DE1564798C - Verfahren zur Erhöhung der Koerzitivfeldstarke von Speicherelementen aus dünnen magnetischen Schichten - Google Patents
Verfahren zur Erhöhung der Koerzitivfeldstarke von Speicherelementen aus dünnen magnetischen SchichtenInfo
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- 230000005291 magnetic Effects 0.000 title claims description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 5
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 16
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 238000005496 tempering Methods 0.000 claims description 10
- 150000002736 metal compounds Chemical class 0.000 claims description 8
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 230000005294 ferromagnetic Effects 0.000 claims description 7
- 229910003271 Ni-Fe Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 6
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 5
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N tin hydride Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 4
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 claims description 4
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 claims description 2
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 claims description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 2
- REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N aluminium(3+) Chemical group [Al+3] REDXJYDRNCIFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 12
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 230000004059 degradation Effects 0.000 description 3
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- -1 nickel-iron Chemical compound 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J Tin(IV) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atoms Chemical class [H]* 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005055 memory storage Effects 0.000 description 1
- 238000006263 metalation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible Effects 0.000 description 1
- CICKVIRTJQTMFM-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid;tin Chemical compound [Sn].OS(O)(=O)=O CICKVIRTJQTMFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Description
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Untersuchungen haben gezeigt, daß aus dünnen Stunde, bei einer Temperatur getempert, die obermagnetischen bzw. ferromagnetischen Schichten, . halb der Temperatur des Trägers der Speichermatrix
z. B. vorzugsweise magnetostriktionsfreien Ni-Fe- liegt, die dieser beim Aufdampfen der Speicherele-Schichten,
mit einer Vorzugsachse der Magnetisie- mente annimmt.
rung bestehende Speicherelemente sich nicht nur 5 Durch eine Temperung in einem senkrecht zu den
durch ein nach Betrag und Richtung experimentell magnetischen Vorzugsachsen der Speicherelemente
ermitteltes, impulsförmig angelegtes, einmaliges gerichteten magnetischen Gleichfeld lassen sich die
äußeres Magnetfeld (Steuerfeld) ummagnetisieren las- Werte für die Anisotropie und Koerzitivfeldstärke
sen, sondern daß sich bereits unter der Einwirkung der einzelnen Speicherelemente in erhblichem Maße
sehr vieler unterkritischer Steuerfeldimpulse, d. h. bei io steuern. Untersuchungen haben dabei gezeigt, daß
Impulsen einer Feldstärke, deren Betrag unterhalb eine Erniedrigung der Anisotropiefeldstärke HK und
des bei einmaliger Ansteuerung für die Ummagneti- eine Erhöhung der Koerzitivfeldstärke Hc durch die
sierung der Schicht notwendigen Wertes liegt, uner- Erhöhung der Tempertemperatur und/oder der Tem-
wünschte Ummagnetisierungen ergeben. Unter der perdauer erzielbar ist. Die Anisotropiefeldstärke und
Einwirkung dieser unterkritischen Impulse wird die 15 das Verhältnis der Koerzitivfeldstärke zu dieser kön-
Schicht nämlich durch das Kriechen der Wand- nen hierbei durch geeignete Wahl der Temperbedin-
domänenbereiche ummagnetisiert und hierdurch ein gungen in weiten Grenzen variiert werden. Die Tem-
unerwünschter Abbau der im Speicherelement ge- perung erfolgt im Hochvakuum,
speicherten Information verursacht Der vorliegenden Erfindung liegt ebenfalls die Auf-
Zur Vermeidung dieses Informationsabbaues bei 20 gäbe zugrunde, ein Verfahren zu schaffen, durch das
impulsmäßigem Betrieb eines aus diesen Speicher- Speicherelemente der eingangs genannten Art her-
elementen gefertigten Speichers werden an die magne- stellbar sind, deren gespeicherte Informationen auch
tischen Eigenschaften des Speicherelements bestimmte bei häufiger Teilansteuerung der Speicherelemente,
Forderungen gestellt. So muß z. B. die Koerzitivfeld- d. h. bei Einwirken vieler unterkritischer Steuerfelder
stärke Hc der ferromagnetischen, z. B. Nickel-Eisen- 25 auf die magnetischen Schichten, nicht abgebaut
Schicht genügend groß sein und soll angenähert dem werden.
