DE1789014B2 - Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuse - Google Patents
Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuseInfo
- Publication number
- DE1789014B2 DE1789014B2 DE19681789014 DE1789014A DE1789014B2 DE 1789014 B2 DE1789014 B2 DE 1789014B2 DE 19681789014 DE19681789014 DE 19681789014 DE 1789014 A DE1789014 A DE 1789014A DE 1789014 B2 DE1789014 B2 DE 1789014B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- semiconductor
- housing
- plastic
- sintered metal
- metal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 19
- 239000004033 plastic Substances 0.000 claims description 18
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 claims description 18
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 15
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 15
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 5
- 239000000945 filler Substances 0.000 claims description 3
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 claims description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims 4
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910015153 MoAg Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910015269 MoCu Inorganic materials 0.000 claims 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 claims 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- -1 WAg Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000002775 capsule Substances 0.000 claims 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 claims 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 claims 1
- 238000007373 indentation Methods 0.000 claims 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 claims 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 1
- 235000013372 meat Nutrition 0.000 claims 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 claims 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims 1
- 229940028444 muse Drugs 0.000 claims 1
- GMVPRGQOIOIIMI-DWKJAMRDSA-N prostaglandin E1 Chemical compound CCCCC[C@H](O)\C=C\[C@H]1[C@H](O)CC(=O)[C@@H]1CCCCCCC(O)=O GMVPRGQOIOIIMI-DWKJAMRDSA-N 0.000 claims 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 claims 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 claims 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 claims 1
- 241000124033 Salix Species 0.000 description 1
- 235000013312 flour Nutrition 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000002480 mineral oil Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/02—Containers; Seals
- H01L23/04—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
- H01L23/043—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
- H01L23/051—Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body another lead being formed by a cover plate parallel to the base plate, e.g. sandwich type
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/16—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49169—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor
- Y10T29/49171—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating
- Y10T29/49172—Assembling electrical component directly to terminal or elongated conductor with encapsulating by molding of insulating material
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Description
wirkenden Kunststoff^ umgeben, welcher
as teilweise in die poaanhaltigen ScheÜben-Be
la und la eindringt und damit eine gas- trad
uchägkeitsfeste Abdichtung des Halbleiterkörpers .tdet Fig.2 zeigt eine Aufsicht des Bauelementes,
L der der Kunststoffmantel 9 und die kmenliegemden
auteile 1 und 3 nicht gezeichnet wordua sind.
[Pie Fig. 3 und 4 zeigen Querschnitte von Ausfühjngsbeispielen des Hatbleiterbaueleinentes mit den eichen Bezeichnungen wie in Fig. I und2. Hierbei am der Halbleiterkörper 3 zwischen den gasdichten ί B. gepreßten) Bereichen 1 b und 2 b eines plattenrmiffen (F ig. 3) oder topf artigen (F ig. 4) iSni!ei> rpers eingefügt, z.B. gelötet sein. Der
[Pie Fig. 3 und 4 zeigen Querschnitte von Ausfühjngsbeispielen des Hatbleiterbaueleinentes mit den eichen Bezeichnungen wie in Fig. I und2. Hierbei am der Halbleiterkörper 3 zwischen den gasdichten ί B. gepreßten) Bereichen 1 b und 2 b eines plattenrmiffen (F ig. 3) oder topf artigen (F ig. 4) iSni!ei> rpers eingefügt, z.B. gelötet sein. Der
offmantel9 legt an den porösen Gebieten la is
. 2 a der Siutermetailkörper ί und 2 an, dringt in
e zumindest teSweise ein und bfldet damit die erforderliche
gas- und feuchtigfceitsfeste Abdichtung.
