DE1915293A1 - Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten - Google Patents
Verfahren zum Pruefen von FunktionseinheitenInfo
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- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
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- G—PHYSICS
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- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/3193—Tester hardware, i.e. output processing circuits with comparison between actual response and known fault free response
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- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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Description
191529-
Messerschmitt-Bölkow · Ottobrunn, 24. März 1969
Gesellschaft mit BP 8l4
beschränkter Haftung SXl Me/gh
München
Verfahren zum Prüfen von Funktionseinheiten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen von insbesondere elektronischen Punktionseinheiten mit Hilfe
eines das Prüfprogramm enthaltenden Rechners.
Automatisch arbeitende und von einem Rechner gesteuerte Prüfverfahren werden heute auf allen Gebieten der Technik
sowohl zur Punktionsprüfung relativ einfacher und in Massenproduktion hergestellter Prüflinge, als auch zur Prüfung
komplizierter und eine Vielzahl von verschiedenen Funktionseinheiten enthaltender Prüflinge verwendet, wie es z.B. bei
hochwertigen Kampfflugzeugen oder aber Trägerraketen für die Raumfahrt der Fall ist.
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Bei diesen bekannten Prüfverfahren wird ein je nach Größe des' Prüflings entsprechend umfangreiches Programm- zur Steuerung
des das gesamte Prüfprogramm abwickelnden Rechners benötigt. Ein solches Programm enthält dabei sowohl die an
den Prüfling als Stimuli zu gebenden Signale als auch die Sollwerte, mit denen die vom Prüfling aufgrund der Stimuli
abgegebenen Istwerte verglichen werden, vgl. z.B. ELECTRONICS, 13. Juli 1962, Seiten 37 bis 44. .
So werden z.B. heute integrierte Schaltkreise mit Hilfe eines Rechners auf ihre Punktionstüchtigkeit hin überprüft,
wobei der Rechner für jeden einzelnen Typ des jeweils zu prüfenden Schaltkreises ein besonderes Programm eingelesen
erhält, das die einzelnen am Prüfling durchzuführenden Prüfschritte, die dabei an ihn abzugebenden Stimuli und auch die
aufgrund dieser Stimuli vom Prüfling erwarteten Antwortsignale in Form von Sollwerten enthält. Derartige Prüfverfahren
sind überall dort befriedigend, wo große Serien jeweils identischer Schaltkreise nacheinander zu prüfen sind, so dai3
nur jeweils beim Wechsel von einer Schaltkreisserie auf eine andere ein neues Programm in den Rechner eingelesen werden muß;
vgl. z.B. Mikroelektronik 2, R. Oldenbourg Verlag, München-Wien, 1967, Seiten 531 bis 536.
In Versuchslaboratorien und auch kleineren Fertigungsstätten besteht nun ebenfalls das Bedürfnis, insbesondere elektronische
Funktionseinheiten, die aus einer Vielzahl einzelner Bauelemente bzw. miteinander verbundener integrierter Schaltkreise
bestehen, auf ihre Punktionstüchtigkeit hin zu überprüfen,wobei jedoch immer nur relativ geringe Stückzahlen
derartiger Funktionseinheiten zu prüfen sind. Diese Funktionseinheiten wurden daher bisher von Hand geprüft, da sich die
Erstellung eines für jede Funktionseinheit individuell er—
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forderlichen Rechenprogramms für die Anwendung eines automatischen
und von einem Rechner gesteuerten Prüfverfahrens nicht lohnte.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Prüfen von
Funktionseinheiten anzugeben, bei dem Funktionseinheiten auch bei nur relativ kleinen Stückzahlen schnell und wirtschaftlich
mit Hilfe eines Rechners auf ihre Funktionstüchtigkeit hin überprüft werden können.
