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Die
Erfindung betrifft eine Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung, insbesondere zur
Korrektur von Taktsignalen, sowie ein Taktsignal-Korrektur-Verfahren.
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Bei
Halbleiter-Bauelementen, insbesondere bei Speicherbauelementen wie – z.B. auf CMOS-Technologie
beruhenden – DRAMs
(DRAM = Dynamic Random Access Memory bzw. dynamischer Schreib-Lese-Speicher)
werden – zur
zeitlichen Koordination der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der Daten – sog. Taktsignale
verwendet.
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Bei
herkömmlichen
Halbleiter-Bauelementen wird dabei i.A. ein – auf einer Einzel-Leitung
anliegendes – Einzel-Taktsignal
eingesetzt (d.h. ein sog. „single
ended"-Taktsignal).
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Die
Daten können
dann z.B. jeweils bei der ansteigenden Taktflanke des Einzel-Taktsignals
weitergeschaltet werden (oder alternativ z.B. jeweils bei der abfallenden
Einzel-Taktsignal-Flanke).
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Des
weiteren sind im Stand der Technik bereits sog. DDR-Bauelemente, insbesondere DDR-DRAMs
bekannt (DDR-DRAM = Double Data Rate – DRAM bzw. DRAM mit doppelter
Datenrate).
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Bei
DDR-Bauelementen werden – statt
eines einzelnen, auf einer Einzel-Leitung anliegenden Taktsignals
(„single
ended"-Taktsignal) – zwei auf
zwei getrennten Leitungen anliegende, differentielle, gegengleich-inverse
Taktsignale verwendet.
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Immer
dann, wenn z.B. das erste Taktsignal der beiden Taktsignale von
einem Zustand „logisch hoch" (z.B. einem hohen
Spannungspegel) auf einen Zustand „logisch niedrig" (z.B. einen niedrigen
Spannungspegel) wechselt, ändert
das zweite Taktsignal – im
wesentlichen gleichzeitig – seinen
Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" (z.B. von
einem niedrigen auf einen hohen Spannungspegel).
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Umgekehrt ändert immer
dann, wenn das erste Taktsignal von einem Zustand „logisch
niedrig" (z.B. einem
niedrigen Spannungspegel) auf einen Zustand „logisch hoch" (z.B. einen hohen
Spannungspegel) wechselt, das zweite Taktsignal (wiederum im wesentlichen
gleichzeitig) seinen Zustand von „logisch hoch" auf „logisch
niedrig" (z.B, von
einem hohen auf einen niedrigen Spannungspegel).
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In
DDR-Bauelementen werden die Daten i.A. sowohl bei der ansteigenden
Flanke des ersten Taktsignals, als auch bei der ansteigenden Flanke
des zweiten Taktsignals (bzw. sowohl bei der abfallenden Flanke
des ersten Taktsignals, als auch bei der abfallenden Flanke des
zweiten Taktsignals) weitergeschaltet.
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Damit
erfolgt in einem DDR-Bauelement die Weiterschaltung der Daten häufiger bzw.
schneller (insbesondere doppelt so häufig, bzw, doppelt so schnell),
wie bei entsprechenden, herkömmlichen Bauelementen
mit Einzel- bzw. „single
ended" – Taktsignal – d.h. die
Datenrate ist höher,
insbesondere doppelt so hoch, wie bei entsprechenden, herkömmlichen
Bauelementen.
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Das – intern – im Bauelement
zur zeitlichen Koordination der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der
Daten verwendete Taktsignal („DQS"- bzw. „data strobe"-Signal) (bzw. – bei der
Verwendung differentieller, gegengleich-inverser Taktsignale – das interne Taktsignal
DQS, und das zum Taktsignal DQS gegengleich-inverse Taktsignal BDQS)
muß synchron
zu einem extern in das Bauelement eingegebenen Taktsignal („clk"- bzw.
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„clock"-Signal) sein (bzw.
synchron zu den extern in das Bauelement eingegebenen, differentiellen
Taktsignalen clk, bclk).
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Das
oder die externen Taktsignale clk, bclk wird bzw. werden von einem
entsprechenden, mit dem Bauelement verbundenen, externen Taktsignal-Geber
erzeugt.
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Zur
Synchronisation des intern erzeugten Taktsignals DQS bzw. der intern
erzeugten Taktsignale DQS, BDQS mit dem oder den externen Taktsignalen
clk, bclk wird eine Taktsignal-Synchronisationseinrichtung,
z.B. eine DLL-Schaltung (DLL = Delay-Locked-Loop) verwendet. Eine
solche Schaltung ist z.B. aus der
EP
964 517 bekannt.
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Eine
Taktsignal-Synchronisationseinrichtung kann z.B. eine erste Verzögerungseinrichtung aufweisen,
in die das oder die externen Taktsignale clk, bclk eingegeben werden,
und die das oder die eingegebenen Taktsignale clk, bclk – abhängig von einem
von einer Phasenvergleichseinrichtung ausgegebenen Steuersignal – mit einer – durch
das Steuersignal einstellbaren, variablen – Verzögerungszeit tvar beaufschlagt.
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Das
oder die von der ersten Verzögerungseinrichtung
ausgegebenen Signal e) kann bzw. können – intern – im Bauelement zur zeitlichen
Koordination der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der Daten verwendet
werden (d.h. als – interne(s) – Taktsignal (e)
DQS bzw. BDQS).
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Das
von der ersten Verzögerungseinrichtung ausgegebene
Signal DQS wird einer zweiten Verzögerungseinrichtung zugeführt, die
das eingegebene Signal DQS mit einer – festen – Verzögerungszeit tconst beaufschlagt,
die in etwa der Summe der durch den bzw. die Receiver („Receiver-Delay"), den jeweiligen
Datenpfad („data
path delay"), und
den bzw. die Off-Chip-Driver („OCD-Delay") verursachten Signal-Verzögerungen
entspricht.
