DE1946015C3 - - Google Patents

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DE1946015C3
DE1946015C3 DE19691946015 DE1946015A DE1946015C3 DE 1946015 C3 DE1946015 C3 DE 1946015C3 DE 19691946015 DE19691946015 DE 19691946015 DE 1946015 A DE1946015 A DE 1946015A DE 1946015 C3 DE1946015 C3 DE 1946015C3
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sampling
diode
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DE19691946015
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Dieter Dipl.-Ing. 8000 Muenchen Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/20—Cathode-ray oscilloscopes
    • G01R13/22—Circuits therefor
    • G01R13/34—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies
    • G01R13/342—Circuits for representing a single waveform by sampling, e.g. for very high frequencies for displaying periodic H.F. signals

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
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DE1946015A1 DE1946015A1 (de) 1971-04-01
DE1946015B2 DE1946015B2 (de) 1973-10-18
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US4958139A (en) * 1988-06-23 1990-09-18 Nicolet Instrument Corporation Method and apparatus for automatically calibrating the gain and offset of a time-shifted digitizing channel

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DE1946015B2 (de) 1973-10-18
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