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Diese Erfindung bezieht sich allgemein
auf digitale integrierte elektronische Schaltungen und insbesondere
auf einen digitalen dynamischen Multiplexer (MUX).
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Ein Multiplexer (oder MUX oder Datenselektor)
weist eine Gruppe von Steuerungseingängen auf, die verwendet wird,
um einen einer Gruppe von Dateneingängen auszuwählen und diesen Eingang mit
dem Ausgangsanschluß zu
verbinden oder den Wert auf diesem Eingang weiterzuleiten. MUXs
sind in vielen unterschiedlichen Logikfamilien implementiert, die
statische Logikfamilien und dynamische Logikfamilien umfassen. Eine
derartige Implementierung eines dynamischen Logik-MUX ist in 1 gezeigt.
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Leider leidet der dynamische Logik-MUX
aus 1 an zumindest einem
Problem. Ein Leckstrom unterhalb einer Schwelle durch Transistoren
auf den nicht ausgewählten
Eingängen
kann bewirken, daß der
Ausgang falsch schaltet. Dieses Problem wird verschlimmert, wenn,
um die Geschwindigkeit zu erhöhen,
die Prozeßtechnologie
modifiziert ist, um die Schwellenspannung der Transistoren kleiner
zu machen.
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Es ist die Aufgabe der vorliegenden
Erfindung, einen Multiplexer mit verbesserten Charakteristika zu
schaffen.
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Diese Aufgabe wird durch einen Multiplexer gemäß Anspruch
1, 6 oder 9 gelöst.
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Ein dynamischer Logikmultiplexer
weist Pullups bzw. Hochzieh-Einrichtungen hinsichtlich seiner Eingangssignale
auf, die die Eingangssignale hochziehen, wenn dieselben nicht ausgewählt sind.
Dies reduziert einen Leckstrom, der zu einem falschen Schalten des
Ausgangs beitragen kann. Die Aus gangsstufe des Multiplexers umfaßt einen „gelatchten" dynamischen Knoten,
gefolgt durch zwei Verstärkungsstufen,
und einen Open-Drain- bzw. Offenes-Drain-Ausgang.
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Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden
Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beigefügten Zeichnungen
näher erläutert. Es
zeigen:
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1 einen
dynamischen Logik-MUX des Stands der Technik; und
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2 eine
schematische Darstellung eines verbesserten dynamischen Logik-MUX.
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1 ist
ein dynamischer Logik-MUX des Stands der Technik. In 1 sind nur zwei Dateneingänge (INA
und INB), zwei Steuerungseingänge
(SELA und SELB) und zwei Eingangsstrukturen (die FETs, die mit den
Signalen INA bzw. INB verbunden sind) gezeigt. Es wird jedoch darauf
verwiesen, daß diese
repräsentativ
für potentiell
viel mehr Eingänge und
Eingangsstrukturen sind, so daß der
MUX in 1 repräsentativ
für einen
Multiplexerentwurf mit entweder einer großen oder einer kleinen Anzahl
von Eingängen
ist.
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2 ist
eine schematische Darstellung eines verbesserten dynamischen Logik-MUX.
In 2 sind, wie in 1, nur zwei Dateneingänge (INA
und INB), zwei Steuerungseingänge
(SELA und SELB) und zwei Eingangsstrukturen (230 und 231)
gezeigt. Es wird jedoch darauf verwiesen, daß diese repräsentativ
für potentiell
viel mehr Eingänge
und Eingangsstrukturen sind, so daß der MUX in 2 repräsentativ für einen Multiplexerentwurf
mit entweder einen großen
oder einer kleinen Anzahl von Eingängen ist.
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In 2 ist
ein Eingang CK mit dem Gate eines p-Kanal-Feldeffekttransistors (PFET) 210 und dem
Eingang eines Inverters 226 verbunden. Die Source des PFET 210 ist
mit der positiven Versorgungsspannung verbunden und das Drain ist mit
einem Knoten MUXIN verbunden. Deshalb wird MUXIN, wenn CK auf einer
logisch niedrigen Spannung ist (was eine ausreichend niedrige Spannung
ist, um den PFET 210 anzuschalten), durch den PFET 210 auf
eine logisch hohe Spannung vorgeladen. Wenn CK auf einer logisch
hohen Spannung ist (die ausreichend hoch ist, um den PFET 210 auszuschalten), wird
MUXIN nicht vorgeladen oder anderweitig durch den PFET 210 hochgezogen,
wobei andere Leitungspfade (wie z. B. die Eingangsstrukturen) frei sind,
um MUXIN auf eine logisch niedrige Spannung herunterzuziehen. So
ist der MUXIN in Betrieb mit CK, das zwischen einer logisch niedrigen
Spannung und einer logisch hohen Spannung umschaltet, ein dynamischer
Vorlade-Herunterzieh-Knoten. Es wird darauf verwiesen, daß MUXIN
bei einem anderen Ausführungsbeispiel
ein dynamischer Knoten des Vorlade-Hochzieh-Typs sein kann.
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Der Ausgang des Inverters 226 ist
mit einem Knoten NCK verbunden. NCK ist außerdem mit dem Gate eines n-Kanal-Feldeffekttransistors
(NFET) 216 verbunden. Die Source des NFET 216 ist
mit der negativen Versorgungsspannung verbunden und das Drain des
NFET 216 ist mit einem Knoten PD verbunden. Deshalb ist
NCK, wenn CK auf einer logisch niedrigen Spannung ist, eine logisch
hohe Spannung (die ausreichend hoch ist, um den NFET 216 anzuschalten),
wobei PD über
den NFET 216 auf eine logisch niedrige Spannung vorgeladen
wird. Wenn NCK auf einer logisch niedrigen Spannung ist (d. h. wenn
CK auf einer logisch hohen Spannung ist, ist NCK auf einer logisch
niedrigen Spannung, die ausreichend niedrig ist, um den NFET 216 abzuschalten),
wird PD nicht vorgeladen oder anderweitig durch den NFET 216 heruntergezogen,
wobei andere Leitungspfade frei sind, um PD auf eine logisch hohe
Spannung hochzuziehen. So ist PD in Betrieb mit CK und NCK, die
zwischen einer logisch niedrigen Spannung und einer logisch hohen
Spannung umschalten (und NCK umgekehrt zu CK ist), ein dynamischer
Vorlade-Hochzieh-Knoten.
Es wird darauf verwiesen, daß PD
bei einem anderen Ausführungsbeispiel
ein dynamischer Knoten des Vorlade-Herunterzieh-Typs sein kann.
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In 2 sind
Eingangsstrukturen 230 und 231 repräsentative
Eingangsstrukturen. Anders ausgedrückt können, wie oben erläutert wurde,
diese beiden Strukturen viel mehr ähnlich aufgebaute Eingangsstrukturen
darstellen, wodurch es ermöglicht wird,
daß eine
große
Anzahl von Signalen einem Multiplexen unterzogen wird. Die Eingangsstruktur 230 weist
FETs 201 und 202 auf. Die Eingangsstruktur 231 weist
FETs 203 und 204 auf. Der Steuerungseingang zu
der ersten repräsentativen
Eingangsstruktur 230 ist SELA und der Dateneingang ist
INA. SELA ist mit dem Gate des NFET 201 und PFET 202 verbunden.
Die Drains des NFET 201 und PFET 202 sind mit
dem Dateneingang INA verbunden. Die Source des PFET 202 ist
mit der positiven Versorgungsspannung verbunden. Die Source des
NFET 201 ist mit dem Knoten MUXIN verbunden.
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Der Steuerungseingang zu der zweiten
repräsentativen
Eingangsstruktur 231 ist SELB und der Dateneingang ist
INB. SELB ist mit den Gates des NFET 203 und PFET 204 verbunden.
Die Drains des NFET 203 und PFET 204 sind mit
dem Dateneingang INB verbunden. Die Source des PFET 204 ist
mit der positiven Versorgungsspannung verbunden. Die Source des
NFET 203 ist mit dem Knoten MUXIN verbunden.
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Der Knoten MUXIN ist außerdem mit
dem Gate von PFET 214 und dem Drain von PFET 212 verbunden.
Die Source von PFET 214 ist mit der positiven Versorgungsspannung
verbunden und das Drain von PFET 214 ist mit dem Vorlade-Hochzieh-Knoten
PD verbunden. Das Gate von PFET 212 ist auch mit dem Vorlade-Hochzieh-Knoten PD
verbunden. Die Source von PFET 212 ist mit der positiven
Versorgungsspannung verbunden. Der Vorlade-Hochzieh-Knoten PD ist
außerdem
mit dem Eingang des Inverters 220 und dem Ausgang des Inverters 218 verbunden.
Der Ausgang des Inverters 220 ist mit dem Eingang des Inverters 218 verbunden. Deshalb
bilden die Inverter 220 und 218 ein Paar von kreuz-gekoppelten
Invertern, die den logischen Wert (oder die Spannung) an dem Knoten
PD halten, wenn sowohl der PFET 214 als auch der NFET 216 aus sind.
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Der Ausgang des Inverters 220 (und
deshalb der Eingang des Inverters 218) ist ebenfalls mit
dem Eingang des Inverters 222 verbunden. Der Ausgang des
Inverters 222 ist mit dem Gate von NFET 224 verbunden.
Das Drain des NFET 224 ist mit dem Ausgangsknoten OUT verbunden.
Die Source des NFET 224 ist mit der negativen Versorgungsspannung
verbunden. Folglich bildet der NFET 224 eine Offenes-Drain-Ausgangsstruktur
zum Herunterziehen des Knotens OUT.
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Um ordnungsgemäß zu funktionieren, sollten SELA
und SELB gesteuert werden, um auf einer logisch niedrigen Spannung
zu sein, wenn CK auf einer logisch niedrigen Spannung ist. Dies
verhindert einen potentiellen Treiberkampf auf MUXIN zwischen einem
der Eingänge
(INA oder INB) und dem PFET 210.
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In normalem Betrieb ist die Vorladephase, wenn
CK auf einer logisch niedrigen Spannung ist. In dieser Phase ist
der PFET 210 an und die NFETs 201 und 203 der
Eingangsstrukturen sind aus. Dies lädt MUXIN auf einen logisch
hohen Spannungspegel vor. Auch während
der Vorladephase ist der NFET 216 an. Sobald MUXIN vorlädt, ist
der PFET 214 aus. Deshalb lädt der NFET 216 PD
während
der Vorladephase auf einen 1o gisch niedrigen Pegel vor. Dieser logische
Niedrigzustand auf PD schaltet den PFET 212 an, was auch
beim Vorladen von MUXIN auf eine logisch hohe Spannung hilft. Der
logische Niedrigzustand auf PD bewirkt außerdem eine logisch hohe Spannung
auf dem Ausgang des Inverters 220. Der logische Hochzustand
an dem Ausgang des Inverters 220 bewirkt eine logisch niedrige
Spannung auf dem Ausgang des Inverters 222. Dies bewirkt,
daß der
NFET 224 aus ist. Schließlich sind, wenn die Steuerungseingänge der
Eingangsstrukturen SELA, SELB niedrig sind, die PFETs 202 und 204 an,
wodurch die Dateneingänge
INA und INB auf eine logisch hohe Spannung vorgeladen werden.
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Wenn CK zu einer logisch hohen Spannung übergeht,
beginnt es die Bewertungsphase. Anders ausgedrückt ist die Bewertungsphase,
wenn CK auf einer logisch hohen Spannung ist. Wenn CK auf einer logisch
hohen Spannung ist, sind der PFET 210 und der NFET 216 beide
aus. Die kreuz-gekoppelten Inverter 220 und 210 bilden
eine Knotenhaltevorrichtung, um die logisch niedrige Spannung auf
dem Knoten PD schwach zu halten, es sei denn, der PFET 214 wird
angeschaltet, und bis der PFET 214 angeschaltet ist.
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Um einen Eingang zu multiplexen,
wird einer der Steuerungseingänge
zu einer der Eingangsstrukturen auf eine logisch hohe Spannung angehoben. SELA
z. B. kann auf einen logisch hohen Spannungspegel angehoben werden.
Dies sollte nur während der
Bewertungsphase durchgeführt
werden. Wenn SELA auf einem logisch hohen Spannungspegel ist, ist
der NFET 201 an und der PFET 202 ist aus. Dies ermöglicht es,
daß der
Spannungspegel auf dem Dateneingang INA durch den NFET 201 zu
MUXIN gelangt. Wenn der Dateneingang INA auf seinem Vorladepegel
einer logisch hohen Spannung verbleibt, bleibt MUXIN bei einer logisch
hohen Spannung, der PFET 214 bleibt aus, PD bleibt auf
einer logisch niedrigen Spannung, der Ausgang des Inverters 220 verbleibet
bei einer logisch hohen Spannung, der Ausgang des Inverters 222 verbleibt
auf einer logisch niedrigen Spannung und der NFET 224 bleibt
aus. Wenn der Dateneingang INA von seinem Vorladepegel zu einer
logisch niedrigen Spannung übergeht, wird
MUXIN über
die Eingangsstruktur auf eine logisch niedrige Spannung gezogen,
die den PFET 212 übersteuert,
der PFET 214 wird angeschaltet, PD geht zu einer logisch
hohen Spannung über,
der Ausgang des Inverters 220 geht zu einer logisch niedrigen
Spannung über,
der Ausgang des Inverters 222 geht zu einer logisch hohen
Spannung über
und der NFET 224 wird angeschaltet. Dieser Zustand wird
bis zu dem Ende der Bewertungsstufe beibehalten, wenn CK zu einem
logisch niedrigen Spannungspegel übergeht und der gesamte Prozeß von neuem
beginnt.
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Wenn 1 mit 2 verglichen wird, ist anzumerken,
daß in 2 die Gates der Eingangsstruktur-Vorlade-PFETs 202 und 204 mit
den Auswahlleitungen SELA bzw. SELB verbunden sind, was im Gegensatz
zu 1 steht, bei der
die entsprechenden Gates der Vorlade-PFETs mit CK verbunden sind.
Diese Veränderung
dient dazu, die nichtausgewählten
Dateneingangsknoten auf einem logisch hohen Spannungspegel zu halten
(da auf den nichtausgewählten
Leitungen der Steuerungseingang eine logisch niedrige Spannung ist,
wodurch die PFET 202, 204 usw. anbleiben). Dies
liefert eine negative Gate-zu-Source-Spannung auf den NFETs 201 und 203.
Diese negative Gate-zu-Source-Spannung reduziert einen Leckstrom
durch die NFETs 201 und 203 verglichen mit dem
Multiplexer aus 1. In 1 kann eine Leckage (Leckstrom)
durch die FETs, die durch SELA und SELB gesteuert werden, zu INA
und INB, die auf einer logisch niedrigen Spannung sein können, insbesondere
bei Multiplexern mit vielen Eingängen,
bewirken, daß der
Knoten in 1, der MUXIN
entspricht, sich entlädt,
wenn er dies nicht tun sollte, wodurch ein falsches Ausgangssignal
erzeugt wird. Folglich weist der in 2 gezeigte
Entwurf eine verbesserte Eingangsstruktur auf. Es wird darauf verwiesen,
daß in
den 1 und 2 diese Vorlade-FETs PFETs
sind. Bei einem anderen Ausführungsbeispiel,
das die Dateneingänge
auf einen logisch niedrigen Spannungspegel vorladen soll, können NFETs
als die Vorlade-FETs mit einem Treibersignal mit geeigneter Polarität verwendet
werden.
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Ein Problem dabei, die PFETs 202 und/oder 204 für die nichtausgewählten Eingänge eingeschaltet
zu halten, besteht darin, daß dies
einen Treiberkampf mit einer Schaltung erzeugen kann, die versucht,
einen nichtausgewählten
Dateneingang (INA und/oder INB) herunterzuziehen. Solange jedoch
die Treiberstärke
davon, was den Dateneingang herunterzieht, verglichen mit der Stärke der
Eingangsstruktur PFET 202, 204 klein ist, bleibt
der Dateneingang hoch und ein Leckstrom bleibt reduziert.
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Eine weitere Veränderung zwischen den 1 und 2 ist der Pfad von PD zu dem Ausgangsknoten
OUT. In 1 ist bei dem
Offenes-Drain-Ausgang-NFET dessen Gate direkt mit dem Knoten verbunden,
der PD entspricht. In 2 ist
der Ausgangs-NFET 224 über
einen Pfad getrieben, der bei PD beginnt und durch zwei Verstärkungsstufen
(in der Form der Inverter 220 bzw. 222) geht, bevor das Gate
des Rusgangs-NFET 224 getrieben
wird. Dies erhöht
die Schaltungsrauschreserve, indem es ermöglicht wird, daß der Knoten
MUXIN (von einem Leckstrom, einem gekoppelten Rauschen oder anderen
Quellen) um einen größeren Betrag
abfällt,
ohne daß das
Gate des Ausgangs-NFET 224 ansteigt. Ein Auswählen eines
geeigneten NFET-zu-PFET-Verhältnisses
für die
Transistoren, die den Inverter 220 aufweisen, liefert eine
Steuerung des Auslösepunktes
der Schaltung. Ein Treiben des Ausgangs-NFET über den Pfad mit zwei Verstärkungsstufen,
wie bei 2, ermöglicht außerdem einen
Anstieg der Größe des Ausgangs-NFET 224 und
eine Reduzierung der Größe des PFET 214 verglichen
mit dem Multiplexer aus 1,
während
die Flankenraten des Signals an dem Gate des Ausgangstransistors 224 verbessert
werden.