DE1541885A1 - Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauelementen - Google Patents

Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauelementen

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DE1541885A1
DE1541885A1 DE19661541885 DE1541885A DE1541885A1 DE 1541885 A1 DE1541885 A1 DE 1541885A1 DE 19661541885 DE19661541885 DE 19661541885 DE 1541885 A DE1541885 A DE 1541885A DE 1541885 A1 DE1541885 A1 DE 1541885A1
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DE
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magazine
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tooth
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Application number
DE19661541885
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Inventor
Rolf Boehme
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INTRON LEIPZIG WERK fur IND E
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INTRON LEIPZIG WERK fur IND E
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Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B07SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
    • B07CPOSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
    • B07C5/00Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
    • B07C5/34Sorting according to other particular properties
    • B07C5/344Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/01Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
    • G01R31/013Testing passive components

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

  • Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauelementen.
  • Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauelementen, wie Halbleiterdioden, widerständen, Kondensatoren u.s.w..
  • Zum Messen und sortieren von elektrischen Bauelementen ist es bekannt, diese zwecks Kontaktierung in Schnellspannvorrichtungen von Me#geräten einzuspannen, die Me#-werte an in toleranzbereichen eingeteilten Skalen abzulesen und die Bauelemente in den entsprechenden Sortierfächern abzulegen. Um die Einpendelzeiten der Anzeigeinstrumente zu kompensieren, werden in der Regel zwei solcher Me#geräte benutzt, wobei während der Einstellzeit eines Gerätes daß Bauelement aus dan anderen Gerät ente normen und dßs nächste Bauelement eingelegt wird. Durch eine solche wechselweise Beschickung läßt sich diese manuelle Tätigkeit auf ein Maximum steigern.
  • Nachteilig ist jecdoch, da# die Me#geschwindigkeit durch die Fertigkost der Bedienungskraft begrenzt ist. Je nach Anzahl der zu messenden Bauelemente müssen derartige Meßplätse verfielfacht werden, was einen erheblichen Aufwand an Me#zeugen bedingt und eine große Zahl von Arbeitskräften gebunden wird.
  • ES hat deshalb nicht an Vorschlägen gefehlt, diese Me#vorgänge zu mechanisieren und damit den Aufwand an Arbeitskräften herab zusetzen. So werden beispielsweise die Bauelemente in Magazine eingelegt, die auf das Meßgerät aufgesteckt und nacheinander gemessen werden. An einer Ergebnisanzeige, die ggf. ausgedruckt wird, lassen sich die Meßwerte 3edes einzelnen Bauelementes ablesen und es kann jedes Bauelement sortiert werden.
  • Andere Vorrichtungen arbeiten so, da# die Bauelemente auf ein Förderband, beispielsweise ein Kettenband mit Haltekrallen aufgelegt und an Kontaktvorrichtungen der jeweiligen Meßstellen vorbeigeführt werden. Je nach Meßergebnis werden die Bauelemente dann beim Vorbeilaufen in den jeweiligen Sortierkasten eingeworfen.
  • Diese Vorrichtungen bringen eine erhebliche Steigeriq der Arbeitsproduktivität, stellen jedoch nicht das Optimum an Me#technologie den Das trifft insbesondere dann ZU, wenn an den Me#vorgang bestimmte Forderungen zu stellen sind, wie Messung nach verschiedenen Parametern oder beispielsweise die gleiche Messung unter verschiedenen Bedingungen, wie etwa zwei verschiedene Temperaturen, Druck, Klima u.s.w..
  • Derartige Forderungen können mit den bekannten Geräten nicht erfüllt werden.
  • Zweck der Erfindung ißt es, dies Nachteile des Standes der Technik zu vermeiden und damit Möglichkeiten su schaffen, die Prüfparameter wesentlich zu erweitern. Ganz speziell für die in ständig steigendem Ma#e zur Anwendung kommenden Halbleiterdioden besteht das produktionstechnische Bedürfnis, diese vor der in vielen Fällen hochmechanisierten Weiterverarbeitung zu prüfen, da spätere Ausfälle und die dadurch bedingten Reparaturen den Erfolg einer hochgezüchteten Verarbeitungstechnologie zu nichte machen. Dieses Bedürfnis ist zu befriedigen.
  • Es ist deshalb die Aufgabe gestellt, eine Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauelementen zu schaffen, wobei die Bauelemente mechanisch transportiert werden, nach verschiedenen Forderungen gemess en und sortiert werden können und die einwandfreien Bauelemente magaziniert werden.
  • Erfindugsgemä# wird die Aufgabe dadurch gelöst, da# die zu messenden Bauelemente mittels einer runden Transportscheibe an Kontaktschleifbahnen vorbeigeführt und mittels einer Sortierklappe in "gute" oder "schlechte" getrennt werden und mittels einer Zahnstangentransporteinrichtung einem Magazin zugeführt, dabei mittels Führungsklappen mittig ausgerichtet und über ein Hebelsystem in das Magazin eingeschoben werden.
  • An einem Ausführungsbeispiel sei der Erfindungsgegenstand näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 Die funktionellen Elemente in der Schnittdsrstellung.
  • Fig. 2 Die Draufsicht der Aufnahmevorrichtung.
  • Fig. 3 Die Transportvorrichtung.
  • Fig. 4 Anschläge zur Mittenführung.
  • Fig. 5 Die Mittenführung mit Magazineinlauf. fig. 6 Den Einst@# in das Magazin.
  • Gemä# Fig. 1, die einen Schnitt aus Fig. 2 darstellt, werden die zu messenden bzw. zu prüfenden Bauelemente 1 in Kerben 2 einer in Pfeilrichtung sich drehenden Transportscheibe 3 eingelegt.
  • Beim Rundlauf werdem die Bauelemente an Kontaktschleifbahnen 4 entlanggeführt und dadurch kontaktiert und mit einer nicht dargestellten Me#einrichtung über die Anschlüsse 5 verbunden. Für einen gleichmä#igen und vor allem optimalen Kontaktdruck sorgen Gewichte 6, Die an einem Schleifbahnträger 7 einstellbar im richtigen Hebelverhältnis angebracht sind.
  • Somit werden die Bauelemente 1 während der Zeitdauer von etwa einer Viertel Umdrehung der Transportscheibe 3 mit der äu#eren Me#einrichtung verbunden. Diese Zeit genügt, um die Messung durchzuführon und ein Signal u bilden, das den "gut"- oder "Schlecht-" Zustand des jeweiligen Bauelementes 1 darstellt. Dieses Signal betätigt über einen nicht dargestellten Hubmagnet eine Sortierklappe 8, die in der gestrichelten Darstellung au2 "Schlecht" steht und das aus den kontaktschleifbahnen 4 auslaufende Bauelement 1 wird von einem Ausheben 9 aus der Kerbe 2 herausgehoben, falls es nicht von selbst herausgefallen ist und fällt in einen Kasten 10, der die schlechten Eauelemente aufnimmt.
  • In der ausgezogenen darstellung der Sortierklappe 8 wird der weg für die "gut en" Bauelemente freigegeben. Die Bauelemente 1 fallen ebenfalls aus der Kerbe 2 heraus und werden von einem Richtbleck 11 auf eine Ablagebühne 12 geführt. Diese Ablagebühne 12 wird, bevor das nächetfolgende Bauelement aus den Kerben 2 der Transportscheibe 3 herausfällt, mittels eines stö#eln 13 in pfeilrichtung zurückgestoßen und fällt in die Lücken einer starren Zahnstange 14, Neben dieser starren Zahnstange 14 liegt eine Zahnstange 15, die in einem Exzenter 16 gelagert ist. Die Lücken der Zahnstange 15 sind bezüglich der Stellung des Exzenters 16 so angeordnet, da# beim Hochheben der Zahnstange Zahnlücken hinter Zahnlücke steht und das Bauelement 1 an reinen axinlen Anschlüssen hochgehoben, aus der Zahnlücke der Zahnstange 14 herausgetragen, un einen Zahn weitertransportiert und beim Absenken der Zahnstange 15 in diese nächste Zahnlücke der Zahnstange 14 abgelegt wird. So wird das in der ersten Zahnlücke liegende Bauelement in die zweite Zahnlücke, das aus der zweiten in die dritte, aus der drittenin die vierte, mit anderen Worten, jedes Bauelement um eine Zahnlücke weitertransportiert. Nurmehr ist auch ersichtlich, da# der Stö#el 13 mit jeder Umdrehung des Exenters 16 von der Kante der Zahnstange 15 zurückgesto#en wird, um das jeweils nächste Bauelement in die eben freigetragene Zahnlücke zu leiten, Die Exzenterdrehung mu# deshalb viermal schneller sein als die Drehzahl der Transportscheibe 3.
  • In Fig. 2 ist die Draufsicht dieser Vorrichtung dargestellt.
  • En sind die beiden Transportscheiben 3, die Kerben 2, das singelegte bauelenent 1. die Schleifbahnträger 7 und Gewichte 6 zu erkennen. Zwischen den Transportecheiben 3 ist ein Kollektor 17 angeordnet, der mehrere Kontaktsegmente 18 trägt, die über Schleifkohlen 19 kontaktiert werden. Dieser Kollektor 17 dient dazu, das Bauelement während der Prüfung umzuschalten, um mehrere Prüfvorgänge durchzuführen. Dabei kann auch die Sortierkklappe 8 so gesteuert werden, da# diese bei nacheinander gleichen Prüfergebnissen in der jeweiligen Lage bleibt und nur bei Änderung des Prüfergebnissen in die andere Lage umschlägt. En wird damit vermieden, da# die Sortierklappe 8 bei jedem Bauelement angeschlagen wird, was unter anderem auch Lärm verursacht.
  • In ähnlicher Weise könnten natürlich auch die Kontaktschleifbahnen 4 unterteilt und jedes Teilstück mit Anschlüesen verzehen sein, un beispielsweise mehrere Messungen am Bauelement durchzuführen.
  • Fig. 4 seigt den Auslauf der Transportbahn mit dem Zahnstangen 14 und 15. Die Bauelemente 1 liegen in den Zahnlücken und werden schrittweise transportiert.
  • Der Exzenter 14 ist die zweite Lagerung der Zahnstange 15.
  • Shrend des Transportes ist es erfordsrli, die Bauelemente 1 genau in Mittenlage zwischen den beidseitigen Zahnstangenpaaren zu bringen.
  • Figo 4 zeigt die Anschläge zur Mittenführung. Es sind zu sehen die starren Zahnstangen 14 und die vom Exzenter 16 bewegten Zdahnstangen 150 Auf den Anschlu#drähten der Bauelemente liegen Führungsklappen 20 und 21 auf, die das Bauelement 1 während des Transportes nach der mitte schieben.
  • Fig. 5 zeigt die Draufsicht auf die Führungsklappen 20 und 210 Die inneren Kanten verlaufen schräg zur Mitte, sind verstellbar und lassen am Ende soviel Raum, daß der Körper des Bauelementes 1 gerade noch passieren kann. Somit hat dae Bauelement 1 am Ende der Transportbahn die genaue Mittenlage. Auf die Lagerung der Führungsklappen ist besonderer Wert zu legen. Die Schubkraft auf die Bauelemente, um sie zur Mitte zu schieben, soll nämlich nicht durch die in Fig. 5 sichtbaren schrägen Flächen der Führungsklappen 20 und 21, sondern durch den Radiusanschlag beim Anheben der Bauelemente durch die Zahnstange 15 und damit Anheben der Führungsklappen 20 und 21 erfolgen. Bei diesem Anheben beschreiben die Kanten der Führungsklappen einen Kreisbogen, wie in rig. 4 ersichtlich und schieben das Bauelement un die gestrichelt dargestellte Strecke zur Mitte. BeJm Berabsenken wird das Bauelement von den Kanten wieder frei, wird transportiert und bein nächsten Anheben wieder zur Mitte geschoben. Das setzt voraus, da# der Drehpunkt der Führungsklappen höher liqt ala die Auflagefläche der Kanten auf dem Bauelement. Mit dieser Anordnung ist die grö#te Sicherheit beim Weitertransport der Bauelemente erreicht worden.
  • Zwecks Entnahme der gemessenen Bauelemente sind diese in ein Magazin einzustapeln. Einen solchen Magazinierrundlauf seigt Fig. 5. An den Au#enflächen eines zwölfeckigen Magazinträgers 22, der teilweise dargestellt ist, sind Stapelmagazine 23 angebracht.
  • In diese Magazine sind die Bauelemente einzuführen. Dazu dient ein Hebestück 24, das in Fig. 3 ersichtlich ist. Betätigt wird das Hebestück 24 von einem Hebel 25, der von einem exzenter 26 angetrieben wird. Der Exzenter 26 läuft um 180° versetzt sum Exzenter 16, der die Zahnstange 15 antreibt.
  • Sobald die Zahntange 15 das Bauelement 1 in die letzte Zahnlücke der starren Zahnstange 14 abgelegt hat, stö#t das Hebestück 24 empor und hebt das Bauelement aus der Zahnlücke heraus. Durch einen Stö#el 27, der federnd gelagert ist, wird das Bauelement in das Magazin eingeführt.
  • Dieser Vorgang ist in Fig. 6 nochmals dargestellt. Das Bauelement liegt gezade auf dem Hebestück 24 und wird an die Magaz@nöffnung gebracht. In dieser gezeigten Stellung bleibt das Hebestück 24 stehen und der Stö#el 27 fährt jetzt heraus, siebe auch Fig. 3, und drückt das Bauelement 1 über den Widerstand einer Feder 28 hinweg in das Stapelmagazin 23 hinein. Die Feder 28 verhindert ein Herausfallen der bereits gestapelten Bauelemente. Nach Füllung eines Magazins wird durch einen nicht dargestellten Endkontakt der Magazinträger mittels eines Schrittschaltwerkes um 30° gedreht und das nächste Magazin wird gefüllt, Mit zwölf magazinen ist eine ausreichende Pufferzeit gegeben, um die vollen Magazine zu entnehmen und leere Magazine wieder einzuhängen.
  • Mit dieser Vorrichtung ist nunmehr eine vollautomatische Messung und Prüfung von Bauelementen, einschlie#lich gestapelter Ablage möglich. Diese Vorrichtung lä#t sich noch erweitern, indem nach durchgeführter Messung die Zahnstangentransporteinrichtung die Bauelemente in einen wärmsofen trägt, nach erfolgter Erwärmung die Bauelemente in einer zweiten Me#vorrichtung nochmals gemessen und dann erst in das Stapelmagazin eingetragen werden. Eine solche Prüfung wird vor allem bei Helbleiterdioden durchgeführt, deren Durchla#widerstand bei Zimmertemperatur und deren Sperrwiderstand bei ca. 500 C gemessen werden soll.
  • Durch Verbindung zweier solcher Meßeinrichtungen ist dies leicht mglich.

Claims (6)

  1. Patentansprüche: 1. Vorrichtung zum Messen und Sortieren von elektrischen Bauslementen, wie Halbleiterdioden, Widerständen, Kondensatoren u.s.w., dadurch gekennzeichnet, da# eine sich drehende Transportscheibe (3) an ihren Umfang Kerben (2) zur Aufnahme von Bauelementen (1) enthält und die Kontaktierung mittels Kontaktschleifbahnen (4) erfolgt, die etwa 90° des Umfanges der Transportschei@@ (3) lang sind und unter Gewichtskraft an den Anschlüssen der Bauelemente (1) anliegen und eine3 Sortierklappe (8) die Wege für "gute" und "schlechte" Bauelemente bestimmt.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bauelemente in den Zahnlücken zweier Zahnstangen 14 abgelegt sind und von zwei um Exzenter 16 sich bewegenden Zahnstangen 15 Zahn für Zahn transportiert werden und auf den Anschlüssen der Bauelemente (1) Führungsklappe (20 und 21) aufliegen.
  3. 3. Vorrichtung nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, da# am Ende der Zahnstangentransportbahn ein vieleckiger Magazinträger (22) angeordnet ist, der Stapelmagazine (23) trägt und mittels eines Schrittschaftwerkes um jeweils eine Stapelmagazinbreite drbar ist.
  4. 4. Vorrichtung nsch Ansprüchen 1 - 3, dadurch gekennzeichnet, da# das Bauelement (1) mittels eines Hebestückes (24), das von einem Exzenter (26) angetrieben wird, aus der letzten Zahnlücke der Zahnstangen (14) herausgehoben und mittels eines Stö#els (27) in das Stapelmagazin (23) angetrieben wird.
  5. 5. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, da# zwischen den Transportscheiben (3) ein Kollektor (17) mit mehreren Kontaktbahnen und zugehörigen Schleifkohlen (19) angeordnet ist.
  6. 6. Vorrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzoichnot, da# zwischen zwei Me#vorrichtungen eine Wärmeofen engeordnet ist.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999005535A1 (de) * 1997-07-22 1999-02-04 M & R Automatisierung Von Industrieanlagen Gesellschaft Mbh Mess- und sortieranlagen zum messen und sortieren von widerstandskörpern sowie ein verfahren
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