DE112022001202T5

DE112022001202T5 - Prüf- und Messsystem

Info

Publication number: DE112022001202T5
Application number: DE112022001202.1T
Authority: DE
Inventors: John J. Pickerd; Keith D. Rule; Mark Anderson Smith
Original assignee: Tektronix Inc
Current assignee: Tektronix Inc
Priority date: 2021-02-25
Filing date: 2022-02-25
Publication date: 2024-01-04
Also published as: WO2022183073A1; US20220268839A1; CN116940853A; JP2024508467A

Abstract

Ein Prüf- und Messsystem umfasst ein Primärinstrument mit einem Eingang zum Empfangen eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) und zum Erzeugen einer Prüfwellenform aus dem Prüfsignal, und einen Duplizierer zum Senden einer Kopie der Prüfwellenform an ein oder mehrere Sekundärinstrumente. Das eine oder die mehreren Sekundärinstrumente sind jeweils so aufgebaut, dass sie auf die Kopie des Prüfsignals zur Analyse zugreifen, und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst einen Empfänger, der so aufgebaut ist, dass er einen Befehl empfängt, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht, einen oder mehrere Prozesse zum Ausführen des empfangenen Befehls, und einen Ausgang zum Senden von Ergebnissen des ausgeführten Befehls, um auf einer Benutzerschnittstelle angezeigt zu werden, die von jeder Benutzerschnittstelle des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente getrennt ist.

Description

TECHNISCHES GEBIET
Diese Offenbarung bezieht sich auf Prüf- und Messsysteme, insbesondere auf Prüf- und Messsysteme, die parallel arbeiten.
HINTERGRUND
Ein automatisiertes Prüfsystem mit einem Prüf- und Messinstrument, wie z. B. einem Oszilloskop („Oszi“), kann Messungen oft nicht schnell genug für die Bedürfnisse des Benutzers berechnen. Einige Messungen erfordern eine erhebliche Verarbeitungszeit. Dies ist ein großes Problem in Umgebungen wie der Fertigungsprüfung, wo die Reduzierung der Prüfzeit und die Maximierung des Durchsatzes wichtige Ziele sind. Einige haben eine parallele bzw. Pipeline-Wellenformverarbeitung in einer Cloud-Computing-Umgebung oder zusätzliche PCs oder andere Verarbeitungsvorrichtungen vorgeschlagen. Derzeit gibt es jedoch keine Möglichkeit, mehrere Prüfvorrichtungen, die unabhängig voneinander arbeiten, zu koordinieren und zu betreiben. Dieses Problem wächst mit der zunehmenden Präzision und Geschwindigkeit moderner Prüf- und Messgeräte, die Eingangssignalabtastraten von bis zu Milliarden oder Billionen Mal pro Sekunde aufweisen.
Diese und andere Unzulänglichkeiten des Standes der Technik werden durch die vorliegende Offenbarung behoben.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

1 ist ein funktionelles Blockdiagramm eines beispielhaften Prüf- und Messsystems mit einem Primärinstrument und einem oder mehreren Sekundärinstrumenten gemäß Ausführungsformen.
2 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer beispielhaften Komponente einer Hauptprüfsteuerung des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen.
3 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer beispielhaften Komponente eines Primärprüfinstruments des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen.
4 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer beispielhaften Komponente eines Sekundärprüfinstruments des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen.
5 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer weiteren beispielhaften Komponente eines Sekundärprüfinstruments des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß

Ausführungsformen.
6 ist ein Diagramm einer beispielhaften Benutzerschnittstelle, die zur Steuerung von Komponenten des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen verwendet werden kann.
BESCHREIBUNG
Ausführungsformen der Offenbarung umfassen im Allgemeinen eine Prüfsystemarchitektur zur Verbesserung der Geschwindigkeit eines automatisierten Prüfsystems.
Im Allgemeinen umfasst das hier beschriebene Prüf- und Messsystem ein Primärinstrument zur Erfassung eines Prüfsignals von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) und ein oder mehrere Sekundärinstrumente, die verschiedene Messungen an dem erfassten Prüfsignal durchführen. Wenn vorhanden, steuert eine Hauptprüfsteuerung, wie unten beschrieben, die Koordination zwischen allen Vorrichtungen im Prüfsystem und stellt eine Anzeige bereit, die gleichzeitig die Ausgänge aller Vorrichtungen in einer einzigen Anzeige darstellt. Ist die Hauptsteuerung nicht vorhanden, kann das Primärinstrument die Funktionalität zur Ansteuerung des Prüfsystems enthalten. Außerdem kann der Benutzer über eine Benutzerschnittstelle eine oder alle angekoppelten Vorrichtungen von einem einzigen Bedienfeld aus steuern.
Obwohl in dieser Offenbarung eine Ausführungsform der Architektur beschrieben wird, die ein oder mehrere Oszilloskope als primäres Prüf- und Messinstrument umfasst, wird ein Fachmann erkennen, dass Ausführungsformen gemäß der Offenbarung neben Oszilloskopen auch viele andere Arten von Signalanalyseinstrumenten umfassen und/oder mit ihnen verwendet werden können, die erhebliche Messberechnungs- und/oder Verarbeitungszeiten erfordern.
1 ist ein funktionales Blockdiagramm eines beispielhaften Prüf- und Messsystems 100 mit einem Primärinstrument 110 und einem oder mehreren Sekundärinstrumenten 150 gemäß Ausführungsformen. Das Primärinstrument 110 ist ein Oszilloskop oder eine andere Messvorrichtung, die Signale von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) 120 erfasst. Die DUT 120 erzeugt typischerweise elektrische Signale, die geprüft werden, aber die DUT kann auch optische Signale erzeugen. Das Primärinstrument 110 empfängt ein Prüfsignal von der DUT 120. Das Prüfsignal wird vom Primärinstrument 110 in typischer Weise aufgenommen, was eine Filterung, wie z. B. De-Embedding-Filterung, Abwärtskonvertierung, Abtastung und Analog-Digital-Wandlung oder eine andere Verarbeitung umfassen kann, um das zu erzeugen, was hier als Prüfwellenform bezeichnet wird. Die Prüfwellenform wird kopiert oder auf andere Weise über eine Signalleitung 112 an ein oder mehrere Sekundärinstrumente 150 gesendet. Bei der Signalleitung 112 kann es sich um eine einzelne Leitung handeln, die Daten seriell sendet, oder die Signalleitung kann eine parallele Leitung sein, die mehrere Signale gleichzeitig sendet. Das Primärinstrument 110 kann mehrere Eingangskanäle umfassen, und auf jedem Eingangskanal können gleichzeitig verschiedene Prüfsignale in Form unterschiedlicher Prüfwellenformen erfasst werden. Jede erfasste Prüfwellenform kann selektiv an eines oder mehrere der Sekundärinstrumente 150 weitergeleitet werden. Es kann eine beliebige Anzahl von Sekundärinstrumenten 150 vorhanden sein, die in 1 als Instrumente 1 - n bezeichnet sind. Weitere Einzelheiten zu den Sekundärinstrumenten werden unter Bezugnahme auf 4 unten beschrieben.
Das Primärinstrument 110 kann über eine Steuerleitung 114 auch Steuersignale an die Sekundärinstrumente 150 senden. In einigen Ausführungsformen, wie z. B. den nachstehend beschriebenen, ist in erster Linie eine Hauptprüfsteuerung 130 für das Senden der Steuersignale auf der Steuerleitung 114 verantwortlich. In anderen Ausführungsformen können sowohl die Hauptprüfsteuerung 130 als auch das Primärinstrument 110 die Steuersignale senden. In jedem Fall steuern die auf der Steuerleitung 114 übertragenen Steuersignale den Betrieb der Sekundärinstrumente 150. Im Folgenden werden die Steuersignale beschrieben, die von der Hauptprüfsteuerung 130 kommen, obwohl es bei einigen Ausführungsformen der Erfindung nicht erforderlich ist, die Hauptprüfsteuerung zu verwenden, und diese Funktion stattdessen vom Primärinstrument 110 ausgeführt werden kann. In einigen Ausführungsformen kann die Hauptprüfsteuerung 130 als Software implementiert sein, die auf dem Primärinstrument 110 oder auf anderer Hardware läuft. Auch wenn in 1 nur ein einziges Primärinstrument 110 dargestellt ist, können Ausführungsformen der Erfindung mehr als ein Primärinstrument umfassen, um Prüfsignale von der DUT 120 zu empfangen, die an die verschiedenen Sekundärinstrumente 150 weitergeleitet werden.
In einigen Ausführungsformen können ein oder mehrere zusätzliche Instrumente, die sich vom Primärinstrument 110 und den Sekundärinstrumenten 150 unterscheiden, in dem System verwendet werden. Das beispielhafte Prüfsystem 100 von 1 umfasst einen Spektrumanalysator 140, der ein Beispiel für ein solches zusätzliches Instrument sein kann. Der Ausgang des zusätzlichen Instruments kann auch an die Sekundärinstrumente 150 gesendet werden, beispielsweise über eine andere Verbindungsleitung 142 oder über die Signalleitung 112. In anderen Ausführungsformen sendet das zusätzliche Instrument seinen Ausgang nicht an die Sekundärinstrumente, sondern kommuniziert gegebenenfalls nur mit dem Primärinstrument 110 oder, falls vorhanden, mit der Hauptprüfsteuerung 130.
Im Allgemeinen wird der Benutzer die verschiedenen Sekundärinstrumente 150 so einrichten, dass sie jeweils unterschiedliche Messungen oder andere Analysen an den Prüfwellenformen durchführen. Anschließend wird der Ausgang der Sekundärinstrumente 150 an die Hauptprüfsteuerung 130 oder sogar an das Primärinstrument 110 zurückgesendet, wo er auf einer Benutzerschnittstelle angezeigt wird, die den Ausgang von jedem der einzelnen Sekundärinstrumente 150 anzeigt, wie nachstehend beschrieben und dargestellt.
2 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer beispielhaften Hauptprüfsteuerung 200 des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen. Die Hauptprüfsteuerung 200 kann ein Beispiel für die mit Bezug auf 1 beschriebene Hauptprüfsteuerung 130 sein.
Die Hauptprüfsteuerung 200 selbst kann auf einer bestimmten Hardware-Vorrichtung, z. B. einem Computer, betrieben werden. Der Computer umfasst einen oder mehrere Prozessoren 290 sowie einen Speicher 292, in dem ein oder mehrere Programme zum Betreiben der Hauptprüfsteuerung 200 gespeichert sind. Der Speicher 292 kann zusätzlich Daten oder andere Informationen speichern, die für die Hauptprüfsteuerung 200 relevant sind.
Die Hauptsteuerung 200 kann mehrere Anzeigen zum Ansehen von Ausgängen von den verschiedenen Vorrichtungen im Prüf- und Messsystem 100 von 1 enthalten. Zum Beispiel zeigt eine Anzeige 210 den vom Primärinstrument 110 (1) erzeugten Ausgang an, während eine Anzeige 220 den vom Spektrumanalysator 140 (1) erzeugten Ausgang anzeigt. Darüber hinaus zeigt ein Array 230 aus Anzeigen die Ausgänge aller Sekundärinstrumente 150 von 1 an, jedes in seinem eigenen Fenster des Arrays 230. Da jedes der Sekundärinstrumente 150 separate Messungen an der Prüfwellenform durchführt, die an das Instrument geleitet wurde, kann der Ausgang von jedem der Sekundärinstrumente unterschiedliche Ausgänge erzeugen, die jeweils auf die spezifische Messung ausgerichtet sind, die gerade von dem jeweiligen Sekundärinstrument durchgeführt wird. So kann beispielsweise das Sekundärinstrument 1 die Spannung der Prüfwellenform messen, während das Sekundärinstrument 2 den Strom misst. Andere Sekundärinstrumente 150 können verschiedene Schwellenwerte überwachen und nur dann einen Ausgang erzeugen, wenn diese Schwellenwerte überschritten werden. Andere Sekundärinstrumente 150 können so konfiguriert sein, dass sie noch weitere Analysen oder Messungen durchführen, wie z. B. die Prüfung der Bitfehlerrate oder die Prüfung des Augenschlusses oder andere Operationen an der Prüfwellenform. Bei Ausführungsformen der Erfindung können alle Ausgänge der Sekundärinstrumente gleichzeitig betrachtet werden. Wie weiter unten im Detail beschrieben, kann jedes der Sekundärinstrumente 150 so gesteuert werden, dass es gleichzeitig an demselben Teil derselben Prüfwellenform arbeitet. Auf diese Weise kann der Benutzer den Vorteil haben, verschiedene und unterschiedliche Messungen der Wellenform zu analysieren, indem er beobachtet, was in allen Sekundärinstrumenten 150 gleichzeitig geschieht.
Die Steuerung und Einstellung der verschiedenen Primär- und Sekundärinstrumente erfolgt über Schnittstellen 240, 250 der Hauptprüfsteuerung 200. Die Schnittstellen 240, 250 der Prüfsteuerung 200 von 2 sind der Übersichtlichkeit halber als separate Schnittstellen dargestellt, obwohl diese Schnittstellen zu einer einzigen Schnittstelle kombiniert werden können. Im Allgemeinen handelt es sich bei der Schnittstelle 240 um eine Programmierschnittstelle, die es dem Benutzer ermöglicht, Programmierbefehle wie z. B. Einrichtungs- und Betriebsbefehle an das Primärinstrument 110 und/oder die Sekundärinstrumente 150 zu übermitteln. Die Programmierschnittstelle 240 kann verwendet werden, um einzelne Befehle an ein beliebiges Primärinstrument 110 oder Sekundärinstrument 150 zu senden. Zum Beispiel kann der Benutzer die Programmierschnittstelle 240 verwenden, um das Sekundärinstrument 150 so einzustellen, dass es (1) die Spannung der Prüfwellenform misst, und auch das Sekundärinstrument 150 so einzustellen, dass es (2) den Strom der Prüfwellenform misst. Zu den Beispielbefehlen können alle bekannten Prüfinstrumentenbefehle gehören, wie z. B. Befehle der Programmierschnittstelle (PI). Der Benutzer kann aber auch seine eigenen Befehle für den Betrieb des Primärinstruments 110 und der Sekundärinstrumente 150 entwickeln.
Eine grafische Schnittstelle 250 kann anstelle der Programmierschnittstelle 240 oder zusätzlich zu dieser verwendet werden. Ein Beispiel für eine grafische Schnittstelle wird in 5 nachstehend beschrieben.
Sowohl die Programmierschnittstelle 240 als auch die grafische Schnittstelle 250 können verschiedene Funktionen zur Steuerung des Betriebs des Prüfsystems 100 verwenden. Ein Steuerprogramm 260 kann eine Sammlung von bestimmten Operationen oder Funktionen sein, die auf dem Prozessor 290 arbeiten, um den Betrieb des Prüfsystems 100 zu planen. Das Steuerprogramm 260 kann zum Beispiel dazu verwendet werden, bestimmte Operationen der Sekundärinstrumente 150 einzurichten und zu initiieren. Eine Synchronisationseinheit 270 kann dazu verwendet werden, sicherzustellen, dass das Primärinstrumente 110 und alle Sekundärinstrumente 150 auf demselben Teil der Prüfwellenform arbeiten, so dass alle Ausgangsanzeigen in dem Array 230 miteinander synchronisiert sind. Die Synchronisationseinheit 270 kann z. B. periodische Signale an die Sekundärinstrumente 150 senden, um sie in Übereinstimmung zu halten. Oder die Synchronisationseinheit 270 kann festlegen, dass die Prüfung der Prüfwellenform an einem bestimmten Abschnitt der Prüfwellenform beginnen soll, z. B. bei 15,3000 Sekunden. Dann setzt jedes der angeschlossenen Instrumente 110, 150 und jedes andere Instrument des Prüfsystems 100 seinen Startpunkt für die Analyse auf den exakten angegebenen Zeitpunkt. Wenn sie durch einen Start- oder Laufbefehl ausgelöst werden, arbeiten alle Sekundärinstrumente mit ihrer lokalen Kopie der Prüfwellenform und erzeugen ihre individuellen Prüfergebnisse, die dann an die Hauptsteuerung 200 zurückgesendet werden, damit sie auf dem Array 230 aus Anzeigen angesehen werden können. Die Synchronisationseinheit 270 kann während der Prüfung in regelmäßigen Abständen Signale an das Primärinstrument 110 und die Sekundärinstrumente 150 senden, um sicherzustellen, dass jedes Instrument weiterhin synchron arbeitet.
In einigen Ausführungsformen wird die Synchronisationseinheit 270 verwendet, um eine Fehlersuchfunktion zu implementieren, bei der alle Sekundärinstrumente 150 für eine bestimmte oder vorher festgelegte Zeit arbeiten und dann gleichzeitig den Betrieb einstellen und in einen Wartezustand versetzt werden, während der Bediener den Ausgang der Sekundärinstrumente 150 in dem Array 230 aus Anzeigen analysiert. Dann kann der Bediener einen Befehl ausführen, z. B. durch Drücken einer „Step“-Taste auf der Hauptprüfsteuerung 130, um das Primärinstrument 110 und alle Sekundärinstrumente 150 wieder für die angegebene Zeit fortfahren zu lassen, und erneut in einen Wartezustand versetzen. Die angegebene Zeit kann sehr kurz sein, gemessen in Sekundenbruchteilen. In anderen Ausführungsformen wird der nächste Fehlerbehebungszustand durch Merkmale der Wellenform selbst bestimmt und nicht durch die Zeit begrenzt. In anderen Ausführungsformen kann das Primärinstrument 110 oder die Hauptsteuerung 200 so konfiguriert sein, dass es bzw. sie ein auslösendes Ereignis erkennt, bei dem ein „Stopp“-Befehl an alle Sekundärinstrumente 150 gesendet wird. Dadurch wird sichergestellt, dass die Sekundärinstrumente synchronisiert bleiben, wenn sie wieder mit der Messung der Prüfwellenform beginnen. Diese feine Zeit-, Ereignis- und Triggersteuerung ermöglicht es dem Benutzer, viele Facetten der Prüfwellenform schnell und gleichzeitig zu bewerten, indem er den Ausgang des Primärinstruments 110 und aller Sekundärinstrumente 150 gleichzeitig auswertet. Die Hauptprüfsteuerung 130 erzeugt die Befehle zur Steuerung des gleichzeitigen Betriebs aller Sekundärinstrumente 150.
Ein Task-Manager 280 kann außerdem von der Programmierschnittstelle 240 und der grafischen Schnittstelle 250 verwendet werden, um verschiedene Vorgänge zwischen dem Primärinstrument 110 und den Sekundärinstrumenten 150 zu koordinieren, wie unten beschrieben.
Die Ausgänge der Programmierschnittstelle 240 und/oder der grafischen Schnittstelle 250 sowie des Steuerprogramms 260, der Synchronisationseinheit 270 und eines Taskmanagers 280 werden über die Steuerleitung wie z. B. die Steuerleitung 114 in 1 an das Primärinstrument 110 und die Sekundärinstrumente 150 gesendet. Die Ausgänge können an ein oder mehrere einzelne Sekundärinstrumente 150 nach individueller Adresse oder Identifikation gerichtet werden, oder die Ausgänge können an alle ausgewählten Sekundärinstrumente 150 gleichzeitig gerichtet werden.
3 ist ein funktionelles Blockdiagramm einer beispielhaften Komponente eines Primärprüfinstruments 300 des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen. Das Primärinstrument 300 kann ein Beispiel für das Primärinstrument 110 aus 1 sein. Im Allgemeinen kann das Primärprüfinstrument 300 genauso oder ähnlich wie ein herkömmliches Prüfinstrument, z. B. ein Oszilloskop, mit einigen zusätzlichen Funktionen arbeiten. Da herkömmliche Prüfinstrumente gut bekannt sind, wie z. B. die Tatsache, dass sie mit einem oder mehreren Prozessoren 310 und zugehörigem Speicher 312 arbeiten, wird der Kürze halber nicht auf den typischen Instrumentenbetrieb eingegangen.
Das Primärprüfinstrument 300 nimmt ein Eingangssignal von der zu prüfenden Vorrichtung (DUT) entgegen und kann eine typische Wellenformverarbeitung in einem Wellenformprozessor 320 durchführen. Eine solche Verarbeitung kann z. B. die Erzeugung von Abtastwerten aus dem Eingangssignal zur Erstellung einer Wellenform, die Filterung, die Extraktion eines Taktsignals oder die Umwandlung der Eingangssignale von analogen in digitale Signale umfassen. In anderen Ausführungsformen wird das Eingangssignal kaum oder gar nicht verarbeitet und stattdessen in seinem Rohzustand empfangen und gespeichert. Ein Wellenformduplizierer 330 wählt einen gewünschten Teil des Eingangssignals aus und erstellt Kopien der Wellenform, die an die Sekundärinstrumente 150 gesendet werden (1). Der Wellenformduplizierer kann mehrere Kopien erstellen oder stattdessen eine einzige Kopie an jedes der Sekundärinstrumente 150 senden. In jedem Fall stellt das Primärinstrument sicher, dass der gewünschte Teil des zu analysierenden Eingangssignals an die Sekundärinstrumente 150 gesendet wird. Das Primärprüfinstrument 300 kann Eingangssignale von der zu prüfenden Vorrichtung auf mehreren Kanälen empfangen und mehrere Prüfwellenformen erzeugen. Wie unten beschrieben, kann das Primärprüfinstrument 300 jede einzelne seiner gespeicherten Wellenformen an jedes der Sekundärinstrumenten 150 weiterleiten. Es ist also nicht notwendig, dass jedes Sekundärinstrument 150 mit einer identischen Wellenform arbeitet. Im Allgemeinen sind jedoch alle Prüfwellenformen aller Sekundärinstrumente 150 miteinander verbunden, da alle Eingangssignale von den verschiedenen Kanälen des Primärinstruments 300 zeitlich miteinander verbunden sind, da sie zur gleichen Zeit erfasst werden.
Das Primärinstrument 300 kann eine Programmierschnittstelle 340 und/oder eine grafische Benutzerschnittstelle 350 enthalten, über die der Benutzer das Primärinstrument einrichten und bedienen kann. In Ausführungsformen der Erfindung, die keine separate Hauptsteuerung, wie die Hauptprüfsteuerung 130, enthalten, können alle oben beschriebenen Funktionen in Bezug auf die Hauptsteuerung stattdessen vom Primärinstrument 300 ausgeführt werden. In denjenigen Ausführungsformen, die eine Hauptprüfsteuerung 130 enthalten, kann das Primärinstrument 300 Steuersignale von der Hauptsteuerung empfangen. Die Steuersignale können z. B. an einer der Schnittstellen 340 oder 350 empfangen werden. Darüber hinaus können Synchronisationssignale von der Hauptprüfsteuerung 130 an einem Task-Manager 380 empfangen werden, der das Primärinstrument 300 bei der Durchführung bestimmter Aufgaben oder die Synchronisation des Primärinstruments steuern kann, damit es mit den Sekundärinstrumenten synchron bleibt, wie oben beschrieben. Obwohl getrennt dargestellt, können in einigen Ausführungsformen die Steuersignale und die Synchronisationssignale von dem Primärinstrument 300 über eine einzige Steuerleitung empfangen werden.
Das Primärinstrument 300 umfasst außerdem eine lokale Ausgangsanzeige 360, die von der grafischen Benutzerschnittstelle 350 getrennt sein kann. In beiden Fällen wird eine Kopie der Ausgangsanzeige 360 an die Hauptprüfsteuerung 130 zur Anzeige auf der Primärinstrumentenanzeige dieser Steuerung gesendet, wie oben unter Bezugnahme auf 2 beschrieben. Die Ausgangsanzeige 360 kann die Rohsignalform zeigen, wie sie von der DUT angenommen wird, oder sie kann den Zustand der Wellenform zeigen, wie sie z. B. vom Primärinstrument 110 bearbeitet wird.
Eine Hauptfunktion des Primärinstruments 300 besteht darin, das Signal oder die Signale von der DUT aufzunehmen und eine Wellenform für die Analyse zu erzeugen. In einigen Ausführungsformen wird nur die Funktion der Annahme des Prüfsignals und der Erstellung von Kopien der Wellenform oder ihrer anderweitigen Bereitstellung für ein oder mehrere Sekundärprüfinstrumente 150 vom Primärinstrument 300 ausgeführt. In dieser Ausführungsform kann anstelle der Verwendung des Primärinstruments 300 zur Entgegennahme der Eingangssignale ein Signalempfänger das Signal zur Analyse entgegennehmen, das Signal anderen Vorrichtungen im System zur Verfügung stellen, kann aber keine Analyse durchführen oder sogar einen lokalen Ausgang der Wellenform erzeugen. In der Ausführungsform des Signalempfängers können die Ausgangsanzeige 360 sowie die Schnittstellen 340 oder 350 oder beide vom Primärinstrument 300 weggelassen werden. Diese Funktionen können stattdessen von einem Personal Computer (PC) ausgeführt werden, auf dem Software läuft, die solche Funktionen implementieren kann. In einer solchen Ausführungsform ist der Signalempfänger so aufgebaut, dass sie die Signale für die Prüfung erfasst, während die Hauptsteuerung wie z. B. die Hauptprüfsteuerung 200 in 2 dazu dient, Kopien der Wellenform an die Sekundärinstrumente 150 zu verteilen und den Betrieb der Sekundärinstrumente zu steuern. Eine derartige Ausführungsform kann insbesondere in einer Prüfanwendung für die Fertigung nützlich sein, da sie es ermöglicht, das Primärinstrument fast vollständig für den Empfang von Prüfsignalen von zu prüfenden Vorrichtungen und die Erfassung von Prüfwellenformen einzusetzen, während ein oder mehrere Sekundärinstrumente selektiv und dynamisch zur Durchführung von Messungen oder Analysen dieser Wellenformen eingesetzt werden können, wodurch die Ressourcenauslastung des Primärinstruments erhöht, der Prüfdurchsatz in der Fertigung gesteigert und die Gesamtprüfzeit verkürzt wird.
4 ist ein funktionelles Blockdiagramm eines Beispiels eines Sekundärprüfinstruments 400 des Prüf- und Messsystems von 1 gemäß Ausführungsformen. Das Sekundärprüfinstrument 400 kann ein Beispiel für eines der Sekundärprüfinstrumente 150 aus 1 sein. Ein typisches Prüfsystem 100 umfasst mehrere Kopien oder Instanzen der Sekundärprüfinstrumente 400.
Das Sekundärinstrument 400 arbeitet an einer Vorrichtung, die von einem oder mehreren Prozessoren 410 und einem zugehörigen Speicher 412 gesteuert wird. In einigen Ausführungsformen und anders als das Primärinstrument 300 besitzt das Sekundärinstrument 400 nicht die Fähigkeit, ein Prüfsignal direkt von einer zu prüfenden Vorrichtung zu empfangen. Eine solche Fähigkeit, ein Prüfsignal zu empfangen, umfasst typischerweise spezielle Hardware, wie z. B. einen Eingangsanschluss und eine Erfassungsschaltung, und/oder Software, wie oben unter Bezugnahme auf das Primärinstrument 300 beschrieben. Da das Sekundärinstrument 400 über diese Funktionalität nicht verfügt, kann es im Allgemeinen wesentlich kostengünstiger hergestellt werden als das Primärinstrument 300. In einigen Ausführungsformen kann das Sekundärinstrument 400 ein vollständig virtuelles Instrument sein, das überhaupt keine spezielle Hardware umfasst und stattdessen von einer Software betrieben wird, die auf einem Allzweck- oder Spezialprozessor läuft. Ein solches Beispiel ist in 5 unten dargestellt. In einigen Ausführungsformen kann das Sekundärinstrument 400 eine Instanz einer Softwareanwendung sein, die auf einer Datenverarbeitungsvorrichtung läuft, die dieselbe Datenverarbeitungsvorrichtung sein kann, auf der auch die Hauptprüfsteuerungssoftware läuft. In einigen besonderen Ausführungsformen kann das Sekundärinstrument 400 eine Instanz der TekScope@ PC-Software sein. In anderen Ausführungsformen kann das Sekundärinstrument 400 in speziell hergestellter Hardware oder in einer Kombination aus Hardware und Software programmiert sein. Das Sekundärprüfinstrument 400 kann als virtuelle Maschine arbeiten, die auf einer Datenverarbeitungsvorrichtung läuft. In einigen Ausführungsformen kann eine einzelne Hardware-Vorrichtung bei ausreichenden Rechenressourcen mehrere Sekundärprüfinstrumente 400 als eigene, unabhängige virtuelle Maschinen betreiben. In wieder anderen Ausführungsformen kann das Sekundärprüfinstrument 400 in der Cloud betrieben werden, d. h. auf einer Vorrichtung, die mit einem zentralen System kommuniziert, das Rechenressourcen aus einer entfernten Quelle bereitstellt. In einer typischen Umgebung arbeitet jedes Exemplar des Sekundärinstruments 400 auf seiner eigenen separaten Hardware, z. B. einem Personal Computer (PC), und es gibt mehrere PCs, die jeweils ihr eigenes sekundäres Instrument im Prüfsystem betreiben.
Das Sekundärinstrument 400 verfügt über einen Eingang zur Aufnahme einer oder mehrerer Prüfwellenformen vom Primärinstrument, wie z. B. dem Primärinstrument 110 von 1. Die Wellenformen werden in einem Wellenformspeicher 420 gespeichert. Der Wellenformspeicher 420 kann so konfiguriert sein, dass er eine einzelne Wellenform oder mehrere Wellenformen speichert. Das Sekundärinstrument 400 kann an einer im Wellenformspeicher 420 gespeicherten Wellenform arbeiten, während es weitere Wellenformen für den späteren Betrieb empfängt. In einigen Ausführungsformen kann die Wellenform, die gegenwärtig von dem Sekundärinstrument 400 gemessen oder analysiert wird, getrennt von dem Wellenformspeicher 420 gespeichert werden, beispielsweise in dem Speicher 412 oder in einem anderen, spezialisierten Speicher.
