DE1616646B1 - Verfahren und schaltungsanordnungen zum messen der elektri schen leitfähigkeit eines prüflings - Google Patents
Verfahren und schaltungsanordnungen zum messen der elektri schen leitfähigkeit eines prüflingsInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren und Schaltungsanordnungen zum Messen der elektrischen
Leitfähigkeit eines Prüflings, die auf einer Induzierung des Prüflings durch den Wechselstrom der Erregerspule
eines Induktionssystems und einer Messung der durch den Prüfling in der Meßspule des Induktionssystems
induzierten Spannung mit Hilfe eines Verstärkers sowie eines phasenempfindlichen Gleichrichters
beruhen.
Derartige Einrichtungen, die insbesondere für die Messung der Leitfähigkeit von Erdformationen geeignet
sind, die von einem Bohrloch durchteuft werden, sind z. B. beschrieben worden in den USA.-Patentschriften
2 582 314, 2 582 315. Andere Einrichtungen ähnlichen Typs, die jedoch für die Messung
der Leitfähigkeit von Metallen bestimmt sind, sind in den USA.-Patentschriften 2 945 176,2 948 847
beschrieben. Bei diesen bekannten Vorrichtungen tritt die Erscheinung auf, daß die Wirbelströme, die
in den leitenden, in die Nähe der Erregerspule gebrachten Materialien induziert werden, ihrerseits in
der Meßspule ein sogenanntes »Meßsignal« induzieren, das in erster Annäherung eine zu der Leitfähigkeit
des untersuchten Materials proportionale Spannung hat. In Wirklichkeit besteht zwischen dem Meßsignal
und der Leitfähigkeit des untersuchten Materials keine vollständige Proportionalität. Selbst wenn
die ursprüngliche Einstellung sehr sorgfältig vorgenommen wird, tritt eine Störinduktion unmittelbar
zwischen der Erregerspule und der Meßspule auf. Ferner erzeugt der Skin-Effekt eine erhebliche
Phasenverschiebung zwischen dem Meßsignal und der an der Erregerspule angelegten Spannung. Da
ferner das Signal in der Meßspule nur eine geringe Amplitude hat, wird im allgemeinen mit den Meßspulen
ein Verstärker kombiniert, und es wird ein phasenempfindlicher Gleichrichter benutzt, der von
dem verstärkten Signal gespeist und mittels einer Bezugsspannung gesteuert wird, um die dem Signal
eigenen Störspannungen auszuschalten. Trotz des phasenempfindlichen Gleichrichters erhält man jedoch
nicht immer eine genaue Messung der Leitfähigkeit, und zwar als Folge der Übersteuerung des Verstärkers
durch Störspannungen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, diejenigen Fehler der bisher benutzten Geräte dieser
Art, die in den Geräten selbst entstehen, derart auszugleichen, daß die gelieferte Information möglichst
einzig und allein von der Leitfähigkeit der untersuchten Materialien abhängt.
Zur Lösung dieser Aufgabe werden erfindungsgemäß nacheinander folgende Verfahrensschritte vorgenommen:
a) Ermitteln des Phasenfehlers des Verstärkers mit Hilfe eines den Prüfling und die Meßspule
des Induktionssystems ersetzenden Hilfswiderstandes als Ausgangsgleichspannung des Gleichrichters
(erster Korrektursehritt);
5 6
b) Messen des gesuchten Wertes des Prüflings unter über den Steuereingang 31 einstellbar ist, der mit dem
Berücksichtigung des durch den Phasenfehler Ausgang eines Zwischen-Verstärkers 32 Verbin-
des Verstärkers bedingten Meßfehlers in der dung hat.
Weise, daß der Gleichrichter eine entsprechende Der HilfsWiderstand 18 ist zugleich an den Ein-
Phasenvoreinstellung erhält (Meßschritt). 5 gangspol34a eines Umschalters 34 angeschlossen,
dessen Ausgangspol 34 c mit einem Verstärker 36
Gemäß einer Abwandlung des erfindungsgemäßen verbunden ist, auf den ein phasenempfindlicher
Verfahrens wird unter Beibehaltung des ersten Kor- Gleichrichter 38 folgt, dessen Steuereingang 39 mit
rekturschrittes wie folgt verfahren: dem Ausgang der Phasenschieberstufe 30 verbunden
b) Ermitteln des durch den mechanischen Aufbau 10 g· Der **?&*& des Gleichrichters 38 ist mit dem
des Induktionssystems sowie des durch den Eingangspol 40 α eines Schalters 40 verbunden, des-Kopplungskoeffizienten
desselben bei der ver- sen AUSgangSpOl 40 & mit emem an dem Eingang; des
wendeten Meßfrequenz bedingten Fehlers mit Zwischenverstarkers 32 angeordneten Speicherkon-Hilfe
einer totalen Gegenkopplung vom Aus- densator 41 verbunden ist.
gang des Gleichrichters auf dessen Eingang beim ^ , fu eme* ** eme ^j zwei gegeneinandergeschalteten
Betrieb der Meßeinrichtung mit dem Prüfling, halben SP»le* geh^f; Μ^ψ1^42 ψ* dem <f ten
ebenfalls als Ausgangsgleichspannung des Emgang 43 emer Additionsstufe 44 verbunden, deren
Gleichrichters (zweiter Korrekturschritt); ™f&* BmS^S 45 mit einem Verstarker 46 mit ver-
v _ anderbarem Verstärkungsfaktor Verbindung hat. Der
c) Messen des gesuchten Wertes des Prüflings unter 20 Ausgang der Additionsstufe 44 ist mit dem Eingangs-Berücksichtigung
des durch den Phasenfehler pol 34 b des Umschalters 34 verbunden. Der Emgang
des Verstärkers bedingten Meßfehlers in der 48 des Verstärkers 46 mit veränderbarem Verstär-Weise,
daß der Gleichrichter eine entsprechende kungsfaktor ist mit dem Hilfswiderstand 18 verbun-Phasenvoreinstellung
erhält und unter Berück- den, während der Steuereingang 49 des Verstärkers sichtigung des durch den mechanischen Aufbau 25 46 mit einem Speicherkondensator 50 verbunden ist,
des Induktionssystems sowie des durch den der mit dem Ausgangspol 52 b eines Schalters 52 ver-Kopplungskoeffizienten
desselben bedingten bunden ist, dessen Eingangspol 52 a mit dem AusFehlers mit Hufe einer dem Verstärkereingang gang des phasenempfindlichen Gleichrichters 38 Vervorgeschalteten
Additionsstufe, die von diesem bindung hat. Der Ausgang des Gleichrichters 38 ist
Meßfehler im Sinne einer Eliminierung dessel- 3° ferner mit dem Eingangspol 54 a eines Schalters 54
ben beaufschlagt wird (Meßschritt). verbunden, dessen Ausgangspol 54b mit emem Speicherkondensator
56 und einem Lastkreis 58 verbun-
Durch die Anwendung dieser Verfahren läßt sich den ist. Mit 60 ist ein Generator bezeichnet, der in
eine sich selbsttätig korrigierende Schaltung zum steter Wiederholung Impulse liefert, die die Umschal-
Messen der Leitfähigkeit verwirklichen, da ja in 35 ter 26 und 34 und die Schalter 40, 52 und 54 steuern
jedem Zyklus vor der Vornahme der eigentlichen (Schaltfolgeerzeuger).
Messung die dem Verstärker eigene Phasenänderung F i g. 2 zeigt den Schaltzustand der Umschalter 26
ausgeglichen und die Amplitude der an dem Eingang und 34 und der Schalter 40, 52 und 54 während eines
des Verstärkers angelangenden Störspannung auf die zwei Korrekturschritte T1 und T2 und den Meßeinen
Kleinstwert gebracht werden, so daß eine sehr 40 schritt T3 umfassenden Meßzyklus,
geringe Leitfähigkeit eines Prüflings genau gemessen Fig. 3 zeigt die Form der am Eingang 19 und am werden kann. Ausgang 21 und an den Schaltpolen 26 a und 26 &
geringe Leitfähigkeit eines Prüflings genau gemessen Fig. 3 zeigt die Form der am Eingang 19 und am werden kann. Ausgang 21 und an den Schaltpolen 26 a und 26 &
Die Erfindung ist nachstehend unter Bezugnahme abgenommenen Signale.
auf die Zeichnungen beispielshalber erläutert. Ganz allgemein und noch vor dem durch das
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild einer erfindungs- 45 Arbeiten des Schaltfolgeerzeugers60 bestimmten Begemäßen
Schaltung; ginn eines Meßzyklus wird die von dem Frequenz-Fig. 2 und 3 zeigen verschiedene der Schaltung teiler 12 mit dem Teilungsverhältnis 2:1 gelieferte
der F i g. 1 entnommene Signale. Rechteckspannung mit der Frequenz / in dem Tief-Gemäß
Fig. 1 enthält eine erfindungsgemäße paßnlterl4 gefiltert, und ein sinusförmiges Signal
Schaltung zur Messung der Leitfähigkeit eines Prüf- 50 wird über den Verstärker 16 der Erregerspule 17 zulings
einen Generator 10, der eine rechteckförmige geführt. Wenn ein leitendes Material (Prüfling) in die
Spannung mit der Frequenz 2/ liefert und dessen Nähe der Spule 17 gebracht wird, liefert die Meß-Ausgang
über eine Leitung 11 mit emem Frequenz- spule 42 ein komplexes Signal der Form X+jY. Die
teiler 12 mit dem Teilungsverhältnis 2 :1 verbunden Komponente X ist eine Funktion der Leitfähigkeit
ist, der seinerseits mit einem Tiefpaßfilter 14 verbun- 55 des zu untersuchenden Materials. Die Komponente Y,
den ist, auf das eine Verstärkerstufe 16 folgt, die eine die mit dem Strom J0 in Phase ist, enthält eine von
mit einem Hilfswiderstand 18 in Reihe geschaltete der unmittelbaren Kopplung zwischen der Sende-Erregerspule
17 mit einem Strom /„ speist. Der Aus- spule und der Meßspule herrührende Störkompogang
des Generators 10 ist noch mit dem Eingang 19 nente Y1 und eine von dem SkinefEekt herrührende
einer Differenzierschaltung 20 verbunden, deren Aus- 60 Komponente Y2. In zahlreichen Sonderfällen ist die
gang 21 über zwei Dioden 22 und 24 mit zwei Fre- Komponente Y1 erheblich größer als X, so daß es
quenzteilern 23 und 25 mit dem Teilungsverhältnis wünschenswert ist, diese Störkomponente aus dem
2:1 verbunden ist, die an die Pole26a bzw. 26b Meßsignal auszuscheiden, ehe es an den Verstärker
eines Umschalters 26 angeschlossen sind. Der Aus- 36 gelangt.
gangspol26c des Umschalters 26 ist mit einem Tief- 65 Ferner wird die Rechteckspannung mit der Fre-
paßfilter28 verbunden, das ebenso wie das Tiefpaß- quenz 2/ wie aus Fig. 3 hervorgeht, über den Ein-
filterl4 ausgebildet ist, und auf das eine Phasen- gang 19 der Differenzierschaltung 20 zugeführt. Von
schieberstufe 30 folgt, deren Phasenverschiebung den am Ausgang 21 auftretenden positiven und nega-
tiven Nadelimpulsen werden die positiven über die
Diode 22 an den Frequenzteiler 23 mit dem Teilungsverhältnis 2: L und die negativen Nadelimpulse über
die Diode 24 an den Frequenzteiler 25 angelegt. Man erhält so an den Ausgängen der Frequenzteiler 23
und 25 und" damit an den Polen 26α und 26 b zwei
Rechteckspannungen mit der Frequenz /. die genau um eine Viertelperiode gegeneinander verschoben
sind.
Zu Beginn eines Meßzyklus verbindet der Um- xo schalter 34 während des ersten Korrekturschrittes T1
die Pole 34 a und 34 c, so daß der Verstärker 36 mit einer den Klemmen des Hilfswiderstandes 18 entnommenen
Bezugsspannung gespeist wird. Diese Spannung unterliegt der dem Verstärker 36 eigenen
Phasenverschiebung φ, bevor sie an den Eingang des phasenempfindlichen Gleichrichters 38 angelegt wird,
während eine bei 26a (s. Fig. 2) entnommene, hierauf im Tiefpaß 28 gefilterte und in der Phasenschieberstufe
30 einer Phasenverschiebung unterworfene Umschaltspannung an den Steuereingang 39 des phasenempfindlichen
Gleichrichters 38 angelegt wird.
Die Schließung des Schalters 40 während des Korrekturschrittes T1 stellt über den Verstärker 32 eine
Gegenkopplungsschleife her. die die Phasenverschiebung der Stufe 30 so einstellt, daß die am Steuereingang
39 angelegte Spannung gegenüber der Bezugsspannung um ψ phasenverschoben ist mit der Folge,
daß die an dem Schalterpol 54 α erscheinende und in dem Kondensator 41 gespeicherte Spannung einen
Kleinstwert hat. Nach der Öffnung des Schalters 40 hält dann die durch den Kondensator 41 aufrechterhaltene
und im Verstärker 32 verstärkte Fehlerspannung während des zweiten Korrekturschrittes T.2 und
während des Meßschrittes T3 die beim ersten Korrekturschritt
T1 eingestellte Phasenverschiebung in der
Phasenschieberstufe 30 aufrecht.
Wie aus F i g. 2 hervorgeht, behält während des zweiten Korrekturschrittes T1., der Schalter 26 seine
Schaltverbindung zwischen Pol α und c bei, während der Schalter 34 die Pole b und c verbindet, der Schalter
40 sich öffnet und der Schalter 52 sich schließt.
Während des zweiten Korrekturschrittes T., ist die
am Steuereingang 39 angelegte Umschaltspannung immer noch gegenüber der an den Klemmen des
Hilfswiderstandes 18 abgenommenen Bezugsspannung um φ phasenverschoben, und von den Komponenten
des bei 34 b abgenommenen Signals ergeben nur die mit I0 in Phase befindlichen ein Signal an den
Schaltpol 54a ab. Die durch den Schalter 52 nunmehr geschlossene weitere Gegenkopplungsschleife
wirkt daher so, daß die oben beschriebene störende Amplitude Y vor der Zuführung zu dem Verstärker
36 auf einen Kleinstwert gebracht wird. Der Verstärker 46 mit veränderbarem Verstärkungsfaktor
legt nämlich an den Eingang 45 der Additionsstufe 44 eine Spannung, welche mit der unmittelbar induzierten
Spannung Y1 in Gegenphase ist. und deren Amplitude zu der am Steuereingang 49 angelegten
und an den Klemmen des Kondensators 50 gespeicherten Gegenkopplungsspannung proportional ist.
