DE1248014B - Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung - Google Patents
Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen GlimmentladungInfo
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
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Description
- Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung Zur Abscheidung von Halbleitermaterial aus der Gasphase werden Trägerkörper, z. B. Halbleiterscheiben, auf eine Temperatur erwärmt, bei welcher in einem Reaktionsgasgemisch die zur Abscheidung von Halbleitermaterial notwendige Reaktion eintritt. Ein derartiges Reaktionsgasgemisch kann beispielsweise aus einer gasförmigen Verbindung des Halbleitermaterials sowie Wasserstoff als Reaktionspartner und als Verdünnungsmittel bestehen. Es ist nicht unbedingt notwendig, daß das Material des Trägerkristalls und das abgeschiedene Halbleitermaterial miteinander identisch sind. Es genügt, wenn das abgeschiedene Halbleitermaterial die gleiche Gitterstruktur wie das Material des Trägerkörpers aufweist. Wenn der Trägerkristall einkristallin ist, so wächst im Normalfall auch das abgeschiedene Halbleitermaterial einkristallin auf, wenn bestimmte Bedingungen eingehalten werden. Es ist dazu zweckmäßig nicht die höchstmögliche Ausbeute anzustreben, sondern bei einer etwas niedrigeren Temperatur zu arbeiten als zur höchstmöglichen Abscheidung notwendig ist.
- Die Trägerkristalle können z. B. durch direkten Stromdurchgang, durch induktive Beheizung, durch Strahlungsheizung oder durch Wärmeübertragung von einer Unterlage, auf welcher der Trägerkörper aufliegt, beheizt werden. Bei allen diesen bekannten Erhitzungsarten ergibt sich der Nachteil, daß der gesamte Trägerkörper beheizt wird und deshalb die Abscheidung von Halbleitermaterial an allen Stellen des Halbleiterkörpers ziemlich gleichmäßig eintritt. Die Erfindung dient insbesondere der Überwindung dieser Schwierigkeit.
- Es ist bekannt, zum Abscheiden von Elementen mit metallischem Charakter aus ihren Verbindungen flüchtige Verbindungen der betreffenden Elemente in der Dampf- bzw. Gasphase durch die ionisierende Wirkung einer elektrischen Gasentladung zu spalten und das Element mit metallischem Charakter zu kondensieren.
- Bei einem Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial, bei dem ein gasförmige Verbindungen des Halbleitermaterials und Wasserstoff enthaltendes Reaktionsgasgemisch an die Oberfläche eines erhitzten Trägerkörpers aus Halbleitermaterial gleicher Gitterstruktur geführt wird, unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung, besteht die Möglichkeit im wesentlichen nur die Teile der Halbleiteroberfläche zu beheizen, an welchen eine Abscheidung stattfinden soll, wenn erfindungsgemäß die elektrische Glimmentladung zur Erwärmung der Oberfläche des Trägerkörpers auf die für die Abscheidung geeignete Temperatur benutzt wird.
- Bei scheibenförmigen Halbleiterkörpern kann damit z. B. nur die eine Scheibenflachseite beheizt werden. Die sonst notwendige Aufteilung der durch einkristalline Abscheidung hergestellten Halbleiterbauelemente bzw. die Abätzung des Randes dieser Halbleiterbauelemente kann unterbleiben. Das Verfahren ist weiter sehr einfach und billig und arbeitet mit einem sehr hohen elektrothermischen Wirkungsgrad von z. B. über SOo/o.
- Die Oberfläche des Halbleiterkörpers, auf welche das Halbleitermaterial abgeschieden werden soll, wird als Kathode in einem entsprechenden Gasgemisch angeordnet. Ihr gegenüber wird eine Anode angeordnet, mit deren Hilfe die Glimmentladung erzeugt wird. Mit Hilfe des Mischungsverhältnisses des Gasgemisches - gegebenenfalls können auch neutrale Gase wie Stickstoff oder Argon beigemischt werden - und mit Hilfe des Gasdruckes läßt sich die Stromdichte und damit die Energiezufuhr steuern. Bekanntlich ist die Stromdichte in einer Glimmentladung dem Gasdruck proportional. Es hat sich beispielsweise herausgestellt, daß bei Atmosphärendruck und Wasserstoff als Füllgas pro Quadratzentimeter Oberfläche eine Stromstärke von 0,6 Ampere bei 600 V Brennspannung ausreichend ist, damit Silicium innerhalb sehr kurzer Zeit, z. B. in der Größenordnung von 1 sec, schmilzt.
- Wie Versuche zeigten, tritt an einkristallinen Oberflächen eine Glimmentladung auf, welche nicht in eine Bogenentladung umschlägt. Letztere Entladungsform ist bekanntlich für eine gleichmäßige Erwärmung über größere Flächenbereiche nicht brauchbar. Es zeigte sich, daß Kristallkorngrenzen das Umschlagen in eine Bogenentladung fördern. In diesem Falle schmilzt aber die Oberfläche zunächst am kleinen Ansatzpunkt der Bogenentladung leicht auf, worauf die Bogenentladung sofort in eine Glimmentladung übergeht, die das Aufschmelzen eines größeren Bereiches bewirkt. Die Glimmentladung ist, wie die Versuche ebenfalls zeigten, bis zu einer Gesamtstromstärke von einigen Ampere bei Atmosphärendruck und höheren Drücken zu stabilisieren, z. B. mit Hilfe von Vorwiderständen oder z. B. mit Hilfe von Stromtoren, welche in den Stromkreis der Entladung gelegt werden. Will man höhere Stromstärken erzielen, so kann man mehrere Anoden anordnen und dadurch die Stromstärke auf mehrere Kreise verteilen. In diesem Fall ist jede Anode mit einem Stromtor zu versehen.
- Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens können in bekannter Weise epitaktisch aufgewachsene Schichten auf einkristallinen Trägerkörpern erzeugt werden, z. B. Siliciumschichten auf Silicium oder Germaniumschichten auf Silicium oder Schichten von AIIIBv_Verbindungen auf Germanium.
- An Hand von Ausführungsbeispielen, aus denen weitere Einzelheiten der Erfindung hervorgehen, soll diese näher erläutert werden. In den Zeichnungen sind zwei Vorrichtungen dargestellt, welche zur Durchführung des Verfahrens geeignet sind.
- F i g.1 zeigt eine Einanodenanordnung, in den F i g. 2 und 3 ist eine Mehranodenanordnung im Schnitt und in der Aufsicht dargestellt.
- In F i g. 1 ist ein Quarzrohr 2 dargestellt, in welchem sich ein Tragteil 3 befindet, welches z. B. aus Kupfer oder Silber bestehen kann oder aus einem versilberten Kupferteil. Auf diesem Tragteil 3 liegt der Trägerkörper 4, z. B. eine Siliciumscheibe von 12 mm Durchmesser und 2 mm Dicke. Dem Trägerkörper 4 gegenüber ist die Anode 5 angeordnet, welche aus einem unten verschlossenen Metallrohr bestehen kann. Im Inneren dieses Rohres 5 kann ein engeres Rohr 6 angeordnet sein, welches zur Zuführung eines Kühlmittelstromes dient. Durch Pfeile ist die Strömungsrichtung des Kühlmittels angedeutet. Das Tragteil 3 kann in entsprechender Weise mit einem Kühhnittelkreislauf versehen sein. Wird das Quarzrohr 2 von einem entsprechenden Reaktionsgasgemisch durchströmt oder mit diesem gefüllt, so kann bei Anlegen einer Spannung zwischen Anode 5 und Tragteil 3 eine Glimmentladung entstehen. Der gesamte Raum zwischen dem Trägerkörper 4 und der Anode 5 ist mit einem bläulichen Licht 7 ausgefüllt, während die eigentliche Glimmentladung 8 die Oberfläche des Trägerkörpers 4 bedeckt. Die Anode 5 kann ebenfalls außen versilbert sein bzw. ganz aus Silber bestehen. Gegebenenfalls kann das Tragteil 3 mit einer Siliciumauflage versehen sein oder auch ganz aus Silicium bestehen.
- In den F i g. 2 und 3 ist eine Mehranordnung dargestellt, bei der in einem Quarzgefäß 11 eine Scheibe 12 angebracht ist, welche mit dem negativen Pol der Glimmspannungsquelle verbunden ist. Mit dieser Scheibe 12 stehen Halbleiterscheiben 13 bis 18 in Verbindung, welche damit ebenfalls mit dem negativen Pol verbunden sind. Den Halbleiterscheiben 13 bis 18 sind Anoden 19 gegenübergestellt, welche an den positiven Pol gelegt sind und damit die Glimmentladung einleiten können. Wird nun das Gefäß 11 mit einem entsprechenden Reaktionsgemisch gefüllt, so findet die gewünschte Abscheidung auf den oberen Flachseiten der Halbleiterscheiben statt.
Claims (2)
- Patentansprüche: 1. Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial, bei dem ein gasförmige Verbindungen des Halbleitermaterials und Wasserstoff enthaltendes Reaktionsgemisch an die Oberfläche eines erhitzten Trägerkörpers aus Halbleitermaterial gleicher Gitterstruktur geführt wird, unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Glimmentladung zur Erwärmung der Oberfläche des Trägerkörpers auf die für die Abscheidung geeignete Temperatur benutzt wird.
- 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Reaktionsgemisch ein unter dem normalen Atmosphärendruck liegender Druck erzeugt wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 863 997, 865160; deutsche Auslegeschrift Nr. 1151782.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1963S0088574 DE1248014B (de) | 1963-12-05 | 1963-12-05 | Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1963S0088574 DE1248014B (de) | 1963-12-05 | 1963-12-05 | Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1248014B true DE1248014B (de) | 1967-08-24 |
Family
ID=7514535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1963S0088574 Pending DE1248014B (de) | 1963-12-05 | 1963-12-05 | Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1248014B (de) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE863997C (de) * | 1951-03-02 | 1953-01-22 | Degussa | Abscheidung von Elementen mit metallaehnlichem Charakter aus ihren Verbindungen |
DE865160C (de) * | 1951-03-07 | 1953-01-29 | Western Electric Co | Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper |
DE1151782B (de) * | 1954-06-13 | 1963-07-25 | Siemens Ag | Verfahren zum Herstellen hochgereinigter einkristalliner Halbleiterstaebe |
-
1963
- 1963-12-05 DE DE1963S0088574 patent/DE1248014B/de active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE863997C (de) * | 1951-03-02 | 1953-01-22 | Degussa | Abscheidung von Elementen mit metallaehnlichem Charakter aus ihren Verbindungen |
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