Das Sekundärinstrument 400 kann eine Programmierschnittstelle 440 und eine grafische Schnittstelle 450 enthalten. In einigen Ausführungsformen ist nur die Programmierschnittstelle 440 im Sekundärinstrument vorhanden. Die Programmierschnittstelle 440 und/oder die grafische Schnittstelle, sofern vorhanden, empfangen Programm- und Steuersignale von einer externen Quelle, z. B. vom Primärinstrument 100 und/oder der Hauptprüfsteuerung 130 von 1. Diese Programm- und Steuersignale ermöglichen es dem Benutzer, den Betrieb des Sekundärinstruments 400 einzustellen und zu steuern. Wie oben beschrieben, kann es im gesamten Prüfsystem 100 mehrere Kopien oder Instanzen des Sekundärinstruments 400 geben. Auf diese Weise kann der Benutzer das Prüfsystem 100 um eine beliebige Anzahl von Sekundärinstrumenten 400 erweitern, um beliebige Prüfungen oder Messungen der Prüfwellenform durchzuführen.
Die Synchronisierungssignale können an einem Task-Manager 480 empfangen werden. Wie oben unter Bezugnahme auf die Primärsteuerung 300 beschrieben, steuern die Synchronisierungssignale die Synchronisierung des Primärinstruments mit jedem der Sekundärinstrumente 400, so dass diese mit dem Primärinstrument 110 und allen anderen Sekundärinstrumenten im Prüfsystem 100 synchron bleiben. Wie oben auch beschrieben ist, können die Steuersignale und die Synchronisationssignale von den Sekundärinstrumenten 400 über eine einzige Steuerleitung empfangen werden.
Im Betrieb steuert die Hauptprüfsteuerung 130 alle Sekundärinstrumente 400 im Prüfsystem 100, um Messungen oder andere Analysen an der Prüfwellenform genau zur gleichen Zeit durchzuführen. Der Ausgang jedes der Sekundärinstrumente 400 kann auf einer lokalen Anzeige 460 angezeigt oder extern an die Hauptprüfsteuerung 130 gesendet werden. Ein beispielhafter Ausgang kann spezifische Wellenformen oder andere Ausgänge umfassen, die typischerweise von Prüfvorrichtungen erzeugt werden. Insbesondere bei Sekundärinstrumenten 400, die an von einem Bediener entfernten Orten betrieben werden, was bei Ausführungsformen der Erfindung problemlos möglich ist, kann die lokale Anzeige 460 absichtlich ausgeschaltet werden, um den Betrieb des Sekundärinstruments zu beschleunigen. Durch das Ausschalten der lokalen Anzeige 460 können Rechenressourcen eingespart werden.
Durch die Einbeziehung mehrerer Sekundärinstrumente 400 in das Prüfsystem 100 ermöglichen Ausführungsformen der Erfindung eine Beschleunigung der Messung der Wellenformverarbeitung durch einen parallelen bzw. Pipeline-Prozess.
Die Ausführungsformen der Erfindung bieten mehrere Verbesserungen gegenüber früheren Prüf- und Messsystemen. Eine Verbesserung besteht darin, dass ein einheitliches Menüsteuerungssystem wie die Programmierschnittstelle 240 und die grafische Schnittstelle 250 von 2 das Programmieren, die Fehlersuche und den Einzelschrittbetrieb des gesamten Systems in einer Art und Weise erleichtert, die derzeit nicht möglich ist.
5 zeigt ein Beispiel für die oben beschriebene Ausführungsform, bei der die Funktionen des oben beschriebenen Sekundärinstruments 400 als Softwareprozesse oder Softwarefunktionen virtualisiert sind, die auf einer oder mehreren Hardware-Vorrichtungen 500 laufen. In 5 empfängt die Hardware-Vorrichtung 500 die Steuersignale, Synchronisierungssignale und Wellenformen an einem Eingang 520 für alle von einem oder mehreren virtuellen Sekundärinstrumenten 410, die mit der gleichen Funktionalität arbeiten können wie das in 4 beschriebene Sekundärinstrument 400. Bei den virtuellen Sekundärinstrumenten 410 handelt es sich jeweils um Softwarenachbildungen der Funktionen, die als vom Sekundärinstrument 400 von 4 ausgeführt beschrieben werden, wie z. B. die Annahme der Eingangswellenform und die Durchführung von Messoperationen am Eingang, die durch die Steuersignale und Synchronisationssignale gesteuert werden. Jedes der virtuellen Sekundärinstrumente 410 kann einen Ausgang der Messinformationen erzeugen, die Ausgangsanzeigegraphen, Augendiagramme oder einen beliebigen Ausgang, der typischerweise von einem Prüf- und Messinstrument erzeugt wird, umfassen kann, und sendet sie an einen Ausgang 530, um sie weiter an eine Hauptprüfsteuerung wie die Hauptprüfsteuerung 130 von 1 zu senden. Die Virtualisierung der Funktionen der Sekundärinstrumente 400 als virtualisierte Sekundärinstrumente 410 bietet die Funktionalität der Sekundärinstrumente 400, ohne zusätzliche Hardwarekosten für jede Kopie jedes Sekundärinstruments 400 zu verursachen. Stattdessen können die virtualisierten Sekundärinstrumente 410 je nach Bedarf durch Hinzufügen weiterer virtualisierter Sekundärinstrumente 410 aufgerufen werden. Die Hardware-Vorrichtung 500 umfasst einen oder mehrere Prozessoren 510 und einen Speicher 512, um den Betrieb der virtualisierten Sekundärinstrumente 410 zu steuern. Die Hardware-Vorrichtung 500 kann als Cloud-basierter Prozessor oder in Form lokaler Rechenressourcen implementiert werden.
In einigen Ausführungsformen kann das Prüfsystem 100 eine Mischung aus Sekundärinstrumenten 400 und virtuellen Sekundärinstrumenten 410 umfassen. Verweise auf ein oder mehrere Sekundärinstrumente 400 können auch als Verweise auf ein oder mehrere virtuelle Sekundärinstrumente 410 interpretiert werden, da die Funktionalität der Sekundärinstrumente 400, 410 dieselbe sein kann, unabhängig davon, ob es sich um Hardware-Kopien oder virtualisierte Kopien handelt.
6 ist ein Diagramm einer beispielhaften Benutzerschnittstelle 600, die zur Steuerung von Komponenten des Prüf- und Messsystems von 1 verwendet werden kann. Die Benutzerschnittstelle 600 kann ein Beispiel für die grafische Schnittstelle 250 von 2 sein, obwohl die Benutzerschnittstelle 600 nur ein Beispiel für eine solche grafische Schnittstelle 250 ist.
Die Benutzerschnittstelle 600 umfasst ein Primärinstrumenten-Bedienfeld 610 zur Steuerung eines Primärinstruments wie z. B. des Primärinstruments 300 von 3. Fernbedienungsschnittstellen zur Steuerung von Primärinstrumenten sind bekannt und werden hier nicht im Detail beschrieben. Im Allgemeinen ermöglicht das Primärinstrumenten-Bedienfeld 610 dem Benutzer jedoch, den Betrieb des Primärinstruments zu steuern, z. B. durch Steuerung des Betriebs der Vorrichtung, Steuerung des Cursors, und ermöglicht die Steuerung des vom Primärinstrument erzeugten Ausgangs. Das Primärinstrumenten-Bedienfeld 610 kann auch eine kleine Darstellung des Ausgangs des Primärinstruments enthalten. Durch Schwenk- und Zoom-Steuerungen kann der Benutzer auch steuern, wie der Ausgang des Primärinstruments visualisiert wird.
Die Benutzerschnittstelle 600 umfasst ferner ein Sekundärinstrumenten-Bedienfeld 620 zur Steuerung eines oder aller Sekundärinstrumente, wie z. B. des Sekundärinstruments 400 aus 4 und/oder der virtuellen Sekundärinstrumente 410 aus 5. Obwohl in 6 die Steuerung von acht Sekundärinstrumenten 400, 410 (1-8) dargestellt ist, kann eine beliebige Anzahl von Sekundärinstrumenten über das Sekundärinstrumenten-Bedienfeld 620 gesteuert werden. Insbesondere kann der Benutzer über das Sekundärinstrumenten-Bedienfeld 620 auswählen, welche der Sekundärinstrumente 400, 410 (1-8) über das Sekundärinstrumenten-Bedienfeld 620 gesteuert werden sollen. So kann der Benutzer beispielsweise den Wunsch haben, nur die Schwenk- und Zoomfunktion für die Sekundärinstrumente 1 und 3 zu steuern, während er die Ausgangsanzeigen für die übrigen Sekundärinstrumente in ihrem ursprünglichen Zustand belässt. In diesem Fall werden, mit Bezug auf 2, nur die Sekundärinstrumentenanzeigen für die Instrumente 1 und 3 in dem Array 230 vom Benutzer gesteuert. Wenn der Benutzer in der Praxis Befehle nur für bestimmte Sekundärinstrumente auswählt, werden die Befehle nur für die ausgewählten Sekundärinstrumente erzeugt und über die Steuerleitung 114 (1) gesendet.
Ein Routing-Abschnitt 630 bietet dem Benutzer die Möglichkeit, die Sekundärinstrumente 400, 410 mit jedem der Eingangskanäle des Primärinstruments 300 zu verbinden, wie oben beschrieben. Typischerweise umfasst ein Primärinstrument 300 mehrere Eingangskanäle, die an verschiedene Eingänge von der zu prüfenden Vorrichtung angeschlossen werden können. Mit Bezug auf 6 sind die Sekundärinstrumente 400, 410 Nr. 1-4 mit Kanal 1 verbunden, während die Sekundärinstrumente Nr. 5 und 6 mit Kanal 2 des Primärinstruments verbunden sind. Die Sekundärinstrumente Nr. 7 und 8 sind mit Kanal 4 verbunden, und kein Sekundärinstrument 400, 410 ist mit Kanal 3 verbunden. Die Bereitstellung der Möglichkeit, verschiedene Eingangskanäle über eine gemeinsame Schnittstelle an die verschiedenen Sekundärinstrumente 400, 410 zu leiten, bietet dem Benutzer eine bisher nicht mögliche Flexibilität. Mit dem Routing-Abschnitt 630 kann der Benutzer festlegen, welche tatsächliche Wellenform vom Primärinstrument 300 zu welchem Sekundärinstrument 400, 410 geleitet wird. Wie oben im Detail beschrieben, kann dieselbe Wellenform vom Primärinstrument 300 an mehr als ein Sekundärinstrument 400, 410 geleitet werden.
Zu den weiteren Merkmalen der Benutzerschnittstelle 600 gehört ein Einstellungsfeld 660, das es dem Benutzer ermöglicht, häufig verwendete Einstellungen zu erstellen, zu speichern und abzurufen. Dadurch entfällt die Notwendigkeit, das System für jede Prüfsequenz einzeln einzurichten. Über ein Bedienfeld 680 kann der Benutzer die Anzeigen für ein oder alle Sekundärinstrumente 400 wahlweise ein- oder ausschalten. Verschiedene Berichte können über ein Konfigurationsfeld 640 konfiguriert werden. Außerdem kann der Benutzer über das Konfigurationsfeld 640 ein Dashboard konfigurieren, wie in 2 dargestellt. Mit dem Wellenform-Task-Manager 650 kann der Benutzer verschiedene Aufgaben festlegen, die von den Sekundärinstrumenten 400, 410 bearbeitet werden sollen. Zu den Aufgaben können alle hier beschriebenen Vorgänge gehören, aber auch alle für Prüf- und Messvorrichtungen typischen Vorgänge. Schließlich bietet ein Systembedienfeld 670 dem Benutzer die Möglichkeit, die Prüfung eines beliebigen Primärinstruments 300 und beliebiger Sekundärinstrumente 400 zu starten und zu beenden. Darüber hinaus kann der Benutzer über das Systembedienfeld 670 den oben beschriebenen Fehlersuchmodus aktivieren, indem er jedes der ausgewählten Sekundärinstrumente 400, 410 veranlasst, die Prüfwellenform in kleinen Zeitschritten oder auf der Grundlage von Ereignissen oder Auslösern in der Prüfwellenform zu durchlaufen.
Über verknüpfte Menüs wie z. B. die Benutzerschnittstelle 600 kann der Benutzer alle Sekundärinstrumente gleichzeitig ansehen und einstellen, indem er nur ein einziges Bedienelement betätigt, was die anfängliche Programmierung des Prüfsystems 100 beschleunigt, anstatt alle Vorrichtungen einzeln einzustellen.
Zu den weiteren Vorteilen der erfindungsgemäßen Vorrichtungen gehört die Möglichkeit, mit Prüfvorrichtungen verschiedener Hersteller zu arbeiten. So kann beispielsweise das Primärinstrument 300 ein Produkt eines Herstellers sein, während die Sekundärinstrumente 400, 410 von einem anderen Hersteller stammen können. Die Flexibilität bei der Programmierung und Steuerung der angeschlossenen Komponenten ermöglicht eine solche I nteropera bi l ität.
Aspekte der Offenbarung können auf einer speziell entwickelten Hardware, auf Firmware, digitalen Signalprozessoren oder auf einem speziell programmierten Allzweckcomputer mit einem Prozessor, der nach programmierten Anweisungen arbeitet, arbeiten. Die hier verwendeten Begriffe „Controller“ oder „Prozessor“ sollen Mikroprozessoren, Mikrocomputer, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASICs) und spezielle Hardware-Controller umfassen. Ein oder mehrere Aspekte der Offenbarung können in computerverwendbaren Daten und computerausführbaren Anweisungen verkörpert sein, beispielsweise in einem oder mehreren Programmmodulen, die von einem oder mehreren Computern (einschließlich Überwachungsmodulen) oder anderen Vorrichtungen ausgeführt werden. Im Allgemeinen umfassen Programmmodule Routinen, Programme, Objekte, Komponenten, Datenstrukturen usw., die bestimmte Aufgaben ausführen oder bestimmte abstrakte Datentypen implementieren, wenn sie von einem Prozessor in einem Computer oder einer anderen Vorrichtung ausgeführt werden. Die computerausführbaren Anweisungen können auf einem nichtflüchtigen computerlesbaren Medium wie einer Festplatte, einer optischen Platte, einem Wechselspeichermedium, einem Festkörperspeicher, einem Random Access Memory (RAM) usw. gespeichert sein. Wie dem Fachmann klar sein wird, kann die Funktionalität der Programm-Module unter verschiedenen Aspekten beliebig kombiniert oder verteilt werden. Darüber hinaus kann die Funktionalität ganz oder teilweise in Firmware oder Hardware-Äquivalenten wie integrierten Schaltungen, FPGA und dergleichen verkörpert sein. Bestimmte Datenstrukturen können verwendet werden, um einen oder mehrere Aspekte der Offenbarung effektiver zu implementieren, und solche Datenstrukturen werden im Rahmen der hier beschriebenen computerausführbaren Anweisungen und computerverwendbaren Daten in Betracht gezogen.
Die offenbarten Aspekte können in einigen Fällen in Hardware, Firmware, Software oder einer Kombination davon implementiert werden. Die offenbarten Aspekte können auch in Form von Anweisungen implementiert werden, die auf einem oder mehreren nichtflüchtigen computerlesbaren Medien gespeichert sind, die von einem oder mehreren Prozessoren gelesen und ausgeführt werden können. Solche Anweisungen können als Computerprogrammprodukt bezeichnet werden. Computerlesbare Medien, wie hier beschrieben, sind alle Medien, auf die eine Datenverarbeitungsvorrichtung zugreifen kann. Computerlesbare Medien können zum Beispiel Computerspeichermedien und Kommunikationsmedien umfassen, ohne darauf beschränkt zu sein.
Computerspeichermedien sind alle Medien, die zur Speicherung von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Zu Computerspeichermedien gehören beispielsweise RAM, ROM, EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), Flash-Speicher oder andere Speichertechnologien, CD-ROM (Compact Disc Read Only Memory), DVD (Digital Video Disc) oder andere optische Plattenspeicher, Magnetkassetten, Magnetbänder, Magnetplattenspeicher oder andere magnetische Speichervorrichtungen sowie alle anderen flüchtigen oder nichtflüchtigen, entfernbaren oder nicht entfernbaren Medien, die in beliebigen Technologien eingesetzt werden. Computerspeichermedien schließen Signale als solche und vorübergehende Formen der Signalübertragung aus.
Kommunikationsmedien sind alle Medien, die für die Übertragung von computerlesbaren Informationen verwendet werden können. Zu Kommunikationsmedien gehören, ohne Einschränkung, beispielsweise Koaxialkabel, Glasfaserkabel, Luft oder jedes andere Medium, das für die Übertragung von elektrischen, optischen, Hochfrequenz- (HF), Infrarot-, akustischen oder anderen Signalen geeignet ist.
BEISPIELE
Im Folgenden werden Beispiele für die offenbarten Technologien aufgeführt. Eine Ausführungsform der Technologien kann eines oder mehrere und jede Kombination der unten beschriebenen Beispiele umfassen.
Beispiel 1 ist ein Prüf- und Messsystem, aufweisend ein Primärinstrument mit einem Eingang zum Empfangen eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) und zum Erzeugen einer Prüfwellenform aus dem Prüfsignal, und einem Duplizierer zum Senden einer Kopie der Prüfwellenform an ein oder mehrere Sekundärinstrumente. Das eine oder die mehreren Sekundärinstrumente sind jeweils so aufgebaut, dass sie auf die Kopie der Prüfwellenform zur Analyse zugreifen, und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst einen Empfänger, der so aufgebaut ist, dass er einen Befehl empfängt, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht, einen oder mehrere Prozesse zum Ausführen des empfangenen Befehls, und einen Ausgang zum Senden von Ergebnissen des ausgeführten Befehls, um auf einer Benutzerschnittstelle angezeigt zu werden, die von jeder Benutzerschnittstelle des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente getrennt ist.
Beispiel 2 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß Beispiel 1, das ferner eine Hauptsteuerung umfasst, die mit dem Ausgang des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente gekoppelt ist, und wobei die Hauptsteuerung eine Benutzerschnittstelle mit einem Fenster zur Anzeige des Ausgangs jedes der einen oder der mehreren Sekundärinstrumente hat.
Beispiel 3 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem die Benutzerschnittstelle der Hauptsteuerung ferner einen Eingang zur Steuerung des Primärinstruments und ausgewählter Instrumente des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst.
Beispiel 4 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es seinen empfangenen Befehl im Wesentlichen gleichzeitig ausführt.
Beispiel 5 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem die Prüfwellenform mehrere Segmente umfasst und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es im Wesentlichen gleichzeitig an demselben der mehreren Segmente arbeitet.
Beispiel 6 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem die Hauptsteuerung so aufgebaut ist, dass sie Synchronisationsinformationen an das eine oder die mehreren Sekundärinstrumente sendet.
Beispiel 7 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem mindestens eines des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente als virtueller Computerprozess arbeitet.
Beispiel 8 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente keinen Eingang für den Empfang des Prüfsignals von der DUT aufweist.
Beispiel 9 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß einem der vorhergehenden Beispiele, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es nach Empfang eines Stoppbefehls die Ausführung stoppt und in einem Wartezustand bleibt.
Beispiel 10 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß Beispiel 9, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es bei Empfang eines anderen Befehls gleichzeitig die Ausführung neu startet.
Beispiel 11 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß Beispiel 9, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es eine vordefinierte Zeit lang ausführt, bevor die Ausführung gestoppt wird.
Beispiel 12 ist ein Prüf- und Messsystem, umfassend einen Signalempfänger in einem Primärinstrument mit einem Eingang zum Empfang eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT), von dem eine Prüfwellenform erzeugt wird, eine Hauptsteuerung, die mit dem Signalempfänger gekoppelt und so aufgebaut ist, dass sie eine Kopie der Prüfwellenform für ein oder mehrere Sekundärinstrumente zur Verfügung stellt, bei dem das eine oder die mehreren Sekundärinstrumente jeweils so aufgebaut sind, dass sie auf die Kopie der Prüfwellenform zur Analyse zugreifen, und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente einen Empfänger, der so aufgebaut ist, dass er von der Hauptsteuerung einen Befehl empfängt, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht, einen oder mehrere Prozesse zum Ausführen des empfangenen Befehls und einen Ausgang zum Senden von Ergebnissen des ausgeführten Befehls an die Hauptsteuerung umfasst.
Beispiel 13 ist ein Prüf- und Messsystem gemäß Beispiel 12, bei dem die Hauptsteuerung so aufgebaut ist, dass sie den Ausgang jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente gleichzeitig anzeigt.
Beispiel 14 ist ein Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems, umfassend ein Empfangen eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) an einer ersten Vorrichtung, ein Erzeugen einer Prüfwellenform aus dem Prüfsignal, ein selektives Weiterleiten einer Kopie der Prüfwellenform an eine oder mehrere Prüfvorrichtungen, und, an der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen, ein Empfangen eines Befehls, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht, ein Ausführen des empfangenen Befehls, und ein Senden eines Ausgangs des ausgeführten Befehls an eine Benutzerschnittstelle, die von der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen getrennt ist.
Beispiel 15 ist ein Verfahren gemäß Beispiel 13, das ferner umfasst, dass in jeder der einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen die Kopie der Prüfwellenform als lokale Kopie der Prüfwellenform gespeichert wird.
Beispiel 16 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, bei dem das Prüf- und Messsystem eine Hauptsteuerung umfasst und das Verfahren ferner das Anzeigen des Ausgangs von der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen auf einer Benutzerschnittstelle der Hauptsteuerung umfasst.
Beispiel 17 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner das Senden eines Steuerbefehls von der Hauptsteuerung an weniger als alle des einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Beispiel 18 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner die Annahme einer Auswahl dahingehend, welche der einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen den Steuerbefehl senden soll, von einem Benutzer umfasst.
Beispiel 19 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, bei dem die Prüfwellenform mehrere Segmente umfasst, wobei das Verfahren ferner das Identifizieren eines ausgewählten der mehreren Segmente zur Weiterleitung an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Beispiel 20 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner das Senden von Synchronisationsinformationen an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Beispiel 21 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner das Senden eines Stoppbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls gleichzeitig zu beenden.
Beispiel 22 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner das Senden eines Neustartbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls für eine vorbestimmte Zeit neu zu starten und dann die Ausführung des empfangenen Befehls zu beenden.
Beispiel 23 ist ein Verfahren gemäß einem der vorhergehenden Beispielverfahren, das ferner das Senden eines Neustartbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls neu zu starten, bis ein vorbestimmtes Ereignis eintritt, und dann die Ausführung des empfangenen Befehls zu beenden.
Außerdem wird in dieser schriftlichen Beschreibung auf bestimmte Merkmale verwiesen. Es ist davon auszugehen, dass die Offenbarung in dieser Spezifikation alle möglichen Kombinationen dieser besonderen Merkmale umfasst. Wenn beispielsweise ein bestimmtes Merkmal im Zusammenhang mit einem bestimmten Aspekt offenbart wird, kann dieses Merkmal, soweit möglich, auch im Zusammenhang mit anderen Aspekten verwendet werden.
Wenn in dieser Anmeldung auf ein Verfahren mit zwei oder mehr definierten Schritten oder Vorgängen Bezug genommen wird, können die definierten Schritte oder Vorgänge in beliebiger Reihenfolge oder gleichzeitig ausgeführt werden, es sei denn, der Kontext schließt diese Möglichkeiten aus.
Obwohl bestimmte Aspekte der Offenbarung zum Zwecke der Veranschaulichung dargestellt und beschrieben wurden, können verschiedene Änderungen vorgenommen werden, ohne von Sinngehalt und Umfang der Offenbarung abzuweichen. Dementsprechend sollte die Offenbarung nicht eingeschränkt werden, außer durch die beigefügten Ansprüche.

Claims

Prüf- und Messsystem, aufweisend: ein Primärinstrument, umfassend: einen Eingang zum Empfangen eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) und zum Erzeugen einer Prüfwellenform aus dem Prüfsignal, und einen Duplizierer zum Senden einer Kopie der Prüfwellenform an ein oder mehrere Sekundärinstrumente; und die eine oder die mehreren Sekundärinstrumente, die jeweils so aufgebaut sind, dass sie auf die Kopie der Prüfwellenform zur Analyse zugreifen, und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst: einen Empfänger, der so aufgebaut ist, dass er einen Befehl empfängt, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht; einen oder mehrere Prozesse zum Ausführen des empfangenen Befehls; und einen Ausgang zum Senden von Ergebnissen des ausgeführten Befehls, um auf einer Benutzerschnittstelle angezeigt zu werden, die von jeder Benutzerschnittstelle des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente getrennt ist.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, das ferner eine Hauptsteuerung umfasst, die mit dem Ausgang des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente gekoppelt ist, und wobei die Hauptsteuerung eine Benutzerschnittstelle mit einem Fenster zur Anzeige des Ausgangs jedes der einen oder der mehreren Sekundärinstrumente hat.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 2, bei dem die Benutzerschnittstelle der Hauptsteuerung ferner einen Eingang zur Steuerung des Primärinstruments und ausgewählter Instrumente des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es seinen empfangenen Befehl im Wesentlichen gleichzeitig ausführt.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, bei dem die Prüfwellenform mehrere Segmente umfasst und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es im Wesentlichen gleichzeitig an demselben der mehreren Segmente arbeitet.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 2, bei dem die Hauptsteuerung so aufgebaut ist, dass sie Synchronisationsinformationen an das eine oder die mehreren Sekundärinstrumente sendet.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, bei dem mindestens eines des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente als virtueller Computerprozess arbeitet.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente keinen Eingang für den Empfang des Prüfsignals von der DUT aufweist.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 1, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es nach Empfang eines Stoppbefehls die Ausführung stoppt und in einem Wartezustand bleibt.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 9, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es bei Empfang eines anderen Befehls gleichzeitig die Ausführung neu startet.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 9, bei dem jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente so aufgebaut ist, dass es eine vordefinierte Zeit lang ausführt, bevor die Ausführung gestoppt wird.
Prüf- und Messsystem, aufweisend: einen Signalempfänger in einem Primärinstrument mit einem Eingang zum Empfang eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT), von dem eine Prüfwellenform erzeugt wird; eine Hauptsteuerung, die mit dem Signalempfänger gekoppelt und so aufgebaut ist, dass sie eine Kopie der Prüfwellenform für ein oder mehrere Sekundärinstrumente zur Verfügung stellt; und die eine oder die mehreren Sekundärinstrumente, die jeweils so aufgebaut sind, dass sie auf die Kopie der Prüfwellenform zur Analyse zugreifen, und jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente umfasst: einen Empfänger, der so aufgebaut ist, dass er von der Hauptsteuerung einen Befehl empfängt, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht; einen oder mehrere Prozesse zum Ausführen des empfangenen Befehls, und einen Ausgang zum Senden von Ergebnissen des ausgeführten Befehls an die Hauptsteuerung.
Prüf- und Messsystem nach Anspruch 12, bei dem die Hauptsteuerung so aufgebaut ist, dass sie den Ausgang jedes des einen oder der mehreren Sekundärinstrumente gleichzeitig anzeigt.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems, das Folgendes umfasst: Empfangen eines Prüfsignals zur Messung oder Analyse von einer zu prüfenden Vorrichtung (DUT) an einer ersten Vorrichtung; Erzeugen einer Prüfwellenform aus dem Prüfsignal; selektives Weiterleiten einer Kopie der Prüfwellenform an eine oder mehrere Prüfvorrichtungen; und an der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen, Empfangen eines Befehls, der sich auf eine Messung oder Analyse der Kopie der Prüfwellenform bezieht, Ausführen des empfangenen Befehls, und Senden eines Ausgangs des ausgeführten Befehls an eine Benutzerschnittstelle, die von der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen getrennt ist.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 14, das ferner umfasst, dass in jeder der einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen die Kopie der Prüfwellenform als lokale Kopie der Prüfwellenform gespeichert wird.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 14, bei dem das Prüf- und Messsystem eine Hauptsteuerung umfasst und das Verfahren ferner das Anzeigen des Ausgangs von der einen oder den mehreren Prüfvorrichtungen auf einer Benutzerschnittstelle der Hauptsteuerung umfasst.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 16, das ferner das Senden eines Steuerbefehls von der Hauptsteuerung an weniger als alle des einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 17, das ferner die Annahme einer Auswahl dahingehend, welche der einen oder der mehreren Prüfvorrichtungen den Steuerbefehl senden soll, von einem Benutzer umfasst.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 14, bei dem die Prüfwellenform mehrere Segmente umfasst, wobei das Verfahren ferner das Identifizieren eines ausgewählten der mehreren Segmente zur Weiterleitung an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 14, das ferner das Senden von Synchronisationsinformationen an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 14, das ferner das Senden eines Stoppbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls gleichzeitig zu beenden.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 21, das ferner das Senden eines Neustartbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls für eine vorbestimmte Zeit neu zu starten und dann die Ausführung des empfangenen Befehls zu beenden.
Verfahren zum Betreiben eines Prüf- und Messsystems nach Anspruch 21, das ferner das Senden eines Neustartbefehls an die eine oder die mehreren Prüfvorrichtungen umfasst, um die Ausführung des empfangenen Befehls neu zu starten, bis ein vorbestimmtes Ereignis eintritt, und dann die Ausführung des empfangenen Befehls zu beenden.