Ausgehend von einem Verfahren zum Prüfen von insbesondere elektronischen Funktionseinheiten mit Hilfe eines das Prüfprogramm
enthaltenden Rechners ist diese Aufgabe gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Sollwerte der zu prüfenden
Funktionseinheit durch eine zweite funktionstüchtige und ebenfalls an den Rechner angeschlossene Funktionseinheit
vorgegeben v/erden.
Bei einem solchen Verfahren ist der Aufwand für das in den
Rechne!" einzulesende Rechenprogramm nur gering, da die für
jede einzelne zu prüfende Funktionseinheit individuell für das Rechenprogramm zu erstellenden Sollwerte fortfallen.
Darüber hinaus ist es gleichzeitig möglich, ein z.B. für alle elektrischen bzw. elektronischen Funktionseinheiten
geeignetes gemeinsames Grundprogramm aufzustellen, das für die jeweils gerade zu prüfende Funktionseinheit durch ein
relativ kleines zusätzliches Rechenprogramm ergänzt bzw. an die jeweilige Funktionseinheit angepaßt wird. Durch diese
Maßnahme wird daher sowohl die Rechenzeit, als auch die für das Einlesen des Programms in den Rechner erforderliche Zeit
erheblich verkürzt, wodurch die für die Benutzung des Rechners anfallenden Kosten so gering werden, daß eine wirtschaft
liche und schnelle Prüfung auch solcher Funktionseinheiten möglich ist, die nur in geringen Stückzahlen hergestellt
werden.
-4- 191529c
Auch zur Erstellung der funktionstüchtigen Funktionseinheit, die für das gemäß der Erfindung angegebene Prüfverfahren erforderlich
ist, bedarf es keines zusätzlichen Aufwandes, da bei Planung, Entwurf und anschließender Herstellung eines
Prototyps einer solchen Funktionseinheit ohnehin eine Funktionseinheit entsteht, deren Funktionstüchtigkeit bereits
bei ihrem schrittweisen Aufbau laufend durch labormäßige Messungen überwacht und nachgewiesen wird.
Für die Durchführung des mit der Erfindung angegebenen Prüfverfahrens wird z.B. ein herkömmlicher Prozeßrechner
verwendet, wie er ohnehin zur Erfüllung der mannigfaltigsten Rechenaufgaben heute bereits auch in vielen kleineren Betrieben
eingesetzt ist. Sollen nun- Funktionseinheiten auf ihre Punktionstüchtigkeit überprüft v/erden, so wird der bereits
für andere Aufgaben vorhandene Rechner kurzfristig freigestellt. Das allen Funktionseinheiten gemeinsame Prüfprogramm
wird innerhalb kürzester Zeit eingelesen, daraufhin dieses Grundprogramm durch ein nur wenige zusätzliche Rechenvorschriften
enthaltendes und individuell auf die jeweils gerade zu prüfende Funktionseinheit abgestelltes Zusatzprogramm
ergänzt und die zu prüfende Funktionseinheit sowie die gleichartige bereits als funktionstüchtig nachgewiesene
Funktionseinheit über geeignete und für sich bekannte Anpassungsglieder
an den Rechner angeschlossen. Das Prüfprogramm läuft in sehr kurzer Zeit ab, wobei vom Rechner sowohl die
durchgeführten Prüfschritte als auch die jeweils dabei erhaltenen Ergebnisse im Klartext ausgedruckt werden. Mit Hilfe
dieses Prüfverfahrens ist sowohl eine Prüfung des Prüflings mit rein digitalen als auch analogen Signalen möglich. Mit
Hilfe der zusätzlichen, jeder Funktionseinheit individuell zugeordneten Daten ist gleichzeitig eine maximale Fehlerbegrenzung
möglich, bei der das Prüfprogramm bei Vorliegen einer fehlerhaften Funktionseinheit vom Rechner automatisch
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abgebrochen wird. Gleichzeitig können mit Hilfe der zusätzlichen Daten jeder zu prüfenden Punktionseinheit
Zeitverzögerungen zwischen einzelnen Prüfschriften individuellozugeordnet
werden.
Mit Hilfe dieses neuen Prüfverfahrens wird gegenüber den bisher bekannten und mit einem sehr viel aufwendigeren
Prüfprogramm arbeitenden Verfahren eine schnellere und auch sehr viel billigere Prüfung von Punktionseinheiten
erreicht, da mit Hilfe des für alle Punktionseinheiten gleichen Programms von dem Rechner die jeweils an die
Funktionseinheit abzugebenden Eingangsvariablen gleichzeitig an die Eingänge der zujprüfenden Funktionseinheit
und an die Eingänge der bereits als funktionstüchtig nachgewiesenen Punktionseinheit gegeben werden, wobei im
Rechner lediglich ein Vergleich der von beiden Funktionseinheiten aufgrund der Eingangsvariablen abgegebenen Antwortsignale
stattfindet. Die dadurch bedingte Ersparnis an Rechenprogrammkapazität ist besonders erheblich, wenn
nicht nur eine statische sondern auch eine dynamische Prüfung der Funktionseinheiten durchgeführt werden soll,
da auch das dynamische Sollverhalten selbstverständlich in der bereits als funktionstüchtig nachgewiesenen Funktionseinheit
"enthalten" ist.
Patentansprüche:
0Q9842/U69
Claims (4)
1. Verfahren zur Prüfung von insbesondere elektronischen Funktionseinheiten mit Hilfe eines das Prüfprogramm
enthaltenden Rechners, dadurch gekennzeichnet, daß die Sollwerte der zu prüfenden Funktionseinheit durch eine zweite funktionstüchtige und ebenfalls
an den Rechner angeschlossene Punktionseinheit vorgegeben werden. .
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das allgemeine und für alle Funktionseinheiten
gemeinsame Prüfprogramm des Rechners mit Hilfe eines zusätzlich in·den Rechner eingegebenen Datenträgers der jeweils zu prüfenden Funktionseinheit angepaßt
wird.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfablauf und die
Prüfergebnisse im Klartext vom Rechner ausgedruckt werden.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich-/ net, daß bestimmte Zeitverzögerungen zwischen verschiedenen
elementaren Prüfschritten und "eine bestimmte maximale
Fehlerzahi, nach der die Prüfung abgebrochen wird*
mit Hilfe des zusätzlichen Datenträgers vorgegeben werden.
009842/1469
ORlGiNAL INSPECTED
Leerseite
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19691915293 DE1915293A1 (de) | 1969-03-26 | 1969-03-26 | Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19691915293 DE1915293A1 (de) | 1969-03-26 | 1969-03-26 | Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1915293A1 true DE1915293A1 (de) | 1970-10-15 |
Family
ID=5729304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691915293 Pending DE1915293A1 (de) | 1969-03-26 | 1969-03-26 | Verfahren zum Pruefen von Funktionseinheiten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1915293A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2441486A1 (de) * | 1974-02-19 | 1975-08-21 | Gen Radio Co | Verfahren zur automatischen fehlerermittlung bei elektrischen schaltkreisen und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
US3946212A (en) * | 1973-06-18 | 1976-03-23 | Toyota Jidosha Kokyo Kabushiki Kaisha | Automatic quality control system |
DE4235113A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-21 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur Diagnose der Komponenten eines Heizstromkreises für einen elektrisch leitfähigen Körper |
-
1969
- 1969-03-26 DE DE19691915293 patent/DE1915293A1/de active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US3946212A (en) * | 1973-06-18 | 1976-03-23 | Toyota Jidosha Kokyo Kabushiki Kaisha | Automatic quality control system |
DE2441486A1 (de) * | 1974-02-19 | 1975-08-21 | Gen Radio Co | Verfahren zur automatischen fehlerermittlung bei elektrischen schaltkreisen und einrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
DE4235113A1 (de) * | 1992-10-17 | 1994-04-21 | Bayerische Motoren Werke Ag | Verfahren zur Diagnose der Komponenten eines Heizstromkreises für einen elektrisch leitfähigen Körper |
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