen Brennebene der ersten Abbil
dungsoptik (3) plaziert ist.
10. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die die Austrittspupille für die von den Interferometerspiegeln ausgehenden
Strahlenbündel bildende Austrittsblende (20) in der bildseitigen Brennebene der
zweiten Abbildungsoptik (8) plaziert ist.
11. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 10, dadurch gekennzeichnet,
daß in der Eintrittsblende (2) ein zusätzliches Objektiv (1) angeordnet ist, dessen
Brennweite (f₁ ) so gewählt ist, daß die Objektebene mit der objektseitigen
Brennebene dieses Objektives (1) zusammenfällt.
12. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 11, dadurch gekennzeichnet,
daß das Objekt (12) oder das Objektbild zum Interferometer oder das
Interferometer zum Objekt (12) oder Objektbild bewegbar ist, derart, daß sich
Objektdetails oder Details vom Objektbild quer zu den auf der Oberfläche der
Fotoempfängeranordnung (9) gebildeten Interferenzstreifen (13) gleicher Dicke
verschieben.
13. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 10, dadurch gekennzeichnet,
daß in der Eintrittspupille eine zusätzliche, drehbare, reflektierende Optik (21)
angeordnet ist, wobei die Rotationsachse (22) dieser Optik (21) parallel zu der
Achse oder Würfelkante (16) liegt, um die die Interferometerspiegel (5; 6 bzw.
17; 18) gegeneinander geneigt sind.
14. Einrichtung nach Anspruch 6 bis 12, dadurch gekennzeichnet,
daß die Fotoempfängeranordnung (9) eine CCD-Matrix einer CCD-Kamera (10)
ist, welche elektrisch mit der Auswerteeinheit (11), einem Speicher und/oder
einem Rechner verbunden ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995145691 DE19545691A1 (de) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | Verfahren und Einrichtung zur spektralen Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und Bilder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995145691 DE19545691A1 (de) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | Verfahren und Einrichtung zur spektralen Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und Bilder |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19545691A1 true DE19545691A1 (de) | 1997-06-19 |
Family
ID=7779466
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995145691 Withdrawn DE19545691A1 (de) | 1995-12-07 | 1995-12-07 | Verfahren und Einrichtung zur spektralen Auswertung flächenhafter, farbiger Objekte und Bilder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19545691A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10159722A1 (de) * | 2001-12-05 | 2003-06-26 | Bruker Optik Gmbh | Abbildendes FTIR-Spektrometer |
-
1995
- 1995-12-07 DE DE1995145691 patent/DE19545691A1/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10159722A1 (de) * | 2001-12-05 | 2003-06-26 | Bruker Optik Gmbh | Abbildendes FTIR-Spektrometer |
DE10159722B4 (de) * | 2001-12-05 | 2008-02-07 | Bruker Optik Gmbh | Abbildendes FTIR-Spektrometer |
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