Der Druckkontakt wird hierbei, wenn erforderlich,
durch den (eventueJ! gepreßten) Kunststoffmantel
In allen Fällen kann eine homogene, dichte und
alterangsbeständige Verbindung zwischen den einzelnen
Bauteilen hergestellt weiden, wenn die Sintennetallteüe
mit reinem Kunststoff (vor dem Zusammenbau) getränkt sind. Der Kunstoffmantel 9 selbst besteht
dann zweckmäßigerweise aus dem gleichen Kunststoff, der jedoch mit Füllstoffen versetzt ist Die
Füllstoffe können bei einem Kunststoff auf Epoxidharzbasis
z.B. Metalloxide oder Mineralraehle, wie
Quarzmehl, sein. Beim Aufbringen des Kunststoffmantels
sol der in die Poren der aus Sintermetall bestehenden Gehäuseteile vorher eingedrungene Kunststoff
wieder erweichen, um dann mit dem aufgepreßten Kunststoff eine homogene duroplastische Verbindung
zu bilden.
Hierzu 1 BlattZeichnungen
Claims (1)
1. Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtig- s iösi, daß die aus porenkaltigeni Sintermetall beste-""'"'tern
Gehäuse aus Sintermetall und faenden Gehäuseteile jeweils mindestens zwei Beiff,
dadurch gekennzeichnet, reiche verschiedenen Raumerfüllungsgiades und/
die ans porenhaltigem Sintermetall bestehen- oder verschiedener Porengröße besitzen und zur
Gehäuseteile (1, 2) jeweils mindestens zwei Gas- und Feuchtigkeitsabdichtung des Gehäusein-
(Ia, 2a; Ib7 2b) verschiedenen Raum- io nenraumes mindestens teilweise von angrenzendem
und/oder verschiedener Poren- Kunststoff durchdringen sind.
e besitzen und zur Gas- und Feuditigkeitsab- Bs ist insbesondere günstig, wenn in einem Gehäudes
Gehäuseinnenraumes mindestens seteüL das mit Kunststoff in Berührung steht, der
e von angrenzendem Kunststoff (9) Raumerfüllungsgrad des porenhaltigen Sintermetalls
drangen sind. 15 nur zwischen etwa 0,5 und 0,8 (RaumfüHung 50 bis
Halbleiterbauelement nach Anspruch 1, da- SG8Zo) legt. FIr das übrige Gehäuseteil des poren-1
gekennzeichnet, daß der RaumerfuTIungs- haltigen Sintermetalls, das mit dem Halbleiterkörper
grad der verschiedenen Bereiche (la, 2a; Ib, in Berührung steht, bzw. an dessen Außenflächen die
2 b) der aus Sintermetall bestehenden Gehäuse- Kontaktierung für den Stromübergang erfolgt, ist es
teile (1, 2) zwischen 0,5 und 0,8 bzw. 0,9 und 1 20 dagegen besser, wenn der Raumerfüllungsgrad zwiliegt.
sehen 0,9 und 1 liegt.
Der mit der Erfindung gegenüber den bekannten Bauelement-Gehäusen erzielte technische Fortschritt
besteht darin, daß einerseits eine gute Verzahnung 25 und damit eine feste und dichte Verbindung der me-
tallischen Gehäuseteile mit dem anliegenden Kunststoff und andererseits eine einwandfreie Kontaktierung
mit dem Halbleiterkörper bzw. mit den äußeren Stromanschlüssen erreicht wird. So ermöglichen die
30 dichteren Bereiche des porenhaltigen Sinterteils eine einwandfreie Lötverbindung mit dem Halbleiterkör-
Die Erfindung bezieht sich auf ein Halbleiterbau- per bzw. auch im Falle des Druckkontaktes eine sielement
mit gas- und feuchtigkeitsdichtem Gehäuse cheie Druckkontaktierung mit dem Halbleiterkörper,
aus Sintermetall und Kunststoff. An den Außenflächen des Gehäuseteils ermöglichen
Es ist bereits bekannt (deutsches Gebrauchsmuster 35 die dichteren Bereiche des Sinterkörpers eine Metal-1
865 182), bei Halbleiterbauelementen mit einem lisierung, z. B. mit Zinn oder Zinnlegierungen, für
aus Metall und Kunststoff bestehenden Gehäuse die das Anbringen von Stromanschlüssen.
