DE112007001046T5 - Infrarotsensor und Verfahren zum Herstellen desselben - Google Patents

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electrode
forming
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Yoshimitsu Nagaokakyo-shi Ushimi
Naoko Nagaokakyo-shi Aizawa
Hiroyuki Nagaokakyo-shi Fujino
Hajime Nagaokakyo-shi Yamada
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

Ein Infrarotsensor, der folgende Merkmale umfasst:
ein erstes Substrat, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht;
ein zweites Substrat, das entfernt von dem ersten Substrat auf solch eine Weise angeordnet ist, dass eine Hauptoberfläche des zweiten Substrats einer Hauptoberfläche des ersten Substrats zugewandt ist;
eine Mehrzahl von säulenförmigen Stützen, die konfiguriert sind, um das erste Substrat und das zweite Substrat zu verbinden, und das erste Substrat und das zweite Substrat zu tragen, während das erste Substrat und das zweite Substrat in einem getrenntem Zustand sind; und
eine Erfassungselektrode, die auf zumindest einer Hauptoberfläche des ersten Substrats angeordnet ist, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Infrarotsensoren und Verfahren zum Herstellen der Infrarotsensoren. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung beispielsweise auf einen Infrarotsensor, der einen Infraroterfassungsabschnitt mit einer Erfassungselektrode auf einem Substrat aufweist, das aus thermoelektrischen Wandlungsmaterial zusammengesetzt ist, und ein Verfahren zum Herstellen des Infrarotsensors.
  • Stand der Technik
  • 19 ist eine darstellende Ansicht eines beispielhaften Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors im Stand der Technik. Um den Infrarotsensor herzustellen, wie er in 19(A) gezeigt ist, wird ein Substrat 3, das beispielsweise aus Si besteht, vorbereitet. Eine untere Elektrode 1 ist auf dem Substrat 3 gebildet. Eine glasartige Schicht 2 wird darauf gebildet. Ein Pb-Dünnfilm 4 wird aufgebracht durch Verdampfung auf einer Verbindungsoberfläche eines PbTiO3-basierten pyroelektrischen Substrat 5. Der Pb-Dünnfilm 4 auf dem pyroelektrischen Substrat 5 wird mit der glasartigen Schicht 2 auf dem Substrat 3 in Kontakt gebracht. Eine Wärmebehandlung wird bei 600°C bis 1.000°C durchgeführt, um es der glasartigen Schicht 2 zu ermöglichen, mit dem Pb-Dünnfilm 4 zu reagieren, um eine glasartige Schicht 6 mit niedrigem Schmelzpunkt zu bilden, und dadurch das pyroelektrische Substrat 5 auf dem Substrat 3 zu stapeln. Dann wird das pyroelektrische Substrat 5, wie es in 19(B) gezeigt ist, durch Polieren in der Dicke reduziert. Eine lichtaufnehmende Oberflächenelektrode 7 wird durch Sputtern gebildet, um einen Infraroterfassungsabschnitt zu bilden. Wie es in 19(C) gezeigt ist, wird ein isolierender Film 8, der beispielsweise aus SiO2 besteht, auf dem pyroelektrischen Substrat 5 gebildet, das mit der lichtempfangenden Oberflächenelektrode 7 versehen ist. Das Substrat 3, das auf einem Abschnitt angeordnet ist, wo die lichtempfangende Oberflächenelektrode 7 angeordnet ist, wird durch Ätzen entfernt, um einen Si-Substratentfernungsabschnitt 9 zu bilden.
  • Da in solch einem Infrarotsensor das pyroelektrische Substrat 5 mit dem Substrat 3, verbunden ist, kann das pyroelektrische Substrat 5 in der Dicke reduziert werden. Die Bildung des Si-Substratentfernungsabschnitts 9 verhindert Wärmeleitung von dem Abschnitt, wo die lichtempfangende Oberflächenelektrode 7 angeordnet ist, zu dem Substrat 3. Wenn somit Infrarotenergie auf den Infraroterfassungsabschnitt auftrifft, wird die Temperatur des Infraroterfassungsabschnitts überwiegend geändert. Dies führt zu einer Verbesserung der thermoelektrischen Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit. Ferner kann der Infraroterfassungsabschnitt eine sehr geringe Dicke aufweisen, so dass ein schmaler Wärmeleitweg noch verschmälert wird. Somit können benachbarte Infraroterfassungsabschnitte an kürzeren Intervallen angeordnet werden, was zu einer größeren Packungsdichte führt. Darüber hinaus kann in dem Fall eines Mehrelementsensors, der eine Mehrzahl von Infraroterfassungsabschnitten umfasst, das verbleibende Substrat 3, das zwischen benachbarten Infraroterfassungsabschnitten angeordnet ist, als Wärmesenke dienen, was dadurch zu einem kleinen Mehrelementsensor führt, der frei von dem Einfluss von Übersprechen ist (siehe Patentdokument 1).
    • Patentdokument 1: japanische ungeprüfte Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 6-194226
  • Offenbarung der Erfindung
  • Probleme, die durch die Erfindung zu lösen sind
  • Bei solch einem Infrarotsensor ist jedoch das pyroelektrische Substrat in Kontakt mit dem Si-Substrat, ausgenommen dem Infraroterfassungsabschnitt, was somit zu einer unzureichenden thermischen Isolation führt. Die thermoelektrische Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit sind nach wie vor unangemessen.
  • Folglich ist es eine Hauptaufgabe der vorliegenden Erfindung, einen Infrarotsensor zu schaffen, der einen Infraroterfassungsabschnitt mit verbesserter thermischer Isolation aufweist und eine zufriedenstellende thermoelektrische Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit aufweist.
  • Es ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einem Infraroterfassungsabschnitt mit ausreichender thermischer Isolation zu schaffen.
  • Einrichtung zum Lösen der Probleme
  • Die vorliegende Erfindung schafft einen Infrarotsensor, der ein erstes Substrat, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, ein zweites Substrat, das entfernt von dem ersten Substrat auf solche Weise angeordnet ist, dass eine Hauptoberfläche des zweiten Substrats einer Hauptoberfläche des ersten Substrats zugewandt ist, eine Mehrzahl von säulenförmigen Stützen, die konfiguriert sind, um das erste Substrat und das zweite Substrat zu verbinden, und das erste Substrat und das zweite Substrat tragen, während das erste Substrat und das zweite Substrat in einem getrennten Zustand sind, und eine Erfassungselektrode umfasst, die auf zumindest einer Hauptoberfläche des ersten Substrats angeordnet ist, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlung erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen.
  • Ein Infraroterfassungsabschnitt wird durch die Erfassungselektrode gebildet, die auf dem ersten Substrat angeordnet ist, das aus dem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht. Das erste Substrat, das mit dem Infraroterfassungsabschnitt versehen ist, wird durch die Stützen getragen, während dasselbe von dem zweiten Substrat getrennt ist, wodurch die thermische Isolation zwischen dem Infraroterfassungsabschnitt und dem zweiten Substrat sichergestellt wird.
  • In dem Infrarotsensor kann eine Außenanschlussverbindungselektrode für die Verbindung mit einer äußeren Schaltung auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats angeordnet sein gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, und die Erfassungselektrode kann mit den Stützen und der Außenanschlussverbindungselektrode elektrisch verbunden sein. In diesem Fall kann der Infrarotsensor auf einer Schaltungsplatine befestigt sein und mit der äußeren Schaltung verbunden sein, unter Verwendung der Außenanschlussverbindungselektrode.
  • Alternativ kann eine Verbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats angeordnet sein, gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, und die Erfassungselektrode kann mit der Verbindungselektrode elektrisch verbunden sein. In diesem Fall kann der Infrarotsensor auf einer Schaltungsplatine befestigt sein, und die Verbindungselektrode kann mit einer äußeren Schaltung drahtgebondet sein.
  • Die Stützen können angeordnet sein, um zumindest entweder durch das erste Substrat oder das zweite Substrat zu verlaufen.
  • Das zweite Substrat kann ein IC-Substrat sein. In diesem Fall kann ein Signal, das durch Erfassen von Infrarotstrahlen in dem Infraroterfassungsabschnitt erhalten wird, in dem zweiten Substrat behandelt werden.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch einen Infrarotsensor, der ein erstes Substrat, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, eine Erfassungselektrode, die auf zumindest einer Hauptoberfläche des ersten Substrats angeordnet ist, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen, ein zweites Substrat, das mit dem ersten Substrat verbunden ist, um das erste Substrat zu tragen, einen Hohlraum, der in einem Abschnitt des zweiten Substrats angeordnet ist, der einem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist, und einen Durchgangsschlitz umfasst, der in dem ersten Substrat und um den Abschnitt herum, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist, angeordnet ist.
  • Das erste Substrat wird durch das zweite Substrat getragen. Der Hohlraum ist in dem Abschnitt des zweiten Substrats angeordnet, der einem Infraroterfassungsabschnitt entspricht, der mit der Erfassungselektrode versehen ist, wodurch eine thermische Isolation zwischen dem Infraroterfassungsabschnitt und dem zweiten Substrat bereitgestellt wird. Ferner ist der Durchgangsschlitz in dem ersten Substrat und um den Abschnitt herum angeordnet, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist, wodurch eine thermische Isolation zwischen dem Infraroterfassungsabschnitt und einem Abschnitt des ersten Substrats in Kontakt mit dem zweiten Substrat bereitgestellt wird.
