DE1915293A1 - Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten - Google Patents

Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten

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DE1915293A1
DE1915293A1 DE19691915293 DE1915293A DE1915293A1 DE 1915293 A1 DE1915293 A1 DE 1915293A1 DE 19691915293 DE19691915293 DE 19691915293 DE 1915293 A DE1915293 A DE 1915293A DE 1915293 A1 DE1915293 A1 DE 1915293A1
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DE
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functional unit
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DE19691915293
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Huber Dipl-Phys Eric
Kruse Dipl-Ing Hans Juergen
Klaus Reiter
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Airbus Defence and Space GmbH
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Messerschmitt Bolkow Blohm AG
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    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • G01R31/317Testing of digital circuits
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    • GPHYSICS
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    • G01R31/3193Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
    • GPHYSICS
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    • G06F11/26Functional testing
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Description

191529-
Messerschmitt-Bölkow · Ottobrunn, 24. März 1969 Gesellschaft mit BP 8l4
beschränkter Haftung SXl Me/gh
München
Verfahren zum Prüfen von Funktionseinheiten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen von insbesondere elektronischen Punktionseinheiten mit Hilfe eines das Prüfprogramm enthaltenden Rechners.
Automatisch arbeitende und von einem Rechner gesteuerte Prüfverfahren werden heute auf allen Gebieten der Technik sowohl zur Punktionsprüfung relativ einfacher und in Massenproduktion hergestellter Prüflinge, als auch zur Prüfung komplizierter und eine Vielzahl von verschiedenen Funktionseinheiten enthaltender Prüflinge verwendet, wie es z.B. bei hochwertigen Kampfflugzeugen oder aber Trägerraketen für die Raumfahrt der Fall ist.
0098 42/ U 69 . BAD ORIGINAL
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Bei diesen bekannten Prüfverfahren wird ein je nach Größe des' Prüflings entsprechend umfangreiches Programm- zur Steuerung des das gesamte Prüfprogramm abwickelnden Rechners benötigt. Ein solches Programm enthält dabei sowohl die an den Prüfling als Stimuli zu gebenden Signale als auch die Sollwerte, mit denen die vom Prüfling aufgrund der Stimuli abgegebenen Istwerte verglichen werden, vgl. z.B. ELECTRONICS, 13. Juli 1962, Seiten 37 bis 44. .
So werden z.B. heute integrierte Schaltkreise mit Hilfe eines Rechners auf ihre Punktionstüchtigkeit hin überprüft, wobei der Rechner für jeden einzelnen Typ des jeweils zu prüfenden Schaltkreises ein besonderes Programm eingelesen erhält, das die einzelnen am Prüfling durchzuführenden Prüfschritte, die dabei an ihn abzugebenden Stimuli und auch die aufgrund dieser Stimuli vom Prüfling erwarteten Antwortsignale in Form von Sollwerten enthält. Derartige Prüfverfahren sind überall dort befriedigend, wo große Serien jeweils identischer Schaltkreise nacheinander zu prüfen sind, so dai3 nur jeweils beim Wechsel von einer Schaltkreisserie auf eine andere ein neues Programm in den Rechner eingelesen werden muß; vgl. z.B. Mikroelektronik 2, R. Oldenbourg Verlag, München-Wien, 1967, Seiten 531 bis 536.
In Versuchslaboratorien und auch kleineren Fertigungsstätten besteht nun ebenfalls das Bedürfnis, insbesondere elektronische Funktionseinheiten, die aus einer Vielzahl einzelner Bauelemente bzw. miteinander verbundener integrierter Schaltkreise bestehen, auf ihre Punktionstüchtigkeit hin zu überprüfen,wobei jedoch immer nur relativ geringe Stückzahlen derartiger Funktionseinheiten zu prüfen sind. Diese Funktionseinheiten wurden daher bisher von Hand geprüft, da sich die Erstellung eines für jede Funktionseinheit individuell er—
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BAD ORIGINAL
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forderlichen Rechenprogramms für die Anwendung eines automatischen und von einem Rechner gesteuerten Prüfverfahrens nicht lohnte.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Prüfen von Funktionseinheiten anzugeben, bei dem Funktionseinheiten auch bei nur relativ kleinen Stückzahlen schnell und wirtschaftlich mit Hilfe eines Rechners auf ihre Funktionstüchtigkeit hin überprüft werden können.
Ausgehend von einem Verfahren zum Prüfen von insbesondere elektronischen Funktionseinheiten mit Hilfe eines das Prüfprogramm enthaltenden Rechners ist diese Aufgabe gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Sollwerte der zu prüfenden Funktionseinheit durch eine zweite funktionstüchtige und ebenfalls an den Rechner angeschlossene Funktionseinheit vorgegeben v/erden.
Bei einem solchen Verfahren ist der Aufwand für das in den Rechne!" einzulesende Rechenprogramm nur gering, da die für jede einzelne zu prüfende Funktionseinheit individuell für das Rechenprogramm zu erstellenden Sollwerte fortfallen. Darüber hinaus ist es gleichzeitig möglich, ein z.B. für alle elektrischen bzw. elektronischen Funktionseinheiten geeignetes gemeinsames Grundprogramm aufzustellen, das für die jeweils gerade zu prüfende Funktionseinheit durch ein relativ kleines zusätzliches Rechenprogramm ergänzt bzw. an die jeweilige Funktionseinheit angepaßt wird. Durch diese Maßnahme wird daher sowohl die Rechenzeit, als auch die für das Einlesen des Programms in den Rechner erforderliche Zeit erheblich verkürzt, wodurch die für die Benutzung des Rechners anfallenden Kosten so gering werden, daß eine wirtschaft liche und schnelle Prüfung auch solcher Funktionseinheiten möglich ist, die nur in geringen Stückzahlen hergestellt werden.
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Auch zur Erstellung der funktionstüchtigen Funktionseinheit, die für das gemäß der Erfindung angegebene Prüfverfahren erforderlich ist, bedarf es keines zusätzlichen Aufwandes, da bei Planung, Entwurf und anschließender Herstellung eines Prototyps einer solchen Funktionseinheit ohnehin eine Funktionseinheit entsteht, deren Funktionstüchtigkeit bereits bei ihrem schrittweisen Aufbau laufend durch labormäßige Messungen überwacht und nachgewiesen wird.
Für die Durchführung des mit der Erfindung angegebenen Prüfverfahrens wird z.B. ein herkömmlicher Prozeßrechner verwendet, wie er ohnehin zur Erfüllung der mannigfaltigsten Rechenaufgaben heute bereits auch in vielen kleineren Betrieben eingesetzt ist. Sollen nun- Funktionseinheiten auf ihre Punktionstüchtigkeit überprüft v/erden, so wird der bereits für andere Aufgaben vorhandene Rechner kurzfristig freigestellt. Das allen Funktionseinheiten gemeinsame Prüfprogramm wird innerhalb kürzester Zeit eingelesen, daraufhin dieses Grundprogramm durch ein nur wenige zusätzliche Rechenvorschriften enthaltendes und individuell auf die jeweils gerade zu prüfende Funktionseinheit abgestelltes Zusatzprogramm ergänzt und die zu prüfende Funktionseinheit sowie die gleichartige bereits als funktionstüchtig nachgewiesene Funktionseinheit über geeignete und für sich bekannte Anpassungsglieder an den Rechner angeschlossen. Das Prüfprogramm läuft in sehr kurzer Zeit ab, wobei vom Rechner sowohl die durchgeführten Prüfschritte als auch die jeweils dabei erhaltenen Ergebnisse im Klartext ausgedruckt werden. Mit Hilfe dieses Prüfverfahrens ist sowohl eine Prüfung des Prüflings mit rein digitalen als auch analogen Signalen möglich. Mit Hilfe der zusätzlichen, jeder Funktionseinheit individuell zugeordneten Daten ist gleichzeitig eine maximale Fehlerbegrenzung möglich, bei der das Prüfprogramm bei Vorliegen einer fehlerhaften Funktionseinheit vom Rechner automatisch
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abgebrochen wird. Gleichzeitig können mit Hilfe der zusätzlichen Daten jeder zu prüfenden Punktionseinheit Zeitverzögerungen zwischen einzelnen Prüfschriften individuellozugeordnet werden.
Mit Hilfe dieses neuen Prüfverfahrens wird gegenüber den bisher bekannten und mit einem sehr viel aufwendigeren Prüfprogramm arbeitenden Verfahren eine schnellere und auch sehr viel billigere Prüfung von Punktionseinheiten erreicht, da mit Hilfe des für alle Punktionseinheiten gleichen Programms von dem Rechner die jeweils an die Funktionseinheit abzugebenden Eingangsvariablen gleichzeitig an die Eingänge der zujprüfenden Funktionseinheit und an die Eingänge der bereits als funktionstüchtig nachgewiesenen Punktionseinheit gegeben werden, wobei im Rechner lediglich ein Vergleich der von beiden Funktionseinheiten aufgrund der Eingangsvariablen abgegebenen Antwortsignale stattfindet. Die dadurch bedingte Ersparnis an Rechenprogrammkapazität ist besonders erheblich, wenn nicht nur eine statische sondern auch eine dynamische Prüfung der Funktionseinheiten durchgeführt werden soll, da auch das dynamische Sollverhalten selbstverständlich in der bereits als funktionstüchtig nachgewiesenen Funktionseinheit "enthalten" ist.
Patentansprüche:
0Q9842/U69

