DE4232735A1 - Automatisches schaltpruefgeraet - Google Patents
Automatisches schaltpruefgeraetInfo
- Publication number
- DE4232735A1 DE4232735A1 DE19924232735 DE4232735A DE4232735A1 DE 4232735 A1 DE4232735 A1 DE 4232735A1 DE 19924232735 DE19924232735 DE 19924232735 DE 4232735 A DE4232735 A DE 4232735A DE 4232735 A1 DE4232735 A1 DE 4232735A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- scanner
- connection
- test
- point
- instrument
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/31707—Test strategies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein automatisches Schaltungsprüfgerät, das ins
besondere zur Bestimmung von Scanner-Zuständen geeignet ist.
Ein typisches automatisches Prüfgerät dieser Art benutzt eine Einrich
tung mit einem "Bett von Nägeln", welche eine große Anzahl von federbelaste
ten Sonden ("Nägel") aufweist, die mit einer großen Anzahl von Prüfstellen
an der zu prüfenden Einrichtung (DUT) in Berührung stehen, welche typischer
weise eine Schaltungsplatte ist. Diese Nägel sind ihrerseits mit "System
stiften" verbunden, die zu Anschlüssen von Instrumenten führen, die Signale
zu diesen Prüfstellen weiterleiten oder davon erhalten.
Obwohl das vollständige Prüfen einer speziellen Schaltungsplatte er
fordern kann, daß Verbindungen zwischen den Prüfinstrumenten und einer großen
Anzahl von Prüfstellen auf der Platte hergestellt werden, kann die Anzahl von
Prüfinstrumenten wesentlich kleiner als die Anzahl von möglichen Prüfpunkten
an der Platte gehalten werden, da nur ein Bruchteil der Prüfstellen bei
irgendeinem gegebenen Teil der Prüfung typischerweise benutzt werden. Mit
den Prüfinstrumenten kann deshalb ein Multiplexbetrieb durchgeführt werden.
Bei einem automatischen Prüfgerät dieser Art wird die Vorrichtung zur Durch
führung des Multiplexbetriebs und das zugeordnete Umschalten als Scanner be
zeichnet, durch den die Verbindung zwischen den Instrumenten und den System
stiften erfolgt.
Der Scanner besteht typischerweise aus einer Mehrzahl von Schaltungs
platten, von denen jede mit einer Steckverbindung mit der haltenden Ein
richtung entlang einer ihrer Kanten verbunden werden kann. Einige Arten von
Scannerplatten enthalten zusätzlich Instrumente, mit denen Scannerschalter
mit den Systemstiften verbunden werden können, während bei anderen An
ordnungen getrennte Karten für die Instrumente vorgesehen sind. Die zuletzt
genannte Ausführungsform wird oft bevorzugt, weil die zuerst genannte Aus
führungsform dazu führen kann, daß der Benutzer gezwungen ist, die Instru
mente eines bestimmten Herstellers zu verwenden. Die industriellen Benutzer
automatischer Prüfgeräte ziehen deshalb eine "offene Architektur" vor, bei
der unterschiedliche Hersteller von Prüfgeräten ein gemeinsames Protokoll
für die Instrumentenkontrolle benutzen. Sie liefern Anschlüsse, die zusammen
mit Instrumenten anderer Hersteller benutzt werden können, wenn diese Instru
mente dem gemeinsamen Protokoll entsprechen.
Um eine Prüfung mit einer Schaltungsplatte durchzuführen, führt ein
Prüfgerät ein Prüfprogramm durch, welches eine Liste von Prüfbefehlen
enthält. Jeder Befehl spezifiziert einen Satz von Signalen (einen "Vektor"),
die zugeführt werden sollen, und/oder von denen erwartet wird, daß sie an
einer Mehrzahl der Prüfstellen während eines Taktzyklus erfaßt werden.
Entsprechend dem Prüfprogramm führt das Prüfgerät eine Sequenz von Signalen
(einen Burst) zu, welche durch eine Gruppe von Befehlen bei dem einen Zu
stand des Scanners spezifiziert werden, was zu einem Satz von Verbindungen
zwischen den Instrumenten und den Prüfstellen führt. Das Prüfgerät ändert
dann typischerweise den Scannerzustand, wodurch ein unterschiedlicher Satz
von Verbindungen hergestellt wird, bevor weitere Signalfrequenzen zuge
führt werden. Das Prüfprogramm enthält zusätzlich Verbindungsspezifikationen,
welche die beabsichtigten Sätze von Verbindungen bestimmen.
An einem gewissen Punkt der Erzeugung eines Prüfprogramms wird das
Programm auf ein Niveau geschrieben, bei dem die Arten der Instrumente
spezifiziert werden, die betreffende Vektorkomponenten zuführen sollen,
und wobei betreffende Prüfstellen benannt werden, denen diese Vektorkom
ponenten zugeführt werden sollen. Dies bedeutet, daß schließlich Verbindungen
zwischen Instrumentenanschlüssen und DUT-Prüfstellen spezifiziert werden,
ohne daß die Scannerverbindungen spezifiziert werden, durch welche diese
Verbindungen hergestellt werden sollen. Auf diesem Niveau muß das Programm
durch Software kompiliert werden, die speziell für das betreffende Prüf
gerät geschrieben wurde, um die Verbindungsspezifikation mit höherem Niveau
in eine solche umzuwandeln, bei der die Scannerzustände spezifiziert werden,
die zur Herstellung dieser schließlichen Verbindungen benötigt werden.
Die besondere Konfiguration dieser Umwandlungsoperation führt jedoch
zu beträchtlichen Schwierigkeiten. Insbesondere muß der Kompilierer neu
geschrieben oder wesentlich für jede neue Konfiguration des Prüfgeräts
verbessert werden. Ein Teil der Vorteile offener Systeme, welche in der
verbesserten Möglichkeit von Umgestaltungen zu sehen sind, erfordern
deshalb Kompromisse.
Der Erfindung liegt deshalb die Erkenntnis zugrunde, daß diese zu
sätzliche Schwierigkeit vermieden werden kann, so daß einfachere Möglich
keiten für eine Umwandlung bestehen, wenn das Prüfgerät mit einer Scanner-
Treiberschaltung versehen wird, welche den Scanner in Abhängigkeit von
Prüfprogrammen betätigen kann, welche die Verbindungen von Instrument zu
Prüfpunkten bei einem nicht vom Scanner spezifizierten Niveau spezifizieren
kann, und wodurch eine große Vielfalt von Scannersystem-Konfigurationen
betätigt werden können. Ein derartiger Scanner würde einen Zugriff zu
einer Bibliothek mit Informationen benötigen, welche die zahlreichen
möglichen Scannersystem-Konfigurationen betreffen, die dabei von Interesse
sein können, damit das Scannersystem in den geeigneten Zustand gebracht
werden kann. Eine derartige Bibliothek könnte möglicherweise jedoch einen
für praktische Zwecke zu großen Speicherraum benötigen. Der Erfindung liegt
jedoch ferner die Erkenntnis zugrunde, daß der benötigte Speicherraum in
geeigneten Grenzen gehalten werden kann, wenn die Bibliothek in einer be
sonderen Form vorgesehen wird.
Statt jede mögliche Konfiguration aufzulisten und die Verbindungen
in jedem der Zustände für jede Konfiguration aufzulisten, werden die In
formationen auf einem niedrigeren Niveau gespeichert, nämlich als eine
Liste von möglichen Scannerkomponenten (z. B. Scannerplatten), und für
jede Komponente die enthaltenen Schalter und die durch die Schalter ver
bundenen Verbindungspunkte. Für eine Speicherung auf diesem Niveau ist
ein um Größenordnungen geringerer Speicherraum erforderlich.
Wenn die Scanner-Treiberschaltung mit einer gegebenen Scannersystem-
Konfiguration arbeitet, wird sie beispielsweise durch das Scannersystem ent
sprechend Komponenten-Scanner-Platten oder deren Plätze in Kenntnis ge
setzt. In Abhängigkeit von Prüfprogramm-Spezifikationen von Verbindungen
von Instrument zu Prüfstellen, durchsucht die Scanner-Treiberschaltung dann
die so identifizierten Scannerkomponenten nach Wegen, welche die gewünschten
Verbindungen ermöglichen.
Durch Lieferung der Informationen über die Scannersystem-Konfiguration
in Form einer Kombination von scannerspezifischen Komponenteninformationen
mit niedrigem Niveau und durch ein scannerunabhängiges Suchvermögen zur Ab
leitung der schließlichen Scannersystem-Konfiguration von diesen Informa
tionen mit niedrigem Niveau, kann eine scannerunabhängige Treiberschaltung
erhalten werden, die es ermöglicht, die Vorteile der Umgestaltung auszu
nutzen, welche offene Systeme aufweisen.
Zusammenfassend sind deshalb wesentliche Merkmale der Erfindung in
einem automatischen Schaltungs-Prüfgerät zu sehen, das eine Speicherein
richtung mit einem Prüfprogramm aufweist, welches zwischen den Instrumenten
des Prüfgeräts und der zu prüfenden Einrichtung herzustellende Verbindungen
spezifiziert, hinsichtlich der Instrumentenanschlüsse und der Prüfstellen
der zu prüfenden Einrichtung, ohne dabei den Scannerzustand zu spezifizie
ren, der diese Verbindungen durchführen soll. Ein Systemprogramm prüft die
vorhandene Konfiguration des Scanners und anderer Teile des Prüfgeräts,
und bestimmt die Identität und Positionen von Komponenten, aus denen der
Scanner besteht. Dann wird durch Abfragen einer Beschreibung mit niedrigem
Niveau jeder der Scannerkomponenten nach Wegen durch diese gesucht, die zu
den Verbindungen von Instrument zu Prüfstellen führen, die durch das Prüf
programm spezifiziert sind. Das Prüfprogramm kann deshalb eine Änderung des
Scannerzustands bestimmen, ohne daß die Konfiguration des speziellen be
nutzten Scanners festgestellt werden muß.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung beispielsweise näher erläutert
werden. Es zeigen:
Fig. 1 ein Blockdiagramm eines automatischen Prüfgeräts gemäß der Er
findung,
Fig. 2 eine perspektivische Ansicht des Prüfgeräts in Fig. 1, von
dem Teile weggebrochen sind,
Fig. 3 ein Blockdiagramm zur Erläuterung des Inhalts des Speichers
des Prüfgeräts,
Fig. 4 ein Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels von Scanner- und
Instrumentkarten, die in dem Prüfgerät verwendbar sind; und
Fig. 5A und 5B ein Fließbild eines Programms, das in einem Prüfgerät
gemäß der Erfindung verwendbar ist, um den Scannerzustand zu bestimmen.
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel eines Prüfgeräts,
auf das die Erfindung anwendbar ist, ist ein Prüfgerät 10 vorgesehen, das
zur Prüfung einer zu prüfenden Einrichtung 12 dient, und zwar mit Hilfe
von digitalen Prüfinstrumenten in der Form von Treiber/Sensoren 14 zur
Zufuhr von Signalen an die zu prüfende Einrichtung und zur Erfassung der
resultierenden Signale, welche diese Einrichtung erzeugt. Zusätzlich zu den
digitalen Instrumenten 14 kann ein Prüfgerät auch analoge Instrumente be
nutzen, beispielsweise einen Wellenformgenerator 16 oder ein digitales
Voltmeter 18.
Um die Prüfinstrumente mit der Einrichtung 12 zu verbinden, benutzt
ein typisches automatisches Prüfgerät einen Scanner 20 und eine Verbindungs
einrichtung 22. Der Scanner 20 hat eine große Anzahl von fixierten System
stiften 24, welche Stifte Signale zu und von der Einrichtung 12 leiten.
Sie sind jedoch nicht physikalisch derart positioniert, daß sie mit den
Prüfstellen auf einer speziellen Schaltungsplatte ausgerichtet sind.
Signale auf den Systemstiften 24 müssen auf unterschiedliche physikalische
Positionen bei jeder Art oder Familie von Platten ausgerichtet werden.
Dies ist der Zweck der Verbindungseinrichtung 22, welche Verbindungen
zwischen den Systemstiften 24 und Stiften ("Nägeln") 26 ermöglicht, die
speziell für die gewünschten Prüfstellen auf der zu prüfenden Schaltung
12 positioniert werden.
Für viele zu prüfende Schaltungen ist die Anzahl der erforderlichen
Nägel 26 sehr groß, aber nur eine kleine Anzahl davon werden zu irgendeinem
Zeitpunkt benötigt. Wenn beispielsweise eine zu prüfende Schaltung eine
große Anzahl von Komponenten aufweist, die insgesamt eine große Anzahl
von Prüfpunkten benötigen, kann das Prüfprogramm aber nur eine individuelle
Komponente oder Schaltung auf der zu prüfenden Schaltung zu irgendeinem
Zeitpunkt prüfen. Für die Prüfung sind deshalb nur die Prüfpunkte von Be
deutung, die elektrisch mit den betreffenden Anschlüssen dieser Komponente
oder Schaltung und wenigen anderen in Verbindung stehen, deren Arbeitsweise
beeinflußt werden muß, um diese Komponente oder Schaltung zu isolieren.
Beim Prüfen dieser speziellen Komponente oder Schaltung werden vom Prüf
gerät alle anderen Prüfstellen nicht einbezogen. Wenn das System andere
Komponenten oder Schaltungen auf der Platte prüft, werden andere kleine Teil
sätze der Prüfpunkte benutzt.
Da jeder Teil der Prüfung nur einen kleinen Teilsatz von allen Nägeln
26 benötigt, findet typischerweise nur ein kleiner Teilsatz der System
stifte 24 bei irgendeinem Teil der Prüfung Verwendung. In vielen Fällen
wäre es deshalb nicht nötig, ein getrenntes Prüfinstrument für jeden System
stift 24 vorzusehen. Dies ist insbesondere bei analogen Instrumenten der
Fall, wie beispielsweise bei digitalen Voltmetern 18 und Wellenformgenera
toren 16, da die Anzahl derartiger gleichzeitig benutzter Instrumente ge
wöhnlich kleiner als diejenige der Treiber/Sensoren 14 ist. Das Prüfgerät
enthält deshalb den Scanner 20, der aus einer Matrix von Schaltern besteht
und andere Schaltungen enthält, durch welche die Verbindungen zwischen In
strumenten und Systemstiften 24 zwischen Burstsignalen umgeschaltet werden,
so daß individuelle Instrumente für unterschiedliche Nägel für unter
schiedliche Teile einer Prüfung benutzt werden können.
Die Steuerschaltung für das Prüfgerät kann durch einen Computer 28,
dessen Speicher 29, eine Sequenzeinrichtung 30 und einen Scannertreiber 34
gebildet sein. Um das Prüfgerät für einen Burst einzustellen, stellt der
Computer 28 eine Verbindung mit dem Scannertreiber 34 beispielsweise mit
Hilfe von Standard-MXI und VXI-Busleitungen 36 und 38 her, um die Ver
bindungen zu spezifizieren, die der Scanner 20 zwischen den Instrumenten
und dem Systemstift 24 herstellen soll. Der Scannertreiber 34 reagiert durch
Zufuhr von Scanner-Steuersignalen zu dem Scanner mittels eines getrennten
Scanner-Bus, der unten beschrieben werden soll. Der VXI-Bus dient auch als
Instrumentenbus und führt Instrumenten-Steuersignale wie diejenigen, durch
die der Computer 28 einen Stiftspeicher 32 mit Werten versorgt, welche die
Signale darstellen, die die einzelnen Prüfpunkte empfangen sollen oder deren
Erzeugung während des Bursts erwartet wird. Der Computer 28 kann in ent
sprechender Weise ein analoges Instrument wie das digitale Voltmeter 18
programmieren, wenn ein derartiges Instrument in einem Standardteil des
Prüfgeräts vorhanden ist. Wahlweise kann ein analoges Instrument wie der
Wellenformgenerator 16, welcher kein üblicher Bestandteil des Systems sein
kann und nicht mit dem VXI-Bus verbunden ist, mit dem Scanner 20 verbunden
und getrennt programmiert werden, möglicherweise durch den Computer 28.
Für eine Echtzeitsteuerung während des tatsächlichen Bursts gibt der
Computer die Steuerung an die schnelle Sequenzeinrichtung 30, welche die
Treiber/Sensoren 14 und den Stiftspeicher 32 taktet und auch die anderen
Instrumente steuern kann.
Nach Beendigung des Bursts liest der Computer 28 die Resultate von
den Stiftspeichern 32 aus und auch beispielsweise das digitale Voltmeter
und ändert den Sensorzustand für den nächsten Burst. Es ist ferner eine
geeignete Einrichtung wie eine Wiedergabeeinrichtung 40 vorgesehen, um
eine Anzeige für die Resultate zu liefern, entweder dann oder nach weiteren
Burstsignalen.
