DE112004000549D2 - Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von HalbleitersubstratenInfo
- Publication number
- DE112004000549D2 DE112004000549D2 DE112004000549T DE112004000549T DE112004000549D2 DE 112004000549 D2 DE112004000549 D2 DE 112004000549D2 DE 112004000549 T DE112004000549 T DE 112004000549T DE 112004000549 T DE112004000549 T DE 112004000549T DE 112004000549 D2 DE112004000549 D2 DE 112004000549D2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- accommodation
- polishing
- semiconductor substrates
- lapping
- rings
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/27—Work carriers
- B24B37/30—Work carriers for single side lapping of plane surfaces
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/16—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation taking regard of the load
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE112004000549T DE112004000549D2 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10303407A DE10303407A1 (de) | 2003-01-27 | 2003-01-27 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
DE112004000549T DE112004000549D2 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
PCT/DE2004/000104 WO2004067228A1 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Verfahren und vorrichtung zur hochgenauen bearbeitung der oberfläche eines objektes, insbesondere zum polieren und läppen von halbleitersubstraten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112004000549D2 true DE112004000549D2 (de) | 2005-12-08 |
Family
ID=32730595
Family Applications (3)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10303407A Withdrawn DE10303407A1 (de) | 2003-01-27 | 2003-01-27 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
DE502004006407T Expired - Fee Related DE502004006407D1 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Vorrichtung zur hochgenauen bearbeitung der oberfläche eines objektes, insbesondere zum polieren und läppen von halbleitersubstraten |
DE112004000549T Expired - Fee Related DE112004000549D2 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
Family Applications Before (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10303407A Withdrawn DE10303407A1 (de) | 2003-01-27 | 2003-01-27 | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten |
DE502004006407T Expired - Fee Related DE502004006407D1 (de) | 2003-01-27 | 2004-01-23 | Vorrichtung zur hochgenauen bearbeitung der oberfläche eines objektes, insbesondere zum polieren und läppen von halbleitersubstraten |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7160177B2 (de) |
EP (1) | EP1587649B1 (de) |
JP (1) | JP2006513050A (de) |
AT (1) | ATE387987T1 (de) |
DE (3) | DE10303407A1 (de) |
WO (1) | WO2004067228A1 (de) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7131891B2 (en) * | 2003-04-28 | 2006-11-07 | Micron Technology, Inc. | Systems and methods for mechanical and/or chemical-mechanical polishing of microfeature workpieces |
DE102005016411B4 (de) * | 2005-04-08 | 2007-03-29 | IGAM Ingenieurgesellschaft für angewandte Mechanik mbH | Vorrichtung zur hochgenauen Oberflächenbearbeitung eines Werkstückes |
JP2007054944A (ja) * | 2005-07-25 | 2007-03-08 | Hoya Corp | マスクブランク用基板の製造方法、マスクブランクの製造方法及びマスクの製造方法 |
KR101334012B1 (ko) * | 2005-07-25 | 2013-12-02 | 호야 가부시키가이샤 | 마스크 블랭크용 기판의 제조방법, 마스크 블랭크의제조방법 및 마스크의 제조방법 |
DE102006057075A1 (de) * | 2006-11-30 | 2008-06-05 | Friedrich-Schiller-Universität Jena | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Form eines Wafer-Chucks |
DE102008029931A1 (de) | 2008-06-26 | 2009-12-31 | Veikko Galazky | Vorrichtung zur Oberflächenbearbeitung eines Werkstückes |
US20120122373A1 (en) * | 2010-11-15 | 2012-05-17 | Stmicroelectronics, Inc. | Precise real time and position low pressure control of chemical mechanical polish (cmp) head |
JP6148532B2 (ja) * | 2013-05-08 | 2017-06-14 | 東京応化工業株式会社 | 貼付装置及び貼付方法 |
JP2014223684A (ja) * | 2013-05-15 | 2014-12-04 | 株式会社東芝 | 研磨装置および研磨方法 |
CN103398673B (zh) * | 2013-08-06 | 2016-03-30 | 中国科学院光电技术研究所 | 一种基于fpga的能动磨盘动态面形采集系统及方法 |
DE102014109654B4 (de) | 2014-07-10 | 2022-05-12 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtungen zum Bearbeiten von optischen Werkstücken |
DE102016214568A1 (de) * | 2016-08-05 | 2018-02-08 | Weeke Bohrsysteme Gmbh | Bearbeitungsvorrichtung und Bearbeitungsverfahren |
CN108145586B (zh) * | 2018-01-03 | 2019-10-11 | 京东方科技集团股份有限公司 | 抛光设备及抛光方法 |
US11731231B2 (en) * | 2019-01-28 | 2023-08-22 | Micron Technology, Inc. | Polishing system, polishing pad, and related methods |
FI130973B1 (en) * | 2019-11-18 | 2024-06-25 | Turun Yliopisto | Apparatus and method for polishing a piece |
JP7365282B2 (ja) * | 2020-03-26 | 2023-10-19 | 株式会社荏原製作所 | 研磨ヘッドシステムおよび研磨装置 |
EP4171874A1 (de) * | 2020-06-24 | 2023-05-03 | Applied Materials, Inc. | Polierträgerkopf mit piezoelektrischer drucksteuerung |
CN112518500A (zh) * | 2020-12-05 | 2021-03-19 | 江苏全真光学科技股份有限公司 | 一种变色镜片生产用抛光装置 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4923302A (en) * | 1989-02-02 | 1990-05-08 | Litton Systems, Inc. | Method and apparatus for calibrating deformable mirrors having replaceable actuators |
US4934803A (en) * | 1989-10-12 | 1990-06-19 | Litton Systems, Inc. | Differential pressure deformable mirror |
US5094536A (en) * | 1990-11-05 | 1992-03-10 | Litel Instruments | Deformable wafer chuck |
JP2789153B2 (ja) | 1992-01-27 | 1998-08-20 | マイクロン テクノロジー インコーポレイテッド | マイクロスクラッチのない平滑面を形成するための半導体ウェハの化学機械的平坦化方法 |
WO1993015878A1 (en) | 1992-02-12 | 1993-08-19 | Sumitomo Metal Industries Limited | Abrading device and abrading method employing the same |
US5635083A (en) * | 1993-08-06 | 1997-06-03 | Intel Corporation | Method and apparatus for chemical-mechanical polishing using pneumatic pressure applied to the backside of a substrate |
US5720845A (en) * | 1996-01-17 | 1998-02-24 | Liu; Keh-Shium | Wafer polisher head used for chemical-mechanical polishing and endpoint detection |
US5868896A (en) * | 1996-11-06 | 1999-02-09 | Micron Technology, Inc. | Chemical-mechanical planarization machine and method for uniformly planarizing semiconductor wafers |
US5888120A (en) | 1997-09-29 | 1999-03-30 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for chemical mechanical polishing |
DE19802302A1 (de) * | 1998-01-22 | 1999-07-29 | Bosch Gmbh Robert | Piezoelektrischer Aktor |
JPH11285966A (ja) * | 1998-04-02 | 1999-10-19 | Speedfam-Ipec Co Ltd | キャリア及びcmp装置 |
US6325696B1 (en) * | 1999-09-13 | 2001-12-04 | International Business Machines Corporation | Piezo-actuated CMP carrier |
US6579151B2 (en) * | 2001-08-02 | 2003-06-17 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd | Retaining ring with active edge-profile control by piezoelectric actuator/sensors |
US20030211811A1 (en) * | 2002-05-10 | 2003-11-13 | Berman Michael J. | Adaptable multi zone carrier |
-
2003
- 2003-01-27 DE DE10303407A patent/DE10303407A1/de not_active Withdrawn
-
2004
- 2004-01-23 US US10/543,869 patent/US7160177B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-01-23 DE DE502004006407T patent/DE502004006407D1/de not_active Expired - Fee Related
- 2004-01-23 DE DE112004000549T patent/DE112004000549D2/de not_active Expired - Fee Related
- 2004-01-23 AT AT04704541T patent/ATE387987T1/de not_active IP Right Cessation
- 2004-01-23 EP EP04704541A patent/EP1587649B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2004-01-23 JP JP2005518396A patent/JP2006513050A/ja active Pending
- 2004-01-23 WO PCT/DE2004/000104 patent/WO2004067228A1/de active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2004067228A1 (de) | 2004-08-12 |
US7160177B2 (en) | 2007-01-09 |
EP1587649A1 (de) | 2005-10-26 |
JP2006513050A (ja) | 2006-04-20 |
EP1587649B1 (de) | 2008-03-05 |
ATE387987T1 (de) | 2008-03-15 |
DE502004006407D1 (de) | 2008-04-17 |
DE10303407A1 (de) | 2004-08-19 |
US20060135040A1 (en) | 2006-06-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112004000549D2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur hochgenauen Bearbeitung der Oberfläche eines Objektes, insbesondere zum Polieren und Läppen von Halbleitersubstraten | |
WO2020225215A3 (de) | Verfahren und vorrichtung zur oberflächenbearbeitung | |
MY178000A (en) | Single ultra-planar wafer table structure for both wafers and film frames | |
WO2008064158A3 (en) | Lapping carrier and method | |
DE102005053767A1 (de) | MEMS-Mikrofon, Verfahren zur Herstellung und Verfahren zum Einbau | |
EP2070652A3 (de) | Schleifscheibenabrichtwerkzeug und entsprechendes Herstellungsverfahren und Abrichtvorrichtung, Verfahren zur Herstellung einer Schleifscheibe und Waferkantenschleifvorrichtung, die dieses einsetzt | |
DE602005017595D1 (de) | Verfahren und vorrichtungen für elektro-chemisch-mechanisches polieren | |
ATE361175T1 (de) | Vorrichtung und verfahren zum polieren einer optischen fläche sowie verfahren zum herstellen eines polierwerkzeugs | |
WO2009001732A1 (ja) | 半導体ウエハ研削方法とそれに用いる樹脂組成物及び保護シート | |
WO2007026351A3 (en) | An inspection system and a method for inspecting a diced wafer | |
UA93345C2 (uk) | Спосіб з'єднання двох деталей, з яких щонайменше одна виконана з композитного матеріалу, та вставка для здійснення цього способу | |
EP2570229A3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Fertigbearbeitung von Werkstücken | |
ATE455623T1 (de) | Verfahren und vorrichtung zum blocken von brillenlinsen | |
MX2019009632A (es) | Procedimiento para la producción de una herramienta abrasiva y herramienta abrasiva. | |
WO2015107290A3 (fr) | Procédé de placement et de collage de puces sur un substrat récepteur en utilisant un plot a l'aide d'une force d'attraction magnétique, électrostatique ou électromagnétique. | |
WO2014122151A3 (en) | Lithographic apparatus | |
EP3921118C0 (de) | Honwerkzeug und feinbearbeitungsverfahren unter verwendung des honwerkzeugs | |
BR112020007263A8 (pt) | Películas para uso como entrefolhas entre substratos | |
WO2010147244A3 (en) | Exposure apparatus and device manufacturing method | |
WO2010090914A3 (en) | Patterned wafer inspection system using a non-vibrating contact potential difference sensor | |
DE60214182D1 (de) | Methode und vorrichtung zur überführung eines scheibenförmigen werkstücks | |
CN104064491B (zh) | 片材粘贴装置及粘贴方法 | |
DE502008002265D1 (de) | Einrichtung zur Bearbeitung insbesondere großer Durchmesser eines Werkstücks | |
WO2017030867A3 (en) | Method for deterministic finishing of a chuck surface | |
ITBO20020009A1 (it) | Procedimento ed apparato per sottoporre pezzi di forma anulare a lavorazioni di grande precisione sulle superfici interne e/od esterne , con |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |