DE1231037B - Verfahren und Anordnung zum Nachweis von Ionen in Massenspektrometern - Google Patents

Verfahren und Anordnung zum Nachweis von Ionen in Massenspektrometern

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DE1231037B
DE1231037B DES82655A DES0082655A DE1231037B DE 1231037 B DE1231037 B DE 1231037B DE S82655 A DES82655 A DE S82655A DE S0082655 A DES0082655 A DE S0082655A DE 1231037 B DE1231037 B DE 1231037B
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DE
Germany
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secondary electron
ions
electron beam
arrangement
multiplier
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Pending
Application number
DES82655A
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Nat Walter Haenlein
Dr Hans Boehm
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/025Detectors specially adapted to particle spectrometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/28Measuring radiation intensity with secondary-emission detectors

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

  • Verfahren und Anordnung zum Nachweis von Ionen in Massenspektrometern Die nutzbare Empfindlichkeit eines Massenspektrometers ohne oder mit vernachlässigbar kleinem Störsignal, z. B. des Hochfrequenz-Quadrupol-Massenfilters nach P a ul (deutsche Patentschrift 944 900), wird durch den Ionenstromverstärker bestimmt. Der empiìndlichste Verstärker ist der Sekundärelektronenvervielfacher; sein maximaler Verstärkungsfaktor beträgt etwa 1 108, er liegt also 3 bis 4 Zehnerpotenzen höher als der anderer in Frage kommender Verstärker.
  • Dieser hohe Verstärkungsgrad kann nur erreicht und stabil gehalten werden, wenn die Elektroden des Sekundärelektronenvervielfächers sich dauernd im höchsten Vakuum befinden. Wird der Sekundärelektronenvervielfacher als Ionenstromverstärker verwendet, muß zwischen dem Ionenauffänger und dem Dynoden-Anodenraum des Sekundärelektronenvervielfachers eine vakuummäßige Trennung bestehen.
  • Wesentlich ist also die Trennung des Kollektorraumes des Massenfilters von dem Vakuumraum des Sekundärelektronenvervielfachers, der unabhängig von dem Gasdruck in dem Massenfilter sein soll; für eine einwandfreie Funktion des Multipliers ist ein Druck von etwa 10-7 Torr erforderlich; eine Gasbeladung der Multiplierschichten bei höheren Drücken kann Störungen geben.
  • Es sind schon Versuche zur Lösung des obengenannten Problems bekanntgeworden. So sind Vorrichtungen zur vakuummäßigen Trennung zwischen Ionenauffänger und Geiger-Müller-Zählrohr beschrieben worden. lonenauffänger ist dabei ein Leuchtschirm; das von diesem emittierte Licht wird mit einem Geiger-Müller-Zählrohr nachgewiesen. Durch den Ionenbeschuß im Massenspektrometer kann jedoch die Fluoreszenzschicht zerstört werden. Weiterhin sind Massenspektrometer mit Sekundärelektronenvervielfachern bekanntgeworden, bei denen jedoch die Vakuumräume nicht getrennt sind.
  • Schließlich sind Vorrichtungen zur vakuummäßigen Trennung zwischen Ionenauffänger und Sekundärelektronenvervielfacher beschrieben worden; Ionenauffänger ist dabei ein Leuchtschirm; das von diesem emittierte Lciht wird mit einem Foto-Sekundärelektronenvervielfacher nachgewiesen. Zahlreiche Nachteile haben diese Vorrichtungen nicht in größerem Maße zur Anwendung kommen lassen. Zur Zeit werden immer noch die Ionen aus dem Massenspektrometer unmittelbar zu der ersten Dynode des Sekundärelektronenvervielfachers im Vakuumraum des Massenfilters geführt, der maximale Verstärkungsfaktor und die Konstanz des Sekundärelektronenvervielfachers können wegen des ungenügenden Vakuums dabei aber nicht erreicht werden. Durch künstlicheAlterung oder impulstechnische Maßnahmen wird versucht, die Verstärkungsinstabilität auszuschalten.
  • Die Erfindung zeigt eine vorteilhafte Lösung dieses Problems.
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Nachweis von Ionen in dem evakuierten Kollektorraum eines Massenspektrometers mittels eines Sekundärelektronenvervielfachers. Gemäß der Erfindung sind der Kollektorraum und der Raum des Sekundärelektronenvervielfachers vakuummäßig mittels einer Folie getrennt, um den für eine einwandfreie Funktion des Sekundärelektronenvervielfachers notwendigen sehr kleinen Druck - (etwa 10-7 Torr) unabhängig vom Arbeitsdruck des Massenspektrometers aufrechtzuerhalten, die Ionen werden mittels dieser Trennfolie aufgefangen; die dadurch hervorgerufene Ladung der Folie wird mittels eines Elektronenstrahlbündels abgetastet, und der zurückkehrende reflektierte Elektronenstrahl wird im Sekundärelektronenvervielfacher verstärkt.
  • Bei einer Anordnung zur Durchführung des Verfahrens kann die Folie aus am Rande isoliertem Metall oder aus leitendem Glas bestehen. Das Gehäuse der Anordnung kann aus Glas bestehen und an den Auffangteil eines Massenspektrometers, insbesondere eines Massenfilters, angesetzt sein. Zur Fokussierung und Justierung des Elektronenstrahlbündels können Magnetspulen vorgesehen sein. Zur Aussendung des Elektronenstrahlbündels kann eine Elektronenkanone, ein Elektronenstrahierzeugungssystem für starke Elektronenstrahlen, vorgesehen sein.
  • In der Figur ist beispielshaft eine Ausführungsform einer Anordnung für das erfindungsgemäße Verfahren dargestellt. Im Laborgebrauch hat sich dafür der Name »Ionentransformator« eingeführt. Die Auffängermembran 1 trennt den Vakuumraum des Massenspektrometers von dem des Sekundärelektronenvervielfachers. Sie besteht aus Metall, das an den Einspannstellen isoliert ist, sei es durch das Material der Hülle der Vorrichtung oder durch aufgebrachtes Isoliermaterial. Die Membran kann aber auch aus einem leitenden Glas bestehen. Die Membran stellt das eine Ende einer zylindrischen Hülle 2 dar, die aus Metall oder Glas bestehen kann. Am entgegengesetzten Ende ist der eigentliche Sekundärelektronenvervielfacher 10 angeordnet. In seiner Mitte ist eine Elektronenkanone 3 vorgesehen, die einen Strahl4 gegen die Membran aussendet. Je nach dem Ladungszustand der Membran wird ein mehr oder weniger großer Teil des Elektronenstrahls zurückgesandt und fällt auf die erste Dynode 5 des Vervielfachers 10. Zum genauen Einstellen der Form des Elektronenstrahls dienen eine Fokussierspule 6 und eine Justierspule 7. Besteht die Hülle 2 aus einem Isolierstoff, so kann ein Wandbelag 8 vorgesehen sein, der an eine bestimmte Spannung oder an Erde gelegt werden kann. Mit 9 ist eine Sammelelektrode bezeichnet, die zur Bildung der Form des Strahles benötigt wird. - 11 ist eine Bremselektrode in der Nähe der Membran 1; mit ihrer Hilfe werden die Elektronen des Abtaststrahles so weit abgebremst, daß sie die Membran nur dann erreichen können, wenn diese gegenüber der Elektronenkanonenkathode ein positives Potential hat.
  • Der Innenraum der Hülle 2 ist hochevakuiert, wie es für einen Sekundärelektronenvervielfacher üblich ist; in dem Raum des Spektrometers dagegen können Drücke bis etwa 10-3 Torr herrschen. Die Membran trennt Massenfilter-Meßzelle und Sekundärelektronenvervielfacher vakuummäßig. Damit kann der Sekundärelektronenvervielfacher, der einen der Membranladung proportionalen Elektronenstrom verstärkt, seinen maximalen Verstärkungsfaktor erreichen und zeitlich konstant beibehalten. Im Gegensatz zu der bisher meist verwendeten Anordnung mit direktem Ionenbeschuß der ersten Dynode des Sekundärelektronenvervielfachers ist es bei der Anordnung nach der Erfindung nicht erforderlich, die Ionen nachzubeschleunigen. Damit entfällt eine weitere Komplikation und Störungsquelle.
  • Die Wirkungsweise wird nachstehend erläutert: Die Auffänger- oder Speichermembran wirkt auf der dem Vervielfacher abgewandten Seite wie der bisher verwendete Ionenauffänger des Massenfilters und wird von den aus dem Analysatorsystem des Massenfilters austretenden positiven Ionen positiv aufgeladen. Aus der Elektronenkanone der Anordnung werden Elektronen unter dem Einfluß der elektrischen Beschleunigungs- und Bremsfelder zwischen der Kathode der Kanone, der Anode, Sammelelektrode und Bremselektrode in Richtung der Auffängermembran geschossen. Die Elektronen werden von den magne- tischen Feldern der Justier- und Fokussierspulen so weit gebündelt, daß ein Strahlenkegel entsteht, der an der Basis etwa den Durchmesser der Auffängermembran hat. Die Elektronen werden im Bremsfeld zwischen Sammel- und Bremselektrode so weit abgebremst, daß alle umkehren, wenn die Auffängermembran keine positive Ladung trägt, d. h., wenn keine Ionen aus dem Analysatorsystem austreten. Ist die Auffängermembran positiv geladen, wird diese Ladung von Strahlelektronen kompensiert. Diese Kompensationselektronen fehlen in dem rückkehrenden Strahl. Die Elektronen des rückkehrenden Strahles fallen auf die Anode, die zugleich die erste Dynode des Sekundärelektronenvervielfachers ist. Die dem auf die Membrane treffenden Ionenstrom proportionale Differenz zwischen vollem und um die Kompensationselektronen vermindertem rückkehrenden Elektronenstrom wird im Sekundärelektronenvervielfacher verstärkt.

Claims (5)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum Nachweis von Ionen in dem evakuierten Kollektorraum eines Massenspektrometers mittels eines Sekundärelektronenvervielfachers, dadurch gekennzeichnet, daß der Kollektorraum und der Raum des Sekundärelektronenvervielfachers vakuummäßigmittels einer Folie getrennt sind, daß die Ionen mittels dieser Trennfolie aufgefangen werden und daß die dadurch hervorgerufene Ladung der Folie mittels eines Elektronenstrahlbündels abgetastet und der zurückkehrende reflektierte Elektronenstrahl im Sekundärelektronenvervielfacher verstärkt wird.
  2. 2. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Folie aus am Rand isoliertem Metall oder aus leitendem Glas besteht.
  3. 3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß ihr Gehäuse aus Glas besteht und an den Auffangteil eines Massenspektrometers, insbesondere eines Massenfilters, angesetzt ist.
  4. 4. Anordnung nach einem der Ansprüche2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß Magnetspulen zur Fokussierung und Justierung des Elektronenstrahlbündels vorgesehen sind.
  5. 5. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß zur Aussendung des Elektronenstrahlbündels eine Elektronenkanone vorgesehen ist.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Patentschrift Nr. 972 280; deutsche Auslegeschriften Nr. 1 026 880, 1 037 024, 1 051 534; Ewald/Hintenberger, »Methoden und Anwendungen der Massenspektroskopie«, Weinheim, 1953, S. 106 bis 108.
DES82655A 1962-11-30 1962-11-30 Verfahren und Anordnung zum Nachweis von Ionen in Massenspektrometern Pending DE1231037B (de)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1026880B (de) * 1953-08-10 1958-03-27 Bendix Aviat Corp Sekundaerelektronenvervielfacher und seine Verwendung bei einem Massenspektrometer
DE1037024B (de) * 1955-01-03 1958-08-21 Bendix Aviat Corp Sekundaerelektronenvervielfacher
DE1051534B (de) * 1953-06-04 1959-02-26 Bendix Aviat Corp Anordnung zur Massenspektrometrie
DE972280C (de) * 1952-12-30 1959-06-25 Philips Nv Massenspektrometer zum Analysieren von Stoffen

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GB1025279A (en) 1966-04-06

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