Während des Meßschrittes Γ., besitzt die am Steuereingang 39 angelegte Spannung eine Phasenverschiebung
von (/'+.t/2 gegenüber dem Strom In,
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen weil der Schalter 26 vom Pol α auf den Pol b umgelegt
worden ist. Da ferner die Schalter 40 und 52 geöffnet sind und der Schalter 54 geschlossen ist,
tritt am Lastkreis 58 während des Meßschrittes T., und hierauf wegen des Speicherkondensators 56 während
der Korrekturschritte T1 und T., des nächsten
Meßzyklus eine Gleichspannung auf, die genau der Komponente X, dem reellen Teil des bei 346 abgenommenen
Signals, d. h. der Leitfähigkeit des untersuchten Materials proportional ist. Die in diesem
Signal vorhandene mit I0 in Phase befindliche Restspannung
wird durch den phasenempfindlichen Gleichrichter 38 ausgeschieden, der durch die Umschaltspannung
am Steuereingang 39 gesteuert wird, die dem Schalterpol 26b entnommen wird und dann
während des ersten Meßschrittes um r/· in den Stufen
28 und 30 phasenverschoben wurde.
Ein derartiger Meßzyklus gestattet also, mit großer Genauigkeit Leitfähigkeiten (Komponente X) zu messen,
die in der Größenordnung sehr unterschiedlich sind, da die in der Meßspule 42 induzierten Störsignale
F1 stark herabgesetzt werden, so daß keine
Gefahr besteht, daß sie den Verstärker 36 übersteuern, während die von dem gleichen Verstärker
eingeführten Phasenstörungen ebenfalls ausgeglichen werden.
Die Erfindung kann dahingehend abgewandelt werden, daß in den Fällen, wo die Störkopplung zwischen
der Erregerspule und der Meßspule nur sehr gering ist, der zweite Korrekturschritt wegfällt. An
Stelle einer Phasenverschiebung der Spannung am Steuereingang 39 gegenüber dem Strom I0 kann umgekehrt
auch eine Phasenverschiebung des Stromes I0 gegenüber der Spannung am Steuereingang 39 des
phasenempfindlichen Gleichrichters 38 angewendet werden. Hierfür kann zwischen dem Tiefpaßfilter 14
und dem Verstärker 16 die Phasenschieberstufe 30 angeordnet werden, deren Phasenverschiebung von
dem Verstärker 32 gesteuert wird, während das Tiefpaßfilter 28 unmittelbar mit dem Steuereingang 39
des phasenempfindlichen Gleichrichters 38 verbunden wird. Eine derartige Schaltung gestattet, die
Eigenphasenverschiebung des Verstärkers 36 auszugleichen und genaue Leitfähigkeitsmessungen dann
zu erhalten, wenn keine Gefahr besteht, daß der Verstärker 36 durch die Störkomponente Y übersteuert
wird.
Die Frequenzteiler 23 und 25, die an die Pole 26 a und 26 b zwei genau um eine Viertelperiode gegeneinander
verschobene Rechteckspannungen liefern, verdienen wegen der Genauigkeit der zu liefernden
Spannungen besondere Beachtung und sind von bekannter Bauart.
Die Umschalter 26 und 34 und die Schalter 40, 52 und 54 können eine beliebige Bauart aufweisen und
z. B. durch elektromagnetische Relais oder Schalttransistoren gebildet werden.
Die Ausbildung der Phasenschieberstufe 30 richtet sich nach der Dauer eines Meßzyklus. Bei langsamen
Zyklen kann die Phasenschieberstufe eine elektromechanische Anordnung mit einem Motor und einem
Drehkondensator enthalten, während bei schnellen Zyklen z. B. ein Halbleiterelement mit veränderbarer
Kapazität vorgesehen werden kann.
COPY
209 512/188
Claims (4)
1. Verfahren zum Messen der elektrischen Leitfähigkeit eines Prüflings, das auf einer Induzierung
des Prüflings durch den Wechselstrom der Erregerspule eines Induktionssystems und einer
Messung der durch den Prüfling in der Meßspule des Induktionssystems induzierten Spannung mit
Hilfe eines Verstärkers sowie eines phasenempfindlichen Gleichrichters beruht, gekennzeichnet
durch die Anwendung folgender, nacheinander vorzunehmender Schritte:
a) Ermitteln des Phasenfehlers des Verstärkers (36) mit Hilfe eines den Prüfling und die Meßspule
(42) des Induktionssystems (17, 42) ersetzenden Hilfswiderstandes (18) als Ausgangsgleichspannung
des Gleichrichters (38) (erster Korrekturschritt);
b) Messen des gesuchten Wertes des Prüflings unter Berücksichtigung des durch den Phasenfehler
des Verstärkers (36) bedingten Meßfehlers in der Weise, daß der Gleichrichter (38) eine entsprechende
Phasenvoreinstellung erhält (Meßschritt).
