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Die Erfindung betrifft eine Pegelumsetz-Einrichtung
gemäß Oberbegriff
des Anspruchs 1.
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Bei Halbleiter-Bauelementen, insbesondere bei
Speicherbauelementen wie z.B. DRAMs (DRAM = Dynamic Random Access
Memory bzw. dynamischer Schreib-Lese-Speicher) kann sich ein intern
im Bauelement verwendeter Spannungspegel von einem außerhalb
des Baulements verwendeten externen Spannungspegel unterscheiden.
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Insbesondere kann der intern verwendete Spannungspegel
kleiner sein, als der extern verwendete Spannungspegel – beispielsweise
kann der intern verwendete Spannungspegel 1,8 V betragen, und der
extern verwendete Spannungspegel 2,5 V.
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Dies kann seinen Grund z.B. darin
haben, dass die externe Spannungsversorgung relativ starken Schwankungen
unterworfen ist, und deshalb – damit
das Bauelement fehlerfrei betrieben werden kann – mittels eines Spannungsreglers
in eine (nur relativ geringen Schwankungen unterworfene, auf einen
bestimmten, konstanten Wert hin geregelte) interne Spannung umgewandelt
werden muß.
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Durch den Einsatz von Spannungsreglern tritt
zwangsweise ein Spannungsverlust ein, der dazu führt, dass der intern im Bauelement
verwendete Spannungspegel kleiner ist, als der externe Spannungspegel.
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Ein gegenüber dem extern verwendeten Spannungspegel
verringerter interner Spannungspegel hat den Vorteil, dass hierdurch
die Verlustleistungen im Halbleiter-Bauelement reduziert werden
können.
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Wird intern im Bauelement ein niedrigerer Spannungspegel
verwendet, als extern, müssen
die intern im Bauelement erzeugten Signale – vor deren Ausgabe nach außen hin – zunächst mittels
sog. Pegelumsetzer in entsprechende, höherpegelige Signale umgewandelt
werden.
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Derartige Pegelumsetzer können z.B.
eine Verstärkerschaltung
aufweisen, die aus kreuzgekoppelten p- bzw. n-Kanal-Feldeffekttransistoren
besteht.
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Mit Hilfe der Verstärkerschaltung
können
in dem Bauelement erzeugte, interne, niederpegelige Signale – mit gewissen
Verzögerungszeiten
behaftet – in
entsprechende höherpegelige
Signale umgesetzt werden.
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Allerdings kann sich hierbei die – bei einer positiven
Flanke eines internen Signals – auftretende Verzögerungszeit
von der – bei
einer negativen Flanke des internen Signals – auftretenden Verzögerungszeit
unterscheiden. Dies führt
dazu, dass die von der Verstärkerschaltung
ausgegebenen, höherpegeligen
Signale verzerrt sind.
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Um diesen Effekt auszugleichen, können die von
der Verstärkerschaltung
ausgegebenen Signale einer mehrere, z.B. zwei hintereinandergeschaltete Inverter
aufweisenden Treiberstufe zugeführt
werden.
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Die Inverter sind so ausgelegt, dass
eine Kompensation der in der von der Verstärkerschaltung ausgegebenen
Signalen enthaltenen Verzerrungen erreicht wird.
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Allerdings führt die Treiberstufe zu einer
relativ hohen – zusätzlichen – Signalverzögerung des weiteren
können
beispielsweise aufgrund von durch Temperaturschwankungen hervorgerufenen Änderungen
der Eigenschaften der Pegelumsetzer-Bauteile die o.g. Signalverzerrungen
durch einen Pegelumsetzer der oben beschriebenen Art i.A. nur unvollständig kompensiert
werden.
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Die Erfindung hat zur Aufgabe, eine
neuartige Pegelumsetz-Einrichtung
bereitzustellen.
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Sie erreicht dieses und weitere Ziele
durch den Gegenstand des Anspruchs 1.
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Vorteilhafte Weiterbildungen der
Erfindung sind in den Unteransprüchen
angegeben.
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Gemäß einem Grundgedanken der Erfindung
wird eine Pegelumsetz-Einrichtung bereitgestellt zur Umsetzung eines
einen ersten Spannungspegel (vint) aufweisenden Signals in ein Signal,
welches einen zweiten, vom ersten Spannungspegel (vint) unterschiedlichen
Spannungspegel aufweist, wobei die Pegelumsetz-Einrichtung eine
Verstärkereinrichtung
aufweist, und wobei zur Erzeugung des den zweiten Spannungspegel
(vddq) aufweisenden Signals außer
einem ersten Ausgabesignal der Verstärkereinrichtung zusätzlich noch
ein zweites, hiervon verschiedenes – insbesondere komplementäres – Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignal
verwendet wird.
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Besonders vorteilhaft wird durch
eine Flanke des ersten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals getriggert,
dass das den zweiten Spannungspegel (vddq) aufweisende Signal von
einem ersten in einen zweiten Zustand wechselt, und durch eine gegenüber der
Flanke des ersten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals zeitlich
versetzte Flanke des zweiten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals, dass
das den zweiten Spannungspegel (vddq) aufweisende Signal von dem
zweiten zurück
in den ersten Zustand wechselt.
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Vorzugsweise ist die die Triggerung
bewirkende Flanke des ersten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals
eine positive Flanke, und die die Triggerung bewirkende Flanke des
zweiten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals
ebenfalls eine positive Flanke (oder die die Triggerung bewirkenden Flanken
des ersten bzw. zweiten Verstärkereinrichtungs-Ausgabesignals
sind jeweils negative Flanken).
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Mit einer derartigen Pegelumsetz-Einrichtung
kann z.B. erreicht werden, dass selbst bei relativ hohen Temperaturschwankungen
die in den Verstärkerschaltungs-Ausgabesignalen enthaltenen
Verzerrungen nahezu vollständig
kompensiert werden.
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Im folgenden wird die Erfindung anhand
eines Ausführungsbeispiels
und der beigefügten Zeichnung
näher erläutert. In
der Zeichnung zeigt:
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1 eine
schematische Darstellung einer Schaltungsanordnung eines Pegelumsetzers
gemäß dem Stand
der Technik;
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2a eine
schematische Darstellung eines ersten Abschnitts einer Schaltungsanordnung
eines Pegelumsetzers gemäß einem
Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung
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2b eine
schematische Darstellung eines weiteren Abschnitts der Schaltungsanordnung
des Pegelumsetzers gemäß dem Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung; und
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3 eine
schematische Darstellung des zeitlichen Verlaufs der Ein- und Ausgangssignale
der im in 2a und 2b gezeigten Pegelumsetzer
enthaltenen Verstärkerschaltung,
und des entzerrten Ausgangssignals des Pegelumsetzers.
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In 1 ist
eine schematische Darstellung einer Schaltungsanordnung eines Pegelumsetzers 1 gemäß dem Stand
der Technik gezeigt. Der Pegelumsetzer 1 ist in ein – z.B. auf
CMOS-Technologie beruhendes – DRAM-Speicherbauelement
eingebaut. Er dient dazu, einen innerhalb des Speicherbauelements
verwendeten internen Spannungspegel (vint) in einen außerhalb
des Speicherbaulements verwendeten externen Spannungspegel (vddq)
umzusetzen, wobei der intern verwendete Spannungspegel (vint) kleiner
ist, als der extern verwendete Spannungspegel (vddq). Beispielsweise
kann der interne Spannungspegel (vint) 1,8 V betragen, und der externe
Spannungspegel (vddq) 2,5 V.
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Wie in 1 gezeigt
ist, weist der Pegelumsetzer 1 eine Verstärkerschaltung 2 auf,
und eine Treiberstufe 8 mit einem ersten und einem zweiten Inverter 3a, 3b (sowie
alternativ mit weiteren, hier nicht dargestellten Invertern).
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Die Verstärkerschaltung 2 umfaßt vier
kreuzgekoppelte Transistoren, und zwar einen ersten und einen zweiten
p-Kanal-Feldeffekttransistor 4a, 4b (hier:
zwei p-Kanal-MOSFETs 4a, 4b), sowie einen ersten
und einen zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistor 5a, 5b (hier:
zwei n-Kanal-MOSFETs 5a, 5b).
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Die Source des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors 5a ist
an die Masse (gnd) angeschlossen. Auf entsprechende Weise ist auch
die Source des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 5b mit
der Masse (gnd) verbunden.