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Das
von der zweiten Verzögerungseinrichtung
ausgegebene Signal (FB-Signal bzw. „Feedback-Signal") wird der o.g. Phasenvergleichseinrichtung
zugeführt,
und dort die Phasenlage des FB-Signals mit derjenigen des – ebenfalls
in die Phasenvergleichseinrichtung eingegebenen – clk-Signals verglichen. Abhängig davon,
ob die Phase des FB-Signal derjenigen des clk-Signals vorauseilt,
oder hinterherläuft,
wird von der Phasenvergleichseinrichtung – als Steuersignal für die o.g.
erste Verzögerungseinrichtung – ein Inkrement-Signal (INC-Signal),
oder ein Dekrement-Signal (DEC-Signal) ausgegeben, die dazu führen, dass
die durch die erste Signalverzögerungseinrichtung
bewirkte Verzögerung
tvar des clk-Signals – bei einem INC-Signal – erhöht, bzw. – bei einem
DEC-Signal – verringert
wird, sodaß schließlich das
clk- und das FB-Signal synchronisiert, d.h. die Taktsignal-Synchronisationseinrichtung „eingerastet" („locked") ist.
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Insbesondere
bei hohen Frequenzen kann es zu relativ starken Verzerrungen des – vom o.g.
externen Taktsignalgeber bereitgestellten – Taktsignals clk (bzw. der – extern
bereitgestellten, differentiellen – Taktsignale clk, bclk) kommen.
Diese führen
z.B. dazu, dass der „logisch
niedrige" Zustand
des clk-Signals z.B. kürzer
(oder z.B. länger)
andauert, als der „logisch
hohe" Zustand des
clk-Signals (und z.B. der „logisch
niedrige" Zustand
des bclk-Signals z.B. länger
(oder z.B. kürzer),
als der „logisch
hohe" Zustand des
bclk-Signals). Dies hat zur Folge, dass auch das von der o.g. Taktsignal-Synchronisationseinrichtung, z.B.
der DLL- Schaltung
aus dem externen Taktsignal clk bzw. bclk gewonnene – interne – Taktsignal
DQS bzw. BDQS relativ stark verzerrt sind.
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Aus
der
US 6,426,660 B1 ist
eine Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
bekannt, in die ein Taktsignal eingegeben, und an eine Frequenzteiler-Einrichtung
weitergeleitet wird, wobei ein von der Frequenzteiler-Einrichtung ausgegebenes
Signal an eine Signalverzögerungs-Einrichtung weitergeleitet wird,
und wobei die Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
zusätzlich
eine Signal-Ausgabe-Schaltung
aufweist zum Ausgeben eines Takt-Ausgabe-Signals in Abhängigkeit
von einem von der Frequenzteiler-Einrichtung ausgegebenen Signal,
und von einem von der Verzögerungseinrichtung
ausgegebenen Signal.
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Aus
Y.C. Jang et al.: CMOS digital duty cycle correction circuit for
multi-phase clock; Electronics Letters 18.9.03 Vol. 39 No. 19 ist
eine Takt-Ein-Ausgabe-Vorrichtung bekannt, bei welcher eine in eine erste
Richtung gehende Signalflanke eines Takt-Ausgabe-Signals durch eine
Signalflanke eines ersten Signals, und eine in eine zweite, der
ersten Richtung entgegengesetzte Richtung gehende Signalflanke des
Takt-Ausgabe-Signals
durch eine Signalflanke eines zweiten – gegenüber dem ersten Signal verzögerten – Signals
getriggert wird.
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Die
Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, eine – neuartige – Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung,
sowie ein neuartiges Taktsignal-Korrektur-Verfahren zur Verfügung zu
stellen, insbesondere eine Vorrichtung und ein Verfahren, mit denen
aus – verzerrten – externen
Taktsignalen clk, bclk weniger verzerrte bzw. im wesentlichen unverzerrte
Taktsignale gewonnen werden können.
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Die
Erfindung erreicht dieses und andere Ziele durch den Gegenstand
der Ansprüche
1 und 8.
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Vorteilhafte
Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
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Im
folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen und der beigefügten Zeichnung
näher erläutert. In
der Zeichnung zeigen:
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1 eine schematische Darstellung
einer Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung;
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2 eine schematische Darstellung
einer Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
gemäß einem weiteren
Ausführungsbeispiel
der Erfindung;
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3 Zeitablaufdiagramme der
in die in 1 bzw. in 2 gezeigte Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
eingegebenen Signale clk bzw. bclk, der intern in der Vorrichtung
erzeugten, und der von der Vorrichtung ausgegebenen Signale;
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4 eine schematische Darstellung
eines Systems zur Korrektur von Taktsignalen gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung; und
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5 eine Detaildarstellung
der in 1 und 2 gezeigten Frequenz-Wiederherstell-Schaltung.
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In 1 ist eine schematische
Darstellung einer Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1 bzw.
einer Taktsignal-Korrektur-Vorrichtung 1 gemäß einem Ausführungsbeispiel
der Erfindung gezeigt.
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Diese
weist eine Frequenzteiler-Einrichtung 4 auf, eine Signal-Integrier-Einrichtung 6,
zwei – identisch
bzw. im wesentlichen identisch aufgebaute – Signal-Vergleichs- bzw. Signal-Receiver-Schaltungen 8, 9,
und eine Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11.
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Die
Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1 kann z.B. auf einem Halbleiter-Bauelement
vorgesehen sein, insbesondere einem Speicherbauelementen wie einem – z.B. auf
CMOS-Technologie beruhenden – DRAM
(DRAM = Dynamic Random Access Memory bzw. dynamischer Schreib-Lese-Speicher), z.B.
einem DDR-DRAM (DDR-DRAM
= Double Data Rate – DRAM
bzw. DRAM mit doppelter Datenrate).
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Das
entsprechende Halbleiter-Bauelement weist einen – externen – Anschluß 2a, auf (z.B. ein entsprechendes
Pad bzw. einen entsprechenden Pin), an dem – zur zeitlichen Koordination
der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der Daten im Halbleiter-Bauelement – von einem
externen Taktsignal-Geber
ein externes Taktsignal clk angelegt wird.
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Des
weiteren weist das Bauelement einen entsprechenden – weiteren – externen
Anschluß 2b auf
(z.B. ein entsprechendes weiteres Pad bzw. einen entsprechenden
weiteren Pin), an dem – z.B. vom
o.g. externen Taktsignal-Geber – ein
weiteres externes Taktsignal bclk angelegt wird. Die Taktsignale
clk, bclk können
gegengleich-invers zueinander sein (d.h. bei den Taktsignalen kann
es sich um sog. „differentielle" Taktsignale clk,
bclk handeln).
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Intern
im Bauelement können
die Daten z.B. jeweils sowohl bei der ansteigenden Flanke des clk- als
auch der ansteigenden Flanke des bclk-Taktsignals (bzw. sowohl der
ansteigenden Flanke eines hieraus gewonnenen DQS- als auch der ansteigenden
Flanke eines hieraus gewonnenen BDQS-Signals weitergeschaltet werden
(bzw. – alternativ – z.B. bei
jeweils den abfallenden Taktflanken der entsprechenden Signale)).
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Wie
in 1 gezeigt ist, wird
das am Anschluß 2a des
Halbleiter-Bauelements anliegende clk-Signal – ggf. unter Zwischenschaltung
einer entsprechenden Receiver-Schaltung – über eine Leitung 3a einem
ersten Eingang der Frequenzteiler-Einrichtung 4 zugeführt.
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Des
weiteren wird das am Anschluß 2b des Halbleiter-Bauelements anliegende
bclk-Signal – ggf. ebenfalls
unter Zwischenschaltung der o.g. Receiver-Schaltung – über eine
Leitung 3b einem zweiten Eingang der Frequenzteiler-Einrichtung 4 zugeführt.
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Ein
erster Ausgang der Frequenzteiler-Einrichtung 4 – an dem
ein gegenüber
der Frequenz f des Signals clk die halbe Frequenz f/2 aufweisendes Signal
clk2 ausgegeben wird – ist über eine
Leitung 5a an einen ersten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 angeschlossen.
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Durch
die von der Frequenzteiler-Einrichtung 4 erzielte Frequenzteilung
wird erreicht, dass – wie
in 3 gezeigt ist – z.B. jeweils
bei einer positiven Flanke des clk-Signals das Signal clk2 seinen
Zustand wechselt (z.B. bei einer ersten positiven Flanke des clk-Signals
von „logisch
niedrig" auf „logisch hoch", und bei einer zweiten,
darauffolgenden positiven Flanke des clk-Signals zurück von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig").
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Des
weiteren ist ein zweiter Ausgang der Frequenzteiler-Einrichtung 4 (an
dem ein gegenüber der
Frequenz f des Signals bclk die halbe Frequenz f/2 aufweisendes,
zum Signal clk2 gegengleich-inverses Signal bclk2 ausgegeben wird) über eine
Leitung 5b an einen zweiten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 angeschlossen.
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Durch
die von der Frequenzteiler-Einrichtung 4 erzielte Frequenzteilung
wird erreicht, dass – wie
in 3 gezeigt ist – z.B. jeweils
bei einer positiven Flanke des clk-Signals das Signal bclk2 seinen
Zustand wechselt (z.B. wechselt das Signal bclk2 bei einer ersten
positiven Flanke des clk-Signals – umgekehrt
wie das Signal clk2 – von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig", und bei
einer zweiten, darauffolgenden positiven Flanke des clk-Signals – umgekehrt
wie das Signal clk2 – zurück von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch").
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Wie
aus 1 weiter hervorgeht,
ist ein erster Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 – an dem
ein z.B. durch entsprechende Integration aus dem Signal clk gewonnenes
Signal I2 ausgegeben wird – über eine
Leitung 7a an einen ersten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 8 angeschlossen.
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Des
weiteren ist ein zweiter Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 – an dem
ein z.B. durch entsprechende Integration aus dem Signal bclk gewonnenes,
invers zum Signal I2 verlaufendes Signal bI2 ausgegeben wird – über eine Leitung 7b an
einen zweiten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 8 angeschlossen.
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Als
Signal-Vergleichs- bzw. Signal-Receiver-Schaltungen 8, 9 können im
Prinzip beliebige Signal-Vergleichs- bzw. Signal-Receiver-Schaltungen verwendet werden,
z.B. entsprechend ähnlich
wie entsprechende herkömmliche
Takt-ReceiverSchaltungen aufgebaute, z.B. vier kreuzgekoppelte Transistoren
(z.B. einen ersten und einen zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistor, sowie einen ersten
und einen zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistor)
aufweisende Receiver-Schaltungen.
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Die
Source des ersten und zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors kann z.B. an eine
(Gleich- bzw. Konstant-) Strom-Quelle angeschlossen sein, die z.B.
mit dem Massepotential verbunden ist.
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Des
weiteren kann z.B. das Gate des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors mit dem o.g. (ersten) Eingang
der jeweiligen Schaltung 8, 9 verbunden sein,
und das Gate des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors mit dem o.g.
(zweiten) Eingang der jeweiligen Schaltung 8, 9.
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Der
Drain des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors kann z.B. an das
Gate des ersten und zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors angeschlossen
sein, und an den Drain des ersten p-Kanal-Feldeffekttransistors,
sowie an einen (ersten) Ausgang der jeweiligen Schaltung 8, 9 (an
dem – wie
in 1 dargestellt – z.B. ein
Signal rIclk bzw. ein Signal rclk abgegriffen werden kann).
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Auf
entsprechende Weise kann der Drain des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors
z.B. an den Drain des zweiten p-Kanal- Feldeffekttransistors angeschlossen
sein, sowie an einen (zweiten) Ausgang der jeweiligen Schaltung 8, 9 (an
dem – wie
in 1 dargestellt – z.B. ein
zum Signal rIclk bzw. rclk inverses Signal brIclk bzw. brclk abgegriffen
werden kann).
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Die
Sourcen des ersten und zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors können z.B.
jeweils an die Versorgungsspannung angeschlossen sein.
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Wie
in 1 gezeigt ist, ist
der erste Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 8 – z.B. über eine
erste Leitung eines entsprechenden Leitungspaars 10a – an die
o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 angeschlossen.
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Auf
entsprechende Weise ist auch der zweite Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 8 – z.B. über eine
zweite Leitung des o.g. Leitungspaars 10a – an die
o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 angeschlossen.
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Wie
aus 1 weiter hervorgeht,
wird das o.g. – gegenüber der
Frequenz f des Signals clk die halbe Frequenz f/2 aufweisende Signal
clk2 – außer über die
Leitung 5a an den ersten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 zusätzlich noch über eine an
die Leitung 5a angeschlossene Leitung 5c an einen
ersten Eingang der o.g. – zweiten – Signal-Vergleichs-Schaltung 9 zugeführt.
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Des
weiteren wird das o.g. – gegenüber der Frequenz
f des Signals bclk die halbe Frequenz f/2 aufweisende Signal bclk2 – außer über die
Leitung 5b an den zweiten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 zusätzlich noch über eine
an die Leitung 5b angeschlossene Leitung 5d an
einen zweiten Eingang der o.g. – zweiten – Signal-Vergleichs-Schaltung 9 zugeführt.
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Ein
erster Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 9 ist – z.B. über eine
erste Leitung eines entsprechenden, weiteren Leitungspaars 10b – an die
o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 angeschlossen.
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Auf
entsprechende Weise ist auch ein zweiter Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 9 – z.B. über eine
zweite Leitung des o.g. Leitungspaars 10b – an die
Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 angeschlossen.
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Wie
in 3 veranschaulicht
ist, und wie bereits oben erwähnt
wurde, werden die an der Leitung 5a bzw. 5b anliegenden
Signale clk2 bzw. bclk2 von der Signal-Integrier-Einrichtung 6 integriert.
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Der
Pegel des an der Leitung 7a von der Signal-Integrier-Einrichtung 6 ausgegebenen
Signals I2 steigt deshalb – ab
dem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine negative Flanke auftritt-
linear-rampenförmig
immer weiter an, bis zu einem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2
eine positive Flanke auftritt, was dazu führt, dass – bis zur nächsten negativen Flanke des
clk2-Signals – der
Pegel des an der Leitung 7a von der Signal-Integrier-Einrichtung 6 ausgegebenen
Signals I2 linear-rampenförmig
immer weiter abfällt.
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Entsprechend
invers fällt
der Pegel des an der Leitung 7b von der Signal-Integrier-Einrichtung 6 ausgegebenen
Signals bI2 – ab
dem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine negative (bzw. beim
Signal bclk2 eine positive) Flanke auftritt – linear-rampenförmig immer
weiter ab, bis zu einem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine
positive (bzw. beim Signal bclk2 eine negative) Flanke auftritt,
was dazu führt,
dass – bis
zur nächsten
negativen Flanke des clk2-Signals – der Pegel des an der Leitung 7b von der
Signal-Integrier-Einrichtung 6 ausgegebenen
Signals bI2 linear-rampenförmig
immer weiter ansteigt.
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Wie
aus 3 weiter hervorgeht,
wird von der Signal-Vergleichs-Schaltung 8 immer
dann, wenn der Pegel des Signals I2 größer ist, als der Pegel des Signals
bI2, am (ersten) Ausgang – und
damit an der ersten Leitung des o.g. Leitungspaars 10a – ein „logisch
niedriges" Signal
rIclk ausgegeben, und immer dann, wenn der Pegel des Signals I2
kleiner ist, als der Pegel des Signals bI2, am (ersten) Ausgang – und damit
an der ersten Leitung des o.g. Leitungspaars 10a – ein „logisch
hohes" Signal rIclk.
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Entsprechend
umgekehrt wird von der Signal-Vergleichs-Schaltung 8 immer dann, wenn
der Pegel des Signals I2 kleiner ist, als der Pegel des Signals
bI2, am (zweiten) Ausgang – und
damit an der zweiten Leitung des o.g. Leitungspaars 10a – ein „logisch
niedriges" Signal
brIclk ausgegeben, und immer dann, wenn der Pegel des Signals I2
größer ist, als
der Pegel des Signals bI2, am (zweiten) Ausgang – und damit an der zweiten
Leitung des o.g. Leitungspaars 10a – ein „logisch hohes" Signal brIclk.
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Entsprechend ähnlich wird – wie ebenfalls aus 3 hervorgeht – von der
Signal-Vergleichs-Schaltung 9 immer dann, wenn der Pegel
des Signals clk2 größer ist,
als der Pegel des Signals bclk2, am (ersten) Ausgang – und damit
an der ersten Leitung des o.g. Leitungspaars 10b – ein „logisch
hohes" Signal rclk
ausgegeben, und immer dann, wenn der Pegel des Signals clk2 kleiner
ist, als der Pegel des Signals bclk2, am (ersten) Ausgang – und damit an
der ersten Leitung des o.g. Leitungspaars 10b – ein „logisch
niedriges" Signal
rclk.
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Entsprechend
umgekehrt wird von der Signal-Vergleichs-Schaltung 9 immer dann, wenn
der Pegel des Signals clk2 kleiner ist, als der Pegel des Signals
bclk2, am (zweiten) Ausgang – und
damit an der zweiten Leitung des o.g. Leitungspaars 10b – ein „logisch
hohes" Signal brclk
ausgegeben, und immer dann, wenn der Pegel des Signals clk2 größer ist,
als der Pegel des Signals bclk2, am (zweiten) Ausgang – und damit
an der zweiten Leitung des o.g. Leitungspaars 10b – ein „logisch
niedriges" Signal
brclk.
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Wie
weiter aus 3 hervorgeht,
wechselt ein von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 an
einer Leitung 12a ausgegebenes Signal clk50 dann seinen
Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch", wenn das
an der ersten Leitung des Leitungspaars 10b anliegende
Signal rclk seinen Zustand von „logisch niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt,
und. bereits dann wieder zurück
auf „logisch niedrig", wenn das an der
ersten Leitung des Leitungspaars 10a anliegende Signal
rIclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt.
Des weiteren wechselt das von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 an
der Leitung 12a ausgegebene Signal clk50 bereits dann wieder seinen
Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch hoch", wenn das an der
zweiten Leitung des Leitungspaars 10b anliegende Signal
brclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt,
und bereits dann wieder zurück
auf „logisch niedrig", wenn das an der
zweiten Leitung des Leitungspaars 10a anliegende Signal
brIclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf "logisch hoch" wechselt (mit anderen
Worten findet beim Signal clk50 immer dann ein Signal-Zustandswechsel
statt, wenn eines der Signale rclk, rIclk, brclk oder brIclk eine
positive Taktflanke aufweist).
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Wie
weiter aus 3 hervorgeht,
wechselt – entsprechend
umgekehrt – ein
von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 an einer Leitung 12b ausgegebenes
Signal bclk50 dann seinen Zustand von „logisch hoch" auf „logisch
niedrig", wenn das
an der ersten Leitung des Leitungspaars 10b anliegende
Signal rclk seinen Zustand von „logisch niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (bzw.
das Signal brclk von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig"), und bereits
dann wieder zurück
auf „logisch
hoch", wenn das
an der ersten Leitung des Leitungspaars 10a anliegende
Signal rIclk seinen Zustand von „logisch niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (bzw.
das Signal brIclk von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig"). Des weiteren
wechselt das von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 an der Leitung 12b ausgegebene Signal
bclk50 bereits dann wieder seinen Zustand von „logisch hoch" auf „logisch
niedrig", wenn das
an der zweiten Leitung des Leitungspaars 10b anliegende
Signal brclk seinen Zustand von „logisch niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (bzw.
das Signal rclk von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig"), und bereits
dann wieder zurück
auf „logisch
hoch", wenn das
an der zweiten Leitung des Leitungspaars 10a anliegende Signal
brIclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (bzw.
das Signal rIclk von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig") (mit anderen
Worten findet beim Signal bclk50 immer dann ein Signal-Zustandswechsel
statt, wenn eines der Signale rclk, rIclk, brclk oder brIclk eine
positive Taktflanke aufweist (oder – alternativ – eine negative
Taktflanke)).
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In 5 ist eine Detaildarstellung
der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 gezeigt.
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Diese
weist vier – für jedes
der vier in die Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 11 eingegebenen Signale – im wesentlichen
identische, parallele Schaltungsabschnitte 301a, 301b, 301c, 301d auf.
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Jeder
Schaltungsabschnitt 301a, 301b, 301c, 301d weist
jeweils eine Verzögerungseinrichtung 302a, 302b, 302c, 302d auf
(die jeweils aus einer ungeraden Anzahl von Invertern bestehen),
ein NAND-Gatter 303a, 303b, 303c, 303d,
einen (zusätzlichen)
Inverter 304a, 304b, 304c, 304d,
und zwei – komplementär verschaltete – Transmission-Gates 305a, 305b, 305c, 305d bzw. 306a, 306b, 306c, 306d.
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Wie
aus 5 hervorgeht, werden
die o.g. Signale rclk, rIclk, brclk oder brIclk jeweils direkt an einen
ersten Eingang des jeweiligen NAND-Gatters 303a, 303b, 303c, 303d weitergeleitet,
und zusätzlich – unter
Zwischenschaltung der jeweiligen Verzögerungseinrichtung 302a, 302b, 302c, 302d – (d.h. auf
eine um die durch die Verzögerungseinrichtung bewirkte
Verzögerungszeit ΔT verzögerte Weise)
an einen zweiten Eingang des jeweiligen NAND-Gatters 303a, 303b, 303c, 303d.
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Ein
am Ausgang des jeweiligen NAND-Gatters 303a, 303b, 303c, 303d ausgegebenes
Signal rclk', rIclk', brclk' bzw. brIclk' wird also nur dann „logisch
niedrig", wenn das
am ersten Eingang des jeweiligen NAND-Gatters 303a, 303b, 303c, 303d anliegende
Signal rclk, rIclk, brclk bzw. brIclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (und
zwar nur für
eine relativ kurze – der
o.g. Verzögerungszeit ΔT entsprechende – Zeitdauer,
weil nach der o.g. Verzögerungszeit ΔT das am
zweiten Eingang des jeweiligen NAND-Gatters 303a, 303b, 303c, 303d anliegende
Signal seinen Zustand von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig" wechselt).
Mit anderen Worten wird durch das von dem jeweiligen NAND-Gatter 303a, 303b, 303c, 303d ausgegebene Signal
rclk', rIclk', brclk' bzw. brIclk' angezeigt, dass das
entsprechende Signal rclk, rIclk, brclk bzw. brIclk eine positive
Taktflanke aufweist.
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Wie
aus 5 weiter hervorgeht,
ist ein Eingang der Transmission-Gates 305a, 305b, 306c, 306d an
die Versorgungsspannung (Power Supply Level VDLL) angeschlossen,
und ein Eingang der Transmission-Gates 306a, 306b, 305c, 305d an
die Masse (Ground Level VSSDL).
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Die
Ausgänge
der Transmission-Gates 305a, 305b, 305c, 305d sind
miteinander verbunden, und an einen Eingang eines Latches 307b angeschlossen,
dessen Ausgang an die o.g. Leitung 12b angeschlossen ist.
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Auf
entsprechend ähnliche
Weise sind auch die Ausgänge
der Transmission-Gates 306a, 306b, 306c, 306d miteinander
verbunden, und an einen Eingang eines Latches 307a angeschlossen,
dessen Ausgang an die o.g. Leitung 12a angeschlossen ist.
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Jedes
Latch 307a, 307b kann z.B. einen ersten und zweiten
Inverter aufweisen, wobei der Ausgang des ersten Inverters über den
zweiten Inverter an den Eingang des ersten Inverters rückgekoppelt ist.
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Bei
jedem der vier Schaltungsabschnitte 301a, 301b, 301c, 301d wird
das o.g. – vom
jeweiligen NAND-Gatter 303a, 303b, 303c, 303d ausgegebene – Signal
rclk', rIclk', brclk' bzw. brIclk' jeweils direkt an
einen ersten Steuereingang der jeweiligen Transmission-Gates 305a, 306a bzw. 305b, 306b bzw. 305c, 306c bzw. 305d, 306d zugeführt, und – unter
Zwischenschaltung des jeweiligen Inverters 304a, 304b, 304c, 304d – an einen
zweiten, zum ersten Steuereingang der jeweiligen Transmission-Gates 305a, 306a bzw. 305b, 306b bzw. 305c, 306c bzw. 305d, 306d inversen
Transmission-Gate-Steuereingang.
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Immer
dann, wenn eines der o.g. Signale rclk', rIclk', brclk' bzw. brIclk' – für kurze
Zeit – „logisch niedrig" wird (d.h. das entsprechende
Signal rclk, rIclk, brclk bzw. brIclk eine positive Taktflanke aufweist), werden
die entsprechenden die Transmission-Gates, denen das jeweilige Signal
rclk', rIclk', brclk' bzw. brIclk' zugeführt wird,
entsprechend – für kurze
Zeit – umgeschaltet
(d.h. das vorher leitende Transmission-Gate sperrt, und das vorher sperrende
Transmission-Gate leitet).
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Das
entsprechende, hierdurch erzeugte (positive oder negative) Puls-Signal
(bDO), bzw. das hierzu inverse (negative oder positive) Puls-Signal (DO)
wird an den Eingang des Latches 307a bzw. 307b weitergeleitet,
sodaß das
am Ausgang des jeweiligen Latches 307a, 307b ausgegebene
Signal (clk50 bzw. bclk50) entsprechend umgeschaltet wird (d.h.
seinen Zustand von „logisch
hoch" auf „logisch niedrig", oder von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" ändert).
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Aufgrund
der Wirkung des Latches 307a, 307b verbleibt das
jeweilige Signal clk50, bclk50 dann so lange in dem dann erreichten
Zustand, bis das nächste
der Signale rclk',
rIclk', brclk' bzw. brIclk' – für kurze Zeit – „logisch
niedrig" wird (d.h.
das entsprechende Signal rclk, rIclk, brclk bzw. brIclk eine positive
Taktflanke aufweist).
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Wie
aus 3 hervorgeht, dauert
bei dem Signal clk50 bzw. dem. Signal bclk50 – anders als bei dem Signal
clk bzw. bclk – der „logisch
niedrige" Zustand
im wesentlichen gleich lang, wie der „logisch hohe" Zustand.
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Mit
Hilfe der Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1 können also aus – verzerrten – externen
Taktsignalen clk, bclk weniger verzerrte bzw. im wesentlichen unverzerrte
(Takt) Signale clk50 bzw. bclk50 gewonnen werden.
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Das
Signal clk50 und/oder das Signal bclk50 kann z.B. einer entsprechenden
Taktsignal-Synchronisationseinrichtung, z.B. einer DLL-Schaltung
(DLL = Delay-Locked-Loop) zugeführt
werden, die aus dem clk50- bzw. bclk50-Signal ein entsprechendes – hiermit
synchronisiertes – Taktsignal
DQS bzw. BDQS erzeugt, welches bzw. welche zur zeitlichen Koordination
der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der Daten im Halbleiter-Bauelement
verwendet wird bzw. werden.
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In 2 ist eine. schematische
Darstellung einer Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 101 bzw. einer
Taktsignal-Korrektur-Vorrichtung 101 gemäß einem
weiteren Ausführungsbeispiel
der Erfindung gezeigt.
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Diese
weist eine Frequenzteiler-Einrichtung 104 auf, eine Signal-Integrier-Einrichtung 106,
vier – identisch
bzw. im wesentlichen identisch aufgebaute – Signal-Vergleichs- bzw.
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Signal-Receiver-Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109b,
und eine Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111.
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Die
Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 kann z.B. entsprechend ähnlich oder
identisch aufgebaut sein, wie die in 5 gezeigte
Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111.
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Die
Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 101 kann z.B. auf einem
Halbleiter-Bauelement vorgesehen sein, insbesondere einem Speicherbauelementen
wie einem – z.B.
auf CMOS-Technologie
beruhenden – DRAM
(DRAM = Dynamic Random Access Memory bzw. dynamischer Schreib-Lese-Speicher), z.B.
einem DDR-DRAM (DDR-DRAM = Double Data Rate – DRAM bzw. DRAM mit doppelter
Datenrate).
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Das
entsprechende Halbleiter-Bauelement weist einen – externen – Anschluß 102a, auf (z.B.
ein entsprechendes Pad bzw. einen entsprechenden Pin), an dem – zur zeitlichen
Koordination der Verarbeitung bzw. Weiterschaltung der Daten im
Halbleiter-Bauelement – von
einem externen Taktsignal-Geber
ein externes Taktsignal clk angelegt wird.
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Des
weiteren weist das Bauelement einen entsprechenden – weiteren,
hier nicht dargestellten – externen
Anschluß auf
(z.B. ein entsprechendes weiteres Pad bzw. einen entsprechenden
weiteren Pin), an dem – z.B.
vom o.g. externen Taktsignal-Geber – ein weiteres externes Taktsignal
bclk angelegt wird. Die Taktsignale clk, bclk können gegengleichinvers zueinander
sein (d.h. es bei den Taktsignalen kann es sich um sog. „differentielle" Taktsignale clk,
bclk handeln).
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Intern
im Bauelement können
die Daten z.B, jeweils sowohl bei der ansteigenden Flanke des clk- als
auch der ansteigenden Flanke des bclk-Taktsignals (bzw. sowohl der
ansteigenden Flanke eines hieraus gewonnenen DQS- als auch der ansteigenden
Flanke eines hieraus gewonnenen BDQS-Signals weitergeschaltet werden
(bzw. – alternativ – z.B. bei
jeweils den abfallenden Taktflanken der entsprechenden Signale)).
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Wie
in 2 gezeigt ist, wird
das am Anschluß 102a des
Halbleiter-Bauelements anliegende clk-Signal – ggf. unter Zwischenschaltung
einer entsprechenden Receiver-Schaltung – über eine Leitung 103a einem
Eingang der Frequenzteiler-Einrichtung 104 zugeführt.
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Ein
erster Ausgang der Frequenzteiler-Einrichtung 104 – an dem
ein gegenüber
der Frequenz f des Signals clk die halbe Frequenz f/2 aufweisendes Signal
clk2 ausgegeben wird – ist über eine
Leitung 105a an einen ersten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 angeschlossen.
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Durch
die von der Frequenzteiler-Einrichtung 4 erzielte Frequenzteilung
wird erreicht, dass – wie
in 3 gezeigt ist – z.B. jeweils
bei einer positiven Flanke des clk-Signals das Signal clk2 seinen
Zustand wechselt (z.B. bei einer ersten positiven Flanke des clk-Signals
von „logisch
niedrig" auf „logisch hoch", und bei einer zweiten,
darauffolgenden positiven Flanke des clk-Signals zurück von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig").
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Ein
zweiter Ausgang der Frequenzteiler-Einrichtung 104 (an
dem ein gegenüber
der Frequenz f des Signals clk die halbe Frequenz f/2 aufweisendes, zum
Signal clk2 gegengleichinverses Signal bclk2 ausgegeben wird) ist über eine
Leitung 105b an einen zweiten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 angeschlossen.
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Wie
sich aus 2 ergibt, wird
beim dort gezeigten Ausführungsbeispiel – anders
als bei dem in 1 gezeigten
Ausführungsbeispiel – das an
der Leitung 105b ausgegebene Signal bclk2 nicht – direkt – aus einem
am o.g. externen Halbleiter-Bauelement-Anschluß anliegenden bclk-Signal gewonnen, sondern – indirekt – aus dem
zum bclk-Signal inversen clk-Signal.
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Durch
die von der Frequenzteiler-Einrichtung 104 erzielte Frequenzteilung
wird erreicht, dass – wie in 3 gezeigt ist – z.B. jeweils
bei einer positiven Flanke des clk-Signals das Signal bclk2 seinen
Zustand wechselt (z.B. wechselt das Signal bclk2 bei einer ersten
positiven Flanke des clk-Signals – umgekehrt
wie das Signal clk2 – von „logisch
hoch" auf „logisch
niedrig", und bei
einer zweiten, darauffolgenden positiven Flanke des clk-Signals – umgekehrt
wie das Signal clk2 – zurück von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch").
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Wie
aus 2 weiter hervorgeht,
ist ein erster Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 – an dem
ein z.B. durch entsprechende Integration aus dem Signal clk gewonnenes
Signal I2 ausgegeben wird – über eine
Leitung 107a, und eine mit dieser verbundenen Leitung 107c an
einen (zweiten) Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 108a angeschlossen.
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Wie
aus 2 weiter hervorgeht,
ist der erste Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 – zusätzlich – (über die
o.g. Leitung 107a) an einen – zum o.g. zweiten Eingang
der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 108a inversen = ersten
Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 108b angeschlossen.
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Des
weiteren ist ein zweiter Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 – an dem
ein z.B. durch entsprechende Integration aus dem Signal bclk gewonnenes,
invers zum Signal I2 verlaufendes Signal bI2 ausgegeben wird – über eine
Leitung 107b, und eine mit dieser verbundenen Leitung 107d – an einen
ersten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 108a angeschlossen.
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Wie
aus 2 weiter hervorgeht,
ist der zweite Ausgang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 – zusätzlich – (über die
o.g. Leitung 107b) an einen zweiten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 108b angeschlossen.
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Als
Signal-Vergleichs- bzw. Signal-Receiver-Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109b können im Prinzip
beliebige Signal-Vergleichs-
bzw. Signal-Receiver-Schaltungen verwendet werden, z.B. entsprechend ähnlich wie
entsprechende herkömmliche Takt-Receiver-Schaltungen
aufgebaute, z.B. vier kreuzgekoppelte Transistoren (z.B. einen ersten
und einen zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistor, sowie einen ersten
und einen zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistor) aufweisende Receiver-Schaltungen.
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Die
Source des ersten und zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors kann z.B. an eine
(Gleich- bzw. Konstant-) Strom-Quelle angeschlossen sein, die z.B.
mit dem Massepotential verbunden ist.
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Des
weiteren kann z.B. das Gate des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors mit dem o.g. (ersten) Eingang
der jeweiligen Schaltung 108a, 108b, 109a, 109b verbunden
sein, und das Gate des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors mit dem
o.g. (zweiten) Eingang der jeweiligen Schaltung 108a, 108b, 109a, 109b.
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Der
Drain des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors kann z.B. an das
Gate des ersten und zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors angeschlossen
sein, und an den Drain des ersten p-Kanal-Feldeffekttransistors,
sowie an einen (ersten) Ausgang der jeweiligen Schaltung 108a, 108b, 109a, 109b (an
dem – wie in 2 dargestellt – bei den
Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109bz.B.
ein Signal brIclk, rIclk, rclk bzw. brclk abgegriffen werden kann
(die entsprechenden, am jeweiligen zweiten Ausgang der Schaltungen 108a bzw. 109b ausgegebenen
Signale werden beim vorliegenden Ausführungsbeispiel nicht verwendet)).
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Auf
entsprechende Weise kann der Drain des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors
z.B. an den Drain des zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors angeschlossen
sein, sowie an den (zweiten) Ausgang der jeweiligen Schaltung 108a, 108b, 109a, 109b (der
beim vorliegenden Ausführungsbeispiel nicht
verwendet wird)).
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Die
Sourcen des ersten und zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors können z.B.
jeweils an die Versorgungsspannung angeschlossen sein.
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Der
erste Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 108a ist – über eine
Leitung 110a – an
die o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 angeschlossen.
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Auf
entsprechende Weise ist auch der o.g. erste Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 108b über eine
Leitung 110b an die o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 angeschlossen.
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Wie
aus 2 weiter hervorgeht,
wird das o.g. – gegenüber der
Frequenz f des Signals clk die halbe Frequenz f/2 aufweisende Signal
clk2 – außer über die
Leitung 105a an den ersten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 106 zusätzlich noch über eine
an die Leitung 105a angeschlossene Leitung 105c an
einen ersten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 109a zugeführt, und – über eine mit
der Leitung 105c verbundene Leitung 105e – an einen
zweiten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 109b.
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Des
weiteren wird das o.g. – gegenüber der Frequenz
f des Signals bclk die halbe Frequenz f/2 aufweisende Signal bclk2 – außer über die
Leitung 105b an den zweiten Eingang der Signal-Integrier-Einrichtung 6 zusätzlich noch über eine
an die Leitung 105b angeschlossene Leitung 105d an
einen zweiten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 109a zugeführt, und – über eine
mit der Leitung 105d verbundene Leitung 105f – einen
ersten Eingang der o.g. Signal-Vergleichs-Schaltung 109b.
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Ein
erster Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 109a ist – über eine
Leitung 110c – an
die o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 angeschlossen.
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Auf
entsprechende Weise ist auch ein erster Ausgang der Signal-Vergleichs-Schaltung 109b über eine
Leitung 110d an die o.g. Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 angeschlossen.
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Wie
in 3 veranschaulicht
ist, und wie bereits oben erwähnt
wurde, werden die an der Leitung 105a bzw. 105b anliegenden
Signale clk2 bzw. bclk2 von der Signal-Integrier-Einrichtung 106 integriert.
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Der
Pegel des an der Leitung 107a von der Signal-Integrier-Einrichtung 106 ausgegebenen
Signals I2 steigt deshalb – ab
dem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine negative Flanke auftritt – linear-rampenförmig immer
weiter an, bis zu einem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine
positive Flanke auftritt, was dazu führt, dass – bis zur nächsten negativen Flanke des
clk2-Signals – der
Pegel des an der Leitung 107a von der Signal-Integrier-Einrichtung 106 ausgegebenen
Signals I2 linear-rampenförmig immer
weiter abfällt.
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Entsprechend
invers fällt
der Pegel des an der Leitung 107b von der Signal-Integrier-Einrichtung 106 ausgegebenen
Signals bI2 – ab
dem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine negative (bzw. beim Signal
bclk2 eine positive) Flanke auftritt – linear-rampenförmig immer
weiter ab, bis zu einem Zeitpunkt, bei dem beim Signal clk2 eine
positive (bzw. beim Signal bclk2 eine negative) Flanke auftritt,
was dazu führt,
dass – bis
zur nächsten
negativen Flanke des clk2-Signals – der Pegel des an der Leitung 107b von
der Signal-Integrier-Einrichtung 106 ausgegebenen
Signals bI2 linear-rampenförmig
immer weiter ansteigt.
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Wie
weiter aus 3 hervorgeht,
wechselt ein von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 an
einer Leitung 112a ausgegebenes Signal clk50 dann seinen
Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch", wenn das
an der Leitung 110c anliegende Signal rclk seinen Zustand
von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt,
und bereits dann wieder zurück
auf „logisch
niedrig", wenn das
an der Leitung 110b anliegende Signal rIclk seinen Zustand
von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt.
Des weiteren wechselt das von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 an
der Leitung 112a ausgegebene Signal clk50 bereits dann
wieder seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch", wenn das
an der Leitung 110d anliegende Signal brclk seinen Zustand
von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt,
und bereits dann wieder zurück
auf „logisch niedrig", wenn das an der
Leitung 110a anliegende Signal brIclk seinen Zustand von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch" wechselt (mit
anderen Worten findet beim Signal clk50 immer dann ein Signal-Zustandswechsel statt,
wenn eines der Signale rclk, rIclk, brclk oder brIclk eine positive
Taktflanke aufweist).
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Für das von
der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 an einer Leitung 112b ausgegebene
Signal bclk50 gilt das entsprechend umgekehrte, wie oben für das Signal
clk50 erläutert.
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Die
Funktionsweise der in 2 gezeigten Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 101 entspricht somit
im wesentlichen der Funktionsweise der in 1 gezeigten Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1,
außer
dass die Signale brIclk und rIclk, bzw. rclk und brclk jeweils von
zwei verschiedenen, statt jeweils von ein- und derselben Signal-Vergleichs-
bzw. Receiver-Schaltung 108a, 108b, 109a, 109b erzeugt werden,
wobei sämtliche
positive Flanken der – hier verwendeten – Ausgangs-Signale
brIclk und rIclk, bzw. rclk und brclk der Receiver-Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109b jeweils
ausschließlich
von entsprechenden positiven Flanken der entsprechenden die Receiver-Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109b steuernden
Signale (I2 und bI2 bzw. clk2 und bclk2) getriggert werden (und
nicht etwa entweder von positiven, oder von negativen Flanken der
Steuer-Signale I2 und bI2 bzw. clk2 und bclk2).
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Hierdurch
kann verhindert werden, dass durch bei positiven und negativen Flanken
der Steuer-Signale I2 und bI2 bzw. clk2 und bclk2 ggf. unterschiedliche
Signal-Laufzeiten durch die Receiver-Schaltungen 108a, 108b, 109a, 109b Verzerrungen
bei den von der Frequenz-Wiederherstell-Schaltung 111 ausgegebenen
Signalen clk50, bclk50 hervorgerufen werden.
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Wie
aus 4 hervorgeht, können mehrere den
in 1 und/oder 2 gezeigten Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtungen 1, 101 entsprechende
Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtungen 1, 101 hintereinandergeschaltet
werden (z.B. zwei oder drei, etc. Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtungen 1, 101).
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Die
von einer ersten Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtungen 1, 101 ausgegebenen
Signale clk50, bclk50 werden hierbei als Eingangs-Signale für eine zweite,
hinter die erste Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1, 101 geschaltete
Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1, 101 verwendet,
so dass in den Signalen clk50, bclk50 ggf. noch enthaltene Verzerrungen
von der – zweiten – Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung 1, 101 noch
weiter reduziert werden können.
-
- 1
- Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
- 2a
- Anschluß
- 2b
- Anschluß
- 3a
- Leitung
- 3b
- Leitung
- 4
- Frequenzteiler-Einrichtung
- 5a
- Leitung
- 5b
- Leitung
- 5c
- Leitung
- 5d
- Leitung
- 6
- Signal-Integrier-Einrichtung
- 7a
- Leitung
- 7b
- Leitung
- 8
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 9
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 10a
- Leitungspaar
- 10b
- Leitungspaar
- 11
- Frequenz-Wiederherstell-Schaltung
- 12a
- Leitung
- 12b
- Leitung
- 101
- Taktsignal-Ein-/Ausgabevorrichtung
- 102a
- Anschluß
- 103a
- Leitung
- 104
- Frequenzteiler-Einrichtung
- 105a
- Leitung
- 105b
- Leitung
- 105c
- Leitung
- 105d
- Leitung
- 105e
- Leitung
- 105
- Leitung
- 106
- Signal-Integrier-Einrichtung
- 107a
- Leitung
- 107b
- Leitung
- 107c
- Leitung
- 107d
- Leitung
- 108a
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 108b
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 109a
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 109b
- Signal-Vergleichs-Schaltung
- 110a
- Leitung
- 110b
- Leitung
- 110c
- Leitung
- 110d
- Leitung
- 111
- Frequenz-Wiederherstell-Schaltung
- 112a
- Leitung
- 112b
- Leitung
- 201
- Taktsignal-Ein-/Ausgabe-System
- 301a
- Schaltungsabschnitt
- 301b
- Schaltungsabschnitt
- 301c
- Schaltungsabschnitt
- 301d
- Schaltungsabschnitt
- 302a
- Verzögerungseinrichtung
- 302b
- Verzögerungseinrichtung
- 302c
- Verzögerungseinrichtung
- 302d
- Verzögerungseinrichtung
- 303a
- NAND-Gatter
- 303b
- NAND-Gatter
- 303c
- NAND-Gatter
- 303d
- NAND-Gatter
- 304a
- Inverter
- 304b
- Inverter
- 304c
- Inverter
- 304d
- Inverter
- 305a
- Transmission-Gate
- 305b
- Transmission-Gate
- 305c
- Transmission-Gate
- 305d
- Transmission-Gate
- 306a
- Transmission-Gate
- 306b
- Transmission-Gate
- 306c
- Transmission-Gate
- 306d
- Transmission-Gate
- 307a
- Latch
- 307b
- Latch