Fig. 2 zeigt die physikalische Anordnung, die gewisse der Elemente
in Fig. 1 bei einem Ausführungsbeispiel gemäß der Erfindung aufweisen
könnten. Fig. 2 zeigt, daß der VXI-Bus 38 in konventioneller Weise als
Rückwandplatinen-Bus in einer horizontalen Ebene in der Nähe des Bodens
eines Prüfgerät-Chassis 42 vorgesehen ist. Die Treiber/Sensoren 14 und
das digitale Voltmeter 18 in Fig. 1 sind durch eine Anzahl von Schaltungs
platten gebildet, die eine Steckverbindung mit der VXI-Rückwandplatine 38
aufweisen, um die Instrumenten-Steuersignale zu empfangen, die deren
Arbeitsweise programmieren und im übrigen steuern. Fig. 2 zeigt nur eine
dieser Platten 44. Ein typisches Prüfgerät weist viele derartige Platten
in einer physikalisch parallelen Anordnung auf. In Fig. 2 sind die
Verbindungseinrichtungen nicht dargestellt, in die derartige weitere Platten
eingesteckt werden könnten.
Das Schaltungs-Prüfgerät enthält den Scanner 20 mit einer Mehrzahl von
Schaltungsplatten. Nur zwei Scannerplatten 46 und 47 sind in Fig. 2 darge
stellt. Bei der typischen Anordnung ist eine größere Anzahl derartiger
Platten vorgesehen. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel enthält der
Scanner 20 in Fig. 1 ferner einen Rückwandplatinen-Bus 50, der getrennt
von dem VXI-Instrumentenbus 38 ist, aber physikalisch mehr oder weniger
parallel dazu angeordnet ist. Die Scannerplatte 46 ist in Steckverbindungen
48 an der Oberkante der Platte 44 eingesteckt, wo die Platte 44 die Kanäle
aufweist, in denen die analogen Instrumente oder die Treiber/Sensoren
Signale antreiben oder erfassen. Die Scannerplatten 46 und 47 sind auch
in Steckverbindungen wie die Steckverbindung 51 auf dem Scanner-Bus 50
eingesteckt, von dem sie Scanner-Steuersignale empfangen. Es werden auch
Instrumenten- und Schaltungssignale der zu prüfenden Schaltung über den
Bus 50 gesendet und empfangen.
In Fig. 2 ist die weitgehend konventionelle Verbindung der VXI-Rück
wandplatine 38 mit dem MXI-Bus nicht dargestellt, wodurch der Computer 28
mit dem Scanner 20 in Verbindung steht. Wie oben erläutert wurde, überträgt
jedoch der Computer Signale an die VXI-Rückwandplatine 38. Einige dieser
Signale werden nach einer geeigneten Decodierung zu dem Scanner 20 durch
den Scannertreiber 34 weitergeleitet, der gemäß Fig. 2 in einer Schaltungs
platte 34 enthalten ist, die parallel zu den Scannerplatten 46 und 47
orientiert sind. Eine "Schlitz Null"-Platte S2 stellt die Verbindung zwischen
der VXI-Rückwandplatine 38 und dem Scannertreiber 34 her.
Die Oberkanten der Scannerplatten 46 und 47 bilden Steckverbindungen
54 und 56, die zusammen mit entsprechenden Verbindungseinrichtungen an
anderen nicht dargestellten Scannerplatten einen Teil der Systemstifte 24
in Fig. 1 enthalten. An den Oberkanten der Scannerplatten 46 und 47 sind
auch Steckverbindungen 58 zur Befestigung von Koaxialkabeln beispielsweise
von dem äußeren Wellenformgenerator 16 in Fig. 1 vorgesehen. Der Wellen
formgenerator könnte auch wie die Treiber/Sensoren und das Voltmeter vorge
sehen sein, indem er zwischen einer Scannerplatte und dem VXI-Bus verbun
den wird.
Zum Prüfen der Schaltung 12 führt das Prüfgerät ein Prüfprogramm
60 durch, das für die zu prüfende Schaltung geschrieben ist und in dem
Speicher 29 gespeichert wird. Ein Teil des Speicherinhalts ist in Fig. 3
dargestellt. Gemäß der Erfindung ist jedoch das Prüfprogramm 60 nicht
spezifisch für die spezielle Architektur des Prüfgeräts, welches das
Prüfsystem 10 benutzt. Speziell basiert es nicht auf irgendwelchen An
nahmen, welche die Plätze der verschiedenen Arten von Instrumenten-
und Scannerplatten 44 und 46 in dem Prüfgerät betreffen. Beim Spezifizieren
einer Verbindungsanordnung für einen speziellen Burst wird deshalb ein
Scannerzustand nicht speziell davon gegeben. Statt dessen wird spezifiziert,
daß beispielsweise ein erster Treiber/Sensor mit einem ersten Prüfpunkt
verbunden werden soll, während der Ausgangsanschluß eines digitalen Volt
meters mit einem zweiten Prüfpunkt verbunden werden soll. Deshalb übersetzt
das Prüfgerät von diesem Niveau der Beschreibung zu dem Niveau der Be
schreibung, die für die spezielle Konfiguration des Prüfgeräts 10 spezifisch
ist.
Zu diesem Zweck hat das System Vorrang für seine Arbeitsweise von
dem Prüfprogramm 60 durch Ablauf des Systemprogramms 62, welches ein ein
leitendes Unterprogramm enthält, um die betreffende Konfiguration des
Prüfgeräts zu bestimmen. Es sei beispielsweise angenommen, daß die Platten
44 und 46 die (weitgehend vereinfachte) Topologie in Fig. 4 aufweisen und
in dem 22. Spalt des Prüfgeräts angeordnet sind. Es sei ferner angenommen,
daß eine Verbindungseinrichtung 64 angeordnet ist und daß sie Verbindungen
enthält, die in Fig. 4 dargestellt sind. Entweder von der Anzeige durch
einen Benutzer oder von der Befragung eines Identitätsregisters (nicht dar
gestellt) an der Verbindungseinrichtung, wird das Systemprogramm von der
Identität der Verbindungseinrichtung in Kenntnis gesetzt und holt die Be
schreibung der Verbindungseinrichtung aus deren Beschreibungsdateien 65,
welche Beschreibungen der zahlreichen Verbindungseinrichtungen enthalten,
die durch das Prüfgerät benutzt werden könnten. Derartige Dateien würden
typischerweise in einem Massenspeicher-Segment des Speichers 29 des Prüf
geräts gespeichert. Die Beschreibung der Verbindungseinrichtung zeigt die
Korrespondenz zwischen dem Benutzernamen für Prüfstellen der zu prüfenden
Schaltungen und der Scannerplatten-Anschlüsse ("Systemstifte"), mit
denen die Verbindungseinrichtung diese Anschlüsse verbindet, wenn die
erwarteten Scannerplatten sich in den Positionen befinden, die zum Prüfen
der Platte erwartet werden. Für die drei in Fig. 4 dargestellten Prüfpunkte
können beispielsweise die in Tabelle 1 dargestellten Einträge vorgesehen
werden.
Datei-Eingänge der Verbindungseinrichtung-Beschreibung | |
TP1|V22.A | |
TP2 | V22.B |
TP3 | V22.C |
Der erste Eingang in der linken Spalte spezifiziert die Prüfstelle,
welche der Benutzer als TP1 bezeichnet und der erste Eingang in der
rechten Spalte zeigt an, daß die Verbindungseinrichtung den Prüfpunkt
TP1 mit der Scannerplatte in dem 22. Spalt ("V22") verbindet, und insbe
sondere mit dem Verbindungspunkt A auf der Art von Platte, die in diesem
Spalt benötigt wird, um die Schaltung zu prüfen, für welche die Ver
bindungseinrichtung vorgesehen ist. Die Verbindungseinrichtung koppelt
die Prüfpunkte TP2 und TP3 mit den Verbindungspunkten V22.B und V22.C.
Das Systemprogramm bestimmt dann die Scanner-Konfiguration. Dabei er
hält das Systemprogramm von der Steuerschaltung 74 auf der Scannerplatte
46 den die Art identifizierenden Inhalt eines internen Art-Registers mit
Hilfe von Signalen über den Scannerbus 50. Wie bereits erwähnt wurde,
ergeben die Verbindungseinrichtung-Informationen bei dem dargestellten
Ausführungsbeispiel eine Anzeige über die richtige Identität und Anordnung
der Scannerplatten in dem Prüfgerät, so daß bei diesem Ausführungsbei
spiel dieser Schritt lediglich bestätigt, daß die richtigen Scannerplatten
vorhanden sind. Andere Ausführungsbeispiele können die Prüfpunkt-Ver
bindungen einfach in Form der physikalischen Kanten-Verbindungspositionen
spezifizieren, welchen sie entsprechen. Derartige Informationen würden
jedoch nicht allgemein eine spezielle Scannerkonfiguration beinhalten.