Betrag der Anisotropiefeldstärke HK entsprechen, wo- Zur Lösung dieser Aufgabe schlägt die Erfindung
durch auch die Grenzfeldstärke HB max, durch die der vor, daß auf das aus einer ferromagnetischen Schicht,
Beginn des Informationsabbaues festgelegt ist, erhöht insbesondere wenigstens angenähert magnetostrik-
ist. Darüber hinaus soll die Winkeldispersion <x90, 30 tionsfreien Ni-Fe-Schicht, gefertigte Speicherelement
d. h. die Winkelstreuung der Vorzugsachse der Ma- ein unmagnetisches Metall, eine unmagnetische
gnetisierung in der magnetischen Schicht, niedrige Metallverbindung oder Metallegierung galvanisch auf
Werte annehmen, um zur Erzielung eines genügend die Speicherschicht aufgebracht und während und/
großen Arbeitsbereiches HBmax bis HBmin einen mög- oder nach dem Auftragen durch einen Tempervor-
lichst niedrigen Wert für die minimal erforderliche 35 gang in diese eindiffundiert wird.
Einschreibfeldstärke HBmin zu erhalten. Der Vorschlag nach der Erfindung nützt beispiels-
Zur Erhöhung der Koerzitivfeldstärke Hc bieten weise beim galvanischen Abscheiden eines in die
sich verschiedene Möglichkeiten an. Bei gleichzeitiger ferromagnetische Schicht eindringenden Metalls, d. h.
Forderung nach niedrigen Werten für die Winkel- eines sogenannten Diffusionsmetalls, den Effekt der
dispersion a90 sind jedoch nur beschränkt hohe Werte 40 reduzierenden Wirkung des an der Kathode (ferrofür
die Koerzitivfeldstärke erreichbar, da im allge- magnetische Schicht) entwickelten naszierenden Wasmeinen
jeder größere Anstieg der Koerzitivfeldstärke serstoffes aus, der die einer Eindiffusion des Diffumit
einer steigenden Winkeldispersion a90 verbun- sionsmetalls in die ferromagnetische Schicht hemden
ist. mend entgegenstehende Oxidschicht ganz oder teil-
Zur Erhöhung der Koerzitivfeldstärke um einen 45 weise entfernt, während das gleichzeitig abgeschiegewissen
Betrag, die ohne eine Änderung der Winkel- dene Metall oder auch die abgeschiedene Metalldispersion
Ct90 durchführbar ist, sind bereits söge- verbindung oder Metallegierung eine erneute Oxydanannte
magnetische Doppelschichten vorgeschlagen tion der magnetischen Schichtoberfläche verhindert,
worden, die vorzugsweise aus zwei jeweils wenigstens Zur Vermeidung einer schädlichen Beeinflussung
angenähert magnetostriktionsfreien Ni-Fe-Schichten 50 der ferromagnetischen Speicherschichten und gegemit
einer Vorzugsachse der Magnetisierung bestehen, benenfalls der Träger dieser Schichten empfiehlt es
die stapeiförmig übereinander aufgebracht und durch sich, unmagnetische Metalle, Metallegierungen oder
eine unmagnetische, gegebenenfalls elektrisch leitende Metallverbindungen mit niedrigem Schmelzpunkt als
oder auch elektrisch isolierende Zwischenschicht Diffusionsmetall zu verwenden. Untersuchungen
einer Dicke von z. B. 20 A getrennt sind (s. ältere 55 haben gezeigt, daß sich beispielsweise mit Indium,
deutsche Patente 1 247 398 und 1252 739). Kadmium, Zinn, Zink oder Wismut äußerst günstige
Darüber hinaus ist bereits ein Verfahren zur Ein- Ergebnisse, d. h. relativ hohe Werte für die Koerzitiv-
stellung der Koerzitiv- und Anisotropiefeldstärke der feldstärke der Speicherelemente, erreichen lassen.
Speicherelemente einer Matrix vorgeschlagen worden, Zweckmäßigerweise erfolgt die Temperung der
durch das die Speicherelemente mit ihren magneti- 60 magnetischen Schichten samt aaufgebrachtem Diffu-
schen Vorzugsachsen zueinander im wesentlichen sionsmaterial bei einer Temperatur, deren Wert nied-
parallel ausgerichtet und in ihrer Anisotropie- und riger ist als die Schmelztemperatur des auf die
Koerzitivfeldstärke noch frei wählbar sind. Die Spei- Speicherschicht aufgebrachten Metalls bzw. der auf
cherelemente der Matrix werden hierbei im Hoch- die Speicherschicht aufgebrachten Metallverbindun-
vakuum in.; einem parallel zu den untereinander zu- 65 gen oder Metallegierungen. Durch die Wahl des
mindest angenähert gleichen magnetischen Vorzugs- unterhalb der Schmelztemperatur des jeweiligen
achsen der Speicherelemente gerichteten magnetischen .. Diffusionsmaterials verweilenden Temperaturbereichs
Gleichfeld eine bestimmte Zeitdauer, z. B. eine £! wird ein Schmelzen des galvanisch oder elektro-
chemisch auf die magnetische Schicht aufgebrachten Diffusionsmaterials und damit dessen unkontrollierte
Verteilung auf der magnetischen Schicht verhindert.
Ein erheblicher, insbesondere fertigungstechnisch beachtlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Vor-Schlags
besteht darin, daß die Temperung in Luft durchführbar ist. Hierdurch erübrigen sich die bei
den bisher bekannten Verfahren zur Erhöhung der Koerzitivfeidstärke erforderlichen Vakuum-, d. h.
vor allem Hochvakuumanlagen, ohne daß dieser Verzicht zu ungünstigen magnetischen Schichten
führt.
Das erfindungsgemäße Verfahren ermöglicht es darüber hinaus, daß in einfacher Weise die Dauer
der Temperung und die Tempertemperatur entsprechend der gewünschten Koerzitivfeldstärke gewählt
und beispielsweise durch eine laufend den Wert der Koerzitivfeldstärke messende Einrichtung gesteuert
wird.
Nach beendeter Temperung empfiehlt es sich, den ao auf der Speicherschicht verbleibenden, nicht in diese
eindiffundierten Metall-, Metallverbindungs- oder Metallierungsrest beispielsweise galvanisch oder
durch eines der an sich bekannten, geeigneten Ätzverfahren wieder abzutragen, um den Diffusionsprozeß
wirksam zu unterbrechen und dadurch eine Konstanz des durch die Diffusion des Diffusionsmaterials in die magnetische Schicht eingestellten
Wertes für die Koerzitivfeldstärke zu erreichen. Nach erfolgter vollständiger Abtragung des restlichen
Diffusionsmaterials führt selbst eine weitere Erhöhung
der Temperatur zu keiner Änderung der eingestellten Werte für die Koerzitivfeldstärke.
In diesem Zusammenhang durchgeführte Untersuchungen haben z. B. gezeigt, daß eine auf einen
Glasträger aufgebrachte magnetische Schicht, deren Koerzitivfeldstärke nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren bei 52° C in zwei Minuten von 1,7Oe auf 4 Oe erhöht worden ist, nach einer Lagerung
von 240 Stunden bei 80° C noch keine Änderung der eingestellten Koerzitivfeldstärke Hc und Winkeldispersion
(X90 aufwies. Diese Ergebnisse lassen den
Schluß zu, daß selbst bei den im späteren Speicherbetrieb auftretenden und beispielsweise durch benachbarte,
wärmeabstrahlende Bauelemente bedingten, relativ hohen Betriebstemperaturen des Speichers
keine Abweichungen von den einmal eingestellten Werten für die Koerzitivfeldstärke erfolgen.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Durch Bedampfung auf eine Trägerunterlage aufgebrachte, wenigstens angenähert magnetostriktionsfreie
Ni-Fe-Schichten wurden in einem schwefelsauren Zinnbad bzw. in einer alkalischen Zinnchlorid
(NaOH-SnCl2)-Lösung bei einer Stromdichte von 0,1
bis 0,6 A/dm2 mit Zinn beschichtet und anschließend in Luftatmosphäre bei 57° C (Fig. 1) bzw. 56° C
(Fig. 2) getempert. Hierbei wurde der Einfluß der Diffusion des Zinns in die Ni-Fe-Schicht auf die
Koerzitivfeldstärke Hc, die Anisotropiefeldstärke HK,
die Winkeldispersion a90 und die Änderung des
magnetischen Flusses bzw. der dazu äquivalenten magnetischen Schichtdicke dm untersucht. Beispiele
für das Verhalten dieser Größen geben die F i g. 1 und 2 wieder, in denen Hc und HK (gemessen in Oe),
dm (gemessen in 102A) und <x90 (gemessen in Grad)
über der Temperdauer (min) aufgetragen sind. Die magnetischen Schichten wurden teils bei 185° C
(s. Fig. 1), teils bei 272° G (s.- F ig. .2) auf -die Träger
dieser Speicherschichten aufgedampft. Die Koerzitivfeldstärke Hc steigt mit zunehmender Temperdauer·
an. Die..Anisotropiefeldstärke HK -ändert
sich hierbei nicht, während die magnetisch wirksame Schichtdicke dm mit fortschreitender Eindiffusion des
Zinns in die magnetische Schicht langsam abnimmt. Bemerkenswert ist unter anderem, daß bei Durchführung
des erfindungsgemäßen Verfahrens, und zwar im Unterschied zu den beispielsweise mit Kupfer
bedampften und getemperten Nickel-Eisen-Schichten, die Winkeldispersion a90 bis zu einem
Verhältnis der Koerzitivfeldstärke zur Anisotropiefeldstärke Hc zu HK von fast 1 klein bleibt und erst
danach anwächst, wie aus den Kurven a90 beider
Figuren ersichtlich ist. Der in diesen Figuren gezeigte Verlauf der Winkeldispersion a90 mit ansteigenden
Werten für die Koerzitivfeldstärke ist sehr vorteilhaft und bewirkt, daß die eingangs genannte minimale
Einschreibfeldstärke HBmin bis zu einem HJH^-V&rhältnis
von 1 weitgehend konstant bleibt, wodurch sich der erfindungsgemäß erzielte Anstieg der Koerzitivfeldstärke
zugunsten einer Vergrößerung des Arbeitsbereichs HBmax bis HBmin auswirkt.
Claims (8)
1. Verfahren zum Erhöhen der Koerzitivfeldstärke eines aus einer ferromägnetischen Ni-Fe-Schicht
bestehenden Speicherelements mit uniaxialer Anisotropie der Magnetisierung, dadurch gekennzeichnet, daß ein unmagnetisches
Metall, eine unmagnetische Metallverbindung oder Metallegierung galvanisch auf die Speicherschicht aufgebracht und während
und/oder nach dem Auftragen durch einen Tempervorgang in diese eindiffundiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß unmagnetische Metalle, Metallegierungen
oder Metallverbindungen mit niedrigem Schmelzpunkt auf die Speicherschicht aufgebracht werden.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß Indium, Kadmium,
Zink, Zinn oder Wismut auf die Speicherschicht aufgebracht wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei
einer Temperatur getempert wird, deren Wert niedriger ist als die Schmelztemperatur des auf
die Speicherschicht aufgebrachten Metalls bzw. der auf die Speicherschicht aufgebrachten Metallverbindungen
oder Metallegierungen.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperung in
Luft durchgeführt wird.
6. Verfahren nach den vorhergehenden Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß die
Dauer der Temperung und die Tempertemperatur durch den gewünschten Wert der Koerzitivfeldstärke
bestimmt und durch eine diesen Wert messende Einrichtung gesteuert werden.
7. Verfahren nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß nach beendeter Temperung der auf der Speicherschicht verbliebene, nicht in die
Speicherschicht eindiffundierte Metall-, Metallverbindungsoder
Metallegierungsrest abgetragen wird. '"''"." ' 1V ·■ : · r ^
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Metall-, Metallverbindungs-
oder Metallegierungsrest galvanisch oder durch Ätzen abgetragen wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
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