Claims (4)

Patentansprüche
1. Verfahren zur Prüfung von insbesondere elektronischen Funktionseinheiten mit Hilfe eines das Prüfprogramm enthaltenden Rechners, dadurch gekennzeichnet, daß die Sollwerte der zu prüfenden Funktionseinheit durch eine zweite funktionstüchtige und ebenfalls an den Rechner angeschlossene Punktionseinheit vorgegeben werden. .
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das allgemeine und für alle Funktionseinheiten gemeinsame Prüfprogramm des Rechners mit Hilfe eines zusätzlich in·den Rechner eingegebenen Datenträgers der jeweils zu prüfenden Funktionseinheit angepaßt wird.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfablauf und die Prüfergebnisse im Klartext vom Rechner ausgedruckt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich-/ net, daß bestimmte Zeitverzögerungen zwischen verschiedenen elementaren Prüfschritten und "eine bestimmte maximale Fehlerzahi, nach der die Prüfung abgebrochen wird* mit Hilfe des zusätzlichen Datenträgers vorgegeben werden.
009842/1469
ORlGiNAL INSPECTED
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2441486A1 (de) * 1974-02-19 1975-08-21 Gen Radio Co Verfahren zur automatischen fehlerermittlung bei elektrischen schaltkreisen und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens
US3946212A (en) * 1973-06-18 1976-03-23 Toyota Jidosha Kokyo Kabushiki Kaisha Automatic quality control system
DE4235113A1 (de) * 1992-10-17 1994-04-21 Bayerische Motoren Werke Ag Verfahren zur Diagnose der Komponenten eines Heizstromkreises für einen elektrisch leitfähigen Körper

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