DE10359447A1 - Eintauchsensor - Google Patents

Eintauchsensor Download PDF

Info

Publication number
DE10359447A1
DE10359447A1 DE10359447A DE10359447A DE10359447A1 DE 10359447 A1 DE10359447 A1 DE 10359447A1 DE 10359447 A DE10359447 A DE 10359447A DE 10359447 A DE10359447 A DE 10359447A DE 10359447 A1 DE10359447 A1 DE 10359447A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
immersion
radiation
carrier
sensor according
immersion sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE10359447A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10359447B4 (de
Inventor
Jacques Plessers
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Heraeus Electro Nite International NV
Original Assignee
Heraeus Electro Nite International NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to DE10359447A priority Critical patent/DE10359447B4/de
Application filed by Heraeus Electro Nite International NV filed Critical Heraeus Electro Nite International NV
Priority to RU2006125424/28A priority patent/RU2348029C2/ru
Priority to CN2004800381224A priority patent/CN1898553B/zh
Priority to JP2006544321A priority patent/JP4750717B2/ja
Priority to EP04803874A priority patent/EP1695068A1/de
Priority to KR1020117004360A priority patent/KR101078926B1/ko
Priority to UAA200607901A priority patent/UA87997C2/ru
Priority to PCT/EP2004/014252 priority patent/WO2005059527A1/de
Priority to BRPI0417748-7A priority patent/BRPI0417748A/pt
Priority to KR1020067011780A priority patent/KR101030103B1/ko
Priority to CA2539844A priority patent/CA2539844C/en
Priority to MXPA06006246A priority patent/MXPA06006246A/es
Priority to AU2004299940A priority patent/AU2004299940C1/en
Publication of DE10359447A1 publication Critical patent/DE10359447A1/de
Publication of DE10359447B4 publication Critical patent/DE10359447B4/de
Application granted granted Critical
Priority to US11/422,339 priority patent/US7365841B2/en
Priority to ZA2006/05776A priority patent/ZA200605776B/en
Priority to RU2008133289/28A priority patent/RU2457467C2/ru
Priority to AU2008249182A priority patent/AU2008249182B2/en
Priority to AU2011201561A priority patent/AU2011201561A1/en
Priority to AU2011201560A priority patent/AU2011201560B2/en
Priority to JP2011090138A priority patent/JP5554281B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/71Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
    • G01N21/718Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/20Metals
    • G01N33/205Metals in liquid state, e.g. molten metals

