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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung gemäss dem Anspruch 1 und einen Testapparat zum Testen einer elektronischen Schaltung gemäss dem nebengeordneten Anspruch.
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STAND DER TECHNIK
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Aus dem Stand der Technik wird auf die
DE 10 2006 005 800 A1 hingewiesen. Dort ist ein Verfahren und Vorrichtung zum Testen von unbestückten Leiterplatten offenbart.
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Nach dem Herstellen einer elektronischen Schaltung beispielsweise durch Anlöten von Bauteilen auf einer Platine, muss die Funktionstüchtigkeit der Schaltung überprüft werden. Dabei kann ein „Black-Box-Ansatz“ gewählt werden, wobei die Schaltung unter simulierten Bedingungen auf alle Funktionalitäten hin überprüft wird. Dies ist jedoch insofern nachteilig, als dass bei komplexeren Schaltungen oder auch Schaltungen, welche analoge Signale verarbeiten, eine unüberschaubar grosse Anzahl von Funktionstests durchgeführt werden müssten. Daher werden bei komplexeren Schaltungen die Bauteile einzeln getestet, indem Testspitzen an elektrisch leitenden Verbindungen zwischen den Bauteilen angelegt werden, um auf diese Weise einzelne Bauteile im Verbund zu testen. Für ein solches Testen einzelner Bauteile sind nach dem Stand der Technik grundsätzlich zwei verschiedene Apparaturen bekannt. Eine Variante einer solchen Apparatur besteht aus einer Vielzahl von Testnadeln, welche gleichzeitig möglichst alle elektrischen Verbindungen einer Platine abtasten, um auf diese Weise jedes Bauteil testen zu können. Eine andere Möglichkeit ist, so genannte „Flying Prober“ einzusetzen, welche individuell verfahrbare Testspitzen aufweisen. Ein solcher „Flying Prober“ wird beispielsweise durch die ITOCHU-SysTech GmbH, 40549 Düsseldorf unter der Bezeichnung „APT 9411“ angeboten. Mit solchen „Flying Prober“ lassen sich gleichzeitig mehrere Kontaktpunkte auf einer Platine oder an Bauteilen anfahren, um die Funktionstüchtigkeit eines einzelnen Bauteils zu testen. Auf diese Weise kann eine gesamte Schaltung der Reihe nach durchgetestet werden. Grundsätzlich besteht jedoch zunächst das Problem, dass das Testverfahren manuell festgelegt werden muss.
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AUFGABE
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Aufgabe der Erfindung ist es, die Nachteile des Standes der Technik zu beheben und insbesondere ein verbessertes, schnelles und universell einsetzbares Verfahren zum Testen von elektronischen Schaltungen einschliesslich einer entsprechenden Vorrichtung anzugeben.
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LÖSUNG DER AUFGABE
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Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zum Testen einer elektronischen Schaltung gemäss Anspruch 1 und einem Testapparat gemäss dem nebengeordneten Anspruch. Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
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Erfindungsgemäss wird automatisch ein Testprogramm oder ein Testablauf generiert, indem grafische Informationen eines Schaltplans oder eine Netzliste ausgewertet wird. Die Netzliste enthält alle Verknüpfungen und Bauteile der Schaltung. Weiterhin können im Rahmen der Erfindung auch Netznamen oder eine Netzanschlussliste ausgewertet werden, um automatisiert einen Testablauf zu generieren. Dies bietet den Vorteil, dass keine manuelle Festlegung des Testablaufs erforderlich ist. Eine Analyse ist beispieslweise mit grafischen Erkennungswerkzeugen möglich, die auch zusätzlich mit Hilfe einer Texterkennung weitere Informationen über in dem Schaltplan verwendete Bauteile liefern können. Bevorzugt läuft das gesamte Verfahren soweit nicht anders genannt automatisiert ab.