  • In dem Infrarotsensor kann der Hohlraum angeordnet sein, um durch das zweite Substrat zu verlaufen. Alternativ kann der Hohlraum aus einer Ausnehmung gebildet sein, die in einem Abschnitt des zweiten Substrats angeordnet ist, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
  • In diesen obigen Infrarotsensoren kann ein infrarotabsorbierender Film angeordnet sein, um die Erfassungselektrode abzudecken. Die Absorption von Infrarotstrahlen durch den infrarotabsorbierenden Film führt zu einer zufriedenstellenden Ansprechempfindlichkeit.
  • Alternativ kann ein Schutzfilm angeordnet sein, um die Erfassungselektrode abzudecken, und ein infrarotabsorbierender Film kann auf einem Abschnitt des Schutzfilms angeordnet sein, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
  • Die Oberfläche des Infrarotsensors wird durch den Schutzfilm geschützt. Ferner führt die Absorption von Infrarotstrahlen durch den infrarotabsorbierenden Film zu einer zufriedenstellenden Ansprechempfindlichkeit.
  • Das erste Substrat kann aus einem Thermistormaterial oder pyroelektrischen Material gebildet sein.
  • Als das Thermistormaterial kann ein Mn3O4-basiertes Material, ein (Ba,Sr)TiO3-basiertes Material oder ein (La,Ba)MnO3-basiertes Material verwendet werden. Als das pyroelektrische Material kann ein PbTiO3-basiertes oder (Pb,Zr)TiO3-basiertes Material verwendet werden.
  • Ferner kann ein Infrarotsensorarray gebildet werden durch Anordnen einer Mehrzahl der oben beschriebenen Infrarotsensoren.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, Vorbereiten eines zweiten Substrats, Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats unter Verwendung eines Bindemittels, Reduzieren der Dicke des ersten Substrats, Bilden einer Erfassungselektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer reduzierten Dicke, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen, Bilden einer Stütze, die durch das Bindemittel verläuft, um das erste Substrat mit dem zweiten Substrat zu verbinden, und Entfernen des Bindemittels.
  • Da das erste Substrat mit dem zweiten Substrat verbunden ist, wird das erste Substrat leicht in der Dicke reduziert. Nach der Reduzierung der Dicke des ersten Substrats wird das Bindemittel entfernt. Als Folge wird das erste Substrat durch die Stütze getragen, während es von dem zweiten Substrat getrennt ist. Das heißt, das erste Substrat mit einer reduzierten Dicke wird getragen, während es von dem zweiten Substrat getrennt ist. Die Erfassungselektrode ist auf dem ersten Substrat gebildet mit einer reduzierten Dicke, um einen Infraroterfassungsabschnitt zu bilden. Dadurch ist es möglich, einen Infrarotsensor zu erzeugen, der einen Infraroterfassungsabschnitt umfasst, der von anderen Abschnitten thermisch isoliert ist und eine geringe Wärmekapazität aufweist.
  • Bei dem Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors kann der Schritt des Bildens der Stütze einen Teilschritt des Bildens eines Durchgangslochs, das durch das zweite Substrat und das Bindemittel verläuft und mit dem ersten Substrat kommuniziert, und einen Teilschritt des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, um die Stütze zu bilden, umfassen.
  • Die Stütze kann gebildet sein, um mit der Erfassungselektrode verbunden zu sein, und das Verfahren kann ferner einen Schritt des Bildens einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats umfassen, gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode mit der Stütze verbunden ist. In diesem Fall ist es möglich, einen Infrarotsensor zu schaffen, der auf einer Schaltungsplatine befestigt sein kann und mit der Außenanschlussverbindungselektrode mit einer äußeren Schaltung verbunden sein kann.
  • Alternativ kann der Schritt des Bildens der Stütze einen Teilschritt des Bildens eines Durchgangslochs, das durch das erste Substrat und das Bindemittel verläuft und mit dem zweiten Substrat kommuniziert, und einen Teilschritt des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, um die Stütze zu bilden, umfassen.
  • In diesem Fall kann das Verfahren ferner die Schritte des Bildens einer Verbindungselektrode auf der Hauptoberfläche des zweiten Substrats, die dem ersten Substrat zugewandt ist, umfassen, vor dem Verbinden des ersten Substrats mit dem zweiten Substrat, und des Verbindens der Stütze mit der Verbindungselektrode, wenn die Stütze gebildet wird, so dass die Erfassungselektrode mit der Stütze und der Verbindungselektrode verbunden ist. Es ist möglich, durch das Herstellungsverfahren einen Infrarotsensor zu schaffen, der die Verbindungselektrode auf dem zweiten Substrat umfasst, wobei die Verbindungselektrode konfiguriert ist, um durch Drahtbonden mit der äußeren Schaltung verbunden zu sein.
  • Ferner kann bei dem Herstellungsverfahren, bei dem die Stütze, die durch das erste Substrat und das Bindemittel verläuft, mit der Verbindungselektrode verbunden wird, das Verfahren ferner folgende Schritte umfassen: Bilden eines Durchgangslochs, das durch das zweite Substrat verläuft und nach dem Bilden der Stütze mit der Verbindungselektrode kommuniziert, Bilden einer Elektrode in dem Durchgangsloch, die durch das zweite Substrat verläuft, und Bilden einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode mit der Stütze verbunden ist. In diesem Fall wird die Verbindungselektrode als ein Relais zwischen der Stütze, die mit der Erfassungselektrode verbunden ist, die den Infraroterfassungsabschnitt bildet, und der Außenanschlussverbindungselektrode verwendet.
  • In dem Herstellungsverfahren, in dem die Stütze, die durch das erste Substrat und das Bindemittel verläuft, gebildet wird, kann das zweite Substrat ein IC-Substrat sein, und die Erfassungselektrode kann durch die Stütze mit einer Schaltung verbunden sein, die auf dem zweiten Substrat angeordnet ist.
  • Es ist möglich, durch das Herstellungsverfahren einen Infrarotsensor zu schaffen, der in der Lage ist, ein Signal zu behandeln, das von dem Infraroterfassungsabschnitt in einer Schaltung gesendet wird, die auf dem zweiten Substrat angeordnet ist.
  • Der Schritt des Entfernens des Bindemittels wird vorzugsweise durch isotropes Ätzen durchgeführt. Die Entfernung der Bindeschicht durch isotropes Ätzen kann teilweises Unter- und Überätzen während des Ätzens verhindern und Schäden aufgrund von Ätzen an einem anderen Abschnitt als dem Bindemittel reduzieren.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, Vorbereiten eines zweiten Substrats, Bilden einer ersten Zwischenelektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, Bilden einer zweiten Zwischenelektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats, Verbinden der ersten Zwischenelektrode mit der zweiten Zwischenelektrode, um eine Stütze zu bilden zum Stapeln des ersten Substrats und des zweiten Substrats, so dass dieselben einander zugewandt sind, Reduzieren der Dicke des ersten Substrats und Bilden einer Erfassungselektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen.
  • Die Verbindungselektroden, die auf dem ersten Substrat und dem zweiten Substrat gebildet sind, werden verbunden, um die Stütze zu bilden. Somit wird das erste Substrat durch die Stütze getragen, während es von dem zweiten Substrat getrennt ist.
  • Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors kann ferner folgende Schritte umfassen: Bilden eines Durchgangslochs in dem ersten Substrat nach dem Bilden der Erfassungselektrode, wobei das Durchgangsloch mit der Erfassungselektrode und der ersten Zwischenelektrode kommuniziert, Bilden einer Elektrode in dem Durchgangsloch, das in dem ersten Substrat angeordnet ist, um die Erfassungselektrode mit der ersten Zwischenelektrode zu verbinden, Bilden eines Durchgangslochs in dem zweiten Substrat, wobei das Durchgangsloch mit der zweiten Verbindungselektrode kommuniziert, Bilden einer Elektrode in dem Durchgangsloch, das in dem zweiten Substrat angeordnet ist, und Bilden einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, auf solch eine Weise, dass die Außenanschlussverbindungselektrode mit der Elektrode verbunden ist, die in dem Durchgangsloch in dem zweiten Substrat angeordnet ist, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode für die Verbindung mit einer äußeren Schaltung angeordnet ist.
  • Die Erfassungselektrode, die auf dem ersten Substrat gebildet ist, ist mit der Außenanschlussverbindungselektrode verbunden, die auf dem zweiten Substrat gebildet ist; somit kann der Infrarotsensor unter Verwendung der Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Schaltungsplatine befestigt werden und mit der äußeren Schaltung verbunden werden.
  • Jedes der vorhergehenden Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors kann ferner die Schritte des Bildens einer Rille in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum und des Entfernens eines Abschnitts des ersten Substrats, der außerhalb der Rille angeordnet ist, die um die Erfassungselektrode herum angeordnet ist, umfassen.
  • Da der Abschnitt des ersten Substrats, der außerhalb der Rille angeordnet ist, die um die Erfassungselektrode herum angeordnet ist, entfernt ist, ist das erste Substrat kleiner als das zweite Substrat. Dies führt zu einem großen Abstand zwischen den ersten Substrat und einem Element benachbart zu dem ersten Substrat, wenn der Infrarotsensor auf einer Schaltungsplatine oder dergleichen befestigt ist, wodurch eine zufriedenstellende thermische Isolation zwischen dem ersten Substrat, das mit dem Infraroterfassungsabschnitt versehen ist, und dem Element benachbart zu dem ersten Substrat bereitgestellt wird und Übersprechen aufgrund von Wärmeleitung verhindert wird.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, Vorbereiten eines zweiten Substrats, Bilden eines Durchgangslochs in dem zweiten Substrat, Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats mit dem Durchgangsloch, Reduzieren der Dicke des ersten Substrats, Bilden einer Erfassungselektrode auf einem Abschnitt einer Hauptoberflä che des ersten Substrats, der dem Durchgangsloch entspricht, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen, und Bilden eines Durchgangsschlitzes in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  • Nachdem das erste Substrat mit dem zweiten Substrat verbunden ist, das das Durchgangsloch aufweist und in der Dicke reduziert ist, wird der Durchgangsschlitz in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum gebildet. Somit ist ein Infraroterfassungsabschnitt, der mit der Erfassungselektrode versehen ist, auf dem dünnen ersten Substrat angeordnet, das durch den Durchgangsschlitz umgeben ist. Der Infraroterfassungsabschnitt ist durch einen Hohlraum von dem zweiten Substrat getrennt und von dem Umfang derselben durch den Durchgangsschlitz thermisch isoliert. Daher ist es möglich, einen Infrarotsensor herzustellen, der einen Infrarotsensorabschnitt umfasst, der von anderen Abschnitten thermisch isoliert ist und eine geringe Wärmekapazität aufweist.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, Vorbereiten eines zweiten Substrats, Bilden einer Ausnehmung in einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats, Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit der Hauptoberfläche des zweiten Substrats, die die Ausnehmung aufweist, Reduzieren der Dicke des ersten Substrats, Bilden einer Erfassungselektrode auf einem Abschnitt einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, der der Ausnehmung entspricht, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen, und Bilden eines Durchgangsschlitzes in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  • Der Hohlraum, der konfiguriert ist, um den Infraroterfassungsabschnitt von dem zweiten Substrat zu trennen, kann auch gebildet werden durch Bilden einer Ausnehmung in dem zweiten Substrat.
  • Die vorliegende Erfindung schafft auch ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, wobei das Verfahren folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, Vorbereiten eines zweiten Substrats, Verbinden einer ersten Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats, Reduzieren der Dicke des ersten Substrats, Bilden einer Erfassungselektrode auf einer zweiten Hauptoberfläche des ersten Substrats, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen, Bilden eines Durchgangslochs in einem Abschnitt des zweiten Substrats, der der Erfassungselektrode entspricht, um einen Hohlraum auf der ersten Hauptoberflächenseite des ersten Substrats zu bilden, und Bilden eines Durchgangslochs in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  • Das Durchgangsloch, das in dem zweiten Substrat angeordnet ist, das als der Hohlraum dient, kann gebildet werden, nachdem das erste Substrat mit dem zweiten Substrat verbunden ist.
  • Jedes der vorhergehenden Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors kann ferner einen Schritt des Bildens eines infrarotabsorbierenden Films auf solch eine Weise umfassen, dass der infrarotabsorbierende Film die Erfassungselektrode abdeckt. Alternativ kann jedes der vorhergehenden Verfahren ferner folgende Schritte umfassen: Bilden eines Schutzfilms auf solche Weise, dass der Schutzfilm die Erfassungselektrode abdeckt, und Bilden eines infrarotabsorbierenden Films auf einem Abschnitt des Schutzfilms, der einem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist. Die Bildung des Schutzfilms schützt die Oberfläche des ersten Substrats, das mit der Erfassungselektrode versehen ist. Die Bildung des infrarotabsorbierenden Films führt zu einer zufriedenstellenden Ansprechempfindlichkeit.
  • Vorteile
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung ist es möglich, einen Infrarotsensor zu erhalten, der einen Infraroterfassungsabschnitt umfasst, der von anderen Abschnitten thermisch isoliert ist und zufriedenstellende thermoelektrische Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit aufweist.
  • Es ist auch möglich, durch ein Herstellungsverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung effizient einen Infrarotsensor herzustellen, der einen Infraroterfassungsabschnitt aufweist, der von anderen Abschnitten thermisch isoliert ist.
  • Die vorhergehenden Aufgaben, andere Aufgaben, Charakteristika und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden von der nachfolgenden Beschreibung der besten Modi zum Ausführen der Erfindung mit Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen offensichtlich werden.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist eine Draufsicht eines Infrarotsensors gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 2 ist eine Querschnittsansicht, die den in 1 gezeigten Infrarotsensor darstellt.
  • 3 ist eine darstellende Ansicht einer beispielhaften Erfassungselektrode, die in dem in 1 gezeigten Infrarotsensor gebildet ist.
  • 4 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 5 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen des in 1 gezeigten Infrarotsensors.
  • 6 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer Struktur, die sich von derjenigen des in 1 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 7 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer anderen Struktur, die sich von derjenigen des in 1 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 8 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer anderen Struktur, die sich von derjenigen des in 1 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 9 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer anderen Struktur, die sich von derjenigen des in 1 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 10 ist eine darstellende Ansicht eines Infrarotsensors gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung.
  • 11 ist eine darstellende Ansicht eines beispielhaften Infrarotsensorarrays, das mit einem Abdeckungsbauglied versehen ist.
  • 12 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 13 ist eine Draufsicht des in 12 gezeigten Infrarotsensors.
  • 14 ist eine darstellende Ansicht einer Erfassungselektrode, die in dem in 12 gezeigten Infrarotsensor gebildet ist.
  • 15 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem anderen Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt.
  • 16 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen des in 12 gezeigten Infrarotsensors.
  • 17 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer Struktur, die sich von derjenigen des in 12 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 18 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors mit einer anderen Struktur, die sich von derjenigen des in 12 gezeigten Infrarotsensors unterscheidet.
  • 19 ist eine darstellende Ansicht eines Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors des Stands der Technik.
  • Beste Modi zum Ausführen der Erfindung
  • 1 ist eine Draufsicht eines Infrarotsensors gemäß einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung. 2 ist eine Querschnittsansicht, die den Infrarotsensor darstellt. Ein Infrarotsensor 10 umfasst. ein erstes Substrat 12 und ein zweites Substrat 14. Das erste Substrat 12 besteht aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial, wie z. B. einem Thermistormaterial oder einem pyroelektrischen Material, und weist eine kleine Dicke auf. Beispiele eines Thermistormaterials, das verwendet werden kann, umfassen Mn3O4-basierte Materialien, (Ba,Sr)TiO3-basierte Materialien und (La,Ba)MnO3-basierte Materialien. Beispiele eines pyroelektrischen Materials, das verwendet werden kann, umfassen PbTiO3-basierte Materialien und (Pb,Zr)TiO3-basierte Materialien. Das zweite Substrat 14 besteht bei spielsweise aus Si. In dem Fall, wo das erste Substrat 12 aus einem Thermistormaterial besteht, ist eine Erfassungselektrode 16 auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats 12 gebildet. Die Erfassungselektrode 16 wird gebildet durch ineinandergreifendes Anordnen zweier kammförmiger Elektrodensegmente 16a und 16b, wie es in der Draufsicht von 3 gezeigt ist. Die kammförmigen Elektrodensegmente 16a und 16b erstrecken sich in entgegengesetzten Richtungen und sind mit jeweiligen Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden. Die Erfassungselektrode 16 und die Anschlussleitungsabschnitte 18 bestehen beispielsweise aus Al/Ti oder Al/NiCr. Ein Infraroterfassungsabschnitt ist auf einem Abschnitt gebildet, wo die Erfassungselektrode 16 angeordnet ist. In dem Fall, wo das erste Substrat 12 aus einem pyroelektrischen Material besteht, ist die Erfassungselektrode auf solch eine Weise gebildet, dass die Elektrodensegmente auf beiden Hauptoberflächen des ersten Substrats 12 gegenüberliegend angeordnet sind.
  • Das erste Substrat 12 wird durch zwei Stützen 20 getragen, während es von dem zweiten Substrat 14 getrennt ist. Die Stützen 20 bestehen beispielsweise aus einem Elektrodenmaterial. Die Stützen 20 verlaufen durch das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 und sind mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 der Erfassungselektrode 16 verbunden. Das erste Substrat 12 ist kleiner als das zweite Substrat 14. Somit ist das erste Substrat 12 in dem zweiten Substrat 14 angeordnet, wenn es von dem ersten Substrat 12 aus gesehen wird.
  • Ein Schutzfilm 22 ist auf dem ersten Substrat 12 angeordnet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Der Schutzfilm 22 besteht aus einem isolierenden Material, wie z. B. SiO2 oder Al2O3. Ein infrarotabsorbierender Film 24 ist auf einem Abschnitt des Schutzfilms 22 angeordnet, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode 16 angeordnet ist. Der infrarotabsorbierende Film 24 besteht beispielsweise aus Au schwarz (Au black), NiCr oder TiN.
  • Außenanschlussverbindungselektroden 26 sind auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 angeordnet, gegenüber der Hauptoberfläche, die dem ersten Substrat 12 zugewandt ist. Die Außenanschlussverbindungselektroden 26 sind mit den beiden Stützen 20 verbunden. Somit sind die Außenanschlussverbindungselektroden 26 durch die Stützen 20 mit den Segmenten der Erfassungselektrode 16 verbunden. 4 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist der infrarotabsorbierende Film 24 angeordnet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Der infrarotabsorbierende Film 24 kann Infrarotstrahlen absorbieren und die Erfassungselektrode 16 schützen.
  • Der Infrarotsensor 10 ist auf einer Schaltungsplatine oder dergleichen befestigt. Die Außenanschlussverbindungselektroden 26 sind mit Anschlüssen verbunden, die auf der Schaltungsplatine angeordnet sind. Der infrarotabsorbierende Film 24 absorbiert auftreffende Infrarotstrahlen, um die Temperatur des ersten Substrats 12 zu ändern, was somit zu einer Änderung bei dem Widerstand zwischen den kammförmigen Elektrodensegmenten 16a und 16b führt. Eine Temperaturänderung kann durch die Widerstandsänderung erfasst werden. Ein Signal, das der Temperaturänderung entspricht, wird durch die Stützen 20 und die Außenanschlussverbindungselektroden 26 zu einer äußeren Schaltung übertragen.
  • 5 zeigt ein Verfahren zum Herstellen des Infrarotsensors 10. Wie es in 5(A) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 12 mit dem massiven zweiten Substrat 14 mit einem Bindemittel 30 verbunden, das aus einem Harzmaterial gebildet ist, wie z. B. einem Polyimidharz oder einem Epoxydharz. Wie es in 5(B) gezeigt ist, wird das erste Substrat 12 in der Dicke reduziert durch Polieren, wie z. B. Läppen oder Zuleitungsschleifen (in-feed grinding), um eine gewünschte Dicke (50 μm oder weniger) aufzuweisen.
  • Wie es in 5(C) gezeigt ist, sind die kammförmigen Elektrodensegmente 16a und 16b auf dem ersten Substrat 12 gebildet und bilden somit die Erfassungselektrode 16. Zu diesem Zeitpunkt werden die Anschlussleitungsabschnitte 18 gleichzeitig gebildet. 4 zeigt eine Erfassungselektrode 16. In der Tat werden große Substrate 12 und 14 verwendet. Eine Mehrzahl von Erfassungselektroden 16 ist auf einem ersten Substrat 12 gebildet. Infraroterfassungsabschnitte sind auf Abschnitten gebildet, wo die Erfassungselektroden 16 angeordnet sind. Wie es in 5(D) gezeigt ist, ist der Schutzfilm 22, der beispielsweise aus SiO2 oder Al2O3 besteht, auf dem ersten Substrat 12 gebildet, um die Erfassungselektrode 16 und die Anschlussleitungsabschnitte 18 abzudecken. Wie es in 5(E) gezeigt ist, ist der infrarotabsorbierende Film 24 auf einem Abschnitt des Schutzfilms 22 gebildet, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode 16 angeordnet ist.
  • Wie es in 5(F) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher 32 durch das zweite Substrat 14 und das Bindemittel 30 gebildet, um mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 der Erfassungselektrode 16 zu kommunizieren. Die Durchgangslöcher 32 sind gebildet durch Bestrahlen des zweiten Substrats 14 mit einem Laser von einer Seite des zweiten Substrats 14 gegenüber der Seite, die dem ersten Substrat 12 zugewandt ist, oder einem Verfahren, wie z. B. RIE (RIE = reactive ion etching = reaktives Ionenätzen) oder Sandstrahlen. Wie es in 5(G) gezeigt ist, sind Elektroden in den Durchgangslöchern 32 durch Plattieren oder dergleichen gebildet, wodurch die Stützen 20 gebildet werden. Wie es in 5(H) gezeigt ist, sind die Außenanschlussverbindungselektroden 26 auf dem zweiten Substrat 14 gebildet, um mit den Stützen 20 verbunden zu sein. Daher sind die Außenanschlussverbindungselektroden 26 durch die Stützen 20 mit den Segmenten der Erfassungselektrode 16 verbunden.
  • Wie es in 5(I) gezeigt ist, ist eine Rille 34, die durch das erste Substrat 12 und den Schutzfilm 22 verläuft, gebildet, um die Erfassungselektrode 16 zu umgeben. Wie es in 5(J) gezeigt ist, wird das Bindemittel 30 durch Ätzen oder dergleichen entfernt. Die Entfernung des Bindemittels 30 durch isotropes Ätzen kann das teilweise Unter- und Überätzen während des Ätzens verhindern, und die Schäden aufgrund des Ätzens an einem anderen Abschnitt als dem Bindemittel 30 reduzieren. Als Folge werden das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 durch die Stützen 20 getragen, während dieselben getrennt voneinander sind. Die Rille 34 ist um den Abschnitt herum angeordnet, wo die Erfassungselektrode 16 angeordnet ist; somit werden das erste Substrat 12 und der Schutzfilm 22, die zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 angeordnet sind, nach der Entfernung des Bindemittels 30 nicht getragen. Dieser Abschnitt wird entfernt, um einen Zwischenraum zwischen benachbarten Infraroterfassungsabschnitten zu bilden. Das zweite Substrat 14 wird entlang dem Zwischenraum in einzelne Infrarotsensoren 10 geschnitten.
  • Das erste Substrat 12 ist mit einem zweiten Substrat 14 verbunden, mit dem Bindemittel 30. Somit kann das massive erste Substrat 12 in der Dicke auf 50 μm oder weniger reduziert werden. Ferner sind in dem resultierenden Infrarotsensor 10 das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 verbunden, unter Verwendung nur der beiden Stützen 20, was somit zu einem kleinen Kontaktbereich zwischen dem ersten Substrat 12 und dem zweiten Substrat 14 führt. Dies führt zu einer geringen Wärmekapazität des ersten Substrats 12, ausreichender Wärmeisolation und einer Verbesserung bei der thermoelektrischen Effizienz und Ansprechempfindlichkeit. Darüber hinaus führt das erste Substrat 12, das kleiner ist als das zweite Substrat 14, zu einem großen Abstand zwischen dem Infraroterfassungsabschnitt und einem Element benachbart zu dem Infraroterfassungsabschnitt, wenn der Infrarotsensor 10 auf einer Schaltungsplatine oder dergleichen befestigt ist, wodurch Übersprechen aufgrund von Wärmeleitung verhindert wird und eine thermische Isolationsstruktur kostengünstig gebildet wird.
  • Bei diesem Herstellungsverfahren wird ein Pb-freies Harzmaterial als das Bindemittel 30 verwendet, das das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 verbindet, wodurch die Verwendung eines umweltbelastenden Materials eliminiert wird. Der Infrarotsensor 10, der durch das Herstellungsverfahren hergestellt wird, hat die Außenanschlussverbindungselektroden 26 auf der Oberfläche des zweiten Substrats 14 und kann somit auf einer Schaltungsplatine oder dergleichen oberflächenbefestigt sein, wodurch der Befestigungsbereich reduziert wird. In 5(D) kann der infrarotabsorbierende Film 24 statt dem Schutzfilm 22 gebildet werden, um den in den 5(E) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • 6 ist eine darstellende Ansicht eines weiteren Verfahrens zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß der vorliegenden Erfindung. Bei diesem Herstellungsverfahren, wie es in 6(A) gezeigt ist, sind zwei Verbindungselektroden 36 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 gebildet, um voneinander beabstandet zu sein. Wie es in 6(B) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 12 mit der Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 verbunden, das mit den Verbindungselektroden 36 versehen ist, unter Verwendung des Bindemittels 30. Wie es in 6(C) gezeigt ist, ist das erste Substrat 12 in der Dicke reduziert. Wie es in 6(D) gezeigt ist, sind die Erfassungselektrode 16 und die Anschlussleitungsabschnitte 18 auf dem ersten Substrat 12 reduzierter Dicke gebildet. An diesem Punkt sind die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 an Positionen angeordnet, die im Wesentlichen den Verbindungselektroden 36 entsprechen.
  • Wie es in 6(E) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den Verbindungselektroden 36 kommunizieren, durch das erste Substrat 12 und das Bindemittel 30 gebildet. Elektroden sind durch Plattieren darin gebildet, um Stützen 38 zu bilden. In diesem Fall sind die Anschlussleitungsabschnitte 18 an Positionen angeordnet, die im Wesentlichen den Ver bindungselektroden 36 entsprechen; somit sind die Durchgangslöcher, die mit den Verbindungselektroden 36 kommunizieren, gebildet, um die Anschlussleitungsabschnitte 18 teilweise zu entfernen. Durch Bilden der Elektroden in den Durchgangslöchern sind die Stützen 38 mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden, so dass die Segmente der Erfassungselektrode 16 mit den Verbindungselektroden 36 elektrisch verbunden sind. Alternativ können Durchgangslöcher in Peripherien der Anschlussleitungsabschnitte 18 gebildet sein. Wenn in diesem Fall Elektroden in den Durchgangslöchern gebildet sind, können die Elektroden in den Durchgangslöchern mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden sein.
  • Nach der Bildung der Stützen 38, wie es in 6(F) gezeigt ist, wird der Schutzfilm 22 auf dem ersten Substrat 12 gebildet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Wie es in 6(G) gezeigt ist, ist der infrarotabsorbierende Film 24 auf einem Abschnitt des Schutzfilms 22 gebildet, der der Erfassungselektrode 16 entspricht. Wie es in 6(H) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den Verbindungselektroden 36 kommunizieren, durch das zweite Substrat 14 gebildet. Elektroden 40 sind durch Plattieren oder dergleichen in den Durchgangslöchern gebildet. Wie es in 6(I) gezeigt ist, sind die Außenanschlussverbindungselektroden 26 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 gebildet, um mit den Elektroden 40 verbunden zu sein. In 6(F) ist der infrarotabsorbierende. Film 24 statt dem Schutzfilm 22 gebildet, um den in 6(G) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Wie es in 6(J) gezeigt ist, ist die Rille 34, die durch den Schutzfilm 22 und das erste Substrat 12 verläuft, gebildet, um die Erfassungselektrode 16 zu umgeben. Wie es in 6(K) gezeigt ist, wird das Bindemittel 30 entfernt durch Ätzen oder dergleichen, um das erste Substrat 12 von dem zweiten Substrat 14 zu trennen, so dass das erste Substrat 12 durch die Stützen 38 getragen wird. Abschnitte des Schutzfilms 22 und des ersten Substrats 12, die außerhalb der Rille 34 und zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 angeordnet sind, werden entfernt. Dann wird das zweite Substrat an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 in einzelne Infrarotsensoren 10A geschnitten. In jedem der Infrarotsensoren 10A werden die Stützen 38 aus dem ersten Substrat 12 gebildet, und das erste Substrat 12 wird durch die Stützen 38 getragen, während es von dem zweiten Substrat 14 getrennt ist.
  • Wie es in 7 gezeigt ist, kann der Infrarotsensor 10 ohne die Verwendung eines Bindemittels gebildet werden. In diesem Fall, wie es in 7(A) gezeigt ist, sind erste Verbindungselektroden 42 auf dem massiven ersten Substrat 12 gebildet. Zweite Verbindungselektroden 44 sind auf dem zweiten Substrat 14 gebildet. Die ersten Zwischenelektroden 42 und entsprechende der zweiten Verbindungselektroden 44 sind an entsprechenden Positionen angeordnet, wenn das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 überlagert sind, so dass Hauptoberflächen derselben einander zugewandt sind. Die ersten Verbindungselektroden 42 und die zweiten Verbindungselektroden 44 sind aus Materialien wie z. B. Ga, In, Sn, Cu, Au und Ni gebildet. Alternativ sind die ersten und zweiten Verbindungselektroden 42 und 44 aus Laminaten gebildet, die aus den Materialien bestehen. Vorzugsweise sind die ersten Zwischenelektroden 42 und die zweiten Verbindungselektrode 44 auf solche Weise gebildet, dass ein erstes Metall, das aus zumindest einem bestehen, das aus Ga, In und Sn ausgewählt ist, und ein zweites Metall, das aus zumindest einem besteht, das aus Ni, Au und Cu ausgewählt ist, in Kontakt miteinander gebracht werden, wenn die ersten Zwischenelektroden 42 und die zweiten Zwischenelektroden 44 verbunden werden.
  • Wie es in 7(B) gezeigt ist, sind das erste Substrat 12 und das zweite Substrat 14 überlagert, und die ersten Verbindungselektroden 42 und die zweiten Verbindungselektroden 44 sind verbunden. Die ersten Verbindungselektroden 42 und die zweiten Verbindungselektroden 44 sind beispielsweise durch Erwärmen verbunden, während diese Verbindungselektroden 42 und 44 gegeneinander gedrückt werden. Die Erwärmung führt zu der Bildung einer Legierungsschicht, die aus dem ersten Metall und dem zweiten Metall besteht, an der Schnittstelle zwischen den ersten Verbindungselektroden 42 und den zweiten Verbindungselektroden 44. Die Legierungsschicht verbindet die Verbindungselektroden 42 und 44. Die ersten Verbindungselektroden 42 sind mit den zweiten Verbindungselektroden 44 verbunden, um Stützen 46 zu bilden, die das erste Substrat 12 tragen, während das erste Substrat 12 von dem zweiten Substrat 14 getrennt ist.
  • Wie es in 7(C) gezeigt ist, ist das erste Substrat 12 in der Dicke reduziert. Wie es in 7(D) gezeigt ist, ist die Erfassungselektrode 16 auf dem ersten Substrat 12 gebildet. Die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 sind an Positionen gebildet, die im Wesentlichen den Stützen 46 entsprechen. Wie es in 7(E) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den Stützen 46 kommunizieren, durch das erste Substrat 12 gebildet. Elektroden 48 sind durch Plattieren oder dergleichen in den Durchgangslöchern gebildet. Die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 sind elektrisch verbunden mit den Stützen 46, durch die Elektroden 48. Alternativ können Durchgangslöcher in Peripherien der Anschlussleitungsabschnitte 18 gebildet werden. Wenn Elektroden in den Durchgangslöchern gebildet sind, können in diesem Fall die Elektroden in den Durchgangslöchern mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden sein.
  • Wie es in 7(F) gezeigt ist, ist der Schutzfilm 22 auf dem ersten Substrat 12 gebildet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Wie es in 7(G) gezeigt ist, ist der infrarotabsorbierende Film 24 auf dem Schutzfilm 22 gebildet. Wie es in 7(H) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den Stützen 46 kommunizieren, durch das zweite Substrat 14 gebildet. Elektroden 50 sind durch Plattieren oder dergleichen in den Durchgangslöchern gebildet. Wie es in 7(I) gezeigt ist, sind die Außenanschlussverbindungselektroden 26 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 gebildet, um mit den Elektroden 50 verbunden zu sein. In 7(F) kann der infrarotabsorbierende Film 24 statt dem Schutzfilm 22 gebildet werden, um den in 7(G) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Wie es in 7(J) gezeigt ist, ist die Rille 34, die durch den Schutzfilm 22 und das erste Substrat 12 verläuft, gebildet, um die Erfassungselektrode 16 zu umgeben. Abschnitte des Schutzfilms 22 und des ersten Substrats 12, die außerhalb der Rille 34 und zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 angeordnet sind, werden entfernt. Dann wird das zweite Substrat 14 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 in einzelne Infrarotsensoren 108 geschnitten. Die Verwendung des Verfahrens zum Herstellen der Infrarotsensoren 10B führt zu der Eliminierung des Schritts des Entfernens einer Bindeschicht.
  • Wie es in 8 gezeigt ist, kann der Infrarotsensor 10, der Elektroden für Drahtbonden aufweist, ebenfalls hergestellt werden. In diesem Fall, wie es in 8(A) gezeigt ist, werden Verbindungselektroden 52 an Positionen getrennt voneinander auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 14 gebildet. Die Verbindungselektroden 52 sind an den Positionen angeordnet, die Anschlussleitungsabschnitten einer Erfassungselektrode entsprechen, die auf dem ersten Substrat 12 zu bilden sind, und erstrecken sich in entgegengesetzten Richtungen. Das heißt, obwohl 8(A) zwei Verbindungselektroden zeigt, die an jedem Ende des zweiten Substrats 14 angeordnet sind, sind die beiden Verbindungselektroden, die an jedem Ende angeordnet sind, auf dem zweiten Substrat 14 geleitet und miteinander verbunden.
  • Wie es in 8(B) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 12 mit dem zweiten Substrat 14 verbunden, mit dem Bindemittel 30 dazwischen vorgesehen, um die Verbindungs elektroden 52 abzudecken. Wie es in 8(C) gezeigt ist, ist das erste Substrat 12 in der Dicke reduziert. Wie es in 8(D) gezeigt ist, sind die Erfassungselektrode 16 und die Anschlussleitungsabschnitte 18 auf dem ersten Substrat 12 mit einer reduzierten Dicke gebildet. In diesem Fall sind die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 an Positionen angeordnet, die im Wesentlichen inneren Teilen der Verbindungselektroden 52 entsprechen, die entfernt voneinander angeordnet sind.
  • Wie es in 8(E) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den inneren Teilen der Verbindungselektroden 52 kommunizieren, durch das erste Substrat 12 und das Bindemittel 30 gebildet. Elektroden sind in den Durchgangslöchern gebildet, um Stützen 54 zu bilden. In diesem Fall sind die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 an den Positionen angeordnet, die im Wesentlichen den inneren Teilen der Verbindungselektroden 52 entsprechen; somit ist die Erfassungselektrode 16 durch die Stützen 54 elektrisch verbunden mit den Zwischenelektroden 52. Alternativ können Durchgangslöcher in Peripherien der Anschlussleitungsabschnitte 18 gebildet sein. In diesem Fall, wenn Elektroden in den Durchgangslöchern gebildet sind, können die Elektroden mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden sein.
  • Wie es in 8(F) gezeigt ist, wird der Schutzfilm 22 auf dem ersten Substrat 12 gebildet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Wie es in 8(G) gezeigt ist, ist der infrarotabsorbierende Film 24 auf dem Schutzfilm 22 gebildet. Wie es in 8(H) gezeigt ist, ist eine Rille, die durch den Schutzfilm 22 und das erste Substrat 12 verläuft, gebildet, um die Erfassungselektrode 16 zu umgeben. Abschnitte des Schutzfilms 22 und des ersten Substrats 12, die außerhalb der Rille angeordnet sind, und zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16, werden entfernt. Wie es in 8(I) gezeigt ist, wird das Bindemittel 30 durch Ätzen oder dergleichen entfernt. Somit sind äußere Teile der Verbindungselektroden 52 auf dem zweiten Substrat 14 freigelegt. Alternativ kann in 8(F) der infrarotabsorbierende Film 24 statt dem Schutzfilm 22 gebildet sein, um den in 8(G) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Außerdem wird bei diesem Herstellungsverfahren das zweite Substrat 14 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 in einzelne Infrarotsensoren 10C geschnitten. Abschnitte des Schutzfilms 22 und des ersten Substrats 12, die außerhalb der Rille angeordnet sind, wurden entfernt; somit ist das erste Substrat 12 kleiner als das zweite Substrat 14. Als Ergebnis sind die äußeren Teile der Verbindungselektroden 52 freigelegt, wenn sie von außen betrachtet werden. Somit können die äußeren Teile der Verbindungselektroden 52 als Elektroden für Drahtbonden verwendet werden. Anders ausgedrückt, nachdem der Infrarotsensor 10C auf einer Schaltungsplatine befestigt ist, können die äußeren Teile der Verbindungselektroden 52 durch Drahtbonden mit Anschlüssen auf der Schaltungsplatine verbunden werden.
  • Wie es in 9 gezeigt ist, kann ein IC-Substrat als zweites Substrat 14 verwendet werden. In diesem Fall, wie es in 9(A) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 12 mit dem zweiten Substrat 14 verbunden, das als das IC-Substrat dient, unter Verwendung des Bindemittels 30. Wie es in 9(B) gezeigt ist, ist das erste Substrat 12 in der Dicke reduziert. Wie es in 9(C) gezeigt ist, sind die Erfassungselektrode 16 und die Anschlussleitungsabschnitte 18 auf dem ersten Substrat 12 gebildet. Die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 sind an Positionen angeordnet, die im Wesentlichen äußeren Anschlüssen (nicht gezeigt) des IC-Substrats entsprechen, das als das zweite Substrat 14 dient.
  • Wie es in 9(D) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher, die mit den äußeren Anschlüssen auf dem zweiten Substrat 14 kommunizieren, durch das erste Substrat 12 und das Binde mittel 30 gebildet. Elektroden sind durch Plattieren oder dergleichen in den Durchgangslöchern gebildet, um Stützen 56 zu bilden. Die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 sind an den Positionen angeordnet, die im Wesentlichen den äußeren Anschlüssen auf dem zweiten Substrat 14 entsprechen; somit sind die Anschlussleitungsabschnitte 18 der Erfassungselektrode 16 durch die Stützen 56 mit den äußeren Anschlüssen auf dem zweiten Substrat 14 elektrisch verbunden. Alternativ können Durchgangslöcher Peripherien in den Anschlussleitungsabschnitten 18 sein. Wenn Elektroden in den Durchgangslöchern gebildet sind, können in diesem Fall die Elektroden in den Durchgangslöchern mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden sein.
  • Wie es in 9(E) gezeigt ist, ist der Schutzfilm 22 auf dem ersten Substrat 12 gebildet, um die Erfassungselektrode 16 abzudecken. Wie es in 9(F) gezeigt ist, ist der infrarotabsorbierende Film 24 auf dem Schutzfilm 22 gebildet. Wie es in 9(G) gezeigt ist, ist die Rille 34, die durch den Schutzfilm 22 und das erste Substrat 12 verläuft, gebildet, um die Erfassungselektrode 16 zu umgeben. Wie es in 9(H) gezeigt ist, wird das Bindemittel 30 durch Ätzen oder dergleichen entfernt, so dass das erste Substrat 12 durch die Stützen 56 getragen wird, während dasselbe von dem zweiten Substrat 14 getrennt ist. Abschnitte des Schutzfilms 22 und des ersten Substrats 12, die außerhalb der Rille 34 und zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 angeordnet sind, werden entfernt. Das zweite Substrat 14 wird an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 in einzelne Infrarotsensoren 10D geschnitten. Alternativ kann in 9(E) der infrarotabsorbierende Film 24 statt dem Schutzfilm 22 gebildet werden, um den in 9(F) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • In jedem der Infrarotsensoren 10D sind Segmente der Erfassungselektrode 16 durch die Stützen 56 mit dem IC-Substrat verbunden, das als das zweite Substrat 14 dient; somit kann ein Signal, das von dem Infraroterfassungsabschnitt gesendet wird, in dem zweiten Substrat 14 verarbeitet werden.
  • Bei diesen Herstellungsverfahren wird das zweite Substrat 14 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 16 in einzelne Infrarotsensoren 10 geschnitten. Alternativ, wie es in 10 gezeigt ist, kann das zweite Substrat 14, auf dem eine Mehrzahl von Infraroterfassungsabschnitten befestigt ist, in ein Infrarotsensorarray 60 ausgeschnitten werden. In dem Infrarotsensorarray 60 ist das erste Substrat 12 nur durch die Stützen mit dem zweiten Substrat 14 verbunden, und das erste Substrat 12 ist von dem zweiten Substrat 14 in dem anderen Abschnitt getrennt. Ferner sind benachbarte erste Substrate 12 entfernt voneinander angeordnet. Dies führt zu einem zufriedenstellenden thermischen Isolationseffekt zwischen benachbarten Infraroterfassungsabschnitten und verhindert somit Übersprechen aufgrund von Wärme.
  • Wie es in 11 gezeigt ist, kann das Infrarotsensorarray 60 ein Abdeckungsbauglied 62 umfassen, das konfiguriert ist, um das erste Substrat 12 abzudecken. In diesem Fall ist das Abdeckungsbauglied 62 unter Verwendung eines Bindemittels 64 mit dem zweiten Substrat 14 verbunden. Das Abdeckungsbauglied 62 wird durch ein infrarottransparentes Substrat gebildet, auf solche Weise, dass Infrarotstrahlen, die von der Außenseite auftreffen, Infraroterfassungsabschnitte erreichen. Ferner können konvexe Abschnitte auf dem Abdeckungsbauglied 62 an Positionen gebildet werden, die Infraroterfassungsabschnitten entsprechen, und Kondensorlinsen 66, die konfiguriert sind, um Infrarotstrahlen zu kondensieren, können an den konvexen Abschnitten gebildet sein.
  • 12 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt. 13 ist eine Draufsicht des Infrarotsensors. Ein Infrarotsensor 70 umfasst ein dünnes erstes Substrat 72, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht, und ein zweites Substrat 74, das aus Si oder dergleichen besteht. Das erste Substrat 72 und das zweite Substrat 74 sind unter Verwendung eines Bindemittels 76 verbunden, das aus einem Harzmaterial, wie z. B. einem Polyimidharz oder einem Epoxydharz, besteht. Eine Erfassungselektrode 78 ist auf dem ersten Substrat 72 gebildet. Wie es in 14 gezeigt ist, ist die Erfassungselektrode 78 durch ineinandergreifendes Anordnen von zwei kammförmigen Elektrodensegmenten 78a und 78b gebildet. Die kammförmigen Elektrodensegmente 78a und 78b erstrecken sich in entgegengesetzten Richtungen auf dem ersten Substrat 72 und sind mit jeweiligen Anschlussleitungsabschnitten 80 verbunden. Ein Infraroterfassungsabschnitt ist auf einem Abschnitt gebildet, wo die kammförmigen Elektrodensegmente 78a und 78b gebildet sind. Die Erfassungselektrode 78 und die Anschlussleitungsabschnitte 80 bestehen beispielsweise aus Al/Ti, Al/NiCr.
  • Ein Schutzfilm 82, der aus einem isolierenden Material besteht, wie z. B. SiO2 oder Al2O3, ist auf dem ersten Substrat 72 gebildet, um den Abschnitt abzudecken, wo die Erfassungselektrode 78 angeordnet ist. Ein infrarotabsorbierender Film 84 ist auf einem Abschnitt des Schutzfilms 82 gebildet, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode 78 angeordnet ist. Der infrarotabsorbierende Film 84 besteht beispielsweise aus Au schwarz, NiCr oder TiN. Ein Durchgangsloch ist in einem Abschnitt des zweiten Substrats 74 gebildet, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist, und bildet dadurch einen Hohlraum 86. Durchgangsschlitze 88 sind in dem ersten Substrat 72 und um den Abschnitt herum gebildet, wo die Erfassungselektrode 78 angeordnet ist. Die Durchgangsschlitze 88 sind gebildet, um den Abschnitt zu umgeben, wo die Erfassungselektrode 78 angeordnet ist, außer Verbindungsabschnitten zwischen der Erfassungselektrode 78 und den Anschlussleitungsabschnitten 80. 15 ist eine Querschnittsansicht, die einen Infrarotsensor gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung darstellt. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist ein infrarotabsorbierender Film 84 gebildet, um die Erfassungselektrode 78 abzudecken. Auf diese Weise kann der infrarotabsorbierende Film 84 Infrarotstrahlen absorbieren und die Erfassungselektrode 78 schützen.
  • In dem Infrarotsensor 70 ist ein Teil des zweiten Substrats 74, der dem Infraroterfassungsabschnitt entspricht, der die Erfassungselektrode 78 umfasst, eliminiert, um den Hohlraum 86 zu bilden. An Abschnitten, wo die Anschlussleitungsabschnitte 80 angeordnet sind, sind das erste Substrat 72 und das zweite Substrat 74 verbunden. Der Durchgangsschlitz 88 ist jedoch um den Infraroterfassungsabschnitt herum gebildet. Somit ist der Infraroterfassungsabschnitt thermisch isoliert von einem Abschnitt des ersten Substrats 72, der mit dem zweiten Substrat 74 verbunden ist, außer den Verbindungsabschnitten zwischen der Erfassungselektrode 78 und den Anschlussleitungsabschnitten 80. Somit hat der Infraroterfassungsabschnitt eine geringe Wärmekapazität und ist thermisch isoliert von anderen Abschnitten, so dass der Infrarotsensor eine hervorragende thermoelektrische Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit aufweist. In dem Fall, wo ein Infrarotsensorarray mit einer Mehrzahl der Infraroterfassungsabschnitte, die zufriedenstellende thermische Isolation aufweisen, hergestellt wird, hat das Infrarotsensorarray außerdem einen niedrigen Nebensprechpegel aufgrund nur eines geringen Einflusses der Wärme auf benachbarte Infraroterfassungsabschnitte.
  • Um den Infrarotsensor 70 herzustellen, wie es in 16(A) gezeigt ist, werden eine Mehrzahl von Durchgangslöchern 90, die die Hohlräume 86 werden sollen, durch Nassätzen, RIE, Sandstrahlen oder mit einem Laser oder dergleichen in dem zweiten Substrat 74 gebildet. Wie es in 16(B) gezeigt ist, ist das Bindemittel 76 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 74 gebildet, das die Durchgangslöcher 90 aufweist. Wie es in 16(C) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 72 mit dem Bindemittel 76 verbunden. Durch Verbinden des ersten Substrats 72 mit dem Bindemittel 76 werden Abschnitte, wo die Durchgangslöcher 90 gebildet sind, in die Hohlräume 86 umgewandelt. Wie es in 16(D) gezeigt ist, ist das erste Substrat 72 durch Polieren, wie z. B. Läppen, in der Dicke reduziert.
  • Wie es in 16(E) gezeigt ist, sind die Erfassungselektroden 78 und die Anschlussleitungsabschnitte 80 auf dem ersten Substrat 72 gebildet. An diesem Punkt sind die Erfassungselektroden 78 an Abschnitten gebildet, die den Hohlräumen 86 entsprechen, die in dem zweiten Substrat 74 gebildet sind. Wie es in 16(F) gezeigt ist, sind Durchgangsschlitze 88 in dem ersten Substrat 72 und um jede Erfassungselektrode 78 herum mit einem Laser oder dergleichen gebildet, außer Abschnitten, die sich zu den Anschlussleitungsabschnitten 80 erstrecken.
  • Wie es in 16(G) gezeigt ist, sind die Schutzfilme 82 auf dem ersten Substrat 72 gebildet, um die Erfassungselektroden 78 abzudecken. Wie es in 16(H) gezeigt ist, sind die infrarotabsorbierenden Filme 84 auf den Schutzfilmen 82 gebildet. Wie es in 16(I) gezeigt ist, wird das zweite Substrat 74 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 78 durch Vereinzeln oder mit einem Laser usw., in einzelne Infrarotsensoren 70 geschnitten. In 16(G) können die infrarotabsorbierenden Filme 84 statt den Schutzfilmen 82 gebildet werden, um den in 16(H) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Die in 12, 13 und 15 gezeigten Infrarotsensoren 70 können ohne weiteres durch das Herstellungsverfahren hergestellt werden.
  • Wie es in 17 gezeigt ist, können Ausnehmungen, die in dem zweiten Substrat 74 gebildet sind, als die Hohlräume 86 verwendet werden. In diesem Fall, wie es in 17(A) gezeigt ist, sind eine Mehrzahl von Ausnehmungen 92 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 74 gebildet. Wie es in 17(B) gezeigt ist, ist das Bindemittel 76 auf der Seite des zweiten Substrats 74 benachbart zu den Ausnehmungen 92 gebildet. Wie es in 17(C) gezeigt ist, ist das massive erste Substrat 72 mit dem Bindemittel 76 verbunden. Wie es in 17(D) gezeigt ist, ist das erste Substrat 72 in der Dicke reduziert. Durch Verbinden des ersten Substrats 72 mit dem zweiten Substrat 74 werden die Ausnehmungen 92 zu den Hohlräumen 86 gebildet.
  • Wie es in 17(E) gezeigt ist, sind die Erfassungselektroden 78 und Anschlussleitungsabschnitte 80 auf dem ersten Substrat 72 gebildet. In diesem Punkt sind die Erfassungselektroden 78 an Abschnitten angeordnet, die den in dem zweiten Substrat 74 gebildeten Hohlräumen 86 entsprechen. Wie es in 17(F) gezeigt ist, sind die Durchgangsschlitze 88 in dem ersten Substrat 72 und um jede Erfassungselektrode 78 herum gebildet, außer den Abschnitten, die sich zu den Anschlussleitungsabschnitten 80 erstrecken.
  • Wie es in 17(G) gezeigt ist, sind die Schutzfilme 82 auf dem ersten Substrat 72 gebildet, um die Erfassungselektroden 78 abzudecken. Wie es in 17(H) gezeigt ist, sind die infrarotabsorbierenden Filme 84 auf den Schutzfilmen 82 gebildet. Wie es in 17(I) gezeigt ist, ist das zweite Substrat 74 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 78 in einzelne Infrarotsensoren 70A geschnitten. In 17(G) können die infrarotabsorbierenden Filme 84 statt den Schutzfilmen 82 gebildet werden, um den in 17(H) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Auf diese Weise ist es auch in dem Fall, wo die Hohlräume 86 durch Bilden der Ausnehmungen 92 in dem zweiten Substrat 74 gebildet sind, möglich, eine zufriedenstellende thermische Isolation zwischen benachbarten Infraroterfassungsabschnitten zu liefern.
  • Wie es in 18 gezeigt ist, können die Hohlräume 86 gebildet werden, nachdem das erste Substrat 72 mit dem zweiten Substrat 74 verbunden ist. In diesem Fall, wie es in 18(A) gezeigt ist, ist das Bindemittel 76 auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats 74 gebildet. Wie es in 18(B) gezeigt ist, ist das erste Substrat 72 mit dem Bindemittel 76 verbunden. Wie es in 18(C) gezeigt ist, ist das erste Substrat 72 in der Dicke reduziert.
  • Wie es in 18(D) gezeigt ist, sind die Mehrzahl von Erfassungselektroden 78 und die Anschlussleitungsabschnitte 80 auf dem ersten Substrat 72 gebildet. Wie es in 18(E) gezeigt ist, sind die Schutzfilme 82 auf dem ersten Substrat 72 gebildet, um Abschnitte abzudecken, wo die Erfassungselektroden 78 angeordnet sind. Wie es in 18(F) gezeigt ist, sind die infrarotabsorbierenden Filme 84 auf den Schutzfilmen 82 gebildet. In 18(E) können die infrarotabsorbierenden Filme 84 statt den Schutzfilmen 82 gebildet werden, um den in 18(F) gezeigten Schritt zu eliminieren.
  • Wie es in 18(G) gezeigt ist, sind Durchgangslöcher in Abschnitten des zweiten Substrats 74 gebildet, die den Abschnitten entsprechen, wo die Erfassungselektroden 78 angeordnet sind, wodurch die Hohlräume 86 gebildet werden. Die Durchgangslöcher sind beispielsweise gebildet durch Nassätzen, RIE oder Sandstrahlen oder mit einem Laser, usw. Wie es in 18(H) gezeigt ist, sind die Durchgangsschlitze 88 in dem ersten Substrat 72 und um die Erfassungselektroden 78 herum gebildet, außer Abschnitten, die sich zu den Anschlussleitungsabschnitten 80 und den Erfassungselektroden 78 erstrecken. Wie es in 18(I) gezeigt ist, wird das zweite Substrat 74 an Positionen zwischen benachbarten Erfassungselektroden 78 in einzelne Infrarotsensoren 70B geschnitten.
  • Auf diese Weise können die Hohlräume 86 gebildet werden, bevor das erste Substrat 72 mit dem zweiten Substrat 74 verbunden wird, oder nachdem das erste Substrat 72 mit dem zweiten Substrat 74 verbunden wird.
  • Gemäß diesen Herstellungsverfahren ist es möglich, einen Infrarotsensor herzustellen, der eine zufriedenstellende thermische Isolation eines Infraroterfassungsabschnitts, eine zufriedenstellende thermoelektrische Umwandlungseffizienz und gute Ansprechempfindlichkeit aufweist.
  • Zusammenfassung
  • Ein Infrarotsensor, der eine verbesserte thermische Isolation in einem Infraroterfassungsabschnitt, eine zufriedenstellende thermoelektrische Umwandlungseffizienz und Ansprechempfindlichkeit aufweist, und ein Verfahren zum Herstellen des Infrarotsensors werden geschaffen.
  • Der Infrarotsensor 10 umfasst ein erstes Substrat 12, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial gebildet ist, und ein zweites Substrat 14. Das erste Substrat 12 wird durch Stützen 20 getragen, die aus einem Elektrodenmaterial bestehen, während dasselbe von dem zweiten Substrat 14 getrennt ist. Eine Erfassungselektrode 16 und Anschlussleitungsabschnitte 18, die damit verbunden sind, sind auf dem ersten Substrat 12 gebildet. Diese sind mit einem infrarotabsorbierenden Film 24 abgedeckt. Die Stützen 20 sind mit den Anschlussleitungsabschnitten 18 verbunden, und Außenanschlussverbindungselektroden 26 sind auf den Stützen 20 gebildet und mit denselben verbunden.
  • 10, 10A, 10B, 10C, 10D, 70, 70A, 70B
    Infrarotsensor
    12, 72
    erstes Substrat
    14, 74
    zweites Substrat
    16, 8
    Erfassungselektrode
    18, 80
    Anschlussleitungsabschnitt
    20, 38, 46, 54, 56
    Stütze
    22, 82
    Schutzfilm
    24, 84
    infrarotabsorbierender Film
    26
    Außenanschlussverbindungselektrode
    30, 76
    Bindemittel
    32
    Durchgangsloch
    60
    Infrarotsensorarray
    86
    Hohlraum
    88
    Durchgangsschlitz
    90
    Durchgangsloch
    92
    Ausnehmung
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - JP 6-194226 [0003]

Claims (33)

  1. Ein Infrarotsensor, der folgende Merkmale umfasst: ein erstes Substrat, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; ein zweites Substrat, das entfernt von dem ersten Substrat auf solch eine Weise angeordnet ist, dass eine Hauptoberfläche des zweiten Substrats einer Hauptoberfläche des ersten Substrats zugewandt ist; eine Mehrzahl von säulenförmigen Stützen, die konfiguriert sind, um das erste Substrat und das zweite Substrat zu verbinden, und das erste Substrat und das zweite Substrat zu tragen, während das erste Substrat und das zweite Substrat in einem getrenntem Zustand sind; und eine Erfassungselektrode, die auf zumindest einer Hauptoberfläche des ersten Substrats angeordnet ist, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen.
  2. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 1, bei dem eine Außenanschlussverbindungselektrode für eine Verbindung mit einer äußeren Schaltung auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats angeordnet ist, gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, und die Erfassungselektrode mit den Stützen und der Außenanschlussverbindungselektrode elektrisch verbunden ist.
