DE1619954A1 - Vorrichtung zum Erzeugen von Halbleiterkristallen mit gleichmaessigem Durchmesser - Google Patents
Vorrichtung zum Erzeugen von Halbleiterkristallen mit gleichmaessigem DurchmesserInfo
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/20—Controlling or regulating
- C30B15/22—Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal
- C30B15/26—Stabilisation or shape controlling of the molten zone near the pulled crystal; Controlling the section of the crystal using television detectors; using photo or X-ray detectors
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Description
DC 1559
DR, Γ, H, MAAS "-..*■
DRv W. G, PFEIFFER ,
.'■■■=■ pATENTAM WALTE
a MONCH E N 2 3 -
Pot* Oorning Corporation
MiäXand9 Michigan 48640* V* üt. A<
Vorrichtung sum1Ersaugen von Halbleiterkristallen alt
gleichmäßigem Durchmesser
Di· Erfindung besieht eich auf die Erzeugung von kristallinen
Stoffen und insbesondere auf eine verbesserte Vorrichtung
sum Ziehen von Halbleiterkrietallen nach dem Ciochraleki- ·
BAD
Verfahren«
V,B ist seit langem bekannt, Stäbe aus Halbleitermaterialien
aus Stoffen wie z.B. Silicium und Germanium nach dem
Gzochralski-Verfahren zu erzeugen» Bei diesem Verfahren wird
ein Kristallkeim in Kontakt mit einer Masse aus gesohraolzenein
Halbleitermaterial gebracht und dann langsam abgezogen, wodurch der Kristall in axialer Richtung unter Erzeugung
eines stabförmigen Körpers wuchst* Der monokristalline Stab,
der durch dieses Verfahren erzeugt wird, wird dann inStUkke
zerschnitten und für die Herstellung von elektronischen Halbleitereinrichtungen, wie z.B. Gleichrichtern, Transistoren u* dgl· verwendete
Ein· Hohwierigkeit, die bsi diesem Verfahren bisher aufgetreten
ist, besteht in der Herstellung eines Stabes Bit gleichmäßigem Durchmesser. PUr die Erzeugung von Halbleitereinriohtungen
hat die Gleiohföraigkeit der Scheiben
StUoke die Möglichkeit der McefttntrBeugung und die Verringerung
dee Abfalls sur Folge·
da» Csoohralski-Verfahren gleichmäßig zu halten.
BAD
Bin« erfindimgecetnäQe Vorrichtung tastet die Änderungen den
Stabdurohmeaaere ab und regelt die Ziehcesehwindigkeit und/
odtr die Sohtnelitesperatur so„ daß die Änderungen kompensiert
wsrdeno ])er Auedruck "Purchneaser", wie er hier verwendet
wird, bezeichnet den Purohmeeser eines kreisförmigen
Stabe er oder irgendeiner anderen Didkenabnesßung eines nicht
kreieförmigen fttabes, da das erfindungBgetaäQ* System ebenfalls
auf Stäbe mit anderen Formen einschließlich s,B.
ßeaüchteten dendritieehen Bahnen cder Bändern anwendbar let.
De« Abtaetayetea naoh dieser/Erfindung erapfringt die InfrarotstrahlUBß,
die ton dem Heciskue der Bohnelse an der Oren»
flUohe ewieohtn den Meniskus der Sohoelase und dem waohstnden
Krietall abfleetrahlt wird, IMt der Winkel der Strahiungeesiesion
eich raeoh iait kieii en Xnderuncen der Stelluag des
Meniskus ändert» kann «it dem »rfindunßegstiKßeä Abtaetsystes
eine auBgeaeiohnete 03eiehfttraißkeit des Stäbduroh-
«eeaere erhalten werden* /- ■-■ ■ .. . ■:· ., ■. ; :
Die Figur »elgt eina eoheaatiaoh· Ansicht liner «rfindungegeailBen
forriohtung,
litt Ötab 11, m.B. au» Silicium oder Oeraoaium, der auf eines
009031/1370 BAö
Keim 12 aus gleiohem Material gewachsen ist» wird aus einer
geschmolzenen Hanse 13 gezogen, die sieh β·Β« in «inen von
auBen oder unter Verwendung von elektrischen Widerständen erhitsten Uohinelztiegel o. dgl., wie allgemein bekannt, befindet.
Der KtIm 12 wird in einen Spannfutter 14 gehalten,
das an eine geeignete Ziehvorrichtung angehängt ist« welche
von einest Elektromotor 15 angetrieben wird» Wie beispielsweise
dargestellt iet, weist die Ziehvorrichtung «in
Zahnrad 16, das alt der Motorwelle gekoppelt ist, auf, und das mit einem »weiten Zahnrad 17 im Eingriff steht, das auf
einer Keilwelle 18 einer Leitspindel 19 angeordnet ist» die mit dem Bpannfutter 14 verbunden ist. Dne zweite Zahnrad 17 IHBt dl· Keilwelle in vertikaler Richtung durch dieses
Zahnrad hlndurohgleiten, wenn diese duroh dis Drehung
der Leitspindel 12 in der Kutter 20» die mit des Oeetell 21
verbunden iet, naeh oben geführt wird, wie lediglich eohe-■atiseh
dargestellt ist. Bin Paar von PUhrtsngaarmen 22 und
25 auf dem Oeetell 21 verhindert «int vertikal« Verechiebung
des Zahnrad·· 17. Irgendeine andere geeignete Einriohtung
sum Heben des Spannfutters 14 in vertikaler Riohtung
unter Verwendung «ine« 21«ktroaotor« kann das sb«a btsohriebene
System
000031/1370
aioh auf einer höheren Temperatur als der Umgebungsteoperatur,
so daß das Kristallwaohsturn stattfindet«Da die HaIbleitermasse
geschmolzenist, wird zwangsläufig eine Infrarotstrahlung von der Oberfläche emittiert und weiter wird
infolge der Oberflächenspannung des geschmolzenen Materials
ein Meniskus 24 an der Sohle des Stabes gebildet· wenn dieser nach oben gezogen wird«
Ein im Infraroten reflektierender Spiegel 25istauf die
Grensflacht zwischen dem Meniskus 24 und dem wachsenden Kristall
st ab 11 fokussiert· Die infrarotstrahlung, die von dieser
Pläohe abgestrahlt wird, wird von dea Upiegel auf ein
Infrarot tastgerrlt 26 reflektiert, das ζοB. »ine umgekehrt
vorgespannte Germanium- oder öilioiuudiode oder eine andere
bekannt« Einrichtung sein kann, die ein elektrisches Signal erzeugt« wenn Infrarotenergie auf die Vorrichtung
fällt.
Der Ausgang des Tastgerätee 26 wird zu einem Komperator 27
«uearomen mit einem yorbettimmten Standard- oder Rortaalsignal
geleitet und ein Abweiohungssignal wird in Abhängigkeit von
der GröB© der Abweichung des von dem Infrarottastgerät «raeugttn
Signals von dem Standard-Signal erhalten. Wenn «ewUneoht,
kann der Spiegel weggelassen und das Infrarottastßerät
?6 <Sir»kt auf di* Grerissfläohe zwischen Msniskue 24
1819954
■ - - 6 - '■;..■ ■ .
und Stab 11 gerlohtet werden. Das Ahweiohsignal wird wiederum
zu einer Steuereinrichtung 23 geleitet, die den zu den
Motor 15 gelieferten Strom modifiziert» so daß die Ziehgeaohwindigkeit
den Materials aus der Schmelze verfindert
wird und/oder den Strom modifiziert, der zu der Heizung
führt, um die Temperatur in der geschmolzenen Masse 13 aufreoht
zu erhalten.
Ks ißt bekannt« duQ die Geschwindigkeit, mit der der Kristall aus der Schmelze gezogen wird, mit dem Kristalldurohmesser
des Stabes in Beziehung steht und daQ die Temperatur
der geschmolzenen Masse ein wichtiger Faktor für die ßrttase
des unterkühlten Bereiches der Sohmelse ist« Da der
Durchmesser des kristallinen Stabes sum Teil durch die Oröe-
*· der unterkühlten PlHohe der Sohatlze bestimmt wird, kann
die Temperatur der Schmelze daher als Steuerung für den
Stabdurohaeessr verwendet werden* Duroh das äteuersignal,
da* γόη der Verrichtung, die oben besohrieben wurde, erzeugt
wird» kann entweder die Ziehgeaehwindigkeit oder die Temperatur der äohmelse gesteuert werden, um einen gleiohmäSigen
Durohaeeser au erhalten,und in einigen Fällen ist es wlinsohenswertt
beide gleichseitig su steuern, um «inen größeren ateuerbereich zu erhalten, obgleich dies notwendigerweise
mi einer komplizierteren und aufwendigeren Steuereinrichtung
führt, j, - '" .'
·■'«.■■/■ *"*Λ*|/13ΙΟ BADORtGINAt.
X)ae besohriebene ilyeteo kann tait großer Genauigkeit betrieben
werden, da, wenn dor Durohaeeetr dee Krietelle an der
EPitorruneegreneflftoh· etufenweiee sunitoat» die Strahlung·-
■•n^t» 41· Toil d*ia TaetgerÄt eapfangen wird, abnimat, da
•in grtJBtrer Teil d#r fokal wirkeaiaen PlHohe dee im Infraroten reflektierten Spiegele von dem relativ kühlen Kri·-
tall atiettlle yon dem geeohoolaenen Halbleitermaterial
könnt· Di«β yeraindert das Aiaegangesignal aua dem Infrarot-TaetgerHt«
Uogtkehrti wean der Durohtaeeser dee Kristalle
an der Kretarrungagrenefläoh· obaimat, wird des* größere
Seil ά·β fokal wirk»aeen Bereiohee von der auf höherer Teeptratwr
bifindllohea üohtael»· eingenonnen und ein kleinerer
9*11 int don auf niedrigerer Temperatur befindlichen Krie«
teil «ueeordaet· Ke nird daher ein größereβ Signal ale noraal
von den 2n£rarot-?aatg«?&t erseugt.
Sae Ueohriebeae Byβtea unterstellt, d&S da· Hireau der
. Uohaclie relativ au den Spiegel konstant Bleibt. Zahlreiobe
Blnrlohtufijtea «ifid bekanntv a« SdhaelaniTeaua konstant eu
halten» wnü daa Material au· der sohnelie gesogen wird·
8»B· kann Besefeiöktenganaterlal la dea die Sohaelse enthaltenden
Sien·! alt derselben Geschwindigkeit, alt der das
Material durch das Krlstalluaehatua abgesogen wird» auge-.»
«stit iterdiü. Alternativ kann der Winkel de· Spiegele in
009831/1370 bad 0RK3»«al
Abhängigkeit von der Änderung dee Sohmelzniveaus daroh Verwendung eines geeigneten üteuersysteas verändert werden oder
der Spiegel und die Taeteinriohtung können in vertikaler
Richtung naoh unten mit derselben Geschwindigkeit verechoben werden» mit der das Hiveau der SohaelBe absinkt«.
009831/1370
Claims (1)
- PatentansprücheVorrichtung zum Ziehen ifinßXieher stabförmiger Kristall« äüß eines1 Material sohiaelse mit einer Heizung, um die temperatur das geschmolzenen Materials aufrecht zu halfen und alt einem Elektromotor* Uta den Kristall nach oben aus dar Schmelze au ziehen» gekennzeichnet duroh im Infraroten sensible lasteinriohtungen, die optiech auf die örenaf!Hohe zwischen dem Kristall und der ge- »ohaölaenen Masse gerichtet sind, um ein elektrischen Signal zu erzeugen, das die Menge an abgestrahlter Ir-TCnergie» die durch die Tasteinriohtung empfangen anaeigt? duroh Einrichtungen, die elektrisch Bit den fttjsfeinrichtungen gekoppelt eind, um ein elektrisohee S.L^nal fortzuleiten, dan von den Tasteinrichtungen trfseußt wird? und duroh rait diesen verbundenei Einrichtungen, um den Durohraesaer dee Kristalle in Abhängigkeit von den erzeugten Signalen zu variiereno2. Vorrioiitung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen sum Verändern des Durchmessers dee Kristallsdie ziehgesahwindigkeit des Kristalle aus der' geschmolzenen Kasse variierene0 0 9831 /1370 , , , - BADORiQiNAL ;.5«, Vorrichtung nach Anspruch 1 und Z9 dadaroh gekennxeioh- mtt daß die Einrichtungen sum Verändern die Surohaeasers des Kristalle die Temperatur der geschmolzenen Mas*· einetelleno4» Vorrichtung nach Anspruch -1, dadurch gekennzeichnet, d»S die liünriohtunß zum Erzeugen eines elektrischen Signale in Abhiingigkeii von den Veränderungen des Signale» das von den Abtaeteinrichtungen erzeugt wird, Mittel sum Vergleichen dieeee Signale nit eines Standard-Signal aufseiet undein Signal eraeußt, das die Differenzen swi* eoheii den Utandard-Signal und den abgetaeteten Signal anzeigte5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet» dafl die Einrichtungen aun Verändern des Surehaeeeere des Kristalle Mittel zum Verändern der den Blektroaotor suge~ führten Tüitergi· aufweisen, Ub die giehgeeohwindigkeit dieses Krietalle au* der gesohnolzenen Masse zu .leren· ■ : '■■-":■..'.-'6· Vorriohtilne nach Anepruoh 4 und 5, dadurch gekennzeichnet,/daß die Einrichtung*ii zu» VerHndern des Durohnaeetre Kristalls Hittel -im Verändern der dem Helzeleaeat009931/t»70 BADOR!Q!NÄU16193S4ν sugefUhrt ·η Energie auf weisen, um die ^eisperatttr der geeohmole»nen Maeee zu variieren.7. torriohtung naoh Anspruch 1, 4 und 5» dadurch gekenn«eichnttt daß ein Iu Infraroten reflektierender Spiegel »wi-■ohen die Atitaoteinriohtunnen und die Grensfläohe einge-■ohaltet int, wobei dieeer Spiegel auf die (Jrenafläohe fokueiert und eo angeordnet let, daß er die empfangene ötrahlun/: auf die Abtaeteinriohtung reflektiert«0Ö9831/1370i ' ··'."-. BADL e e r s e i t e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US55165266A | 1966-05-20 | 1966-05-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1619954A1 true DE1619954A1 (de) | 1970-07-30 |
Family
ID=24202141
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19671619954 Pending DE1619954A1 (de) | 1966-05-20 | 1967-02-21 | Vorrichtung zum Erzeugen von Halbleiterkristallen mit gleichmaessigem Durchmesser |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
BE (1) | BE698691A (de) |
DE (1) | DE1619954A1 (de) |
GB (1) | GB1110146A (de) |
NL (1) | NL6702324A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2458792A1 (fr) * | 1979-06-08 | 1981-01-02 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Procede et dispositif de mesure du diametre de monocristaux pendant le tirage en bain fondu |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4617173A (en) * | 1984-11-30 | 1986-10-14 | General Signal Corporation | System for controlling the diameter of a crystal in a crystal growing furnace |
-
1967
- 1967-01-18 GB GB266867A patent/GB1110146A/en not_active Expired
- 1967-02-16 NL NL6702324A patent/NL6702324A/xx unknown
- 1967-02-21 DE DE19671619954 patent/DE1619954A1/de active Pending
- 1967-05-19 BE BE698691D patent/BE698691A/xx unknown
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2458792A1 (fr) * | 1979-06-08 | 1981-01-02 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Procede et dispositif de mesure du diametre de monocristaux pendant le tirage en bain fondu |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
BE698691A (de) | 1967-11-20 |
GB1110146A (en) | 1968-04-18 |
NL6702324A (de) | 1967-11-21 |
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