DE1195412B - Messvorrichtung zur Bestimmung der elektrischen Werte von Halbleiteranordnungen - Google Patents

Messvorrichtung zur Bestimmung der elektrischen Werte von Halbleiteranordnungen

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DE1195412B
DE1195412B DET18877A DET0018877A DE1195412B DE 1195412 B DE1195412 B DE 1195412B DE T18877 A DET18877 A DE T18877A DE T0018877 A DET0018877 A DE T0018877A DE 1195412 B DE1195412 B DE 1195412B
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transistor
output
resistance
voltage
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DET18877A
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Dr Joachim Thuy
Dipl-Ing Hermann Krauss
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Telefunken Patentverwertungs GmbH
Original Assignee
Telefunken Patentverwertungs GmbH
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2637—Circuits therefor for testing other individual devices

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