DE10239656A1 - Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen - Google Patents
Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen Download PDFInfo
- Publication number
- DE10239656A1 DE10239656A1 DE10239656A DE10239656A DE10239656A1 DE 10239656 A1 DE10239656 A1 DE 10239656A1 DE 10239656 A DE10239656 A DE 10239656A DE 10239656 A DE10239656 A DE 10239656A DE 10239656 A1 DE10239656 A1 DE 10239656A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- etching
- crystalline
- acid
- total amount
- etching medium
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 238000005530 etching Methods 0.000 title claims abstract description 126
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 19
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title abstract description 16
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims abstract description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 13
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 239000002562 thickening agent Substances 0.000 claims description 11
- 150000007524 organic acids Chemical class 0.000 claims description 10
- 239000002904 solvent Substances 0.000 claims description 10
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 9
- JLGLQAWTXXGVEM-UHFFFAOYSA-N triethylene glycol monomethyl ether Chemical compound COCCOCCOCCO JLGLQAWTXXGVEM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 2-butoxyethanol Chemical compound CCCCOCCO POAOYUHQDCAZBD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 claims description 8
- JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-N lactic acid Chemical compound CC(O)C(O)=O JVTAAEKCZFNVCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 8
- MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N Oxalic acid Chemical compound OC(=O)C(O)=O MUBZPKHOEPUJKR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 7
- JXTHNDFMNIQAHM-UHFFFAOYSA-N dichloroacetic acid Chemical compound OC(=O)C(Cl)Cl JXTHNDFMNIQAHM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 7
- RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N propylene carbonate Chemical compound CC1COC(=O)O1 RUOJZAUFBMNUDX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 7
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- SOQBVABWOPYFQZ-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);titanium(4+) Chemical class [O-2].[O-2].[Ti+4] SOQBVABWOPYFQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000002318 adhesion promoter Substances 0.000 claims description 5
- KVBCYCWRDBDGBG-UHFFFAOYSA-N azane;dihydrofluoride Chemical compound [NH4+].F.[F-] KVBCYCWRDBDGBG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 239000013008 thixotropic agent Substances 0.000 claims description 5
- 239000003518 caustics Substances 0.000 claims description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 4
- 239000004310 lactic acid Substances 0.000 claims description 4
- 235000014655 lactic acid Nutrition 0.000 claims description 4
- SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N N-Methylpyrrolidone Chemical compound CN1CCCC1=O SECXISVLQFMRJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 claims description 3
- 229960005215 dichloroacetic acid Drugs 0.000 claims description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000007522 mineralic acids Chemical class 0.000 claims description 3
- 238000007788 roughening Methods 0.000 claims description 3
- 230000009974 thixotropic effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 claims description 2
- BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N carbonic acid Chemical compound OC(O)=O BVKZGUZCCUSVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 claims description 2
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 claims description 2
- 235000006408 oxalic acid Nutrition 0.000 claims description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 claims description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 9
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 6
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- -1 titanium halides Chemical class 0.000 description 5
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 3
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 235000002639 sodium chloride Nutrition 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001505 atmospheric-pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 235000010980 cellulose Nutrition 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 2
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 2
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 235000005985 organic acids Nutrition 0.000 description 2
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 2
- 239000004354 Hydroxyethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- 229920000663 Hydroxyethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920003082 Povidone K 90 Polymers 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M Sodium chloride Chemical compound [Na+].[Cl-] FAPWRFPIFSIZLT-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910003077 Ti−O Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 1
- 150000008044 alkali metal hydroxides Chemical class 0.000 description 1
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010431 corundum Substances 0.000 description 1
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 1
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N ether Substances CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 235000019447 hydroxyethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 239000003049 inorganic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- DMKSVUSAATWOCU-HROMYWEYSA-N loteprednol etabonate Chemical compound C1CC2=CC(=O)C=C[C@]2(C)[C@@H]2[C@@H]1[C@@H]1CC[C@@](C(=O)OCCl)(OC(=O)OCC)[C@@]1(C)C[C@@H]2O DMKSVUSAATWOCU-HROMYWEYSA-N 0.000 description 1
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- YLGXILFCIXHCMC-JHGZEJCSSA-N methyl cellulose Chemical compound COC1C(OC)C(OC)C(COC)O[C@H]1O[C@H]1C(OC)C(OC)C(OC)OC1COC YLGXILFCIXHCMC-JHGZEJCSSA-N 0.000 description 1
- 239000012046 mixed solvent Substances 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- QBNKFXYJSJOGEL-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);titanium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Ti+4] QBNKFXYJSJOGEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 238000000197 pyrolysis Methods 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000003631 wet chemical etching Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03C—CHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
- C03C15/00—Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by etching
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- C09K13/00—Etching, surface-brightening or pickling compositions
- C09K13/04—Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid
- C09K13/08—Etching, surface-brightening or pickling compositions containing an inorganic acid containing a fluorine compound
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0216—Coatings
- H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/02168—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Weting (AREA)
- ing And Chemical Polishing (AREA)
- Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
- Printing Plates And Materials Therefor (AREA)
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft neue Ätzmedien in Form von druck- und dispensierfähigen Ätzpasten zum Ätzen von Titanoxid-Oberflächen der allgemeinen Zusammensetzung Ti¶x¶O¶y¶, sowie die Anwendung dieser Ätzpasten in einem Verfahren zum Ätzen von Titanoxid-Oberflächen.
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft neue Ätzmedien in Form von druck- und dispensierfähigen Ätzpasten zum Ätzen von Titanoxid-Oberflächen der allgemeinen Zusammensetzung TixOy, sowie die Anwendung dieser Ätzpasten.