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Vorzugsweise ist vorgesehen, dass ein Testgerät mit individuell verfahrbaren Testspitzen verwendet wird, beispielsweise das o. g. Gerät „APT 9411“ oder andere Geräte mit Testspitzen. Mit den individuell verfahrbaren Testspitzen können Verbindungen zwischen verknüpften Bauteilen der Schaltung abgetastet werden, wobei in diesem Zusammenhang auch Verbindungen zu externen Anschlüssen der Platine als Verbindungen unter Bauteilen gezählt werden. So können mit den verfahrbaren Testspitzen selbstverständlich auch Eingangs- oder Ausgangskontaktpunkte abgetastet werden. Dies zählt auch zu dem Abtasten von Verbindungen. Weitere mögliche Einrichtungen zum Durchführen des Tests sind Testsysteme mit Steckeranschluss oder mit Steckkartenplätzen oder Testsysteme, die über ein Nadelbett verfügen. Vorteilhafterweise ist vorgesehen, dass zumindest ein Cluster innerhalb der Schaltung identifiziert wird, wobei in einer allgemeinen Form der Erfindung auch die gesamte Schaltung als Cluster identifiziert werden kann. Besonders bevorzugt wird, dass in der Schaltung zumindest ein Cluster definiert wird, der eine Teilmenge aller Bauteile der Schaltung umfasst. In der hier beschriebenen Erfindung wird auch ein Cluster, welcher alle Bauteile der Schaltung umfasst, als Cluster bezeichnet, wobei die Cluster-Teilmenge der Bauteile in diesem Fall alle Bauteile umfasst.
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Bei bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung ist vorgesehen, dass die Funktion des zumindest einen Clusters getestet wird und eine anschliessende Prüfung von einzelnen Bauteilen der Cluster-Teilmenge nur dann durchgeführt wird, falls der Funktionstest negativ ist. Dabei ist zu berücksichtigen, dass selbst bei Bildung von Clustern unter Umständen auch bei einer korrekten Funktion des Clusters noch einzelne Bauteile des Clusters in jedem Fall einzeln getestet werden müssen, da unter Umständen mit dem Funktionstest nicht die korrekte Funktion aller Bauteile des Clusters überprüft werden kann.
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Bevorzugt wird, dass zumindest ein einzelner der Bauteile der Cluster-Teilmenge der Bauteile in Abhängigkeit des Funktionstests geprüft wird, das heisst, dass es zumindest ein Bauteil gibt, das nur dann geprüft wird, falls der Funktionstest negativ ist, und nicht geprüft wird, falls der Funktionstest positiv ist. Besonders bevorzugt wird im Rahmen der Erfindung, dass alle Bauteile der Cluster-Teilmenge überprüft werden, falls der Funktionstest negativ ist und kein Bauteil einzeln oder nur eine Unterteilmenge der Cluster-Teilmenge der Bauteile überprüft wird, falls der Funktionstest positiv ist. Allgemein bieten Ausführungsformen der Erfindung den Vorteil, dass eine universelle Überprüfung von verschiedenen Schaltungen mit einem Gerät möglich ist und gleichzeitig durch die bedingte Überprüfung eine Zeitersparnis erreicht wird.
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Bei der Identifikation des Clusters wird vorzugsweise wie folgt vorgegangen: Zunächst wird die Schaltung nach mindestens einem Netzpunkt mit einem Netznamen, der in einer Netznamen-Liste enthalten ist, abgesucht. Als Netzpunkte kommen zunächst alle Verbindungen im Sinne der obigen Definition in Frage, also Verbindungen zwischen Bauteilen oder auch Verbindungen zwischen Bauteilen und externen Anschlüssen der Schaltung. Als Netznamen kommen verschiedene definierte Punkte der Schaltung in Betracht, insbesondere bevorzugt enthält die Netznamen-Liste zumindest einen Netznamen aus der Gruppe Eingangssignal, Ausgangssignal, Versorgungsspannung und Erde. Weitere Netznamen können bei bevorzugten Ausführungsformen weitere Versorgungsspannungen, das heisst, Versorgungsspannungen, die gegenüber der zuvor genannten Versorgungsspannung unterschiedlich sind, sein, weitere Eingangssignale oder weitere Ausgangssignale, wobei die Eingangs- und Ausgangssignale analoge oder logische Signale sein können. Die Netznamen können das Verfahren aus einer standardisierten Beschreibung der Schaltung oder durch grafische Analyse eines grafischen Schaltplans erhalten, wobei das erfindungsgemässe Verfahren dann bevorzugt die Netznamen der Netzpunkte mit den in der Netznamen-Liste gespeicherten Netznamen vergleicht. Der Netzpunkt, dessen Netzname in der Netznamen-Liste enthalten ist, wird dann bevorzugt als einer von mehreren möglichen Grenzpunkten für den Cluster verwendet und der Cluster ausgehend von diesem Netzpunkt identifiziert. Dieses Vorgehen bietet den Vorteil eines automatisierten, standardisierten Vorgehens bei der Identifikation von Clustern.
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Bevorzugt wird bei der Identifikation des Clusters ausgehend von den Netzpunkten nach mindestens einem weiteren Netzpunkt mit einem Netznamen gesucht, der ebenfalls in der Netznamen-Liste enthalten ist, wobei der weitere Netzpunkt einen weiteren der mehreren Grenzpunkte des Clusters bildet. Auf diese Weise kann sich das Verfahren beispielsweise von einem Anschluss für ein Ausgangssignal zu einem Anschluss für ein Eingangssignal vortasten und erhält auf diese Weise zwei Grenzpunkte des Clusters. Es sollte wiederum angemerkt werden, dass die Grenzpunkte auf Verbindungen nach der obigen Definition liegen und später durch die verfahrbaren Testspitzen abgetastet werden.
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Eine weitere Alternative oder zusätzliche Möglichkeit zur Identifikation von Clustern ist, Abschnitte der Schaltung mit bekannten, das heisst abgespeicherten Cluster-Mustern, zu vergleichen, wobei bei Übereinstimmung eines Abschnitts der Schaltung mit einem bekannten Cluster-Muster, der Abschnitt als Cluster identifiziert wird. Solche bekannten, abgespeicherten Cluster-Muster können konkrete Muster sein, einschliesslich von Typen-Bezeichnungen für die Bauteile. Solche Cluster-Muster können bei bevorzugten Ausführungsformen auch Muster sein, welche lediglich die Art der Bauteile vorgeben, beispielsweise Widerstand, Kondensator, Transistor, Spule oder Diode. Dies ermöglicht auch bei noch unbekannten Schaltungen eine Erkennung von Clustern anhand der gespeicherten Cluster-Muster.
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Bei typischen Ausführungsformen werden bei der Identifikation von weiteren Clustern, nachdem bereits zumindest ein Cluster identifiziert wurde, alle Netzpunkte der Schaltung, die einem Grenzpunkt eines bereits identifizierten Clusters entsprechen, als neue Grenzpunkte definiert. Diese neu definierten Grenzpunkte sind nunmehr sowohl Grenzpunkte eines bereits identifizierten Clusters und werden dann auch zur Identifikation eines weiteren Clusters verwendet. Mit anderen Worten wird einem Netzpunkt, dem bereits ein Grenzpunkt zugewiesen wurde, noch ein Grenzpunkt für einen benachbarten Cluster zugewiesen. Bevorzugt wird nun ein weiterer Iterationsschritt des Verfahrens durchgeführt, wobei wiederum unter Verwendung bekannter Netznamen und der neu hinzugekommenen Grenzpunkte versucht wird, weitere Cluster zu identifizieren.
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Allgemein wird bevorzugt, dass das Verfahren wiederholt ausgeführt wird, bis keine Identifikation eines weiteren Clusters mehr möglich ist. Bei Berücksichtigung der oben beschriebenen bevorzugten Verfahrensschritte fällt auf, dass durch jede Identifikation eines weiteren Clusters neue Grenzpunkte für unter Umständen noch nicht identifizierte Bereiche der Schaltung hinzutreten, sodass unter Umständen in einem neuen Iterationslauf neue Cluster gefunden werden können.
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Bei bevorzugten Ausführungsformen wird, vorteilhafterweise nachdem in einem weiteren Iterationslauf keine weitere Identifikation eines neuen Clusters mehr möglich ist, ein Benutzer nach möglichen Grenzpunkten von Clustern oder nach vollständigen Clustern abgefragt. Auf diese Weise können noch nicht mit Clustern identifizierte Bereiche der Schaltung zugeordnet werden.
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Vorteilhafterweise werde identifizierte Cluster als Cluster-Muster gespeichert und bei zukünftigen Verwendungen des Verfahrens berücksichtigt. Auf diese Weise wird das Verfahren selbstlernend gestaltet, sodass es mit zunehmender Benutzung einen grösseren Anteil von noch unbekannten Schaltungen in Cluster aufteilen kann. Ebenso wird bevorzugt, falls das Programm Netznamen, die es durch einen Benutzer neu lernt, abspeichert, sodass in Zukunft eine bessere Identifikation von Clustern möglich ist. Allgemein wird bevorzugt, falls das Programm selbstlernend ist, um zukünftige Cluster-Identifikationen zu verbessern.
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Vorteilhafterweise wird die Schaltung überprüft, indem alle identifizierten Cluster überprüft werden, und zwar im Sinne eines Funktionstests, und alle nicht den Clustern zugeordneten Bauteile einzeln überprüft werden. Dabei wird nicht ausgeschlossen, dass innerhalb der Cluster Bauteile vorhanden sind, die gegebenenfalls auch einzeln geprüft werden müssen, da sie durch die Funktionstests des Clusters nicht erfasst werden.
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Vorteilhafterweise sind mindestens vier individuell verfahrbare Testspitzen vorgesehen. Bei weiteren typischen Ausführungsformen der Erfindung wird eine Versorgungsspannung für die Dauer der Überprüfung dauerhaft angelegt. Dies kann im Zusammenhang mit individuell verfahrbaren Testspitzen die Testzeit verkürzen. Ebenso können bevorzugt weitere Versorgungsspannungen oder Eingangssignale dauerhaft an der Schaltung angelegt werden. Besonders bevorzugt wird, dass eine Platine für die Schaltung verwendet wird, die Abtastkontakte in einem definierten Muster aufweist und ein Gruppenabtaster zum Abtasten dieser Abtastkontakte verwendet wird. Die Abtastkontakte sind vorzugsweise in einem gleichmässigen Muster, bevorzugt in Reihen und Spalten, angeordnet, wobei bevorzugt mindestens acht Abtastkontakte vorgesehen sind, sodass mit dem Gruppenabtaster ein vollständiges BusSystem abgetastet werden kann. Weitere Tastsysteme, die im Rahmen der Erfindung vorteilhaft eingesetzt werden können sind Nadelbett-Systeme und Systeme mit Steckkontakten, darunter auch Steckkartenplätze, in die eine Schaltung zum Test eingesetzt werden kann.
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Ein weiterer unabhängiger Gegenstand der Erfindung ist ein Testapparat zum Testen einer elektronischen Schaltung mit einer Mehrzahl untereinander durch elektrisch leitende Verbindungen verknüpften Bauteile, mit einer Mehrzahl von individuell verfahrbaren Testspitzen, wobei Mittel vorgesehen sind, die eingerichtet sind, ein Verfahren in einer der oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsformen durchzuführen. Ein weiterer Gegenstand der Erfindung ist ein Computerprogrammprodukt, das geeignet ist, einen Testapparat zum Durchführen eines Verfahrens in einer der oben beschriebenen bevorzugten Ausführungsform zu steuern.
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Bevorzugt weist der Testapparat einen Gruppenabtaster zum Abtasten von mindestens acht Kontaktpunkten auf, die in einem definierten Muster auf einer Platine der zu untersuchenden Schaltung angeordnet sind, wobei die Testspitzen angeordnet sind, sodass sie von einer Seite auf die Platine zugreifen und der Gruppenabtaster angeordnet ist, sodass er von der anderen Seite auf die Platine zugreift. Im Rahmen bevorzugter Verfahren greifen die individuell verfahrbaren Testspitzen von einer Seite auf die Platine zu und der Gruppenabtaster greift von der anderen Seite auf die Platine zu. Dies kann im Rahmen bevorzugter Testapparate dadurch gelöst werden, indem der Gruppenabtaster auf einer Montagefläche angeordnet wird, auf welcher auch Montagemittel vorgesehen sind, um die Platine der Schaltung zu montieren, wobei anschliessend die individuell verfahrbaren Testspitzen von oben problemlos auf Verbindungen bzw. Netzpunkte der Schaltung zugreifen können.
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Figurenliste
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Nachfolgend wird die Erfindung anhand einiger schematischer Zeichnungen näher erläutert, wobei die Figuren zeigen:
- 1 zeigt ein Schaltbild, wobei in der Schaltung dieses Schaltbilds ein Cluster erfindungsgemäss identifiziert wird,
- 2 zeigt ein Muster für einen Gruppenabtaster, wobei das Muster Kontakte auf einer Platine mit einer zu untersuchenden Schaltung wiedergibt, und
- 3 zeigt ein schematisches Ablaufdiagramm eines erfindungsgemässen Verfahrens.
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In der 1 ist ein Schaltbild einer Schaltung dargestellt, wobei die Schaltung über einen Signaleingang 1 und einen Signalausgang 2 verfügt. Der Signaleingang 1 ist in dem Schaltbild mit „B_IN“ gekennzeichnet. „B_IN“ stellt einen Netznamen dar. Ebenso ist der Signalausgang 2 mit dem Netznamen „B_OUT“ gekennzeichnet. Ausserdem sind einige Bauteile der dargestellten Schaltung an Erde, gekennzeichnet mit dem Netznamen „GND“ angeschlossen. Einige andere Bauteile sind an eine Versorgungsspannung „VC“ angeschlossen. „VC“ stellt ebenso wie „GND“ einen Netznamen dar. Den Anschlüssen an Erde bzw. „GND“ sind die Bezugszeichen 3 zugeordnet und den Anschlüssen an die Versorgungsspannung „VC“, sind die Bezugszeichen 4 zugeordnet.
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Die Schaltung in der 1 verfügt über einige elektronische bzw. elektrische Bauteile. So umfasst die Schaltung sieben Widerstände 5, die teilweise unterschiedliche Widerstandswerte aufweisen. Ausserdem umfasst die Schaltung einen Operationsverstärker 6, einen Kondensator 7 und eine Leuchtdiode 8.
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Eine Überprüfung der Schaltung der 1 mit einem erfindungsgemässen Verfahren läuft dabei wie folgt ab:
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Zunächst sucht das erfindungsgemässe Verfahren nach Netzpunkten mit Netznamen, die in einer Netznamen-Liste enthalten sind. So sind beispielsweise die Netznamen „B_IN“ und „B_OUT“ in der Netznamen-Liste enthalten, welche das Programm verwendet. Ausserdem sind in der Netznamen-Liste die Netznamen „GND“ und „VC“ enthalten. Das Verfahren beginnt mit einer Identifizierung des Netznamens „B_IN“ an dem Anschluss 1, der ebenso einen Netzpunkt darstellt. Es sollte angemerkt werden, dass alle Anschlüsse und Verbindungen zwischen den elektronischen Bauelementen Netzpunkte darstellen, welche durch das Verfahren untersucht werden.
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Ausgehend von dem Netzpunkt an dem Anschluss 1 untersucht das Verfahren entlang der elektrischen Verbindungen über die Bauteile die Schaltung, bis es auf weitere bekannte Netznamen oder Anschlüsse stösst. Anzumerken ist, dass Anschlüssen in der Regel Netznamen zugeordnet sind. So stösst das Verfahren beispielsweise bei Absuchen des Pfads über den Widerstand 5, welcher zwischen dem Anschluss 1 und dem Operationsverstärker 6 angeordnet ist, auf den Kondensator 7 und von dort auf den Netznamen „GND“ für den Erde-Anschluss 3. Alle Netzpunkte mit bekannten Netznamen, also bisher die beiden angesprochenen Punkte mit den Netznamen „B_IN“ und „GND“ werden als Grenzpunkte für den Cluster, welcher identifiziert wird, verwendet. Auf diese Weise tastet sich das Verfahren durch die gesamte in der 1 dargestellte Schaltung hindurch, wobei das Verfahren die hierzu notwendigen Informationen aus einer grafischen Analyse des in der 1 dargestellten Schaltbildes oder aus einer Netzliste mit den Netznamen erhält. Auf diese Weise wird das erfindungsgemässe Verfahren feststellen, dass die gesamte in der 1 dargestellte Schaltung als ein Cluster zu betrachten ist, welcher mit einem Funktionstest getestet werden kann. Aus den Netznamen ermittelt das Verfahren sodann einen geeigneten Funktionstest, nämlich Anlegen der Versorgungsspannung an die Anschlüsse 3 und 4 und anschliessend Beaufschlagen des Signaleingangs 1 mit einem künstlich generierten Eingangssignal. Der Funktionstest besteht dann darin, dass das am Signalausgang 2 ausgegebene Ausgangssignal auf Richtigkeit im Bezug auf das Eingangssignal am Anschluss 1 überprüft wird.
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Es sollte angemerkt werden, dass das erfindungsgemässe Verfahren auch komplexere Schaltungen behandeln kann, wobei es bei komplexeren Schaltungen auch möglich ist, manuelle Grenzpunkte zu definieren, um dem Verfahren dabei zu helfen, Cluster aufzufinden. Ebenso können bestimmte Muster von elektronischen Schaltungen abgespeichert sein, die es dem Verfahren ermöglichen, in komplexeren Schaltungen Untergruppen zu erkennen, welche sich als Cluster eignen.
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Um bei komplexeren Schaltungen beispielsweise mehrere verschiedene Eingänge, wie den in der 1 beispielhaft dargestellten Signaleingang 1, gleichzeitig mit Signalen beaufschlagen zu können, um Funktionstests durchzuführen, oder auch um beispielsweise digitale Schaltungen zu überprüfen, bei denen Informationen in binärer Form an Bus-Leitungen anliegen, wird bei typischen Ausführungsformen der Erfindung an einer Platine ein Feld geschaffen, an dem mehrere Kontakte gleichzeitig durch einen definierten Gruppenabtaster abtastbar sind. Der Gruppenabtaster weist dabei eine regelmässige Anordnung von Abtastnadeln auf, welche auf die Kontaktstellen zugreifen. In der 2 ist nun ein solches Kontaktfeld 10 mit 14 Kontakten angezeigt, welche in zwei Reihen zu je sieben Kontakten 11 angeordnet sind. Zur besseren Übersichtlichkeit sind zwei der Kontakte 11 mit Bezugszeichen gekennzeichnet.