  3. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 1, bei dem eine Verbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats angeordnet ist, gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, und die Erfassungselektrode mit der Verbindungselektrode elektrisch verbunden ist.
  4. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die Stützen angeordnet sind, um durch zumindest entweder das erste Substrat oder das zweite Substrat zu verlaufen.
  5. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem das zweite Substrat ein IC-Substrat ist.
  6. Ein Infrarotsensor, der folgende Merkmale umfasst: ein erstes Substrat, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; eine Erfassungselektrode, die auf zumindest einer Hauptoberfläche des ersten Substrats angeordnet ist, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat treffen; ein zweites Substrat, das mit dem ersten Substrat verbunden ist, um das erste Substrat zu tragen; einen Hohlraum, der in einem Abschnitt des zweiten Substrats angeordnet ist, der einem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist; und einen Durchgangsschlitz, der in dem ersten Substrat und um den Abschnitt herum angeordnet ist, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
  7. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 6, bei dem der Hohlraum angeordnet ist, um durch das zweite Substrat zu verlaufen.
  8. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 6, bei dem der Hohlraum aus einer Ausnehmung gebildet ist, die in einem Abschnitt des zweiten Substrats angeordnet ist, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
  9. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, der ferner einen infrarotabsorbierenden Film umfasst, der angeordnet ist, um die Erfassungselektrode abzudecken.
  10. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, der ferner einen Schutzfilm, der angeordnet ist, um die Erfassungselektrode abzudecken, und einen infrarotabsorbierenden Film umfasst, der auf einem Abschnitt des Schutzfilms angeordnet ist, der dem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
  11. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei dem das erste Substrat aus einem Thermistormaterial besteht.
  12. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 11, bei dem das Thermistormaterial ein Mn3O4-basiertes Material ist.
  13. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 11, bei dem das Thermistormaterial ein (Ba,Sr)TiO3-basiertes Material ist.
  14. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 11, bei dem das Thermistormaterial ein (La,Ba)MnO3-basiertes Material ist.
  15. Der Infrarotsensor gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei dem das erste Substrat aus einem pyroelektrischen Material besteht.
  16. Der Infrarotsensor gemäß Anspruch 15, bei dem das pyroelektrische Material ein PbTiO3-basiertes Material oder ein (Pb,Zr)TiO3-basiertes Material ist.
  17. Ein Infrarotsensorarray, das eine Mehrzahl der Infrarotsensoren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 16 umfasst.
  18. Ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, das folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; Vorbereiten eines zweiten Substrats; Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats unter Verwendung eines Bindemittels; Reduzieren der Dicke des ersten Substrats; Bilden einer Erfassungselektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer reduzierten Dicke, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen; Bilden einer Stütze, die durch das Bindemittel verläuft, um das erste Substrat mit dem zweiten Substrat zu verbinden; und Entfernen des Bindemittels.
  19. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 18, bei dem der Schritt des Bildens der Stütze einen Teilschritt des Bildens eines Durchgangslochs, das durch das zweite Substrat und das Bindemit tel verläuft und mit dem ersten Substrat kommuniziert, und einen Teilschritt des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, um die Stütze zu bilden, umfasst.
  20. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 19, bei dem die Stütze gebildet ist, um mit der Erfassungselektrode verbunden zu sein, und das Verfahren ferner einen Schritt des Bildens einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats umfasst, gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode mit der Stütze verbunden ist und für eine Verbindung mit einer äußeren Schaltung angeordnet ist.
  21. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 18, bei dem der Schritt des Bildens der Stütze einen Teilschritt des Bildens eines Durchgangslochs, das durch das erste Substrat und das Bindemittel verläuft und mit dem zweiten Substrat kommuniziert, und einen Teilschritt des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, um die Stütze zu bilden, umfasst.
  22. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 21, das ferner die Schritte des Bildens einer Verbindungselektrode auf der Hauptoberfläche des zweiten Substrats, die dem ersten Substrat zugewandt ist, vor dem Verbinden des ersten Substrats mit dem zweiten Substrat, und des Verbindens der Stütze mit der Verbindungselektrode umfasst, wenn die Stütze gebildet wird, so dass die Erfassungselektrode mit der Stütze und der Verbindungselektrode verbunden ist.
  23. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 22, das ferner die Schritte des Bildens eines Durchgangslochs, das durch das zweite Substrat verläuft und nach dem Bilden der Stütze mit der Ver bindungselektrode kommuniziert, des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, das durch das zweite Substrat verläuft, und des Bildens einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, umfasst, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode angeordnet ist für eine Verbindung mit einer äußeren Schaltung, die mit der Elektrode verbunden werden soll, die durch das zweite Substrat verläuft.
  24. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 21, bei dem das zweite Substrat ein IC-Substrat ist und die Erfassungselektrode durch die Stütze mit einer Schaltung verbunden ist, die auf dem zweiten Substrat angeordnet ist.
  25. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß einem der Ansprüche 18 bis 24, bei dem der Schritt des Entfernens des Bindemittels durch isotropes Ätzen durchgeführt wird.
  26. Ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, das folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; Vorbereiten eines zweiten Substrats; Bilden einer ersten Verbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats; Bilden einer zweiten Verbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats; Verbinden der ersten Verbindungselektrode mit der zweiten Verbindungselektrode, um eine Stütze zu bilden zum Stapeln des ersten Substrats und des zweiten Substrats, damit dieselben einander zugewandt sind; Reduzieren der Dicke des ersten Substrats; und Bilden einer Erfassungselektrode auf einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen.
  27. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß Anspruch 26, das ferner die Schritte des Bildens eines Durchgangslochs in dem ersten Substrat nach dem Bilden der Erfassungselektrode, wobei das Durchgangsloch mit der Erfassungselektrode und der ersten Verbindungselektrode kommuniziert, des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, das in dem ersten Substrat angeordnet ist, um die Erfassungselektrode mit der ersten Verbindungselektrode zu verbinden, des Bildens eines Durchgangslochs in dem zweiten Substrat, wobei das Durchgangsloch mit der zweiten Verbindungselektrode kommuniziert, des Bildens einer Elektrode in dem Durchgangsloch, das in dem zweiten Substrat angeordnet ist, und des Bildens einer Außenanschlussverbindungselektrode auf einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats gegenüber der Oberfläche, die dem ersten Substrat zugewandt ist, umfasst, auf solch eine Weise, dass die Außenanschlussverbindungselektrode mit der Elektrode verbunden ist, die in dem Durchgangsloch in dem zweiten Substrat angeordnet ist, wobei die Außenanschlussverbindungselektrode für eine Verbindung mit einer äußeren Schaltung angeordnet ist.
  28. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß einem der Ansprüche 18 bis 26, das ferner die Schritte des Bildens einer Rille in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum, und des Entfernens eines Abschnitts des ersten Substrats um fasst, der außerhalb der Rille angeordnet ist, die um die Erfassungselektrode herum angeordnet ist.
  29. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, das folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; Vorbereiten eines zweiten Substrats; Bilden eines Durchgangslochs in dem zweiten Substrat; Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats, das das Durchgangsloch aufweist; Reduzieren der Dicke des ersten Substrats; Bilden einer Erfassungselektrode auf einem Abschnitt einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, der dem Durchgangsloch entspricht, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen; und Bilden eines Durchgangsschlitzes in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  30. Ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, das folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; Vorbereiten eines zweiten Substrats; Bilden einer Ausnehmung in einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats; Verbinden einer Hauptoberfläche des ersten Substrats mit der Hauptoberfläche des zweiten Substrats, das die Ausnehmung aufweist; Reduzieren der Dicke des ersten Substrats; Bilden einer Erfassungselektrode auf einem Abschnitt einer Hauptoberfläche des ersten Substrats, der der Ausnehmung entspricht, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erst Substrat auftreffen; und Bilden eines Durchgangsschlitzes in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  31. Ein Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors, das folgende Schritte umfasst: Vorbereiten eines ersten Substrats, das aus einem thermoelektrischen Umwandlungsmaterial besteht; Vorbereiten eines zweiten Substrats; Verbinden einer ersten Hauptoberfläche des ersten Substrats mit einer Hauptoberfläche des zweiten Substrats; Reduzieren der Dicke des ersten Substrats; Bilden einer Erfassungselektrode auf einer zweiten Hauptoberfläche des ersten Substrats, wobei die Erfassungselektrode Infrarotstrahlen erfasst, die auf das erste Substrat auftreffen; Bilden eines Durchgangslochs in einem Abschnitt des zweiten Substrats, der der Erfassungselektrode ent spricht, um einen Hohlraum auf der ersten Hauptoberflächenseite des ersten Substrats zu bilden; und Bilden eines Durchgangslochs in dem ersten Substrat und um die Erfassungselektrode herum.
  32. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß einem der Ansprüche 18 bis 31, das ferner einen Schritt des Bildens eines infrarotabsorbierenden Films umfasst, auf solch eine Weise, dass der infrarotabsorbierende Film die Erfassungselektrode abdeckt.
  33. Das Verfahren zum Herstellen eines Infrarotsensors gemäß einem der Ansprüche 18 bis 31, das ferner die Schritte des Bildens eines Schutzfilms auf solch eine Weise, dass der Schutzfilm die Erfassungselektrode abdeckt, und des Bildens eines infrarotabsorbierenden Films auf einem Abschnitt des Schutzfilms umfasst, der einem Abschnitt entspricht, wo die Erfassungselektrode angeordnet ist.
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