- Unter Titanoxid-Oberflächen werden Oberflächen bestehend aus Titan und Sauerstoff TixOy verstanden, insbesondere Verbindungen des Titanoxids TiO (x,y = 1), Titandioxids TiO2 (x = 1, y = 2), di-Titantrioxids Ti2O3 (x = 2, y = 3) und nichtstöchiometrischer Titan-Sauerstoff Verbindungen. Die oxidischen Verbindungen des Titans können sowohl glasartig (= amorph) als auch kristallin bzw. teilkristallin vorkommen.
- Unter Gläsern werden im folgenden Titan- und Sauerstoff- enthaltende Materialien verstanden, die ohne Auskristallisieren im festen amorphen Aggregatzustand vorliegen und in der Mikrostruktur aufgrund fehlender Fernordnung einen hohen Fehlordnungsgrad aufweisen. Schichten derartiger amorpher Materialien können z.B. durch Hydrolyse von Titanhalogeniden wie TiCl4, Hydrolyse oder Pyrolyse von Titan-organischen Prekursoren wie Tetraisopropylorthotitanat in einem APCVD-Verfahren [1], dem Niederdruck- oder Plasmaunterstütztem CVD-Verfahren (LP- bzw. PE-CVD) [2] hergestellt werden. Hierbei können auch teilkristalline Schichten gebildet werden.
- Kristalline Verbindungen sind die TiO2-Modifikationen Rutil, Anatas und Brookit, die dem Steinsalz isotype TiO-Modifikation und das in Korund-Gitterstruktur kristallisierende Ti2O3.
- Die Erfindung bezieht sich sowohl auf das Ätzen von Titan- und Sauerstoff enthaltenden kristallinen, teilkristallinen oder amorphen Oberflächen TixOy einheitlicher massiver nichtporöser und poröser Festkörper, als auch auf das Ätzen von Oberflächen nichtporöser und poröser TixOy-Schichten variabler Dicke, die auf anderen Substraten (z.B. Keramiken, Metallblechen, Siliziumwafer) durch verschiedene, dem Fachmann bekannten Verfahren (z.B. CVD, PVD, Spray/Spin-on/off von Ti-O-haltigen Precursoren) erzeugt wurden.
- Stand der Technik
- Hocheffiziente kristalline Silizium-Solarzellen mit Wirkungsgraden > 16% weisen meist eine texturierte, passivierte, entspiegelte Vorderseite mit zweistufigem Emitter und eine passivierte Rückseite mit spiegelnden Rückseitenkontakten und lokalem Back Surface Field (BSF) auf.
- Zur Erzeugung des zweistufigen Emitters bzw. eines lokalen BSF ist es notwendig, die Antireflexschicht auf der Vorderseite bzw. Rückseite zu öffnen und anschließend die geöffneten Bereiche zu dotieren. Diese Antireflexschichten können aus z.B. Titanoxid – allgemein TixOy (z.B. TiO2 mit Brechungsindex n = 2,3)-, Siliziumnitrid oder Siliziumdioxid bestehen.
- Das Öffnen von Siliziumdioxid- und Siliziumnitrid-Schichten ist in
DE 10101926 eingehend beschrieben. - Nach dem heutigen Stand der Technik können beliebige Strukturen selektiv in Oberflächen und Schichten direkt durch lasergestützte Ätzverfahren [3] oder nach erfolgter Maskierung nasschemisch [4, 5] bzw. durch Trokkenätzverfahren geätzt werden [6].
- Allerdings sind diese Verfahren für die Massenproduktion von Solarzellen in der Regel zu prozessaufwendig und zu teuer und werden deshalb bisher nicht eingesetzt.
- Bei den lasergestützten Ätzverfahren rastert der Laserstrahl das gesamte Ätzmuster Punkt für Punkt auf der Oberfläche ab, was neben einem hohen Präzisionsgrad auch einen beträchtlichen Justier- und Zeitaufwand erfordert. In neueren Laborentwicklungen werden arrayförmig angeordnete optische Mikrolinsen benutzt, um den Laserstrahl aufzuspalten und eine entsprechend des Arrays gestaltete Reihe punktförmiger Öffnungen in der Antireflexschicht zu erzeugen [7].
- Die nasschemischen und Trockenätzverfahren beinhalten materialintensive, zeit- und kostenaufwendige Prozessschritte:
- A. Maskierung der nicht zu ätzenden Bereiche, z.B. durch:
-
- – Fotolithografie: Herstellung eines Negativs oder Positivs der Ätzstruktur (abhängig vom Lack), Belackung der Substratoberfläche (z.B. durch Schleuderbelackung mit einem flüssigen Fotolacks), Trocknen des Fotolacks, Belichtung der belackten Substratoberfläche, Entwicklung, Spülen, ggf. Trocknen
- B. Ätzen der Strukturen durch:
-
- – Tauchverfahren (z.B. Nassätzen in Nasschemiebänken): Eintauchen der Substrate in das Ätzbad, Ätzvorgang, mehrfaches Spülen in H2O-Kaskadenspülbecken, Trocknen
- – Spin-on oder Sprühverfahren: Die Ätzlösung wird auf ein drehendes Substrat aufgebracht oder auf ein Substrat gesprüht, Ätzvorgang ohne/mit Energieeintrag (z.B. Fotoätzen, Spülen, Trocknen)
- – Trockenätzverfahren wie z.B. Plasmaätzen in teuren Vakuumanlagen oder Ätzen mit reaktiven Gasen in Durchflussreaktoren
-
- [1] M. Lemiti, J.P. Boyeaux, M. Vernay, H. EI. Omari, E. Fourmond, A. Laugier, Proceedings of the 2n d world PV-Conference, Vienna (1998), p. 1471
- [2] H. Frey, G. Kienel, Dünnschichttechnologie, VDI-Verlag, Düsseldorf, 1987, S. 183
- [3] R. Pneu, S.W. Glunz, S. Schäfer, R. Lüdemann, W. Wettling, W. Pfleging, Proceedings of the 16th PVSC, Glasgow, 2000, 1181–84
- [4] D.J. Monk, D.S. Soane, R.T. Howe, Thin Solid Films 232 (1993), 1
- [5] J. Bühler, F.-P. Steiner, H. Baltes, J. Micromech. Microeng. 7 (1997), R1
- [6] M. Köhler „Ätzverfahren für die Mikrotechnik", Wiley VCH 1998
- [7) R. Preu, S.W. Glunz,
DE 19915666 - In der Praxis haben sich in der Solartechnologie zum Ätzen von Siliziumnitrid- oder Siliziumdioxid-Schichten Verfahren bewährt, die unter Verwendung von Ätzpasten durchgeführt werden. Bei den verwendeten Pasten handelt es sich, wie in der Patentanmeldung
DE 101 01 926 A1 beschrieben, um druck- und dispensierfähige, homogene partikelfreie Ätzpasten mit nichtnewtonschem Fließverhalten. Diese Pasten haben sich jedoch hinsichtlich Ätzrate, Selektivität und Kantenschärfe als nicht optimal für das Ätzen von Titanoxid-Schichten erwiesen. - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, ein neues Ätzmedium, welches in einem, mit hohen Durchsätzen erfolgenden, technologisch einfach durchführbaren Verfahren einsetzbar ist, zum selektiven Ätzen von Titanoxidschichten zur Verfügung zu stellen.
- Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es auch, ein einfaches Verfahren zum Ätzen von Titanoxidschichten zur Verfügung zu stellen.
- Die Lösung der Aufgabe erfolgt durch ein druck- und dispensierfähiges Ätzmedium in Form einer Ätzpaste mit nichtnewtonschem; vorzugsweise thixotropem Fließverhalten zum Ätzen von amorphen, kristallinen oder teilkristallinen Oberflächen aus Titanoxiden, welches bei 15–50 °C wirksam ist und/oder durch Energieeintrag aktivierbar ist und folgende Komponenten enthält:
- a) als ätzende Komponente Ammoniumhydrogendifluorid in einer Konzentration von 8,5–9,5 Gew. % bezogen auf die Gesamtmenge
- b) gegebenenfalls mindestens eine anorganische und/oder organsche Säure mit einem Anteil von 24–26 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmenge des Mediums, wobei als organische Säure eine organische Säure mit einem pKs-Wert zwischen 0 bis 5, ausgewählt aus der Gruppe der Carbonsäuren wie Ameisensäure, Essigsäure, Dichloressigsäure, Milchsäure und Oxalsäure enthalten sein kann,
- c) ein Lösungsmittel ausgewählt aus der Gruppe Wasser, Ether wie Ethylenglycolmonobutylether, Triethylenglykolmonomethylether, Ester der Kohlensäure wie Propylencarbonat, Ketone wie 1-Methyl-2-pyrrolidon, als solche oder deren Gemische in einer Menge von 52–57 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge des Ätzmediums,
- d) 10,5–11,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge des Ätzmediums Cellulosederivate und/oder Polymere wie PVP als Verdikkungsmittel,
- e) gegebenenfalls 0–0,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge Additive, ausgewählt aus der Gruppe Entschäumer, Thixotropiemittel, Verlaufsmittel, Entlüfter und Haftvermittler.
- Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist daher auch ein Ätzmedium das Ammoniumhydrogendifluorid als ätzende Komponente für oxidische Oberflächen, Ethylenglycolmonobutylether, Triethylenglykolmonomethylether, Propylencarbonat und Wasser als Lösungsmittel, Ameisensäure als organische Säure und PVP als Verdickungsmittel enthält.
- Amorphe, kristalline oder teilkristalline Oberflächen aus Titanoxiden lassen sich erfindungsgemäß in einem einfach durchführbaren Verfahren ätzen, indem ein solches Ätzmedium auf eine zu ätzende Oberfläche aufgebracht wird und nach einer Einwirkzeit von 0,1–15 min wieder entfernt wird.
- Das Ätzmedium kann zu diesem Zweck ganzflächig oder gemäß der Ätzstrukturvorlage gezielt nur an den Stellen , an denen eine Ätzung erwünscht ist, aufgetragen werden und nach erfolgter Ätzung mit einem Lösungsmittel oder Lösungsmittelgemisch abgespült oder im Ofen verbrannt werden.
- Insbesondere können die Ätzmedien in Sieb-, Schablonen-, Tampon-, Stempel-, Ink-Jet- und manuellen Druckverfahren sowie der Dispenser-Technik auf die zu ätzenden Flächen aufgebracht werden.
- Auf diese Weise lassen sich die erfindungsgemäßen Ätzmedien zur Herstellung von Markierungen und Kennzeichnungen sowie zur Verbesserung der Haftung von TixOy Gläsern, Keramiken und andere TixOy-basierenden Systemen mit anderen Materialien durch Aufrauen verwenden.
- Die erfindungsgemäßen Ätzmedien lassen sich vorteilhaft verwenden zum Ätzen von amorphen, teilkristallinen und kristallinen TixOy Systemen in Form einheitlicher massiver nichtporöser und poröser Festkörper oder entsprechender nichtporöser und porösen Schichten variabler Dicke, die auf anderen Substraten erzeugt worden sind.
- Mit besonders guten Ergebnissen lassen sich die erfindungsgemäßen Ätzpasten im Herstellungsprozess von Solarzellen zum Entfernen von amorphen, teilkristallinen und kristallinen TixOy Schichten, zum selektiven Öffnen von Antireflexschichten aus TixOy Systemen zur Erzeugung zweistufiger selektiver Emitter und/oder lokaler p+-Back-Surface-Fields einsetzen.
- Gegenstand der vorliegenden Endung sind somit auch amorphe, teilkristalline oder kristalline Oberflächen aus Titanoxiden, welche mit den erfindungsgemäßen Ätzmedien der oben genannten Zusammensetzung behandelt worden sind.
- Beschreibung
- Gegenstand der Erfindung sind druck- und dispensiertähige Ätzpasten, die zum Ätzen von Titanoxid Oberflächen, der allgemeinen Formel TixOy und deren Schichten variabler Dicke geeignet sind, sowie deren Verwendung in einem – im Vergleich zu den üblichen Nass- und Trockenätzverfahren – kostengünstigen, kontinuierlichen, für hohe Durchsätze geeigneten, sowie technologisch einfachen, Druck-, Dispensier-/Ätzvertahren.
- Die erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten sind – im Vergleich zu flüssigen Ätzmitteln für TixOy-basierende Systeme wie anorganische Mineralsäuren (Flusssäure, heiße konzentrierte Schwefelsäure) und Laugen/basische Ätzmittel (geschmolzene Alkalihydroxide und -carbonate)-wesentlich einfacher, sicherer und ätzmittelsparender zu handhaben.
- Die erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten werden in einem einzigen Verfahrensschritt auf die zu ätzende TixOy Oberfläche aufgebracht. Eine für die Übertragung der Ätzpaste auf die zu ätzende Fläche geeignete Technik mit hohem Automatisierungsgrad und Durchsatz ist die Druck- und Dispensertechnik. Insbesondere die Sieb-, Schablonen-, Tampon-, Stempel-, Ink-Jet-Druckverfahren sind dem Fachmann bekannte Druckverfahren.
- In Abhängigkeit von der Sieb-, Schablonen-, Klischee-, Stempelgestaltung bzw. Patronen- und Dispenseransteuerung ist es möglich, die erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensiertähigen Ätzpasten gemäß der Ätzstrukturvorlage selektiv nur an den Stellen aufzutragen, an denen eine Ätzung erwünscht ist bzw. auch ganzflächig aufzutragen. Sämtliche Maskierungs- und Lithografieschritte wie unter A) beschrieben entfallen durch den selektiven Auftrag. Der Ätzvorgang findet mit oder ohne zusätzlichen Energieeintrag, z.B. in Form von Wärmestrahlung (mit IR-Lampe, bis ca. 300 °C) statt. Nach erfolgter Ätzung werden die druck- und dispensierfähigen Ätzpasten von der geätzten Fläche mit einem geeigneten Lösungsmittel abgespült oder ausgebrannt.
- Durch Variation folgender Größen lassen sich die Ätztiefe in TixOy basierenden Systemen und deren Schichten variabler Dicke, und beim selektiven Strukturätzen zusätzlich die Kantenschärfe der Ätzstrukturen einstellen:
- – Konzentration und Zusammensetzung der Ätzkomponente
- – Konzentration und Zusammensetzung der eingesetzten Lösungsmittel
- – Konzentration und Zusammensetzung des Verdickersystems
- – Konzentration und Zusammensetzung der gegebenenfalls zugesetzten Säuren
- – Konzentration und Zusammensetzung der gegebenenfalls zugesetzten Additive wie Entschäumer, Thixotropiermittel, Verlaufsmittel, Entlüfter, Haftvermittler
- – Viskosität der erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten
- – Ätzdauer mit oder ohne Energieeintrag auf der, mit der jeweiligen Ätzpaste bedruckten Oberflächen
- Die Ätzdauer kann je nach Anwendungszweck, gewünschter Ätztiefe und/oder Kantenschärfe der Ätzstrukturen zwischen einigen Sekunden und mehreren Minuten betragen.
- Die druck- und dispensierfähigen Ätzpasten setzen sich zusammen aus:
- – ätzende(n) Komponente(n) für TixOy-Systeme und deren Schichten
- – Lösungsmitteln
- – Verdickungsmitteln
- – gegebenenfalls organischen und/oder anorganischen Säuren
- – gegebenenfalls Additive wie z.B. Entschäumer, Thixotropiermittel, Verlaufsmittel, Entlüfter, Haftvermittler
- Die Ätzwirkung der erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten auf Oberflächen TixOy-basierender Systeme beruht auf dem Einsatz von Lösungen von Ammoniumhydrogendifluorid mit oder ohne Säurezusatz. Diese Ätzpasten sind bereits bei Zimmertemperatur oder werden durch zusätzlichen Energieeintrag (z.B. Wärmestrahlung durch IR-Lampe, bis ca. 300 °C) wirksam.
- Der Anteil der eingesetzten Ätzkomponente liegt in einem Konzentrationsbereich von 8,5–9,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge der Ätzpaste.
- Geeignete anorganische und/oder organische Lösungsmittel und/oder Mischungen aus diesen können sein:
- – Wasser
- – Ether wie Ethylenglycolmonobutylether, Triethylenglykolmonomethylether
- – Ester der Kohlensäure wie Propylencarbonat
- – organische Säuren wie Ameisensäure, Essigsäure, Milchsäure o. ä.
- Der Anteil der Lösungsmittel liegt im Bereich von 52 – 57 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge der Ätzpaste.
- Die Viskosität der erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten wird durch netzwerkbildende, in der flüssigen Phase quellende Verdickungsmittel erzielt und lässt sich je nach gewünschtem Einsatzgebiet variieren.
- Die erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten umfassen alle Ätzpasten, die keine Konstanz der Viskosität von der Scherrate aufweisen, insbesondere Ätzpasten mit scherverdünnender Wirkung. Das durch Verdickungsmittel erzeugte Netzwerk bricht unter Scherbelastung zusammen. Die Wiederherstellung des Netzwerkes kann ohne Zeitverzögerung (strukturviskose Ätzpasten mit plastischem bzw. pseudoplastischem Fließverhalten) bzw. mit Zeitverzögerung (Ätzpasten mit thixotropem Fließverhalten) erfolgen.
- Die Verdicker Polyvinylpyrolidon (PVP) oder verschiedene Cellulosen können einzeln und/oder in Kombinationen miteinander eingesetzt werden. Der Anteil der Verdickungsmittel, der zur gezielten Einstellung des Viskositätsbereiches und grundsätzlich zur Bildung einer druck- und dis pensierfähigen Paste erforderlich ist, liegt im Bereich von 10,5–11,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge der Ätzpaste.
- Organische und anorganische Säuren, deren pKS-Wert zwischen 0–5 liegen, können den erfindungsgemäß beschriebenen druck- und dispensierfähigen Ätzpasten hinzugefügt sein. Anorganische Mineralsäuren wie z.B. Salzsäure, Phosphorsäure, Schwefelsäure, Salpetersäure als auch organische Säuren, insbesondere Ameisensäure, verbessern die Ätzwirkung der druck- und dispensierfähigen Ätzpasten. Bei Säurezugabe beträgt der Anteil der Säure/n 24–26 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge der Ätzpaste liegen.
- Additive mit für den gewünschten Zweck vorteilhaften Eigenschaften sind Entschäumer (z.B. TEGO® Foamex N), Thixotropiermittel (z.B. BYK® 410, Borchigel® Thixo2), Verlaufsmittel (z.B. TEGO® Glide ZG 400), Entlüfter (z.B. TEGO® Airex 985) und Haftvermittler (z.B. Bayowet® FT 929). Diese können die Druckfähigkeit der Ätzpaste positiv beeinflussen. Der Anteil der Additive liegt im Bereich von 0–0,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge der Ätzpaste.
- Anwendungsgebiete für die erfindungsgemäßen Ätzpasten finden sich in der Solarzellenindustrie, insbesondere in der Herstellung von Photovoltaik- Bauelementen wie Solarzellen oder von Photodioden.
- Die erfindungsgemäß druck- und dispensiertähigen Ätzpasten können insbesondere überall dort eingesetzt werden, wo eine ganzflächige und/oder strukturierte Ätzung von Oberflächen TixOy-basierender Systeme gewünscht wird.
- So können ganze Flächen, aber auch selektiv einzelne Strukturen in einheitlich massive nichtporöse und poröse TixOy-basierende Systeme bis in die gewünschte Tiefe geätzt werden. Anwendungsgebiete sind das gezielte Anätzen von TixOy-basierenden Systemen für:
-
- – Markierungs- und Kennzeichnungszwecke
- – Verbesserung der Haftung von TixOy Gläsern, Keramiken und andere TixOy basierenden Systemen mit anderen Materialien durch Aufrauhung
- Die erfindungsgemäß druckfähigen Ätzpasten können insbesondere überall dort eingesetzt werden, wo eine ganzflächige und/oder strukturierte Ätzung von TixOy-Schichten gewünscht wird.
- Anwendungsgebiete sind zudem sämtliche Ätzschritte an TixOy Schichten, die zur Herstellung von Photovoltaik-Bauelementen wie Solarzellen, Photodioden und dgl. führen, insbesondere ist dies das selektive Öffnen von TixOy Schichten zur Erzeugung:
- – zweistufiger selektiver Emitter (nach Öffnen Erzeugung von n++-Schichten) und/oder
- – lokaler p+-Back-Surface-Fields (nach Öffnen Erzeugung von p+-Schichten) und/oder
- – von leitfähigen Kontaktstrukturen in den geöffneten Strukturen (z.B. durch stromlose Abscheidung)
- Insbesondere die Sieb-, Schablonen-, Tampon-, Ink-Jet-Druckverfahren und Dispensertechnik sind geeignete Techniken, die Ätzpasten in der gewünschten Weise aufzutragen. Generell ist auch ein manueller Auftrag möglich.
- Zum besseren Verständnis und zur Verdeutlichung der Erfindung werden im folgenden Beispiele für eine Ätzpasten gegeben. Diese Beispiele sind nicht geeignet, den Schutzbereich der vorliegenden Anmeldung nur hierauf einzuschränken, da es dem Fachmann ohne weiteres möglich ist, verschiedenste Variationen der Erfindung vorzunehmen und einzelne Komponenten der Zusammensetzungen durch gleichwirkende zu ersetzen. Auch ist es ihm ohne weiteres möglich, die gegebenen Beispiele in geeigneter Weise in abgeänderter Form durchzuführen und ebenfalls zu dem gewünschten Ergebnis zu kommen.
- Beispiel
- 5 g Ethylenglycolmonobutylether
15 g Triethylenglykolmonomethylether
15 g Propylencarbonat
7 g Wasser
27 g 35%ige NH4HF2-Lösung
28 g Ameisensäure
12 g PVP - Das Lösungsmittelgemisch und Säure werden in einem PE-Becher vor gelegt. Im Anschluß daran wird die NH4HF2-Lösung hinzugegeben. Dann erfolgt die sukzessive Zugabe des Verdickers unter Rühren (ca. 900 U/min). Die Abfüllung in Behälter erfolgt nach einer kurzen Standzeit. Diese Standzeit ist erforderlich, damit sich die in der Ätzpaste gebildeten Bläschen auflösen können.
- Diese Mischungen ergeben Ätzpasten, mit denen gezielt TixOy-basierende Systeme und deren Schichten ganzflächig bzw. in Strukturen mit und/oder ohne Energieeintrag bis zu einer gewünschten Tiefe geätzt werden können.
- Die ermittelten Atzraten auf einer mit APCVD erzeugten TixOy Schicht sind abhängig von der Salz- und Säurekonzentration und liegen bei linienförmigen Auftrag zwischen 20–150 nm/min. Sie betragen z. b. bei selektivem Auftrag (Linienbreite von 250 μm) des Beispiels 1 bei Zimmertemperatur 70 nm/min, bei 100°C Ätztemperatur 140 nm/min.
- Die erhaltene Ätzpaste ist lagerstabil, leicht zu handhaben und druckfähig. Sie kann z.B. mit Wasser vom bedruckten Material bzw. vom Pastenträger (Sieb, Rakel, Schablone, Stempel, Klischee, Patrone, Dispensen usw.) entfernt oder im Ofen ausgebrannt werden.
- Analog wie die durch Beispiel 1 beschriebene Ätzpaste können folgende Ätzpasten hergestellt werden:
- Beispiel 2
- 35,6 g Ethylenglycolmonobutylether
142,4 g Milchsäure
12 g NH4HF2
10 g EC - Beispiel 3
- 10 g Triethylenglykolmonomethylether
50 g 20%ige NH4HF2-Lösung
50 g 1%ige Deuteron XG-Stammpaste - Beispiel 4
- 24 g Triethylenglykolmonomethylether
50 g 20%ige NH4HF2-Lösung
8 g Ameisensäure
1,5 g Tylose 4000 (Hydroxyethylcellulose) - Beispiel 5
- 8 g Ethylenglycolmonobutylether
14 g Propylencarbonat
14 g Triethylenglykolmonomethylether
34 g 20%ige NH4HF2-Lösung
28 g Dichloressigsäure
10 g PVP K90
Claims (9)
- Druck- und dispensierfähiges Ätzmedium in Form einer Ätzpaste mit nichtnewtonschem; vorzugsweise thixotropem Fließverhalten zum Ätzen von amorphen, kristallinen oder teilkristallinen Oberflächen aus Titanoxiden, dadurch gekennzeichnet, dass es bei 15–50 °C wirksam ist und/oder durch Energieeintrag aktivierbar ist und es folgende Komponenten enthält a) als ätzende Komponente Ammoniumhydrogendifluorid in einer Konzentration von 8,5–9,5 Gew. % bezogen auf die Gesamtmenge b) gegebenenfalls mindestens eine anorganische und/oder organsche Säure mit einem Anteil von 24–26 Gew.-% bezogen auf die Gesamtmenge des Mediums, wobei als organische Säure eine organische Säure mit einem pKS-Wert zwischen 0 bis 5, ausgewählt aus der Gruppe der Carbonsäuren wie Ameisensäure, Essigsäure, Dichloressigsäure, Milchsäure und Oxalsäure enthalten sein kann, c) ein Lösungsmittel ausgewählt aus der Gruppe Wasser, Ether wie Ethylenglycolmonobutylether, Triethylenglykolmonomethylether, Ester der Kohlensäure wie Propylencarbonat, Ketone wie 1-Methyl-2-pyrrolidon, als solche oder deren Gemische in einer Menge von 52–57 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge des Ätzmediums, d) 10,5–11,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge des Ätzmediums Cellulosederivate und/oder Polymere wie PVP als Verdikkungsmittel, e) gegebenenfalls 0–0,5 Gew % bezogen auf die Gesamtmenge Additive, ausgewählt aus der Gruppe Entschäumer, Thixotropiemittel, Verlaufsmittel, Entlüfter und Haftvermittler.
- Ätzmedium gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es Ammoniumhydrogendifluorid als ätzende Komponente für oxidische Oberflächen, Ethylenglycolmonobutylether, Triethylenglykolmonomethylether, Propylencarbonat und Wasser als Lösungsmittel, Ameisensäure als organische Säure und PVP als Verdikkungsmittel enthält.
- Verfahren zum Ätzen von amorphen, kristallinen oder teilkristallinen Oberflächen aus Titanoxiden, dadurch gekennzeichnet, dass ein Ätzmedium gemäß einem der Ansprüche 1 oder 2 auf die zu ätzende Oberfläche aufgebracht wird und nach einer Einwirkzeit von 0,1–15 min wieder entfernt wird.
- Verfahren gemäß Anspruch 3 dadurch gekennzeichnet, dass ein Ätzmedium gemäß der Ansprüche 1–2 ganzflächig oder gemäß der Ätzstrukturvorlage gezielt nur an den Stellen , an denen eine Ätzung erwünscht ist, aufgetragen wird und nach erfolgter Ätzung mit einem Lösungsmittel oder Lösungsmittelgemisch abgespült oder im Ofen verbrannt wird.
- Verwendung eines Ätzmediums gemäß der Ansprüche 1–2 zur Herstellung von Markierungen und Kennzeichnungen sowie zur Verbesserung der Haftung von TixOy Gläsern, Keramiken und andere TixOy-basierenden Systemen mit anderen Materialien durch Aufrauen.
- Verwendung eines Ätzmediums gemäß der Ansprüche 1–2 in Sieb-, Schablonen-, Tampon-, Stempel-, Ink-Jet- und manuellen Druckverfahren sowie der Dispenser-Technik.
- Verwendung eines Ätzmediums gemäß der Ansprüche 1–2 zum Ätzen von amorphen, teilkristallinen und kristallinen TixOy Systemen, als einheitliche massive nichtporöse und poröse Festkörper oder entsprechender nichtporöser und porösen Schichten variabler Dicke, die auf anderen Substraten erzeugt worden sind.
- Verwendung eines Ätzmediums gemäß der Ansprüche 1 bis 2 zum Entfernen von amorphen, teilkristallinen und kristallinen TiXOy-Schichten, zum selektiven Öffnen von Antireflexschichten aus TixOy Systemen zur Erzeugung zweistufiger selektiver Emitter und/oder lokaler p+-Back-Surface-Fields in Solarzellen.
- Mit Ätzmedien gemäß einem der Ansprüche 1 bis 2 behandelte amorphe, teilkristalline oder kristalline Oberflächen aus Titanoxiden.
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10239656A DE10239656A1 (de) | 2002-08-26 | 2002-08-26 | Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen |
CNA038200813A CN1678714A (zh) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | 用于钛氧化物表面的蚀刻糊 |
JP2004531831A JP2005536614A (ja) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | 酸化チタン表面のためのエッチングペースト |
EP03790830A EP1532225A1 (de) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | Ätzpasten für titanoxid-oberflächen |
PCT/EP2003/008395 WO2004020551A1 (de) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | Ätzpasten für titanoxid-oberflächen |
AU2003255325A AU2003255325A1 (en) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | Etching pastes for titanium oxide surfaces |
KR1020057002920A KR20050058410A (ko) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | 티타늄 옥시드 표면을 위한 에칭 페이스트 |
US10/524,847 US20060118759A1 (en) | 2002-08-26 | 2003-07-30 | Etching pastes for titanium oxide surfaces |
TW092123222A TW200407463A (en) | 2002-08-26 | 2003-08-22 | Etching pastes for titanium oxide surfaces |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10239656A DE10239656A1 (de) | 2002-08-26 | 2002-08-26 | Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10239656A1 true DE10239656A1 (de) | 2004-03-11 |
Family
ID=31502076
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10239656A Withdrawn DE10239656A1 (de) | 2002-08-26 | 2002-08-26 | Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060118759A1 (de) |
EP (1) | EP1532225A1 (de) |
JP (1) | JP2005536614A (de) |
KR (1) | KR20050058410A (de) |
CN (1) | CN1678714A (de) |
AU (1) | AU2003255325A1 (de) |
DE (1) | DE10239656A1 (de) |
TW (1) | TW200407463A (de) |
WO (1) | WO2004020551A1 (de) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030148024A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-08-07 | Kodas Toivo T. | Low viscosity precursor compositons and methods for the depositon of conductive electronic features |
US20030108664A1 (en) * | 2001-10-05 | 2003-06-12 | Kodas Toivo T. | Methods and compositions for the formation of recessed electrical features on a substrate |
US6951666B2 (en) * | 2001-10-05 | 2005-10-04 | Cabot Corporation | Precursor compositions for the deposition of electrically conductive features |
KR20040077655A (ko) * | 2001-10-19 | 2004-09-06 | 슈페리어 마이크로파우더스 엘엘씨 | 전자 형상 증착용 테잎 조성물 |
EP2033229B1 (de) * | 2006-06-19 | 2012-07-04 | Cabot Corporation | Photovoltaische leitfähige elemente und herstellungsverfahren dafür |
DE102006051735A1 (de) * | 2006-10-30 | 2008-05-08 | Merck Patent Gmbh | Druckfähiges Medium zur Ätzung von oxidischen, transparenten, leitfähigen Schichten |
US8017505B2 (en) * | 2006-11-30 | 2011-09-13 | Seiko Epson Corporation | Method for manufacturing a semiconductor device |
ES2556127T3 (es) * | 2007-08-31 | 2016-01-13 | The Procter & Gamble Company | Composición limpiadora de superficies duras ácida líquida |
KR20110093759A (ko) * | 2008-09-01 | 2011-08-18 | 메르크 파텐트 게엠베하 | 에칭에 의한 박층 태양광 모듈의 에지 제거 |
CN101768445B (zh) * | 2010-01-29 | 2014-02-19 | 东莞市亚马电子有限公司 | 一种环保型氧化物薄膜蚀刻膏 |
WO2011157335A1 (en) | 2010-06-14 | 2011-12-22 | Merck Patent Gmbh | Cross-linking and multi-phase etch pastes for high resolution feature patterning |
US20140021400A1 (en) * | 2010-12-15 | 2014-01-23 | Sun Chemical Corporation | Printable etchant compositions for etching silver nanoware-based transparent, conductive film |
CN102363885B (zh) * | 2011-10-12 | 2013-08-21 | 常州大学 | 选择性剥离银镀层及银镀层中元素定量分析的前处理溶液 |
WO2013169884A1 (en) * | 2012-05-10 | 2013-11-14 | Corning Incorporated | Glass etching media and methods |
CN107814491A (zh) * | 2017-12-14 | 2018-03-20 | 天津美泰真空技术有限公司 | 一种平板玻璃基板蚀刻液 |
CN108585530A (zh) * | 2018-04-20 | 2018-09-28 | 广东红日星实业有限公司 | 一种玻璃蚀刻液及其制备方法 |
CN112430815B (zh) * | 2020-11-23 | 2023-06-30 | 南通卓力达金属科技有限公司 | 一种蚀刻液及其制备方法和应用 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3326803A (en) * | 1964-04-27 | 1967-06-20 | Wyandotte Chemicals Corp | Aluminum brightener composition |
DD153360A1 (de) * | 1980-10-01 | 1982-01-06 | Heinz Schicht | Mattierungspaste fuer glas |
US4759823A (en) * | 1987-06-02 | 1988-07-26 | Krysalis Corporation | Method for patterning PLZT thin films |
JP3337622B2 (ja) * | 1997-07-16 | 2002-10-21 | 松下電器産業株式会社 | 選択的エッチング液及びそのエッチング液を用いた半導体装置の製造方法 |
US6670281B2 (en) * | 1998-12-30 | 2003-12-30 | Honeywell International Inc. | HF etching and oxide scale removal |
US6287890B1 (en) * | 1999-10-18 | 2001-09-11 | Thin Film Module, Inc. | Low cost decal material used for packaging |
DE10101926A1 (de) * | 2000-04-28 | 2001-10-31 | Merck Patent Gmbh | Ätzpasten für anorganische Oberflächen |
AU2001242510B2 (en) * | 2000-04-28 | 2006-02-23 | Merck Patent Gmbh | Etching pastes for inorganic surfaces |
AU2001278890A1 (en) * | 2000-07-10 | 2002-01-21 | Ekc Technology, Inc. | Compositions for cleaning organic and plasma etched residues for semiconductor devices |
-
2002
- 2002-08-26 DE DE10239656A patent/DE10239656A1/de not_active Withdrawn
-
2003
- 2003-07-30 JP JP2004531831A patent/JP2005536614A/ja active Pending
- 2003-07-30 US US10/524,847 patent/US20060118759A1/en not_active Abandoned
- 2003-07-30 CN CNA038200813A patent/CN1678714A/zh active Pending
- 2003-07-30 KR KR1020057002920A patent/KR20050058410A/ko not_active Application Discontinuation
- 2003-07-30 EP EP03790830A patent/EP1532225A1/de not_active Withdrawn
- 2003-07-30 WO PCT/EP2003/008395 patent/WO2004020551A1/de not_active Application Discontinuation
- 2003-07-30 AU AU2003255325A patent/AU2003255325A1/en not_active Abandoned
- 2003-08-22 TW TW092123222A patent/TW200407463A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1532225A1 (de) | 2005-05-25 |
TW200407463A (en) | 2004-05-16 |
US20060118759A1 (en) | 2006-06-08 |
WO2004020551A1 (de) | 2004-03-11 |
CN1678714A (zh) | 2005-10-05 |
JP2005536614A (ja) | 2005-12-02 |
AU2003255325A1 (en) | 2004-03-19 |
KR20050058410A (ko) | 2005-06-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1276701B1 (de) | Ätzpasten für anorganische oberflächen | |
DE10239656A1 (de) | Ätzpasten für Titanoxid-Oberflächen | |
EP1535318B1 (de) | Ätzpasten für siliziumoberflächen und -schichten | |
EP1240673B1 (de) | Verfahren zur Rauhätzung von Siliziumsolarzellen | |
EP2345091B1 (de) | Randentschichtung von dünnschichtsolarmodulen mittels ätzen | |
EP1435116B1 (de) | Kombinierte ätz- und dotiermedien | |
DE102006051952A1 (de) | Partikelhaltige Ätzpasten für Siliziumoberflächen und -schichten | |
DE102005033724A1 (de) | Druckfähige Ätzmedien für Siliziumdioxid-und Siliziumnitridschichten | |
DE102005007743A1 (de) | Druckfähiges Medium zur Ätzung von Siliziumdioxid- und Siliziumnitridschichten | |
DE102006051735A1 (de) | Druckfähiges Medium zur Ätzung von oxidischen, transparenten, leitfähigen Schichten | |
DE102009005168A1 (de) | Solarzelle und Verfahren zur Herstellung einer Solarzelle aus einem Siliziumsubstrat | |
EP2683777A2 (de) | Aluminiumoxid basierte metallisierungsbarriere | |
EP2494615A2 (de) | Verfahren zur herstellung von solarzellen mit selektivem emitter | |
WO2014000845A1 (de) | Verfahren zur herstellung von solarzellen mit local back surface field (lbsf) | |
WO2018050629A1 (de) | Verfahren zur herstellung elektrischer kontakte auf einem bauteil | |
EP2938763A1 (de) | Druckbare diffusionsbarrieren für siliziumwafer | |
EP3284109A1 (de) | Verfahren zur herstellung von solarzellen unter verwendung von phosphor-diffusionshemmenden, druckbaren dotiermedien | |
DE102018251777A1 (de) | Chemisches Polieren von Solarzellenoberflächen und daraus resultierenden Strukturen | |
DE102012107372A1 (de) | Alkalischer Ätzprozess | |
DE102009007136A1 (de) | Ätzmischung zur Herstellung einer strukturierten Oberfläche auf Siliziumsubstraten | |
WO2016150548A2 (de) | Druckbare pastöse diffusions- und legierungsbarriere zur herstellung von hocheffizienten kristallinen siliziumsolarzellen | |
DE10101926A1 (de) | Ätzpasten für anorganische Oberflächen | |
WO2016150549A2 (de) | Druckbare tinte zur verwendung als diffusions- und legierungsbarriere zur herstellung von hocheffizienten kristallinen siliziumsolarzellen | |
WO2010122168A2 (de) | Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelementes, insbesondere einer solarzelle, auf basis einer halbleiterdünnschicht mit einem direkten halbleiter oder mit germanium | |
DE102012214011A1 (de) | Verfahren zum schicht- und regioselektiven Abtrag einer metallhaltigen Feststoffschicht von einer zweiten Feststoffschicht mit Hilfe eines Flüssigkeitsstrahls |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |