DE1573802A1 - Verfahren zum Sichtbarmachen von Fehlstellen in Korrosionsschutzschichten - Google Patents
Verfahren zum Sichtbarmachen von Fehlstellen in KorrosionsschutzschichtenInfo
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Description
SPERRYHAKDCORPORATIDH, xiew rofk 19s N. Y., USA
Verfahren zui^ Sichtbarmachen von Ft.-h) sii-llen in Korrosionsschutz
schichten
Die Erfindung besieht sich auf ein Verfahren, Löcher, Risse und
andere Fehlstellen in oxidischen Sonroalonsachu-tssöhlchten an aus
einem Stück bestehenden Siliciumschaltungen und anderen ebenen
Halbleiterbauelementen nachzuweisen. Die. mxvor erwähntes Fehlstellen
können nämlich zwischen den Ohmschen Schaltungsmuatern oder
-bilder^ die auf der ScÜutsschicht aufgebracht sind, und der"'SiIiciuniunterlage
und auch zu den aktiven oder passiven Bestandteilen des als Baueinheit ausgebildeten Schaltungselementcs elektrische
KursSchlüsse verursachen.
Ein Versagen der in einem eineigen Bauteil ausgebildete»
schaltungen und der anderen ebenen Halbleiterbauelemente, was man
häufig beobachtet, ist auf Risse oder Löcher in den oxidischen
Xorrosionsschutzschichten ssurilcksuführen, die sich in erster Linie
bei eines mangelnden Zusainraenhang der liefetbeständigen Schicht ergeben. Wenn derartige Riss« unter eiraeai beliebigen Teil des auf ge-
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■- ι «
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brachten Ohm&chen Schaltuagsbildes auftreten, können «ie dementsprechend
KursschlUsse mit den zugehörigen aktiven od^r passiven
Bestandteilen und mit der Unterlage hervorrufen, Hit "unterlage1*
sei hier das Ausgangsmaterial bezeichnet, in das die aktiven od*r
passiven Komponenten hineindiffundiert werden; es bildet einen Qö~
gensatz iu den Metall- oder ICeranlkteilsn,, auf denen diese Einheiten
gewöhnlich montiert werden.
Die Risse kann mar. mit Hilfe eines Mikroskops von hoher Auflösung
sehen; mit diesem kann man aber nicht feststellen, ob die Risse
tatsächlich die Korrosionsschu&aschicht durchdringen. Mit daia Verfahren geoSß der Erfindung kann man bestimmen, wieviele Rls3e, die
gewöhnlich in den Korroslonsscimtaschichten der aus einem Bauteil
bestehenden Siliciuaschaltungen oder der anderen ebenen Silicium«
bauelemente zu beobachten sind, die Schicht durchdringen und eoiait
für ein Versagen verantwortlich sind, oder die wirklich gefährlich
sind. Bislang kann näelich blo& da· '?örhanden3ein der Löcher odor
Risse in der Schutzschicht mikroskopisch beobachtet werden, und
B»an spekuliert dann, ob diese Risse für das elektrische fereagea
verantwortlich sein kSnntea.
Wenn derartige, einen Bauteil bildende Schaltungen weg*a Kuns-Schluß
des Ohaschen Schiiltuagsbildes mit der Unterlage oder mit
irgendwelchen passiven oder aktiven Komponenten, die in die Unterlage
hineingewachsen sind» auffallen, kanu man nach dem Verfahren
der Erfindung den genauen Bereich der Fehlstelle punktförmig festlegen.
Dan Verfahren kann sehr brauchbar sein, wenn ein Fenster
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oder Schirm in don aus einen einzigen Bauteil bestehenden Schaltungen hergestellt wird. Die Loch- und Hiftdichte des gesamten
Plattchens kann hiernach beurteilt werden, bevor das Ohnsche Schal
tungsbild aufgebracht wird, wodurch die Ausbeute an zuverlässigen Bauelementen vergrößert wird.
Hauptsiel der Erfindung ist ein Verfahren zum Nachweis und sur
Örtlichen Feststellung von Fehlstellen in Korrosionsschutiachichten an aus einem einsigen Stück bestehenden Siliciumschaltungen
oder an anderen ebenen Bauelementen.
Sin weiteres Hauptsiel der Erfindung ist ein nichtschädigendes
oder -serstörendes Prüfverfahren, in de» die Fehlstellen la den
Korroslonsschut»schichten der aus eines Stuck bestehenden Siliciumschaltungen oder anderen ebenen Halbleiterbauelementen be stiaett
werden»
Ein weiteres Ziel der Erfindung ist ein Verfahren, in den PotentialkuraschluBbahnen in den Korrosionsschutaschlchten der aus einem
einsigen Bauteil bestehenden Silieiumechaltungen oder der anderen
ebenen Halbleiterbauelemente nachgewiesen und Örtlich festgelegt
werden, bevor die Ohmscben Schaltungebilder aufgebracht werden«,
Weitere Ziele, Merkmale und Vorteile der Erfindung seien in Verbindung mit den beigefügten Figuren näher erläutert. Die Einzelheiten der Figuren geben die zu patentierenden Merkmale wieder.
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Figur 1 »arhfc die hauptsfichlichen Schritte des; Verfahrens geoSß
der Erfindung in For« von Blöcken anschaulich.
Figur 2 zeigt schematisch ein System sum Plattieren.
Die aus einen Bauelement bestehenden Siliciuttschaltungen oder anderen
ebenen Halbleiterbauelemente werden in ?m sich bekannter Weise
durch Diffusion durch eine Ebene hindurch und/oder gesetaiaäßig
orientierte KristallVerwachsungen (epitaxial) ausgebildet, so daß
diese Verfahren nicht näher beschrieben eu werden brauchen.
Der erste Schritt des Verfahrens gemäß der Erfindung besteht darin,
die Ohaschesn Sehaltiingsbilder und Äraschlußblnduisgen dadurch
au entfernen oder wegzufitsen, d&S auf die Oberfläche des Kristalls
oder des aus einen Stück bestehenden Schaltungselementes ein chemisches
Reagenmittel aufgebracht wird. Dieser Verfahrensschritt,
die Ohmschen Schaltungebilder zu entfernen, fällt jedoch weg, wenn
das Verfahren gemSß der Erfindung angewendet wird, bevor die Obmsehen
Schaltungsbllder aufgebracht oder niedergeschlagen worden, z. B. wenn wöhrend der Herstellung Abschirmvorgänge zur Qualitätskontrolle
vorgenommen werden.
Als nächstes wird die mit einer Korrosionsschutsschicht versehene
Kristalloberfläche, von der die Ohmschen SchaltUBgsbilder weggefitst
sind, mit Lösemitteln abgespült, daait eine chemisch reine
Oberflache entsteht. Dann wird die mit der Schutzschicht versehene
Kristalloberfl&che mit Luft trocken geblasen oder auch auf andere
Welse getrocknet«
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In Figur 2 ist schexuatlsch ein Plattierungssysteai angedeutet, In
dem eine Mikrosonde oder Anode IO mit einem Ldber 12 in Verbindung steht» der seinerseits an der positiven Kieme 14 einer Stromquelle l6 liegt. Sin an der negativen Hemme 18 angeschlossener
Leiter 20 steht alt einen leitenden Tragkörper 22 in Verbindung» auf dem die Unterlage eines einen einsigen Bauteil bildenden
Schaltungselemente* 24 angeordnet 1st. Unmittelbar oberhalb der
mit der Schutzschicht versehenen Oberfläche des Schaltungselemente β ist in einem vorgegebenen Abstand ein Knde 26 der Anodensonde
10 angebracht. Der Oberfläche wird gerade so viel Kupfercyanidlosung sun Plattleren hinzugefügt» daft nur die gesamte, mit der
Anode in Kontakt stehende Fliehe gerade bedeckt wird, die Plattierungalusung jedoch nicht Über den Sand des Schaltungselementes
auf den leitenden Tragkörper 22 fließen darf.
Die elektrolytische Plattierungsl6sung fließt an den Hissen oder
Fehlstellen entlang oder in diese hinein; falls sich derartige Fehlstellen durch die oxidischen Korrosionsschutsschichten bis sur
Unterlage und/oder bis au den aktiven oder passiven Komponenten erstrecken, die in die Unterlage hineingewachsen sind, geht der
dbrom durch die Unterlage sum leitenden Tragkörper 22 hindurch·
Wie einleuchtet, wird infolg· der Zuführung von 3troe in den Kreis,
der die Stromquelle, die Anode, die elektrolytische PlattierungalOeung, die unterlage und den leitenden Tragkörper enthalt, durch
die Fehlstellen hindurch bis sur Unterlage «ine SlektrcplAttieruag
bewirkt. In gleicher Welse werden auch dl· Fehls teilen elefctro«
plattiert, die durch die oxidiscben Iorroaionsechut*echichfcen
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m j —
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oberhalb der aktiven oder passiven Komponenttn hindurchgehen, die
in die Unterlage hineingewachsen sind. Die Ergebnisse sind leicht i» Mikroskop erkennbar.
Wenn bein Herstellungsverfahren des Halbleiterbauelenentes Kristall Verwachsungen regelmäßig orientiert werden und die Fehlstellen oder Löcher durch die oxidische Schutsschicht su der auf der
Unterlage ausgebildeten epitaxialen Schicht hindurchgehen, erhllt man dieselben Ergebnir;r;e. In gleicher Weise bringen die Fehlstellen, die durch die oxidischen Korrosion»f?chutS3chicht«n oberhalb der aktiven oder passiven Komponenten hindurchgehen, die in
die epitaxiale Schicht hineingewachsen sind, bei der Elektroplattierung dasselbe Ergebnis mit sich.
Im Plattierungssystera braucht nicht unbedingt Kupfer Anwendung su
finden. Beispielsweise kann auch Nickel mit einer elektrolytischen
Plattierung3lÖ3ung für Nickel benutzt werden. Zahlreiche Plattierungslösungen und Anodenmaterialien lassen sich anwenden; die elektrolytische Plattierungslösung muß jedoch die Salse des Anodenmaterials enthalten.
Wenn die Plattierung fortgesetzt wird, kann nan das Vorrücke* o*r
Elektroplattierung unterm Mikroskop beobachten. Für die Meisten
Gegenstände sind annähernd 30 bis 60 see ausreichend. Der nlchete
Verfahrensachritt iet, wie bereits erkllrt, das Spulen and Trocknen. Schließlich wird die Probe unter» Mikroskop geprüft. Wenn eine Kupfersondo oder -anode in einer Xupferplattierunßslöeung be-
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nutzt wird, findet eich das Kupfer auf der Kristallfläche a« allen
Stellen, an denen ein Stroaweg durch die oxidische Korrosionsschutzschicht sur Unterlage oder zu den aktiven und passiven Komponenten
innerhalb der Unterlage oder zur epitaxialen Schicht und
den eindiffundierten Koaponenten hindurchgeht, falls das Halblei»
terb&ueleaent epitaxial ausgebildet ist. Wie bemerkt, werden die
Emitter und Kollektorf enater von Transistoren und die Kathodenfenster
von Dioden mit Kupfer plattiert. Die Widerstandsfenster werden
auch plattiert. Dementsprechend werden unerwünschte l*Ccher in
den oxidischen Korroeioneschuteschichten durch die Kupferplattierung
sichtbar gemacht. Die Fehlstellen oder Löcher, die den Betrieb eines eine Baueinheit bildenden Schaltungselementes stören,
zeigen dich als pilsföralge Vachßtuasfigur des Kupfers auf der
Oberfläche, wodurch sie genau angezeigt und Örtlich festgelegt
werden.
- 7 > BAD ORIGINAL
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Claims (7)
- PATENTANSPRÜCHEJ. Verfahren sum Nachweis und kus" Örtlichen Festlegung von Löchern oder Poren innerhalb oxidischer Korrosionaschutasehichten, die auf einer Unterlage eines ebenen Halblciterbauelenentes gewachsen sind ,dadurch gekennzeichnet, dada) dad Bauelement durch Reinigung vorbereitet wird,b) eine elektrolyt!sehe Plattierungsiösung den oxidischen Korrosionsschutz»chichten derart hinzugesetzt wird, da3 diese nur gerade bedeckt sind, undc) eine Elektroplattierung durch dio Löcher oder Poren hindurch erfolgt, wobei dieee visuell sichtbar werden.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, bei den das durch einen Diffusionsproaeß in der Ebene ausgebildete Halbleiterbauelement eine Unterlage oder Basis, diffundierte Schichten mit Verunreinigungen, oxidische Oberfl&chenkorrosionsschutsschichten und Ohmache Schaltungsbilder oder -muster enthält, die auf diesen Schutzschichten in Kontakt mit den betreffenden diffundierten Schichten alt den Verunreinigungen aufgebracht sind, und bei dem die Löcher oder Poren rollig durch die oxidischen Schutzschichten bis zur Unterlage und den aktiven und passiven Komponenten hindurchgehen, die An daß Bauelement gewachsen sind, dadurch gekennzeichnet, daß eu Anfang die Ohms ehe η Scha]tungsbiider durch itz*>n entfernt und die Löcher oder Poren freigelegt werden, und d&ö die Blektroplattierung In der Weise ausgeführt wird, dnQ das Bauelement auf einen Leiter gelegt wird, der alt dem negativen FoI der St.rcw-- e ■· BAD ORIGINAL7 U 1J 8 2 k I ü 0 (i 9quelle verbunden ist, und eine Anode, die sit den positiven Pol der Stromquelle in Verbindung steht, Bit der Plattierungslömmg in Berührung gebracht wird.
- 3. Verfahret! nach. Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet , daß die Anode in einen vorgegebenen Abstand VJbQr den Oxidschichten angeordnet ist, daß die elektrolytische Plattierungolflsung in el.ior solchen Menge don Schichten hinsugesetet wird, daß die Schichten btdeckt werden und die Anodo berührt wird, wobei dio PDattierungslßsung völliß durch die Fehlstellen in den Korrosionsschutzschichten bis zur Unterlage und auch bis au den aktiven und passiven Komponenten hindurchgeht, die in die Unterlage gewachsen sind, und daß ein elektrischer Strom der PlatfcierungslÖ-sung zugeführt wird und eine Elektroplattierung durch die Fehlstellen hindurch bewirkt.
- 4. Verfahren nach Ansprüchen 2 und 3»dadurch g e kunnaoichnet, daß die Anode aus Kupfer und die Platg aua Kupfercyanid ist.
- 5» Verfahien nach AnBprüchen 2 und 3, dadurch g ekennso Lehnet , daß die Anode au» Nickel und die Plattiorungalösung auo NLckölöulfai; ist.
- 6, Verfahren nach Ansprüchen I - ) , ti a d u r e h ge ■■künnae lehnet, duß die Oberfläche nach der tleruiig gereitiLgt wird.BAD• 9 -20 9 D 2U!00 6 9
- 7. Verfahren aach Ansprach 6, dadurch g · Ic · a n»öichnet , daß die Slektroplattierung durch das KLkroakop beobachtet wird.BAD ORIGINAL824/0069
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US413167A US3384556A (en) | 1964-11-23 | 1964-11-23 | Method of electrolytically detecting imperfections in oxide passivation layers |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1573802A1 true DE1573802A1 (de) | 1972-06-08 |
DE1573802B2 DE1573802B2 (de) | 1973-05-17 |
DE1573802C3 DE1573802C3 (de) | 1973-12-06 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19651573802 Granted DE1573802B2 (de) | 1964-11-23 | 1965-12-04 | Verfahren zur visuellen unterscheidung von rissen, fehlstellen, loechern oder poren, die eine oxidische korrosionsschutzschicht auf einer unterlage aus einem ebenen halbleiterbauelement durchdringen, von den sonstigen (nichtdurchdringenden) rissen, fehlstellen, loechern oder poren |
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GB (1) | GB1081858A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0043639A1 (de) * | 1980-07-07 | 1982-01-13 | Trw Inc. | Verfahren zum Abscheiden eines Schmiedgleitmittels auf einem Titanwerkstück |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3522043A (en) * | 1966-12-07 | 1970-07-28 | Norton Research Corp | Method for masking electroluminescent diode |
US3530045A (en) * | 1966-12-27 | 1970-09-22 | James R Alburger | Electrically responsive color-forming method of nondestructive testing |
CH520331A (fr) * | 1970-02-17 | 1972-03-15 | Alusuisse | Procédé électro-chimique de caractérisation des pores traversants d'un diélectrique recouvrant une surface métallique et dispositif de mise en oeuvre du procédé |
US3964982A (en) * | 1974-07-22 | 1976-06-22 | The Boeing Company | Method and apparatus for controlling the degree of hydration in sealing of anodized aluminum |
US4125440A (en) * | 1977-07-25 | 1978-11-14 | International Business Machines Corporation | Method for non-destructive testing of semiconductor articles |
JPS5629153A (en) * | 1979-08-20 | 1981-03-23 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | Measuring method of exposed iron part for coated steel plate or its processed product |
DE3837290A1 (de) * | 1988-11-03 | 1990-07-05 | Heraeus Elektroden | Pruefung von elektroden mit aktivierungsschichten |
US20030224544A1 (en) * | 2001-12-06 | 2003-12-04 | Shipley Company, L.L.C. | Test method |
EP2225571A1 (de) | 2007-12-17 | 2010-09-08 | Nxp B.V. | Eingebettete struktur für passivierungsintegritätstests |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE627303A (de) * | 1962-01-19 | 1900-01-01 | ||
US3282805A (en) * | 1963-06-04 | 1966-11-01 | Western Electric Co | Method of detecting discontinuities in cable conductors |
-
1964
- 1964-11-23 US US413167A patent/US3384556A/en not_active Expired - Lifetime
-
1965
- 1965-11-12 CH CH1565765A patent/CH436777A/de unknown
- 1965-11-23 GB GB49686/65A patent/GB1081858A/en not_active Expired
- 1965-12-04 DE DE19651573802 patent/DE1573802B2/de active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0043639A1 (de) * | 1980-07-07 | 1982-01-13 | Trw Inc. | Verfahren zum Abscheiden eines Schmiedgleitmittels auf einem Titanwerkstück |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1081858A (en) | 1967-09-06 |
DE1573802B2 (de) | 1973-05-17 |
CH436777A (de) | 1967-05-31 |
DE1573802C3 (de) | 1973-12-06 |
US3384556A (en) | 1968-05-21 |
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