Durch Benutzung der derartig erhaltenen identifizierenden In
formationen erhält das Systemprogramm 62 von einer Scanner-Beschreibungs
kartei 66, die eine Komponenten-Bibliothek von Scannerplatten-Beschreibungen
ist, eine Beschreibung der speziellen Art von Scannerplatten, welche die
Steuerschaltung 74 der Platte 46 identifiziert hat.
Dabei kann sich folgender Inhalt dieser Kartei ergeben.
Die Namen HF1/I und HF1/O unterscheiden diese Verbindungspunkte von den
anderen zu dem Zweck, der im folgenden erläutert werden soll.
Jeder Eingang zu der Relais-Bit-Spalte in dieser Tabelle repräsentiert
einen unterschiedlichen Bitplatz in einem Relais-Zustandsregister 76 auf
der Scannerplatte 46. Jeder Bitplatz repräsentiert den Zustand eines anderen
der Relais 78, aus denen die Scannerplatte 46 zusammengesetzt ist. In der
Spalte "Seite 1" ist der Name des Verbindungspunkts auf einer Seite des
Relais enthalten, während die Spalte "Seite 2" den Namen des Verbindungs
punkts auf der anderen Seite des Relais enthält. Durch Übertragung von
Steuersignalen über den Scannerbus 50, welche den Inhalt der Bitposition
01 in dem Relais-Zustandsregister 76 setzen, kann deshalb der Computer
das Relais schließen, welches dadurch den Verbindungspunkt A mit dem Ver
bindungspunkt E verbindet. In entsprechender Weise kann der Verbindungs
punkt E mit dem Verbindungspunkt G verbunden werden, indem das Relais ge
schlossen wird, dessen Zustand durch die Bitposition 10 repräsentiert wird.
Zusätzlich identifiziert die Tabelle 2 gewisse Verbindungspunkte als
Scannerplatten-Anschlüsse. Speziell zeigt Tabelle 2 Verbindungspunkte A, B
und C (Kantenverbindungs-Anschlüsse auf der Seite der Verbindungsein
richtung), sowie Verbindungspunkte G, H und I (Kantenverbindungs-An
schlüsse auf der Instrumentenseite).
Die Speicherung der Scannerkonfiguration-Informationen in dieser Form
ermöglicht die Benutzung eines vom Scanner unabhängigen Scannertreibers.
Irgendein derartiger Treiber muß von der jeweiligen Scannersystem-Kon
figuration in Kenntnis gesetzt werden und auf einige Scannerkonfigurations-
Informationen der allgemeinen Bibliothek für die speziellen Eigenschaften
der jeweiligen Information Bezug nehmen. Eine derartige Bibliothek würde
jedoch unzulässig groß, wenn sie beispielsweise in der Form totaler
Scannersystem-Zustände und der resultierenden Kombinationen der schließlichen
Verbindungen vorgesehen würde. Bei der dargestellten Form, bei der nur das
individuelle Schließen von Relais und die individuellen Paare von resultieren
den Verbindungspunkt-Verbindungen aufgelistet werden, können andererseits
die erforderlichen scannerspezifischen Informationen in einem Speicher mit
akzeptabler Größe gespeichert werden und gewünschte schließliche Verbin
dungen können mit Hilfe eines scannerunabhängigen Such-Unterprogramms in
dem Treiber abgeleitet werden.
Auf der Basis dieser Ausführungen kann ein scannerunabhängiger Treiber
hergestellt werden, indem die Quelle der Informationen über die schließlichen
Verbindungen (1) in eine Bibliothek mit einer Größe unterteilt wird, die
leicht gehandhabt werden kann, welche für Scannerplatten spezifische In
formationen über Zwischen-Verbindungspunkt-Niveaus enthält, und (2) eine
Unterteilung in ein scannerunabhängiges Suchprogramm erfolgt, welches
individuelle Teile dieser Bibliothek entsprechend dem Bedarf in das
schließliche Verbindungsniveau umwandelt.
Das Einleitungsprogramm fragt dann die Instrumentenschlitze auf
dem VXI-Bus 38 ab. Wenn eine dem 22. Spalt adressierende Anfrage auf dem
VXI-Bus 38 auftritt, wird ein Ausgang von einem die Plattenart identifi
zierenden Register in der Steuerschaltung 68 der Platte 44 dem Bus 38
zugeführt, und das Systemprogramm 62 benutzt diese Informationen über
die Art der Platte, um aus den Instrumenten-Interface-Dateien 67 In
formationen zu holen, die eine Platte 44 betreffen. Die Datei 67 enthält
für jedes einer Vielfalt von Instrumenten, die in dem Prüfgerät benutzt
werden könnten, eine Beschreibung dieses Instrumenten-Interface zu jeder Art
von Scannerplatte, mit der eine Verbindung erfolgen könnte. Das Ein
leitungsprogramm holt deshalb die Informationen, welche das Interface
zwischen der Instrumentenart der Platte 44 und der Scannerplattenart
der Platte 46 beschreibt.
Es sei beispielsweise angenommen, daß es sich bei der Platte 44 um
eine Platte mit dem Namen DSVM handelt, und daß eine derartige Platte
(atypischerweise) zwei Treiber/Sensoren 14a und 14b und ein digitales
Voltmeter 18 enthält. Die linke Spalte in Tabelle 3, welche den relevanten
Teil der Instrumenten-Interface-Datei 67 angibt, listet zwei Instrumenten
leitungen auf, die Benutzern typischerweise als D/S1 und D/S2 bekannt sind
(also als Treiber/Sensor-Eingabe/Ausgabe-Leitungen) und eine als DVM
(der Eingangsanschluß des digitalen Voltmeters 18) bekannte angibt.
Instrumenten-Interface-Beschreibungs-Datei | |
D/S1 | |
G | |
DVM | H |
D/S2 | I |
Für jede dieser Leitungen enthält die Instrumenten-Interface-Datei
einen getrennten entsprechenden Eingang für jede Art von Scannerplatten,
mit der die Instrumentenplatte verbunden werden kann. Jeder Eingang
spezifiziert den Namen des Anschlusses der Scannerplatte, mit dem die
aufgelistete Leitung durch Herstellung der Steckverbindung zwischen der
Instrumentenplatte und der Scannerplatte verbunden würde, welche diesem
Eingang entsprechen. Die rechte Spalte in Tabelle 3 listet die Eingänge
auf, welche der Art Scannerplatte entsprechen, die das Systemprogramm als
den Schlitz einnehmend identifiziert hat, in den die Instrumentenplatte
eingesteckt wurde.
Von diesen Informationen und der Identität des Schlitzes, in dem
sich die Instrumentenplatte befindet, gibt das Systemprogramm die Eingänge
in Tabelle 4 in eine Anschluß-Dekodier-Tabelle 70 ein, welche die Über
einstimmung zwischen den Namen der Instrumentenleitungen und den Namen
der Scanneranschlüsse bekanntgibt, welche Anschlüsse auf einer Scannerplatte
nicht nur voneinander, sondern auch von entsprechenden Scanneranschlüssen
auf anderen Scannerplatten unterscheidet.
Tabelle 4 zeigt, daß das Systemprogramm das Vorhandensein eines Instruments
der Art DSVM gespeichert hat, das an der Scannerplatte in dem Schlitz 22
befestigt ist, und daß die Instrumentenanschlüsse D/S1, DVM und D/S2 mit
den Scanneranschlüssen V22.G, V22.H bzw.V22.I verbunden sind, also mit den
Verbindungspunkten G, H und I an der Scannerplatte in dem zweiundzwanzigsten
Schlitz.
Aus den Informationen in den Tabellen 2 und 4 erzeugt dann das Systemprogramm
eine Scanner-Verbindungspunkt-Verbindungstabelle 77, welche für jeden einzelnen
Verbindungspunkt die anderen Verbindungspunkte auflistet, mit denen die Relais
eine Verbindung herstellen können. Tabelle 5 zeigt den Eingang für den Ver
bindungspunkt, der als Verbindungspunkt A in den Individuell-Platten-Daten
bezeichnet wurde.
Dieser Verbindungspunkt, der nunmehr als Punkt V22.A bekannt ist, ist mit
einer Zählstand-Benutzung versehen, deren Inhalt anfänglich Null ist, aber
während einer Prüfung geändert werden kann. Für den Punkt V22.A ist eine Liste
von "Verbindungs-Datenworten" enthalten, also Verbindungspunkte mit denen eine
Verbindung erfolgen kann, sowie zugeordnete Relais, durch welche derartige Ver
bindungen hergestellt werden können. Das Systemprogramm kombiniert diese Liste
von den Informationen in den Abschnitten auf Seite 1 und Seite 2 der Scanner-
Beschreibungs-Datei.
In dem Eingang eines Verbindungspunkts ist auch eine Anzeige enthalten,
ob dieser Punkt ein "Anschlußpunkt" ist, und wenn dies der Fall ist, welcher
Art der Anschlußpunkt ist. Ein Anschlußpunkt ist ein solcher, der direkt mit
einem Instrumentenpunkt oder der Verbindungseinrichtung oder dem Scannerbus
verbunden wird. Der Zweck einer derartigen Anzeige ist aus der Verbindungs
Algorithmus-Beschreibung ersichtlich.
Zusätzlich zu den Verbindungs-Tabellen-Eingaben, die ohne weiteres aus
den Scanner-Beschreibungs-Dateninformationen hervorgehen, addiert das System
programm Informationen, welche Verbindungen zwischen Platten betreffen. Wie
beispielsweise in der US-PS . . . (Serial Nr. 6 60 289) beschrieben ist, welche
ein automatisches Schaltungsprüfgerät mit getrennten Instrumenten- und
Scanner-Busleitungen betrifft, kann der Scannerbus 50, der Steuersignale zu
dem Scanner leitet, auch Prüfsignale zwischen Scannerplatten übertragen.
Ein schließlicher Durchgang des Aufbauteils des Systemprogramms addiert deshalb
die Informationen über die Verbindung zwischen Scannerplatten. In diesem Zu
sammenhang haben die speziellen Namen HF1/I und HF1/O in Tabelle 2 eine Be
deutung: Durch sie wird angezeigt, daß diejenigen Verbindungspunkte mit der
einen oder anderen Seite einer speziellen Signalleitung auf dem Scannerbus
verbunden sind. Als Folge dieser Anzeige kann das Systemprogramm beispielsweise
V21.HF1/O zu der Verbindungsliste für V22.HF1/I addieren und V23.HF1/I zu der
Verbindungsliste für V22.HF1/O addieren.
Die Art der Benutzung dieser Tabelle durch das Prüfgerät 10 soll in
Verbindung mit einem einfachen Prüfbeispiel erläutert werden. Nach der be
schriebenen Einleitung enthält die durch den Computer 28 durchzuführende
Prüfung einen Burst, von dem beispielsweise angenommen werden soll, daß er mit
zwei gleichzeitigen Verbindungen zugeführt werden soll. Bei der ersten Ver
bindung werden die Prüfpunkte TP1 und TP2 und die Instrumentenanschlüsse, die
der Benutzer als DSVM1.D/S1 und DSVM1.DVM1 bezeichnet, alle miteinander verbun
den. Bei der zweiten Verbindung soll der Prüfpunkt TP3 mit dem Instrumentenan
schluß DSVM1.D/S2 verbunden werden.
Fig. 5 zeigt am Beispiel eines Unterprogramms, welches das Systemprogramm
62 in einem Prüfgerät gemäß der Erfindung benutzen kann, um zu bestimmen wie diese
Verbindungen gemacht werden können. Der erste Block 90 in Fig. 5 betrifft das
Auslesen der ersten Verbindung aus dem Prüfprogramm 60. Das Prüfprogramm identi
fiziert diese Anschlüsse durch ihre von der Scannerkonfiguration unabhängigen
Namen, nämlich TP1, TP2, DSVM1.D/S1 und DSVM1.DVM1. An dieser Stelle enthalten
die Tabellen noch nicht einen Instrumentennamen "DSVM1", den das Prüfprogramm
spezifizierte, sondern haben mindestens einen, der DSVM genannt wird, und
"DSVM1" bedeutet "einen ersten der DSVMs". Deshalb sucht das Systemprogramm
seine Decodier-Tabelle für einen DSVM-Eingang in der Instrumentenspalte, und
findet einen im Schlitz 22. Obwohl Benutzer normalerweise diese automatische
Instrumentenbezeichnung vorziehen, kann auch vorgesehen werden, daß der Benutzer
die Auswahl selbst trifft. Es wird deshalb benannt, daß DSVM "DSVM1"
einen Eingang durch Eingabe in eine Instrumenten-Platz-Tabelle 88 (Fig. 3)
bestimmt, wie beispielsweise in Tabelle 6 gezeigt ist, worin der Platz des
speziellen DVSM bestimmt wird, das als DSVM1 betrachtet wird.
Eingabe Instrumentenplatz-Tabelle |
Instrumentenname |
Schlitz Nr. |
DSVM1 |
22 |
Das Unterprogramm führt dann den Schritt im Block 92 durch, wobei die
Instrumenten-Platz-Tabelle 88 und die Anschluß-Decodier-Tabelle 70 (Fig. 3)
veranlaßt wird, die Instrumenten-Anschluß-Namen in dem Prüfprogramm 60 in
die Namen der Scanneranschlüsse umzuwandeln, mit denen sie verbunden sind,
nämlich mit den Anschlüssen V22.A, V22.B, V22.G und V22.H. Das Unterprogramm
wählt willkürlich einen dieser Anschlüsse aus, beispielsweise den Anschluß
V22.A, und zwar als "Wurzel-Anschluß", der in eine Durchführungsliste 96
(Fig. 3) eingegeben wird, während die anderen drei Anschlüsse in eine Such
liste 98 eingegeben werden. Nunmehr sind die Wege von dem Wurzel-Anschluß
zu den Suchlisten-Anschlüssen zu finden.
Der Block 100 repräsentiert die Auswahl des nächsten Verbindungspunkts
V22.A in der Aufgabenliste (in diesem Fall der einzige Verbindungspunkt in
der Aufgabenliste) als einen Subjektpunkt, den er verarbeiten wird. Die Ver
arbeitung eines Objektpunkts umfaßt die Bestimmung, ob irgend eine Ver
bindung eines einzelnen Relais von dem Subjektpunkt zu einem anderen Ver
bindungspunkt die Fähigkeit hat, Bestandteil eines Wegs von dem Wurzelpunkt
zu einem Suchlistenpunkt zu sein. Zu diesem Zweck konsultiert das System
programm 62 den Eingang des Subjektpunkts in der Anschluß-Decodiertabelle
70, um für jedes "Verbindungsdatenwort" in dem Eingang der Anschlußdecodier
tabelle des Subjektpunkts zu bestimmen, ob das Verbindungs-Datenwort entweder
(1) einer der Punkte der Suchliste ist und deshalb definitiv Teil eines der
gewünschten Verbindungswege ist, oder (2) ein disqualifizierendes Kriterium
betrifft und deshalb definitiv als Teil eines Wegs gestrichen werden kann.
Wenn die Antwort zu beiden Fragen Nein ist, muß das Verbindungs-Datenwort
in die Suchliste für eine weitere Verarbeitung gebracht werden. Dies ist die
Funktion der Schritte, die durch die Blöcke 101 bis 106 wiederholt werden.
Bei dem ersten Durchlauf durch die Routine prüft die Routine alle
Subjektpunkt-Verbindungs-Datenworte, so daß das Resultat des Schritts des
Blocks 101 zustimmend ist. Wie aus Tabelle 5 ersichtlich ist, ist eines der
Verbindungs-Datenworte für den Subjektpunkt V22.A (Fig. 4) ein Verbindungs
punkt V22.D (Fig. 4) und der Block 102 repräsentiert dessen Auswahl als das
erste zu prüfende Verbindungs-Datenwort. Der Entscheidungsblock 103 repräsen
tiert die Bestimmung, ob dieser Punkt einer der Punkte in der Aufgabenliste
ist, d. h. ob er schon als potentielles Glied in einem gewünschten Verbindungs
weg identifiziert wurde. Ggf. wäre eine weitere Verarbeitung redundant, so
daß die Schleife wieder mit dem nächsten Verbindungs-Datenwort beginnt.
Anderenfalls führt das Programm zu der Prüfung des Blocks 104, welches be
stimmt, ob das jeweilige Verbindungs-Datenwort sich auf der Suchliste be
findet. Da das Verbindungs-Datenwort V22.D nicht einer der drei Anschlüsse
V22.B, V22.G und V22.H auf der Suchliste ist, ist das Resultat dieser Be
stimmung negativ.
Dies bedeutet nicht, daß der Punkt V22.D nicht Teil eines Wegs sein kann,
der schließlich zu einem der zu verbindenden Anschlüsse führt. Das Programm
führt deshalb weitere Schritte durch, bei denen bestimmt wird, ob eine Verbin
dung zwischen dem Subjektpunkt und dem Verbindungs-Datenwort, das gerade be
rücksichtigt wird, an dieser Stelle als potentieller Teil eines Wegs zu einem
der Anschlüsse gestrichen werden kann, mit dem der Wurzelanschluß verbunden
werden soll. Beispielsweise repräsentiert der Block 105 eine Konsultation
des derzeitigen Eingangs der Verbindungs-Datenwort-Scanner-Verbindungspunkt-
Verbindungs-Tabelle (im Gegensatz zu demjenigen des Subjektpunkts), um zu
bestimmen, ob dieses Datenwort benutzt wird, d. h. ob der Eingang in seinem
Benutzungs-Zählfeld einen von Null verschiedenen Wert aufweist. Wenn dies
der Fall ist, kann dieses Verbindungs-Datenwort nicht als Teil der laufenden
Verbindung benutzt werden, weil dies einen Kurzschluß für die Anschlüsse in
der laufenden Verbindung zu den Anschlüssen bedeuten würde, die durch die
Verbindung verbunden sind, von der dieses Verbindungs-Datenwort bereits ein
Teil ist.
Wenn das laufende Verbindungs-Datenwort V22.D nicht benutzt wird,
führt das Programm zu dem Entscheidungsblock 106. Der durch diesen Block
repräsentierte Schritt verzweigt sich auf dem Inhalt des Anschlußpunkt-
Felds des Eingangs der laufenden Verbindungs-Datenwort-Scanner-Verbindungs
punkt-Verbindungs-Tabelle. Wenn das Verbindungs-Datenwort ein Anschluß
punkt ist, d. h. wenn es sich um einen Verbindungseinrichtung-Anschluß oder
um einen Instrumentenanschluß handelt, dann sollte keine Verknüpfung mit
der laufenden Verbindung erfolgen. Statt dessen sollte es für eine andere
Verbindung aufgespart werden, deren Zweck darin besteht, diesen Anschluß
mit anderen zu verbinden. Wenn die Prüfungen der Blöcke 104 und 106 das
laufende Verbindungs-Datenwort nicht als eine Verbindung in einem ge
wünschten Verbindungsweg streichen können, wird dieses Datenwort der Auf
gabenliste hinzugefügt, d. h. zu der Liste von Punkten, deren Verbindungs-
Datenworte hinsichtlich eines möglichen Einschlusses in die Verbindung
geprüft werden sollen, wie in dem Block 107 angedeutet ist. Wenn irgend ein
anderer Punkt als der Wurzelpunkt in die Aufgabenliste 96 gebracht wird, ist
eine Begleitung durch einen Rückwärtszeiger vorhanden, der den Namen des
Subjektpunkts beinhaltet, in dessen Scanner-Verbindungspunkt-Verbindungs-
Tabelle-Eingang dieser Punkt beim Schritt 102 gefunden wurde, sowie eine
Anzeige des Relais, das die Verbindung zwischen diesen Punkten herstellt.
Das Programm gelangt dann zu dem Entscheidungsblock 101 zurück, wie es bei
einer bestätigenden Entscheidung in irgend einem der Schritte der Fall ist,
der durch die Blöcke 103, 105 und 106 repräsentiert wird.
Wenn der Punkt V22.D berücksichtigt wurde, bleiben zwei weitere Ver
bindungs-Datenworte, nämlich die Punkte V22.E und V22.F in dem Scanner-
Verbindungspunkt-Verbindungs-Tabelle-Eingang für den laufenden Subjekt
punkt V22.A und das Programm führt durch die selbe Sequenz von Schritten
für diese beiden Punkte, wie für den Punkt V22.D. Nach Beendigung mit dem
Punkt V22.F wird jedoch das Resultat der durch den Block 101 repräsentierten
Entscheidung negativ, so daß das Programm zu der Bestimmung zurück gelangt,
die durch den Block 99 repräsentiert wird, ob irgend ein Eingang in der
Aufgabenliste verbleibt. Das Programm erreicht nicht den Schritt des Blocks
99, wenn bereits Wege zur Verbindung aller Anschlüsse gefunden wurden, die
die Prüfung für diese Verbindung vorgesehen hat. Wenn keine Zeilen in der
Aufgabenliste verbleiben, kann ein Verbindungsweg nicht durch Benutzung der
Kriterien gefunden werden, welcher das Programm in Fig. 5 verlangt. Das Pro
gramm berichtet diese Tatsache an den Benutzer oder führt zu einem wahl
weisen Programm, bei dem beispielsweise das Kriterium des Blocks 106 nicht
verlangt wird.
Normalerweise verhindern jedoch die Prüfkonstruktion und Anzahl von
Prüf-Ressourcen diese Eventualität, und das Resultat der Entscheidung des
Blocks 99 ist bestätigend. Das Resultat ist der Schritt 100, bei dem das
nächste Datenwort in der Aufgabenliste als Subjektpunkt ausgewählt wird.
In diesem Beispiel ist das nächste Datenwort der Punkt V22.D.
Durch Inspektion des neuen Subjektpunkt-Scanner-Verbindungspunkt-
Verbindungstabelle-Eingangs führt das Programm eine positive Bestimmung
bei dem Schritt 101 durch und bei dem Schritt 102 wird der Punkt V22.A
für die Bearbeitung ausgewählt, also der vorhergehende Subjektpunkt.
Dieser Punkt befindet sich bereits auf der Aufgabenliste (und wurde be
reits "erledigt"), und das resultierende bestätigende Resultat der Prüfung
des Blocks 103 ermöglicht so die Prüfung zur Vermeidung einer erneuten
Berücksichtigung einer Verbindung zwischen diesen beiden Punkten.
Das Programm erhält dann ein anderes bestätigendes Resultat von dem
Schritt 101 und führt die Schritte 102 und 203 für den nächsten Punkt V22.B
durch, bei dem Subjektpunkt V22.D-Scanner-Verbindungspunkt-Verbindungstabelle-
Eingang. Da dieser Punkt nicht in der Aufgabenliste vorhanden ist, gelangt
das Programm zu dem Schritt 104, welcher bestimmt, daß der Punkt V22.B tat
sächlich in der Suchliste enthalten ist, was bedeutet, daß ein Weg von dem
Wurzelpunkt zu einer der Leitungen gefunden wurde, mit der dieser zu verbinden
ist. Das Programm führt deshalb den Schritt des Blocks 108 durch, bei dem
das laufende Verbindungs-Datenwort V22.B in eine Ermittlungsliste gebracht
wird und von der Suchliste entfernt wird.
Das Programm gelangt dann zu dem Entscheidungsschritt des Blocks 109,
welcher anzeigt daß mehr Anschlüsse in der Suchliste vorhanden sind. Die
Wege zu den Punkten V22.G und V22.H wurden noch nicht gefunden. Jetzt ist
es möglich, bei gewissen Topologien, daß ein Punkt in der Suchliste wie
der Punkt V22.B, welcher der Anschlußpunkt in einem Weg ist, der bereits
gefunden wurde, auch als Verbindung in einem Weg von dem Wurzelpunkt zu
einem anderen Punkt in der zweiten Liste benutzt werden kann. Wenn die
Suchliste nicht leer ist, wird die Verarbeitung des laufenden Verbindungs-
Datenworts (des Punkts V22.B) weitergeführt, obwohl von diesem Punkt jetzt
bekannt ist, daß er sich am Ende eines gewünschten Verbindungswegs befindet.
Da der Punkt V22.B ein Anschlußpunkt ist, wird jedoch durch die Verzweigung
beim Schritt 106 eine Addition zu der Aufgabenliste verhindert.
Bei einer erneuten Durchführung der Schritte entsprechend den Blöcken
101 und 102 gelangt das Programm entsprechend Block 103 zu der Bestimmung,
ob der nächste Punkt V22.G in dem Subjektpunkt-V22.D-Scanner-Verbindungs
punkt-Verbindungstabelle-Eingang sich bereits auf der Aufgabenliste befindet.
Da dies nicht der Fall ist, führt das Programm die Prüfung des Blocks 104
durch, ob sich das laufende Verbindungs-Datenwort in der Suchliste be
findet. Das bestätigende Resultat dieser Prüfung verursacht, daß der
Punkt V22.G aus der Suchliste entfernt und in die Ermittlungsliste
eingetragen wird, wie in Block 108 erwähnt ist.
Durch die nächste Iteration wird in entsprechender Weise festgestellt,
daß der Anschluß V22.H sich in der Suchliste befindet. Dieser Anschluß
V22.H wird deshalb aus der Suchliste entfernt und in die Ermittlungsliste
gebracht. Wenn der Punkt V22.H das letzte Datenwort in der Suchliste war,
ergibt die Prüfung 109 ein bestätigendes Resultat. Dies bedeutet, daß
Wege von dem willkürlich bezeichneten "Wurzel"-Anschluß V22.A (auch als
Prüfpunkt TP1 bekannt) durch die Scannerschaltung zu allen Anschlüssen ge
funden wurden, zu denen der erste Anschluß eine Verbindung herstellen sollte.
Es verbleibt noch das Setzen der Relais in diesen Wegen. Dieser dem
Block 110 entsprechende Schritt beginnt mit einem der Ermittlungsliste-Ein
gänge und folgt dem begleitenden Zeiger zu einem Aufgabenliste-Eingang,
welcher den vorhergehenden Verbindungspunkt in dem identifizierten Weg
repräsentiert. Der Schritt folgt dann dem diesen Verbindungspunkt begleiten
den Zeiger und fährt in dieser Weise fort, bis der Wurzelpunkt erreicht
wird. Dann wird in einer Verbindungsliste 124 (Fig. 3) ein Eingang für die
erste Verbindung kompiliert, indem in diesem Eingang die Verbindungen vor
gesehen werden, die bei der Verfolgung des Zeigers berücksichtigt werden.
Wenn beispielsweise mit einem Punkt V22.B der Ermittlungsliste be
gonnen wird, bringt das Programm in den Eingang der Verbindungsliste für die
erste Verbindung die Verbindung von dem Punkt V22.B zu dem Punkt V22.D und
die Verbindung von dem Punkt V22.D zu dem Punkt V22.A. Beginnend mit dem
nächsten Punkt V22.G der Ermittlungsliste gibt das Programm nur die Ver
bindung von diesem Punkt zu dem Punkt V22.D ein, da die weitere Verbindung
von dem Punkt V22.D zu dem Wurzelpunkt V22.A bereits in den ersten Ver
bindungseingang der Verbindungsliste eingegeben wurde.
Das Programm beendet den Eingang durch zurücklaufende Nachforschung
von der zuletzt gefundenen Zeile V22.H des Ermittlungslisten-Eingangs.
Tabelle 7 zeigt den resultierenden Eingang.
Nach Zusammenstellung der Weginformationen für die erste Verbindung
betätigt das Programm die Relais durch Einstellen der aufgelisteten Relais-
Bits aus Tabelle 7. Ferner wird der Benutzungs-Zählstand-Eingang in der
Scanner-Verbindungspunkt-Verbindungstabelle für jeden aufgelisteten Punkt
in dieser Verbindung inkrementiert. (Das Benutzungs-Zählstand-Feld wird nur
einmal für jeden Punkt inkrementiert, obwohl dieser Punkt mehr als einmal
in den Weginformationen für die erste Verbindung aufgelistet sein kann).
Das Programm von Fig. 5 wird dann mit dem Löschen der Such-, Ermittlungs-
und Aufgaben-Listen beendet, wie aus Block 111 ersichtlich ist.
Wie oben erwähnt wurde, muß eine zweite Verbindung für diesen Burst
gemacht werden. Die Verbindungs-Anforderung für diese Verbindung besteht
darin, daß der Prüfpunkt TP3 mit dem Treiber/Sensor-Anschluß DSVM1.D/S2
verbunden wird. Bezugnahme auf den Instrumentenplatz und die Anschluß-
Decodier-Tabellen 70 und 88 übersetzt in eine Anforderung für eine Verbin
dung von dem Scanneranschluß V22.C zu dem Scanneranschluß V22.I. Das System
programm folgt dann der Routine von Fig. 5 in der beschriebenen Weise. Das
Resultat ist ein Eingang einer zweiten Verbindung (gegeben in Tabelle 8)
in die Verbindungsliste, Inkrementieren der Benutzungs-Zählstands-Felder
und Einstellung der angezeigten Relais.
Wenn die Relaisregister wie das Register 76 in dem Scannertreiber 34
entsprechend dem vorhergehenden Programm eingestellt sind, nehmen die Relais
98 einen Zustand ein, in dem sie geeignete Verbindungen herstellen, und der
Computer 28 bereitet ferner den anstehenden Burst vor, indem die Speicher
32a und 32b mit den Werten beladen werden, die während des Bursts zuzuführen
sind. In entsprechender Weise belädt der Computer 28 andere Stift-Speicher
einrichtungen. Nach Eingabe dieser Werte wird die Sequenzeinrichtung 30
betätigt, um die Instrumente in Betrieb zu setzen, so daß der Burst zuge
führt wird und die Resultate aufgezeichnet werden. In Fig. 4 kennzeichnen
die Speicher 32a und 32b Speicher sowohl zur Zufuhr von Vektorkomponenten
als auch zur Aufzeichnung der Resultate, und der Computer 28 liest normaler
weise diese Resultate, sowie die DVM-Resultate, die in einem anderen Speicher
120 fortgesetzt werden, bevor der nächste Burst zugeführt wird.
Ferner wird vor Zufuhr des nächsten Bursts der Scanner 20 eingestellt,
um die geeigneten Verbindungen für den nächsten Burst zu machen. Es sei an
genommen, daß das Prüfprogramm 60 anzeigt, daß der nächste Burst dem digitalen
Voltmeter zugeführt werden soll, und daß der erste Treiber/Sensor abgetrennt
ist, aber der zweite Treiber/Sensor mit den Testpunkten TP1 und TP3 ver
bunden ist. Ein Weg zur Erzielung all dieser Verbindungen besteht darin,
alle Relais zurückzustellen und dann das Programm von Fig. 5 für diese
Verbindung durchzuführen. Dies bedeutet, daß man den Scanner zurücksetzen
kann und vom Anfang beginnen kann, wie es bei konventionellen Vorschlägen der
Fall ist. In einigen Situationen würde ein derartiger Vorschlag jedoch be
trächtlich mehr Relaisoperation erfordern, als es der Fall wäre, wenn die
Verbindungen beibehalten würden, welche für den vorhergehenden und den an
stehenden Burst gemeinsam sind. Es soll deshalb angenommen werden, daß das
Systemprogramm den Scannerzustand "inkrementell" aber nicht durch Zurück
stellung aller Scannerrelais nach jedem Burst ändert.
Diese inkrementelle Methode ist dann besondere effektiv, wenn die
vorliegende Erfindung Anwendung findet. Für einen gegebenen Burst kann der
Unterschied zwischen dessen Verbindungen und denjenigen des vorhergehenden
Bursts sich von einer Benutzung der Prüfung zu der nächsten ändern, weil
sich die Prüfung auf den Resultaten unterschiedlicher Bursts verzweigen kann.
Für eine gegebene Verbindung kann sich deshalb der Satz von Verbindungen,
welche das Umschalten von Relais bei einem Prüfvorgang minimal halten, von
dem Satz unterscheiden, der die Relaisumschaltungen bei einem anderen Prüf
vorgang minimal hält. Traditionelle Methoden, bei denen die Prüfung Ver
bindungen mittels spezifischer Relaiszustände spezifiziert, ermöglichen
jedoch nicht derartige Unterschiede. Die vorliegende Erfindung, bei der
das Prüfprogramm Verbindungen mittels der schließlich zu verbindenden
Anschlüsse spezifiziert, wobei also nicht mittels spezifischer Wege, durch
die derartige Verbindungen gemacht werden, spezifiziert wird, kann in
einfacher Weise in einem System realisiert werden, bei dem die Verbindungs
sätze zwischen Bursts bestimmt werden, so daß in einfacher Weise derartige
Unterschiede erzielbar sind, da der vorhergehende Relaiszustand bei der
Bestimmung der Wege berücksichtigt werden kann, wie aus Block 105 in
Fig. 5 ersichtlich ist.
Bei der inkrementierenden Methode hat daher das Systemprogramm den
neuen Satz von Verbindungen mit dem vorhergehenden Satz von Verbindungen
verglichen und gefolgert, daß die erste Verbindung (ID=1) gelöscht werden
muß und eine dritte Verbindung, welche die Instrumentenleitung DSVM1.D/S2
mit dem Prüfpunkt TP1 verbindet, hergestellt werden muß. Dabei werden des
halb die aufgelisteten Relais-Register-Bits unter der ersten Verbindung
zurückgestellt, wodurch diese Verbindung beseitigt wird, und der Benutzungs
zählstand für die Verbindungspunkte dekrementiert, welche die Verbindung
einschlossen. Dies bedeutet, daß die Benutzungs-Zählstände für die Ver
bindungspunkte V22.A, V22.B, V22.D, V22.G und V22.H dekrementiert werden.
Dann wird das Programm von Fig. 5 durchgeführt, um eine geeignete Ver
bindungseinstellung zur Realisierung dieser dritten Verbindung zu finden.
Tabelle 9 zeigt das Resultat.
Mit dem Vorhandensein der dritten Verbindung wird der nächste Burst
zugeführt. Danach ändert sich der Scannerzustand und Vektor-Bursts treten
in dieser Weise auf, bis die Prüfung beendet wurde.
Aus der obigen Beschreibung ist deshalb ersichtlich, daß die Erzeugung
der Prüfung virtuell von Hardware unabhängig gemacht werden kann, wenn die
Erfindung angewandt wird. Wie beschrieben wurde, spezifiziert das Prüf
programm 60 die Verbindungen mit Hilfe von Instrumentenanschlüssen und
Prüfpunkten, und es benötigt keine Änderung, wenn sich entweder die
Instrumenten- oder die Scannerkonfiguration ändert. Daraus ergibt sich, daß
durch die Erfindung wesentliche Vorteile erzielbar sind.
Claims (2)
1. Automatisches Schaltungs-Prüfgerät, an dem unterschiedliche Arten von
austauschbaren Instrumenten installierbar sind, die Instrumentenan
schlüsse aufweisen, um unterschiedliche Arten von austauschbaren Ver
bindungseinrichtungen (22) für zu prüfende Schaltungen (12) installie
ren zu können, die Verbindungsanschlüsse zur Herstellung von Verbindungen
mit Prüfpunkten aufweisen, sowie für eine Installation von unterschied
lichen Arten von Scannerkomponenten, die Scanner-Verbindungspunkte und
Scanner-Schalter aufweisen, die betätigbar sind, um Paare der Scanner-
Verbindungspunkte zu verbinden und einen Scanner zu bilden, von dem
einige Scanner-Verbindungspunkte mit den Instrumentenanschlüssen und
andere Scanner-Verbindungspunkte mit den Anschlüssen der Verbindungs
einrichtungen verbunden sind, welches Prüfgerät ein Prüfprogramm
empfangen kann, das Befehle enthält, die Signal-Bursts spezifizieren
und zugeordnete Verbindungsspezifikationen, die Verbindungen spezifi
zieren, die zwischen designierten Instrumentenanschlüssen und desi
gnierten Prüfpunkten während des zugeordneten Signalbursts zu machen
sind, und welches Prüfgerät darauf anspricht, um entsprechend den
spezifizierten Bursts darin installierte Instrumente zu betätigen,
mit
- A) einer Speichereinrichtung (29), die eine Komponentenbibliothek von Scannerkomponenten-Beschreibungen enthält, wovon jede Scannerkomponenten-Beschreibung eine Liste von Scannerschaltern aufweist und für jeden Scannerschalter die Scanner-Verbindungs punkte dadurch verbindbar sind,
- B) einem Konfigurations-Kompilierer, der zum Empfang von Identitäts signalen geeignet ist, welche die Identität der Scannerkomponenten repräsentieren, die in dem Prüfgerät enthalten sind, und von Prüfpunkt-Verbindungen und Instrumentenanschlüssen, um eine Scannerbeschreibung zu erzeugen, die eine Liste der Scanner schalter enthält, und für jeden Schalter die Instrumentenan schlüsse, die Prüfpunkte der zu prüfenden Schaltung, und die Scanner-Verbindungspunkte, welcher der Schalter verbindet, sowie mit
- C) einem Scanner-Treiber (34), der auf die Verbindungsspezifikation anspricht, um eine Suche durch die Scanner-Beschreibung für eine Sequenz von Scanner-Verbindungspunkten zu verursachen, die derartig durch die Scanner-Schalter verbunden sein können, daß sie einen Weg von dem designierten Instrumentenanschluß zu dem designierten Prüfpunkt der designierten Schaltung bilden können und die Scannerschalter betätigen, welche den dadurch gefundenen Weg vervollständigen.
2. Automatisches Schaltungsprüfgerät nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß
- A) die Scannerkomponenten Identitätsschaltungen enthalten, die zum Empfang von Abfrag-Signalen geeignet sind und darauf an sprechen, um Identitätssignale zu erzeugen, welche die Identität der betreffenden Komponenten repräsentieren, und daß
- B) der Konfigurations-Kompilierer eine Einrichtung zur Zufuhr von Abfragesignalen zu den Scannersignalen enthält und wobei die Identitätssignale, die der Konfigurations-Kompilierer empfängt, diejenigen sind, welche die Identitätsschaltungen als Resultat erzeugen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US77608591A | 1991-10-10 | 1991-10-10 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4232735A1 true DE4232735A1 (de) | 1993-04-15 |
Family
ID=25106416
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19924232735 Withdrawn DE4232735A1 (de) | 1991-10-10 | 1992-09-30 | Automatisches schaltpruefgeraet |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05264657A (de) |
DE (1) | DE4232735A1 (de) |
GB (1) | GB2260414A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10345979A1 (de) * | 2003-10-02 | 2005-05-04 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten und Testvorrichtung |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5444716A (en) * | 1993-08-30 | 1995-08-22 | At&T Corp. | Boundary-scan-based system and method for test and diagnosis |
JP2009168714A (ja) * | 2008-01-18 | 2009-07-30 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 試験装置 |
-
1992
- 1992-09-11 GB GB9219220A patent/GB2260414A/en not_active Withdrawn
- 1992-09-30 DE DE19924232735 patent/DE4232735A1/de not_active Withdrawn
- 1992-10-09 JP JP4271407A patent/JPH05264657A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10345979A1 (de) * | 2003-10-02 | 2005-05-04 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Testen von zu testenden Schaltungseinheiten und Testvorrichtung |
US7039544B2 (en) | 2003-10-02 | 2006-05-02 | Infineon Technologies Ag | Method for testing circuit units to be tested and test apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05264657A (ja) | 1993-10-12 |
GB2260414A (en) | 1993-04-14 |
GB9219220D0 (en) | 1992-10-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2812396C2 (de) | ||
DE2914106C2 (de) | Prüfgerät zum Prüfen gedruckter Schaltungskarten | |
DE2346617C3 (de) | Verfahren zur Prüfung der einseitig begrenzten Laufzeitverzögerung einer Funktionseinheit | |
DE2413805C2 (de) | Verfahren zum Prüfen von Halbleiter-Schaltungsplättchen und Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2914128C2 (de) | Verfahren zur Fehlerortung in einer digitalen Schaltung und Prüfgerät zur Durchführung des Verfahrens | |
DE19758841B4 (de) | Grenzabtastzellenkette | |
DE3625462A1 (de) | Rechnerunterstuetzte fehlerisolation beim pruefen von gedruckten schaltungen | |
DE3106727A1 (de) | "verfahren und vorrichtung zum automatischen pruefen elektrischer und elektronischer schaltkreise" | |
DE1538604B2 (de) | Verfahren zum realisieren einer elektrischen integrierten schaltung | |
DE69126848T2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung | |
DE2228881A1 (de) | Automatisches diagnostisches Unter suchungsgerat | |
DE2646162B2 (de) | Schaltungsanordnung zum Ersetzen fehlerhafter Informationen in Speicherplätzen eines nicht veränderbaren Speichers | |
DE19809751A1 (de) | Diagnosegerät für Fahrzeuge | |
DE2335785A1 (de) | Schaltungsanordnung zum pruefen einer matrixverdrahtung | |
DE4434927A1 (de) | Mit Leistung versorgtes Testen einer gemischten Standard-/Boundary-Scan-Logik | |
DE4031136C2 (de) | ||
DE2220057A1 (de) | ||
EP0695068A2 (de) | Testverfahren sowie Konvertereinrichtung, Testeinrichtung und Testprogramm-Modul dafür | |
DE2121330C3 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen digital arbeitender elektronischer Geräte und ihrer Bauteile | |
DE10213582B4 (de) | Datenberechnungsvorrichtung und Verfahren zur Anwendung der Datenberechnungsvorrichtung zur Einstellung einer elektronischen Steuereinrichtung | |
DE4232735A1 (de) | Automatisches schaltpruefgeraet | |
DE2005884A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Feststellung von Fehlern in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen | |
EP0037965B1 (de) | Einrichtung zum Prüfen einer digitalen Schaltung mittels in diese Schaltung eingebauter Prüfschaltungen | |
DE10112311A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Kalibrieren zur Korrektur von Impulsbreitenzeitfehlern beim Testen integrierter Schaltungen | |
EP1076832B1 (de) | Integrierte schaltung mit scan-register-kette |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8130 | Withdrawal |