2. Verfahren zum Messen der elektrischen Leitfähigkeit eines Prüflings, das auf einer Induzierung
des Prüflings durch den Wechselstrom der Erregerspule eines Induktionssystems und einer
Messung der durch den Prüfling in der Meßspule des Induktionssystems induzierten Spannung mit
Hilfe eines Verstärkers sowie eines phasenempfindlichen Gleichrichters beruht, gekennzeichnet
durch die Anwendung folgender, nacheinander vorzunehmender Schritte:
a) Ermitteln des Phasenfehlers des Verstärkers (36) mit Hilfe eines den Prüfling und die Meßspule
(42) des Induktionssystems (17, 42) ersetzenden Hilfswiderstandes (18) als Ausgangsgleichspannung
des Gleichrichters (38) (erster Korrekturschritt);
b) Ermitteln des durch den mechanischen Aufbau des Induktionssystems (17, 42) sowie des
durch den Kopplungskoeffizienten desselben bei der verwendeten Meßfrequenz bedingten Fehlers
mit Hilfe einer totalen Gegenkopplung vom Ausgang des Gleichrichters (38) auf dessen Eingang
beim Betrieb der Meßeinrichtung mit dem Prüfung, ebenfalls als Ausgangsgleichspannung des
Gleichrichters (38) (zweiter Korrekturschritt);
c) Messen des gesuchten Wertes des Prüflings unter Berücksichtigung des durch den Phasenfehler
des Verstärkers (36) bedingten Meßfehlers in der Weise, daß der Gleichrichter (38) eine entsprechende
Phasenvoreinstellung erhält und unter Berücksichtigung des durch den mechanischen
Aufbau des Induktionssystems (17, 42) sowie des durch den Kopplungskoeffizienten desselben bedingten
Fehlers mit Hilfe einer dem Verstärkereingang vorgeschalteten Additionsstufe (44), die
von diesem Meßfehler im Sinne einer Elimmierung desselben beaufschlagt wird (Meßschritt).
3. Schaltungsanordnung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 1, bei dem der Erregerspule
des Induktionssystems ein sinusförmiger Strom zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltung einerseits aufweist:
— einen Schaltfolgeerzeuger (60), der die Zeitspanne des Korrekturschrittes und die Zeitspanne
des Meßschrittes festlegt;
-— den phasenempfindlichen Gleichrichter (38),
dessen einer Eingang mit dem Ausgang des Verstärkers (36) und dessen Steuereingang (39) mit
dem Ausgang einer Phasenschieberstufe (30) verbunden ist, die ein Reaktanzelement aufweist,
das in Abhängigkeit von der Amplitude eines durch einen Zwischenverstärker (32) zugeführten
Steuersignals veränderbar ist, während der Eingang dieses Verstärkers (32) mit einem Speicherkondensator
(41) verbunden ist,
und daß andererseits folgende Anordnung getroffen ist:
und daß andererseits folgende Anordnung getroffen ist:
— während der Zeitspanne des Korrekturschrittes ist der Eingang der Phasenschieberstufe (30)
über den ersten Kontakt (d) eines Umschalters
(26) mit einer Spannungsquelle der Spannung V1 von derselben Frequenz wie der des Stromes in
der Erregerspule (17) verbunden; der Eingang des Verstärkers (36) ist über den ersten Kontakt
(α) eines Umschalters (34) mit dem Hilfswiderstand (18) verbunden, der in Reihe mit der Erregerspule
(17) angeordnet ist und der Speicherkondensator (41) ist über einen Schalter (40) mit
dem Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38) verbunden, so daß eine Regelschleife
entsteht, die vom Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38) über den Speicherkondensator
(41), den Verstärker (32) und die Phasenschieberstufe (30) zurück zum Steuereingang
des phasenempfindlichen Gleichrichters führt und in der das Reaktanzelement der Phasenschieberstufe (30) auf einen solchen Wert
eingestellt wird, daß die Phasenverschiebung zwischen den Signalen an den beiden Eingängen des
phasenempfindlichen Gleichrichters (38) und damit die Ausgangsspannung des phasenempfindlichen
Gleichrichters (38) gegen Null geht;
— während der Zeitspanne des Meßschrittes ist der Eingang des Verstärkers (36) über den zweiten
Kontakt (b) des Umschalters (34) mit der Meßspule (42) verbunden, der Eingang der
Phasenschieberstufe (30) ist über den zweiten Kontakt (b) des Umschalters (26) mit einer Spannungsquelle
der Spannung V2 verbunden, die genau um eine Viertelperiode gegen die Spannung
Vj phasenverschoben ist; der Schalter (40) ist
offen und ein Lastkreis (58), an dessen Eingang ein Speicherkondensator (56) liegt, ist mit dem
Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38) über einen Schalter (54) verbunden.
4. Schaltungsanordnung zum Ausüben des Verfahrens nach Anspruch 2, bei dem der Erregerspule
des Induktionssystems ein sinusförmiger Strom zugeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
daß die Schaltung einerseits aufweist:
— einen Schaltfolgeerzeuger (60), der je eine Zeitspanne für jeden der beiden Korrekturschritte
und eine weitere Zeitspanne für den Meßschritt festlegt;
— den phasenempfindlichen Gleichrichter (38), dessen einer Eingang mit dem Ausgang des Verstärkers
(36) und dessen Steuereingang (39) mit dem Ausgang einer Phasenschieberstufe (30) verbunden
ist, die ein Reaktanzelement aufweist, das in Abhängigkeit von der Amplitude eines durch
einen Zwischenverstärker (32) zugeführten Steuer-
signals veränderbar ist, während der Eingang dieses Verstärkers (32) mit einem Speicherkondensator
(41) verbunden ist;
— die Additionsstufe (44), an die die Meßspule (42) und der Ausgang eines Verstärkers (46) mit
veränderbarem Verstärkungsfaktor angeschlossen ist, dessen Signaleingang mit dem Hilfswiderstand
(18) in Verbindung steht, der in Reihe mit der Erregerspule (17) liegt, und dessen Steuereingang
(49) für die Veränderung des Verstärkungsfaktors mit einem Speicherkondensator (50) in Verbindung
steht,
und daß andererseits folgende Anordnung getroffen ist:
— während der Zeitspanne des ersten Korrektur-Schrittes ist der Eingang der Phasenschieberstufe
(30) über den ersten Kontakt (α) eines Umschalters (26) mit einer Spannungsquelle der Spannung
V1 von derselben Frequenz wie der des Stromes
in der Erregerspule (17) verbunden; der Eingang des Verstärkers (36) ist über den ersten Kontakt
(a) eines Umschalters (34) mit dem Hilfswiderstand (18) verbunden, der in Reihe mit der Erregerspule
(17) angeordnet ist, und der Speicherkondensator (41) steht über einen Schalter (40)
mit dem Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38) in Verbindung, so daß eine
erste Regelschleife gebildet wird, die vom Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38)
über den Speicherkondensator (41), den Verstärker (32) und die Phasenschieberstufe (30) zurück
zum Steuereingang des phasenempfindlichen Gleichrichters führt und in der das Reaktanzelement
der Phasenschieberstufe (30) auf einen solchen Wert eingestellt wird, daß die Phasenver-Schiebung
zwischen den Signalen an den beiden Eingängen des phasenempfindlichen Gleichrichters
(38) und damit die Ausgangsspannung des phasenempfindlichen Gleichrichters (38) gegen
Null geht;
— während der Zeitspanne des zweiten Korrekturschrittes behält der Umschalter (26) seine
Stellung aus dem vorhergegangenen Schritt bei; der Eingang des Verstärkers (36) steht über den
zweiten Kontakt (b) des Schalters (34) mit dem Ausgang der Additionsstufe (44) in Verbindung,
und ein Speicherkondensator (50) ist über einen Schalter (52) mit dem Ausgang des phasenempfindlichen
Gleichrichters (38) verbunden, während der Schalter (40) geöffnet ist, wodurch eine
zweite Regelschleife gebildet wird, die vom Ausgang des phasenempfindlichen Gleichrichters (38)
über den Speicherkondensator (50), den Verstärker (46), die Additionsstufe (44) und den Verstärker
(36) zum phasenempfindlichen Gleichrichter (38) zurückführt und in der die Verstärkung
des Verstärkers (46) so geregelt wird, daß das Ausgangssignal des phasenempfindlichen Gleichrichters
(38) weiter vermindert wird und mithin die von der Meßspule (42) aufgenommene Stör-Spannung
kompensiert wird;
— während der Zeitspanne des Meßschrittes sind die Schalter (40 und 52) geöffnet, und der Umschalter
(34) wird in der während des zweiten Korrekturschrittes eingenommenen Stellung gehalten,
der Eingang der Phasenschieberstufe (30) ist über den zweiten Kontakt (δ) des Umschalters
(26) mit einer zweiten Spannungsquelle der Spannung V2 verbunden, die genau um eine viertel
Periode zur Spannung V1 phasenverschoben ist, und ein Lastkreis (58), an dessen Eingang ein
Speicherkondensator (56) liegt, ist mit dem Ausgang des Gleichrichters (38) über einen Schalter
(54) verbunden.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB2519966X | 1946-06-11 | ||
FR903329A FR1335569A (fr) | 1962-07-07 | 1962-07-07 | Perfectionnements aux appareils de mesure de conductivité par induction |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1616646B1 true DE1616646B1 (de) | 1972-03-16 |
Family
ID=32232261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1963S0085771 Pending DE1616646B1 (de) | 1946-06-11 | 1963-06-21 | Verfahren und schaltungsanordnungen zum messen der elektri schen leitfähigkeit eines prüflings |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US2519966A (de) |
BE (1) | BE633100A (de) |
DE (1) | DE1616646B1 (de) |
GB (1) | GB1001379A (de) |
NL (2) | NL294973A (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2410067A1 (de) * | 1974-02-06 | 1975-08-07 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur beruehrungslosen messung von leitfaehigkeit und/oder temperatur an metallen mittels wirbelstroeme |
WO2012152724A3 (en) * | 2011-05-06 | 2013-01-10 | Services Petroliers Schlumberger | Systems and methods for investigating a formation surrounding a borehole |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4334192A (en) * | 1979-01-29 | 1982-06-08 | Garrett Electronics | Metal detector circuit having automatic tuning with multiple rates |
US4303879A (en) * | 1979-01-29 | 1981-12-01 | Garrett Electronics | Metal detector circuit with mode selection and automatic tuning |
US4439831A (en) * | 1981-06-08 | 1984-03-27 | Schlumberger Technical Corporation | Digital induction logging system including autocalibration |
US4412207A (en) * | 1981-06-08 | 1983-10-25 | Schlumberger Technical Corporation | Digital induction logging tool including a floating point A/D |
US4455529A (en) * | 1981-06-08 | 1984-06-19 | Schlumberger Technology Corporation | Digital induction logging tool including means for measuring phase quadrature components in a phase sensitive detector |
GR75678B (de) * | 1981-06-08 | 1984-08-02 | Schlumberger Ltd | |
US4499422A (en) * | 1981-06-08 | 1985-02-12 | Schlumberger Technology Corporation | Digital induction logging tool including means for compensating for phase shift errors |
US4499421A (en) * | 1981-06-08 | 1985-02-12 | Schlumberger Technology Corporation | Digital induction logging system including means for generating a plurality of transmitter frequencies |
US4720681A (en) * | 1981-06-08 | 1988-01-19 | Schlumberger Technology Corporation | Digital induction logging tool |
US4491798A (en) * | 1981-12-21 | 1985-01-01 | Palmer James K | System for measuring conductivity of a liquid |
US4513376A (en) * | 1982-01-12 | 1985-04-23 | Schlumberger Technology Corporation | Phasor processing of induction logs including skin effect correction |
US4471436A (en) * | 1982-01-12 | 1984-09-11 | Schlumberger Technology Corporation | Phasor processing of induction logs including shoulder and skin effect correction |
US4467425A (en) * | 1982-01-12 | 1984-08-21 | Schlumberger Technology Corporation | Deconvolution filter for induction log processing |
US4604581A (en) * | 1983-01-11 | 1986-08-05 | Halliburton Company | Method and apparatus for deconvolving apparent conductivity measurements in induction well logging |
US4825168A (en) * | 1986-05-30 | 1989-04-25 | Cobe Laboratories, Inc. | Remote conductivity sensor using square wave excitation |
GB2191293B (en) * | 1986-05-30 | 1990-10-17 | Cobe Lab | Remote conductivity sensor |
DE3705308A1 (de) * | 1987-02-19 | 1988-09-01 | Foerster Inst Dr Friedrich | Induktives suchgeraet |
DE3707210A1 (de) * | 1987-03-06 | 1988-09-15 | Foerster Inst Dr Friedrich | Induktives metallsuchgeraet |
US4837517A (en) * | 1987-07-16 | 1989-06-06 | Schlumberger Technology Corporation | Spatial frequency method and apparatus for investigating earth conductivity with high vertical resolution by induction techniques |
US5184079A (en) * | 1990-11-13 | 1993-02-02 | Schlumberger Technology Corporation | Method and apparatus for correcting data developed from a well tool disposed at a dip angle in a wellbore to eliminate the effects of the dip angle on the data |
US6216089B1 (en) | 1999-09-07 | 2001-04-10 | Schlumberger Technology Corporation | Method and apparatus for producing a conductivity log unaffected by shoulder effect and dip from data developed by a well tool |
US6586939B1 (en) * | 1999-12-24 | 2003-07-01 | Baker Hughes Incorporated | Method and apparatus for reducing the effects of parasitic and galvanic currents in a resistivity measuring tool |
US7027922B2 (en) * | 2003-08-25 | 2006-04-11 | Baker Hughes Incorporated | Deep resistivity transient method for MWD applications using asymptotic filtering |
US7652478B2 (en) * | 2004-05-07 | 2010-01-26 | Baker Hughes Incorporated | Cross-component alignment measurement and calibration |
US7319331B2 (en) * | 2004-05-07 | 2008-01-15 | Baker Hughes Incorporated | Two loop calibrator |
US7932723B2 (en) * | 2004-05-07 | 2011-04-26 | Baker Hughes Incorporated | Borehole conductivity simulator verification and transverse coil balancing |
US7408355B1 (en) * | 2004-05-07 | 2008-08-05 | Baker Hughes Incorporated | Borehole conductivity simulator verification and transverse coil balancing |
US7205770B2 (en) * | 2004-05-07 | 2007-04-17 | Baker Hughes Incorporated | Borehole conductivity simulator verification and transverse coil balancing |
US7969153B2 (en) * | 2004-05-07 | 2011-06-28 | Baker Hughes Incorporated | Borehole conductivity simulator verification and transverse antenna balancing |
US7567869B2 (en) * | 2007-04-27 | 2009-07-28 | Baker Hughes Incorporated | Induction tool for detail evaluation of near borehole zone |
US7915895B2 (en) * | 2007-06-22 | 2011-03-29 | Baker Hughes Incorporated | Method of calibrating an azimuthal inductive cross-coil or tilted coil instrument |
DE102008020647A1 (de) * | 2008-04-24 | 2009-11-12 | Continental Automotive Gmbh | Vorrichtung zum Messen einer Sondenimpedanz |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2582315A (en) * | 1949-09-03 | 1952-01-15 | Schlumberger Well Surv Corp | Differential coil system for induction logging |
US2582314A (en) * | 1949-06-15 | 1952-01-15 | Schlumberger Well Surv Corp | Electromagnetic well logging system |
US2945176A (en) * | 1956-10-02 | 1960-07-12 | Emmett M Irwin | Induced flux method and apparatus for testing metals |
US2948847A (en) * | 1957-05-03 | 1960-08-09 | Welex Inc | Electromagnetic conductivity detection |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3123766A (en) * | 1964-03-03 | Airborne electromagnetic prospecting apparatus having | ||
US668760A (en) * | 1900-07-14 | 1901-02-26 | William W Stewart | Fountain-pen. |
US739720A (en) * | 1901-06-22 | 1903-09-22 | Jay G Rider | Fountain-pen. |
US776428A (en) * | 1904-01-29 | 1904-11-29 | Julius L Schnell | Feeder-bar for fountain-pens. |
US834541A (en) * | 1906-01-18 | 1906-10-30 | William A Welty | Fountain-pen. |
GB104980A (en) * | 1916-06-09 | 1917-03-29 | William Irving Ferris | Improvements in Fountain Pens. |
US1365191A (en) * | 1920-01-19 | 1921-01-11 | Richard E Perkins | Fountain-pen |
DE457043C (de) * | 1926-10-21 | 1928-03-08 | Heinrich Koehler | Auswechselbarer Tintenleiter fuer Fuellfederhalter |
US1818743A (en) * | 1929-09-26 | 1931-08-11 | Parker Pen Co | Adjustable feed for fountain pens |
US2338947A (en) * | 1939-05-11 | 1944-01-11 | Kovacs Theodor | Fountain pen |
US2413904A (en) * | 1943-04-17 | 1947-01-07 | Eterpen Sa Financiera | Writing instrument |
US2887650A (en) * | 1955-05-04 | 1959-05-19 | Newmont Mining Corp | Method of and apparatus for geophysical exploration |
US2995699A (en) * | 1955-08-05 | 1961-08-08 | Mullard Radio Valve Co Ltd | Geophysical survey apparatus |
US2929984A (en) * | 1956-01-12 | 1960-03-22 | Canadian Airborne Geophysics L | Method and apparatus for qualitative electromagnetic surveying |
US2948846A (en) * | 1956-11-01 | 1960-08-09 | Schlumberger Well Surv Corp | Well logging systems |
US3105190A (en) * | 1959-11-30 | 1963-09-24 | Dresser Ind | Induction logging system utilizing surface reciprocal producing means |
US3214686A (en) * | 1960-09-06 | 1965-10-26 | Newmont Mining Corp | Drill hole electromagnetic method and apparatus for geophysical exploration utillizing in-phase and out-of-phase nulling voltages |
-
0
- BE BE633100D patent/BE633100A/xx unknown
- NL NL132706D patent/NL132706C/xx active
- NL NL294973D patent/NL294973A/xx unknown
-
1947
- 1947-06-03 US US752039A patent/US2519966A/en not_active Expired - Lifetime
-
1963
- 1963-06-06 GB GB22565/63A patent/GB1001379A/en not_active Expired
- 1963-06-21 DE DE1963S0085771 patent/DE1616646B1/de active Pending
- 1963-07-03 US US292639A patent/US3340464A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2582314A (en) * | 1949-06-15 | 1952-01-15 | Schlumberger Well Surv Corp | Electromagnetic well logging system |
US2582315A (en) * | 1949-09-03 | 1952-01-15 | Schlumberger Well Surv Corp | Differential coil system for induction logging |
US2945176A (en) * | 1956-10-02 | 1960-07-12 | Emmett M Irwin | Induced flux method and apparatus for testing metals |
US2948847A (en) * | 1957-05-03 | 1960-08-09 | Welex Inc | Electromagnetic conductivity detection |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2410067A1 (de) * | 1974-02-06 | 1975-08-07 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur beruehrungslosen messung von leitfaehigkeit und/oder temperatur an metallen mittels wirbelstroeme |
WO2012152724A3 (en) * | 2011-05-06 | 2013-01-10 | Services Petroliers Schlumberger | Systems and methods for investigating a formation surrounding a borehole |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL132706C (de) | |
BE633100A (de) | |
GB1001379A (en) | 1965-08-18 |
US3340464A (en) | 1967-09-05 |
NL294973A (de) | |
US2519966A (en) | 1950-08-22 |
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DE3815009C2 (de) | ||
DE2633476C2 (de) | ||
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Legal Events
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E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 |