DE1248014B - Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung - Google Patents

Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung

Info

Publication number
DE1248014B
DE1248014B DE1963S0088574 DES0088574A DE1248014B DE 1248014 B DE1248014 B DE 1248014B DE 1963S0088574 DE1963S0088574 DE 1963S0088574 DE S0088574 A DES0088574 A DE S0088574A DE 1248014 B DE1248014 B DE 1248014B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
semiconductor material
glow discharge
electric glow
carrier body
depositing semiconductor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE1963S0088574
Other languages
English (en)
Inventor
Dr-Ing Theodor Rummel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE1963S0088574 priority Critical patent/DE1248014B/de
Publication of DE1248014B publication Critical patent/DE1248014B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)

Description

  • Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung Zur Abscheidung von Halbleitermaterial aus der Gasphase werden Trägerkörper, z. B. Halbleiterscheiben, auf eine Temperatur erwärmt, bei welcher in einem Reaktionsgasgemisch die zur Abscheidung von Halbleitermaterial notwendige Reaktion eintritt. Ein derartiges Reaktionsgasgemisch kann beispielsweise aus einer gasförmigen Verbindung des Halbleitermaterials sowie Wasserstoff als Reaktionspartner und als Verdünnungsmittel bestehen. Es ist nicht unbedingt notwendig, daß das Material des Trägerkristalls und das abgeschiedene Halbleitermaterial miteinander identisch sind. Es genügt, wenn das abgeschiedene Halbleitermaterial die gleiche Gitterstruktur wie das Material des Trägerkörpers aufweist. Wenn der Trägerkristall einkristallin ist, so wächst im Normalfall auch das abgeschiedene Halbleitermaterial einkristallin auf, wenn bestimmte Bedingungen eingehalten werden. Es ist dazu zweckmäßig nicht die höchstmögliche Ausbeute anzustreben, sondern bei einer etwas niedrigeren Temperatur zu arbeiten als zur höchstmöglichen Abscheidung notwendig ist.
  • Die Trägerkristalle können z. B. durch direkten Stromdurchgang, durch induktive Beheizung, durch Strahlungsheizung oder durch Wärmeübertragung von einer Unterlage, auf welcher der Trägerkörper aufliegt, beheizt werden. Bei allen diesen bekannten Erhitzungsarten ergibt sich der Nachteil, daß der gesamte Trägerkörper beheizt wird und deshalb die Abscheidung von Halbleitermaterial an allen Stellen des Halbleiterkörpers ziemlich gleichmäßig eintritt. Die Erfindung dient insbesondere der Überwindung dieser Schwierigkeit.
  • Es ist bekannt, zum Abscheiden von Elementen mit metallischem Charakter aus ihren Verbindungen flüchtige Verbindungen der betreffenden Elemente in der Dampf- bzw. Gasphase durch die ionisierende Wirkung einer elektrischen Gasentladung zu spalten und das Element mit metallischem Charakter zu kondensieren.
  • Bei einem Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial, bei dem ein gasförmige Verbindungen des Halbleitermaterials und Wasserstoff enthaltendes Reaktionsgasgemisch an die Oberfläche eines erhitzten Trägerkörpers aus Halbleitermaterial gleicher Gitterstruktur geführt wird, unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung, besteht die Möglichkeit im wesentlichen nur die Teile der Halbleiteroberfläche zu beheizen, an welchen eine Abscheidung stattfinden soll, wenn erfindungsgemäß die elektrische Glimmentladung zur Erwärmung der Oberfläche des Trägerkörpers auf die für die Abscheidung geeignete Temperatur benutzt wird.
  • Bei scheibenförmigen Halbleiterkörpern kann damit z. B. nur die eine Scheibenflachseite beheizt werden. Die sonst notwendige Aufteilung der durch einkristalline Abscheidung hergestellten Halbleiterbauelemente bzw. die Abätzung des Randes dieser Halbleiterbauelemente kann unterbleiben. Das Verfahren ist weiter sehr einfach und billig und arbeitet mit einem sehr hohen elektrothermischen Wirkungsgrad von z. B. über SOo/o.
  • Die Oberfläche des Halbleiterkörpers, auf welche das Halbleitermaterial abgeschieden werden soll, wird als Kathode in einem entsprechenden Gasgemisch angeordnet. Ihr gegenüber wird eine Anode angeordnet, mit deren Hilfe die Glimmentladung erzeugt wird. Mit Hilfe des Mischungsverhältnisses des Gasgemisches - gegebenenfalls können auch neutrale Gase wie Stickstoff oder Argon beigemischt werden - und mit Hilfe des Gasdruckes läßt sich die Stromdichte und damit die Energiezufuhr steuern. Bekanntlich ist die Stromdichte in einer Glimmentladung dem Gasdruck proportional. Es hat sich beispielsweise herausgestellt, daß bei Atmosphärendruck und Wasserstoff als Füllgas pro Quadratzentimeter Oberfläche eine Stromstärke von 0,6 Ampere bei 600 V Brennspannung ausreichend ist, damit Silicium innerhalb sehr kurzer Zeit, z. B. in der Größenordnung von 1 sec, schmilzt.
  • Wie Versuche zeigten, tritt an einkristallinen Oberflächen eine Glimmentladung auf, welche nicht in eine Bogenentladung umschlägt. Letztere Entladungsform ist bekanntlich für eine gleichmäßige Erwärmung über größere Flächenbereiche nicht brauchbar. Es zeigte sich, daß Kristallkorngrenzen das Umschlagen in eine Bogenentladung fördern. In diesem Falle schmilzt aber die Oberfläche zunächst am kleinen Ansatzpunkt der Bogenentladung leicht auf, worauf die Bogenentladung sofort in eine Glimmentladung übergeht, die das Aufschmelzen eines größeren Bereiches bewirkt. Die Glimmentladung ist, wie die Versuche ebenfalls zeigten, bis zu einer Gesamtstromstärke von einigen Ampere bei Atmosphärendruck und höheren Drücken zu stabilisieren, z. B. mit Hilfe von Vorwiderständen oder z. B. mit Hilfe von Stromtoren, welche in den Stromkreis der Entladung gelegt werden. Will man höhere Stromstärken erzielen, so kann man mehrere Anoden anordnen und dadurch die Stromstärke auf mehrere Kreise verteilen. In diesem Fall ist jede Anode mit einem Stromtor zu versehen.
  • Mit Hilfe des erfindungsgemäßen Verfahrens können in bekannter Weise epitaktisch aufgewachsene Schichten auf einkristallinen Trägerkörpern erzeugt werden, z. B. Siliciumschichten auf Silicium oder Germaniumschichten auf Silicium oder Schichten von AIIIBv_Verbindungen auf Germanium.
  • An Hand von Ausführungsbeispielen, aus denen weitere Einzelheiten der Erfindung hervorgehen, soll diese näher erläutert werden. In den Zeichnungen sind zwei Vorrichtungen dargestellt, welche zur Durchführung des Verfahrens geeignet sind.
  • F i g.1 zeigt eine Einanodenanordnung, in den F i g. 2 und 3 ist eine Mehranodenanordnung im Schnitt und in der Aufsicht dargestellt.
  • In F i g. 1 ist ein Quarzrohr 2 dargestellt, in welchem sich ein Tragteil 3 befindet, welches z. B. aus Kupfer oder Silber bestehen kann oder aus einem versilberten Kupferteil. Auf diesem Tragteil 3 liegt der Trägerkörper 4, z. B. eine Siliciumscheibe von 12 mm Durchmesser und 2 mm Dicke. Dem Trägerkörper 4 gegenüber ist die Anode 5 angeordnet, welche aus einem unten verschlossenen Metallrohr bestehen kann. Im Inneren dieses Rohres 5 kann ein engeres Rohr 6 angeordnet sein, welches zur Zuführung eines Kühlmittelstromes dient. Durch Pfeile ist die Strömungsrichtung des Kühlmittels angedeutet. Das Tragteil 3 kann in entsprechender Weise mit einem Kühhnittelkreislauf versehen sein. Wird das Quarzrohr 2 von einem entsprechenden Reaktionsgasgemisch durchströmt oder mit diesem gefüllt, so kann bei Anlegen einer Spannung zwischen Anode 5 und Tragteil 3 eine Glimmentladung entstehen. Der gesamte Raum zwischen dem Trägerkörper 4 und der Anode 5 ist mit einem bläulichen Licht 7 ausgefüllt, während die eigentliche Glimmentladung 8 die Oberfläche des Trägerkörpers 4 bedeckt. Die Anode 5 kann ebenfalls außen versilbert sein bzw. ganz aus Silber bestehen. Gegebenenfalls kann das Tragteil 3 mit einer Siliciumauflage versehen sein oder auch ganz aus Silicium bestehen.
  • In den F i g. 2 und 3 ist eine Mehranordnung dargestellt, bei der in einem Quarzgefäß 11 eine Scheibe 12 angebracht ist, welche mit dem negativen Pol der Glimmspannungsquelle verbunden ist. Mit dieser Scheibe 12 stehen Halbleiterscheiben 13 bis 18 in Verbindung, welche damit ebenfalls mit dem negativen Pol verbunden sind. Den Halbleiterscheiben 13 bis 18 sind Anoden 19 gegenübergestellt, welche an den positiven Pol gelegt sind und damit die Glimmentladung einleiten können. Wird nun das Gefäß 11 mit einem entsprechenden Reaktionsgemisch gefüllt, so findet die gewünschte Abscheidung auf den oberen Flachseiten der Halbleiterscheiben statt.

Claims (2)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial, bei dem ein gasförmige Verbindungen des Halbleitermaterials und Wasserstoff enthaltendes Reaktionsgemisch an die Oberfläche eines erhitzten Trägerkörpers aus Halbleitermaterial gleicher Gitterstruktur geführt wird, unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung, dadurch gekennzeichnet, daß die elektrische Glimmentladung zur Erwärmung der Oberfläche des Trägerkörpers auf die für die Abscheidung geeignete Temperatur benutzt wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß in dem Reaktionsgemisch ein unter dem normalen Atmosphärendruck liegender Druck erzeugt wird. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschriften Nr. 863 997, 865160; deutsche Auslegeschrift Nr. 1151782.
DE1963S0088574 1963-12-05 1963-12-05 Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung Pending DE1248014B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1963S0088574 DE1248014B (de) 1963-12-05 1963-12-05 Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1963S0088574 DE1248014B (de) 1963-12-05 1963-12-05 Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1248014B true DE1248014B (de) 1967-08-24

Family

ID=7514535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1963S0088574 Pending DE1248014B (de) 1963-12-05 1963-12-05 Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1248014B (de)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE863997C (de) * 1951-03-02 1953-01-22 Degussa Abscheidung von Elementen mit metallaehnlichem Charakter aus ihren Verbindungen
DE865160C (de) * 1951-03-07 1953-01-29 Western Electric Co Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper
DE1151782B (de) * 1954-06-13 1963-07-25 Siemens Ag Verfahren zum Herstellen hochgereinigter einkristalliner Halbleiterstaebe

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE863997C (de) * 1951-03-02 1953-01-22 Degussa Abscheidung von Elementen mit metallaehnlichem Charakter aus ihren Verbindungen
DE865160C (de) * 1951-03-07 1953-01-29 Western Electric Co Verfahren zur Erzeugung einer Germaniumschicht auf einem Germaniumkoerper
DE1151782B (de) * 1954-06-13 1963-07-25 Siemens Ag Verfahren zum Herstellen hochgereinigter einkristalliner Halbleiterstaebe

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1138481C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen durch einkristalline Abscheidung von Halbleitermaterial aus der Gasphase
DE1135671B (de) Verfahren zum Herstellen eines pn-UEbergangs und/oder eines Gradienten eines elektrisch wirksamen Elements in einem Halbleiterkristall
DE2523307C2 (de) Halbleiterbauelement
DE1094369B (de) Herstellungsverfahren eines dicken, eigenleitenden Gebietes am pn-UEbergang in einem Halbleiterkoerper einer Halbleiteranordnung
DE112006002595B4 (de) Herstellungsvorrichtung und Herstellungsverfahren für einen Einkristall-Halbleiter
WO1999017345A1 (de) Verfahren zum thermischen ausheilen von durch implantation dotierten siliziumcarbid-halbleitern
DE3231671C2 (de)
DE2648275A1 (de) Einkristallzuechtungsverfahren fuer ii-vi- und iii-v-verbindungshalbleiter
DE1521396B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum herstellen eines halbleiter bauelementes mit einer schottky sperrschicht
DE3525177A1 (de) Verfahren und vorrichtung fuer das erschmelzen und fuer das aufdampfen von hochreinem silizium
DE1166938B (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE2931432A1 (de) Eindiffundieren von aluminium in einem offenen rohr
DE3523090A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum aufbringen von schutzbeschichtungen auf quarztiegel
DE1173994B (de) Verfahren zur Herstellung von elektrischen Halbleiteranordnungen
DE1052563B (de) Anordnung und Herstellungsverfahren fuer Injektions-Elektrolumineszenzlampen
DE1248014B (de) Verfahren zum Abscheiden von Halbleitermaterial unter Anwendung einer elektrischen Glimmentladung
CH670456A5 (de)
DE967259C (de) Flaechentransistor
DE1619998B2 (de) Vorrichtung zum thermischen behandeln von scheibenfoermigen halbleiterkoerpern
DE1290924B (de) Verfahren zum Herstellen von dotiertem Halbleitermaterial
DE1251283B (de) Vorrichtung zum gleichzeitigen Herstellen einer Vielzahl von einkristallinen Halbleiterkörpern
EP1131848A1 (de) Verfahren zur herstellung eines leistungshalbleiters mit einer stoppzone
DE1419289A1 (de) Verfahren zum Herstellen dotierter Halbleiterkoerper
DE1113034B (de) Diffusionsverfahren zur gleichzeitigen Bildung von PN-UEbergaengen in mehreren Halbleiter-koerpern von Halbleiteranordnungen
AT255489B (de) Vorrichtung zum epitaktischen Abscheiden von Halbleitermaterial