DE1648814B2 - Spaltanordnung fuer massenspektrometer - Google Patents
Spaltanordnung fuer massenspektrometerInfo
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- DE1648814B2 DE1648814B2 DE1967A0057762 DEA0057762A DE1648814B2 DE 1648814 B2 DE1648814 B2 DE 1648814B2 DE 1967A0057762 DE1967A0057762 DE 1967A0057762 DE A0057762 A DEA0057762 A DE A0057762A DE 1648814 B2 DE1648814 B2 DE 1648814B2
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Spaltanordnung
für Massenspektrometer, die zwei Begrenzungskörper mit je einer einen Spalt begrenzenden Fache enthält.
In einem Massenspektrometer ist das Auflöungsvermögen
durch die Größe und die Qualität der Spalte am Ausgang der Ionenquelle und am Eingang des
Kollektors festgelegt. Wenn man ein extremes Auflösungsvermögen erhalten will, dann muß die Qualität der
Spalte außerordentlich groß sein. Es gibt zwar Spaltanordnungcn mit Spalten variabler Breite, doch
erfordern die bekannten Anordnungen zur Feineinstellung der Spalibreite eine Präzisionseinrichtung und eine
sehr genaue Kantenbearbeitung der Spalte.
So ist beispielsweise aus der US-PS 31 87 179 eine
Spaltanordnung für Massenspektrometer bekannt, bei der ein in der Breite stetig veränderbarer Spalt durch
zwei als Platten ausgebildete Begrenzungskörper gebildet wird, die mit Hilfe von Federn gegeneinander
gedruckt werden und bei der der Abstand zwischen den Platten durch eine keilförmige weitere Platte bestimmt
ist, die gegen die beiden Platten drückt. Durch Schraubeneinstellung der weiteren Platte längs eines
Führungsteils ist der Abstand zwischen den beiden Platten stetig veränderbar.
Nach der US-PS 29 46 8% ist ferner eine Spaltanordnung mit einem Spalt stetig veränderbarer Breite
bekannt, die tine feststehende Platte und eine damit zusammenarbeitende bewegbare Platte aufweist. Die
bewegbare Platte wird in Führungen gehalten, so daß der Schlitz rechteckförmig bleibt, sie wird mit Hilfe von
Federkraft von der feststehenden Platte weggedrückt fo und sie läßt sich mit Hilfe einer Schraubeneinstellvorrichtung
gegenüber der feststehenden Platte einstellen.
Bei beiden obigen Anordnungen ist eine Eichung erforderlich, bevor die Spaltbreite genau ermittelt
werden kann und es ist deshalb Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Spaltanordnung für
Massenspektrometer zu schaffen, bei der die Spaltbreite ohne Eichung genau festliegt.
814 Gemäß der Erfindung ist eine Spaltanordnung für Massenspektrometer, die zwei Begrenzungskörper mit
je einer, einen Spalt begrenzenden Fläche enthält dadurch gekennzeichnet daß die Fläche des einen
Begrenzungskörpers einen erhabenen Bereich aufweist, der durch elektrolytische Behandlung gebildet ist und
daß der erhabene Bereich die Oberfläche des anderen Begrenzungskörpers berührt.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist der erhabene Bereich als galvanischer Überzug
ausgebildet, wobei der galvanische Überzug zwei Abschnitte aufweist deren Abstand gleich der Spalthöhe
is1.
Die Dicken galvanischer überzüge können bekanntlich sehr genau gesteuert werden, so daß aneinander
grenzende Bauteile, die Oberflächenabschnitte aufwei sen, welche durch einen galvanischen Überzug beab
standet sind, zur Herstellung von fesien Spalten mn
Spaltbreiten von etwa 2.5· 10-'mm bis zu einigen
hunderstel Millimetern verwendet werden können.
Obgleicn beide Begren/ungskörper einer Spaltanordnung mit galvanischen Überzügen versehen sein
können, ist dies nicht unbedingt notwendig. In manchen
Fällen ist es zweckmäßig. Iw den einen Begren/ungskörper
ei..en zylindrischen Körper mit gleichförmig kreisrunden Querschnitt zu verwenden. In einem
Massenspektrometer hat die Verwendung von zylindrischen
Oberflächen zur Begrenzung der Spalte anstelle von planparallelen Obeiiliichen den Vorteil, daß der
Durchmesser der zylindrischen Oberflächen mehrmals so groß wie die Dicke der Platten sein kann, an denen
die spaltbildenden, planparallelen Oberflächen ausgebildet sind, ohne daß der maximale Eintrittswinkel eines
linearen Strahls verringert wird. Begrenzungskörper mit zylindrischen Oberflachen können daher leichter
mit der erforderlichen Genauigkeit ausgebildet werden.
Sie sind außerdem verschleißbeständiger beim Durchtritt von hochenergetischen Ionen oder Teilchen durch
den Spall
Anstelle von galvanischen Überzügen können die Oberflächenbereiche der Begrenzungskörper auch mit
Hilfe eines Elektroreinigungsverfahrens b/w. eines anodischen Prozesses in die gewünschte Form gebracht
werden.
Im folgenden sind zwei Ausführungsbeispiele anhand der Zeichnung ausführlich beschrieben.
Die Fig. 1 ist eine Draufsicht auf eine Spaltanordnung
für ein Massenspektrometer.
Die Fig. 2 ist ein Schnitt längs der Linie H-II der Fig. 1.
Die F i g. 1 und 1 sind perspektivische Ansichten zweier Ausführungsformen \on Begrenzungskörpern,
die in der Spaltanordnung nach der Fig. 1 verwendet werden können.
Gemäß den F i g. 1 und 2 dient eine Platte 1 mit einer Öffnung 2 zum Abstützen einer Begrenz.ungsschiene 3,
die zwei seitliche Vorsprünge 4 aufweist, welche zu beiden Seiten der öffnung 2 angeordnet sind. An den
Seitenkanten der Vorsprünge 4 sind Halteplatten 5 befestigt, die zusammen mit der Platte 1 eine Halterung
für Begrenzungskörper 6 und 7 bilden, welche einen Spalt 9 begrenzen. Mittels einer Feder 8 werden die
Begrenzungskörper 6 und 7 in der Halterung gehalten.
Gemäß der Fig.3 können die beiden Begrenzungskörper
6 und 7 aus den Nadeln eines Nadellagers bestehen. Der eine Begrenzungskörper 7 ist unplattiert,
während der andere Begrenzungskörper 6 Endabschnitte aufweist, die gleichförmig mit galvanischen Überzü-
gen gleicher Dicke versehen sind. Wenn diese Begrenzungskörper in der Spaltanordnung nach den
Fig.! und 2 eingebaut sind, dann begrenzen sie einen
Spalt 9, dessen Dicke gleich der Dicke der galvanischen Oberzüge ist.
Bei der in der F i g. 4 dargestellten Ausführungsfo-m
ist ein Begrenzungskörper 7 vorgesehen, der ähnlich dem nach der Jig. i ist, während ein aus einer Nadel
eines Nadellagers bestehender Begrenzungskörper 11 elekiroplauierte Endabsehnitte aufweist, die axial to
aufeinander ausgerichtet sind, aber einen unrunden Querschnitt besitzen. Die radialen Oberflächen dieser
Endabsehnitte sind in Form von Nockenscheiben ausgeDildet, so daß bei einer Drehung des Begrenzungskörpers 11 die Spallbreile des Spaltes 10 zwischen den
beiden Begrenzungskörpern 7 und 11 geändert wird. Auch die Begrenzungskörper 7 und 11 können in der
Spaltanordnung nach den fig. I und 2 verwendet
werden. Auf eine Beschreibung derjenigen Teile, mit denen der Begren/.ungsköi per 11 gedreht werden kann,
wird jedoch verzichtet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Spaltanordnung für Massenspektrometer, die zwei Begrenzungskörper nut je einer einen Spalt £
begrenzenden Fläche enthält, dadurch gekennzeichnet,
daß die Fläche des einen Begrenzungskörpers einen erhabenen Bereich aufweist der durch elektrolytische Behandlung gebildet
ist, und daß der erhabene Bereich die Oberfläche des ι ο
anderen Begrenzungskörpers berührt
Z Spaltanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet daß der erhabene Bereich als
galvanischer Oberzug ausgebildet ist und daß der galvanische Überzug zwei Abschnitte auiweist «S
deren Abstand gleich der Spalthöhe ist.
3. Spaltanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß bei einem zylindrischen Begrenzungskörper
der galvanische Überzug koaxial zur Zylinderachse ausgebildet ist.
4. Spaltanordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Überzug einen kreisförmigen
Querschnitt aufweist.
5. Spaltanordnung nach Anspruch i. dadurch gekennzeichnet, duß der Überzug einen nockenförmigen
Querschnitt aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB57970/66A GB1153167A (en) | 1966-12-28 | 1966-12-28 | Improvements in or relating to aperture devices for mass spectrometers |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1648814A1 DE1648814A1 (de) | 1971-08-05 |
DE1648814B2 true DE1648814B2 (de) | 1976-11-25 |
Family
ID=10480484
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1967A0057762 Granted DE1648814B2 (de) | 1966-12-28 | 1967-12-21 | Spaltanordnung fuer massenspektrometer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3546450A (de) |
DE (1) | DE1648814B2 (de) |
FR (1) | FR1549074A (de) |
GB (1) | GB1153167A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3800151A (en) * | 1971-06-08 | 1974-03-26 | Du Pont | Method for adjusting the ion beam height in a mass spectrometer |
GB8929029D0 (en) * | 1989-12-22 | 1990-02-28 | Vg Instr Group | Selectable-resolution charged-particle beam analyzers |
GB9219239D0 (en) * | 1992-09-11 | 1992-10-28 | Fisons Plc | Mass spectrometer with adjustable aperture mechanism |
WO2019213130A2 (en) * | 2018-04-30 | 2019-11-07 | Leidos, Inc. | An improved low-power mass interrogation system and assay for determining vitamin d levels |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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GB960237A (en) * | 1961-09-04 | 1964-06-10 | Ass Elect Ind | Improvements relating to mass spectrometer ion sources |
US3230362A (en) * | 1963-12-03 | 1966-01-18 | Gen Electric | Bakeable mass spectrometer with means to precisely align the ion source, analyzer and detector subassemblies |
US3238371A (en) * | 1963-02-11 | 1966-03-01 | Picker X Ray Corp Waite Mfg | X-ray beam attenuator |
-
1966
- 1966-12-28 GB GB57970/66A patent/GB1153167A/en not_active Expired
-
1967
- 1967-12-21 DE DE1967A0057762 patent/DE1648814B2/de active Granted
- 1967-12-26 US US693559A patent/US3546450A/en not_active Expired - Lifetime
- 1967-12-27 FR FR1549074D patent/FR1549074A/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE1648814A1 (de) | 1971-08-05 |
US3546450A (en) | 1970-12-08 |
GB1153167A (en) | 1969-05-29 |
FR1549074A (de) | 1968-12-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |