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Die
Erfindung betrifft eine Ablösevorrichtung zum
Ablösen
einzelner in einem Verbund angeordneter elektronischer Bauteile,
insbesondere in einem Wafer angeordneter Chips, von einem klebenden Träger, bei
der die einzelnen Bauteile von einer Aufnahmeeinrichtung flächenzentriert
aufnehmbar und transportierbar sind, gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches
1.
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Herkömmlicherweise
werden Wafer auf eine dehnbare Trägerfolie aufgesetzt. Anschließend werden
diese Wafer in einem Sägeprozess
in einzelne Chips aufgetrennt. Derartige gesägte Wafer, die in der Regel
auf die Trägerfolie
mittels eines Klebstoffes aufgeklebt sind, bilden mit einem Trägerrahmen
das Eingangsmaterial für
sogenannte Die-Bond-Prozesse.
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Um
ein Ablösen
einzelner Chips von einer solchen klebenden Trägerfolie zu bewirken, weist eine
dafür vorgesehene
Ablösevorrichtung
als Ablösewerkzeug
ein nadelartiges Element, den sogenannten Die-Ejector, und eine
Aufnahmeeinrichtung, die als Vakuumpipette ausgebildet ist, auf.
Die Vakuumpipette wird auf einer oberseitigen Oberfläche des Chips
mittels eines zwischen der Chipoberfläche und der Vakuumpipette erzeugten
Vakuums positioniert. Danach wird von der Rückseite, also der unterseitigen
Oberfläche
des folienartigen Trägers
und des Chips die Nadel derart an den Chip herangefahren, dass sie
zunächst
die Trägerfolie
durchstößt und mit ihrer
Nadelspitze von unten gegen den zu lösenden Chip drückt. Anschließend wird
der Chip, der zwischen der Vakuumpipette, auch Pickup-Tool genannt,
und der Nadelspitze eingespannt ist, durch die synchron bewegten
Pipette und Nadel von der Trägerfolie
abgehoben.
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Derartige
punktuell stattfindende Nadeleinwirkungen mittels der Nadelspitze
auf die unterseitige Chipoberfläche
haben jedoch häufig
ein Zerbrechen des abzulösenden
Chips zufolge, da kein gleichzeitiges Abheben sämtlicher Flächenanteile der unterseitigen
Oberfläche
des Chips von der klebenden Trägerfolie
aufgrund der zu der Chipfläche unterschiedlichen
Querschnittsflächenform
der Nadelspitze erfolgt.
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Zudem
besteht insbesondere bei dünnschichtigen
Chips die Gefahr des Durchstechens der Nadelspitze durch den Chip.
Zudem setzt eine Vorrichtung, die eine derartige Ausstoßnadel verwendet, häufig voraus,
dass der Chip im Vergleich zur Trägerfolie relativ starr ist,
so dass die von der Rückseite her
agierende Ejector-Nadel zwar die Trägerfolie dehnt, jedoch den
Chip dennoch von der Folie abhebt.
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Eine
derartige Vorrichtung führt
den Ablösevorgang
in der Regel bei leicht temperierter Umgebungstemperatur, also nahezu
bei Zimmertemperatur, durch. Die Haftwirkung des Klebstoffes, der
auf der klebenden Trägerfolie
aufgetragen ist, bleibt bei diesem Vorgang unberührt.
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Um
ein leichtes und einfaches Ablösen
ohne Zerstörung
der Chips selbst bei der Verwen dung dünnerer Chips, die sich häufig selbst ähnlich wie eine
Folie verhalten, zu fördern,
werden Träger
mit temperatursensitiven Klebstoffen verwendet, deren flächenselektive
Erwärmung
ein stellenweises Deaktivieren des wärmelösenden Klebstoffes und damit das
Abheben einzelner Chips von dem Träger ermöglicht.
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Da
die flächenselektive
Erwärmung
des Trägers
jedoch nicht genau auf die Fläche
eines einzelnen Chips begrenzt werden kann, werden in der Regel
zu dem abzulösenden
Chip benachbarte Chips zumindest teilweise mit Flächenanteilen
von dem Träger
ebenso abgelöst,
so dass sich eine Schräglage
der benachbarten Chips einstellt. Dies hat wiederum zur Folge, dass
eine genaue Positionierung der Vakuumpipette auf der oberseitigen
Oberfläche
eines einzelnen Chips nur sehr schwer durchführbar ist. Jedoch ist eine
derartige genau zentrierte Positionierung der Vakuumpipette für eine spätere exakte
Positionierung des Chips innerhalb einer elektronischen Schaltung
zwingend notwendig. Demzufolge entstehen durch mittels der Vakuumpipette
aufgenommene zuvor angekippte und verdrehte Chips Lagefehler bei deren
Positionierung innerhalb einer elektronischen Schaltung, die zu
einer Fehlfunktion der Schaltung führen können.
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Ein
wesentlicher Punkt bei der nicht möglichen exakten Aufnahme angekippter
oder verdrehter Chips sind Lichteffekte an der Oberfläche der
Chips, die in der Regel durch Lichtreflektionen und seitliche Einstrahlung
der über
dem Wafer angeordneten Lichtquellen entstehen. Hierbei dient zur
Erfassung der einzelnen abzulösenden
Chips vor deren Aufnahme durch die Vakuumpipette eine oberseitig
angeordnete Erfassungskamera, deren pixelartige Erfassung eine genaue
Positionierung der Vakuumpipette im Verhältnis zu der oberseitigen Oberfläche eines Chips
ermöglichen
soll.
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Sofern
einzelne Chips bedingt durch eine stellenweise Erwärmung des
darunter angeordneten klebenden Trägers eine extreme Schräglage mit
großem
Kippungswinkel eingenommen haben, ist eine Erfassung derartiger
Chips mittels der Erfassungskamera aufgrund der stattfindenden Lichtreflektionen und
-brechungen an dem schrägen
Chip nicht mehr möglich.
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Aus
JP 59-210 651 A ist eine Ablösevorrichtung
zum Ablösen
einzelner in einem Verbund getrennt voneinander angeordneter elektronischer
Bauteile von einem Träger
bekannt. Zur visuellen Erfassung einzelner Chips ist sowohl unterhalb
des Trägers
als auch oberhalb des Trägers
jeweils eine Lichtquelle in Verbindung mit einer CCD-Kamera angeordnet.
Die unterhalb des Trägers
angeordnete Lichtquelle ist flächenhaft
ausgebildet und weist eine Öffnung
auf, um darin einen Nadelhalter zum Ablösen einzelner Chips aufzunehmen.
Es ist keine Kühlung
für die
Lichtquelle vorgesehen, unter anderem auch deswegen, da nicht die
Verwendung eines Heizelementes anstelle der angeordneten Nadel vorgesehen
ist. Auch die von der Lichtquelle an sich ausgehende Erwärmung der
Lichtquellenumgebung wird nicht unterdrückt. Dies kann zur Folge haben,
dass ein ungewolltes bzw. vorzeitiges Ablösen einzelner noch nicht ausgewählter Chips
von einem klebenden Träger
aufgrund der Erwärmung
der Lichtquellenumgebung stattfindet.
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US 5,307,154 A zeigt
einen Chippositionsdetektor, der als Lichtquelle zwei verstellbare
optische Glasfaserkabel unterhalb eines Chipträgers im Bereich einer Nadel
aufweist. Aufgrund der zur Trägerebene
schräg
angeordneten Glasfaserenden finden ungewollte Lichtbrechungen und
Lichtbeugungen an den Zwischenräumen
zwischen den flächenhaft
angeordneten Chips statt, die dazu führen, dass eine positionsgenaue
Erfassung eines abzulösenden Chips
mittels einer CCD-Kamera nicht zuverlässig möglich ist.
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JP
05-090 408 A zeigt eine Chipaufnahmevorrichtung, die mehrere erwärmbare Nadeln
zum Ablösen
eines einzelnen Chips von einer Trägerfolie benutzt. Hinweise
zu einer Lichtquelle zur besseren Bestimmung der Position des abzulösenden Chips sind
dieser Druckschrift nicht zu entnehmen.
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US 6,598,989 B2 zeigt
eine Lichtquellenmodulstruktur mit einer Mehrzahl von Lichtquellen
von Lichtführungseinheiten.
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US 5,779,338 A betrifft
eine Lichtquelle zur Abstrahlung von Licht über eine größere Fläche hinweg.
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US 6,473,554 B1 zeigt
eine Lichtvorrichtung mit geringer Tiefe zur Verwendung als Hintergrundbeleuchtung
von Anzeigen.
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Blumenfeld,
A. M.; Jones, S.E.: Parts that glow. In: Machine Design 29, Okt.
1959, S. 94-103 betrifft das Leiten von Lichtstrahlen in speziell
hierfür ausgebildeten
Lichtleitern zur geeigneten Abstrahlung von Licht mit einer bestimmten
Grundfläche
und in eine bestimmte Richtung.
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Pearson,
H.: Piping light with acrylic materials. In: Modern Plastics, 1946,
Vol. 23, Nr. 12, S. 123-127 zeigt das Lichtleiten in Acrylmaterialien.
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US 3,043,947 hat ein Lichtverteilungslinsensystems
mit einer Vielzahl von kleinen flächenhaft angeordneten Linsen
zum Inhalt.
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EP 0 978 683 A1 zeigt
eine optische Anzeigevorrichtung mit einer Lichtquelle, deren abgestrahltes
Licht in einer Lichtaustrittsfläche
der Anzeigevorrichtung über
ein optisch wirksames, scheibenförmig
ausgebildetes Abstrahlelement gerichtet austritt, wobei das Abstrahlelement
als Lichtleiter ausgebildet ist.
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Demzufolge
liegt der vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Ablösevorrichtung
zum Ablösen
einzelner in einem Verbund angeordneter elektronischer Bauteil,
insbesondere in einem Wafer angeordneter Chip von einem klebenden
Träger
zur Verfügung
zu stellen, die zum einen das vorzeitige und unerwünschte Ablösen einzelner
Chips und zum anderen die Zerstörung
einzelner Chips während
des Ablösevorganges
sowie die schlechte oder nicht stattfindende Erfassung der abzulösenden Chips
bei der Schräg-
und/oder Verdrehlage vermeidet.
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Diese
Aufgabe wird gemäß den Merkmalen des
Patentanspruches 1 gelöst.
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Ein
wesentlicher Punkt der Erfindung liegt darin, dass bei einer Ablöseeinrichtung
zum Ablösen einzelner
in einem Verbund getrennt voneinander angeordneter elektronischer
Bauteile, wie in einem Wafer angeordneter Chips, von einem klebenden
Träger zur
visuellen Erkennung der einzelnen Bauteile ein plattenförmiges,
lichtemittierendes Element vorzugsweise aus wärmebeständigem Material mit mindestens
einer durchgehenden Öffnung
zum Darinanordnen eines flächenbegrenzt
wirkenden Ablösewerkzeuges
an einer den Bauteilen abgewandten unterseitigen Oberfläche des
Trägers
verschiebbar angeordnet ist und ein erstes gas- oder flüssigkeitstransportierendes
Element mit dem plattenförmigen,
lichtemittierenden Element verbunden ist. Auf diese Weise wird eine
unterseitige Beleuchtung des Wafers begrenzt auf den Bereich des
abzulösenden
Chips erhalten während
am oder im lichtemittierenden Element eine Kühlung durchgeführt wird,
die aufgrund der Erwärmung
des lichtemittierenden Elementes selbst oder eines verwendeten Heizelementes
zum Ablösen
eines Bauteils entstehen kann. Dies hat zur Folge, dass nicht der
Chip selbst, sondern den Chip umgebende Sägegräben, die zum Voneinandertrennen
der einzelnen Chips innerhalb des Wafers dienen, in einem Bild einer
Erfassungskamera, die oberseitig zu dem Wafer angeordnet ist, leuchten
und somit ein Erkennen eines Schattenbildes des abzulösenden Chips
sicherstellen. Somit ist selbst bei einer Schräglage einzelner Chips eine
Erfassung dieser Chips mittels der Kamera – auch bei einer extremen Schräglage – sichergestellt.
Ebenso sind auch gebrochene Chips, die über ihre Fläche verlaufende Chipbruchkanten
aufweisen, ausnahmslos erkennbar. Zudem ermöglicht ein derartiges Schattenbild
durch das Unterdrücken
von Lichtreflektionen und -brechungen eine genaue Positionierung
einer Aufnahmeeinrichtung oberhalb einer oberseitigen Oberfläche eines abzulösenden Chips,
wobei die Aufnahmeeinrichtung als Vakuumpipette den Chip flächenzentriert
ansaugen und transportieren soll.
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Das
lichtemittierende Element besteht vorzugsweise aus einem homogen
lichtleitenden und wärmebeständigen Material – wie Glas
oder eine lichttransmittierende Folie-, welches eine homogene Verteilung
des Lichts über
das gesamte Volumen des plattenförmigen
lichtemittierenden Elementes zulässt.
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Das
lichtemittierende Element weist mit Ausnahme von Lichtein- und -ausgängen eine
nach innen lichtreflektierende Oberfläche auf, so dass die in dem
Element sich ausbreitenden Lichtstrahlen nur an vorbestimmten Lichtausgängen austreten
können. Derartige
Lichtausgänge
können
an Seitenwänden der
durchgehenden Öffnung
verteilt angeordnet sein und das emittierende Licht vorteilhaft
auf die Umgebung eines einzelnen abzulösenden Chips durch eine spezielle
Ausgestaltung der Seitenwände
konzentrieren. Hierfür
sind die Seitenwände
derart geneigt angeordnet, dass sich der Verlauf des Durchgangsloches
zur Trägeroberfläche hin
erweitert. Zusätzlich
können
die Seitenwände
gekrümmt,
vorzugsweise konkav oder konvex zur unterseitigen Trägeroberfläche hin
verlaufend ausgebildet sein.
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Alternativ
kann für
eine flächenhaft
begrenzte Lichtemission des lichtemittierenden Elementes bezogen
auf die unterseitige Oberfläche
des Trägers die
oberseitige, lichtreflektierende Oberfläche des lichtemittierenden
Elementes Lichtsaustrittsflächen darstellende
Unterbrechungen aufweisen. Derartige Lichtaustrittsflächen können als
Nuten, beispielsweise als ringförmig
oder linear angeordnete Nuten, ausgestaltet sein. Die Herstellung
derartiger Licht austrittsflächen
in beliebiger Größe kann
durch eine mechanische Nachbearbeitung – wie beispielsweise einem
Graviervorgang oder einem Abschleifvorgang – der verspiegelten Oberfläche durchgeführt werden. Alternativ
kann die verspiegelte Oberfläche
bereits mit Unterbrechungen während
ihrer Herstellung auf das lichtemittierende Element aufgetragen
werden.
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Durch
die Anordnung derartiger Verspiegelungsunterbrechungen in beliebiger
Form und beliebigem Flächenausmaß wird eine
flächenbegrenzte Lichtemission
der unterseitigen Oberfläche
des Trägers
mit gewünschter
Helligkeit erreicht.
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Gemäß einer
bevorzugten Ausführungsform entspricht
eine Querschnittsfläche
der durchgehenden Öffnung
und eine Wirkungsfläche
des Ablösewerkzeuges
im Wesentlichen der Fläche
eines Bauteils. Hierbei kann die Wirkungsfläche des Ablösewerkzeuges einer Fläche einer
die Trägeroberfläche berührenden
Vorderseite des Heizelementes entsprechen.
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Durch
die Verwendung eines solchen Heizelementes als Ablösewerkzeug,
dessen die unterseitige Trägeroberfläche berührende Vorderseite
im Wesentlichen der Flächenausdehnung
eines Chips entspricht, kann eine genau begrenzte flächenselektive Wärmeeinwirkung
auf den wärmelöslichen
Klebstoff des klebenden Trägers
erreicht werden. Dies hat zur Folge, dass benachbarte Chips und
die darunter liegenden Trägerflächen nicht
mehr stellenweise erwärmt
werden und demzufolge eine Schräglage
dieser Chips vermieden wird.
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Alternativ
zu der Verwendung eines Heizelementes ist die Verwendung eines nadelartigen
Elementes mit mindestens einer innerhalb der mindestens einen durchgehenden Öffnung parallel
zu deren Verlauf verschiebbaren Nadel möglich. Ein derartiges Ablösewerkzeug
kann durch die Ausbildung mehrerer Nadeln ein Chipmodul flächenhaft
berühren
und somit dessen vorzeitige Zerstörung während des Ablösevorganges
vermeiden.
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Die
mittels eines Heizelementes durchgeführte begrenzte Wärmeeinwirkung
durch eine am oder im lichtemittierenden Element stattfindende Kühlung mittels
dem mit dem lichtemittierenden Element verbundenen plattenförmigen flüssigkeits-
oder gastransportierenden Elementes unterstützt. Ein derartiges Element
kann plattenförmig
mit nutenförmig strukturierter
zur unterseitigen Oberfläche
des Trägers
hingewandter Oberfläche
ausgebildet sein. Es kann entweder sandwichartig zum plattenförmigen lichtemittierenden
Element oder in einer gemeinsamen Ebene mit dem lichtemittierenden
Element angeordnet sein.
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Sofern
eine sandwichartige Anordnung dieses Elementes zu dem lichtemittierenden
Element vorhanden ist, ist eine Gestaltung des Elementes mit gleichen
Abmaßen
wie das lichtemittierende Element denkbar. Da die durchgehende Öffnung des
lichtemittierenden Elementes ebenso wie eine dazu flächendeckend
angeordnete durchgehende Öffnung
des plattenförmigen
flüssigkeits-
oder gastransportierenden Elementes eine Querschnittsfläche aufweisen, die
in etwa der Fläche
eines Chips entspricht, umgibt eine kühlende Fläche des kühlenden Elementes einen einzeln
abzulösenden
Chip und kühlt
flächenbegrenzt
die dazu benachbarten Chips zur Vermeidung deren stellenweiser Ablösung von
dem Träger.
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Ein
weiteres gas- oder flüssigkeitstransportierendes
Element kann mit dem plattenförmigen
lichtemittierenden Element und/oder dem erstgenannten Element verbunden
sein. Dieses weitere Element ist vorzugsweise plattenförmig ausgebildet
und sandwichartig mit gleichen Abmaßen in beliebiger Reihenfolge
zu dem anderen Element und dem lichtemittierenden Element angeordnet,
um mittels seiner nutenförmig
strukturierten Oberfläche
durch eine Vielzahl von Perforationslöchern des in der Regel darüber angeordneten
lichtemittierenden Elementes eine Flüssigkeit oder ein Gas bezüglich der
unterseitigen Oberfläche
des Trägers
zu- oder abzuführen.
Auf diese Weise ist beispielsweise das Zuführen von einem Druckgas zur
Bildung eines Luftkissens zwischen der unterseitigen Oberfläche des
Trägers
und dem lichtemittierenden plattenförmigen Element für den Transport
einzelner Chips möglich.
Alternativ kann mittels dem plattenförmigen Element mit einer derartig
nutenförmig
ausgebildeten Oberfläche
ein Vakuum an der unterseitigen Oberfläche des Trägers erzeugt werden, um eine
Lagefixierung des lichtemittierenden plattenförmigen Elementes gegenüber dem
Wafer zu erreichen.
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Gemäß einer
weiteren bevorzugten Ausführungsform
ist das weitere gas- oder flüssigkeitstransportiernde
Element nicht ober- oder unterhalb, sondern in einer gemeinsamen
Ebene mit dem lichtemittierenden Element derart angeordnet, dass
eine Vakuum- oder Luftpolstererzeugung begrenzt auf die den abzulösenden Chip
umgebende Trägerfläche erhalten
wird.
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Das
weitere Element kann anstatt einer plattenförmigen Ausgestaltung eine räumlich abgedichtete
Ausgestaltung unterhalb des lichtemittierenden Elementes mit den
durchgehenden Öffnungen
darstellen. Innerhalb dieses vorzugsweise gasdichten Raums ist dann
eine Anordnung des Ablösewerkzeuges
denkbar.
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Die
Lichteingänge
des lichtemittierenden Elementes sind mit Lichtleitern einer externen
Lichtquelle, die Licht in einem vorbestimmten Wellenlängenbereich
abstrahlt, verbunden. Alternativ kann eine an einem Außenrand
des lichtemittierenden Elementes angeordnete Lichtzeilenquelle,
beispielsweise in Form einer LED-Zeile, angeordnet sein und eine Lichteinkopplung
in das lichtemittierende Element mittels außenrandiger ebener oder konkav
gekrümmter
Flächen
erfolgen.
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Weitere
vorteilhafte Ausführungsformen
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
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Vorteile
und Zweckmäßigkeiten
sind der nachfolgenden Beschreibung in Verbindung mit der Zeichnung
zu entnehmen. Hierbei zeigen:
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1 eine
Draufsicht eines gesägten
Wafers auf einer Trägerplatte;
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2 eine
Schnittansicht durch die Trägerplatte
aus 1 entlang der Linie II-II;
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3 eine
perspektivische schematische Ansicht des erfindungsgemäßen Teils
der Ablösevorrichtung
gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung;
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4 eine
detaillierte auseinandergezogene Ansicht des erfindungsgemäßen Teils
der Ablösevorrichtung
gemäß der Ausführungsform
der Erfindung;
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5 eine
schematische Querschnittsansicht von drei verschiedenen Lichtausgängen eines lichtemittierenden
Elementes gemäß der Ausführungsform
der Erfindung;
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6 ein
Kamerabild eines Wafer-Ausschnitts bei Anwendung des erfindungsgemäßen Teils
der Ablösevorrichtung
gemäß der Ausführungsform
der Erfindung;
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7 eine
schematische Querschnittsdarstellung der erfindungsgemäßen Ablösevorrichtung mit
einem Ablösewerkzeug
gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung;
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8 eine
schematische Querschnittsdarstellung der erfindungsgemäßen Ablösevorrichtung mit
einem vakuumerzeugenden Elementes gemäß einer weiteren Ausführungsform
der Erfindung; und
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9a-d
in schematischen Querschnittsdarstellungen vier verschiedene mögliche Anordnungen der
einzelnen Elemente der Ablösevorrichtung
gemäß weiterer
Ausführungsformen
der Erfindung.
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Die
in 1 dargestellte Draufsicht eines gesägten Wafers
auf einem Träger
beinhaltet eine Trägerfolie 1 für einen
bereits gesägten
Wafer 2, der aus einer Vielzahl von bereits voneinander
getrennten Chips 3 besteht. Es kann sich hierbei um einen
Wafer beziehungsweise Chips handeln, deren Dicke unter 60 μm liegen
und die ein folienähnliches
Verhalten aufweisen.
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2 zeigt
eine Schnittansicht durch die Trägerplatte
aus 1 entlang der Linie II-II. Der Wafer 2 ist
auf der Trägerfolie 1 mit
Hilfe einer Klebefolie 4 aufgeklebt. Die Klebefolie 4 besteht
aus einem wärmelöslichen
Klebstoff, das heißt
einem Klebstoff, der bei Erwärmung
seine Klebeeigenschaften verliert beziehungsweise stark verringert.
Im vorliegenden Fall ist hierzu eine Erwärmung des Klebstoffes auf eine Temperatur
von ca. 400°C
erforderlich. Die Trägerplatte
weist eine unterseitige Oberfläche 1a auf.
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Den 3 und 4 ist
ein erfindungsgemäßer Teil
der Ablösevorrichtung
gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung zu entnehmen. Der erfindungsgemäße Teil 5 besteht
aus einer sandwichartigen Übereinanderanordnung
von plattenförmigen Elementen
mit einem zentrischen Durchgangsloch und ist als Einheit unterhalb
der Trägerplatte
verschiebbar angeordnet. Der Teil 5 kann bezüglich des Durchgangsloches 7 genau
unterhalb eines einzelnen abzulösenden
Chips angeordnet werden.
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Im
Einzelnen setzt sich das Teil 5 aus einem lichtemittierenden
plattenförmigen
Element 6, einem ersten plattenförmigen gas- oder flüssigkeittransportierenden
Element 10 und einem zweiten plattenförmigen gas- oder flüssigkeittransportierenden
Element 12 zusammen. Das lichtemittierende plattenförmige Element 6 ist
als Lichtleiterplatte mit einem Material mit hohem Lichtransmissionsgrad
ausgebildet, wobei deren Oberfläche
mit Ausnahme von Lichtein- und -ausgängen eine nach innen gerichtete
Lichtreflektion erzeugt. Das Material dieser Lichtleiterplatte ist
zudem wärmebeständig, so
dass sich eine zum Ablösen
einzelner Chips und zur Deaktivierung des Klebstoffes erforderliche
Temperatur von ca. 400°C nicht
funktionseinschränkend
bezüglich
der optischen Eigenschaften auf die Lichtleiterplatte auswirkt.
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Das
lichtemittierende plattenförmige
Element weist die zentrisch angeordnete Durchgangsbohrung mit Seitenwänden 7a auf,
wobei innerhalb der Durchgangsbohrung ein Heizelement 8 mit
einer Vorderseite 8a, die an die unterseitige Oberfläche 1a der
Trägerplatte 1 angrenzt,
und zur flächenselektiven
Erwärmung
eines einzelnen Chips 3 dient, angeordnet ist. Hierfür weist
die Fläche
der Vorderseite 8a in etwa die Flächenabmessung eines einzelnen Chips
auf, so dass die flächenmäßige Erwärmung zur Deaktivierung
des Klebstoffes auf die Abmaße
eines Chips innerhalb des Wafers begrenzt werden könne.
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Die
Lichtleitplatte 6 ist zudem mit Lichtausgängen 9 und
Lichteingängen 9a versehen,
wobei die Lichtausgänge 9 auf
die Seitenwände 7a der
Durchgangsbohrung 7 verteilt angeordnet sind.
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Um
eine diffus nach außen
mittig und nach oben gerichtete Ausstrahlung des Lichtes über die zentrische
Seitenwandfläche 7a zu
erhalten, ist die Seitenwand 7a kegelförmig ausgebildet, das heißt ihr Verlauf
von unten nach oben zur Trägeroberfläche 1a hin
erweitert sich. Zudem kann diese Seitenwand konkav verlaufend ausgebildet
sein.
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Das
Licht wird über
die Lichteingänge 9a im Außenrandbereich
der Platte partiell eingekoppelt und innerhalb der Lichtleiterplatte
bis zu den Lichtausgängen
weitergeleitet. Hierbei sorgt die nach innen lichtreflektierende
Oberfläche
für die
Vermeidung eines unkontrollierten Lichtaustritts.
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Durch
die Anordnung einer derartigen Lichtleiterplatte mit dem Durchgangsloch 7,
in welchem das Heizelement 8 zentral angeordnet ist, werden Säge- oder
Ritzgräben,
die zwischen den einzelnen Chips innerhalb eines Wafers angeordnet
sind, als Hellfeld an der Oberseite des Wafers abgebildet und ermöglichen
eine genaue Zentrierung einer von oben hier nicht gezeigten zugreifenden
Vakuumpipette bezüglich
der Oberfläche
eines einzelnen abzulösenden
Chips.
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Das
erste gas- oder flüssigkeittransportierende
Element 10 weist eine nutenförmig strukturierte Oberfläche 11 auf,
deren Nuten zum Transport von Flüssigkeit
oder Gas zu oder von der unterseitigen Oberfläche 1a der Trägerplatte über eine
Mehrzahl von Perforationslöchern
innerhalb der Lichtleiterplatte 6 dient. Beispielsweise
kann eine Lagefixierung des Teils 5 bezüglich der Trägerplatte 1 mittels
eines dazwischen aufgebauten Vakuums, bei dem Luft über die
Nuten der nutenförmigen
Struktur 11 und die nicht gezeigten Perforationslöcher innerhalb
des Elementes 6 abgesaugt wird, hergestellt werden. Alternativ
ist durch Zuführung
von Luft über
die nutenförmige
Struktur der Oberfläche 11 und
die Perforationslöcher
eine Luftkissenbildung für
Transportzwecke denkbar.
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Ein
zweites gas- oder flüssigkeittransportierendes
Element 12 mit einer nutenförmig strukturierten Oberfläche ist
unterhalb des ersten plattenförmigen
Elementes 10 angeordnet und dient beispielsweise zur Kühlung der
Flächen
der Element 6, 10 und 12 mit Ausnahme
darin mittig angeordneter Durchgangsbohrungen 7, 14 und 15 mittels
einer in den Nuten geführten
Flüssigkeit,
um eine exakte Begrenzung der beheizten Fläche, in welcher der Klebstoff zum
Ablösen
eines einzelnen Chips erwärmt
wird, zu erreichen.
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In 5 sind
in einer schematischen Querschnittsdarstellung drei Varianten der
Seitenwände 7a der
Lichtleiterplatte 6 zu sehen. Die kegelförmige Ausgestaltung
der Seitenwand 7a gemäß der ersten Variante
dient zum nach oben gerichteten Austritt der Lichtstrahlen, um die
den abzulösenden
Chip begrenzenden Sägegräben von
oben betrachtet optimal ausgeleuchtet erscheinen zu lassen. Um auch benachbarte
Sägegräben zu beleuchten,
kann die Seitenwand 7a gemäß der zweiten und dritten Variante
konkav oder konvex ausgebildet sein.
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In 6 wird
ein Bild eines Wafer-Ausschnitts dargestellt, wie es von einer oberhalb
des Wafers angeordneten Kamera bei Anordnung der erfindungsgemäßen Ablösevorrichtung
gesehen wird. Das plattenförmige
lichtemittierende Element beleuchtet von der Unterseite her die
Umgebung eines einzelnen abzulösenden
Chips 13 derart, dass Sägegräben 16 hell
erscheinen und eine genaue Präzisierung
der Lage des Chips 3 anhand dessen Schattenbildes erleichtert
wird.
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In 7 wird
in einer schematischen Querschnittsdarstellung die Ablösevorrichtung
mit einem Ablösewerkzeug
gemäß einer
weiteren Ausführungsform
der Erfindung gezeigt. Wie der Darstellung zu entnehmen ist, besteht
das Ablösewerkzeug
aus einem nadelartigen Element 17 mit einer Mehrzahl von Nadeln 18,
die durch eine Mehrzahl von Durchgangslöchern 19 zu der unterseitigen
Oberfläche 1a des Trägers hin
verschoben werden können.
Auf diese Weise wird ein flächenhaft
gleichzeitiges Wegdrücken
des gesamten Chips von der Trägerfolie
sichergestellt.
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In 8 wird
in einer schematischen Darstellung die Ablösevorrichtung mit dem nadelartigen Element 17 innerhalb
eines vakuumisierten Raumes 20 dargestellt. Der vakuumisierte
Raum 20 stellt letztendlich das gas- oder flüssigkeitstransportierende Element 10 dar,
welches zur Erzeugung eines Vakuums an der unterseitigen Oberfläche des
Trägers
geeignet sein soll. Hierfür
weist das lichtemittierende Element 6 weitere Durchgangslöcher 21 auf.
Zusätzlich
dienen Seitenwände 22 zur
Schaffung des vakuuminisierten Raumes 20. Außerdem kann
ein Lichtleiter 23 entlang der Seitenwand 22 als
Lichteingang angeordnet sein.
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In
den 9a-9d werden in schematischen Querschnittsdarstellungen
vier verschiedene Varianten einer möglichen Zueinanderanordnung des
lichtemittierenden Elementes 6, des vakuum- oder drucklufterzeugenden
Elementes 10 und des kühlenden
Elementes 12 gezeigt.
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In 9a sind
sämtliche
Elemente 6, 10 und 12 plattenförmig ausgebildet
und sandwichartig untereinander angeordnet. Mittels der Durchgangslöcher 21 innerhalb
des lichtemittierenden Elementes 6 wird das durch das Vakuum
erzeugende Element 10 erschaffende Vakuum ebenso an der
unterseitigen Oberfläche 1a des
Trägers
erzeugt.
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In 9b ist
gemäß einer
zweiten Variante das vakuumerzeugende Element 10 nicht
unterhalb, sondern oberhalb und auch teilweise neben dem lichtemittierenden
Element 6 angeordnet. Ein in dem Vakuum erzeugenden Element 10 bestehender
Raum 24 dient zur flächenhaften
Verteilung des Vakuums auf die hier nicht gezeigte unterseitige
Oberfläche des
Trägers
mittels Durchgangslöcher 25.
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In 9c wird
gemäß einer
dritten Variante die Nebeneinanderanordnung des vakuumisierten Elementes 10 und
des kühlenden
Elementes 12 unterhalb des lichtemittierenden Ele mentes 6 gezeigt. Auf
diese Weise ist eine schnelle und einfache Kühlung unmittelbar in an die
Seitenwände 7a des
Durchgangsloches 7 angrenzende Bereiche möglich, so dass
ein ungewolltes Sichablösen
benachbarter Chips vermieden wird.
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In 9d ist
gemäß einer
vierten Variante das vakuumerzeugende Element 10 in einer
gemeinsamen Ebene mit dem lichtemittierenden Element 6 angeordnet.
Unterhalb dieser beiden Elemente 6, 10 erstreckt
sich flächendeckend
das kühlende
Element 12, welches eine Ausnehmung zur Aufnahme einer Lichtleitfaser 26,
die einen Lichteingang für
das lichtemittierende Element 6 darstellt, aufweist.
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Die
erfindungsgemäße Vorrichtung
kann nicht nur in Verbindung mit einem mittig angeordneten Heizelement,
sondern auch mit jedem andersartigen Element, welches dazu geeignet
ist, die Haftung eines Klebstoffes zu deaktivieren, verwendet werden.
Beispielsweise kann ein UV-lichtemittierendes Element dazu verwendet
werden, einen sich im UV-Licht auflösenden Klebstoff stellenweise
zu deaktivieren. Alternativ kann mindestens ein Laserstrahl zur
Deaktivierung des Klebstoffes verwendet werden.
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Alternativ
kann in den Durchgangsbohrungen der plattenförmigen Elemente auch – wie bisher – eine Nadel
angeordnet werden, sofern es sich um abzulösende Chips mit ausreichender
Dicke handelt.
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- 1
- Trägerfolie
- 1a
- unterseitige
Oberfläche
des Trägers
- 2
- Wafer
- 3
- Chips
- 4
- Klebefolie
- 5
- sandwichartige
Anordnung der plattenförmigen
Elemente
- 6
- lichtemittierendes
plattenförmiges
Element
- 7
- Durchgangsloch
des lichtemittierenden Elementes
- 7a
- Seitenwand
des lichtemittierenden Elementes im Durchgangslochbereich
- 8
- Heizelement
- 8a
- Vorderseite
des Heizelementes
- 9
- Lichtausgänge
- 9a
- Lichteingänge
- 10
- erstes
plattenförmiges
Element mit nutenförmig
strukturierter Oberfläche
- 11
- nutenförmig strukturierte
Oberfläche
des ersten plattenförmigen
Elementes
- 12
- zweites
plattenförmiges
Element mit nutenförmig
strukturierter Oberfläche
- 13
- nutenförmig strukturierte
Oberfläche
des zweiten plattenförmigen
Ele
-
- ments
- 14
- Durchgangsloch
des ersten plattenförmigen
Elementes
- 15
- Durchgangsloch
des zweiten plattenförmigen
Elementes
- 16
- Sägegraben
- 17
- nadelartiges
Element
- 18
- Nadeln
- 19
- Durchgangslöcher im
lichtemittierenden Element
- 20
- vakuumisierter
Raum
- 21
- Durchgangslöcher im
lichtemittierenden Element für
eine Vakuumbildung
- 22
- Seitenwände
- 23,
26
- Lichtleiter
- 24
- vakuumiierter
Bereich
- 25
- Durchgangslöcher zur
Vakuumbildung