DE112010002623B4 - Verfahren zum Bereitstellen eines elektrischen Anschlusses an Graphen - Google Patents
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- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 115
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 111
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 29
- 239000012777 electrically insulating material Substances 0.000 claims abstract description 22
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims abstract description 14
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910000599 Cr alloy Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000000788 chromium alloy Substances 0.000 claims description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 3
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 104
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 9
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 description 4
- 239000002073 nanorod Substances 0.000 description 4
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 4
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 2
- 238000004299 exfoliation Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000001000 micrograph Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 230000004304 visual acuity Effects 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000007737 ion beam deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002074 nanoribbon Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 description 1
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01B—CABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
- H01B1/00—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
- H01B1/04—Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors mainly consisting of carbon-silicon compounds, carbon or silicon
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/12—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/16—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic Table
- H01L29/1606—Graphene
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/849—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
- Y10S977/855—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for manufacture of nanostructure
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
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- Y10S977/858—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe for manufacture of nanostructure including positioning/mounting nanostructure
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Abstract
Description
- ERFINDUNGSGEBIET
- Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung betreffen ein Verfahren. Insbesondere betreffen sie ein Verfahren zum Bereitstellen eines elektrischen Anschlusses an einen Teilbereich einer Graphenschicht.
- ALLGEMEINER STAND DER TECHNIK
- Graphen ist eine dünne ebene Lage von Kohlenstoffatomen, die in einem Wabenstrukturgitter dicht gepackt sind.
1 stellt schematisch die Anordnung der Kohlenstoffatome in einer Graphenschicht1 dar. - Die in
1 dargestellte Graphenschicht1 weist nur eine einzige Lage von Kohlenstoffatomen auf. Andere Graphenschichten können mehrere übereinander liegende Lagen von Kohlenstoffatomen aufweisen. Die physikalischen Eigenschaften einer Graphenschicht können von der Anzahl der übereinander liegenden Lagen von Kohlenstoffatomen abhängen. Die physikalischen Eigenschaften des Graphens können weniger ausgeprägt werden, wenn die Anzahl der Atomlagen vergrößert wird. Die physikalischen Eigenschaften können am stärksten ausgeprägt für Graphen sein, das bis zu fünf Atomlagen aufweist. Weist das Material mehr als etwa zwanzig Atomlagen auf, dann kann das Material nicht länger als Graphen angesehen werden, sondern als Grafit. - Es ist gezeigt worden, dass Graphen solche physikalischen Eigenschaften wie eine hohe Ladungsträgerbeweglichkeit mit ballistischem Transport, eine hohe Stromdichte und eine hohe thermische Leitfähigkeit aufweist. Diese Eigenschaften können eine Verwendung des Graphen in mikroelektronischen oder nanoelektronischen Geräten ermöglichen.
- Um die Verwendung des Graphen in mikroelektronischen oder nanoelektronischen Geräten zu ermöglichen, ist es notwendig, einen geeigneten Teilbereich des Graphen zu präparieren und zu ermöglichen, dass ein zuverlässiger elektrischer Anschluss an den Graphenteilbereich hergestellt wird.
- Die japanische Patentanmeldung
JP 2007-335 532 A - KURZDARSTELLUNG VERSCHIEDENER AUSFÜHRUNGSFORMEN DER ERFINDUNG
- Entsprechend den verschiedenen, aber nicht notwendigerweise allen Ausführungsformen der Erfindung wird ein Verfahren bereitgestellt, das umfasst: Ausbilden einer Aussparung in einer Graphenschicht unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls, wobei die Aussparung eine Bereichsgrenze zwischen einem ersten Teilbereich der Graphenschicht und einem zweiten Teilbereich der Graphenschicht erzeugt; Aufbringen eines elektrisch isolierenden Materials in der Aussparung; und Aufbringen eines elektrisch leitfähigen Materials über dem isolierenden Material.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das Verfahren umfassen, dass es ermöglicht wird, einen elektrischen Anschluss zum ersten Teilbereich der Graphenschicht herzustellen.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann die Aussparung den ersten Teilbereich der Graphenschicht vom zweiten Teilbereich der Graphenschicht abtrennen.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das Verfahren auch ein Abscheiden des elektrisch isolierenden Materials in der Aussparung unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls umfassen. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das Verfahren auch ein Aufbringen des elektrisch leitfähigen Materials unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls umfassen.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann die Aussparung den ersten Teilbereich der Graphenschicht umgeben.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das isolierende Material ein Oxid enthalten. Das isolierende Material kann Siliziumdioxid enthalten. In anderen Ausführungsformen der Erfindung kann das isolierende Material ein dielektrisches Material mit einer hohen Dielektrizitätskonstante enthalten.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch leitfähige Material eine Chromlegierung enthalten. In anderen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch leitfähige Material ein Metall, wie z. B. Platin, Gold, Wolfram oder Palladium, enthalten.
- In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das Verfahren ferner das Aufbringen eines Kontaktteilbereichs umfassen, wobei der Kontaktteilbereich eine elektrische Verbindung zwischen dem ersten Teilbereich der Graphenschicht und dem elektrisch leitfähigen Material bereitstellen kann. Der Kontaktteilbereich kann ein Material enthalten, das sich von dem elektrisch leitfähigen Material unterscheidet. Der Kontaktteilbereich kann Palladium enthalten. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann der Kontaktteilbereich Platin, Gold, Wolfram oder ein beliebiges Metall enthalten, das zur Verwendung in einem mikroelektronischen oder nanoelektronischen Gerät geeignet ist.
- KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Für ein besseres Verständnis der verschiedenen Beispiele von Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung wird nun auf die beigefügten, nur als Beispiele dienenden Zeichnungen Bezug genommen, in denen:
-
1 eine schematische Darstellung einer Graphenschicht ist; -
2 ein Flussdiagramm eines Verfahrens gemäß einer Ausführungsform der Erfindung darstellt; -
3 ein schematisches Diagramm eines ersten Teilbereichs einer Graphenschicht gemäß einer Ausführungsform der Erfindung ist; -
4 eine Rasterelektronenmikroskop(REM)-Mikroaufnahme eines ersten Teilbereichs einer Graphenschicht gemäß einer Ausführungsform der Erfindung ist; -
5 ein schematisches Diagramm einer Vorrichtung hergestellt gemäß eines Verfahrens einer Ausführungsform der Erfindung; und -
6 eine REM-Mikroaufnahme einer Vorrichtung hergestellt gemäß eines Verfahrens einer Ausführungsform der Erfindung. - AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG VERSCHIEDENER AUSFÜHRUNGSFORMEN DER ERFINDUNG
- Die Figuren stellen ein Verfahren dar, das umfasst: Ausbilden
13 einer Aussparung23 in einer Graphenschicht1 , wobei die Aussparung23 eine Bereichsgrenze zwischen einem ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 und einem zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 erzeugt; Aufbringen17 eines elektrisch isolierenden Materials29 in der Aussparung23 ; und Aufbringen19 eines elektrisch leitfähigen Materials31 über dem isolierenden Material29 . - Wie oben erwähnt wurde, stellt die
1 eine Graphenschicht1 dar. Die Graphenschicht1 kann ausgebildet werden durch ein beliebiges geeignetes Verfahren, wie z. B. die mechanische Abblätterung von einer Grafitschicht oder das Aufwachsen epitaxialer Schichten von einer Kristallunterlage aus. - Die Kohlenstoffatome der Graphenschicht
1 bilden ein reguläres Wabenstrukturkristallgitter aus. Das reguläre Kristallgitter liefert eine Bandstruktur und ermöglicht es, dass die Graphenschicht1 Halbleitereigenschaften aufweist. Der Rand der Graphenschicht1 ist eine Unstetigkeit, die das reguläre Kristallgitter unterbricht. Das wirkt sich auf die Bandstruktur und folglich auf die Halbleitereigenschaften der Graphenschicht1 aus. -
2 stellt ein Flussdiagramm eines Verfahrens zum Herstellen eines elektrischen Anschlusses an einen Teilbereich einer Graphenschicht1 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung dar. - Am Block
11 wird eine Graphenschicht1 ausgebildet. Wie oben erwähnt wurde, kann die Graphenschicht1 durch mechanische Abblätterung von einer Grafitschicht oder durch Aufwachsen epitaxialer Schichten von einer Kristallunterlage aus gebildet werden. In anderen Ausführungsformen der Erfindung können andere Verfahren zum Ausbilden der Graphenschicht1 verwendet werden. - Die Dicke der Graphenschicht
1 kann von den Verfahren, die zum Präparieren der Schicht1 verwendet wurden, und auch von der vorgesehenen Verwendung der Schicht1 abhängen. Die Graphenschicht1 kann zwischen einer und zwanzig übereinander liegenden Lagen von Kohlenstoffatomen enthalten. In den meisten Ausführungsformen der Erfindung kann die Graphenschicht1 zwischen einer und fünf übereinander liegenden Lagen von Kohlenstoffatomen enthalten. - Am Block
13 wird eine Aussparung23 in der Grafitschicht1 ausgebildet. Die Aussparung23 ist ein Einschnitt in der Fläche der Graphenschicht1 , der durch Wegätzen von einigen der Kohlenstoffatome der Graphenschicht1 ausgebildet wird. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann die Aussparung23 durch einen Teil der Dicke der Graphenschicht1 durchgeätzt werden. Weist die Graphenschicht1 zum Beispiel mehrere Atomlagen auf, dann kann die Aussparung23 lediglich durch die oberen Atomlagen durchgeätzt werden. In anderen Ausführungsformen der Erfindung kann die Aussparung23 durch die gesamte Dicke der Graphenschicht1 durchgeätzt werden. - Die Aussparung
23 wird unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlmikroskops ausgebildet13 . Die Tiefe und die Breite der Aussparung23 können vom Auflösungsvermögen des Mikroskops oder der fokussierten Ionenstrahlanlage abhängen. - Die Aussparung
23 erzeugt eine Bereichsgrenze zwischen dem ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 und dem zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 . Die Bereichsgrenze kann eine Trennlinie zwischen den zwei Teilbereichen sein. - In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann die Bereichsgrenze
23 den ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 vom zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 abtrennen. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann sich die Aussparung23 um den gesamten ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 herum erstrecken und den Umfang des ersten Teilbereichs25 festlegen. Die Form und die Größe des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 kann vom Auflösungsvermögen der Vorrichtung, die zum Erzeugen der Aussparung23 verwendet wurde, oder der vorgesehenen Verwendung der jeweiligen Teilbereiche der Graphenschicht1 abhängen. - In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann sich die Aussparung
23 nur um einen Abschnitt des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 herum erstrecken. In diesen Ausführungsformen kann der erste Teilbereich25 mit dem zweiten Teilbereich27 verbunden sein. - Am Block
15 werden Kontaktteilbereiche21 auf dem ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 abgeschieden. Die Kontaktteilbereiche21 sind so eingerichtet, dass sie das Herstellen einer elektrischen Verbindung zwischen dem ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 und anderen elektrischen Komponenten ermöglichen, sodass der erste Teilbereich25 der Graphenschicht1 einen Teil eines elektrischen Schaltkreises bilden kann. - Die Kontaktteilbereiche
21 enthalten ein elektrisch leitfähiges Material, zum Beispiel ein Metall, wie z. B. Palladium, Platin, Gold, Wolfram oder ein beliebiges anderes Material, das zur Verwendung in einem mikroelektronischen oder nanoelektronischen Gerät geeignet ist. - Die Kontaktteilbereiche
21 können unter Verwendung eines beliebigen geeigneten Verfahrens, wie z. B. der fokussierten Ionenstrahlabscheidung, abgeschieden werden. In derartigen Ausführungsformen kann die Größe der Kontaktteilbereiche21 durch das Auflösungsvermögen des fokussierten Ionenstrahls bestimmt werden. - Die Kontaktteilbereiche
21 können an einer beliebigen geeigneten Stelle des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 aufgebracht werden. In einigen Ausführungsformen der Erfindung können die Kontaktteilbereiche am Rand des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 angeordnet werden. - Am Block
17 wird elektrisch isolierendes Material29 in der Aussparung23 aufgebracht. Das elektrisch isolierende Material29 erzeugt eine Isolationsbarriere zwischen dem ersten Teilbereich25 und dem zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 . - Das elektrisch isolierende Material
29 kann ein beliebiges geeignetes Material, zum Beispiel ein Oxid, wie z. B. Siliziumdioxid, oder ein dielektrisches Material mit einer hohen Dielektrizitätskonstante, enthalten. - Das elektrisch isolierende Material
29 kann unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahlmikroskops aufgebracht werden. Die Lage und die Dicke der Schicht des isolierenden Materials29 kann von dem Verfahren, das zum Abscheiden des elektrisch isolierenden Materials29 verwendet wurde, und der vorgesehenen Verwendung der Graphenschicht1 abhängen. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch isolierende Material29 in der Aussparung23 so aufgebracht werden, dass die Oberseite des isolierenden Materials29 ungefähr mit der Oberfläche der Graphenschicht1 ausgeglichen ist. In anderen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch isolierende Material29 so aufgebracht werden, dass sich ein Teil des isolierenden Materials29 in der Aussparung23 befindet und ein Teil des isolierenden Materials29 Flächenabschnitte der Graphenschicht1 überdeckt. - Am Block
19 wird ein elektrisch leitfähiges Material31 über dem elektrisch isolierenden Material29 aufgebracht, um die Herstellung eines elektrischen Anschlusses an den ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 zu ermöglichen. - Das elektrisch leitfähige Material
31 kann so aufgebracht werden, dass es an die Kontaktteilbereiche21 angrenzt und so elektrisch mit den Kontaktteilbereichen21 verbunden ist. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch leitfähige Material31 aus dem gleichen Material wie die Kontaktteilbereiche21 ausgebildet werden. In anderen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch leitfähige Material31 aus einem anderen Material als die Kontaktteilbereiche21 . ausgebildet werden. Zum Beispiel kann gefordert werden, dass das elektrisch leitfähige Material31 spezielle Eigenschaften aufweist, wie z. B. die Supraleitfähigkeit, oder mechanische Eigenschaften aufweist, die eine Verwendung zum Ausbilden eines Anschlussdrahtes ermöglichen. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann das elektrisch leitfähige Material31 eine Chromlegierung enthalten. - Das elektrisch leitfähige Material
31 ermöglicht es, den ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 an die anderen elektronischen Komponenten anzuschließen, um einen Teil eines elektronischen Schaltkreises auszubilden. In einigen Ausführungsformen der Erfindung können die anderen elektronischen Komponenten andere Teilbereiche der Graphenschicht1 umfassen.3 ist ein schematisches Diagramm einer Graphenschicht1 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung, in der ein Teil des oben beschriebenen Verfahrens ausgeführt wurde. Es wurde eine Aussparung23 ausgebildet13 , um einen ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 von einem zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 abzutrennen, und es wurden Kontaktteilbereiche21 auf dem ersten Teilbereich der Graphenschicht1 aufgebracht15 .4 ist eine REM-Mikroaufnahme einer Graphenschicht1 , die der schematischen Darstellung von3 entspricht. Für übereinstimmende Merkmale werden dieselben Bezugszahlen verwendet. Die Abmessungen der Merkmale der Graphenschicht1 können aus dem Maßstab ermittelt werden, der in der Mikroaufnahme angegeben ist. - In den
3 und4 ist der erste Teilbereich25 von dem zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 umschlossen. Die Aussparung23 umgibt den ersten Teilbereich25 und trennt den ersten Teilbereich25 vom zweiten Teilbereich27 ab. Die Aussparung23 bildet in der Fläche der Graphenschicht1 ein Rechteck aus. Da die Aussparung23 den Umfang des ersten Teilbereichs25 festlegt, ist der erste Teilbereich25 auch rechteckig. - In der dargestellten Ausführungsform ist die Länge des ersten Teilbereichs
25 viel größer als die Breite des ersten Teilbereichs25 , sodass das Rechteck länglich ist. In4 weist der erste Teilbereich25 der Graphenschicht1 eine Länge von ungefähr 800 nm und eine Breite von ungefähr 150 nm auf. Graphenbereiche, die ähnliche längliche Formen aufweisen, sind als Graphen-Nanostreifen bekannt. - Es ist einzusehen, dass der erste Teilbereich
25 der Graphenschicht in anderen Ausführungsformen der Erfindung eine andere Größe und/oder Form aufweisen kann. Zum Beispiel kann ein Graphen-Nanostreifen eine Länge zwischen 100 und 2000 nm aufweisen. Die Breite des Graphen-Nanostreifens kann weniger als 10 nm sein. Die verwendete genaue Größe und Form kann von einer Anzahl von Faktoren abhängen, einschließlich der Genauigkeit und des Auflösungsvermögens der Vorrichtung, die zum Erzeugen der Aussparung23 verwendet wurde, sowie der vorgesehenen Verwendung der jeweiligen Teilbereiche der Graphenschicht1 . - In einigen Ausführungsformen der Erfindung können aus einem Nanostreifen Quantenpunkte ausgebildet werden, indem die Breite des Nanostreifens an ausgewählten Punkten entlang der Länge des Nanostreifens verändert wird. Zum Ändern der Breite des Nanostreifens kann ein fokussierter Ionenstrahl verwendet werden. Dieser kann die elektronischen Eigenschaften des Nanostreifens verändern, zum Beispiel kann er einen Quanteneinschluss erzeugen.
- Die Graphen-Nanostreifen können entweder Armsessel (Armchair)- oder Zickzack-Randzustände aufweisen. Diese hängen von der Anordnung der Atome am Rand des Nanostreifens ab. Die Zickzack-Ränder weisen ein Atom am Rand auf, wohingegen die Armsessel-Ränder zwei Atome am Rand aufweisen. Die elektronischen Eigenschaften des Nanostreifens hängen davon ab, ob die Ränder vom Zickzack- oder Armchair-Typ sind.
- In der dargestellten Ausführungsform ist die Breite der Aussparung
23 ungefähr 10 nm. Wie oben erwähnt wurde, kann die Breite der Aussparung durch das Auflösungsvermögen der Vorrichtung bestimmt werden, die zum Erzeugen der Aussparung23 verwendet wird. - Die Kontaktteilbereiche
21 werden auf der oberen Fläche des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 aufgebracht. In einigen Ausführungsformen der Erfindung können die Kontaktteilbereiche21 an der Seite des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 angeordnet werden. - Die Kontaktteilbereiche
21 sind an beiden Enden des ersten Teilbereichs25 so angeordnet, dass sie durch die Länge des länglichen rechteckigen ersten Teilbereichs25 voneinander abgetrennt sind. - Die Größe der Kontaktteilbereiche
21 kann durch das Auflösungsvermögen der Vorrichtung, die zum Abscheiden der Kontaktteilbereiche21 verwendet wird, festgelegt werden. In einigen Ausführungsformen der Erfindung kann der Durchmesser der Kontaktteilbereiche21 ungefähr 10 nm sein. Auch die Dicke der Kontaktteilbereiche21 kann vom Verfahren, das zum Abscheiden der Kontaktteilbereiche21 verwendet wird, und der vorgesehenen Verwendung der Graphenschicht1 abhängen. -
5 ist eine schematische Darstellung einer Vorrichtung33 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung.5 ist ein Querschnitt der fertiggestellten Vorrichtung33 entlang der Linie X-X, die in3 dargestellt ist. Die relativen Abmessungen in5 brauchen den tatsächlichen relativen Abmessungen der Vorrichtung33 nicht zu entsprechen. - Die Vorrichtung
33 weist einen ersten Teilbereich25 einer Graphenschicht1 und einen zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 auf. Eine Aussparung23 trennt den ersten Teilbereich25 vom zweiten Teilbereich27 ab. - In der Aussparung
23 ist ein elektrisch isolierendes Material29 aufgebracht. In der dargestellten Ausführungsform überdeckt das elektrisch isolierende Material29 auch einen Teil der Fläche des ersten Teilbereichs25 und auch den zweiten Teilbereich27 der Graphenschicht1 . Das isoliert die Abschnitte der Graphenschicht1 gegenüber einem beliebigen elektrisch leitfähigen Material31 , das über dem isolierenden Material29 aufgebracht ist. - Wie in den
3 und4 sind an den beiden Enden des ersten Teilbereichs25 der Graphenschicht1 zwei Kontaktteilbereiche21 aufgebracht. Die Kontaktteilbereiche21 stellen einen elektrischen Kontakt mit dem ersten Teilbereich25 der Graphenschicht1 her. - Über dem elektrisch isolierenden Material
29 ist eine Schicht eines elektrisch leitfähigen Materials31 aufgebracht. In der dargestellten Ausführungsform grenzt das elektrisch leitfähige Material an die Kontaktteilbereiche21 an, indem es einen Abschnitt der Kontaktteilbereiche21 überdeckt, und ist so elektrisch mit den Kontaktteilbereichen21 verbunden. Da das elektrisch leitfähige Material31 über dem elektrisch isolierenden Material29 liegt, ist es elektrisch gegenüber dem zweiten Teilbereich der Graphenschicht1 isoliert. -
6 ist eine REM-Mikroaufnahme einer Vorrichtung33 gemäß einer Ausführungsform der Erfindung. Für Merkmale, die den Merkmalen entsprechen, die in den vorangehenden Ausführungsformen beschrieben wurden, werden dieselben Bezugszahlen verwendet. Die Abmessungen der Vorrichtung können aus dem bereitgestellten Maßstab ermittelt werden. - In
6 ist der erste Teilbereich25 der Graphenschicht1 auch ein längliches Rechteck, jedoch ist in6 der erste Teilbereich am Rand der Graphenschicht1 angeordnet, sodass sich die Aussparung23 nur um drei Seiten des rechteckigen ersten Teilbereichs25 herum erstreckt. - Das elektrisch isolierende Material
29 ist in der Aussparung23 und auch über der Fläche des zweiten Teilbereichs27 der Graphenschicht abgeschieden. Das elektrisch leitfähige Material wird dann über dem elektrisch isolierenden Material aufgebracht. - In
6 ist die Schicht des elektrisch isolierenden Materials29 viel breiter als die Schicht des elektrisch leitfähigen Materials31 . Das verringert die Präzision, die beim Abscheiden des elektrisch leitfähigen Materials31 erforderlich ist. Die Ausführungsformen der Erfindung liefern ein genaues und zuverlässiges Verfahren, um zu ermöglichen, dass ein elektrischer Kontakt an einer Graphenschicht hergestellt wird. Das verwendete Verfahren erlaubt es, dass die Größe und die Form der Graphenteilbereiche durch den Anwender bestimmt werden, sodass sie in Abhängigkeit von der vorgesehenen Verwendung der Graphenschicht angepasst werden können. - Es ist zu verstehen, dass die Darstellung einer bestimmten Anordnung der Blöcke in
2 nicht notwendigerweise bedeutet, dass es eine erforderliche oder bevorzugte Anordnung für die Blöcke gibt. Die Anordnung oder Einrichtung des Blocks kann abgeändert werden, zum Beispiel kann das elektrisch isolierende Material29 aufgebracht werden17 , bevor der Kontaktteilbereich21 aufgebracht wird15 . Darüber hinaus kann es möglich sein, dass einige Schritte weggelassen werden, so zum Beispiel, wenn die Kontaktteilbereiche21 und das elektrisch leitfähige Material31 aus dem gleichen Material ausgebildet sind, können diese Blöcke zusammengefasst werden.
Claims (12)
- Verfahren, umfassend: Ausbilden einer Aussparung in einer Graphenschicht unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls, wobei die Aussparung eine Bereichsgrenze zwischen einem ersten Teilbereich der Graphenschicht und einem zweiten Teilbereich der Graphenschicht erzeugt; Aufbringen eines elektrisch isolierenden Materials in der Aussparung; und Aufbringen eines elektrisch leitfähigen Materials über dem isolierenden Material.
- Verfahren nach Anspruch 1, umfassend, dass das Herstellen eines elektrischen Anschluss zum ersten Teilbereich der Graphenschicht ermöglicht wird.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Aussparung den ersten Teilbereich der Graphenschicht vom zweiten Teilbereich der Graphenschicht abtrennt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ferner das Aufbringen des elektrisch isolierenden Materials in der Aussparung unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls umfassend.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ferner das Aufbringen des elektrisch leitfähigen Materials unter Verwendung eines fokussierten Ionenstrahls umfassend.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Aussparung den ersten Teilbereich der Graphenschicht umgibt.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das isolierende Material ein Oxid enthält.
- Verfahren nach Anspruch 7, wobei das isolierende Material Siliziumdioxid enthält.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das elektrisch leitfähige Material eine Chromlegierung enthält.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, das Abscheiden eines Kontaktteilbereichs umfassend, wobei der Kontaktteilbereich eine elektrische Verbindung zwischen dem ersten Teilbereich der Graphenschicht und dem elektrisch leitfähigen Material bereitstellt.
- Verfahren nach Anspruch 10, wobei der Kontaktteilbereich ein Material enthält, das sich von dem elektrisch leitfähigen Material unterscheidet.
- Verfahren nach Anspruch 11, wobei der Kontaktteilbereich Palladium enthält.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/387,208 US8865268B2 (en) | 2009-04-28 | 2009-04-28 | Method and apparatus |
US12/387,208 | 2009-04-28 | ||
PCT/FI2010/050216 WO2010125231A1 (en) | 2009-04-28 | 2010-03-22 | Method and apparatus for providing an electrical connection to graphene |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112010002623T5 DE112010002623T5 (de) | 2012-08-02 |
DE112010002623B4 true DE112010002623B4 (de) | 2017-11-16 |
Family
ID=42992388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112010002623.8T Active DE112010002623B4 (de) | 2009-04-28 | 2010-03-22 | Verfahren zum Bereitstellen eines elektrischen Anschlusses an Graphen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8865268B2 (de) |
CN (1) | CN102396084A (de) |
DE (1) | DE112010002623B4 (de) |
WO (1) | WO2010125231A1 (de) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9390828B2 (en) * | 2011-07-01 | 2016-07-12 | The University Of Kentucky Research Foundation | Crystallographically-oriented carbon nanotubes grown on few-layer graphene films |
US9388513B2 (en) * | 2011-07-01 | 2016-07-12 | The University Of Kentucky Research Foundation | Crystallographically-oriented carbon nanotubes grown on few-layer graphene films |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007335532A (ja) * | 2006-06-13 | 2007-12-27 | Hokkaido Univ | グラフェン集積回路 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8154093B2 (en) * | 2002-01-16 | 2012-04-10 | Nanomix, Inc. | Nano-electronic sensors for chemical and biological analytes, including capacitance and bio-membrane devices |
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JP5109648B2 (ja) | 2007-12-27 | 2012-12-26 | 富士通株式会社 | 層状炭素構造体の製造方法および半導体装置の製造方法 |
EP2311078A4 (de) | 2008-06-26 | 2012-11-21 | Carben Semicon Ltd | Strukturierte integrierte schaltung und herstellungsverfahren dafür |
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-
2009
- 2009-04-28 US US12/387,208 patent/US8865268B2/en active Active - Reinstated
-
2010
- 2010-03-22 WO PCT/FI2010/050216 patent/WO2010125231A1/en active Application Filing
- 2010-03-22 DE DE112010002623.8T patent/DE112010002623B4/de active Active
- 2010-03-22 CN CN2010800168093A patent/CN102396084A/zh active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007335532A (ja) * | 2006-06-13 | 2007-12-27 | Hokkaido Univ | グラフェン集積回路 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20100272917A1 (en) | 2010-10-28 |
US8865268B2 (en) | 2014-10-21 |
DE112010002623T5 (de) | 2012-08-02 |
CN102396084A (zh) | 2012-03-28 |
WO2010125231A1 (en) | 2010-11-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H01L0051000000 Ipc: H01L0021280000 |
|
R079 | Amendment of ipc main class |
Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H01L0051000000 Ipc: H01L0021280000 Effective date: 20130326 |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: NOKIA TECHNOLOGIES OY, FI Free format text: FORMER OWNER: NOKIA CORPORATION, ESPOO, FI Owner name: NOKIA TECHNOLOGIES OY, FI Free format text: FORMER OWNER: NOKIA CORPORATION, 02610 ESPOO, FI |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: COHAUSZ & FLORACK PATENT- UND RECHTSANWAELTE P, DE |
|
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division | ||
R020 | Patent grant now final | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee | ||
R073 | Re-establishment requested | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: PROVENANCE ASSET GROUP LLC, ESSEX, US Free format text: FORMER OWNER: NOKIA TECHNOLOGIES OY, ESPOO, FI |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: COHAUSZ & FLORACK PATENT- UND RECHTSANWAELTE P, DE |
|
R124 | Re-establishment decision now final |