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In der 3 ist schematisch der Ablauf eines bevorzugten erfinungsgemässen Verfahrens gezeigt. Das Verfahren startet in einem Schritt ab 15. Anschliessend liest das Verfahren in einem Schritt 16 grafische Informationen oder eine Netzliste einer Schaltung ein. Dabei scannt das Verfahren beispielsweise einen Schaltplan und verwendet Grafik-Erkennungsroutinen, um an Hand des Schaltplans die Schaltung zu analysieren. In einem Schritt 17 beginnt das Verfahren damit, zu versuchen, einen Cluster in der Schaltung zu identifizieren. Dabei wird zunächst im Schritt 17 nach einem Netznamen gesucht, welcher aus einer Netznamen-Liste bekannt ist. Dann springt das Verfahren zu einem Schritt 18, in welchem von dem Netzpunkt mit dem in dem Schritt 17 aufgefundenen Netznamen ausgehend eine Cluster gesucht wird, indem die Leitungspfade mit den Bauteilen abgetastet werden, bis wieder bekannte Netznamen gefunden werden. Anschliessend überprüft das Verfahren in einem Schritt 19, ob der so aufgefundene Cluster einem Cluster entspricht, mit dem ein Funktionstest durchgeführt werden kann. Dieser Schritt kann auch im Zusammenhang mit einer Interaktion mit einem Bediener vorgenommen werden. Falls das Verfahren im Schritt 19 feststellt, dass ein mit einem Funktionstest überprüfbarer Cluster aufgefunden wurde, springt das Verfahren zu einem Schritt 20. Falls im Schritt 19 festgestellt wird, dass der identifizierte Cluster sich nicht für einen Funktionstest eignet, werden die Bauteile des identifizierten Clusters als einzeln zu überprüfende Bauteile gekennzeichnet und das Verfahren springt zurück zum Schritt 17, in welchem versucht wird, einen weiteren Cluster zu definieren.
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Im Schritt 20 werden dann alle Grenzpunkte des identifizierten Clusters als Grenzpunkte gekennzeichnet, um bei einem eventuellen nachfolgenden nochmaligen Absuchen der Schaltung nach einem weiteren Cluster diese so identifizierten Grenzpunkte als mögliche Grenzpunkte für den weiteren Cluster zu verwenden. Anschliessend wird in einem Schritt 21 überprüft, ob bereits die gesamte Schaltung mit Clustern oder einzeln zu testenden Bauteilen abgedeckt ist. Falls dem nicht so ist, springt das Verfahren zum Schritt 17 zurück, um weitere Cluster zu identifizieren. Stellt das Verfahren hingegen im Schritt 21 fest, dass auf automatische Weise keine weiteren Cluster zu identifizieren sind, so springt das Verfahren zu einem Schritt 22, in welchem durch Interaktion mit dem Benutzer weiter Cluster definiert werden können. Falls in Schritt 22 weitere Cluster definiert werden, verzweigt das Verfahren in einem Schritt 23 zu einem Schritt 24, in welchem die durch den Benutzer neu definierten Cluster abgespeichert werden, um bei zukünftigen Durchläufen des Verfahrens verwendet zu werden. In jedem Fall fährt das Verfahren mit einem Schritt 25 fort, in welchem ein Testverfahren für die zu überprüfende Schaltung festgelegt wird. In einem Schritt 26 wird nun eine entsprechende tatsächlich existierende Schaltung überprüft, wobei die Cluster auf die Funktionstüchtigkeit überprüft werden und einzelne Bauteile, welche keinem Cluster zugeordnet wurden konnten oder welche auch innerhalb von Clustern nochmals zu prüfen sind, geprüft werden. Bei Fehlschlagen von Funktionstests werden sämtliche Bauteile der entsprechenden Clusters einzeln überprüft. Nach Abschluss dieser Überprüfung schwenkt das Verfahren zu einem Schritt 27, in welchem es endet.
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Bezugszeichenliste
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- 2
- 1 Signaleingang Signalausgang
- 3
- Erde
- 4
- Versorgungsspannung
- 5
- Widerstände
- 6
- Operationsverstärker
- 7
- Kondensator
- 8
- Leuchtdiode
- 9
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- 10
- Kontaktfeld
- 11
- Kontakte
- 12
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- 13
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- 14
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- 15ff.
- Verfahrensschritte