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Des weiteren ist das Gate des ersten
n-Kanal-Feldeffekttransistors 5a mit
einem ersten Eingang 6a der Verstärkerschaltung 2 verbunden,
und das Gate des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 5b mit
einem zweiten Verstärkerschaltungs-Eingang 6b.
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An einem ersten Ausgang 7a der
Verstärkerschaltung 2 ist
der Drain des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors 5a angeschlossen,
sowie das Gate des zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors 4b, und der
Drain des ersten p-Kanal- Feldeffekttransistors 4a.
Auf entsprechende Weise ist ein zweiter Verstärkerschaltungs-Ausgang 7b mit
dem Drain des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 5b verbunden,
sowie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Feldeffekttransistors 4a,
und dem Drain des zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors 4b.
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Die Source des ersten und zweiten
p-Kanal-Feldeffekttransistors 4a, 4b ist
jeweils an die Versorgungsspannung angeschlossen. Diese weist, wie bereits
oben erläutert
wurde – im
Vergleich zur intern verwendeten Spannung – einen relativ hohen Spannungspegel
(vddq) auf.
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Am ersten Eingang 6a der
Verstärkerschaltung 2 liegt
ein erstes internes Signal (in) des DRAM-Speicherbauelements an,
und am zweiten Eingang 6b der Verstärkerschaltung 2 ein
zweites Bauelement-internes Signal (bin).
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Das erste und zweite interne Signal
(in bzw. bin) sind komplementär
zueinander.
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Die "logisch hohen" Zustände des ersten bzw, zweiten
internen Signals (in bzw. bin) dauern im wesentlichen gleich lange
an, wie deren "logisch niedrige" Zustände. Die
internen Signale (in bzw. bin) weisen – wie bereits oben erläutert wurde – im Vergleich
zum extern verwendeten Spannungspegel (vddq) den relativ niedrigen,
intern verwendeten Spannungspegel (vint) auf.
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Mit Hilfe der Verstärkerschaltung 2 wird
das am ersten Eingang 6a der Verstärkerschaltung 2 anliegende
interne Signal (in) in ein – diesem
Signal (in) entsprechendes, am zweiten Ausgang 7b der Verstärkerschaltung 2 abgreifbares – Signal
(out) umgesetzt, welches den o.g. – relativ hohen – externen Spannungspegel
(vddq) aufweist.
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Wechselt das am ersten Eingang 6a der
Verstärkerschaltung 2 anliegende
interne Signal (in) von einem "logisch
niedrigen" auf einen "logisch hohen" Zustand (und das
komplementäre
interne Signal (bin) von einem Zustand "logisch hoch" auf einen Zustand "logisch niedrig"), ändert
das entsprechende, am Ausgang 7b der Verstärkerschaltung 2 abgreifbare Signal
(out) aufgrund interner Signallaufzeiten innerhalb der Verstärkerschaltung 2 erst
nach einer gewissen Verzögerungszeit
d1' seinen Zustand
von „logisch
niedrig" auf „logisch
hoch".
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Auf entsprechende Weise ändert bei
einem Wechsel des Zustands des internen Signals (in) von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" (und einem Wechsel
des Zustands des komplementären
interne Signal (bin) von "logisch
niedrig" auf "logisch hoch") das entsprechende
am Ausgang 7b abgreifbare Signal (out) erst nach einer
gewissen Verzögerungszeit d2' seinen Zustand von "logisch hoch" auf "logisch niedrig".
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Die – bei einer positiven Flanke
des internen Signals (in) – auftretende
Verzögerungszeit
d1' unterscheidet
sich aufgrund unterschiedlicher Signallaufzeiten innerhalb der Verstärkerschaltung 2 von
der – bei
einer negativen Flanke des internen Signals (in) – auftretenden
Verzögerungszeit
d2'. Dies führt dazu, dass
das am Ausgang 7b abgreifbare Signal (out) verzerrt ist
(insbesondere dessen "logisch
niedriger" Zustand
längert
andauert, als dessen "logisch
hoher" Zustand – und nicht,
wie gewünscht,
im wesentlichen gleich lang).
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Um diesen Effekt auszugleichen, wird
beim Pegelumsetzer 1 das am Ausgang 7b der Verstärkerschaltung 2 abgreifbare
Signal (out) über
eine Leitung 9 einem Eingang des ersten Inverters 3a der Treiberstufe 8 zugeführt, dessen
Ausgang 11 über eine
Leitung 10 an einen Eingang des zweiten Inverters 3b angeschlossen
ist.
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Bei einem Wechsel des Zustands des
am Ausgang 7b der Verstärkerschaltung
abgreifbaren Signals (out) von "logisch niedrig" auf "logisch hoch" (- bzw. umgekehrt
bei einem Wechsel des Zustands des Signals (out) von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" -) wechselt (- nach
jeweils sich voneinander unterscheidenden Verzögerungszeiten -) das Signal am
Ausgang 11 des ersten Inverters 3a seinen Zustand
von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" (- bzw. umgekehrt
von "logisch niedrig" auf "logisch hoch" -), und demzufolge
das an einem Ausgang 12 des zweiten Inverters 3b abgreifbares
Ausgangssignals (DatoV) von einem Zustand "logisch niedrig" auf einen Zustand "logisch hoch", bzw. umgekehrt von einem Zustand "logisch hoch" auf einen Zustand "logisch niedrig" (- wiederum nach
jeweils sich voneinander unterscheidenden Verzögerungszeiten -).
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Die Inverter 3a, 3b – insbesondere
die durch sie hervorgerufenen, für
positive und negative Signalflanken unterschiedlichen Verzögerungszeiten – sind so
ausgelegt, dass insgesamt die zwischen einer positiven Signalflanke
des am Eingang 6a der Verstärkerschaltung 2 anliegenden
Signals (in), und einer entsprechenden, positiven Signalflanke des
am Ausgang 12 des zweiten Inverters 3b ausgegebenen Ausgangssignals
(DatoV) auftretende Verzögerungszeit
d1 im wesentlichen gleich groß ist,
wie die insgesamt zwischen einer negativen Signalflanke des Signals
(in), und einer entsprechenden, negativen Signalflanke des Ausgangssignals
(DatoV) auftretende Verzögerungszeit
d2.
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Dadurch wird eine Kompensation der
im am Ausgang 7b der Verstärkerschaltung 2 anliegenden Signals
(out) enthaltenen Verzerrung erreicht (so dass dann z.B. der "logisch niedrige" Zustand des am Ausgang 12 des
zweiten Inverters 3b anliegenden Ausgangssignals (DatoV)
im wesentlichen gleich lang andauert, wie dessen "logisch hoher" Zustand).
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Allerdings führt die Treiberstufe 8 zu einer
relativ hohen – zusätzlichen – Signalverzögerung;
des weiteren kann beispielsweise aufgrund von Bauteilungenauigkeiten,
oder aufgrund von durch Temperaturschwankungen hervorgerufenen Änderungen
der Eigenschaften der verwendeten Bauteile die Signalverzerrung
durch einen Pegelumsetzer der oben beschriebenen Art i.A. nur unvollständig kompensiert werden.
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In 2a ist
eine schematische Darstellung eines ersten Abschnitts 101a einer
Schaltungsanordnung eines Pegelumsetzers gemäß einem Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung gezeigt.
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Der Pegelumsetzer ist in ein – z.B. auf CMOS-Technologie
beruhendes – DRAM-Speicherbauelement
eingebaut, und kann insbesondere für ein OCD-Bauteil des DRAM-Speicherbauelements verwendet
werden (OCD = Off Chip Driver), oder z.B. für ein DLL-Bauteil (DLL = Delay
Locked Loop).
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Mit Hilfe des Pegelumsetzers wird
ein innerhalb des DRAM-Speicherbauelements
verwendeter internen Spannungspegel (eint) in einen außerhalb des
Speicherbaulements verwendeten externen Spannungspegel (vddq) umgesetzt,
wobei der intern verwendete Spannungspegel (vint) kleiner ist, als
der extern verwendete Spannungspegel (vddq).
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Der interne Spannungspegel (eint)
kann z.B. 1,8 V – oder
alternativ z.B. 1,5 V – betragen,
und der externe Spannungspegel (vddq) beispielsweise 2,5 V – oder alternativ
z.B. 1,8 V.
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Gemäß 2a weist der erste Abschnitt 101a des
Pegelumsetzers eine Verstärkerschaltung 102 auf,
und zwei parallele Treiberstufen, die jeweils einen Inverter 103a, 103b,
sowie jeweils ein Transmission-Gate bzw. Transferglied 113a, 113b aufweisen.
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Die Verstärkerschaltung 102 umfaßt mehrere,
insbesondere vier kreuzgekoppelte Transistoren, und zwar einen ersten
und einen zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistor 104a, 104b (hier
zwei p-Kanal-MOSFETs 104a, 104b, sowie einen ersten
und einen zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistor 105a, 105b (hier:
zwei n-Kanal-MOSFETs 105a, 105b.
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Die Source des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors 105a ist
an die Masse (gnd) angeschlossen. Auf entsprechende Weise ist auch
die Source des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 105b mit der
Masse (gnd) verbunden.
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Des weiteren ist das Gate des ersten
n-Kanal-Feldeffekttransistors 105a mit
einem ersten Eingang 106a der Verstärkerschaltung 102 verbunden, und
das Gate des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 105b mit
einem zweiten Verstärkerschaltungs-Eingang 106b.
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An einem ersten Ausgang 107a der
Verstärkerschaltung 102 ist
der Drain des ersten n-Kanal-Feldeffekttransistors 105a angeschlossen,
sowie das Gate des zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors 104b,
und der Drain des ersten p-Kanal-Feldeffekttransistors 104a.
Auf entsprechende Weise ist ein zweiter Verstärkerschaltungs-Ausgang 107b mit
dem Drain des zweiten n-Kanal-Feldeffekttransistors 105b verbunden,
sowie mit dem Gate des ersten p-Kanal-Feldeffekttransistors 104a,
und dem Drain des zweiten p-Kanal-Feldeffekttransistors 104b.
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Die Source des ersten und zweiten
p-Kanal-Feldeffekttransistors 104a, 104b ist
jeweils an die Versorgungsspannung angeschlossen. Diese weist, wie
bereits oben erläutert
wurde – im
Vergleich zur intern verwendeten Spannung – einen relativ hohen Spannungspegel
(vddq) auf.
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Am ersten Eingang 106a der
Verstärkerschaltung 102 liegt
ein erstes internes Signal (in) des DRAM-Speicherbauelements an,
und am zweiten Eingang 106 der Verstärkerschaltung 102 ein
zweites Bauelement-internes Signal (bin).
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Das erste und zweite interne Signal
(in bzw. bin) sind komplementär
zueinander.
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Des weiteren dauern die „logisch
hohen" Zustände des
ersten bzw. zweiten internen Signals (in bzw. bin) im wesentlichen
gleich lange an, wie deren „logisch
niedrige" Zustände.
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Wie bereits oben erläutert wurde,
weisen die internen Signale (in bzw. bin) – im Vergleich zum extern verwendeten
Spannungspegel (vddq) – den
relativ niedrigen, intern verwendeten Spannungspegel (vint) auf.
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Mit Hilfe der Verstärkerschaltung 102 wird das
am ersten Verstärkerschaltungs-Eingang 106a anliegende
interne Signal (in) in ein – diesem
Signal (in) entsprechendes, am zweiten Ausgang 107b der Verstärkerschaltung 102 abgreifbares – Signal
(out) umgesetzt, sowie in ein zu diesem Signal (out) komplementäres Signal
(bout), welches am ersten Ausgang 107a der Verstärkerschaltung 102 abgegriffen werden
kann.
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Die am ersten und zweiten Verstärkerschaltungs-Ausgang 107a, 107b abgreifbaren
Signale (out bzw. bout) weisen den – im Vergleich zu dem bei den internen
Signalen (in bzw. bin) verwendeten Spannungspegel (vint) – relativ
hohen, externen Spannungspegel (vddq) auf.
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Wechselt das am ersten Eingang 106a der Verstärkerschaltung 102 anliegende
interne Signal (in) von einem „logisch
niedrigen" auf einen „logisch hohen" Zustand (und das
komplementäre
interne Signal (bin) von einem Zustand „logisch hoch" auf einen Zustand „logisch
niedrig"), ändert gemäß 3 das am zweiten Ausgang 107b der
Verstärkerschaltung 102 abgreifbare
Signal (out) aufgrund interner Signallaufzeiten innerhalb der Verstärkerschaltung 102 erst
nach einer gewissen Verzögerungszeit
d1' seinen Zustand
von "logisch niedrig" auf "logisch hoch" (und – nach einer
von der Verzögerungszeit
d1' unterschiedlichen
Verzögerungszeit d2'' – das
am ersten Ausgang 107a abgreifbare Signal (bout) von „logisch
hoch" auf "logisch niedrig").
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Auf entsprechende Weise ändert gemäß 3 bei einem Wechsel des
Zustands des internen Signals (in) von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" (und einem Wechsel des Zustands des
komplementären
internen Signals (bin) von "logisch
niedrig" auf "logisch hoch") das am zweiten
Ausgang 107b abgreifbare Signal (out) erst nach einer gewissen
Verzögerungszeit
d2' seinen Zustand
von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" (und – nach einer
von der Verzögerungszeit
d2' unterschiedlichen
Verzögerungszeit d1" – das am ersten Ausgang 107a abgreifbare
Signal (bout) von "logisch
niedrig" auf "logisch hoch").
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Die – bei einer positiven Flanke
des internen Signals (in) (bzw. einer negativen Flanke des komplementären Signals
(bin)) – beim
Signal (out) auftretende Verzögerungszeit
d1' unterscheidet
sich aufgrund unterschiedlicher interner Signallaufzeiten innerhalb der
Verstärkerschaltung 102 von
der – bei
einer negativen Flanke des internen Signals (in) (bzw. einer positiven
Flanke des komplementären
Signals (bin)) – beim
Signal (out) auftretenden Verzögerungszeit d2'.
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Auf entsprechende Weise unterscheidet
sich auch die – bei
einer positiven Flanke des internen Signals (in) – beim komplementären Signal
(bout) auftretende Verzögerungszeit
d2'' von der – bei einer
negativen Flanke des internen Signals (in) – beim komplementären Signal
(bout) auftretenden Verzögerungszeit
d1'' .
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Dies führt dazu, dass – wie in 3 gezeigt ist – die am
ersten und zweiten Ausgang 7a, 7b abgreifbaren
Signale (out bzw. bout) verzerrt sind (insbesondere deren "logisch niedriger" Zustand längert andauert,
als deren "logisch
hoher" Zustand – und nicht,
wie gewünscht,
im wesentlichen gleich lang).
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Um diesen Effekt auszugleichen, wird
beim in 2a und 2b gezeigten Pegelumsetzer
die Tatsache ausgenutzt, dass – wie
ebenfalls aus 3 ersichtlich
ist – die
bei einer positiven Flanke des internen Signals (in) beim Signal
(out) auftretende Verzögerungszeit
d1' aufgrund des
symmetrischen Aufbaus der Verstärkerschaltung 102 gleich
lang ist, wie die bei einer negativen Flanke des internen Signals (in)
beim komplementären
Signal (bout) auftretende Verzögerungszeit
d1'' (bzw. dass die bei
einer negativen Flanke des internen Signals (in) beim Signal (out)
auftretende Verzögerungszeit
d2' gleich lang
ist, wie die bei einer positiven Flanke des internen Signals (in)
beim komplementären
Signal (bout) auftretende Verzögerungszeit
d2'' ).
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Im Detail wird – wieder bezogen auf 2a – beim Pegelumsetzer gemäß dem vorliegenden Ausführungsbeispiel
das am zweiten Ausgang 107b der Verstärkerschaltung 102 abgreifbare
Signal (out) über
eine Leitung 109b einem Eingang des zweiten Inverters 103b zugeführt, und
das am ersten Ausgang 107a der Verstärkerschaltung 102 abgreifbare, komplementäre Signal
(bout) über
eine Leitung 109a einem Eingang des ersten Inverters 103a.
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Jeder Inverter 103a, 103b besteht
aus jeweils einem n- und einem p-Kanal-Feldeffekttransistor, wobei
die Source des jeweiligen n-Kanal-Feldeffekttransistors jeweils
an die Masse (gnd), und die Source des jeweiligen p-Kanal-Feldeffekttransistors jeweils
an die Versorgungsspannung (vddq) angeschlossen ist. Die in den
Invertern 103a, 103b verwendeten Feldeffekttransistoren
arbeiten also jeweils in Source-Schaltung, und verstärken die
am jeweiligen Inverter-Eingang
anliegende Eingangsspannung invertierend, wobei jeweils der eine
Feldeffekttransistor eines Inverters 103a, 103b den Arbeitswiderstand für den jeweils
anderen Feldeffekttransistor darstellt.
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Wie in 2a und 2b gezeigt ist, wird das am zweiten Ausgang 107b der
Verstärkerschaltung 102 abgreifbare
Signal (out) – außer über die
Leitung 109b an den zweiten Inverter 103b – zusätzlich noch über eine
Leitung 111b einem ersten Steuereingang des zweiten Transmission-Gates 113b zugeführt.
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Entsprechend wird das am ersten Ausgang 107a der
Verstärkerschaltung 102 abgreifbare,
komplementäre
Signal (bout) – außer über eine
Leitung 109a einem Eingang des ersten Inverters 103a – zusätzlich noch über eine
Leitung 111a einem ersten Steuereingang des ersten Transmission-Gates 113a zugeführt.
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Wie weiter in 2a und 2b gezeigt
ist, ist der Ausgang des ersten Inverters 103a über eine
Leitung 110a an einen zweiten, komplementären Steuereingang
des ersten Transmission-Gates 113a angeschlossen, und der
Ausgang des zweiten Inverters 103b über eine Leitung 110b an
einen zweiten, komplementären
Steuereingang des zweiten Transmission-Gates 113b.
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Jedes Transmission-Gate 113a, 113b weist einen
n-, und einen p-Kanal-Feldeffekttransistor auf, wobei jeweils der
erste Steuereingang des jeweiligen Transmission-Gates 113a, 113b jeweils
an das Gate des ersten, und der zweite, komplementäre Steuereingang
des jeweiligen Transmission-Gates 113a, 113b jeweils
an das Gate des zweiten Feldeffekttransistors angeschlossen ist.
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Des weiteren ist beim ersten Transmission-Gate 113a der
Drain bzw. die Source des n- bzw. p-Kanal-Feldeffekttransistors
(d.h. der Ein- bzw. Ausgang des ersten Transmission-Gates 113a)
an die Masse (gnd), bzw. über
eine Leitung 114a an einen Ausgang 112 des Pegelumsetzers
angeschlossen.
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Demgegenüber ist beim zweiten Transmission-Gate 113b der
Drain bzw. die Source des n- bzw. p-Kanal- Feldeffekttransistors (d.h. der Ein-
bzw. Ausgang des zweiten Transmission-Gates 113b) an die Versorgungsspannung
(vddq), bzw. über
eine Leitung 114b an den Pegelumsetzer-Ausgang 112 angeschlossen.
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Dadurch wird der folgende Effekt
erreicht: Sobald das am zweiten Ausgang 107b der Verstärkerschaltung 102 abgegriffene, über die
Leitung 111b dem ersten Steuereingang des zweiten Transmission-Gates 113b zugeführte Signal
(out) von "logisch niedrig" auf "logisch hoch" wechselt (und das
komplementäre, über die
Leitung 110b zugeführte
Signal (outb) von "logisch
hoch" auf "logisch niedrig"), wird die am Eingang
des zweiten Transmission-Gates 113b anliegende Versorgungsspannung
(vddq) an den Transmission-Gate-Ausgang durchgeschaltet, und damit über die
Leitung 114b an den Pegelumsetzer-Ausgang 112.
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Dadurch wechselt, wie in 3 veranschaulicht ist, das
am Pegelumsetzer-Ausgang 112 abgreifbare Ausgangssignal
(DatoV) von einem "logisch
niedrigen" auf einen "logisch hohen" Zustand.
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Wechselt dann das am zweiten Ausgang 107b der
Verstärkerschaltung 102 abgegriffene
Signal (out) seinen Zustand wieder von "logisch hoch" auf "logisch niedrig" (und das komplementäre Signal (outb) von "logisch niedrig" auf "logisch hoch"), wird die am Eingang
des zweiten Transmission-Gates 113b anliegende Versorgungsspannung
(vddq) wieder vom Ausgang des zweiten Transmission-Gates 113b getrennt;
allerdings bleibt das Ausgangssignal (DatoV) am Pegelumsetzer-Ausgang 112 gemäß 3 zunächst noch im "logisch hohen" Zustand.
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Erst dann, wenn das am ersten Ausgang 107a der
Verstärkerschaltung 102 abgegriffene, über die
Leitung 111a dem ersten Steuereingang des ersten Transmission-Gates 113a zugeführte Signal (bout)
von "logisch niedrig" auf "logisch hoch" wechselt (und das
komplementäre
Signal (boutb) von "logisch
hoch" auf "logisch niedrig"), wird das erste Transmission-Gate 113a leitend,
und somit der Ausgang des ersten Transmission-Gates 113a – und damit über die
Leitung 114a auch der Ausgang 112 des Pegelumsetzers – auf Masse
(gnd) gezogen.
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Dadurch wechselt, wie in 3 veranschaulicht ist, das
am Pegelumsetzer-Ausgang 112 abgreifbare Ausgangssignal
(DatoV) von einem "logisch
hohen" auf einen "logisch niedrigen" Zustand.
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Wechselt dann das am ersten Ausgang 107a der
Verstärkerschaltung 102 abgegriffene
Signal (bout) seinen Zustand wieder von "logisch hoch" auf "logisch niedrig", wird der Eingang des ersten Transmission-Gates
113a wieder von dessen Ausgang getrennt; das Ausgangssignal (DatoV)
am Pegelumsetzer-Ausgang 112 bleibt aber gemäß 3 zunächst noch im "logisch niedrigen" Zustand (da beim
zweiten Transmission-Gate 113a zunächst noch Ein- und Ausgang
voneinander getrennt sind, d.h. die am Eingang des zweiten Transmission-Gates 113b anliegende
Versorgungsspannung (vddq) noch nicht an dessen Ausgang durchgeschaltet
ist).
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Das am Pegelumsetzer-Ausgang 112 abgreifbare
Ausgangssignal (DatoV) weist somit – anders als die an den Ausgängen 107a bzw. 107 der Verstärkerschaltung 102 anliegenden
Signale (bout bzw. out) – keine
(oder nur unwesentlich große)
Verzerrungen auf; insbesondere dauert der "logisch niedrige" Zustand des Ausgangssignals (DatoV)
im wesentlichen gleich lange, wie dessen "logisch hoher" Zustand.
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Bei dem in 2a und 2b gezeigten
Pegelumsetzer tritt nur eine relativ geringe (zusätzliche) Signalverzögerung auf.
Des weiteren werden durch den Pegelumsetzer gemäß 2a und 2b selbst
bei relativ hohen Temperaturschwankungen (und dadurch hervorgerufenen Änderungen
der Eigenschaften der verwendeten Bauteile) die in den Verstärkerschaltungs-Ausgangs-Signalen
(bout bzw. out) enthaltenen Verzerrungen nahezu vollständig kompensiert.
-
- 1
- Pegelumsetzer
- 2
- Verstärkerschaltung
- 3a
- Inverter
- 3b
- Inverter
- 4a
- p-Kanal-Feldeffekttransistor
- 4b
- p-Kanal-Feldeffekttransistor
- 5a
- n-Kanal-Feldeffekttransistor
- 5b
- n-Kanal-Feldeffekttransistor
- 6a
- Eingang
- 6b
- Eingang
- 7a
- Ausgang
- 7b
- Ausgang
- 8
- Treiberstufe
- 9
- Leitung
- 10
- Leitung
- 11
- Ausgang
- 12
- Ausgang
- 101a
- Pegelumsetzer-Abschnitt
- 101b
- Pegelumsetzer-Abschnitt
- 102
- Verstärkerschaltung
- 103a
- Inverter
- 103b
- Inverter
- 104a
- p-Kanal-Feldeffekttransistor
- 104b
- p-Kanal-Feldeffekttransistor
- 105a
- n-Kanal-Feldeffekttransistor
- 105b
- n-Kanal-Feldeffekttransistor
- 106a
- Eingang
- 106b
- Eingang
- 107a
- Ausgang
- 107b
- Ausgang
- 109a
- Leitung
- 109b
- Leitung
- 110a
- Leitung
- 110b
- Leitung
- 111a
- Leitung
- 111b
- Leitung
- 112
- Ausgang
- 113a
- Transmission-Gate
- 113b
- Transmission-Gate
- 114a
- Leitung
- 114b
- Leitung