Metallteile, wie die Grundplatte und das Anschluß- Als Werkstoffe für die aus porenhaltigem Sinterteil, mit schwalbenschwanzförmigen Vorsprüngen metall bestehenden Gehäuseteile kommen z.B. SU- bzw. Einbuchtungen zu versehen, die den Kunststoff- 40 ber, Kupfer, Eisen, Molybdän, Wolfram sowie die körper fest mit ihnen verankern. Verbundmetalle WCu, MoCu, WAg, MoAg, FeCu
Metallteile, wie die Grundplatte und das Anschluß- Als Werkstoffe für die aus porenhaltigem Sinterteil, mit schwalbenschwanzförmigen Vorsprüngen metall bestehenden Gehäuseteile kommen z.B. SU- bzw. Einbuchtungen zu versehen, die den Kunststoff- 40 ber, Kupfer, Eisen, Molybdän, Wolfram sowie die körper fest mit ihnen verankern. Verbundmetalle WCu, MoCu, WAg, MoAg, FeCu
Weiterhin ist eine Halbleiteranordnung mit einer od. dgl. in Betracht. Als Kunststoffe kommen überKapselung
aus einem aushärtenden Kunststoff mit wiegend Preßmassen auf Epoxidharzbasis bzw. thereingelagertem
Füllstoff bekannt (deutsche Auslege- moplastische Kunststoffe in Frage,
schrift 1 252 321), bei der entsprechende Gehäuse- 45 An Hand der schematischen Zeichnung von Austeile zur Erzielung einer einwandfreien gegenseitigen führungsbeispielen werden weitere Einzelheiten erVerbindung mit der Kunstharzkapsel auch mit aufge- läutert.
schrift 1 252 321), bei der entsprechende Gehäuse- 45 An Hand der schematischen Zeichnung von Austeile zur Erzielung einer einwandfreien gegenseitigen führungsbeispielen werden weitere Einzelheiten erVerbindung mit der Kunstharzkapsel auch mit aufge- läutert.
rauhten Oberflächenteilen versehen sein können. F i g. 1 und 2 zeigen im Querschnitt und in der
Außerdem ist es bekannt (deutsche Auslegeschrift Aufsicht ein Halbleiterbauelement in Druckkontakt-1185
901), für die Herstellung von Durchführungen 50 ausführung. Eine Halbleiterscheibe 3 liegt — durch
bei Gleichrichtern Sinterschichten zu verwenden, die die Wirkung einer Feder 4 — im Druckkontakt zwidurch
Tränken der Poren mit Dichtungsmitteln abge- sehen zwei Sintermetallscheiben 1 und 2, die sich erdichtet
werden können. findungsgemäß aus jeweils zwei Bereichen 1 α und 1 b
ψ Es ist auch bekannt, bei Halbleiterbauelementen sowie 2 α und 2 b verschiedenen Raumerfüllungsgra-H
durch Verwendung von Sintermetall-Körpern mit un- 55 des und unterschiedlicher Porengröße zusammenset-H
terschiedlichem Porositätsgrad oder Porenvolumen zen. Die im Druckkontakt mit der Halbleiter-
'ijF ©ine gute, insbesondere temperaturweehselfeste Kön- scheibe 3 stehenden Sintermetallbereiche la und
ta1fitvei!blniöng mit dem Halbleiterkörper bzw, mit 2 a weisen voKiugsweise eine relativ kleine Dichte,
ι äußeren Aasehlußteilea zu erzielen (deutsche Ausle- Raumerfullungsgrad 0,5 bis 0,8 auf, während die
ί gesehriftea 1212639, 1170079, 1226212 und so Rückseiten Ib tmd Ib der SintermetaUsßheiben
USA.-Patentsehrift 3 243 862). zweckmäßig eine relativ große Dichte, Raumerfül-
!' Dureh die britlsehe Patentschrift 1119 764 ist lungsgrad 0,9 bis 1, haben, Wegen der geringen Poj
außerdem ein Halbleiterbauelement mit einer mit rosität lassen sich die Rückseiten bzw. Außenflächen
MetaUearÖfcetaverseteitenKunststofiiülle bekannt Ib und Ib gasdicht ausbilden und erlauben außer-
ί Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Ge- 65 dem eine problem!*eie Auflötung von Zuleitungen S
'■■ Muse der eingangs genannten Art für Hälbleiterbau- undo. Die Halbleiterscheibe und die SinterinetaU-f
elemente m schaffen, das gegen Gase und FeueMg- scheiben werden zwischen IsolierseMben? und 8 in
jfeeit undurchlässig ist, damit der empfindliche Halb- der Feder (Klammer) 4 gehalten und mit einem als
Priority Applications (17)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19681789005 DE1789005A1 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-20 | Eingekapseltes Halbleiterbauelement mit wenigstens teilweise aus Sintermetall und Kunststoff bestehenden Bauteilen |
DE19681789014 DE1789014B2 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-21 | Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuse |
CH1210969A CH495058A (de) | 1968-09-20 | 1969-08-11 | Gekapseltes Halbleiterbauelement mit wenigstens teilweise aus Sintermetall und Kunststoff bestehenden Bauteilen und Verfahren zu seiner Herstellung |
CH1211069A CH495057A (de) | 1968-09-20 | 1969-08-11 | Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem Gehäuse |
NL6912308A NL6912308A (de) | 1968-09-20 | 1969-08-13 | |
NL6912771A NL6912771A (de) | 1968-09-20 | 1969-08-21 | |
BE738238D BE738238A (de) | 1968-09-20 | 1969-08-29 | |
BE738957D BE738957A (de) | 1968-09-20 | 1969-09-17 | |
FR6931871A FR2018581A1 (de) | 1968-09-20 | 1969-09-18 | |
JP7456769A JPS4826674B1 (de) | 1968-09-21 | 1969-09-19 | |
GB46395/69A GB1278841A (en) | 1968-09-20 | 1969-09-19 | Sealed semiconductor devices |
FR6932050A FR2018557A1 (de) | 1968-09-20 | 1969-09-19 | |
SE12920/69A SE342716B (de) | 1968-09-21 | 1969-09-19 | |
GB46398/69A GB1272251A (en) | 1968-09-20 | 1969-09-19 | A method of applying material to a sintered part and a process for making a semiconductor device using this method |
ES371712A ES371712A1 (es) | 1968-09-21 | 1969-09-20 | Perfeccionamientos en la construccion de elementos semicon-ductores de carcasa hermetica al gas y a la humedad. |
US859794A US3597524A (en) | 1968-09-20 | 1969-09-22 | Semiconductor device with a gas and moisturetight housing |
US859795A US3598896A (en) | 1968-09-20 | 1969-09-22 | Encapsulated semiconductor device with parts formed of sinter metal and plastic |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19681789005 DE1789005A1 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-20 | Eingekapseltes Halbleiterbauelement mit wenigstens teilweise aus Sintermetall und Kunststoff bestehenden Bauteilen |
DE19681789014 DE1789014B2 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-21 | Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuse |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1789014A1 DE1789014A1 (de) | 1972-04-06 |
DE1789014B2 true DE1789014B2 (de) | 1973-03-29 |
DE1789014C3 DE1789014C3 (de) | 1973-10-11 |
Family
ID=25755981
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681789005 Pending DE1789005A1 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-20 | Eingekapseltes Halbleiterbauelement mit wenigstens teilweise aus Sintermetall und Kunststoff bestehenden Bauteilen |
DE19681789014 Granted DE1789014B2 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-21 | Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuse |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681789005 Pending DE1789005A1 (de) | 1968-09-20 | 1968-09-20 | Eingekapseltes Halbleiterbauelement mit wenigstens teilweise aus Sintermetall und Kunststoff bestehenden Bauteilen |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US3597524A (de) |
BE (2) | BE738238A (de) |
CH (2) | CH495058A (de) |
DE (2) | DE1789005A1 (de) |
FR (2) | FR2018581A1 (de) |
GB (2) | GB1278841A (de) |
NL (2) | NL6912308A (de) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1803307A1 (de) * | 1968-10-16 | 1970-05-21 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen einer festen Verbindung zwischen einem Kunststoff- und einem Metallkoerper |
DE2014289A1 (de) * | 1970-03-25 | 1971-10-14 | Semikron Gleichrichterbau | Scheibenförmiges Halbleiterbauele ment und Verfahren zu seiner Herstellung |
US3800192A (en) * | 1970-08-11 | 1974-03-26 | O Schaerli | Semiconductor circuit element with pressure contact means |
US3885243A (en) * | 1971-06-25 | 1975-05-20 | Bbc Brown Boveri & Cie | Semiconductor device |
US3992717A (en) * | 1974-06-21 | 1976-11-16 | Westinghouse Electric Corporation | Housing for a compression bonded encapsulation of a semiconductor device |
JPS51140619A (en) * | 1975-05-30 | 1976-12-03 | Pioneer Electronic Corp | Vibration member for acoustic convertor |
DE2556749A1 (de) * | 1975-12-17 | 1977-06-23 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleiterbauelement in scheibenzellenbauweise |
DE2840400C2 (de) * | 1978-09-16 | 1982-04-08 | Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim | Steuerbares Leistungs-Halbleiterbauelement |
US4414562A (en) * | 1980-07-24 | 1983-11-08 | Thermal Associates, Inc. | Semiconductor heat sink assembly including thermally responsive means for increasing compression as the temperature of said assembly increases |
DE3308661A1 (de) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | SEMIKRON Gesellschaft für Gleichrichterbau u. Elektronik mbH, 8500 Nürnberg | Halbleiterelement |
JPH0749815Y2 (ja) * | 1990-07-23 | 1995-11-13 | シャープ株式会社 | 表面実装型光結合装置 |
SE501855C2 (sv) * | 1990-11-19 | 1995-06-06 | Skf Ab | Gjutgods med ingjuten armering, samt förfarande för framställning av ett sådant gjutgods |
US5198958A (en) * | 1991-06-03 | 1993-03-30 | Amphenol Corporation | Transient suppression component |
US5339222A (en) * | 1993-04-06 | 1994-08-16 | The Whitaker Corporation | Shielded printed circuit card holder |
DE19934554A1 (de) * | 1999-07-22 | 2001-01-25 | Michael Stollenwerk | Wärmetauscher |
DE10103669B4 (de) * | 2001-01-27 | 2004-07-29 | Ksb Ag | Verfahren zur Herstellung eines mit Kunststoff überzogenen Gußstücks |
US6970360B2 (en) * | 2004-03-18 | 2005-11-29 | International Business Machines Corporation | Tamper-proof enclosure for a circuit card |
US8019451B2 (en) * | 2006-11-22 | 2011-09-13 | Target Brands, Inc. | Financial transaction product with media player |
US7841538B2 (en) * | 2007-10-31 | 2010-11-30 | Target Brands, Inc. | Transaction product with memory |
DE102007055018B4 (de) * | 2007-11-14 | 2021-05-12 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Verfahren zum Verbinden einer Edelmetalloberfläche mit einem Polymer |
KR20130099971A (ko) * | 2010-09-23 | 2013-09-06 | 코닝 인코포레이티드 | 반도체 재료의 미세구조를 변경하기 위한 기술 |
CN104124215B (zh) * | 2014-06-26 | 2017-02-15 | 江苏省宜兴电子器件总厂 | 一种焊接、键合和密封同步完成的封装结构和封装工艺 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3475662A (en) * | 1967-11-22 | 1969-10-28 | Westinghouse Electric Corp | Hermetically sealed electrical device |
-
1968
- 1968-09-20 DE DE19681789005 patent/DE1789005A1/de active Pending
- 1968-09-21 DE DE19681789014 patent/DE1789014B2/de active Granted
-
1969
- 1969-08-11 CH CH1210969A patent/CH495058A/de not_active IP Right Cessation
- 1969-08-11 CH CH1211069A patent/CH495057A/de not_active IP Right Cessation
- 1969-08-13 NL NL6912308A patent/NL6912308A/xx unknown
- 1969-08-21 NL NL6912771A patent/NL6912771A/xx unknown
- 1969-08-29 BE BE738238D patent/BE738238A/xx unknown
- 1969-09-17 BE BE738957D patent/BE738957A/xx unknown
- 1969-09-18 FR FR6931871A patent/FR2018581A1/fr not_active Withdrawn
- 1969-09-19 GB GB46395/69A patent/GB1278841A/en not_active Expired
- 1969-09-19 GB GB46398/69A patent/GB1272251A/en not_active Expired
- 1969-09-19 FR FR6932050A patent/FR2018557A1/fr not_active Withdrawn
- 1969-09-22 US US859794A patent/US3597524A/en not_active Expired - Lifetime
- 1969-09-22 US US859795A patent/US3598896A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH495058A (de) | 1970-08-15 |
GB1278841A (en) | 1972-06-21 |
GB1272251A (en) | 1972-04-26 |
BE738238A (de) | 1970-02-02 |
NL6912771A (de) | 1970-03-24 |
FR2018581A1 (de) | 1970-05-29 |
DE1789005A1 (de) | 1972-01-20 |
CH495057A (de) | 1970-08-15 |
FR2018557A1 (de) | 1970-05-29 |
DE1789014C3 (de) | 1973-10-11 |
NL6912308A (de) | 1970-03-24 |
DE1789014A1 (de) | 1972-04-06 |
BE738957A (de) | 1970-03-02 |
US3597524A (en) | 1971-08-03 |
US3598896A (en) | 1971-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1789014B2 (de) | Halbleiterbauelement mit gas- und feuchtigkeitsdichtem gehaeuse | |
DE2309825C2 (de) | Durchführung in Metall-Glas-Einschmelztechnik | |
DE2655659B2 (de) | Elektrisches Bauelement, insbesondere Trockenelektrolytkondensator | |
DE19733627C1 (de) | Elektrisch leitfähige Dichtung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE2928025A1 (de) | Elektrische niederdruck-entladungslampe | |
DE3150435C2 (de) | ||
DE1564665A1 (de) | Halbleiteranordnung und Verfahren zum Herstellen einer solchen | |
DE2844830C3 (de) | Verfahren zur Herstellung eines Kondensators mit einem geschlossenen, aus zwei Halbschalen gebildeten Kunststoffgehäuse | |
DE2416397B2 (de) | Ueberspannungsableiter | |
DE2631776C3 (de) | Elektrolytkondensator | |
DE7143424U (de) | Scheibenförmiger elektrischer Isolierkörper aus porigem Schaumkunststoff | |
DE2828412C2 (de) | Durchführung einer Leitung durch einen Wandteil eines Behälters | |
DE1514478C (de) | Umhülltes elektrisches Bauelement | |
DE3814764C2 (de) | Verwendung von ein galvanisches Element bildenden Stoffen zum Entfernen von letzten Wasserresten aus einem verschlossenen Fertigprodukt | |
DE2439838C3 (de) | Flächenhaftes Isoliermaterial für elektrische Betriebsmittel | |
DE2252830C2 (de) | Halbleiterbauelement mit einem Halbleiterelement in einem hermetisch geschlossenen Gehäuse | |
DE2439838A1 (de) | Flaechenhaftes isoliermaterial fuer elektrische betriebsmittel | |
DE2433824A1 (de) | Aus zwei gehaeusehaelften zusammengesetzter, plombierbarer handapparat fuer fernsprecheinrichtungen | |
DE2636629A1 (de) | Halbleiterbauelement mit scheibenfoermigem gehaeuse | |
DE1665969C (de) | Dichte Durchfuhrung eines oder mehrerer elektrischer und/oder Wärmeleiter durch einen Isolierkörper | |
DE1909282A1 (de) | In ein Gehaeuse luft- und feuchtigkeitsdicht eingebauter elektrischer Kondensator | |
DE2554464B2 (de) | Elektrischer Widerstand | |
DE3527360C2 (de) | Vorratskathode | |
DE3607025A1 (de) | Ferrit-chipinduktivitaet | |
DE2160115C3 (de) | Gasgefüllter Ableiter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |