DE1197245B - Roentgenbeugungsgeraet - Google Patents

Roentgenbeugungsgeraet

Info

Publication number
DE1197245B
DE1197245B DEN18090A DEN0018090A DE1197245B DE 1197245 B DE1197245 B DE 1197245B DE N18090 A DEN18090 A DE N18090A DE N0018090 A DEN0018090 A DE N0018090A DE 1197245 B DE1197245 B DE 1197245B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
crystal
point
rays
intersection
grid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEN18090A
Other languages
English (en)
Inventor
Joshua Ladell
Kurt Lowitzsch
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE1197245B publication Critical patent/DE1197245B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Int. α.:
GOIj
Deutsche Kl.: 42 h - 20/02
Nummer:
Aktenzeichen:
Anmeldetag:
Auslegetag:
1197245
N18090IX a/42 h
28. März 1960
22. Juli 1965
Die Ermittlung der richtigen Einstellung einer Meßkammer zur Erfassung eines bestimmten, durch eine Kristallstruktur reflektierten Röntgenstrahlenbündels bei der röntgenographischen Untersuchung von kristallinen Materialien bereitet Schwierigkeiten. Es ist bereits eine Einrichtung bekannt, bei der die Meßkammer durch geeignete mechanische Kopplungsglieder um den Kristall herumgeführt wird, wobei sich der letztere mit der halben Winkelgeschwindigkeit der Kammerbewegung dreht und einen engen Bereich, der ein reflektiertes Strahlenbündel enthält, mit herabgesetzter Geschwindigkeit durchläuft, nachdem vorher die Lage des Strahlenbündels von der Meßkammer angezeigt und diese darauffolgend über den erwähnten Bereich zurückgeführt ist. Die so ermittelten und die selektierte Strahlung kennzeichnenden Ergebnisse werden aufgezeichnet. Zu diesem Zweck sind bei der Einrichtung mechanische Vorrichtungen zur Übertragung der Winkellagen des Strahlenempfängers auf eine Registriertafel vorgesehen, die ermöglichen, ein Muster des reziproken Gitters der Kristallstruktur aufzuzeichnen.
Die Zusammenhänge des reziproken Gitters mit der jeweiligen Gitterstruktur des Kristalls sind ganz allgemein bekannt, jedoch nicht in der Weise ausgenutzt worden, daß in möglichst einfacher Weise nur solche Einstellungen der Meßkammer durchgeführt werden, die mit jeweils einem der Bildpunkte des reziproken Gitters übereinstimmen.
Zur Ermittlung des reziproken Gitters einer Kristallstruktur eignet sich ferner ein mit Röntgenstrahlen durchgeführtes photographisches Verfahren, bei dem die Aufnahmen ein Beugungsmuster zeigen, das aus Bildpunkten besteht.
Da sowohl die Herstellung des Musters der Gitterstruktur sowie auch die Ermittlung der Reflexionseinrichtungen aus dem erzeugten Beugungsmuster mit einem erheblichen Zeitaufwand verknüpft sind, wird mit der Erfindung bezweckt, nach einer einmaligen Herstellung des reziproken Gitters in schneller Aufeinanderfolge mehrere Proben, die sämtlich die gleiche Kristallstruktur besitzen, prüfen zu können.
Dementsprechend bezieht sich die Erfindung auf ein Röntgenbeugungsgerät zur Bestimmung der vom reziproken Gitter einer Kristallstruktur bedingten jeweiligen Reflexionsrichtung einer Reihe von einem Bildpunkt in diesem Gitter entsprechenden Netzebenen des Kristalls unter Verwendung monochromatischer Röntgenstrahlen mit einer Meßkammer zum Auffangen der vom Kristall reflektierten Strahlung, bei dem die Meßkammer in einer den zentralen Röntgenbeugungsgerät
Anmelder:
N. V. Philips' Gloeilampenfabrieken,
Eindhoven (Niederlande)
Vertreter:
Dr. rer. nat. P. Roßbach, Patentanwalt,
Hamburg 1, Mönckebergstr. 7
Als Erfinder benannt:
Joshua Ladell, Flushing, N. Y.;
Kurt Lowitzsch, Yonkers, N. Y. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 30. März 1959 (803 008)
Strahl des Strahlenbündels enthaltenden Ebene um den Kristall drehbar an einem Träger angeordnet ist, der seinen Drehpunkt in der Drehachse des Kristalls hat, derart, daß erfindungsgemäß auf dem Träger in einem dem Radius eines Meßkreises entsprechenden Abstand vom Drehpunkt ein Stift befestigt ist, der über einen Richtarm verschiebbar ist, der diesen Stift und den Schnittpunkt des Meßkreises mit der Verlängerung des zentralen Strahles des Röntgenstrahlenbündels entweder geradlinig oder unter Verwendung eines Zwischengliedes, längs dessen der Richtarm verschiebbar ist und das um eine Achse im Schnittpunkt des zentralen Strahles mit dem Meßkreis drehbar ist, rechtwinklig verbindet und dabei um den genannten Schnittpunkt drehbar ist, wobei diese Drehbewegung auf den Kristall übertragen wird, und daß bei geradliniger Verbindung von Stift und Schnittpunkt der Richtarm in regelmäßigen Abständen mit Merkzeichen versehen ist, die in einem Abstand vom Drehpunkt angeordnet sind, der proportional dem Abstand des Ursprungs des reziproken Gitters von dem jeweiligen Punkt in diesem Gitter ist, der derjenigen Reihe von Gitterebenen entspricht, die in die jeweilige Stellung der Meßkammer Röntgenstrahlung werfen, während bei Verwendung eines Zwischengliedes außer Merkzeichen auf dem Richtarm auch auf diesem Zwischenglied Merkzeichen vorgesehen sind, deren Abstände zum Drehpunkt
509 627/157
3 4
den Gitterabständen einer anderen Reihe von Gitter- des Strahlenbündels mit der Kugeloberfläche ist.
ebenen proportional sind. Diese Zusammenhänge sind bekannt.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Jeder Schnitt der Kugeloberfläche längs einer das
Zeichnung näher erläutert. Strahlenbündel enthaltenden Ebene bildet einen
F i g. 1 stellt den Zusammenbau eines Röntgen- 5 Meßkreis zum Einstellen der Meßkammer. Die Einbeugungsmessers dar, während richtung nach Fig. 2, mit deren Hilfe die Einstel-
F i g. 2, 3 und 4 angeben, wie diese Vorrichtung lung erfolgen kann, zeigt die Meßkammer 5, die an
erweitert werden muß. einem Arm 35 befestigt ist, der um die Welle 31
In F i g. 1 wird von der Auftreffplatte 1 der Rönt- drehbar ist. Am Arm 35 ist ein Stift 36 befestigt. Bei genröhre 2 ein Bündel Röntgenstrahlen 8 ausgesandt, xo Drehung des Armes 35 beschreibt der Stift 36 einen Die Blende 7 beschränkt den Durchmesser des Bün- Kreis 34, der in diesem Falle der Meßkreis ist. Im dels. Die Röntgenstrahlen treffen auf den Kristall 9 Schnittpunkt der Horizontalen durch den Mittelpunkt eines Monochromator auf. Der Kristall ist um die 31 und des Meßkreises 34 liegt ein Drehpunkt 38. Achse 10 senkrecht zur Zeichenebene drehbar und Um diesen Drehpunkt ist ein Richtarm 37 drehbar, so eingestellt, daß Röntgenstrahlen einer bestimmten 15 der mit einem Schlitz versehen ist. Dieser Schlitz Wellenlänge reflektiert und zu einem Bündel 4 kon- umfaßt den Stift 36, so daß beim Drehen der Meßzentriert werden. Der Gegenstand 3 wird durch diese kammer 5 der Stift 36 sich im Schlitz verschiebt. Da-Strahlen getroffen, und die Meßkammer 5 fängt den bei führt der Richtarm 37 eine Drehbewegung um Teil dieser Strahlung auf, der vom Gegenstand 3 den Punkt 38 durch. Mit dem Richtarm dreht auch reflektiert wird. Eine Fangplatte 13 fängt die Strahlen 20 ein Rad 39, z. B. ein Zahnrad, dessen Bewegung auf, die am Gegenstand vorbeigehen. Unerwünschte durch ein Kupplungsrad 33 auf ein auf der Welle 31 Streuung der Röntgenstrahlen wird vom Kollimator sitzendes Treibrad 32 übertragen wird. Die Welle 31 12 und vom Kollimator 6 verhütet. trägt weiter den zu analysierenden Kristall, so daß
Die Meßkammer 5 ist um den Gegenstand 3 dreh- sich durch die Verschiebung der Meßkammer 5 auch
bar und bewegt sich dabei auf dem Umfang des 25 die Orientierung des Kristalls in bezug auf das ein-
Kreises PQ, der nachstehend als Meßkreis bezeichnet fallende Röntgenstrahlenbündel ändert. In der
wird. Zeichnung fällt die Verbindungslinie der Drehwellen
Die gewünschten Angaben zur Strukturbestim- 31 und 38 mit der Richtung des einfallenden Strah-
mung eines Kristalls bestehen aus den gesammelten lenbündels zusammen.
Beugungsspektren von Einkristallen. Durch Bestrah- 30 Mit dieser Vorrichtung ist es möglich, die Intensi-
lung eines Einkristalls mit einem parallelen Bündel täten der Bildpunkte zu bestimmen, die in einer
nahezu monochromatischer Röntgenstrahlen ergibt Koordinate durch den Ursprung des reziproken Git-
sich ein Strahlenspektrum, das mit Hilfe des für die ters liegen.
Strukturbestimmung besonders wertvollen reziproken Eine Erweiterung besteht aus der Gewindespindel
Gitters analysiert werden kann. 35 40, die um den Drehpunkt 38 drehbar ist und auf
Wenn die Abmessungen der Elementarzelle des der der Richtarm 37 verschiebbar ist. Hierzu dient
Kristalls durch die Vektoren a, b und c dargestellt eine Mutter 41. Durch Drehung dieser Mutter ent-
werden, läßt sich das reziproke Gitter konstruieren fernt man den Richtarm 37 vom Drehpunkt 38.
und in bezug auf den Kristall dadurch orientieren, Diese Verschiebung entspricht einer zweiten Koordi-
daß ein dreidimensionales Gitter mit den Knoten- 40 nate durch den Ursprung des reziproken Gitters,
punktabständen a', b' und c' konstruiert wird, wobei Die Lage jedes Punktes im reziproken Gitter in
bezug auf den Ursprung ist durch zwei Komponenten
a' — '"'c } fr — -'- und c' = ~ ; parallel zu jeder der Koordinaten bestimmt. Der
(abc) ' (ate) (abc)' Vektor, der vom Ursprung her auf einen Punkt
ein bestimmter Punkt im Gitter, z. B. 45 gerichtet ist, verläuft senkrecht zu den Gitterebenen,
so daß, wenn der Vektor um den Ursprung gedreht
t(hki) = n&' + kh! + Id, ν/Ίτά, bis er den Meßkreis in einem dem Abstand vom
Gitterpunkt proportionalen Abstand schneidet, der
gibt die Stelle des reziproken Gitters an, die mit der Strahl des Meßkreises durch diesen Punkt die Rich-
Beugung einer durch die Millerschen Indizes (M/) 50 tung der reflektierten Strahlen angibt. Das Verhältnis
bezeichneten Reihe von Kristallebenen zusammen- wird von einem Faktor bestimmt, der vom Radius
hängt. Wenn der Kristall derart in bezug auf die . „ „, . , ,. . . , „, , Ώ ,. 1 . .
einfallenden Röntgenstrahlen angeordnet ist, daß des Meßkreises bedingt lst· Wenn der Radlus Tist>
Reflexion der Reihe von Kristallebenen (hkl) erfolgt, entspricht die Länge der Sehne des Meßkreises zwi-
ist die Orientierung des Kristalls in bezug auf das 55 sehen dem Ursprung und dem Schnittpunkt der
Strahlenbündel völlig durch den Lagenvektor Länge des Lagenvektors rihkl) im reziproken Gitter.
W 4- Uh' -4- Ir·' ^ei Anwendung eines Meßkreises mit dem Radius r
na -r kq. + ic wird dag Verhältnis vom Faktor
bestimmt. r
Die Orientierung des Kristalls in bezug auf das 60 —ρ = r λ
Strahlenbündel, bei der Reflexionen stattfinden, ist -ymit Hilfe des reziproken Gitters bestimmbar. Zu diesem Zweck wird der Schnittpunkt des Vektors r(hk[} bestimmt, wenn λ die Wellenlänge der Röntgenmit einer kugelförmigen Oberfläche bestimmt, deren strahlen ist.
Mittelpunkt auf der Achse des einfallenden Strahlen- 65 Punkte des reziproken Gitters auf einer Koordi-
bündels liegt und deren Radius -i-ist, wobei der An- "ate könn t e° auf f™ Richtann 37 angegeben sein.
λ Zum Einstellen auf Punkte, die auf parallel zu dieser
fangspunkt des Vektors der Schnittpunkt der Achse Koordinate verlaufenden Linien liegen, wird der
Richtarm 37 längs der Drahtschraube 40 verschoben, die zu diesem Zweck mit Merkzeichen versehen sein kann. F i g. 3 stellt eine solche Verschiebung dar.
In Fig. 4 ist diese Verteilung der Gitterpunkte durch Kerben in einer mit dem Richtann 37 verbundenen Leiste 42 und durch Kerben in einer neben der Gewindespindel 40 angebrachten Leiste 43 angegeben. Die Merkzeichen auf dem Richtarm37 sind in Abständen vom Drehpunkt 38 angeordnet, die den Knotenpunktabständen im reziproken Gitter längs einer Koordinate des einem bestimmten Punkt im Gitter zugehörigen Lagenvektors
L(im = ha' + W + Ic'
proportional sind.
Die Abstände der Merkzeichen auf der neben der Gewindespindel 40 angebrachten Leiste 43 sind den Knotenpunktabständen längs der zweiten Koordinate des betreffenden Lagenvektors proportional. Die Lage des Stiftes 36 und somit die Orientierung der Meßkammer 5 in bezug auf die Welle 31 ist bestimmt, wenn der Nocken des mit der Scheibe 34 verbundenen Gliedes 44 in eine Kerbe einschnappt. Es läßt sich somit die Meßkammer der Reihe nach in jede der den Kerben entsprechenden Lagen einstellen. Zu diesem Zweck wird die Scheibe 34 mit Hilfe der Schnecke 74 gedreht. Sind so alle Kerben an der Reihe gewesen, so kann eine nachfolgende Reihe von Einstellungen erfolgen, nachdem durch Drehen des Stabes 40 der Wulst 52 des Richtarmes 37 längs der Spindel 40 zu einer nächsten Kerbe in der Leiste 43 verschoben ist. Mit dem Richtarm 37 ist das Glied 47 verbunden, das einen Nocken aufweist, der an der Leiste 43 anliegt und bei der gewählten Einstellung in eine Kerbe einschnappt. Die Einstellungen können mit Hilfe des Knopfes 41 und des Kurbelrades 73 erfolgen.
Die Vorrichtung kann selbsttätig arbeiten. Zu diesem Zweck wird die Schnecke 74, welche die Scheibe 34 bewegt, über die Zahnräder 71 und 73 von einem Elektromotor 49 angetrieben. Der Nocken des Gliedes 44 betätigt einen Mikroschalter, und jeweils, wenn der Nocken in eine Kerbe des Rahmens 42 einschnappt, wird der Strom des Motors 49 unterbrochen. Dann erfolgt die Intensitätsmessung mittels der Meßkammer 5, wonach der Motor 49 erneut in Betrieb gesetzt wird, bis der Nocken des Schalters 44 die nächste Kerbe erreicht und den Motor 49 stoppt. Nach der letzten Kerbe wird der Mikroschalter 45 wirksam, der den Motor 49 in umgekehrtem Sinne erregt, wodurch die Scheibe 34 zurückgedreht wird. Diese Bewegung wird vom Mikroschalter 46 unterbrochen, der zugleich den Motor 51 in Betrieb setzt, so daß die Gewindespindel 40 von den Zahnrädern 76 und 77 gedreht wird und der Richtarm 37 sich verschiebt. Die Verschiebung wird unterbrochen, wenn der Nocken des Mikroschalters 47 eine folgende Kerbe des Rahmens 43 erreicht. Dann wird die Drehbewegung der Scheibe 34 wiederholt und der Mikroschalter 44 von den Kerben der Leiste 52 betätigt, wodurch wieder eine Reihe von Messungen durchgeführt wird.

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Röntgenbeugungsgerät zur Bestimmung der vom reziproken Gitter einer Kristallstruktur bedingten jeweiligen Reflexionsrichtung einer Reihe von einem Bildpunkt in diesem Gitter entsprechenden Netzebenen des Kristalls unter Verwendung monochromatischer Röntgenstrahlen mit einer Meßkammer zum Auffangen der vom Kristall reflektierten Strahlung, bei dem die Meßkammer in einer den zentralen Strahl des Strahlenbündels enthaltenden Ebene um den Kristall drehbar an einem Träger angeordnet ist, der seinen Drehpunkt in der Drehachse des Kristalls hat, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem Träger in einem dem Radius eines Meßkreises entsprechenden Abstand vom Drehpunkt ein Stift befestigt ist, der über einen Richtarm verschiebbar ist, der diesen Stift und den Schnittpunkt des Meßkreises mit der Verlängerung des zentralen Strahles des Röntgenstrahlenbündels entweder geradlinig oder unter Verwendung eines Zwischengliedes, längs dessen der Richtarm selbst verschiebbar ist und das um eine Achse im Schnittpunkt des zentralen Strahles mit dem Meßkreis drehbar ist, rechtwinklig verbindet und dabei um den genannten Schnittpunkt drehbar ist, wobei diese Drehbewegung auf den Kristall übertragen wird, und daß bei geradliniger Verbindung von Stift und Schnittpunkt der Richtarm in regelmäßigen Abständen mit Merkzeichen versehen ist, die in einem Abstand vom Drehpunkt angeordnet sind, der proportional dem Abstand des Ursprunges des reziproken Gitters von dem jeweiligen Punkt in diesem Gitter ist, der derjenigen Reihe von Gitterebenen entspricht, die in die jeweilige Stellung der Meßkammer Röntgenstrahlung werfen, während bei Verwendung eines Zwischengliedes außer Merkzeichen auf dem Richtarm auch auf diesem Zwischenglied Merkzeichen vorgesehen sind, deren Abstände zum Drehpunkt den Gitterabständen einer anderen Reihe von Gitterebenen proportional sind.
    In Betracht gezogene Druckschriften:
    USA.-Patentschriften Nr. 2 819 405, 2 332 391;
    Buerger, The Photography of the Reciprocal Lattice, Verlag The American Society for X-Ray and Electron Diffraction, 1944;
    Glocker, Materialprüfung mit Röntgenstrahlen, Springer Verlag, 1958, S. 200 bis 211.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
    509 627/157 7.65 © Bundesdruckerei Berlin
DEN18090A 1959-03-30 1960-03-28 Roentgenbeugungsgeraet Pending DE1197245B (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US803008A US3105901A (en) 1959-03-30 1959-03-30 X-ray diffraction device with 360 rotatable specimen holder

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1197245B true DE1197245B (de) 1965-07-22

Family

ID=25185320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEN18090A Pending DE1197245B (de) 1959-03-30 1960-03-28 Roentgenbeugungsgeraet

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3105901A (de)
CH (1) CH396446A (de)
DE (1) DE1197245B (de)
GB (1) GB953535A (de)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3189741A (en) * 1963-09-06 1965-06-15 Picker X Ray Corp Goniostat
US3311746A (en) * 1964-06-03 1967-03-28 Melpar Inc Electron beam device for measuring the displacement of one body relative to another
US3333099A (en) * 1964-07-06 1967-07-25 Philips Corp Single crystal x-ray diffractometer with a total-circle-of-reflection sensor
US3394255A (en) * 1965-06-28 1968-07-23 Picker Corp Diffraction mechanism in which a monochromator diffracts the X-ray beam in planes transverse to an axis of specimen rotation
US3555275A (en) * 1968-11-04 1971-01-12 Avco Corp Specimen positioning apparatus for use with a back reflection x-ray camera
US3702933A (en) * 1970-07-31 1972-11-14 Nasa Device and method for determining x-ray reflection efficiency of optical surfaces
US4074132A (en) * 1976-08-24 1978-02-14 North American Philips Corporation Automatic single crystal diffractometer
US4178513A (en) * 1978-01-17 1979-12-11 Nuclear Semiconductor Art object analyzer
DE2933047C2 (de) * 1979-08-16 1982-12-30 Stoe & Cie. GmbH, 6100 Darmstadt Verfahren und Vorrichtung der Röntgendiffraktion
JPS60131900A (ja) * 1983-12-16 1985-07-13 Sumitomo Electric Ind Ltd 単結晶の製造方法
GB9122085D0 (en) * 1991-10-17 1991-11-27 Cambridge Surface Analytics X-ray diffractometer
EP1623202B1 (de) * 2003-03-20 2012-08-22 Cornell Research Foundation, Inc. Gebogener, spitz zulaufender Film, der als Probenhalter zur Kristallographie von Mikrokristallen verwendet wird
EP3850347A4 (de) * 2018-09-14 2022-05-18 Proto Patents Ltd. Kugelabbildungssystem und betriebsverfahren dafür

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2332391A (en) * 1942-11-28 1943-10-19 American Cyanamid Co Projectometer
US2819405A (en) * 1954-03-26 1958-01-07 Bell Telephone Labor Inc Automatic recording diffractometer and plotter

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL152924B (nl) * 1949-04-19 Engelhard Ind Werkwijze voor het reformeren van naftenen en paraffinen bevattende aardoliekoolwaterstoffen in een in serie geplaatste nafteendehydrogeneringszone en een paraffinedehydrocycleringszone.
US2648011A (en) * 1951-08-16 1953-08-04 Good James Nathan Apparatus for electronic spectrometric analysis of back-reflection diffraction
US2805342A (en) * 1954-07-12 1957-09-03 Andrew R Lang Diffractometer
GB906091A (en) * 1957-10-04 1962-09-19 Nat Res Dev Improvements relating to diffractometers
US3005098A (en) * 1958-03-31 1961-10-17 Gen Electric X-ray emission analysis

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2332391A (en) * 1942-11-28 1943-10-19 American Cyanamid Co Projectometer
US2819405A (en) * 1954-03-26 1958-01-07 Bell Telephone Labor Inc Automatic recording diffractometer and plotter

Also Published As

Publication number Publication date
CH396446A (de) 1965-07-31
US3105901A (en) 1963-10-01
GB953535A (en) 1964-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3840736C2 (de)
DE1197245B (de) Roentgenbeugungsgeraet
DE2708612A1 (de) Vorrichtung zur gewinnung eines roentgenstrahlbildes in einer querschnittsebene eines objekts
EP1310785B1 (de) Fluoroskopisches Computertomographie-Verfahren, Computertomograph und Computerprogramm zur Verarbeitung der Messwerte eines Computertomographen
DE10109462A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Achslage zweier Maschinenspindeln
DE2748501C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erstellung von Texturtopogrammen
EP0367856B1 (de) Computer-Tomograph
DE3803129A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum erzeugen eines durchstrahlungsbildes
DE60305875T3 (de) Verfahren zur Durchführung einer Leistungsbeugungsanalyse
DE2623965C3 (de) Computer-Tomograph
DE2534790C2 (de) Röntgengoniometer zum wahlweisen Durchführen von Buerger-Präzessionsaufnahmen und Drehkristallaufnahmen
DE1901666A1 (de) Verfahren fuer Kristalltopographie und Vorrichtung zur Durchfuehrung dieses Verfahrens
DE19907453B4 (de) Verfahren zur Bestimmung der Orientierung von Einkristallen
DE2114630C3 (de) Verfahren zur Orientierungskontrolle von flachen Einkristallen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE550527C (de) Vorrichtung zur Untersuchung mit Roentgenstrahlen
DE2814337C2 (de) Textur-Spannungsgoniometer zur gemeinsamen Ermittlung sowohl der räumlichen Spannungsverteilung als auch der Kristallorientierungsverteilung (Textur)
DE1950152C3 (de) Vorrichtung zur gleichzeitigen Intensitätsmessung von mehreren Neutronen-Einkristallinterferenzen
DE1016460B (de) Einrichtung zur Ermittlung der Richtungen der von einem Probekoerper gestreuten Roentgenstrahlen
DE2041031C (de) Verfahren und Vorrichtung zur Rontgenkristallstrukturuntersuchung
EP0377070A1 (de) Computertomograph
DD139671A3 (de) Vorrichtung zur roentgenographischen untersuchung von kristallen
DE3441539A1 (de) Mehrkreis-roentgen-spektro-diffraktometer = roentgenautomat
DE2304119C3 (de) Vorrichtung zur Röntgendiffraktionstopographie
DE693825C (de) Vorrichtung zur Aufnahme von Roentgenstrahldiagrammen
DE2654110C2 (de)