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HINTERGRUND ZU DER ERFINDUNG
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Das
Gebiet der Erfindung betrifft allgemein die zerstörungsfreie
Prüfung
von Komponenten und insbesondere Verfahren und Vorrichtungen zur
zerstörungsfreien
Prüfung
von Komponenten unter Verwendung einer omnidirektionalen Wirbelstrom(WS)-Sonde.
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WS-Prüfvorrichtungen
können
dazu verwendet werden, anormale Anzeichen in einer einer Prüfung unterzogenen
Komponente, wie beispielsweise, jedoch nicht darauf beschränkt, eine
Gasturbinentriebwerkskomponente, zu detektieren. Z. B. können bekannte
WS-Prüfvorrichtungen
dazu verwendet werden, Risse, Dellen, erhabenes Material und/oder andere
Mängel
auf einer Oberfläche
und/oder innerhalb der Komponente zu entdecken. WS-Prüfvorrichtungen
können
ferner dazu verwendet werden, Materialeigenschaften der Komponente,
einschließlich
der Leitfähigkeit,
Dichte und/oder den Grad der Wärmebehandlung,
die diese Komponente erfahren hat, zu bewerten.
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WS-Bilder
werden gewöhnlich
erzeugt, indem eine Formteiloberfläche mit einer Einzelelement-WS-Spule
gescannt wird. Ein Mangel auf oder innerhalb der Teileoberfläche wird
durch das WS-Element detektiert, wenn dieses die komplette Ausdehnung
des Mangels durchfährt.
Wenigstens einige bekannte Wirbelstrom-Arraysonden(WSAS)-Bildgebungen
umfassen jedoch eine Anordnung (ein Array) von WS-Elementen, die
die Oberfläche
eines Teils in einer einzelnen Richtung scannen. Die Verwen dung eines
Arrays von WS-Elementen reduziert die Prüfzeit und erhöht die Prüfgeschwindigkeit
im Vergleich zu einem Scann mit einem WS-Einzelelement. Jedoch erfordern
WSAS-Bilder eine Verarbeitung vor einer Fehlererkennung. Insbesondere
ist eine Verarbeitung erforderlich, weil ein Mangel, der während eines
Scanns mit WSAS detektiert wird, nur zum Teil durch mehrere WS-Elementespulen
erfasst werden kann, anstatt von lediglich einer einzigen WS-Elementenspule
vollständig
erfasst zu werden, wie dies bei der Einzelspulen-WS-Bildgebung erfolgt.
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Außerdem kann
die Nutzung bekannter WS-Sonden durch die Tatsache begrenzt sein,
dass eine Vorkenntnis von der Rissorientierung erforderlich ist.
Aufgrund der Richtungsabhängigkeit
von Wirbelstrom-Differenzialsonden kann in dem Fall, dass mehr als
eine einzige Fehlerorientierung in Erwägung gezogen wird, der Prüfgegenstand
ein erneutes Scannen in unterschiedlichen Orientierungen erfordern,
um die Fehler zu detektieren. Ein derartiges wiederholtes Scannen
ist zeitaufwendig und kann ineffizient sein.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ERFINDUNG
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In
einer Ausführungsform
ist ein Verfahren zum Prüfen
einer Komponente unter Verwendung einer Wirbelstrom-Arraysonde beschrieben.
Das Verfahren enthält
ein Kalibrieren der Wirbelstrom-Arraysonde, Erfassen von Daten von
der Wirbelstrom-Arraysonde zur Analyse und Verarbeiten der erfassten Daten,
um wenigstens entweder Antwortvariationen aufgrund einer detektierten
Orientierung eines detektierten Mangels zu kompensieren und/oder
eine Minimierung von Rauschen zu unterstützen.
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In
einer anderen Ausführungsform
ist ein Wirbelstrom-Fehlererkennungssystem beschrieben. Das Fehlerkennungs system
enthält
eine Wirbelstrom-Arraysonde und eine Verarbeitungsvorrichtung, die
mit der Wirbelstrom-Arraysonde gekoppelt ist. Die Verarbeitungsvorrichtung
ist eingerichtet, um Daten von der Wirbelstrom-Arraysonde zu sammeln und
gesammelte Daten hinsichtlich variierender Orientierungen detektierter
Mängel
zu kompensieren.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist eine Wirbelstrom-Arraysonden-Kalibrierungsvorrichtung beschrieben.
Die Kalibrierungsvorrichtung enthält mehrere Prüfausnehmungen
bzw. -kerben, die in mehreren Reihen und Spalten ausgerichtet sind,
wobei benachbarte Reihen um einen vorbestimmten Abstand voneinander
getrennt sind und wobei benachbarte Spalten um einen vorbestimmten
Abstand voneinander getrennt sind. Die Kalibrierungsvorrichtung
enthält
ferner eine Spannungsmessvorrichtung, die eingerichtet ist, um eine
erfasste Spannung zu messen, die durch die Wirbelstrom-Arraysonde
an jeder der mehreren Kerben detektiert wird.
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In
einer weiteren Ausführungsform
ist ein Verfahren zum Kalibrieren einer Wirbelstrom-Arraysonde beschrieben.
Das Verfahren enthält
ein Positionieren mehrerer Ausnehmungen bzw. Kerben in einer vorbestimmten
Weise an einem Prüfblock,
Messen einer durch die Wirbelstrom-Arraysonde erfassten Spannung
für jede
der mehreren Kerben und Festlegen einer Verstärkung der Wirbelstrom-Arraysonde
auf der Basis der gemessenen Spannung.
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KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
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1 zeigt
eine schematisierte Darstellung eines beispielhaften Wirbelstrom-Oberflächenfehlererkennungssystems;
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2 zeigt
eine schematisierte Darstellung einer beispielhaften Wirbelstrom-Arraysonde;
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3 zeigt
ein Blockschema, das eine beispielhafte Ausgestaltung eines Kalibrierungsblocks veranschaulicht;
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4 zeigt
eine ebene Ansicht einer beispielhaften Komponente, die mehrere
beispielhafte Defekte enthält,
die während
einer WS-Prüfung
detektiert werden können;
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5 zeigt
ein beispielhaftes Flussdiagramm eines automatisierten Defekterkennungs(ADE)-Verfahrens
zur Verwendung mit einer omnidirektionalen WS-Arraysonde;
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6 zeigt
ein beispielhaftes Diagramm mit Ausgangsdaten, die einem Umfangsdefekt
entsprechen, der unter Verwendung einer omnidirektionalen WS-Sonde
erfasst wird;
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7 zeigt
ein beispielhaftes Diagramm mit Ausgangsdaten, die einem radialen
Defekt entsprechen, der unter Verwendung einer omnidirektionalen WS-Sonde
erfasst wird; und
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8 zeigt
eine graphische Darstellung von beispielhaften Daten, die von einer
Probe, die einen Defekt enthält,
gewonnen wurden, eine Aufzeichnung eines Prüfrohbildes, eine Aufzeichnung
des Prüfrohbildes
nach einer Kompensation und eine Aufzeichnung des Prüfrohbildes
nach einer Kompensation, verglichen mit einem Schwellenwert.
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DETAILLIERTE BESCHREIBUNG
DER ERFINDUNG
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In
einer Ausführungsform
ist hierin ein Verfahren zur automatisierten Fehlererkennung (AFE) für eine Weitbereichs-Standardsonde
(WBSS) beschrieben. Die WBSS ist eine Art Wirbelstrom-Prüfsonde,
die durch den Einsatz eines Mehrfachelementen-Scanns einen effizienten
und produktiven Prüfprozess ermöglicht.
Ein einzigartiger Vorteil der WBSS ist ihre Fähigkeit, Fehler in im Wesentlichen jeder
beliebigen Orientierung zu detektieren, so dass im Vergleich zu
anderen bekannten Wirbelstromsonden eine begrenzte Datenmenge erhalten
wird. Jedoch können
die Vorteile, die durch die Akquisition einer begrenzten Datenmenge
erhalten werden, durch die Zuverlässigkeit von mit derartigen
Sonden vollendeten Prüfungen
aufgehoben werden.
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In
einer beispielhaften Ausführungsform
automatisiert der AFE-Prozess die gesamte Datenverarbeitungsprozedur.
Das AFE-Verfahren ermöglicht auch
eine zuverlässige
Fehlererkennung und -charakterisierung unter gleichzeitiger Minimierung
fehlerhafter Defektidentifizierungen. In der beispielhaften Ausführungsform
werden Signalverarbeitungsalgorithmen dazu verwendet, mögliche Defektsignale von
den WBSS-Prüfdaten
zu identifizieren und die Größe und Orientierung
der Defekte abzuschätzen. Die
Algorithmen errichten Kriterien, die verwendet werden, um die Orientierung
des Defektes zu schätzen
und um geeignete Korrekturen anzuwenden, um eine Maximierung der
Antwort von dem Defekt zu ermöglichen.
Außerdem
können
die Algorithmen ohne die Nutzung von Referenzbildern, Nachschlagetabelien
oder irgendwelchen sonstigen Vorabinformationen funktionieren.
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1 zeigt
eine schematisierte Darstellung eines beispielhaften Wirbelstrom-Fehlererkennungssystems 50,
das verwendet werden kann, um eine Komponente 52, wie beispielsweise,
jedoch nicht darauf beschränkt,
eine Gasturbinentriebwerkslaufscheibe 54, zu prüfen. In
der beispielhaften Ausführungsform
enthält
die Laufscheibe 54 mehrere Schwalbenschwanzpfosten 56 und
mehrere in Umfangsrichtung voneinander beabstandete Schwalbenschwanzschlitze 58,
die jeweils zwischen zwei benachbarten Pfosten 56 definiert
sind.
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Obwohl
die Verfahren und Vorrichtungen hierin in Bezug auf Pfosten 56 und
Schwalbenschwanzschlitze 58 beschrieben sind, sollte es
verständlich
sein, dass die Verfahren und Vorrichtungen auf eine weite Vielfalt
von Komponenten angewandt werden können. Zum Beispiel kann die
vorliegende Erfindung im Zusammenhang mit einer Komponente 52 einer
beliebigen betriebsbereiten Gestalt, Größe und/oder Konfiguration verwendet
werden. Beispiele für
derartige Komponenten können
Komponenten von Gasturbinenmaschinen bzw. -triebwerken, wie beispielsweise
Dichtungen, Flansche, Turbinenlaufschaufeln, Turbinenleitschaufeln
und/oder -flansche enthalten, sind jedoch nicht nur auf diese beschränkt. Die
Komponente kann aus jedem beliebigen Grundmaterial, wie beispielsweise
nickelbasierten Legierungen, kobaltbasierten Legierungen, titanbasierten Legierungen,
eisenbasierten Legierungen und/oder aluminiumbasierten Legierungen,
hergestellt sein, ohne darauf beschränkt zu sein. Obwohl die Verfahren
und Vorrichtungen hier in Bezug auf Flugzeugtriebwerkskomponenten
beschrieben sind, sollte es insbesondere verständlich sein, dass die Verfahren und
Vorrichtungen auf eine weit vielfältige Komponenten, die in einer
Dampfturbine, einem Kernkraftwerk, einem Kraftfahrzeugmotor verwendet
werden, oder auf beliebige sonstige mechanische Komponenten angewandt
oder zur Überprüfung derselben
benutzt werden können.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
enthält
das Erkennungs- bzw. Detektionssystem 50 eine Sondenanordnung 60 und
ein Datenakquisitions-/Steuersystem 62. Die Sondenanordnung 60 enthält eine
Wirbelstrom(WS)-Spule/Sonde 70 und einen Sondenmanipulator 72,
der mit der Sonde 70 gekoppelt ist. Die Wirbelstromsonde 70 und
der Sondenmanipulator 72 sind jeweils mit dem Datenakquisitions-/Steuersystem 62 derart
elektrisch gekoppelt, dass Steuerungs-/Dateninformationen zu/von
der WS-Sonde 70 und/oder
dem Sondenmanipulator 72 und/oder dem Daten akquisitions-/Steuersystem 62 übertragen
werden können.
In einer alternativen Ausführungsform
enthält
das System 50 ferner einen (nicht veranschaulichten) Drehtisch,
der eine Komponente 52 während der Prüfprozedur
wahlweise dreht.
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Das
Datenakquisitions-/Steuersystem 62 enthält eine Computerschnittstelle 76,
einen Computer 78, wie beispielsweise einen Personalcomputer mit
einem Speicher 80, und einen Monitor 82. Der Computer 78 führt Instruktionen
aus, die in (nicht veranschaulichter) Firmware gespeichert ist,
und ist programmiert, um die hierin beschriebenen Funktionen durchzuführen. Der
Ausdruck „Computer”, wie er hierin
benutzt wird, ist nicht auf nur diejenigen integrierten Schaltungen
beschränkt,
die in der Technik als Computer bezeichnet werden, sondern bezeichnet
in eher weitem Sinne Computer, Prozessoren, Mikrocontroller, Mikrocomputer,
programmierbare Logikcontroller, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen
und andere programmierbare Schaltungen, wobei diese Ausdrücke hierin
gegeneinander austauschbar verwendet werden.
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Der
Speicher 80 soll eine oder mehrere flüchtige und/oder nicht flüchtige Speichereinrichtungen
repräsentieren,
die Fachleuten auf dem Gebiet vertraut sein sollen. Beispiele für derartige
Speichereinrichtungen, die häufig
im Zusammenhang mit einem Computer 78 eingesetzt werden,
umfassen Festkörperspeicher
(z. B. Direktzugriffspeicher (RAM), Festwertspeicher (ROM) und Flashspeicher), magnetische
Speichervorrichtungen (z. B. Floppy-Disketten und Festplatten) und/oder
optische Speichervorrichtungen (z. B. CD-ROM, CD-RW und DVD), ohne
jedoch darauf beschränkt
zu sein. Der Speicher 80 kann ein interner oder externer
Speicher von dem Computer 78 sein. Das Datenakquisitions-/Steuersystem 62 enthält ferner
eine Aufzeichnungsvorrichtung 84, wie beispielsweise, jedoch nicht
drauf beschränkt,
einen Streifenschreiber, eine C-Scann- Einrichtung und/oder eine elektronische Aufzeichnungseinrichtung,
die entweder mit dem Computer 78 und/oder mit der Wirbelstromsonde 70 elektronisch
verbunden ist.
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Im
Einsatz ist eine Komponente 52, wie beispielsweise die
Scheibe 54, auf einer (nicht veranschaulichten) Aufnahmevorrichtung
montiert, die die Komponente 52 während einer Prüfung an
Ort und Stelle sichert. Die Wirbelstromsonde 70 wird wahlweise
innerhalb der Schwalbenschanzschlitze 58 positioniert,
um es zu unterstützen,
während
der Prüfung
ein Scannen im Wesentlichen aller Innenseiten der zu scannenden
Schwalbenschwanzschlitze 58 zu ermöglichen. In der beispielhaften
Ausführungsform
ist der Sondenmanipulator 72 ein Sechs-Achsen-Manipulator. Die WS-Sonde 70 erzeugt
elektrische Signale als Reaktion auf die Wirbelströme, die während des
Scannens der Schwalbenschwanzschlitze 58 mittels der Sonde 70 in
der Oberfläche
der Schwalbenschwanzschlitze 58 induziert werden. Die durch
die WS-Sonde 70 erzeugten elektrischen Signale werden durch
das Datenakquisitions-/Steuersystem 62 über eine Datenkommunikationsverbindung 86 empfangen
und werden in dem Speicher 80 und/oder der Aufzeichnungseinrichtung 84 gespeichert.
Der Computer 68 ist ferner über eine Kommunikationsverbindung 88 mit
dem Sondenmanipulator 72 verbunden, um eine Steuerung des
Scannvorgangs an der Scheibe 54 zu unterstützen. Eine
(nicht veranschaulichte) Tastatur ist mit dem Computer 78 elektrisch
verbunden, um eine Bedienersteuerung der Überprüfung der Scheibe 54 zu
ermöglichen.
In der beispielhaften Ausführungsform
kann ein (nicht veranschaulichter Drucker) vorgesehen sein, um Papierkopien
der durch den Computer 78 erzeugten Bilder zu erzeugen.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
kann das System 50 dazu verwendet werden, jede beliebige
Art einer Wirbelstromüberprüfung, wie
beispielsweise eine herkömmliche Über prüfung, eine
Einzelspulen-Überprüfung oder
eine Arraysonden-Überprüfung, durchzuführen. Das
System 50 scannt automatisch die Oberfläche der Komponente 52 und
speichert die akquirierten Daten in Form von Bildern. Der Fehlererkennungsalgorithmus
wird anschließend durch
den Computer 78 angewandt, um jeden Fehler (sofern vorhanden)
auf der Oberfläche
der Komponente 52 zu identifizieren und zu charakterisieren.
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Wenn
ein Wirbelstrom(WS)-Test durchgeführt wird, wird durch eine Treiberspule
ein magnetisches Feld erzeugt. Eine derartige Erzeugung kann ein
Zuführen
eines Wechselstroms zu einer Treiberspule enthalten, ohne jedoch
nur darauf beschränkt zu
sein. Die Treiberspule wird neben einer Oberfläche einer zu überprüfenden Komponente
positioniert. Wenn die Treiberspule positioniert ist, ist die Treiberspule
im Wesentlichen parallel zu der geprüften Oberfläche ausgerichtet. Eine derartige
Ausrichtung der Treiberspule bewirkt, dass das durch die Treiberspule
erzeugte Magnetfeld im Wesentlichen senkrecht zu der geprüften Oberfläche orientiert
ist.
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Mit
der Treiberspule ist ein Sensor gekoppelt, um Sekundärfelder
zu empfangen. Interessierende Sekundärfelder werden an dem Sensor
empfangen, nachdem die durch die Treiberspule erzeugten Magnetfelder
von einem Oberflächenfehler
auf oder in der geprüften
Oberfläche
reflektiert worden sind. Der Sensor ist konfiguriert, um das reflektierte Sekundärfeld in
ein elektrisches Signal umzusetzen, das betrachtet und/oder aufgezeichnet
werden kann.
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2 veranschaulicht
eine beispielhafte Ausführungsform
einer omnidirektionalen Wirbelstrom(WS)-Sonde 130. Die
omnidirektionale WS-Sonde 130 enthält wenigstens einen WS-Kanal 132.
In der beispielhaften Ausführungsform
enthält der
WS-Kanal 132 eine erste Erfassungsspule 134 und
eine zweite Erfassungsspule 136. Die erste und die zweite
Erfassungsspule 134 und 136 sind in einer ersten
(X) und einer zweiten (Y) Richtung gegeneinander versetzt und überlappen
einander in wenigstens einer von der ersten und der zweiten Richtung (X,
Y). In dem hierin verwendeten Sinne schließen die Ausdrücke „versetzt” und „überlappen” einander nicht
aus. Zum Beispiel haben in der beispielhaften Ausführungsform
die erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 sowohl
einen Versatz als auch eine Überlappung
in der Y-Richtung. In anderen Worten sind die erste und die zweite
Erfassungsspule 134 und 136 für diese Orientierung in der
Richtung (Y) teilweise gegeneinander versetzt, während sie in der Richtung (X)
vollständig
(d. h. ohne Überlappung) gegeneinander
versetzt sind. In einer Ausführungsform überlappen
die erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 einander
in der zweiten Richtung (Y) um wenigstens etwa fünfundzwanzig Prozent (25%)
einer Länge 140 der
Erfassungsspulen 134 und 136. In einer anderen
Ausführungsform überlappen
die erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 einander
in der zweiten Richtung (y) um wenigstens etwa dreiunddreißig Prozent
(33%) der Länge 140 der
Erfassungsspulen 134 und 136. In einer weiteren
Ausführungsform überlappen
die erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 einander
in der zweiten Richtung (Y) um wenigstens etwa fünfzig Prozent (50%) der Länge 140 der
Erfassungsspulen 134 und 136.
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Die
omnidirektionale WS-Spule 130 enthält ferner wenigstens eine Treiberspule 138,
die ein Sondierungsfeld für
den WS-Kanal 132 in der Nähe der ersten und der zweiten
Erfassungsspule 134 und 136 erzeugt. In der beispielhaften
Ausführungsform
erstreckt sich die Treiberspule 138 um die erste und die zweite
Erfassungsspule 134 und 136 herum und bildet den
WS-Kanal 132.
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Um
das Scannen einer relativen großen Oberflächenbereichs
zu verbessern, wird ein Array aus WS-Kanälen 132 eingesetzt.
Demgemäß enthält die beispielhafte
omnidirektionale WS-Sonde 130 eine Anzahl von WS-Kanälen 132 und
eine Anzahl von Treiberspulen 138. Insbesondere ist in
der beispielhaften Ausführungsform
für jeden
WS-Kanal 132 wenigstens eine Treiberspule 138 vorgesehen.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
ermöglicht
die überlappende
Anordnung der ersten und der zweiten Erfassungsspule 134 und 136 der
omnidirektionalen WS-Sonde 130, Mängel in einer getesteten Probe
an einer beliebigen Stelle entlang der (Y)-Richtung zu detektieren.
Jedoch kann die omnidirektionale WS-Sonde 130 jede beliebige
Orientierung der WS-Kanäle 132 enthalten,
die der WS-Sonde 130 ermöglicht, in der hierin beschriebenen
Weise zu funktionieren. Durch Aufnahme mehrerer WS-Kanäle 132,
die im Wesentlichen identisch sind, wird ermöglicht, dass das Funktionsverhalten
der mehreren WS-Kanäle 132 im
Wesentlichen gleichmäßig ist.
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Wie
vorstehend im Zusammenhang mit der WS-Sonde 70 beschrieben,
wird die omnidirektionale WS-Arraysonde 130 dazu verwendet,
Oberflächen- oder
oberflächennahe
Risse (d. h. mit der Oberfläche verbundene
Fehler) in leitfähigen
Komponenten, wie beispielsweise, jedoch nicht drauf beschränkt, Flugzeugtriebwerkskomponenten,
einschließlich
Laufscheiben, Spulen und Laufschaufeln, zu erfassen. Beispielhafte
Komponenten sind aus Nickellegierungen und Titanlegierungen ausgebildet.
Jedoch kann die WS-Sonde 130 im Zusammenhang mit vielfältigen leitfähigen Komponenten
eingesetzt werden.
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Im
Betrieb erregt und erzeugt die Treiberspule 138 einen Magnetfluss
(d. h. ein Sondierungsfeld). Der Magnetfeldeintritt in ein (in 1 nicht
veranschaulichtes) leitfähi ges
Prüfobjekt
erzeugt auf der Oberfläche
des Prüfobjektes
einen Wirbelstrom, der wiederum ein sekundäres Magnetfeld erzeugt. Im Falle
eines (nicht veranschaulichten) Oberflächenfehlers weicht das sekundäre Magnetfeld
von seiner normalen Orientierung in eine Richtung ab, die der Fehlerorientierung
entspricht. Dieses abgelenkte sekundäre Magnetfeld induziert in
den Erfassungsspulen 134 und 136 entsprechende
Signale (d. h. Erfassungssignale), die für die Gegenwart des Oberflächenfehlers
kennzeichnend sind. Aufgrund des Versatzes in zwei Richtungen (das
heißt
in der X- und der Y-Richtung) in der beispielhaften Ausführungsform
ermöglicht
die differentielle Kopplung der Erfassungsspulen 134 und 136 der
Richtungsabweichung in dem sekundären Magnetfluss, die irgendeiner
Rissorientierung entspricht, erfasst zu werden. Insbesondere verleihen
die Erfassungsspulen 134 und 136 der WS-Sonde 130 eine
omnidirektionale Empfindlichkeit. Zusätzlich ermöglicht die überlappende Anordnung der Erfassungsspulen 134 und 136 in
der Y-Richtung eine ergänzende
Erfassung während
des Scannens der Oberfläche
eines Prüfobjektes
mit der Sonde in der X-Richtung.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
hat die erste Erfassungsspule 134 eine positive Polarität, und die
zweite Erfassungsspule 136 hat eine negative Polarität. Die beispielhafte
omnidirektionale WS-Sonde 130 enthält ferner elektrische Verbindungen 142,
die die erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 elektrisch
miteinander koppeln. In einer Ausführungsform sind die elektrischen
Verbindungen 142 dazu konfiguriert, sowohl eine differentielle
Erfassung (wie durch „DIFF” angezeigt)
als auch eine absolute Erfassung (wie durch „ABS” angezeigt) durchzuführen. Vorteilhafterweise
ermöglicht
die Aufnahme sowohl differentieller als auch absoluter Erfassungseinrichtungen
die Detektion sowohl kleiner als auch langer Risse.
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Die
erste und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 bilden
jeden WS-Kanal 132 und haben entgegengesetze Polaritäten (wie
durch „+” und „–„ angezeigt),
und die elektrischen Verbindungen 142 verbinden die erste
und die zweite Erfassungsspule 134 und 136 elektrisch
innerhalb jedes jeweiligen WS-Kanals 132. Die Treiberspulen 138 haben
wechselnde Polarität
im Bezug auf benachbarte Treiberspuren 138 (wie ebenfalls
durch „+” und „–„ angezeigt).
Die Polarität
der ersten und der zweiten Erfassungsspule 134 und 136 wechselt
dementsprechend in Bezug auf benachbarte WS-Kanäle. Zum Beispiel haben diejenigen
Erfassungsspulen 134 und 136 innerhalb des mittleren
WS-Kanals 132 die entgegengesetzte Polarität in Bezug
auf diejenigen Erfassungsspulen 134 und 136 in
dem oberen und dem unteren WS-Kanal 132.
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In
einer alternativen Ausführungsform
enthält
jeder WS-Kanal 132 einen Sensor. Zum Beispiel ist der Sensor
in einer Ausführungsform
ein Festkörpersensor,
wie beispielsweise, jedoch nicht darauf beschränkt, ein Hall-Sensor, ein anisotropischer
Magnetwiderstand (AMR), ein Riesenmagnetowiderstand (GMR), ein magnetischer
Tunnelwiderstand (TMR), ein außerordentlicher
Magnetowiderstand (EMR) und/oder eine Riesenmagnetoimpledanz (GMI).
Jedoch kann ein beliebiger ungehäuster
Festkörpersensor,
der eine Wirbelstromüberprüfung ermöglicht,
wie hierin beschrieben, eingesetzt werden.
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3 zeigt
ein Blockdiagramm, das eine beispielhafte Ausgestaltung eines Kalibrierungsblocks 200 veranschaulicht,
der verwendet werden kann, um eine omnidirektionale WS-Arraysonde, wie beispielsweise
die omnidirektionale WS-Arraysonde 240 zu kalibrieren.
In einer Ausführungsform
ist die WS-Arraysonde 240 der
WS-Arraysonde 130 (wie sie in 2 veranschaulicht
ist) im Wesentlichen ähnlich.
In der beispielhaften Ausführungsform
enthält
der Kalibrierungsblock 200 eine erste Kante 202 und
eine zweite Kante 204 sowie mehrere Prüfausnehmungen bzw. -kerben 210.
Insbesondere enthalten die mehreren Prüfkerben 210 in der
beispielhaften Ausführungsform
mehrere Reihen von Prüfkerben.
Zum Beispiel enthalten die Prüfkerben 210 in der
beispielhaften Ausführungsformen
eine erste Reihe von Kerben 212, eine zweite Reihe von
Kerben 214, eine dritte Reihe von Kerben 216 und
eine vierte Reihe von Kerben 218. Jede Reihe 212, 214, 216 und 218 enthält mehrere
einzelne Kerben. Insbesondere enthält jede Reihe 212, 214, 216 und 218 in
der beispielhaften Ausführungsform
eine erste Kerbe 220, die neben der ersten Kante 202 positioniert
ist. Jede Reihe 212, 214, 216 und 218 enthält ferner
eine zweite Kerbe 222, die in einem vorbestimmten Abstand 224 in
der Y-Richtung zu der ersten Kerbe 220 positioniert ist,
und eine dritte Kerbe 226, die in einem vorbestimmten Abstand 228 in
der Y-Richtung zu
der zweiten Kerbe 222 positioniert ist. Die Platzierung
der Kerben stellt sicher, dass unabhängig davon, wo Sondenspulen
an unterschiedlichen Kerben angeordnet werden, eine beständige Referenzspannung erhalten
wird.
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Eine
omnidirektionale WS-Arraysonde 240 wird anfangs an dem
Kalibrierungsblock 200 positioniert. Die Sonde 240 wird
anschließend
kalibriert, indem die Sonde 240 relativ zu dem Kalibrierungsblock 200 bewegt
wird, während
eine Spannung gemessen wird, die durch die (in 2 veranschaulichten)
Erfassungsspulen detektiert wird, während die Erfassungsspulen über den
Kerben 210 vorbeilaufen. Insbesondere wird die detektierte
Spannung an jeder Kerbe 210 gemessen. Mit den detektierten
Spannungen wird eine einzelne Instrumentenverstärkung auf der Basis der maximalen
Kerbantwort, unabhängig von
dem (in 2 veranschaulichten) WS-Kanal festgelegt.
Sobald die Verstärkung
festgelegt ist, werden Normierungsfaktoren verwendet, um über die
Erfassungsspulen hinweg eine gleichförmige Antwort sicherzustellen.
Die berechneten Verstärkungsein stellungen,
die mit dem Kalibrierungsblock 200 geschaffen werden, ermöglichen
eine Erhöhung
der Genauigkeit der akquirierten Daten im Vergleich zu einer nicht
kalibrierten WS-Array Sonde.
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4 zeigt
eine ebene Ansicht einer beispielhaften Komponente 250,
die mehrere beispielhafte Defekte enthält. Zum Beispiel enthält die Komponente 250 in
der beispielhaften Ausführungsform einen
radialen Defekt 260, einen in Umfangsrichtung ausgerichteten
Defekt 262 und einen gewinkelten Defekt 234. Der
radiale Defekt 260, der Umfangsdefekt 262 und
der gewinkelte Defekt 264 stellen Beispiele für unterschiedliche
Defektorientierungen dar, die innerhalb einer Komponente 250 auftreten
können.
Ein beispielhafter WS-Sondenweg ist bei 262 veranschaulicht.
Wie in größeren Einzelheiten
nachstehend beschrieben, sprechen der radiale Defekt 260,
der umfangsseitige Defekt 262 und der gewinkelte Defekt 264 hinsichtlich
einer maximalen Amplitude der Antwort und einer Signatur der Antwort
unterschiedlich auf die WS-Arraysonde 240 an.
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5 zeigt
ein beispielhaftes Flussdiagramm eines automatisierten Fehlererkennungs(AFE)-Verfahrens 280,
das mit einer omnidirektionalen WS-Arraysonde, wie beispielsweise
der (in 3 veranschaulichten) WS-Arraysonde 240, eingesetzt
werden kann. In einer beispielhaften Ausführungsform wird das AFE-Verfahren 280 mittels
einer (in 5 nicht veranschaulichten) Verarbeitungsvorrichtung
durchgeführt.
In dem hierin verwendeten Sinne ist der Begriff „Verarbeitungsvorrichtung” nicht auf
nur diejenigen integrierten Schaltungen beschränkt, die in der Technik als
eine Verarbeitungsvorrichtung bzw. Prozessorvorrichtung bezeichnet werden,
sondern bezieht sich im weiten Sinne auf einen Prozessor, einen
Mikroprozessor, einen Controller, einen Mikrocontroller, einen programmierbaren Logikcontroller,
eine anwendungsspezifische in tegrierte Schaltung und andere programmierbare Schaltungen.
Das AFE-Verfahren 280 ermöglicht eine genaue Fehlererkennung
und -charakterisierung unter Begrenzung fehlerhafter Identifizierungen von
Defekten. In einer Ausführungsform
wird der AFE-Prozess 280 durch
das (in 1 veranschaulichte) WS-Fehlererkennungssystem 50 durchgeführt. Das
AFE-Verfahren 280 enthält
eine Kalibrierung 282 der WS-Arraysonde. Die Antwort der WS-Arraysonde
auf einen Defekt variiert in Abhängigkeit
von der Lage der WS-Arraysonde, die den Effekt erfasst. Eine Kalibrierung 282 kann
eine Bestimmung einer Sondenverstärkung enthalten, die eine gleichmäßige Antwort
der detektierten Defekte über der
WS-Arraysonde liefert. Außerdem
kann eine Kalibrierung 282 unter Verwendung eines Kalibrierungsblocks,
wie beispielsweise des (in 3 veranschaulichten)
Kalibrierungsblocks 200, bewerkstelligt werden.
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Das
AFE-Verfahren 280 führt
ferner eine WS-Prüfung
der Komponente durch, 284, und erzeugt ein (in 5 nicht
veranschaulichtes) Prüfbild. Das
erzeugte Prüfbild
repräsentierte
ein Diagramm der erfassten Spannungen über einem Abstand oder einer
Stelle der WS-Arraysonde relativ zu der Komponentenoberfläche. Eine
Verarbeitung 286 des Prüfbildes
ergibt ein (in 5 nicht veranschaulichtes) verarbeitetes
Prüfbild.
In der beispielhaften Ausführungsform
wird während
der Verarbeitung 286 eine Wavelet-Dekomposition verwendet,
um eine Verbesserung der Erkennung kleiner Risse und eine Verbesserung
der Erkennungswahrscheinlichkeit (PoD, probability of detection)
zu ermöglichen.
PoD stellt ein Maß beispielsweise
für die
Fähigkeit
einer zerstörungsfreien
Prüfung
dar, einen Mangel einer bekannten Größe innerhalb einer Komponente
zu identifizieren.
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Insbesondere
dekomponiert ein Algorithmus in der beispielhaften Ausführungsform
das rohe Prüfbild
in verschied ne Frequenzteilbänder
in dem Wavelet-Bereich. Die Teilbänder werden anschließend mehreren
Rauschfiltern und adaptiven Schwellen unterworfen, die in Bezug
auf den Signalinhalt des betrachteten Teilbands angepasst sind.
Die Verwendung geeigneter Teilbänder
verstärkt
die Signatur der Fehlerantwort und ermöglich dadurch eine Verbesserung
des Erkennungsvermögens
und eine Reduktion der Möglichkeiten
von falschen positiven Ergebnissen im Vergleich zu der Anwendung
herkömmlicher Segmentierungsschemata
mit starren Schwellenwerten auf die Prüfrohdaten. Das AFE-Verfahren 280 enthält ferner
eine Kompensation 288 des verarbeiteten Prüfbildes,
um, abhängig
von der Geometrie des detektierten Defektes, verschiedene detektierte
Signalniveaus zu korrigieren.
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Das
AFE-Verfahren 280 enthält
ferner eine Berechnung 290 einer Schätzung der Größe eines detektierten
Defektes. Der Schätzwert
der Größe des detektierten
Detektors basiert auf dem verarbeiteten Prüfbild nach der Kompensation 288,
das für
eine höhere
Genauigkeit des Größenschätzwertes
sorgt, während
fehlerhafte Anzeigen eines Defektes begrenzt werden. Der Schätzwert der
Größe des detektierten
Defektes wird anschließend
mit einem Schwellenwert verglichen. Falls die geschätzte Größe des detektierten
Defektes größer ist
als der Schwellenwert, wird ein Defekt erkannt. Falls der Schätzwert des
Größe des detektierten
Defektes kleiner ist als der Schwellenwert, wird kein Defekt festgestellt.
Die Schwellenwerte werden mittels PoD-Analyse ermittelt.
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6 zeigt
eine Aufzeichnung 300 einer beispielhaften Datenausgabe
von einer beispielhaften omnidirektionalen WS-Sonde, wie beispielsweise (der
in 3 veranschaulich ten) WS-Arraysonde 240.
Insbesondere enthält
die Aufzeichnung 300 ein Diagramm 304 einer ersten
Spitze-Spitze-Spannung (Vpp), ein Diagramm 306 einer zweiten
Vpp und ein Diagramm ei ner dritten Vpp. Das erste Diagramm 304,
das zweite Diagramm 306 und das dritte Diagramm 308 veranschaulichen
eine Ausgabe einer omnidirektionalen WS-Sonde, wenn die Sonde einen (in 4 veranschaulichten)
Umfangsdefekt 262 detektiert. In der beispielhaften Ausführungsform
werden drei Spulen dazu verwendet, den in Umfangsrichtung orientierten
Defekt 262 zu detektieren und Ausgabedaten zu sammeln,
um das erste Diagramm 304, das zweite Diagramm 306 und
das dritte Diagramm 308 zu erzeugen.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
enthält
die (in 5 veranschaulichte) Kompensation 288 des
verarbeiteten Prüfbildes
zur Korrektur der verschiedenen detektierten Signalniveaus eine
Berechnung einer maximalen Vpp 310 aus dem ersten Diagramm 304,
dem zweiten Diagramm 306 und dem dritten Diagramm 308,
wenn das Prüfbild
das Vorliegen eines Umfangsdefektes anzeigt. Die maximale Vpp 310 ermöglicht es,
dass aus den Daten, die von der omnidirektionalen WS-Sonde geliefert
werden, eine maximale Antwort extrahiert wird.
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7 zeigt
eine beispielhafte Aufzeichnung 340 einer beispielhaften
Datenausgabe von einer beispielhaften omnidirektionalen WS-Sonde,
wie beispielsweise der (in 3 veranschaulichten)
Sonde 240. Die Aufzeichnung 340 enthält ein Diagramm 344 einer
ersten Vpp, einer Diagramm 346 einer zweiten Vpp und ein
Diagramm 348 einer dritten Vpp. Das erste Diagramm 344,
das zweite Diagramm 346 und das dritte Diagramm 348 veranschaulichen
eine Ausgabe einer omnidirektionalen WS-Sonde, wenn die Sonde einen (in 4 veranschaulichten)
radialen Defekt 260 erfasst. In der beispielhaften Ausführungsform
werden drei Spulen dazu verwendet, den radialen Defekt 260 zu
detektieren und Ausgangsdaten zu sammeln, um das erste Diagramm 344,
das zweite Diagramm 346 und das dritte Diagramm 348 zu
erzeugen.
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In
der beispielhaften Ausführungsform
enthält
die (in 5 veranschaulichte) Kompensation 288 des
verarbeiteten Prüfbildes
zur Korrektur der verschiedenen detektierten Signalniveaus eine
Berechnung einer Summe 350 aus dem ersten Diagramm 344,
dem zweiten Diagramm 346 und dem dritten Diagramm 348,
wenn das Prüfbild
das Vorliegen eines radialen Defektes anzeigt. Die Summe 350 ermöglicht die
Extraktion einer maximalen Antwort aus den Daten, die von der omnidirektionalen WS-Sonde
geliefert werden.
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Die
Kompensation 288 korrigiert Teildefektantworten, wie beispielsweise
das Diagramm 344 der ersten Vpp, das Diagramm 346 der
zweiten Vpp und das Diagramm 348 der dritten Vpp, um so
eine einzige maximale Defektantwort, zum Beispiel die maximale Vpp 310 und
die Summe 350, zu erzeugen. Wie vorstehend beschrieben,
werden die maximale Vpp 310 und die Summe 350 dazu
verwendet, die Größe des Defektes
vorherzusagen.
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8 zeigt
eine grafische Darstellung einer zu überprüfenden Komponenten 370,
die einen Defekt 372 enthält, ein Diagramm eines Prüfrohbildes, ein
Diagramm 390 des Prüfrohbildes
nach einer Kompensation und ein Diagramm 400 des Prüfrohbildes
nach einer Kompensation und einem Vergleich mit einem Stellenwert.
In einer beispielhaften Ausführungsform
wird das Diagramm 308 aus Daten erzeugt, die mittels der
omnidirektionalen WS-Arraysonde 240 gewonnen werden. Das
Diagramm 380 zeigt detektierte Spannungsniveaus an, während sich
eine. (in 8 nicht veranschaulichte) WS-Arraysonde über der
Komponente 370 bewegt. Das Diagramm 390 wird erzeugt,
nachdem die Kompensation 288 (wie vorstehend im Zusammenhang
mit 5 beschrieben) auf das Prüfrohbild des Diagramms 380 durch
eine (in 8 nicht veranschaulichte) Verarbeitungsvorrichtung
angewandt wird. In den beispielhaften Ausführungsformen sind, nachdem
eine Kompensation hinsichtlich der möglichen Defektorientierungen
durchgeführt
wird, wie vorstehend beschrieben, ein erster interessierender Bereich 392 und
ein zweiter interessierender Bereich 394 ersichtlich. Wenn
die Daten, die das Diagramm 390 bilden, mit dem berechneten
Schwellenwert verglichen werden, der einer vorbestimmten PoD entspricht,
wird der erste interessierende Bereich 392 nicht mehr als
ein möglicher
Komponentendefekt identifiziert. Im Diagramm 400 bleibt
lediglich der zweite interessierende Bereich 394 übrig, der
dem einzigen Defekt 372 entspricht, der in der Komponente 370 vorhanden
ist.
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Zusammenfassend
ermöglicht
das hierin beschriebene AFE-Verfahren die Identifizierung und Segmentierung
der Fehlerantworten inmitten verschiedener Formen von elektronischem
Rauschen und Teilgeomentrieanzeigen unter Verwendung eines adaptiven
Schwellensetzungsschemas. Die Fehler unterschiedlicher Orientierungen
antworten unterschiedlich auf das WBSS-Array sowohl hinsichtlich der maximalen
Amplitude der Antwort als auch hinsichtlich ihrer Signatur. Das
AFE Verfahren nimmt eine Kompensation der Bilddaten, die verschiedenen Fehlerorientierungen
entsprechen, vor, um eine Maximierung der extrahierten Sonderantwort
zu ermöglichen.
Nach der Segmentierung wird die Fehlerorientierung geschätzt, um
die geeignete maximale Antwort zu extrahieren.
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Wie
vorstehend beschrieben, erfordert das AFE-Verfahren keine Vorabinformationen in
Form von Nachschlagetabellen, Schwellenwerten oder Referenzbildern.
Die Bildverarbeitung unter Verwendung der Wavelet-Dekomposition
weist eine verbesserte Detektion kleiner Risse auf, was eine verbesserte
PoD fördert.
Der Algorithmus dekomponiert das Bild in verschiedene Frequenzteilbänder in
dem Wavelet-Bereich. Die Teilbänder
werden anschließend
einer Kaskade von Rauschbildern und adaptiven Schellenwerten unterworfen,
die auf den Signalinhalt des betrachteten Teilbandes maßgeschneidert
sind. Die Verwendung geeigneter Teilbänder bietet den Vorteil einer
Verstärkung
der Fehlerantwortsignatur, ohne dass gleichzeitig das Rauschniveau verstärkt wird,
wodurch ermöglicht
wird, ein Signal-Rausch-Verhältnis
(SNR), das Detektionsvermögen
zu verbessern und die Möglichkeiten
einer falschen positiven Erkennung zu reduzieren. Dies bietet eine
Verbesserung gegenüber
den herkömmlichen Segmentierungsschemata
mit Anwendung starrer Schwellenwerte auf die Rohdaten.
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Die
Kompensationsschemata können,
außer der
Maximierung von Fehlerantworten, eine Orientierung des segmentierten
Fehlers schätzen.
Die Spitze-Spitze-Antwort wird für
jeden Bereich berechnet. Auf der Basis der Orientierung wird die
geeignete Kompensation angewandt, um die Ableitung einer maximalen
Fehlerantwort zu ermöglichen.
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Eine
verbesserte Fähigkeit
zur Defektcharakterisierung ist erreicht worden, indem eine multivariate
lineare Transformation eingesetzt worden ist, um eine äquivalente
Defektgröße vorherzusagen. Die
multivariate Gleichung wird aus Regressionsanalysen verschiedener
aus der segmentierten Region extrahierter Merkmale abgeleitet. Die
verwendeten Merkmale enthalten die maximale Amplitude, die Anzahl
und Polarität
von Spitzen, die Energie des Segmentes oder andere abgeleitete Merkmale.
Auf der Basis dieser Merkmale ist eine Übertragungsfunktion entwickelt
worden, die die äquivalente
Größe des detektierten
Defektes unmittelbar vorhersagt.
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Durch
die Schaffung der Fähigkeit
zur Erfassung kleiner Fehler und reduzierter falscher positiver Ergebnisse
verbessert das AFE-Verfahren folglich die PoD. Die Verwendung des
passenden Wavelets ermöglicht
eine Verstärkung
der Fehler signatur unter gleichseitiger Unterdrückung von Rauschen. Reduktionen
der fehlerhaften Identifizierung von Defekten haben einen unmittelbaren
Einfluss auf das Erstergebnis (FTY, First Time Yield) der Prüfung. Ein schlechtes
FTY kann jegliche Vorteile, die WBSS hinsichtlich der Prüfzeitdauer
erzielen könnte,
zunichte machen.
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Beispielhafte
Ausführungsformen
von Wirbelstrom-Prüfverfahren
und -Systemen sind vorstehend in Einzelheiten beschrieben. Die Verfahren
und Systeme sind nicht auf die hierin beschriebenen Ausführungsformen
beschränkt,
so dass vielmehr Komponenten jedes Systems unabhängig und gesondert von anderen
hierin beschriebenen Komponenten eingesetzt werden können. Jede
Systemkomponente kann auch in Kombination mit anderen Systemkomponenten
eingesetzt werden. Insbesondere sollte es verständlich sein, dass, obwohl die
Verfahren und Systeme hierin in Bezug auf die Prüfung von Flugzeugtriebswerkskomponenten
beschrieben sind, die Verfahren und Systeme auch auf eine weite
Vielfalt von Komponenten, die in einer Dampfturbine, einem Kernkraftwerk,
einem Kraftfahrzeugmotor verwendet werden, oder zur Inspektion einer
beliebigen mechanischen Komponente angewandt werden können.
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Während die
Erfindung anhand verschiedener spezieller Ausführungsformen beschrieben worden
ist, werden Fachleute auf dem Gebiet erkennen, dass die Erfindung
innerhalb des Rahmens und Schutzumfangs der Ansprüche mit
Modifikationen ausgeführt
werden kann.
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Zusammenfassung:
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Es
ist ein Verfahren zum Prüfen
einer Komponente unter Verwendung einer Wirbelstrom-Arraysonde geschaffen.
Das Verfahren enthält
ein Kalibrieren der Wirbelstrom-Arraysonde, Erfassen von Daten von
der Wirbelstrom-Arraysonde zur Analyse und Verarbeiten der erfassten
Daten, um wenigstens entweder Antwortvariationen infolge einer erfassten
Orientierung eines erfassten Mangels zu kompensieren und/oder eine
Minimierung von Rauschen zu ermöglichen.