DE10238563A1 - System und Verfahren zum Testen von Schaltungen und Programmieren integrierter Schaltungsvorrichtungen - Google Patents

Abstract

Ein verbessertes System und ein Verfahren zum Erhöhen eines Systemdurchsatzes und einer Datenkapazität in einem Schaltungstester, der in der Lage ist, schaltungsinterne integrierte Schaltungsvorrichtungen zu programmieren und/oder zu testen, sind offenbart. Ein Datenbeschleuniger zur Verwendung bei einem Testvektorsequenzer kann mit einem Datenumsetzer, einer Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen und einem Schalter realisiert sein. Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen sind der Datenumsetzer und der Schalter über ein einzelnes Steuerungssignal ansprechend auf eine Anzeige konfiguriert, daß eine erste Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um ein Datensegment zu empfangen, und daß eine zweite Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um ein vorher gespeichertes Datensegment zu übertragen. Ein Verfahren zum Erhöhen eines Durchsatzes in einem Schaltungstester kann wie folgt realisiert werden: Segmentieren einer Testanwendung; Aufnehmen eines ersten Anwendungssegments in einer ersten Speichervorrichtung; Konfigurieren eines Testsequenzers, um das erste Anwendungssegment weiterzuleiten und gleichzeitig ein nachfolgendes Anwendungssegment in einer zweiten Sequenzspeichervorrichtung aufzunehmen; Erfassen einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung der Segmentaufnahme- und Weiterleitungsaufgaben; Rekonfigurieren des Testsequenzers, um die Rollen der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung zu vertauschen; und Wiederholen der Schritte des Konfigurierens und des ...

Description

• Die vorliegende Erfindung bezieht sich allgemein auf Systeme und Verfahren zum Schaltungstesten und insbesondere auf ein schaltungsinternes Testen und eine Modifizierung programmierbarer integrierter Schaltungsvorrichtungen.
• Frühe Generationen von Schaltungstestern verwendeten eine Funktionstestmethodik, bei der Testsignale an verschiedene Schaltungseingänge angelegt wurden und Ausgangssignale an Schaltungsausgängen überwacht wurden. Ein derartiges Funktionstesten leidet an zumindest zwei Einschränkungen. Erstens ist es aufgrund der einzigartigen Natur einzelner Schaltungen schwierig, gründliche und effektive Testprogramme zu formulieren, die geeignet zum Sammeln von Informationen sind, die eine Vielzahl von Schaltungen mit testgerechtem Entwurf betreffen. Zweitens erfordert eine Fehlerisolierung auf ein bestimmtes Element auf einer gedruckten Schaltungsplatine oder einem anderen Schaltungsaufbau, der viele Schaltungselemente aufweist, ein genaues Betriebsverständnis der aufgebauten Schaltung.
• Diese Einschränkungen sind insbesondere bei Schaltungsaufbauten schwerwiegend, die sequentielle Datenverarbeitungsschaltungen (z. B. Flip-Flops, Datenpuffer, Direktzugriffsspeicher (RAM), Register, Latches (Zwischenspeicher) usw.) enthalten, da der Ausgang des Schaltungsaufbaus eine Funktion des Zustands der Schaltung sowie der angelegten Test- (d. h. Daten-) Signale. Um den Zustand einer Schaltung mit sequentiellen Elementen zu kennen, ist es allgemein notwendig, einen Satz von Signalen an die Eingänge der sequentiellen Elemente der Schaltung anzulegen, die den Zustand jedes einzelnen Elements verändern, bis es in einen erwünschten Status gelangt, der als "Ausgangs"-Zustand ("Home"-Zustand) bekannt ist. Das Anlegen der erforderlichen Signale, die dazu führen, daß ein bestimmtes sequentielles Schaltungselement seinen "Ausgangs"-Zustand erreicht, ist als "Zurückbringen in den Ausgangszustand" (Homing) bekannt.
• Die komplizierte Natur der Beziehungen zwischen Testsignalen, die an Schaltungseingänge angelegt werden, und den resultierenden Signalen an den Eingängen der einzelnen sequentiellen Schaltungskomponenten macht es extrem schwierig, die Signale zu bestimmen, die an die Schaltungsaufbaueingänge angelegt werden müssen, um jedes sequentielle Schaltungselement in dem Schaltungsaufbau "in seinen Ausgangszustand zurückzubringen". Als ein Ergebnis der Einschränkungen des Funktionstestens verwenden viele Schaltungsaufbautester eine Technik, die als schaltungsinternes Testen bekannt ist, bei der einzelne Schaltungskomponenten (sowohl sequentiell als auch nicht sequentiell) über ein schaltungsinternes Anlegen von Testsignalen an die Eingänge jeder Komponente und eine gleichzeitige Beobachtung resultierender Ausgangssignale an den verschiedenen Ausgängen jeder Komponente getestet werden. Eine Beschreibung eines typischen Testprogramms und einer Testausrüstung, auf der das Testprogramm laufen kann, wird unten geliefert.
• Für einfache Schaltungen wird ein Testen oft durch ein Anlegen geeigneter Spannungen an Schaltungsknoten erzielt, um auf Kurzschlüsse oder offene Schaltungen zu testen. Schaltungsknoten sind alle äquipotentialen Schaltungselemente, wie z. B. Verbindungsdrähte, Steckerleisten und Verbindungsanschlußstifte, sind jedoch nicht auf dieselben beschränkt. Funktionstestverfahren, die oben beschrieben sind, können auch durchgeführt werden, wenn der Tester und/oder die Testausrüstung eine ausreichende Kenntnis des Schaltungsbetriebs aufweist.
• Da Schaltungsaufbauten zunehmend komplexer werden, müssen Schaltungstester angepaßt werden, um diese komplexen Aufbauten genau und gründlich zu testen. Mit der zusätzlichen Komplexität und Dichte aufgrund einer Miniaturisierung ist es wichtiger und schwieriger geworden, Schaltungsaufbauten gründlich zu testen.
• Viele Hersteller von heutigen Schaltungsaufbauten entwickeln Schaltungsaufbautestverfahren gleichzeitig mit der Entwicklung der Schaltungsaufbauten, die dieselben testen sollen. Oft sind bei gedruckten Schaltungskarten und einzelnen integrierten Schaltungen eines oder mehrere Testtore in die Karte oder die Schaltung selbst integriert, um ein Testen der jeweiligen Vorrichtung zu ermöglichen.
• Allgemein umfassen heutige automatisierte Schaltungsaufbautests ein Testprogramm (d. h. eine Softwareanwendung), das eine Testschnittstelle betreibt, die verschiedene Dauerzustandsspannungen und Testsignale zwischen der Testausrüstung und der zu testenden Vorrichtung (DUT; DUT = device under test) kommuniziert. Die Testschnittstellen können auf die verschiedenen Testtore sowie andere Schaltungsknoten in der DUT zugreifen. Die Testausrüstung kann verschiedene Ressourcen, wie z. B. Spannungstreiber, Empfänger, Relais und Testanschlußstifte, die angeordnet sind, um geeignete Stellen der DUT in Eingriff zu nehmen, umfassen. Die Treiber und Empfänger sind abwechselnd geschaltet und können bei einigen Ausführungsbeispielen (wie bei bidirektionalen Datenbussen) gemeinsam in einer systematischen und getakteten Sequenz mit verschiedenen Knoten der DUT verbunden sein. Die Treiber und Empfänger können über Relais und Testanschlußstifte, die verschiedene Schaltungsaufbauknoten kontaktieren, verbunden sein.
• Bei einem typischen Taktzeitraum des Testprogramms zwingen Treiber eine erste Mehrzahl von Testanschlußstiften, die in Kontakt mit DUT-Knoten sind, auf vorgeschriebene Spannungen und prüfen, daß Empfänger, die mit einer zweiten Mehrzahl von Testanschlußstiften verbunden sind, die in Kontakt mit anderen DUT-Knoten sind, erwartete Ausgangssignale empfangen. Wenn bei einem Taktzyklus in der Sequenz die erwarteten Ausgangssignale nicht beobachtet werden, kann die DUT als defekt eingestuft werden. Testanomalien können aufgezeichnet oder anderweitig durch die Testausrüstung angezeigt werden. Auf ein Auftreffen eines anormalen Ergebnisses hin kann der Test abgeschlossen sein oder das Testprogramm kann Schritte in einer Bemühung ausführen, die Ursache des anormalen Ergebnisses zu isolieren und zu identifizieren.
• Die Signale, die während eines Testes gesendet und empfangen werden, können als eine große Matrix von Daten betrachtet werden: Die Spalten der Matrix sind einem Testanschlußstift zugeordnet, wobei die Zeilen der Matrix einem Testvektor zu einem bestimmten Taktzyklus entsprechen. Die Matrix wird während des Tests gespeichert und an die Testausrüstung kommuniziert. Allgemein wird die Matrix auf einem nichtflüchtigen Speicherelement gespeichert, wie z. B. einer Magnetplatte oder einem Band, ist jedoch nicht auf dieselben beschränkt. Die Matrix kann dann in ein Direktzugriffsspeicherelement geladen werden, wie dies benötigt wird, um den Test durchzuführen. Die "flache" oder "entrollte" Form der Matrix umfaßt Testvektoren für jeden Taktzyklus des Testprogramms. Ein Testvektor ist der Satz von Signalen, die bei einem bestimmten Taktzyklus zu den Testanschlußstiften gesendet und/oder von denselben empfangen werden.
• Ein Speichern und Verwenden dieser flachen oder entrollten Form der Matrix ist speicherintensiv und teuer. Folglich speichern einige Systeme die Matrix von Testvektoren in einer komprimierten Form. Das US-Patent Nr. 4,652,814 z. B. beschreibt ein System, das eindeutige Testvektoren in Testausrüstungsspeicherelementen speichert. Das System weist einen lokalen Testdaten-RAM zu, der sowohl Reiz- als auch Antwortdaten zur Verwendung bei einem zugeordneten Testanschlußstift enthält. Die Reiz- und Antwortdaten werden komprimiert, um die Datenmenge zu reduzieren, die heruntergeladen wird, um einen bestimmten Test durchzuführen. Das System, das offensichtlich in dem '814-Patent beschrieben ist, verwendet einen Sequenzer, der die eindeutigen Testvektoren in einer Reihenfolge anlegt, die durch verschiedene Teilroutinen, Schleifen usw. in dem Testprogramm definiert ist. Während eines Tests sendet der Sequenzer die Testvektoren in der geeigneten Reihenfolge an die geeigneten Anschlußstiftorte, wodurch die flache Form des Tests aus den komprimierten Daten aufgebaut wird.
• Da elektronische Vorrichtungen zunehmend komplexer werden, ist die Anzahl von Eingangs- und Ausgangsanschlußstiften, die einzelnen integrierten Schaltungen zugeordnet sind, die in den Vorrichtungen verwendet werden, angestiegen. Folglich ist die Anzahl von Testanschlußstiften, die erforderlich sind, um einzelne eingebaute integrierte Schaltungen und zugeordnete Hostschaltungsaufbauten zu testen, entsprechend angestiegen. Da die Anzahl von Testanschlußstiften und so die Größe des Testvektors groß werden, wächst die Testmatrix nicht nur, sondern ist außerdem zunehmend schwieriger zu komprimieren.
• Die Komprimierung wird zunehmend schwieriger, da die Komprimierungsverfahren versuchen, Abschnitte eines Tests zu identifizieren, die wiederholt werden und so wiederverwendbar sind. Eine Sequenz von Testvektoren A-B-C z. B. kann in einem Test oft wiederkehren, wobei Komprimierungsmethodiken einen Vorteil aus der Wiederholung ziehen können, indem sie A-B-C einmal speichern und die Sequenz während des Tests wiederverwenden. Da Testvektoren jedoch größer werden, nimmt die Wahrscheinlichkeit, daß eine bestimmte Sequenz von Testvektoren wiederkehrt, ab.
• Als ein Ergebnis müssen weiter ansteigende Datenmengen an die Anschlußstiftelektronik (d. h. die verschiedenen Treiber und Empfänger, die jedem einer Mehrzahl von Testanschlußstiften zugeordnet sind, die die physische Schnittstelle zwischen einem schaltungsinternen Tester und einer DUT bilden) in einer Testvorrichtung kommuniziert werden, um sowohl die integrierten Schaltungsaufbauten als auch die einzelnen Komponenten, die an dem Aufbau befestigt sind, gründlich zu testen. Zusätzlich haben es Hersteller von Vorrichtungen, die integrierte Schaltungsaufbauten mit programmierbaren integrierten Schaltungen verwenden, aus Herstellungs- und Handhabungsperspektiven als wünschenswert befunden, Anwendungsprogramme zu erzeugen, die die Daten, die notwendig sind, um eingebaute integrierte Schaltungen zu programmieren, mit einem Testprogramm kombinieren. Die zusammengesetzten Anwendungsprogramme können dann verwendet werden, um die einzelnen programmierbaren Vorrichtungen vor einem Testen der einzelnen integrierten Schaltung und/oder des Hostschaltungsaufbaus zu programmieren und/oder anderweitig zu konfigurieren.
• Die Kombination der eingebauten Programmierungsinformationen mit den Testdaten erhöht die Datenspeicherkapazität weiter, die erforderlich ist, um heutige komplexe Schaltungsaufbauten zu testen. Folglich ist es häufig der Fall, daß die Datenmenge, die zu der Testausrüstung übertragen werden muß, um sowohl die verschiedenen programmierbaren Vorrichtungen zu programmieren als auch den Schaltungsaufbau gründlich zu testen, die Speicherkapazität der Testausrüstung übersteigt.
• Ein bekanntes Verfahren zum Angehen des Problems eines nichtausreichenden Speicherraums in der Testausrüstung besteht darin, das Anwendungsprogramm in eine Mehrzahl von Test- und/oder Programmsegmenten zu unterteilen. Solange die resultierenden Segmente einzeln die Speicherkapazität der Testausrüstung nicht überschreiten, können die Segmente separat betrieben werden. Zwischen jedem Segment jedoch muß der Testsequenzer pausieren und das Testspeicherelement muß mit den neuen Daten neu geladen werden. Das Anwendungsprogramm kann dann neu gestartet werden, nachdem das nächste Segment erfolgreich in das Testspeicherelement geladen wurde. Während dieser Segmentierungsansatz funktionell ist, führt seine Verwendung aufgrund des Bedarfs, den Schaltungstester zu pausieren, um Speicherelemente neu zu laden, zu einer unerwünschten Komplexität bei der Entwicklung der segmentierten Tests und zu Verzögerungen bei dem seriellen Programmieren und Testen von massengefertigten Schaltungsaufbauten.
• Ein weiteres bekanntes Verfahren zum Angehen des Problems eines nichtausreichenden Speicherraums in der Testausrüstung besteht darin, die Speicherkapazität der Testspeichervorrichtung zu erhöhen. Während kommerziell verfügbare RAM-Vorrichtungen mit der Zeit eine erhöhte Speicherkapazität liefern können, wird jede Erzeugung oft durch eine Veränderung der Anzahl von Anschlußstiften und/oder Schnittstellen mit der Vorrichtung begleitet. Ferner sind integrierte Schaltungs-RAM-Vorrichtungen mit den Speicherkapazitäten, die erforderlich sind, um sowohl das Testprogramm als auch Daten zu speichern, die erforderlich sind, um eingebaute programmierbare Vorrichtungen zu programmieren, viel teurer als RAM-Vorrichtungen mit kleinerer Kapazität. Da zu erwarten ist, daß Test- und Programmierungsdatenanforderungen mit einer schnellen Rate ansteigen, sind alternative Systeme und Verfahren erwünscht, um die nichtausreichende Speicherkapazität und einen inhärent niedrigen Datendurchsatz in Schaltungsaufbautest- und Programmierungsvorrichtungen anzugehen.
• Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein verbessertes Verfahren zum Erhöhen eines Durchsatzes und einer Datenkapazität in einem Schaltungstester, ein System zum Beschleunigen eines Durchsatzes in einem Schaltungsaufbautestsequenzer mit verbesserten Charakteristika oder einen Datenbeschleuniger mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
• Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 11, ein System gemäß Anspruch 20 oder einen Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 26 gelöst.
• Ansprechend auf diese sowie weitere Nachteile des Stands der Technik sind Systeme und Verfahren zum Erhöhen des Datendurchsatzes und der Datenkapazität digitaler Schaltungstester offenbart. Kurz beschrieben kann im Aufbau ein verbesserter Schaltungstester mit einem Datenbeschleuniger zur Verwendung bei einem Testvektorsequenzer realisiert werden. Der Datenbeschleuniger kann einen Datenumsetzer, eine Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen und einen Schalter aufweisen. Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen sind der Datenumsetzer und der Schalter über ein einzelnes Steuerungssignal ansprechend auf eine Anzeige konfiguriert, daß eine erste Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um ein Datensegment zu empfangen, und daß eine zweite Sequenzspeichervorrichtung bereit ist, um gleichzeitig ein zuvor gespeichertes Datensegment zu senden.
• Einige Ausführungsbeispiele des verbesserten Schaltungstesters können betrachtet werden, um Verfahren zum Erhöhen eines Datendurchsatzes zu liefern. Diesbezüglich kann ein Verfahren zum Erhöhen eines Datendurchsatzes durch die folgenden Schritte zusammengefaßt werden: a) Segmentieren einer Testanwendung in eine Mehrzahl von Anwendungssegmenten; b) Aufnehmen eines ersten Anwendungssegments in einer ersten Testsequenzerspeichervorrichtung; c) Konfigurieren der Testsequenz, um das erste Anwendungssegment weiterzuleiten, um eine Schaltung zu programmieren oder zu testen und gleichzeitig ein nachfolgendes Anwendungssegment in einer zweiten Testsequenzerspeichervorrichtung aufzunehmen; d) Erfassen einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung einer Anwendungssegmentübertragung, die sowohl der ersten als auch der zweiten Testsequenzerspeichervorrichtung zugeordnete ist; e) Rekonfigurieren des Testsequenzers, um das nachfolgende Anwendungssegment weiterzuleiten und gleichzeitig ein weiteres nachfolgendes Anwendungssegment in der ersten Testsequenzerspeichervorrichtung aufzunehmen; und f) Wiederholen der Schritte des Konfigurierens, Weiterleitens und Erfassens, bis das letzte der Mehrzahl von Anwendungssegmenten weitergeleitet wurde.
• Weitere Systeme, Verfahren und Merkmale, die dem verbesserten Schaltungstesten zugeordnet sind, werden für Fachleute bei der Betrachtung der folgenden Zeichnungen und der detaillierten Beschreibung ersichtlich. Es ist beabsichtigt, daß alle derartigen zusätzlichen Systeme, Verfahren und Merkmale, die in dieser Beschreibung enthalten sind, innerhalb des Bereichs des Systems und des Verfahrens für einen erhöhten Datendurchsatz und eine Datenkapazität sind, die durch die beigefügten Zeichnungen geschützt sind.
• Das System und das Verfahren für einen erhöhten Datendurchsatz können Bezug nehmend auf die folgenden Zeichnungen besser verstanden werden. Die Komponenten in den Zeichnungen sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu, wobei statt dessen eine klare Darstellung der Prinzipien des verbesserten Schaltungstesters hervorgehoben wird. Ferner bezeichnen in den Zeichnungen gleiche Bezugszeichen in den mehreren Ansichten entsprechende Teile. Es zeigen:
• Fig. 1 ein Funktionsblockdiagramm, das einen Datenfluß in einem exemplarischen Test- und schaltungsinternen Programmierungssystem darstellt;
• Fig. 2 ein Funktionsblockdiagramm, das einen Sequenzer in einem verbesserten Schaltungstester darstellt, der in dem Test- und schaltungsinternen Programmierungssystem aus Fig. 1 verwendet werden kann;
• Fig. 3 ein schematisches Diagramm, das den Datenbeschleuniger des verbesserten Schaltungstesters aus Fig. 2 darstellt;
• Fig. 4 ein schematisches Diagramm, das die Teststeuerung aus Fig. 2 darstellt; und
• Fig. 5 ein Flußdiagramm, das ein Verfahren zum Erhöhen eines Datendurchsatzes und einer Datenkapazität darstellt, was bei dem verbesserten Schaltungstester aus Fig. 2 realisiert werden kann.
• Verschiedene Aspekte des Systems und des Verfahrens für einen erhöhten Datendurchsatz und eine Datenkapazität wurden oben zusammengefaßt, wobei nun detailliert Bezug auf die Beschreibung der exemplarischen Systeme und Verfahren genommen wird, wie diese in den Zeichnungen dargestellt sind. Während die Systeme und Verfahren für einen erhöhten Datendurchsatz in Verbindung mit diesen Zeichnungen beschrieben werden, ist es nicht beabsichtigt, dieselben auf das oder die hierin offenbarten Ausführungsbeispiele zu beschränken. Im Gegenteil ist es die Absicht, alle Alternativen, Modifizierungen und Äquivalente abzudecken, die innerhalb der Wesensart und des Bereichs der Systeme und Verfahren für einen erhöhten Datendurchsatz enthalten sind, wie diese durch die beigefügten Ansprüche definiert sind.
• Allgemein kann ein verbesserter Schaltungstester in dem Testsystem, das in Fig. 1 dargestellt ist, angewendet werden, um die Testanwendung und Daten der programmierbaren Vorrichtung, falls dies erwünscht wird, zu einer DUT (z. B. einem gedruckten Schaltungskartenaufbau) zu übertragen. Wie in dem Funktionsblockdiagramm aus Fig. 1 dargestellt ist, kann ein Schaltungstester 100 einen Sequenzer 110, einen Vektoradreßbus 115 und eine Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120 aufweisen, die jeweils ihrem jeweiligen Treiber-/Empfangsmodul 130 zugeordnet sind. Jedes dieser Treiber-/Empfangsmodule 130a, 130b, 130c, . . ., 130n ist schnittstellenmäßig mit der DUT 200 über eine Mehrzahl von Anschlußstiften verbunden, die jedem der verschiedenen Treiber-/Empfangsmodule 130 zugeordnet sind. Ähnlich sind die Treiber-/Empfangsmodule 130a, 130b, 130c, . . ., 130n schnittstellenmäßig mit der DUT 200 verbunden, um Testergebnisse zu erfassen und wieder zurück zu dem Sequenzer 110 zu leiten.
• Wie in Fig. 1 dargestellt ist, ist der Sequenzer 110 konfiguriert, um Daten von einer Teststeuerung zu empfangen. Der Sequenzer 110 kann eine Verzeichnisspeichervorrichtung und eine Sequenzspeichervorrichtung (in Fig. 1 nicht gezeigt) umfassen. Der Sequenzer 110 kann außerdem ein Systemtaktsignal sowie andere Steuerungssignale von der Teststeuerung empfangen. Die Verzeichnisspeichervorrichtung kann mit einem Programm vorgeladen sein, das eine Sequenz von Adressen erzeugt, die an die Sequenzspeichervorrichtung weitergeleitet wird. Der Ausgang der Sequenzspeichervorrichtung ist die Vektoradresse, die entlang des Vektoradreßbusses 115 zu der Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120a, 120b, 120c, . . ., 120n weitergeleitet wird. Der Ausgang von den Vektorspeichervorrichtungen 120a, 120b, 120c, . . ., 120n wiederum wird zu den jeweiligen Treiber- /Empfangselektronikmodulen 130a, 130b, 130c, . . ., 130n weitergeleitet, die wiederum Signale liefern und von der DUT 200 empfangen.
• Jedes der jeweiligen Treiber-/Empfangsmodule 130 enthält einen Satz von bidirektionalen Testanschlußstiften, d. h. Testanschlußstiften, die jeweils einzeln verwendet werden können, um Testsignale an die DUT 200 zu liefern oder Ausgangsdaten von der DUT 200 zu überwachen. Jede der jeweiligen Vektorspeichervorrichtungen 120, die dem einzelnen Treiber-/Empfangsmodul 130 zugeordnet sind, enthält Reiz- und erwartete Antwortdaten zur Verwendung bei einem bestimmten Testanschlußstift. Die Reiz- und erwarteten Antwortdaten, die in jeder Vektorspeichervorrichtung 120 gespeichert sind, können komprimiert werden, um die Datenmenge zu reduzieren, die heruntergeladen werden muß, um einen bestimmten Test durchzuführen.
• Die Testsignale, die an jedem Anschlußstift erzeugt werden, können auch in mehreren Modi variiert werden. Bei einem Rohdatenmodus zeigen die Reiz- und erwarteten Antwortdaten an, ob das Signal auf dem Anschlußstift logisch hoch oder logisch niedrig getrieben werden soll. Bei einem Ableitungsmodus zeigen die Reiz- und erwarteten Antwortdaten an, ob das Signal auf dem Anschlußstift in seinem gegenwärtigen Zustand gehalten werden soll oder in seinen komplementären Zustand umgeschaltet werden soll. Für Fachleute auf diesem Gebiet ist es ersichtlich, daß diese "Behalten"- und "Umschalten"-Modi die Menge eindeutiger Vektoren dramatisch komprimieren können, die in den Vektorspeichervorrichtungen 120 codiert sein können.
• Die einzelnen Anschlußstifttreiberschaltungen innerhalb jedes der Treiber-/Empfangsmodule 130 können auch konfiguriert sein, um das Signal auf dem Anschlußstift zu überwachen und dasselbe im Lauf (d. h. wenn jedes Datenelement überwacht wird) mit dem Signal, das auf jedem bestimmten Anschlußstift zu erwarten ist, zu vergleichen. Eine Anschlußstift-Bestehen/Durchfallen-Bestimmung kann ansprechend auf diesen Vergleich erzeugt werden, wobei dieses Anschlußstift-Bestehen/Durchfallen-Signal abhängig davon aktiviert oder deaktiviert sein kann, ob die Testprozedur entworfen ist, um diese Informationen zu testen. Wie in dem Schema aus Fig. 1 dargestellt ist, können die Treiber- /Empfangsmodule 130a, 130b, 130c, . . ., 130n jeweils mit einem entsprechenden Testergebnistor 135 zum Weiterleiten von Testergebnissen zu der Teststeuerung konfiguriert sein.
• Jede Vektorspeichervorrichtung 120 enthält die Reiz- und erwarteten Antwortdaten für ihre zugeordnete Anschlußstifttreiberschaltung in dem zugeordneten Treiber-/Empfangsmodul 130. Jede der Vektorspeichervorrichtungen 120 weist den gleichen Bereich von Adressen auf. Der Satz von Bits in der Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120 bildet einen "Datenvektor". Auf alle Vektorspeichervorrichtungen 120 wird gleichzeitig durch eine einzelne Datenvektoradresse zugegriffen, wobei das Treiber-/Empfangsmodul 130 ansprechend auf den Datenvektor ist, der aus einem derartigen Zugriff resultiert, um auf den Anschlußstiften eine Struktur von Signalen, die ein "Vektor" genannt wird, zu erzeugen.
• Die Vektorspeichervorrichtungen 120 enthalten nur die eindeutigen Datenvektoren, die während eines bestimmten Schaltungstests verwendet werden, d. h. diese Vektorspeichervorrichtungen 120 enthalten nur eine einzelne Kopie jedes Datenvektors, der während eines Tests verwendet wird. Die Beseitigung redundanter Datenvektoren komprimiert die Menge gespeicherter Daten, wodurch die Menge heruntergeladener Daten reduziert wird, die erforderlich sind, um einen bestimmten Test zu implementieren. Da nur die eindeutigen Datenvektoren in diesen Vorrichtungen gespeichert sind, wird das Sequenzieren dieser Daten durch einen Sequenzer 110 gesteuert, der jeder der Vektorspeichervorrichtungen 120 die Adresse des Datenvektors liefert, der zu einem bestimmten Zeitpunkt verwendet werden soll.
• Die Sequenzierungsinformationen können in dem Sequenzer 110 durch ein Speichern von Datenvektoradressen in dem Sequenzer 110 in der Reihenfolge gespeichert sein, in der auf die Datenvektoren bei diesen Adressen von den Vektorspeichervorrichtungen 120 zugegriffen werden soll. Der Sequenzer 110 kann jedoch auch eine Logik enthalten, die es ermöglicht, daß die Sequenzerdaten komprimiert werden. Der Sequenzer 110 beinhaltet die Fähigkeit zum Implementieren von verschachtelten Schleifen, Teilroutinen, die Vektorparameter verwenden, und anderen Programmierungstechniken, die es ermöglichen, daß die Sequenzinformationen als ein Programm anstatt nur einer geordneten Liste von Datenvektoradressen gespeichert werden. Der Sequenzer 110 kann außerdem einen Satz von Zählern/Registern und eine zugeordnete Logik enthalten, die es ermöglichen, daß die Zähler beim Verfolgen von Programmschleifen und Teilroutinen verwendet werden. Zusätzlich können diese Zähler mit einem Prioritätscodierer verbunden sein, der verwendet wird, um eine Sequenz von Adressen zu erzeugen, die in dem Ableitungsmodus zu den Vektorspeichervorrichtungen 120 geliefert werden, um Testsignale zu erzeugen, die gleichwertig sind zu denen, die resultieren würden, wenn die Zähler direkt mit den Testanschlußstiften verbunden wären.
• Wie oben beschrieben wurde, ist es oft der Fall, daß eine komplexe DUT 200 ein Testanwendungsprogramm erfordert, das die Speicherkapazität der Sequenzspeichervorrichtung in dem Sequenzer 110 übersteigt. Dies ist außerdem oft der Fall, wenn ein Schaltungstester, wie z. B. der Schaltungstester 100, der in Fig. 1 dargestellt ist, verwendet wird, um schaltungsinterne programmierbare Vorrichtungen zu programmieren, was sehr lange Sequenzen von Vektoren erfordern kann, um die Vorrichtungen zu programmieren. Anders ausgedrückt ist die Menge von Daten, die erforderlich ist, um die verschiedenen Treiber-/Empfangsmodule 130 zu programmieren und/oder ein Programm in einer oder mehreren programmierbaren Vorrichtungen zu speichern, mehr, als auf einmal in den Sequenzspeicher paßt. Die eingeschränkte Speicherkapazität des Sequenzers 110 erfordert die Segmentierung des Testanwendungsprogramms und/oder der Daten der programmierbaren Vorrichtung in eine Mehrzahl von Segmenten. Bei einem verbesserten Schaltungstester, der unter Verwendung von Prinzipien der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist, muß der Sequenzer 110 nicht mehr gestoppt werden und der Sequenzspeicher zwischen jedem der Mehrzahl von Testanwendungssegmenten und/oder zwischen programmierbaren Datensegmenten neu geladen werden.
• Im folgenden wird Bezug auf Fig. 2 genommen, die ein schematisches Diagramm eines exemplarischen, verbesserten Schaltungstesters 150 darstellt. Der verbesserte Schaltungstester 150, der in Fig. 2 dargestellt ist, umfaßt einen Sequenzer 110. Der Sequenzer 110 weist eine Verzeichnisspeichervorrichtung 220 gemeinsam mit einem zugeordneten Verzeichniszeiger 212, einen Datenbeschleuniger 300 gemeinsam mit einem zugeordneten Sequenzzeiger 214 und einen Sequenzzähler 210 auf. Wie in Fig. 2 gezeigt ist, kann sowohl der Verzeichniszeiger 212 als auch der Sequenzzeiger 214 mit dem Sequenzzähler 210 gekoppelt sein, um das Anlegen einer Mehrzahl von Sequenzspeicheradressen pro einer zugeordneten Verzeichnisspeicheradresse zu koordinieren.
• Der Datenbeschleuniger 300 kann eine Sequenzspeichervorrichtung (in Fig. 2 nicht gezeigt) umfassen. Die Sequenzspeichervorrichtung kann ein Direktzugriffsspeicherelement oder eine andere elektronische Speichereinrichtung sein. Die Sequenzspeichervorrichtung speichert Vektoradressen. Die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 kann eine Sequenz von Vektoradressen identifizieren, die zur Anwendung bei dem Vektoradreßbus 115 entworfen sind. Der Sequenzzähler 210 kann auf ein Steuerungssignal antworten, das von einer Teststeuerung weitergeleitet wird, um mehrere Vektoradressen von der Sequenzspeichervorrichtung (ein Vektor während jedes nachfolgenden Taktzyklus) anzulegen.
• Die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 in ihrer einfachsten Form kann ein Zähler sein, der eine unterschiedliche Sequenz, die in einer Sequenzspeichervorrichtung gespeichert ist, mit jedem Taktzyklus identifiziert. In dieser einfachsten Form jedoch würde keine der Sequenzen, die in der Sequenzspeichervorrichtung gespeichert sind, wiederholt werden. Bei mehreren praktischen Anwendungen neigen Sequenzen dazu, wiederholt zu werden, da einige Strukturen der DUT 200 regelmäßig und sich wiederholend sind. So kann die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 allgemein eine Direktzugriffsvorrichtung oder eine andere elektronische Speichervorrichtung sein, die Verzeichnisteilprogramme, wie z. B. Schleifen und Teilroutinen, die jedoch nicht auf dieselben beschränkt ist, speichert. Die Verzeichnisteilprogramme werden durch eine Teststeuerung, die in Fig. 2 gezeigt ist, adressiert und eingeleitet. Wie weiter unten Bezug nehmend auf Fig. 4 erläutert wird, kann die Teststeuerung unter anderen Vorrichtungen ein Mikroprozessor oder ein Computer sein. Die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 liefert Informationen an die Teststeuerung, die die Teststeuerung darüber informieren, wann die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 ein Verzeichnisteilprogramm abgeschlossen hat. Ein Systemtakt (nicht gezeigt) kann Testeinleitungs- und Zeitgebungssignale zwischen der Teststeuerung und dem Sequenzer 110 liefern.
• Vektorspeichervorrichtungen 120 (Fig. 1) speichern Sätze von Signalen, die eindeutigen Testvektoren zugeordnet sind. Der Satz von Signalen, die an Testanschlußstifte anlegbar sind, die jedem der jeweiligen Treiber-/Empfangsmodule 130 (Fig. 1) zugeordnet sind, kann über Datentore in die Vektorspeichervorrichtungen 120 geladen werden, die dem Vektoradreßbus 115 zugeordnet sind. Ähnlich können Daten, die den Sequenzen von Vektoradressen entsprechen, in die Sequenzspeichervorrichtung des Datenbeschleunigers 300 geladen werden, wobei die Daten, die notwendig sind, um die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 zu betreiben, in die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 geladen werden können. Die Daten, die notwendig sind, um den Sequenzer 110 zu betreiben, können von der Verzeichnisspeichervorrichtung 220 über den Datenbus 225 zu dem Sequenzzeiger 214 geleitet werden. Zusätzlich und wie in Fig. 2 gezeigt ist, können einige Signale von der Verzeichnisspeichervorrichtung 220 über den Datenbus 225 zu dem Datenbeschleuniger 300 geleitet werden. Signale, die von der Verzeichnisspeichervorrichtung 220 an den Datenbeschleuniger 300 geleitet werden, können ein Takt- und/oder andere synchrone Signale umfassen, die in dem Datenbeschleuniger 300 kombiniert und/oder anderweitig verarbeitet werden können, um ein Schaltersteuerungssignal zu erzeugen.
• Die Vektorspeichervorrichtungen 120, die Sequenzspeichervorrichtung (in dem Datenbeschleuniger) und die Verzeichnisspeichervorrichtung 220 zusammen speichern das Testanwendungsprogramm in einer komprimierten Form. Dies kann durch ein einfaches Beispiel dargestellt werden. Es wird angenommen, daß es fünf Testanschlußstifte gibt, die jedem Treiber-/Empfangsmodul 130 (Fig. 1) in dem Schaltungstester 100 zugeordnet sind, wobei jeder Testanschlußstift mit einem einzelnen Knoten der DUT 200 verbunden ist. Ferner wird angenommen, daß es fünf Vektorspeichervorrichtungen 120 gibt und jede Adresse in einer Vektorspeichervorrichtung 120 ein einzelnes Signal speichert. Ein Testvektor würde die fünf Signale umfassen, die bei einer bestimmten Adresse in den fünf Vektorspeichervorrichtungen 120 gespeichert sind. Außerdem wird angenommen, daß das Testprogramm acht Testvektoren umfaßt. Ein unvollständiges Beispiel eines Testprogramms und der eindeutigen Testvektoren in dem Testprogramm ist in Tabelle I unten gezeigt. Tabelle I
  
  
• Wie in Tabelle I gezeigt ist, geben die erste bis vierte Vektorspeichervorrichtung 120a bis 120d ein "0"-Signal bei dem ersten Taktzyklus aus, während die fünfte Vektorspeichervorrichtung 120e ein "H"- oder ein logisches Hochsignal ausgibt. Der Testvektorausgang bei dem ersten Taktzyklus ist 0000H. Der Testvektor 0000H ist in der letzten Spalte mit "a" bezeichnet. In dem zweiten Taktzyklus wird der Testvektor 0001H ausgegeben. Der Testvektor 0001H unterscheidet sich von dem Testvektor "a" und wird Testvektor "b" genannt. Ähnlich werden bei dem dritten bis sechsten Taktzyklus eindeutige Testvektoren ausgegeben und mit "c" bis "g" bezeichnet. Bei dem vierten Taktzyklus geben das erste, dritte und vierte Vektorspeicherelement 120a, 120c und 120d ein "0"-Signal bei dem ersten Taktzyklus aus, während das zweite Vektorspeicherelement ein "N" oder logisches Niedrigsignal ausgibt. Bei dem achten Taktzyklus wird der Testvektor 0001H ausgegeben. Der Testvektor 0001H ist der gleiche wie der Testvektor "b", der bei dem zweiten Taktzyklus ausgegeben wird. So wird für dieses Testprogramm die Anzahl von gespeicherten Testvektoren von acht auf sieben eindeutige Testvektoren komprimiert. Allgemein beinhalten Tests eine sehr viel größere Anzahl von Testvektoren, wobei die Komprimierung entsprechend größer ist. Eine zusätzliche schaltungsinterne Testausrüstung und Testverfahren sind in den US-Patenten Nr. 4,598,245, 4,642,561, 4,652,814 und 5,402,427 beschrieben, die hierin in ihrer Gesamtheit durch Bezugnahme aufgenommen sind.
• Für Fachleute auf diesem Gebiet sollte es ersichtlich sein, daß bevorzugte Ausführungsbeispiele des verbesserten Schaltungstesters 150 mehrere Bits codieren können, um mehr als ein Signal weiterzuleiten. Der verbesserte Schaltungstester 150 z. B. kann fünf Zustände pro Treiber (d. h. "logisch hoch", "logisch niedrig", "Behalten", "Umschalten", "hohe Impedanz" und "empfangener Wert egal" für die Empfänger) weiterleiten. Diese fünf Zustände pro Treiber oder Empfänger erfordern drei Bits oder Signale, um dieselben zu codieren. Hersteller von integrierten Schaltungsaufbauten haben es für effizient befunden, Anwendungsprogramme zu erzeugen, die die oben beschriebenen Testprogramme mit den Daten kombinieren, die notwendig sind, um schaltungsinterne programmierbare integrierte Schaltungen zu programmieren. Das Anwendungsprogramm kann dann verwendet werden, um programmierbare integrierte Schaltungen an dem Ende der Fertigungsstraße zu programmieren und zu testen.
• Die programmierbaren Vorrichtungen umfassen nichtflüchtige Speichervorrichtungen, wie z. B. Flash-Speichervorrichtungen, und programmierbare logische Vorrichtungen, wie z. B. komplexe programmierbare logische Vorrichtungen (CPLD), und flüchtige Speichervorrichtungen, wie z. B. frei programmierbare Gate-Arrays (FPGA), sind jedoch nicht auf dieselben beschränkt. Es wird angemerkt, daß es innerhalb der Industrie von programmierbaren Logiken keine Konsistenz hinsichtlich der Benennungsübereinkunft für eine nichtflüchtige programmierbare Logik (die üblicherweise CPLD genannt wird) und eine flüchtige programmierbare Logik (die üblicherweise FPGA genannt wird) gibt. Lattice Semiconductor in Hillsboro, Oregon, USA, z. B. stellt eine nichtflüchtige, programmierbare logische Vorrichtung her, die sie als FPGA bezeichnet. Es wird außerdem angemerkt, daß es in einer Herstellungsumgebung wenig zwingende Gründe gibt, nichtflüchtige, programmierbare logische Vorrichtungen mit einem Speichertester zu programmieren, außer dem, einen gründlichen Test aller Schaltungsvorrichtungen durchzuführen, da die logische Vorrichtung für die meisten Entwürfe nachfolgend gelöscht wird, sobald eine Leistung von dem Schaltungsaufbau entfernt wird.
• Für Fachleute auf diesem Gebiet ist es ersichtlich, daß der verbesserte schaltungsinterne Tester nicht nur in der Lage ist, Vektoren auf eine Vorrichtung anzuwenden, um Daten in der Vorrichtung zu programmieren, sondern auch, um Daten von einer programmierbaren Vorrichtung zu lesen, um zu bestätigen, daß dieselbe korrekt programmiert wurde. Die Vektorspeichervorrichtungen 120 halten nicht nur Treiberinformationen, sondern auch Empfangsinformationen. Deshalb können die Sequenzen von Vektoradressen, die in der Sequenzspeichervorrichtung gespeichert sind, auch angewendet werden, um zu verifizieren, daß die korrekten Daten bereits in die verschiedenen programmierbaren Vorrichtungen programmiert wurden, die in die DUT 200 integriert sind. Obwohl ein Programmieren elektrischer Vorrichtungen mit dem Testen der Vorrichtungen kombiniert wurde, nehmen Fachleute auf diesem Gebiet oft fortdauernd Bezug auf die kombinierte Ausrüstung und Verfahren als Testausrüstung und Testverfahren.
• Die Anwendungsprogramme werden allgemein während des Test- /Programmierverfahrens umgesetzt oder kompiliert. Bei dem Umsetzungs- und/oder Kompilierungsschritt liest der Umsetzer oder Kompilierer das Anwendungsprogramm und erzeugt eine Form der Anwendungsdaten, die durch den verbesserten Schaltungstester 150 verwendet werden können, um einen integrierten Schaltungsaufbau sowohl zu programmieren als auch zu testen. Die Menge kompilierter oder umgesetzter Daten, die notwendig sind, um programmierbare Logikvorrichtungen zu testen und zu programmieren, ist allgemein größer als die Speicherkapazität der Sequenzspeichervorrichtungen, wie z. B. der Sequenzspeichervorrichtung, die in dem Datenbeschleuniger 300 aus Fig. 2 vorgesehen ist. Um die eingeschränkte Speicherkapazität der Sequenzspeichervorrichtung zu überwinden, werden Testanwendungsprogramme oft segmentiert. Der Datenbeschleuniger 300 des verbesserten Schaltungstesters 150 liefert ein System, das fortfährt, um Daten der Testanwendung und/oder der programmierbaren Vorrichtung im Lauf zu verarbeiten, ohne stoppen oder eine Sequenzspeichervorrichtung neu laden zu müssen, um nachfolgende Segmente zu verarbeiten.
• Der Datenbeschleuniger 300 ist ferner in Zuordnung zu dem schematischen Diagramm aus Fig. 3 dargestellt und beschrieben. Wie in Fig. 3 gezeigt ist, umfaßt der Datenbeschleuniger 300 einen Datenumsetzer 310, eine Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 und einen Schalter 330. Um ein Stoppen, Neuladen und Neustarten des Sequenzers 110 zu stoppen, um mehrere Segmente einer langen Testanwendung und/oder eines langen Segments von Daten der programmierbaren Vorrichtung zu verarbeiten, umfaßt der Datenbeschleuniger zumindest eine zusätzliche Sequenzspeichervorrichtung 320 (z. B. Sequenzspeichervorrichtung 320b). Der Datenbeschleuniger 300, der in Fig. 3 dargestellt ist, ist über den Datenumsetzer 310 und den Schalter 330 konfiguriert, um zwischen der Sequenzspeichervorrichtung 320a und der Sequenzspeichervorrichtung 320b abzuwechseln, um den Sequenzer 110 fortdauernd in Interaktion mit der Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120 (siehe Fig. 1 und 2) zu behalten. Während zumindest eine der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320a, 320b aktiv Test- und/oder Datenvektoren zu dem Vektoradreßbus 115 liefert, kann die verbleibende Sequenzspeicherbank mit einem nachfolgenden Datensegment neu geladen werden.
• Wie ferner in Fig. 3 gezeigt ist, kann der Datenumsetzer 310 und der Schalter 330 gleichzeitig über ein Daten- /Vektoradreßsteuerungssignal gesteuert werden. Das Adreßsteuerungssignal fließt von der Teststeuerung zu dem Sequenzer/Datenbeschleuniger/Datenumsetzer, um dem Datenumsetzer 310 anzuzeigen, daß der Datenumsetzer 310 die Erlaubnis der zentralen Verarbeitungseinheit der Teststeuerung hat, zu einer unterschiedlichen Sequenzspeichervorrichtung 320 zu schalten. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel erzeugt ein Schaltungsaufbau im Inneren des Datenumsetzers 310 basierend auf Signalen von der Verzeichnisspeichervorrichtung (220), die entlang des Busses 225 gesendet werden, tatsächlich das "Daten- /Vektoradreßsteuerungs"-Signal 312, das den Schalter steuert. Dieses Zweischrittverfahren ermöglicht es der Schaltersteuerung, synchron mit dem Takt des Sequenzers verändert zu werden, und nicht mit dem Takt der Teststeuerung, was ein Chaos bewirken würde. Für Fachleute auf diesem Gebiet ist es zu erkennen, daß der Schalter mit einem Multiplexer realisiert sein kann.
• Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel leitet die Sequenzspeichervorrichtung 320, sobald eine Sequenzspeicherbank 320, die aktiv über den Schalter 330 und den Vektoradreßbus 115 mit der Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120 kommuniziert hat, eine Segmentübertragung abgeschlossen hat, ein Segmentübertragung-Abgeschlossen-Signal an den Datenumsetzer 310. Wie in Fig. 3 dargestellt ist, ist jede der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320a und 320b konfiguriert, um das Segmentübertragung- Abgeschlossen- oder alternativ ein Segmentaufnahme- Abgeschlossen-Signal über jeweilige Steuerungsschnittstellen 322a und 322b zu liefern. Sobald der Datenumsetzer 310 sowohl ein Segmentaufnahme-Vollständig- als auch ein Segmentübertragung-Vollständig-Signal empfangen hat, kann der Datenumsetzer 310 interne Pfade und den Schalter 330 neu konfigurieren.
• Der Schalter 330 ist konfiguriert, um ein vorher gespeichertes, nachfolgendes Datensegment zu dem Vektoradreßbus 115 zu leiten. Gleichzeitig leiten die internen Pfade des Datenumsetzers 310 ein weiteres Datensegment zu der Sequenzspeichervorrichtung 320 weiter, die das vorherige Datensegment zu dem Vektoradreßbus 115 übertragen hat. Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel schaltet der Datenumsetzer 310 zu der anderen Sequenzspeichervorrichtung, nachdem der Datenumsetzer 310 eine Erlaubnis von der Teststeuerung 400 zum Fortfahren empfangen hat.
• Bei einigen Ausführungsbeispielen umfaßt der Datenumsetzer 310 einen Mechanismus, um die Sequenzspeicherdaten im Lauf von den ursprünglichen "Programmierungs"-Daten, die durch die Teststeuerung 400 (Fig. 4) empfangen wurden, umzusetzen und/oder zu kompilieren. Ein Großteil der Umsetzung kann in zweckgebundener Hardware durchgeführt werden, um das erwünschte Durchsatzverhalten des verbesserten Schaltungstesters 150 zu erzielen. Während bevorzugte Ausführungsbeispiele den Datenumsetzer 310 in Hardware implementieren, ist es für Fachleute auf diesem Gebiet ersichtlich, daß der Datenumsetzer 310 in Software und/oder Firmware ausgeführt sein kann. Eigene Datenformate können verschiedene Konfigurationen erfordern, um geeignete Daten der Sequenzspeichervorrichtung 320 zu erzeugen. Unabhängig von der Natur des Datenformats kann der Inhalt der Verzeichnisspeichervorrichtung 220 und der Vektorspeichervorrichtung 120 in einer Wiederholungsstruktur aufgebaut sein, so daß nur Daten in den Sequenzspeichervorrichtungen 320a und 320b neu geladen werden, um die Adreß- und Dateninformationen für jedes Programmsegment zu codieren.
• Sobald eine der Sequenzspeichervorrichtungen 320a geladen ist, kann der Sequenzer 110 gestartet werden. Während der Sequenzer 110 läuft (d. h. Verarbeitung des "Programms", das in der Verzeichnisspeichervorrichtung 220 gespeichert ist, um die Testvektoren von der Sequenzspeichervorrichtung 320a weiterzuleiten), wird der Inhalt des nächsten Segments des Sequenzspeichers von dem Datenumsetzer 310 in die Sequenzspeichervorrichtung 320b geladen. Wie bereits angemerkt wurde, kann, sobald eine Sequenzspeichervorrichtung 320 ein Segment der Programmierungsdaten zu dem Vektoradreßbus 115 weitergeleitet hat, und sobald eine weitere Sequenzspeichervorrichtung 320 das nächste Segment der Programmierungsdaten von der Teststeuerung 400 (Fig. 4) aufgenommen hat, der Datenumsetzer 310 einen Austausch der Sequenzspeichervorrichtungen 320a und 320b durch ein Neukonfigurieren des Schalters 330 anweisen.
• Beim Programmieren von "Flash"- und/oder anderen schaltungsinternen programmierbaren Vorrichtungen kann der verbesserte Schaltungstester 150 wie folgt funktionieren. Die Datensegmente, die alternativ in die Sequenzspeichervorrichtungen 320a, 320b geschrieben sind, werden die Adresse des Vektors, der die geeigneten Informationen zu der DUT 200 treibt. Die DUT-200-Daten- und Adreßbits können in 8-Bit- (d. h. "Byte"-) Spuren unterteilt sein. Eine Nachschlagtabelle kann in jeder Vektorspeichervorrichtung 120 enthalten sein, die konfiguriert sein kann, um jede mögliche Kombination der 8-Bit-Spur zu codieren. Um einen bestimmten 8-Bit-Wert über eine bestimmte Byte-Spur weiterzuleiten, kann der Datenwert zu einer Adresse der Nachschlagtabelle für die bestimmte Byte-Spur hinzugefügt werden. Wenn ein erwünschter Datenwert, z. B. 0 × D3, für eine Anwendung beabsichtigt war, die an der Adresse 0 × 1F00 in der Vektorspeichervorrichtung 120 startet, wäre der geeignete Inhalt der Sequenzspeicherbank 320 0 × 1FD3. Wenn die Sequenzspeicherbank 320 0x1FD3 an den Vektoradreßbus 115 anlegt, legen die Treiber für die Byte-Spur 0 × D3 an die DUT 200 an.
• Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen adressiert der Datenumsetzer 310 auch die variable Breite von sowohl Daten- als auch Adreßbussen auf der DUT 200. Der Datenumsetzer 310 kann dies durch ein Anlegen der korrekten Anzahl von Sequenzspeicherbank-Schreibereignissen für die Breite der Adreß- und Datenbusse der DUT erzielen. Um einen Durchsatz des verbesserten Schaltungstesters 150 zu maximieren, kann die Teststeuerung konfiguriert sein, um Daten in ihrer natürlichsten (d. h. schnellsten) Form zu dem Datenumsetzer 310 zu schreiben. So wandelt der Datenumsetzer 310 die Anzahl und Größe von Datenschreibereignissen, die von der Teststeuerung 400 empfangen wurden, mit der Anzahl der Adreß- und Datenschreiboperation um, die derselbe an eine der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 weiterleitet.
• Im folgenden wird Bezug auf Fig. 4 genommen, die eine schematische Ansicht darstellt, die einen exemplarischen Aufbau der Teststeuerung 400, der in Fig. 2 eingeführt ist, darstellt. Die Teststeuerung 400 kann eine einer Vielzahl von verdrahteten und/oder drahtlosen Rechenvorrichtungen sein, wie z. B. Tischcomputer, tragbare Computer, zweckgebundene Servercomputer, Mehrprozessorrechenvorrichtungen usw. Unabhängig von ihrem Typ weist die Teststeuerung 400 üblicherweise einen Prozessor 410, einen Speicher 420, eine oder mehrere Eingangs-/Ausgangsvorrichtungen 430, eine Sequenzerschnittstelle 440 und eine oder mehrere Berichtschnittstellen 450 auf, die jeweils mit einer lokalen Schnittstelle 415 verbunden sind. Die lokale Schnittstelle 415 kann einer oder mehrere Busse oder andere verdrahtete oder drahtlose Verbindungen, die in der Technik bekannt sind, sein, ist jedoch nicht auf dieselben beschränkt. Die lokale Schnittstelle 415 kann zusätzliche Elemente, wie z. B. Puffer (Cache-Speicher), Treiber und Steuerungen (hier zur Einfachheit weggelassen), aufweisen, um Kommunikationen zu ermöglichen. Ferner umfaßt die lokale Schnittstelle 415 Adreß-, Steuerungs- und Datenverbindungen, um geeignete Kommunikationen unter den zuvor genannten Komponenten zu ermöglichen.
• Der Prozessor 410 kann jeden kundenspezifisch hergestellten oder käuflich verfügbaren Prozessor, eine zentrale Verarbeitungseinheit (CPU) oder einen Hilfsprozessor unter mehreren Prozessoren, die der Teststeuerung 400 zugewiesen sind, einen halbleiterbasierten Mikroprozessor (in der Form eines Mikrochips), einen Makroprozessor, eine oder mehrere anwendungsspezifische integrierte Schaltungen (ASIC), eine Mehrzahl von geeignet konfigurierten digitalen Logikgattern und andere bekannte elektrische Konfigurationen, die diskrete Elemente aufweisen, sowohl einzeln und in verschiedenen Kombinationen umfassen, um den Gesamtbetrieb der Teststeuerung 400 zu koordinieren.
• Der Speicher 420 kann jede einer Kombination von flüchtigen Speicherelementen (z. B. Direktzugriffsspeicher (RAM), wie z. B. dynamischer Direktzugriffsspeicher (DRAM), statischer Direktzugriffsspeicher (SRAM) usw.) und nichtflüchtigen Speicherelementen (z. B. Nur-Lese-Speicher (ROM), Festplatten, Bänder, Kompaktplatten-Nur-Lese-Speicher (CDROM) usw.) umfassen.
• Die Eingangs-/Ausgangsvorrichtungen 430 weisen die Komponenten auf, mit denen ein Bediener des Schaltungstesters mit der Teststeuerung 400 in Wechselwirkung stehen kann. Wenn z. B. die Teststeuerung 400 einen Personalcomputer (PC) aufweist, können diese Komponenten eine Tastatur, eine Maus, einen Joystick usw. aufweisen. Wenn die Teststeuerung 400 andere Rechenvorrichtungen aufweist, können diese Komponenten Funktionstasten oder -knöpfe, einen berührungsempfindlichen Anzeigebildschirm, eine Schreibnadel usw. aufweisen. Die Anzeige kann jede einer Anzahl verschiedener Technologien aufweisen. Die Anzeige kann z. B. unter anderem eine Kathodenstrahlröhre oder eine Plasmavorrichtung sein, die häufig bei PCs verwendet wird, oder die Anzeige kann mit einer Flüssigkristallanzeige (LCD) implementiert sein.
• Die Sequenzerschnittstelle 440 ist angepaßt, um eine Verbindung der Teststeuerung 400 mit einem Schaltungstester 100 (siehe Fig. 1) zu erleichtern und kann eines oder mehrere Elemente einer seriellen, parallelen, kleinen Computersystemschnittstelle (SCSI), eines Universal- Seriell-Bus (USB), IEEE 1394 (z. B. Firewire™) und/oder anderer Komponenten umfassen. Wie in dem Funktionsblockdiagramm aus Fig. 4 dargestellt ist, ist die Teststeuerung 400 konfiguriert, um die Übertragung von zumindest einer Testanwendung 425 und/oder von Daten der programmierbaren Vorrichtung 427, wie dies erwünscht sein kann, zu dem Schaltungstester 100 zu übertragen.
• Die Berichtschnittstelle 450 weist die verschiedenen Komponenten auf, die verwendet werden, um Daten ansprechend auf die Testergebnisse an verschiedene Vorrichtungen in Kommunikation mit der Teststeuerung 400 zu senden und/oder zu empfangen. Die Berichtschnittstelle 450 kann z. B. konfiguriert sein, um Informationen, die die DUT, das Testdatum, die Zeit, heruntergeladene Versionen von Daten der programmierbaren Vorrichtung, die Testanwendungsversion sowie eine Vielzahl anderer Informationen darstellen, zu übertragen. Die Berichtschnittstelle 450 kann konfiguriert sein, um die Testinformationen über ein Netz zu einer spezifischen Vorrichtung, zu einer Datenplatte in Kommunikation mit der Teststeuerung 400, zu einem Band und/oder zu einem Drucker in Kommunikation mit der Teststeuerung zu senden. Die Berichtschnittstelle 450 kann beispielhaft eine Vorrichtung umfassen, die sowohl Eingänge als auch Ausgänge kommunizieren kann, z. B. einen Modulator/Demodulator (z. B. Modem), ein drahtloses (z. B. Radiofrequenz- (HF-)) Sende- /Empfangsgerät, eine Telefonschnittstelle, eine Brücke, einen Router und/oder eine Netzkarte usw.
• Es wird darauf verwiesen, daß die verschiedene Software und/oder Firmware, die oben beschrieben ist, auf jedem computerlesbaren Medium zur Verwendung durch oder in Verbindung mit jedem computerbezogenen System oder Verfahren gespeichert sein kann. Im Zusammenhang dieses Dokuments bezeichnet ein computerlesbares Medium eine elektronische, magnetische, optische oder andere physische Vorrichtung oder Einrichtung, die ein Computerprogramm und/oder Daten zur Verwendung durch oder in Verbindung mit einem computerbezogenen System oder Verfahren enthalten oder speichern kann. Diese Programme können in jedem computerlesbaren Medium zur Verwendung durch oder in Verbindung mit einem Instruktionsausführungssystem, einer -vorrichtung oder einem -gerät, wie z. B. einem computerbasierten System, einem prozessorhaltigen System oder einem anderen System, das die Instruktionen von dem Instruktionsausführungssystem, der -vorrichtung oder dem -gerät abholen und die Instruktionen ausführen kann, ausgeführt sein. Im Zusammenhang dieses Dokuments kann ein "computerlesbares Medium" jede Einrichtung sein, die das Programm und/oder Daten zur Verwendung durch oder in Verbindung mit dem Instruktionsausführungssystem, der -vorrichtung oder dem -gerät speichern, kommunizieren, weiterleiten oder transportieren kann.
• Das computerlesbare Medium kann z. B. ein elektronisches, magnetisches, optisches, elektromagnetisches, Infrarot- oder Halbleitersystem, eine -vorrichtung oder ein -gerät oder ein Ausbreitungsmedium sein, ist jedoch nicht auf dieselben beschränkt. Spezifischere Beispiele (eine nichtausschließliche Liste) des computerlesbaren Mediums umfassen eine elektrische Verbindung, die einen oder mehrere Drähte aufweist, eine tragbare Computerdiskette, einen Direktzugriffsspeicher (RAM), einen Nur-Lese-Speicher (ROM), einen löschbaren, programmierbaren Nur-Lese-Speicher (EPROM, EEPROM oder Flash-Speicher), eine optische Faser und einen tragbaren Kompaktplatten-Nur-Lese-Speicher (CDROM). Es wird angemerkt, daß das computerlesbare Medium sogar Papier oder ein anderes geeignetes Medium sein kann, auf das ein Programm gedruckt ist, wenn das Programm, z. B. über ein optisches Scannen des Papiers oder des anderen Mediums elektronisch erfaßt werden kann dann kompiliert, interpretiert oder anderweitig auf eine geeignete Weise verarbeitet werden kann, falls dies nötig ist, und dann in einem Computerspeicher gespeichert werden kann.
• Exemplarische Systeme wurden oben beschrieben, wobei ein exemplarisches Verfahren zum Verbessern eines Datendurchsatzes und einer Datenkapazität in einem schaltungsinternen Tester unten besprochen wird. Diesbezüglich beschreibt die folgende Erläuterung Schritte, die in dem Flußdiagramm aus Fig. 5 dargestellt sind. Es wird darauf verwiesen, daß alle Prozeßschritte oder -blöcke in dem Flußdiagramm Module, Segmente oder Abschnitte eines Codes darstellen können, die einen oder mehrere ausführbare Instruktionen zum Implementieren spezifischer logischer Funktionen oder Schritte in dem zugeordneten Prozeß umfassen. Es wird darauf verwiesen, daß, obwohl bestimmte Prozeßschritte beschrieben sind, alternative Implementierungen möglich sind. Ferner können einige Verfahrensschritte außerhalb der Reihenfolge, die gezeigt oder erläutert ist, ausgeführt werden, einschließlich, abhängig von den beinhalteten Funktionen, im wesentlichen gleichzeitig oder in umgekehrter Reihenfolge. Das Verfahren, das in Fig. 5 dargestellt ist, kann z. B. auf ein Programmieren von schaltungsinternen, programmierbaren Vorrichtungen auf einer DUT 200 angewendet werden. Das in Fig. 5 dargestellte Verfahren kann auch angewendet werden, um eine DUT 200 zu testen, indem die Antwort an eine Mehrzahl von Testvektoren, wie vorher beschrieben wurde, gesendet und überwacht wird.
• Im folgenden wird Bezug auf Fig. 5 genommen, die ein Flußdiagramm darstellt, das ein Verfahren zum Erhöhen eines Datendurchsatzes und einer effektiven Datenkapazität darstellt, das bei dem verbesserten Schaltungstester 150 aus Fig. 2 realisiert werden kann. Diesbezüglich kann das Verfahren zum Erhöhen eines Datendurchsatzes und Erhöhen einer effektiven Datenkapazität 500 durch ein Segmentieren einer Testanwendung und/oder ein Segmentieren von Daten der programmierbaren Vorrichtung, wie in einem Schritt 502 angezeigt ist, praktiziert werden, derart, daß das größte Segment innerhalb der Datenspeicherkapazität der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 des verbesserten Schaltungstesters 150 ist. Für die Fälle, in denen der Schaltungsaufbau, der durch den verbesserten Schaltungstester 150 getestet werden soll, programmierbare integrierte Schaltungen umfaßt, die kurz vor dem Test "programmiert" werden, sollten Programmsegmente vor den Testanwendungssegmenten gesendet werden. Dieser vorläufige Segmentierungsschritt (d. h. Schritt 502 - Segmentieren der Testanwendung und von Daten der programmierbaren Vorrichtung) kann manuell durch einen Testbediener und/oder in Zuordnung zu einer Teststeuerung 400 oder durch verschiedene andere Verfahren durchgeführt werden, wie dies für Fachleute auf diesem Gebiet ersichtlich ist. Es sollte außerdem ersichtlich sein, daß Daten der programmierbaren Vorrichtung vor oder im wesentlichen gleichzeitig mit Testanwendungsdaten segmentiert werden können, wie dies erwünscht sein kann oder wie Betriebsmittel dies erlauben.
• Wie in Fig. 5 dargestellt ist, kann ein Segmentzähler in einem Schritt 504 eingeleitet werden. Wie in einem Schritt 506 angezeigt ist, kann der Sequenzer 110 die Ausgänge des Datenumsetzers 310 und des Schalters 330 konfigurieren, um ein erstes Segment der Testanwendung und/oder von Daten der programmierbaren Vorrichtung zu einer gekennzeichneten Sequenzspeicherbank 320 zu liefern. In Fällen, in denen schaltungsinterne programmierbare Vorrichtungen vor einem Testen der DUT 200 "schaltungsintern programmiert" werden, werden Datensegmente der programmierbaren Vorrichtung vor Testanwendungssegmenten verarbeitet. Andernfalls kann der verbesserte Schaltungstester 150 konfiguriert sein, um Testanwendungssegmente einfach weiterzuleiten, wie dies unten erläutert ist.
• Wie bereits vorher in Zuordnung zu dem Datenbeschleuniger aus Fig. 3 beschrieben wurde, umfaßt jedes der Datensegmente der programmierbaren Vorrichtung sowohl Adreß- als auch Dateninformationen, die derart konfiguriert sind, daß der verbesserte Schaltungstester 150 den korrekten Datenwert an die korrekten Schaltungstesterschnittstellenanschlußstifte anlegt, um die DUT 200 zu programmieren und/oder zu testen. Nach einem Konfigurieren des Datenumsetzers 310 und des Schalters 330 in Schritt 506, um die notwendigen Schnittstellen für die Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 zu liefern, kann der verbesserte Schaltungstester 150 konfiguriert sein, um ein erstes Segment aufzunehmen, wie in einem Schritt 508 dargestellt ist. Als nächstes kann, wie in einem Schritt 510 gezeigt ist, der verbesserte Schaltungstester 150 konfiguriert sein, um den Sequenzer 110 zu starten.
• Wie oben beschrieben wurde, umfaßt der verbesserte Schaltungstester 150 einen Sequenzer 110, der sowohl in der Lage ist, den Inhalt des erzielten ersten Segments, der in einer der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 aufgenommen wurde, weiterzuleiten, wie in einem Schritt 512 gezeigt ist, als auch gleichzeitig ein nachfolgendes Segment der Testanwendung und/oder von Daten der programmierbaren Vorrichtung aufzunehmen, wie in Schritten 516 bis 520 dargestellt ist. Es ist wichtig, daß der verbesserte Schaltungstester 150 konfiguriert ist, um die Teststeuerung 400 zu benachrichtigen, wenn die Übertragung des ersten Segments vollständig ist, wie in einem Schritt 514 gezeigt ist. Wie in einem Schritt 522 gezeigt ist, ist, wenn der gesamte Inhalt eines nachfolgenden Segments in einer Sequenzspeichervorrichtung 320 aufgenommen ist, der verbesserte Schaltungstester 150 konfiguriert, um den Datenumsetzer 310 zu benachrichtigen.
• Wie weiter durch den "NEIN"-Antwortpfeil dargestellt ist, der die Abfrage von Schritt 516 verläßt, kann, wenn der Sequenzer 110 das letzte Datensegment zu der DUT 200 (d. h. keine weiteren Datensegmente sind verfügbar) sendet, der verbesserte Schaltungstester 150 programmiert sein, um den Datenumsetzer 310 zu benachrichtigen, wie in Schritt 522 gezeigt ist, daß das Datensegmentaufnahmeverfahren abgeschlossen ist.
• Der Datenumsetzer 310, der dem verbesserten Schaltungstester 150 zugeordnet ist, kann programmiert sein, um zu warten, bis er eine Anzeige empfängt, daß beide Segmentverarbeitungsaufgaben abgeschlossen sind. Dies kann durch ein periodisches Durchführen der Abfrage erzielt werden, wie in einem Schritt 524 dargestellt ist. In der Praxis steuert der Datenumsetzer 310 den Zustand des Daten- /Vektoradreßsteuerungssignals 312, um den Schalter 330 geeignet zu konfigurieren, der den Inhalt einer Sequenzspeichervorrichtung 320 zu dem Vektoradreßbus 115 weiterleitet. Der Datenumsetzer 310 ist konfiguriert, um den Zustand des Schalters 330 nur zu konfigurieren, nachdem eine Bestätigung von der Teststeuerung 400, daß das Fortfahren erlaubt ist, empfangen ist. Wie durch den negativen Antwortflußsteuerungspfeil angezeigt ist, kann die Abfrage aus Schritt 524 bis zu einer derartigen Zeit wiederholt werden, zu der beide Segmentverarbeitungsschritte abgeschlossen sind.
• Nachdem das erste aufgenommene Segment über den Vektoradreßbus 115 an die Mehrzahl von Vektorspeichervorrichtungen 120 und die zugeordnete Mehrzahl von Treiber- /Empfangsmodulen 130 weitergeleitet wurde und das nachfolgende Datensegment zeitweilig in einer Sequenzspeichervorrichtung 320 gespeichert wurde, kann die Teststeuerung 400 konfiguriert sein, um zu prüfen, ob nachfolgende Elemente verfügbar sind, wie durch einen Schritt 526 angezeigt ist. Wenn die Antwort auf die abfrage aus Schritt 526 bejahend ist, kann die Teststeuerung 400 konfiguriert sein, um den Zähler zu inkrementieren, der im Schritt 504 eingestellt ist, wie durch einen Schritt 528 angezeigt ist, und um den Datenumsetzer 310 und den Schalter 330 zu konfigurieren, um die Eingänge und Ausgänge der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 neu zu konfigurieren, wie in einem Schritt 530 angezeigt ist.
• Wie durch das Flußdiagramm aus Fig. 5 angezeigt ist, können die parallelen Prozesse, die Schritt 510 folgen, was durch die Schritte 512 und 514 (Weiterleiten eines Datensegments) und Schritte 516 bis 522 (Aufnehmen eines Datensegments) dargestellt ist, wie nötig wiederholt werden, um gleichzeitig jedes der verbleibenden Segmente der Testanwendung und/oder von Daten der programmierbaren Vorrichtung zu verarbeiten. Andernfalls kann, wenn die Antwort auf die Abfrage aus Schritt 526 negativ ist, d. h. der verbesserte Schaltungstester 150 alle Segmente verarbeitet hat, das Verfahren für einen verbesserten Datendurchsatz und eine erhöhte Datenkapazität 500 enden.
• Während der verbesserte Schaltungstester 150 und das Verfahren für einen verbesserten Datendurchsatz und eine erhöhte Datenkapazität 500 ein System mit zwei Sequenzspeichervorrichtungen 320a, 320b beschrieben haben, wird darauf verwiesen, daß andere Ausführungsbeispiele möglich sind. Einige Ausführungsbeispiele können z. B. eine Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 umfassen, die konfiguriert sind, um nachfolgende Datensegmente aufzunehmen, während eine separate Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 vorher aufgenommene Datensegmente weiterleitet. In der Praxis gibt es keine Grenze für die Menge von Programm- oder Testvektordaten, die durch den verbesserten Schaltungstester 150 mit mehreren Sequenzspeichervorrichtungen 320 zu der DUT 200 eingesetzt werden können.
• Bei bevorzugten Ausführungsbeispielen ist zumindest eine Sequenzspeichervorrichtung 320 mit geeigneten Sequenzdaten vorgeladen, bevor der Sequenzer 110 startet. Bei anderen Ausführungsbeispielen kann eine Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen 320 vorgeladen sein, bevor der verbesserte Schaltungstester 150 den Sequenzer 110 einleitet.
• Es sollte hervorgehoben werden, daß die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele, insbesondere alle "bevorzugten" Ausführungsbeispiele, lediglich mögliche Beispiele von Implementierungen sind, die lediglich für ein klares Verständnis der Prinzipien der Systeme und Verfahren für einen erhöhten Datendurchsatz in einem Schaltungstester ausgeführt sind. Viele Variationen und Modifizierungen können an dem oder den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen der Systeme und Verfahren für einen erhöhten Datendurchsatz durchgeführt werden, ohne wesentlich von der Wesensart und den Prinzipien derselben abzuweichen. Der verbesserte Schaltungstester 150 umfaßt z. B. mehrere Sequenzspeichervorrichtungen 320, einen Verzeichnisspeicher 220, einen Datenumsetzer 310, eine Teststeuerung 400 usw. Wie oben beschrieben ist, ist die Teststeuerung 400 "verantwortlich" oder der "Ort der Steuerung" für ein Koordinieren des Segmentflusses.
• Für Fachleute auf diesem Gebiet ist ersichtlich, daß der "Ort der Steuerung" in anderen Elementen des verbesserten Schaltungstesters 150 plaziert sein könnte. Beispielhaft könnte der "Ort der Steuerung" zu dem Datenumsetzer 310 bewegt werden. Anders ausgedrückt könnte der Datenumsetzer 310 modifiziert sein, um Steuerungsfunktionen anzugehen, wodurch andere Abschnitte des Schaltungstesters 150 von Steuerungsaufgaben befreit werden. Alle derartige Modifizierungen und Abweichungen sollen hierin innerhalb des Bereichs der Offenbarung enthalten sein, wie diese durch die folgenden Ansprüche geschützt und dargelegt ist.

Claims (32)

1. Verfahren zum Erhöhen eines Durchsatzes und einer Datenkapazität in einem Schaltungstester, der verwendet wird, um schaltungsinterne programmierbare Vorrichtungen zu programmieren, mit folgenden Schritten:
Segmentieren (502) von Daten der programmierbaren Vorrichtung in eine Mehrzahl von Datensegmenten;
Konfigurieren (506) eines Testsequenzers, um ein erstes Datensegment zu einer ersten Sequenzspeichervorrichtung (506) weiterzuleiten;
Aufnehmen (508) des ersten Datensegments in der ersten Sequenzspeichervorrichtung;
Starten (510) des Testsequenzers;
Weiterleiten des ersten Datensegments von der ersten Sequenzspeichervorrichtung und Aufnehmen eines nachfolgenden Datensegments in einer zweiten Sequenzspeichervorrichtung;
Erfassen (524) einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung von sowohl dem Schritt des Weiterleitens als auch des Aufnehmens, die der jeweiligen ersten und zweiten Sequenzspeichervorrichtung zugeordnet sind;
Rekonfigurieren (506) des Testsequenzers, um das nachfolgende Datensegment von der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und ein weiteres nachfolgendes Datensegment in der ersten Testsequenzerspeichervorrichtung aufzunehmen; und
Wiederholen der Schritte des Erfassens (526) und Rekonfigurierens (506), um alternativ jedes nachfolgende Datensegment in der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und aufzunehmen, bis das letzte der Mehrzahl von Datensegmenten weitergeleitet wurde.

2. Verfahren gemäß Anspruch 1, bei dem die Schritte des Konfigurierens (506) und des Rekonfigurierens (506) des Testsequenzers ein gleichzeitiges Weiterleiten und Aufnehmen von Datensegmenten erlauben.

3. Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem der Schritt des Konfigurierens (506) ein Weiterleiten von Daten zu einem Vektoradreßbus aufweist.

4. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem der Schritt des Erfassens (524) ein Empfangen einer Anzeige aufweist, daß das gesamte Datensegment, das aufgenommen wurde, in zumindest einer der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung (320) empfangen wurde.

5. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem der Schritt des Erfassens (524) ein Empfangen einer Anzeige aufweist, daß das gesamte Datensegment, das weitergeleitet wurde, zu einem Vektoradreßbus (115) übertragen wurde.

6. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem der Schritt des Rekonfigurierens (506) ein Erzeugen eines ersten Steuerungssignals aufweist.

7. Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem das erste Steuerungssignal an einen Datenumsetzer (310) angelegt wird.

8. Verfahren gemäß Anspruch 6 oder 7, bei dem das erste Steuerungssignal mit einem synchronen Signal von der Verzeichnisspeichervorrichtung kombiniert wird, und bei dem die Kombination ein zweites Steuerungssignal erzeugt, das an einen Schalter (330) angelegt wird.

9. Verfahren gemäß Anspruch 8, bei dem der Schalter (330) mit einer Mehrzahl von Eingängen und einem Ausgangsbus gekoppelt ist.

10. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, das ferner folgende Schritte aufweist:
Segmentieren (502) einer Testanwendung in eine Mehrzahl von Testanwendungssegmenten;
Konfigurieren (506) eines Testsequenzers, um ein erstes Testanwendungssignal zu einer ersten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten;
Aufnehmen (508) des ersten Testanwendungssegments in der ersten Sequenzspeichervorrichtung;
Weiterleiten (506) des ersten Testanwendungssegments von der ersten Sequenzspeichervorrichtung und Aufnehmen eines nachfolgenden Testanwendungssegments in einer zweiten Sequenzspeichervorrichtung;
Erfassen (524) einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung der Schritte sowohl des Weiterleitens als auch des Aufnehmens, die der jeweiligen ersten und zweiten Sequenzspeichervorrichtung zugeordnet sind;
Rekonfigurieren (506) des Testsequenzers, um das nachfolgende Testanwendungssegment von der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und ein weiteres nachfolgendes Testanwendungssegment in der ersten Testsequenzerspeichervorrichtung aufzunehmen; und
Wiederholen der Schritte des Erfassens (524) und des Rekonfigurierens (506), um alternativ jedes nachfolgende Testanwendungssegment in der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und aufzunehmen, bis das letzte der Mehrzahl von Datensegmenten weitergeleitet wurde.

11. Verfahren zum Erhöhen eines Durchsatzes und einer Datenkapazität in einem Schaltungstester, mit folgenden Schritten:
Segmentieren (502) einer Testanwendung in eine Mehrzahl von Testanwendungssegmenten;
Konfigurieren (506) eines Testsequenzers, um ein erstes Testanwendungssegment zu einer ersten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten;
Aufnehmen (508) des ersten Testanwendungssegments in der ersten Sequenzspeichervorrichtung;
Weiterleiten des ersten Testanwendungssegments von der ersten Sequenzspeichervorrichtung und Aufnehmen eines nachfolgenden Testanwendungssegments in einer zweiten Sequenzspeichervorrichtung;
Erfassen (524) einer Bedingung ansprechend auf die Fertigstellung der Schritte sowohl des Weiterleitens als auch des Aufnehmens, die der jeweiligen ersten und zweiten Sequenzspeichervorrichtung zugeordnet sind;
Rekonfigurieren (506) des Testsequenzers, um das nachfolgende Testanwendungssegment von der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und ein weiteres nachfolgendes Testanwendungssegment in der ersten Sequenzerspeichervorrichtung aufzunehmen; und
Wiederholen der Schritte des Erfassens (524) und des Rekonfigurierens (506), um alternativ jedes nachfolgende Testanwendungssegment in der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung weiterzuleiten und aufzunehmen, bis das letzte der Mehrzahl von Datensegmenten weitergeleitet wurde.

12. Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem die Schritte des Konfigurierens (506) und des Rekonfigurierens (506) die gleichzeitige Aufnahme und Weiterleitung von Testanwendungssegmenten durch jeweilige Sequenzspeichervorrichtungen ermöglichen.

13. Verfahren gemäß Anspruch 11 oder 12, bei dem der Schritt des Konfigurierens (506) ein Weiterleiten von Testanwendungssegmenten zu einem Vektoradreßbus aufweist.

14. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 11 bis 13, bei dem der Schritt des Erfassens (524) ein Empfangen einer Anzeige aufweist, daß das gesamte Testanwendungssegment, das aufgenommen wird, in zumindest einer der ersten und der zweiten Sequenzspeichervorrichtung (320) empfangen wurde.

15. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 11 bis 13, bei dem der Schritt des Erfassens (524) ein Empfangen einer Anzeige aufweist, daß das gesamte Testanwendungssegment, das weitergeleitet wird, zu einem Vektoradreßbus (115) übertragen wurde.

16. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 11 bis 15, bei dem der Schritt des Rekonfigurierens (506) ein Erzeugen eines ersten Steuerungssignals aufweist.

17. Verfahren gemäß Anspruch 16, beidem das erste Steuerungssignal an einen Datenumsetzer (310) angelegt wird.

18. Verfahren gemäß Anspruch 16 oder 17, bei dem das erste Steuerungssignal mit einem synchronen Signal von der Verzeichnisspeichervorrichtung kombiniert wird, und bei dem die Kombination ein zweites Steuerungssignal erzeugt, das an einen Schalter (330) angelegt wird.

19. Verfahren gemäß Anspruch 18, bei dem der Schalter (330) mit einer Mehrzahl von Eingängen und einem Ausgangsbus gekoppelt ist.

20. System zum Beschleunigen eines Durchsatzes in einem Schaltungsaufbautestsequenzer, mit folgenden Merkmalen:
einer ersten Einrichtung zum Anlegen eines Segments von Testanwendungsdaten an zumindest eine einer Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen (320);
einer zweiten Einrichtung zum Anlegen eines vorher gespeicherten Segments von Testanwendungsdaten an einen Bus (115); und
einer Steuerungseinrichtung (400) zum selektiven Einstellen der ersten und der zweiten Einrichtung, wobei nachfolgend empfangene Segmente von Testanwendungsdaten zu zumindest einer der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen (320) weitergeleitet werden, die gegenwärtig kein Testanwendungssegment an den Bus (115) anlegt.

21. System gemäß Anspruch 20, bei dem die erste Einrichtung einen Datenumsetzer (310) aufweist.

22. System gemäß Anspruch 20 oder 21, bei dem die zweite Einrichtung einen Schalter (330) aufweist.

23. System gemäß einem der Ansprüche 20 bis 22, bei dem die Steuerungseinrichtung (400) mit der ersten und der zweiten Einrichtung derart gekoppelt ist, daß, wenn ein Segment von Daten von zumindest einer der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen (320) gelesen wird, ein nachfolgendes Segment von Daten in zumindest eine der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen geschrieben wird.

24. System gemäß Anspruch 22 oder 23, bei dem der Schalter (330) mit einer Mehrzahl von Eingängen und einem Ausgangsbus gekoppelt ist.

25. System gemäß einem der Ansprüche 20 bis 24, bei dem die erste und die zweite Einrichtung zum Anlegen eines Segments von Testanwendungsdaten konfiguriert sind, um ein Segment anzulegen, das Daten der programmierbaren Vorrichtung aufweist.

26. Datenbeschleuniger (300) mit folgenden Merkmalen:
einem Datenumsetzer (310), der konfiguriert ist, um einen Testsequenzzeiger und eine Testvektoradresse zu empfangen, wobei der Datenumsetzer selektiv ein Segment von Daten, das eine Mehrzahl von Testvektoradressen aufweist, auf zumindest einem einer Mehrzahl von Umsetzerausgängen weiterleitet;
einer Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen (320), die mit der Mehrzahl von Datenumsetzerausgängen gekoppelt sind, wobei jede der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen einen jeweiligen Ausgang aufweist; und
einem Schalter (330), der mit den Ausgängen jeder der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungen (320) gekoppelt ist, wobei der Schalter ansprechend auf ein Steuerungssignal (312) ist, wobei der Schalter ein Segment von Daten, die in zumindest einer der Sequenzspeichervorrichtungen gespeichert sind, zu einem Bus (115) leitet, während der Datenumsetzer (310) ein nachfolgendes Segment von Daten empfängt und zu zumindest einer der verbleibenden Sequenzspeichervorrichtungen weiterleitet.

27. Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 26, bei dem der Datenumsetzer (310) selektiv ein Segment von Daten ansprechend auf ein Steuerungssignal weiterleitet.

28. Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 26 oder 27, bei dem der Schalter (330) zumindest einen der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungsausgängen als einen Eingang ansprechend auf ein Steuerungssignal auswählt.

29. Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 26 oder 27, bei dem der Datenumsetzer (310) selektiv ein Segment von Daten weiterleitet und der Schalter (330) zumindest einen der Mehrzahl von Sequenzspeichervorrichtungsausgängen als einen Eingang ansprechend auf ein einzelnes Steuerungssignal auswählt.

30. Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 29, bei dem das Steuerungssignal (312) ansprechend auf eine Anzeige ist, daß die zumindest eine Sequenzspeichervorrichtung, die Daten weiterleitet, ein gesamtes Segment weitergeleitet hat.

31. Datenbeschleuniger gemäß Anspruch 29 oder 30, bei dem das Steuerungssignal (312) ansprechend auf eine Anzeige ist, daß die zumindest eine Sequenzspeichervorrichtung, die Daten empfängt, ein gesamtes Segment empfangen hat.

32. Datenbeschleuniger gemäß einem der Ansprüche 29 bis 31, bei dem das Steuerungssignal (312) ansprechend auf sowohl eine Anzeige, daß die zumindest eine Sequenzspeichervorrichtung, die Daten empfängt, ein gesamtes Segment empfangen hat, als auch eine Anzeige ist, daß die zumindest eine Sequenzspeichervorrichtung, die Daten weiterleitet, ein gesamtes Segment weitergeleitet hat.