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Eintauchsensor zur Analyse von insbesondere Metallschmelzen mit einem Eintauchträger, mit einem Strahlungsdetektor sowie mit einer Strahlungsführungseinrichtung zur Aufnahme und Weiterleitung von Strahlung und mit einer an oder in dem Eintauchträger angeordneten Signalschnittstelle und besteht darin, dass an oder in dem Eintauchträger der Strahlungsdetektor und zumindest ein Teil der Strahlungsführungeinrichtung angeordnet sind und dass die Signalschnittstelle mit dem Strahlungsdetektor verbunden ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen Eintauchsensor zur Analyse von insbesondere Metallschmelzen mit einem Eintauchträger, mit einem Strahlungsdetektor sowie mit einer Strahlungsführungseinrichtung zur Aufnahme und Weiterleitung von Strahlung und mit einer an oder in dem Eintauchträger angeordneten Signalschnittstelle.
  • Derartige Eintauchsensoren sind aus WO 03/081287 A2 bekannt. Hier ist ein Trägenohr offenbart, welches in eine Aluminiumschmelze eingetaucht wird. Innerhalb des Trägerrohres ist ein Linsensystem angeordnet. Am oberen Ende des Rohres ist ein Lichtleiter angeordnet, der mit einem Spektrographen einerseits und einem Laser andererseits über einoptisches System verbunden ist. Die von der Schmelze ausgehende Strahlung wird über den Lichtleiter in den Spektrographen geleitet, dort wird die Strahlung analysiert, um daraus Analyseergebnisse zur Zusammensetzung der Aluminiumschmelze abzuleiten.
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die vorhandene Vorrichtung zu verbessern und die Handhabung zu vereinfachen.
  • Die Aufgabe wird dadurch gelöst, dass an oder in dem Eintauchträger der Strahlungsdetektor und zumindest ein Teil der Strahlungsführungseinrichtung angeordnet sind und dass die Signalschnittstelle mit dem Strahlungsdetektor verbunden ist. Dadurch wird die Signalweiterleitung wesentlich vereinfacht, da die von einer Metallschmelze ausgehende optische Strahlung bereits an oder in dem Eintauchträger in elektrische Signale umgewandelt werden kann, die sich auf vielfältige Weise einfach weiterleiten lassen. Der Strahlungsdetektor muss nicht mehr für einen Dauerbetrieb ausgelegt sein, er verliert nach der Messung seine Funktion und kann daher einfach und preiswert gestaltet werden. Eine Wartung des Strahlungsdetektors ist nicht mehr notwendig.
  • Vorzugsweise weißt der Strahlungsdetektor eine Einrichtung zur Aufnahme von Strahlung und zur Umwandlung in elektrische Signale auf, insbesondere ist der Strahlungsdetektor zweckmäßigerweise zur Aufnahme und Umwandlung von sichtbarem Licht, Ultraviolettstrahlung, Infrarotstrahlung, Röntgenstrahlung und/oder Mikrowellenstrahlung in elektrische Signale eingerichtet. Damit lassen sich alle Arten von optischen oder andere Strahlungen aufnehmen und zur Analyse der Schmelze nutzbar machen. Insbesondere ist es zweckmäßig, dass der Eintauchträger als Rohr ausgebildet ist, in dem die einzelnen Teile angeordnet sind, da dadurch ein Schutz der einzelnen Teile beim Transport besser gewährleistet werden kann. Zweckmäßig ist es auch, dass der Eintauchträger aus einem in Metallschmelze verbrauchbaren Material, insbesondere aus einer organischen Material gebildet ist.
  • Es ist weiterhin vorteilhaft, dass die Signalschnittstelle als elektrische oder optische Kupplung oder als Sender (zur draht- oder kabellosen Übertragung von Signalen) ausgebildet ist. Entsprechend ist es möglich, von außen kommende optische Signale in die Strahlführungseinrichtung einzukoppeln, von dem Strahlungsdetektor kommende Signale (elektrische oder optische Signale) draht- oder kabelgebunden oder auch über die Luft mittels Sender weiterzuleiten. Insbesondere wird es dadurch möglich, den Eintauchträger nach Gebrauch von den externen Einrichtungen einfach zu lösen und zu entsorgen und an die mit den externen Einrichtungen (Computer, Laser zur Strahlungsbereitstellung, Funkenstrecke oder andere Einrichtungen) verbundenen Zuleitungen über das Kupplungsteil einen neuen Eintauchträger anzuschließen. Vorzugsweise ist der Eintauchträger mit einer mechanischen Kupplung, vorzugsweise zum Ankoppeln einer Trägerlanze verbunden. Derartige Trägerlanzen sind in der Metallurgie üblich zum Halten von Messeinrichtungen. Innerhalb der Trägerlanze laufen Signalleitungen. Für den Fall, dass die Signalschnittstelle als Sender ausgebildet ist, können die von dem Strahlungsdetektor abgegebenen Signale per Funk an einen Computer weitergeleitet werden. Dabei ist es prinzipiell auch möglich, die Signalauswertung bereits in einer Baueinheit mit dem Strahlungsdetektor vorzusehen, so dass lediglich die Ergebnisse weitergeleitet werden. Denkbar ist es auch, an oder in dem Eintauchträger eingehende elektrische Signale in optische Signale umzuwandeln. In diesem Fall könnten auch die beim Eintauchträger ankommenden Signale drahtlos oder kabellos per Funk an den Eintauchträger gesendet werden, wobei die Funksignale in optische Signale umgewandelt werden. Damit wäre eine berührungslose Messung möglich, eine feste Verbindung zwischen dem Sensor und der Auswerteeinrichtung oder einer Signalbereitstellungseinrichtung wären überflüssig, da man in der Lage ist, ausreichend preiswerte, kleine und leistungsstarke Baueinheiten hierfür zur Verfügung zu stellen.
  • Zweckmäßig ist es, dass an oder in dem Eintauchträger ein Signalverstärker und/oder ein Prozessor zur Signalauswertung angeordnet ist, zweckmäßig ist es weiterhin, dass die Strahlführungseinrichtung optische und/oder magnetische Linsen, optische Fasern, Spiegel, eine Funkenentladungsstrecke und/oder Blenden aufweist. Auch die Einrichtung zur Erzeugung der Funkenentladung oder eine andere Strahlungsemissionseinrichtung kann zweckmäßigerweise an oder in dem Eintauchträger angeordnet sein. Vorteilhafterweise kann an oder in dem Eintauchträger ein optisches Spektrometer, ein Röntgenspektrometer und/oder ein Massenspektrometer angeordnet sein.
  • Es kann sinnvoll sein, eine Gasleitungseinrichtung an oder in dem Eintauchträger vorzusehen, mit deren Hilfe die Oberfläche der zu messenden Schmelze freigeblasen wird, so dass die Strahlung auf die zu messende Oberfläche fokussiert oder auf sie gefunkt werden kann.
  • In dem Fall, dass der Eintauchträger als Rohr ausgebildet ist, ist es sinnvoll, eine Gasleitungseinrichtung innerhalb des Rohres vorzusehen, um zu verhindern, dass Schmelze beim Eintauchen des Eintauchsensors in das Rohr eindringt. Insbesondere bei hohen Temperaturen schmelzende Materialien wie Kryolithschmelzen, Eisen- oder Stahlschmelzen oder auch Kupferschmelzen können auf die vorbeschriebene Weise gut analysiert werden.
  • Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung an Hand einer Zeichnung näher erläutert.
  • 1 zeigt hierzu eine schematische Darstellung eines Eintauchsensors, eingetaucht in eine Metallschmelze.
  • In einen Tiegel 1 mit einer Eisenschmelze 2 ist ein Eintauchsensor teilweise eingetaucht. Der Eintauchträger 3 ist als Rohr aus Pappe ausgebildet, in dem die Strahlführungseinrichtung mit einem halbdurchlässigen Spiegel 4 und einer Linse 5 angeordnet ist. In dem Rohr ist weiterhin ein Spektrometer 6 angeordnet, das die aus der Eisenschmelze 2 kommende Strahlung aufnimmt und in elektrische Signale umwandelt. Die elektrischen Signale werden mittels Signallei tungen 7 an eine Kupplung 8 weitergeleitet. Die Kupplung dient der Verbindung des Eintauchsensors mit externen Versorgungseinrichtungen. Dazu ist an dem Connector über einen Lichtleiter 9 eine Laserquelle angeschlossen, Signalkabel 10 verbinden den Eintauchsensor mit einem Computer und eine Gasleitung 11 ermöglicht die Gaszufuhr in das Rohr (den Eintauchträger 3), wobei das Rohr selbst die Gasleitung zwischen der Kupplung 8 und der Schmelze darstellt. Der Lichtleiter 9 ist mit einem Lichtaustritt 12 verbunden. Laserlicht wird durch den Lichtaustritt 12 hindurch durch den Spiegel 4 und die Linse 5 auf die Eisenschmelze 2 fokussiert. Das von der Eisenschmelze 2 reflektierte Licht wird vom Spiegel 4 auf den Signaleingang des Spektrometers 6 gelenkt. Dazu ist der Spiegel 4 halb durchlässig ausgebildet.
  • Neben dieser konkret beschriebenen Ausführungsform sind die bereits weiter oben beschriebenen Ausgestaltungen ebenfalls denkbar.
  • In das dem Eintauchende abgewandten Ende des Rohres kann eine Trägerlanze eingesteckt werden, an der das Rohr beim Eintauchvorgang gehalten wird.

Claims (13)

  1. Eintauchsensor zur Analyse von insbesondere Metallschmelzen mit einem Eintauchträger, mit einem Strahlungsdetektor sowie mit einer Strahlungsführungseinrichtung zur Aufnahme und Weiterleitung von Strahlung und mit einer an oder in dem Eintauchträger angeordneten Signalschnittstelle, dadurch gekennzeichnet, dass an oder in dem Eintauchträger (3) der Strahlungsdetektor (6) und zumindest ein Teil der Strahlungsführungseinrichtung (4; 5) angeordnet sind und dass die Signalschnittstelle (8) mit dem Strahlungsdetektor (6) verbunden ist.
  2. Eintauchsensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlungsdetektor (6) eine Einrichtung zur Aufnahme von Strahlung und zur Umwandlung in elektrische Signale aufweist.
  3. Eintauchsensor nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlungsdetektor (6) zur Aufnahme und Umwandlung von sichtbarem Licht, Ultraviolettstrahlung, Infrarotstrahlung, Röntgenstrahlung und/oder Mikrowellenstrahlung in elektrische Signale eingerichtet ist.
  4. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Eintauchträger (3) als Rohr ausgebildet ist.
  5. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Eintauchträger (3) aus einem in Metallschmelze verbrauchbaren Material, insbesondere aus einem organischen Material gebildet ist.
  6. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Signalschnittstelle (8) als elektrische oder optische Kupplung oder als Sender ausgebildet ist.
  7. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Eintauchträger (3) mit einer mechanischen Kupplung, vorzugsweise zum Ankoppeln einer Trägerlanze verbunden ist.
  8. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass an oder in dem Eintauchträger (3) ein Signalverstärker und/oder ein Prozessor zur Signalauswertung angeordnet ist.
  9. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Strahlungsführungseinrichtung (4; 5) optische und/oder magnetische Linsen (5), optische Fasern, Spiegel (4), eine Funkenentladungsstrecke und/oder Blenden aufweist.
  10. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass an oder in dem Eintauchträger (3) ein optisches Spektrometer, ein Röntgenspektrometer und/oder ein Massenspektrometer angeordnet ist.
  11. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass an oder in dem Eintauchträger eine Strahlungsemissionseinrichtung angeordnet ist.
  12. Eintauchsensor nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass an oder in dem Eintauchträger eine Gasleitungseinrichtung angeordnet ist.
  13. Eintauchsensor nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Gasleitungseinrichtung eine Gasleitung (11) und eine Leitungskupplung aufweist.
DE10359447A 2003-12-17 2003-12-17 Eintauchsensor Expired - Fee Related DE10359447B4 (de)

Priority Applications (20)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10359447A DE10359447B4 (de) 2003-12-17 2003-12-17 Eintauchsensor
AU2004299940A AU2004299940C1 (en) 2003-12-17 2004-12-15 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
JP2006544321A JP4750717B2 (ja) 2003-12-17 2004-12-15 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法
EP04803874A EP1695068A1 (de) 2003-12-17 2004-12-15 Verfahren zur analyse eines schmelzstoffes, vorrichtung sowie eintauchsensor
KR1020117004360A KR101078926B1 (ko) 2003-12-17 2004-12-15 용융 재료의 분석 방법, 장치 및 액침 센서
UAA200607901A UA87997C2 (ru) 2003-12-17 2004-12-15 Способ анализа расплавленных материалов, устройство для осуществления способа и погружной датчик
PCT/EP2004/014252 WO2005059527A1 (de) 2003-12-17 2004-12-15 Verfahren zur analyse eines schmelzstoffes, vorrichtung sowie eintauchsensor
BRPI0417748-7A BRPI0417748A (pt) 2003-12-17 2004-12-15 método para análise de um material fundido, dispositivo e sensor de imersão
KR1020067011780A KR101030103B1 (ko) 2003-12-17 2004-12-15 용융 재료의 분석 방법, 장치 및 액침 센서
CA2539844A CA2539844C (en) 2003-12-17 2004-12-15 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
RU2006125424/28A RU2348029C2 (ru) 2003-12-17 2004-12-15 Способ анализа расплавленного материала, устройство и погружной датчик
MXPA06006246A MXPA06006246A (es) 2003-12-17 2004-12-15 Metodo para analisis de un material fundido, dispositivo y sensor de inmersion.
CN2004800381224A CN1898553B (zh) 2003-12-17 2004-12-15 熔融材料的分析方法与装置及浸没式传感器
US11/422,339 US7365841B2 (en) 2003-12-17 2006-06-06 Method for analysis of a molten material, device and immersion sensor
ZA2006/05776A ZA200605776B (en) 2003-12-17 2006-07-13 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
RU2008133289/28A RU2457467C2 (ru) 2003-12-17 2008-08-13 Погружной датчик (варианты)
AU2008249182A AU2008249182B2 (en) 2003-12-17 2008-11-24 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
AU2011201561A AU2011201561A1 (en) 2003-12-17 2011-04-06 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
AU2011201560A AU2011201560B2 (en) 2003-12-17 2011-04-06 Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
JP2011090138A JP5554281B2 (ja) 2003-12-17 2011-04-14 溶融金属の分析のための装置及び浸漬センサ及び方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10359447A DE10359447B4 (de) 2003-12-17 2003-12-17 Eintauchsensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10359447A1 true DE10359447A1 (de) 2005-07-28
DE10359447B4 DE10359447B4 (de) 2006-03-30

Family

ID=34706333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10359447A Expired - Fee Related DE10359447B4 (de) 2003-12-17 2003-12-17 Eintauchsensor

Country Status (3)

Country Link
CN (1) CN1898553B (de)
DE (1) DE10359447B4 (de)
UA (1) UA87997C2 (de)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006047765B3 (de) * 2006-10-06 2007-12-20 Heraeus Electro-Nite International N.V. Eintauchlanze für die Analyse von Schmelzen und Flüssigkeiten
EP3023771A4 (de) * 2013-07-15 2017-03-01 Shenyang Institute of Automation of the Chinese Academy of Sciences In-situ-online-detektionsvorrichtung und -verfahren für eine metallurgische langstrecken-flüssigmetallkomponente
DE102017004222A1 (de) * 2017-05-03 2018-11-08 Vdeh-Betriebsforschungsinstitut Gmbh Bestimmung der Zusammensetzung einer Metallschmelze

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2482467C2 (ru) * 2008-11-14 2013-05-20 Сименс Фаи Металз Текнолоджиз Сас Способ и устройство измерения химического состава жидкого металла, предназначенного для покрытия стальной полосы
DE102009034353A1 (de) * 2008-12-15 2010-06-24 Siemens Aktiengesellschaft Schmelzofen
JP5448669B2 (ja) * 2009-09-17 2014-03-19 三菱重工業株式会社 石炭ガス化炉のスラグ監視装置及び石炭ガス化炉
DE102013009962B3 (de) * 2013-06-14 2014-11-06 K+S Aktiengesellschaft LIBS-Messtubus
CN110308257B (zh) * 2019-08-03 2021-11-26 南京贤云机电科技有限公司 一种冶炼炉内金属熔液的温度及氧含量和碳含量的探测装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3839561A1 (de) * 1988-11-24 1990-05-31 Lange Gmbh Dr Bruno Vorrichtung zum feststellen von stoerfaellen in fluessigen medien
US5694206A (en) * 1996-03-01 1997-12-02 Analytical Spectral Devices, Inc. Spectrophotometric system using a pH/ISE meter for calibration
US5712710A (en) * 1996-10-15 1998-01-27 Cetin Karakus Spectrophotometric probe for insitu measurement
DE19960197A1 (de) * 1999-12-14 2001-06-28 Schrodt Stephan Optisches Sensorsystem zur kontinuierlichen Feststellung der Eintauchtiefe eines Objektes in einem flüssigen oder gasförmigen Medium
WO2003081287A2 (en) * 2002-03-18 2003-10-02 Mississippi State University Fiber optic laser-induced breakdown spectroscopy sensor for molten material analysis
DE10226286B3 (de) * 2002-06-13 2004-01-22 Sensorentechnologie Gettorf Gmbh Einstichsensor

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB8403976D0 (en) * 1984-02-15 1984-03-21 British Steel Corp Analysis of materials
US4986658B1 (en) * 1989-04-21 1996-06-25 Univ Lehigh Transient spectroscopic method and apparatus for in-process analysis of molten metal
US5369483A (en) * 1993-05-07 1994-11-29 Basf Corporation Analysis of polymer melt stream

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3839561A1 (de) * 1988-11-24 1990-05-31 Lange Gmbh Dr Bruno Vorrichtung zum feststellen von stoerfaellen in fluessigen medien
US5694206A (en) * 1996-03-01 1997-12-02 Analytical Spectral Devices, Inc. Spectrophotometric system using a pH/ISE meter for calibration
US5712710A (en) * 1996-10-15 1998-01-27 Cetin Karakus Spectrophotometric probe for insitu measurement
DE19960197A1 (de) * 1999-12-14 2001-06-28 Schrodt Stephan Optisches Sensorsystem zur kontinuierlichen Feststellung der Eintauchtiefe eines Objektes in einem flüssigen oder gasförmigen Medium
WO2003081287A2 (en) * 2002-03-18 2003-10-02 Mississippi State University Fiber optic laser-induced breakdown spectroscopy sensor for molten material analysis
DE10226286B3 (de) * 2002-06-13 2004-01-22 Sensorentechnologie Gettorf Gmbh Einstichsensor

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006047765B3 (de) * 2006-10-06 2007-12-20 Heraeus Electro-Nite International N.V. Eintauchlanze für die Analyse von Schmelzen und Flüssigkeiten
EP1914534A2 (de) * 2006-10-06 2008-04-23 Heraeus Electro-Nite International N.V. Eintauchenlanze zur Analyse von Schmelzen und Flüssigkeiten
US7748258B2 (en) 2006-10-06 2010-07-06 Heraeus Electro-Nite International N.V. Immersion lance for analysis of melts and liquids
EP1914534A3 (de) * 2006-10-06 2014-03-12 Heraeus Electro-Nite International N.V. Eintauchenlanze zur Analyse von Schmelzen und Flüssigkeiten
EP3023771A4 (de) * 2013-07-15 2017-03-01 Shenyang Institute of Automation of the Chinese Academy of Sciences In-situ-online-detektionsvorrichtung und -verfahren für eine metallurgische langstrecken-flüssigmetallkomponente
DE102017004222A1 (de) * 2017-05-03 2018-11-08 Vdeh-Betriebsforschungsinstitut Gmbh Bestimmung der Zusammensetzung einer Metallschmelze

Also Published As

Publication number Publication date
CN1898553A (zh) 2007-01-17
DE10359447B4 (de) 2006-03-30
UA87997C2 (ru) 2009-09-10
CN1898553B (zh) 2011-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102006047765B3 (de) Eintauchlanze für die Analyse von Schmelzen und Flüssigkeiten
AU2011201560B2 (en) Method for analysis of a fused material device and dipping sensor
EP1642101B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen abkühlkurve von schmelz en
JP2891722B2 (ja) 溶解容器中の溶解金属の元素を分析する装置および方法
DE10359447A1 (de) Eintauchsensor
US10830705B2 (en) Method and device for spectral analysis of a chemical composition of molten metals
DE2660947C2 (de) Fotoanalysegerät zur gleichzeitigen optischen Messung einer Anzahl von Eigenschaften eines in einer Suspension enthaltenen Systems kleiner Teilchen
JP7368508B2 (ja) 液体金属及び合金の定量的分析のための非浸漬的な方法及び装置
US4818106A (en) Spectral analysis device on a converter
AT503539B1 (de) Tauchsonde für lips-vorrichtungen
EP1322939A1 (de) Vorrichtung zur chemischen analyse von materialproben sowie metallurgisches gefäss hierfür
US4732477A (en) Analyzing probe
DE102022111912A1 (de) Laserbearbeitungskopf und Verfahren zum Messen der Leistung eines Laserstrahls
DE102019106194B4 (de) Vorrichtung zur spektroskopischen Bestimmung der Bindungskinetik eines Analyten
RU2791663C1 (ru) Непогружной способ и аппарат для количественного анализа жидких металлов и сплавов
DE102018128754B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Elementanalyse von Materialien
US20240094133A1 (en) Method and apparatus for quantitative chemical analysis of liquid metals and alloys
DE102011012174B4 (de) Messgerät zur Messung von Parametern in Schmelzen
EP0929793B1 (de) Verfahren zur messung der schlackenschichtdicke auf einer metallschmelze sowie zur durchfürung des verfahrens geeignete vorrichtung
DE202008003764U1 (de) Vorrichtung zur optischen Messung von Stoffen
Neuhauser et al. Elemental screening of heavy-metal aerosols by laser-induced plasma spectroscopy (LIPS)
GB2568367A (en) Apparatus and method for detecting a tracer
JPH0552752A (ja) 発光分光分析における金属サンプル不良放電面の設定替え方法

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee